TW557534B - Boat for heat treatment and vertical heat-treating furnace - Google Patents
Boat for heat treatment and vertical heat-treating furnace Download PDFInfo
- Publication number
- TW557534B TW557534B TW091121660A TW91121660A TW557534B TW 557534 B TW557534 B TW 557534B TW 091121660 A TW091121660 A TW 091121660A TW 91121660 A TW91121660 A TW 91121660A TW 557534 B TW557534 B TW 557534B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- heat treatment
- support plate
- plate
- patent application
- wafer boat
- Prior art date
Links
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 title claims abstract description 71
- 210000000078 claw Anatomy 0.000 claims description 54
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 4
- 230000002079 cooperative effect Effects 0.000 claims description 3
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 88
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 7
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 5
- 230000035882 stress Effects 0.000 description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 208000037998 chronic venous disease Diseases 0.000 description 3
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 2
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 2
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 2
- 238000005488 sandblasting Methods 0.000 description 2
- 230000035939 shock Effects 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 230000008646 thermal stress Effects 0.000 description 2
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 238000000746 purification Methods 0.000 description 1
- 238000007788 roughening Methods 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/673—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders
- H01L21/67303—Vertical boat type carrier whereby the substrates are horizontally supported, e.g. comprising rod-shaped elements
- H01L21/67309—Vertical boat type carrier whereby the substrates are horizontally supported, e.g. comprising rod-shaped elements characterized by the substrate support
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/458—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for supporting substrates in the reaction chamber
- C23C16/4582—Rigid and flat substrates, e.g. plates or discs
- C23C16/4583—Rigid and flat substrates, e.g. plates or discs the substrate being supported substantially horizontally
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67098—Apparatus for thermal treatment
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Description
557534 A7 B7 五、發明説明(1 ) 【技術領域】 本發明是有關熱處理用晶舟及直立式熱處理裝置。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 【背景技術】 在半導體裝置的製造製程,被處理體譬如在半導體晶 圓譬如實施氧化、擴散、CVD、退火等的各種熱處理的製 程。用來執行此等的製程的熱處理裝置之一,將多數的晶 圓被使用可一次熱處理的直立式熱處理裝置。這種直立式 熱處理裝置中,被使用用來搭載多數的晶圓的熱處理用晶 舟。 作爲這種熱處理用晶舟,被提出專利申請有:將晶圓 的周緣部以環狀的支承板來支承的環狀晶舟(譬如,參考 日本特開平9 - 23778 1號公報等)。這種情況,隨著晶圓 的大口徑化(譬如直徑300mm )藉由增大傾向的自重應力 使滑動(結晶缺陷:slip )被減低。進而,比晶圓中央部 使昇降溫速度快的晶圓周緣部的熱容量增大,所以謀求獲 得處理的面內均勻性的提高。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 但是,這樣的熱處理用晶舟中,在前述支承板的表面 有微小的凹凸或突起,則使晶圓的背面擦傷,或晶圓中由 於自重應力容易產生滑動(slip )。其中一方,爲了解 決這樣的問題,使前述支承板的表面被硏磨成鏡面狀時, 則造成晶圓容易貼著於該支承板的表面。因而,前述支承 板的表面被硏磨之後,譬如藉由噴砂法等,使前述支承板 的表面變成稍微粗糙爲佳。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) 557534 A7 B7 五、發明説明(2) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 可是,前述的熱處理用晶舟的情況,譬如當高溫 1050° c〜1 200° C的熱處理時,在支承板的表面會產生 黏上晶圓的現象。而且,該貼著現象則由於支承板表面的 極小的凹凸或突起,在晶圓藉由部分地自重應力會產生滑 動。 【發明要旨】 本發明是考慮前述情事而發明,其目的在於:提供一 種熱處理用晶舟及直立式熱處理裝置,可抑制高溫的熱處 理時的被處理體的滑動產生。 本發明是一種熱處理用晶舟,其特徵爲:具備有:複 數的支柱;及前述支柱的各自中,在高度方向以預定的間 隔被形成的複數的爪部;及介於前述爪部在前述複數的支 柱間被安裝成多段,具有可搭載被處理體的被處理體搭載 面的複數的支承板;及被設於前述被處理體搭載面的溝及 貫通孔。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 若依據本發明的話,則爲了被設於被處理體搭載面的 溝及貫通孔,在支承板的被處理體搭載面及被處理體之間 被形成空氣層,可使被處理體的貼著現象被抑制。藉此, 即使當高溫的熱處理時,也可使由於被處理體的黏上的滑 動被抑制產生。 較佳的,在前述被處理體搭載面上,被設有微細的凹 凸用來抑制被處理體的貼著。這種情況,增大被處理體的 貼著抑制效果。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) 557534 A7 B7 五、發明説明(3 ) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 一般而言,被處理體爲略呈圓形,所以支承板也略呈 圓形,並且前述複數的支柱,在垂直於前述支承板,被配 置於前述支承板的後方、左方及右方爲佳。這種情況,容 易搭載及取出被處理體。 又,較佳的,在前述支承板上,被設有:被卡止於前 述支承板的左方的支柱的爪部並用來防止該支承板滑落的 左卡止部;及被卡止於前述支承板的右方的支柱的爪部並 用來防止該支承板滑落的右卡止部。這種情況,可防止由 於振動等使支承板的滑落。 譬如,前述左卡止部及前述右卡止部,是抵接於爪部 的側壁部的擋塊構件。 或,較佳的,在前述支承板上,被設有:卡合於前述 支承板的左方的支柱的爪部的上部的左卡合孔;及卡合於 前述支承板的右方的支柱的爪部的上部的右卡合孔;及卡 合於前述支承板的後方的支柱的爪部的上部的後卡合孔。 這種情況,也可防止由於振動等使支承板滑落。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 又,較佳的,在前述支柱的上端部及下端部上,被安 裝有假板。具體而言,較佳的,在前述支柱的上端部及下 端部,使分別複數的假板,介於前述爪部在前述複數的支 柱間被安裝成多段地。 一般而言,被處理體爲略呈圓形,所以假板也略呈圓 形’並且前述複數的支柱,在垂直於前述假板上,被配置 於假板的後方、左方及右方爲佳。 又’較佳的,在前述假板上,被設有··被卡止於前述 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) 557534 A7 B7 五、發明説明(4) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 假板的左方的支柱的爪部並用來防止該假板滑落的假板左 卡止部;及被卡止於前述假板的右方的支柱的爪部並用來 防止該假板滑落的假板右卡止部。這種情況,可防止由於 振動等使假板的滑落。 譬如,前述假板左卡止部及前述假板右卡止部,是抵 接於爪部的側壁部的擋塊構件。 或,較佳的,在前述假板上,被設有:卡合於前述假 板的左’方的支柱的爪部的上部的假板左卡合孔;及卡合於 前述假板的右方的支柱的爪部的上部的假板右卡合孔;及 卡合於前述假板的後方的支柱的爪部的上部的假板後方卡 合孔。這種情況,也可防止由於振動等使假板的滑落。 又,本發明是一種直立式熱處理裝置,其特徵爲:具 備:具有上述特徵的熱處理用晶舟;及可收容該熱處理用 晶舟的熱處理爐。 【圖面的簡單說明】 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 第1圖是顯示本發明的一實施形態的直立式熱處理裝 置的剖面圖。 第2圖是顯示熱處理用晶舟的晶舟本體圖,(a )是 平面圖,(b )是(a )的A - A線縱剖面圖。 第3圖是顯示熱處理用晶舟的支承板部分的橫剖面圖 〇 第4圖是第3圖的B- B線放大剖面圖。 第5圖熱處理用晶舟的假板部分的橫剖面圖。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 557534 A7 B7 五、發明説明(5) 第6圖是藉由卡合孔爲了用來說明支承板的滑落防止 功能與第4圖同樣的圖。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 第7圖是藉由假板卡合孔爲了用來說明假板的滑落防 止功能與第6圖同樣的圖。 【圖號說明】 1…直立式熱處理裝置, 2…反應管, 2a…內管, 2b…外管, 3…氣體導入管部(氣體導入口), 4···排氣管部 (排氣口), 5…集合管, 6…爐口, 7…蓋體, 8…昇降機構, 9…熱處理用晶舟, 10…保溫筒, 11…爪部, 1 2…支柱, 1 3…支承板 ’ 14…底板, 1 5…頂板 , 16…晶舟本體, 1 7…假板, 18、29···切口, • 19、21…切口部, 20、24…溝部, 23···晶圓搭載面(被處理體搭載面) ’ 25…貫通孔, 26…立起壁, 27、28…擋塊構 件’ 127…左卡合孔, 127 ‘…右卡合孔, 127 “ ···後方卡合孔, 128…假板左卡合孔, 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 128 ‘···假板右方卡合孔, 丨28 “…假板後方卡合孔, U…中心線, Pa…間距間隔, W…晶圓。 【實施發明的最佳形態】 以下’將本發明的實施形態根據檢送圖面加以詳述。 第1圖是顯示本發明的一實施形態的直立式熱處理裝置的 剖面圖’第2圖(a )( b )是顯示熱處理用晶舟的晶舟本
557534 A7 B7 五、發明説明(6 ) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 體圖,第3圖是顯示熱處理用晶舟的支承板部分的橫剖面 圖,第4圖是第3圖的B - B線放大剖面圖,第5圖熱處 理用晶舟的假板部分的橫剖面圖。 如第1圖所示,直立式熱處理裝置1,具備有:收容 被處理體譬如半導體晶圓W用來實施預定的處理、譬如 CVD處理、構成熱處理爐的石英製的反應管2(處理容器 )° 反應管2,在本實施形態被形成內管2a及外管2b的 雙重管構造,但亦可僅以外管2b的單管構造。又在反應 管2的下部,具有:在反應管2內導入處理氣體和純化用 的惰性氣體的氣體導入管部(氣體導入口)3及用來排氣 反應管2內的排氣管部(排氣口)4的環狀的集合管( manifold ) 5,被連接成氣密。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 在前述氣體導入管部3,被連接有氣體供給系統的配 管。在前述排氣管部4,被連接具有將反應管2內可減壓 控制的真空泵和壓力控制閥等的排氣系統的配管(圖示省 略)。前述集合管5,被安裝於未圖示的基板上。又,在 前述反應管2的周圍,被設有圓筒狀的加熱器8,將反 應管2內可加熱控制成預定的溫度譬如300〜1 200° C。 前述反應管2的下端的集合管5,形成有熱處理爐的 爐口 6。在熱處理爐的下方,用來開閉爐口 6的蓋體7, 藉由昇降機構8被設成可昇降。前述蓋體7,抵接於集合 管5的開口端並用來密閉爐口 6。 在該蓋體7上,將大口徑(譬如直徑300mm )的多數 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210χ297公釐) 557534 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明説明(7) 片(譬如7 5〜1 0 0片程度)的晶圓w以水平狀態間隔於上 下方向並支承成多段的熱處理用晶舟9,由昇降機構8藉 由蓋體7的上昇被裝載(搬入)於反應管2內,並藉由蓋 體7的下降從反應管2內被排出。 其中一方,前述熱處理用晶舟9,如第2圖〜第4 圖所示,具備有:在高度方向以預定的間隔具有被形成的 爪部11的複數支(譬如3支)的支柱12;及介於前述爪 部11用來f合載被安裝成多段的晶圓W的支承板13。更具 體而言,前述熱處理用晶舟9,具備有:由底板14及頂 板1 5以及延伸於底板1 4及頂板1 5之間的前述複數支的 支柱1 2所構成的晶舟本體1 6。在晶舟本體1 6的支柱1 2 ,介於爪部11,支承板1 3被支承成多段。在存在此等複 數片的支承板1 3的領域內爲了將熱處理條件均勻化,在 前述支柱1 2的上端側及下端側,介於前述爪部Π,被支 承有複數片(譬如3〜4片)如第5圖所示的假板17。前 述支柱1 2,圍住支承板1 3和晶圓W在周方向以預定的間 隔被配置。支柱1 2及底板14及頂板1 5,譬如藉由熔接 等,一體地被接合。 晶舟本體1 6、支承板1 3及假板17,在中高溫譬如 1 000° C以下的熱處理溫度被使用的情況下亦可使用石英 製。可是,在較高的溫度譬如1050° C〜1200° C程度的 熱處理溫度被使用的情況下使用碳化矽(S i C)製爲佳 。這種情況,藉由純度低的碳化矽材料爲了防止晶圓被污 染,在晶舟本體16、支承板13及假板17 ’加工後,譬如 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(21〇χ297公釐) -1U - 557534 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 _B7____五、發明説明(8 ) 藉由CVD處理被形成有保護膜爲佳。又’支承板1 3及假 板17,被形成爲略同外形。 頂板1 5及底板1 4,分別被形成爲環狀。在高溫的熱 處理下被使用的情況,在天板1 5被設有切口 1 8用來放掉 熱應力爲佳。又,本實施形態,如第2圖(a )所示’在 頂板1 5及底板14的周緣部的一部分,被設有切口部1 9 用來避免與棒狀的溫度檢測器的干擾。 晶舟本體16中,從前方爲了可裝脫(安裝及卸下) 支承板1 3及假板1 7和晶圓的出入,在前方領域未被配置 支柱1 2,在左右及後方領域的至少3處被配置有支柱1 2 。將後方領域的支柱1 2設置2支於左右’亦可使用4支 支柱1 2。 爲了將支承板1 3及假板1 7支承成更穩定,左右的支 柱12,如第3圖所示,比晶舟本體16的左右方向的中心 線La被配置稍前方。而且,在此等支柱12的內側,水平 的爪部1 1以預定間距間隔被形成。此等的爪部11,譬如 從晶舟本體1 6的開口側插入旋轉式硏削刃,用來硏削支 柱1 2的內側並藉由加工溝部可被形成。這種情況,可抑 制爪部1 1的熱容量並爲了謀求晶圓W的面內溫度的均勻 化,爪部1 1被形成既薄且小爲佳。 又,以直立式熱處理裝置1的高度的關係在被設定的 熱處理用晶舟9的晶舟本體1 6內的被限制的空間爲了確 保預定片數的晶圓W的搭載領域,用來支承假板1 7的爪 部Π的間距間隔Pa,被形成比用來支承支承板1 3的爪 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) I"TT': (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 557534 A7 B7 五、發明説明(9 ) 部11的間距間隔Pa更窄。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 左右的支柱12的溝部20的後面部(背部),與晶舟 本體1 6的前後方向的中心線L a被形成爲平行。其中一方 ,後方的支柱12的溝部20的後面部(背面),與晶舟本 體1 6的左右方向的中心線La被形成爲平行。而且,在支 承板13及假板17的外周,如第3圖所示,在左右的支柱 1 2的溝部20的後面部(背部)被形成有平行的切口部2 1 、在後方的支柱1 2的溝部〇2的後面部(背面)被形成有 切口部22。藉此,對於晶舟本體16,使支承板13及假板 17確實且容易可安裂。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 前述支承板1 3,用來載置晶圓W的周緣部,比圓形 的晶圓被形成外徑稍大的環狀。於此,爲了不使擦傷晶圓 W的背面,或由於晶圓W的自重應力產生的滑動,支承 板1 3的晶圓搭載面(被處理體搭載面)23被硏磨成鏡面 狀,之後,爲了抑制晶圓W的黏上,譬如藉由噴砂法等 的粗面加工,在支承板1 3的晶圓搭載面23被設有微細的 凹凸(圖示省略)。或,取代進行朝鏡面狀的硏磨加工及 之後的粗面加工的兩方,將預先所望的表面粗度爲目標力口 以硏磨加工的方法也有效。 而且,在高溫譬如當1050° C〜1200° C的熱處理時 也在支承板1 3的晶圓搭載面23爲了抑制晶圓黏上現象’ 在前述支承板13的晶圓搭載面23 ’被設有溝24及貫通 孔25。在本實施形態,如第3圖及第4圖所示’在支承 板1 3的晶圓搭載面23,被形成環狀的同心圓狀的複數條 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -12 - 557534 A7 _ _B7_ 五、發明説明(1〇) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 譬如2條的溝24,並且將支承板1 3貫通於上下方向的貫 通孔25,在各溝24內在其周方向以預定的間隔被複數設 置。此外,前述溝24以複數條爲佳,但亦可爲1條。又 ’前述溝24連續於周方向爲佳,但亦可在周方向被形成 斷續地。除此之外,溝24,亦可被形成爲網眼狀。即, 溝24的配置形狀不被限定。 又,如第4圖所示,在支承板13的周緣部,用來防 止晶圓W的滑落的立起壁26被設置與晶圓W略同高度爲 止爲佳。此外,支承板13的晶圓搭載面23,藉由微細的 凹凸(粗面加工)、溝24及貫通孔25 (當晶圓移載時放 掉滯留於晶圓及晶圓搭載面之間的空氣)爲了使晶圓W 難以滑動,所以前述立起壁26亦可不必被設置。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 又,在支承板13,作爲被卡止於左右的支柱12的爪 部1 1並用來防止支承板1 3的滑落的左卡止部及右卡止部 ,被設有擋塊構件27。擋塊構件27,在支承板1 3的背面 的左右緣部分別朝下被突設。擋塊構件27在左右的爪部 1 1的後方側的側面分別藉由抵接並被卡止,朝支承板1 3 的前方使移動被阻止。此外,朝支承板1 3的後方及左右 方向的移動,藉由支柱12被阻止。 抑制前述擋塊構件27的熱容量爲了謀求晶圓W的面 內溫度的均勻化,擋塊構件27被形成既薄且小爲佳。又 ,根據同樣的理由,支承板1 3的背面,除了前述擋塊構 件27之外儘量被形成平坦。 在前述假板17,如第5圖所示,與前述支承板13同 -13- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 557534 A7 B7 五、發明説明(11) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 樣,作爲被卡止於左右的支柱1 2的爪部1 1用來防止假板 1 7的滑落的假板左卡止部及假板右卡止部,被設有擋塊 構件28。又,假板1 7被使用於高溫的熱處理的情況下, 用來放掉熱應力的切口 29,從假板1 7的中心朝向前方被 設於半徑方向爲佳。 若根據由以上的構成所形成的熱處理用晶舟9或使用 該熱處理用晶舟9的直立式熱處理裝置1,則熱處理用晶 舟9,在高度方向以預定的間隔在具有被形成的爪部11 的複數的支柱1 2,將搭載晶圓W的支承1 3介於前述爪部 11安裝成多段,在前述支承板1 3的晶圓搭載面23爲了 設置溝24及貫通孔25,在支承板13的晶圓搭載面23及 晶圓W之間被形成空氣層,藉由該空氣層使晶圓W的黏 上被抑制。藉此,即使當高溫的熱處理時,也被防止晶圓 的黏上,並且藉由起因於晶圓搭載面23的極小的凹凸或 突起的晶圓W的部分性的自重應力可被抑制滑動的產生 〇 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 又,在前述支承板1 3因爲被設有擋塊構件27被卡止 於左右的支柱1 2的爪部11並用來防止支承板1 3的滑落 ,所以可防止由於振動等支承板1 3的滑落,即,使耐震 性及耐久性被提高。又,在前述支柱1 2的上端側及下端 側使假板1 7介於前述爪部11被安裝,在前述假板1 7因 爲被設有被設有擋塊構件28被卡止於左右的支柱1 2的爪 部11並用來防止假板1 7的滑落,所以可防止由於振動等 假板板1 7的滑落,即,使耐震性及耐久性被提高。 -14 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 557534 A7 B7 五、發明説明(12) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁} 假板17,S i C製的情況,可模型成形。這種情況, 與用來切片結晶塊被製作的假晶圓不同’可容易用來~體 形成擋塊構件28。進而,在前述熱處理用晶舟9,因爲使 晶舟本體1 6及支承板1 3形成爲不同體’所以容易製造、 洗淨及支承板1 3的交換等。 以上,將本發明的實施形態藉由圖面作了詳述,但本 發明並非被限定於前述實施形態,在不脫離本發明的要旨 範圍內可作種種的設計變更等。譬如,支承板1 3,藉由 移載機構爲了容易晶圓W的移載,所以亦可被形成爲前 方被開口的馬蹄形狀。又,作爲前述晶舟本體1 6、支承 板1 3及假板17的材質,以碳化矽爲佳,亦可用聚矽( Si)。作爲被處理體,除了半導體晶圓以外,譬如亦可 用LVD基板。 又,對於支承板1 3及假板1 7的滑落防止功能,取代 前述擋塊構件27、28,亦可被利用如第6圖及第7圖所 示的卡合孔。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 第6圖的情況,在支承板13的背面,被設有:卡合 於支承板1 3的左方的支柱的爪部的上部的左卡合孔1 27 、及卡合於支承板1 3的右方的支柱的爪部的上部的右卡 合孔1 27 ‘、及卡合於支承板1 3的後方的支柱的爪部的 上部的後方卡合孔127 “,被謀求支承板13的防止滑落 〇 對於假板17,也可被採用爲了防止滑落同樣的構成 。即,如第7圖所示,在假板17的背面,被設有:卡合 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 557534 A7 __B7_ 五、發明説明(13) 於假板1 7的左方的支柱的爪部的上部的假板左卡合孔 1 2 8 '及卡合於假板1 7的右方的支柱的爪部的上部的假板 右卡合孔128 ‘、及卡合於假板17的後方的支柱的爪部 的上部的假板後卡合孔128 “,可被謀求假板17的防止 滑落。 ml· auL m·— ϋϋ ml ml «—^1 —^1 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
、1T 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210Χ297公釐)
Claims (1)
- 557534 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍1 1. 一種熱處理用晶舟’其特徵爲具備有··複數的支柱 •,及 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 前述支柱的各自中,在高度方向以預定的間隔被形成 的複數的爪部;及 介於前述爪部在前述複數的支柱間被安裝成多段地, 具有可搭載被處理體的被處理體搭載面的複數的支承板; 及 被設於前述被處理體搭載面的溝及貫通孔。 2·如申請專利範圍第1項之熱處理用晶舟,其中在前 述被處理體搭載面上,被設有微細的凹凸用來抑制被處理 體的貼著現象。 3. 如申請專利範圍第1或2項所記載之熱處理用晶舟 ,其中,前述支承板爲略呈圓形,而前述複數的支柱,在 垂直於前述支承板上,被配置於前述支承板的後方、左方 及右方。 4. 如申請專利範圍第3項所記載之熱處理用晶舟,其 中,在前述支承板上,被設有: 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 被卡止於前述支承板的左方的支柱的爪部並用來防止 該支承板滑落的左卡止部;及 被卡止於前述支承板的右方的支柱的爪部並用來防止 該支承板滑落的右卡止部。 5. 如申請專利範圍第4項所記載之熱處理用晶舟,其 中,前述左卡止部及前述右卡止部,是抵接於爪·部的側壁 部的擋塊構件。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -17· 557534 A8 B8 C8 D8 々、申請專利範圍 2 6. 如申請專利範圍第3項所記載之熱處理用晶舟,其 中,在前述支承板上,被設有: (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 卡合於前述支承板的左方的支柱的爪部的上部的左卡 合孔;及 卡合於前述支承板的右方的支柱的爪部的上部的右卡 合孔;及 卡合於前述支承板的後方的支柱的爪部的上部的後卡 合孔。 7. 如申請專利範圍第1或2項所記載之熱處理用晶舟 ,其中,在前述支柱的上端部及下端部上,被安裝有假板 〇 8. 如申請專利範圍第1或2項所記載之熱處理用晶舟 ,其中,在前述支柱的上端部及下端部上,使分別複數的 假板,介於前述爪部在前述複數的支柱間被安裝成多段。 9. 如申請專利範圍第8項所記載之熱處理用晶舟,其 中,前述假板,爲略呈圓形, 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 而前述複數的支柱,在垂直於前述假板上,被配置於 前述假板的後方、左方及右方。 1 0.如申請專利範圍第9項所記載之熱處理用晶舟, 其中,前述假板上,被設有: 被卡止於前述假板的左方的支柱的爪部並用來防止該 假板滑落的假板左卡止部;及 被卡止於前述假板的右方的支柱的爪部並用來防止該 假板滑落的假板右卡止部。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -18- 557534 A8 B8 C8 D8 ^、申請專利範圍 3 11.如申請專利範圍第i 0項所記載之熱處理用晶舟, 其中,前述假板左卡止部及前述假板右卡止部,是抵接於 爪部的側壁部的擋塊構件。 1 2.如申請專利範圍第9項所記載之熱處理用晶舟, 其中,在前述假板上,被設有: 卡合於前述假板的左方的支柱的爪部的上部的假板左 卡合孔;及 卡合於前述假板的右方的支柱的爪部的上部的假板右 卡合孔;及 卡合於前述假板的後方的支柱的爪部的上部的假板後 方卡合孔。 13. —種直立式熱處理裝置,其特徵爲:具備有: 申請專利範圍第1至1 2項中任一項所記載之熱處理 用晶舟、及 可收容前述熱處理用晶舟的熱處理爐。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210 X 297公釐) -19-
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001397884A JP3377996B1 (ja) | 2001-12-27 | 2001-12-27 | 熱処理用ボート及び縦型熱処理装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW557534B true TW557534B (en) | 2003-10-11 |
Family
ID=19189253
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW091121660A TW557534B (en) | 2001-12-27 | 2002-09-20 | Boat for heat treatment and vertical heat-treating furnace |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6966771B2 (zh) |
EP (1) | EP1469508B1 (zh) |
JP (1) | JP3377996B1 (zh) |
KR (1) | KR100868399B1 (zh) |
CN (2) | CN1320604C (zh) |
DE (1) | DE60230328D1 (zh) |
TW (1) | TW557534B (zh) |
WO (1) | WO2003060968A1 (zh) |
Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7033168B1 (en) * | 2005-01-24 | 2006-04-25 | Memc Electronic Materials, Inc. | Semiconductor wafer boat for a vertical furnace |
JP2007201417A (ja) * | 2005-12-28 | 2007-08-09 | Tokyo Electron Ltd | 熱処理用ボート及び縦型熱処理装置 |
US8109975B2 (en) * | 2007-01-30 | 2012-02-07 | Warsaw Orthopedic, Inc. | Collar bore configuration for dynamic spinal stabilization assembly |
JP4313401B2 (ja) * | 2007-04-24 | 2009-08-12 | 東京エレクトロン株式会社 | 縦型熱処理装置及び被処理基板移載方法 |
US8042697B2 (en) * | 2008-06-30 | 2011-10-25 | Memc Electronic Materials, Inc. | Low thermal mass semiconductor wafer support |
JP5088331B2 (ja) * | 2009-01-26 | 2012-12-05 | 東京エレクトロン株式会社 | 熱処理装置用の構成部品及び熱処理装置 |
JP5545055B2 (ja) * | 2010-06-15 | 2014-07-09 | 東京エレクトロン株式会社 | 支持体構造及び処理装置 |
JP5881956B2 (ja) * | 2011-02-28 | 2016-03-09 | 株式会社日立国際電気 | 基板処理装置、半導体装置の製造方法およびウェーハホルダ |
KR101052010B1 (ko) * | 2011-04-25 | 2011-07-27 | 주식회사 페어텍 | 내구성이 향상된 푸셔 스프링이 구비된 lcd 글라스 홀딩장치 |
CN103928375A (zh) * | 2013-01-15 | 2014-07-16 | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 | 一种适用于大气压炉的新型石英舟 |
CN104253077B (zh) * | 2013-06-26 | 2017-08-25 | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 | 一种用于扩散炉管的晶座 |
USD846514S1 (en) * | 2018-05-03 | 2019-04-23 | Kokusai Electric Corporation | Boat of substrate processing apparatus |
USD847105S1 (en) * | 2018-05-03 | 2019-04-30 | Kokusai Electric Corporation | Boat of substrate processing apparatus |
JP7245071B2 (ja) * | 2019-02-21 | 2023-03-23 | 株式会社ジェイテクトサーモシステム | 基板支持装置 |
JP1658652S (zh) * | 2019-08-07 | 2020-04-27 | ||
JP6770617B1 (ja) * | 2019-08-09 | 2020-10-14 | 株式会社Kokusai Electric | 基板処理装置、半導体装置の製造方法及び基板保持具 |
CN112466794B (zh) * | 2020-11-24 | 2021-12-03 | 长江存储科技有限责任公司 | 薄膜沉积装置及晶舟组件 |
CN112530826B (zh) * | 2020-11-27 | 2024-05-17 | 北京北方华创微电子装备有限公司 | 半导体热处理设备的承载装置及半导体热处理设备 |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0538869U (ja) * | 1991-10-18 | 1993-05-25 | 富士通株式会社 | ウエーハ支持装置 |
TW242196B (zh) | 1992-12-03 | 1995-03-01 | Saint Gdbain Norton Ind Ceramics Corp | |
US5458688A (en) * | 1993-03-09 | 1995-10-17 | Tokyo Electron Kabushiki Kaisha | Heat treatment boat |
US6033480A (en) * | 1994-02-23 | 2000-03-07 | Applied Materials, Inc. | Wafer edge deposition elimination |
JP3388668B2 (ja) | 1996-02-29 | 2003-03-24 | 東京エレクトロン株式会社 | 熱処理用ボ−ト及び縦型熱処理装置 |
JP3469000B2 (ja) | 1996-08-02 | 2003-11-25 | 三井造船株式会社 | 縦型ウエハ支持装置 |
JPH1131639A (ja) * | 1997-07-10 | 1999-02-02 | Kokusai Electric Co Ltd | 半導体製造装置 |
JPH11260746A (ja) * | 1998-03-13 | 1999-09-24 | Sumitomo Metal Ind Ltd | ウェーハ支持板 |
WO2000019502A1 (fr) | 1998-09-28 | 2000-04-06 | Hitachi, Ltd. | Fourneau vertical et nacelle porte-tranches |
JP4003906B2 (ja) * | 1999-03-19 | 2007-11-07 | コバレントマテリアル株式会社 | シリコン単結晶半導体ウエハ加熱処理用治具及びこれを用いたシリコン単結晶半導体ウエハ加熱処理用装置 |
WO2001018856A1 (fr) | 1999-09-03 | 2001-03-15 | Mitsubishi Materials Silicon Corporation | Support de tranche |
US6287112B1 (en) * | 2000-03-30 | 2001-09-11 | Asm International, N.V. | Wafer boat |
KR100410982B1 (ko) * | 2001-01-18 | 2003-12-18 | 삼성전자주식회사 | 반도체 제조장치용 보트 |
JP4467028B2 (ja) * | 2001-05-11 | 2010-05-26 | 信越石英株式会社 | 縦型ウェーハ支持治具 |
-
2001
- 2001-12-27 JP JP2001397884A patent/JP3377996B1/ja not_active Expired - Fee Related
-
2002
- 2002-09-17 WO PCT/JP2002/009512 patent/WO2003060968A1/ja active Application Filing
- 2002-09-17 EP EP02806406A patent/EP1469508B1/en not_active Expired - Fee Related
- 2002-09-17 KR KR1020047004688A patent/KR100868399B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2002-09-17 DE DE60230328T patent/DE60230328D1/de not_active Expired - Lifetime
- 2002-09-17 CN CNB028259572A patent/CN1320604C/zh not_active Expired - Fee Related
- 2002-09-17 US US10/500,125 patent/US6966771B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2002-09-20 TW TW091121660A patent/TW557534B/zh not_active IP Right Cessation
- 2002-12-27 CN CNU022926062U patent/CN2684373Y/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1608313A (zh) | 2005-04-20 |
US6966771B2 (en) | 2005-11-22 |
KR20040068113A (ko) | 2004-07-30 |
CN2684373Y (zh) | 2005-03-09 |
JP3377996B1 (ja) | 2003-02-17 |
CN1320604C (zh) | 2007-06-06 |
EP1469508A4 (en) | 2006-12-27 |
DE60230328D1 (de) | 2009-01-22 |
EP1469508B1 (en) | 2008-12-10 |
US20050042568A1 (en) | 2005-02-24 |
EP1469508A1 (en) | 2004-10-20 |
KR100868399B1 (ko) | 2008-11-11 |
JP2003197553A (ja) | 2003-07-11 |
WO2003060968A1 (fr) | 2003-07-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TW557534B (en) | Boat for heat treatment and vertical heat-treating furnace | |
US20080314319A1 (en) | Susceptor for improving throughput and reducing wafer damage | |
JP2007201417A (ja) | 熱処理用ボート及び縦型熱処理装置 | |
US20090165721A1 (en) | Susceptor with Support Bosses | |
JP2009239289A (ja) | 基板支持体、基板処理装置および半導体装置の製造方法 | |
JPH07254591A (ja) | 熱処理装置 | |
JP2004533117A (ja) | 基板サポートアセンブリと基板処理用装置 | |
TWI671802B (zh) | 縱型晶舟 | |
JPH09199437A (ja) | 半導体ウェーハ支持装置 | |
JP2005203648A (ja) | シリコンウエーハの熱処理用縦型ボート及び熱処理方法 | |
US20030157453A1 (en) | Boat for heat treatment and vertical heat treatment apparatus | |
JPH0950967A (ja) | 被処理体の支持ボート | |
JP4404666B2 (ja) | 基板支持体、基板処理装置および半導体装置の製造方法 | |
TW502299B (en) | Vertical heat-processing apparatus and fastening member used in the same | |
JP4812675B2 (ja) | 縦型ウエハボート | |
JP2001358085A (ja) | 半導体製造装置 | |
JP2005166823A (ja) | 半導体基板熱処理装置、半導体基板熱処理用ウェハボート、及び半導体基板の熱処理方法 | |
TW573312B (en) | Removable reaction chamber liner structure and wafer process reaction chamber containing the same | |
TW294825B (zh) | ||
JP4228347B2 (ja) | ウェーハ支持体 | |
JP2010016080A (ja) | 基板保持具装着治具及び半導体製造装置 | |
JP2004241616A (ja) | ウエーハの保持装置及び移載方法 | |
JPH0799163A (ja) | バッチ型熱処理装置 | |
JP2010157581A (ja) | 気相成長装置 | |
JPH0778780A (ja) | 縦型拡散炉用炉芯管 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
GD4A | Issue of patent certificate for granted invention patent | ||
MK4A | Expiration of patent term of an invention patent |