TW548754B - Resin encapsulation system - Google Patents
Resin encapsulation system Download PDFInfo
- Publication number
- TW548754B TW548754B TW091109866A TW91109866A TW548754B TW 548754 B TW548754 B TW 548754B TW 091109866 A TW091109866 A TW 091109866A TW 91109866 A TW91109866 A TW 91109866A TW 548754 B TW548754 B TW 548754B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- model
- resin
- intermediate model
- unit
- mold
- Prior art date
Links
- 229920005989 resin Polymers 0.000 title claims abstract description 55
- 239000011347 resin Substances 0.000 title claims abstract description 55
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 title claims abstract description 11
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims abstract description 15
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 claims abstract description 13
- 238000004080 punching Methods 0.000 claims description 15
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 claims description 11
- 238000010276 construction Methods 0.000 claims description 2
- 238000009434 installation Methods 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 13
- 238000000465 moulding Methods 0.000 abstract description 10
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 6
- 238000012858 packaging process Methods 0.000 description 6
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 6
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 4
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 4
- 238000001746 injection moulding Methods 0.000 description 3
- 239000002324 mouth wash Substances 0.000 description 3
- 229940051866 mouthwash Drugs 0.000 description 3
- 238000001721 transfer moulding Methods 0.000 description 3
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 2
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 2
- 239000004519 grease Substances 0.000 description 2
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 2
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 2
- 239000003566 sealing material Substances 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 2
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 2
- YSUCWSWKRIOILX-UHFFFAOYSA-N 1-(diaminomethylidene)-2-(2-phenylethyl)guanidine;hydrochloride Chemical compound Cl.NC(N)=NC(N)=NCCC1=CC=CC=C1 YSUCWSWKRIOILX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241001674048 Phthiraptera Species 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 210000003746 feather Anatomy 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 239000005022 packaging material Substances 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 230000007723 transport mechanism Effects 0.000 description 1
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/50—Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
- H01L21/56—Encapsulations, e.g. encapsulation layers, coatings
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67126—Apparatus for sealing, encapsulating, glassing, decapsulating or the like
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/50—Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
- H01L21/56—Encapsulations, e.g. encapsulation layers, coatings
- H01L21/565—Moulds
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
- Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
- Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
Description
548754
型處理的樹脂封裝系統’尤有關: = 脂封袈成 用上模型、中間模型、及下模型的樹脂;;型’印使 2.相關技術之描述 了展糸統。 此種树脂封裝系統係用於以成 體裝置製造過程而從晶圓切割下來的“ c個半導 中。為了高效率地製造半導體褒置,故心: 成型過程的效率。 v、提阿Μ脂封裝 更詳言之,樹脂過程可 脂之物體的步驟、從模型中 潔中間模型的步驟。為了提 步驟必須自動且快速地進行 細分成從模型中釋放封裝 釋放流道及澆口的步驟、及清 高樹脂封裝過程的效率,上= 參見圖1,此種樹脂封裝系統通常使用上模型6〇2 間模型模型6〇3。由於中間模型6〇1係經由連桿中 604而與上模型6G2及下模型6〇3兩者連接,故中間 將依據上模型602及下模型603的移動而移動。 、 在曰本公開專利公報第1 535〇6/1997號及第 3 1 4 71 7 / 1 9 9 4號中,係揭露具有上、中間、及下模型的三 模型構造。圖2 A及圖2 B係顯示日本公開專利公報第 31 471 7/ 1 994號所揭露之代表視圖,以下即說明其細節。 圖2 A為揭露於日本公開專利公報第3丨4 7丨7 /丨9 9 4號之 釋模負載測量模型的立體圖、及圖2B為其剖面圖。
548754 五、發明說明(2) ' 如圖所示’釋模負載測量模型係由上模型7 0 1、中間 模型70 2 '及下模型7〇3所構成。 將截圓錐狀且與轉移成型機器70 5之樹脂輸入璋7〇6相 通的樹脂射出孔部7〇4形成於上模型701中。 將模穴部70 9、流道部70 7、及澆口部708形成在中間 模型702上,俾允許流道部7〇7經由澆口部7〇8而與模穴 7 0 9相通。 以下詳細說明使用釋模負載測量模型的釋模負載測旦 方法。 、、 ’、里 首先’藉由如氣壓缸的壓合作用力夾合釋模負載測量 模型,而將上模型701及下模型703疊層在中間模型7〇2、的^ 上及下表面上,並接著在此狀態下,將如熱固樹脂所構成 的成型樹脂716注入轉移成型機器7 05的樹脂輸入埠7〇6之 中。 接著,將注入成型樹脂716經由澆口部7〇8射入模穴部 7〇 9之内,而加熱成型樹脂以使其熔化。 、y σ 當以成型樹脂716填滿模穴部7 09及貫通孔部712時 (如圖3 ),即藉由如加熱或冷卻的熱變化而使樹脂硬 昤φΪΪ如圖3所示,打開上模型701及下模型7〇3而僅移 除:間核型702 ’並如圖中之箭號Β所示般地藉由彈 備沿著從μ合部m的外露表面朝向模穴部7〇9之預 疋方向而施加壓力至設置在貫通孔部712中的壓合部717 最後,藉由作用在壓合部717上的負载而著至模
第7頁 548754 五、發明說明(3) 穴部7 0 9之侧面7 1 〇與平面711兩者的成型樹脂71 6從中間模 型7 0 2中釋放。藉由讀取測量設備此時的刻度,即測得成 型樹脂7 1 6從中間模型7 〇 2中釋出的負載。 然而,在具有上述構造的例子中,此種習知的樹骑封 裳系統係有以下之問題。 中空的澆口係用於中間模型中。因此,雖然可在沖壓 機内女裝用於頂出洗口部的頂出機構’但考慮一連串樹脂 封裝過程與設備成本的程序與效率(稱為「指標」)的^ 況下,並不實用。換言之,其並不適合用於大量製造。 為了在各樹脂封裝之後,费除殘留在蜜膠模型上的毛 •邊,故通常設置清潔機構。在三模型構造中,於考慮上述 之指標與設備成本的情況下,清潔機構係太複雜而不實 用,且不適合用於大量製造。 此外,由於在習知的三模型構造,係藉由前述之連桿 而固定各模型,故保養將因費時且降低產能而為一問題^ 圖2 A及圖2 B之釋模負載測量模型可細分成三模型··即 上模型、中間模型、及下模型,且將模穴部形成在中間模 型中。然而,由於中間模型上並無設置足以供輸送機構輕 易夾持的加工區域,故輸送機構將無法輕易地移除中間模 型及從上模型與下模型之間伸入至中間模型之中。 、 【發明的綜合說明】 因此,本發明之一目的係提供一種低成本且極有 樹脂封裝系統。
548754 五、發明說明(4)
依據本發明,在樹脂圭十_ I 使用-上模型、一 "η统中,包含:-沖壓機, 系統係設置有一中Ξ = 一下模型’而此樹脂封裝 /移除中間模型 达機構,其至/從沖壓機插入 【車父佳實施例之詳細說明】 施例參見圖式’俾說明依據本發明之樹脂封裝系統的兩實 上模:據ΐ 第:實施例的樹脂封裝系統係包含使用 ^中間杈型、及下模型的沖壓機。 參見圖4A,將上模型1〇2及下模型1〇3固定在沖壓機 1〇2或下二1 模上型=保持 成樹脂封裳部的模穴= = 將形 及用以报士 h f t 射出樹脂的澆口部106、 #蓄六I成叙形%虱樹脂(以下稱為錠部)的通路孔1 07 Z 中間模型1 〇 1上。上模型1 02係當作葚邱而f μ Φ π 模型101的模穴部105。將灌 /作^而覆盍中間 以供:為封裝材料之用的;形^8招=主在入下且模中型…上, 中間模型m中係有一加工區域,曰即,入其中。 型輸运機構接收中間模型101並固m間板 型輸送機構中,故加工成型一凹口,:將其固疋在令間模 構的手部牢固地夾住中間模型101。#供中間模型輸送機 就此加工而言,只要能允許其指部進入中間模型】〇ι 548754 五、發明說明(5) 之内或進入裝設至中間模型101之把手等局部之 係皆可使用。 “ίΐϊ:圖4B、及圖5,本系統包含用以支撐整個 糸統的支撐外框、用於放置安襄在引線框上而當作待 之物體的片狀元件之輸入卡槽暫存 ^ 農之物體配置在其上的可迴轉單元2〇2、用於 脂封裝材料之錠部的錠邱供雍罝—9 心田 十 單元2 0 2上之待封裝物體及捲1兀、於接收可迴轉 衣物體及接收供應自鍵部供應單元2 〇 3 :ΐ - ^ ^, , 01 ; 1 / [機1 0 4、用於輸送中間模型1 〇 1的中間模 口^體Μ間模型101上分離及使流道與洗 中間模^ιοϋ上分離的頂出沖壓單元208、用於輸送從 容納曰、終之射/離之最終封裝物體的輸送機20 9、及用於 係告:、中門广:2體的卡槽單元21 0。中間模型卸載機2 06 係“乍中間模型輪送機構之手部的局部。 豆可:U ί ί實施例係將流道部形成在中間模型上,但 模穴部與濟將^運部形成在下模型上、而將 不需要安裝在頂出ίί:間二型上上時,則因為中間模型並 的分離機構,故nt 而用以分離流道與澆口 1 A “ 八間化的構造將有利於促進製造。 之樹脂ϊ裝ii圖4A、圖4B、及圖5 ’俾說明依據本系統 、’先將曰作待封裝之物體而安裝在引線框上的片狀
^48754 五、發明說明(6) 元件放置在輸入卡槽暫 成並當作封裂材料的錠部貝 =1中:而由環氧樹脂所構 -地釋出待封裝之物由輪入卡槽暫存單元2。1逐 配置錠部而用ίΐΪΪ置於可迴轉單元2〇2上。接著, 甘丄用以使其載入載入機架2 3 4 5 6 7 8〇4之中。 具—人,如箭號F23所示,蔣一斜分卢 202上之待封裝物辦於、、, 將對依序置於可迴轉單元 放置在中間預埶單元i在預先藉由載入機架204而 ::間預熱早7020 5上的中間模型101上。 上,直到夢巧單元而保持在中間模型101 模型101上‘除為止’。壓早兀2 0 8而將待封裝之物體從中間 模型1^1由Α間主核型預熱單元2 0 5而使中間模型101連同中間 F24所示,ίίί裝物體加熱至約18〇t,並接著如箭號 ^ t 9 間杈型卸載機206而使待封裝物體輸送/ 放置到沖壓機1 〇 4的下模型丨〇 3上。 1 ο 1 #接葬著λ攸澈中間輪型1 〇 1的上半部注入键部,❿巾間模型 101係精由載入機架204而放置在下模型1〇3上。 2 了以固定的壓力使下模型1〇3與中間模型ι〇ι和上模 3 型夾=在一起,故提高下模型103與中間模型1〇1。 、 4 藉由安裝在下模型1〇3上的射出單元(未圖示)而進 5 行射出成型。 6 ^在封裝處理完成之後,則如箭號F25所示,藉由中間 7 模型卸載機206而將中間模型101連同封裝的物體一起從 8 模型1 0 3中移除。 548754 五、發明說明(7) 如箭號F26所示,藉由中間模型卸載機2〇6而 =模型1〇1及封裝的物體之後,則如箭號F2?所J :。間模型卸載機20 6而將其放置在頂出沖壓單元2〇8 桓刑ill先士藉由頂出沖壓單元208而使封裝的物體從中間 、、八οι中脫離,ϋ藉由頂出沖壓單元2〇8的臂冑(未圖示 :?二不Λ 送至卡槽單元210。之後,中間模型ιοί 係與流道及洗口分離。 元之圖示中間模型101 (中間模型輸送機構)各單 從运手部,但可使用各種輸送手部,如堆高機般 的類二日已$類型、為了輸送而將中間模型101支樓在高 、、及在中間模型101的侧面形成孔部,俾能使具有 k同作用的桿部伸入孔部之中。 藉由重複上述過程,即進行樹脂封裝處理。 上模η::之第二實施例的樹脂封裝系統係包含具有 上杈型、下杈型、及兩中間模型的沖壓機。 參/圖4Α、圖4Β、及圖6 ’係將上模型1〇2與下模型 疋在沖壓機〗〇4上,而兩中間模型(第一 以ΪΓ1。1 (圖4Α僅顯示中間模型101之-)則;呆 符氣、開狀悲地不固定至上模型丨〇2及下模型丨〇3上。 =一 t間模型101係位在中間模型預熱單元2〇5中,而 一中間模型1 0 1則位在頂出沖壓單元2 0 8中。 藉由中間模型卸載機206而將第一中間模型1〇1從中間 第12頁 548754 五、發明說明(8) 預熱早元205輸送至/放置在沖塵機1 q 4上。 此時,第二中間模型1 〇 1係如箭號F35所示般地移動, 俾使第二中間模型1 〇 1在唯一而作為清潔之用的中間模型 清潔單元2 0 7之内.來回移動。 在清潔之後,使中間模型101如箭號F38所示般地移 動,俾藉由中間模型卸載機206而使其輸送至/放置到中 間預熱單元20 5上而接收由載入機架2〇4與中間模型1〇1所 輸送之待封裝物體。 、 ^ >在如箭號F32至F34所示的封裝處理完成而使封裝物體 從第一中間模型丨〇 i中脫離並使流道與澆口從中間模型工〇丄 中刀離之後,第一中間模型1 〇 1係移動到頂出沖壓單元 在藉由中間模型卸載機2 0 6將第一中間模型1〇1從沖壓 機1〇4中移除並接著傳送至頂出沖壓單元2〇8之後,係如箭 號F31所示般地藉由中間模型卸載機2〇6而將第二中間模型 101輸送至/放置在沖壓機1〇4。 、 ▲猎由沖壓機104而以樹脂封裝第二中間模型1〇1時, 第一中間模型101係如箭號F35所示般地移動,俾使盆放^ 為清潔之用的中間模型清潔單元207上而如箭 號F 3 6及F 3 7所示般地來回移動。 W(n在/Λ之後,係如箭號F38所示般地移動第一中間模 m接收封裝物體 預…205中,俾從載入㈣ 藉由重複上述過程,樹脂封裝處理係交替地進行,市
第13頁 548754 五、發明說明(9) 第一及第二中間模型101則在系統内循環。 的詳細:、圖4B、及圖7 ’俾說明處理中之沖壓機104 中Fit 所示,在藉由中間模型卸載機20 6而預先將 春2杲I y 1放置在沖壓機104的下模型103上、並接著預、 2具有待封裝之物體的中間模型101放置在下上 之後,,錠部401插入至下模型103的灌注區402中。3上 ,提尚下模型103並如箭號F42所示般地藉由預 力,施加經由中間模型101至上模型102的壓力支^之德 貝=由提高活塞403而射出錠部4()1,俾經由形成在中 ί之道部405與洗口部406而對形成在中間模㈣1、 模=邛404進行樹脂的充填及固化(射出成型)。 及中ίι ; ’在上述過程之後,即降低下模型103 及Τ間杈型1 0 1而打開塑膠模型。 +如箭號F44所示,在打開模型之後,則藉由安步在下 模型1 0 3上而用以釋放塑膠模型的頂出 t 中間模型m連同流綱與洗口 40 6從下模將 中之=單=、的:作:說…樹脂封裝處理 從沖壓機104的下模型103中所釋放的中間模 在流道405與澆口 406連同封裝的物體506緊密黏 ;、 而輸送到頂出沖壓單元208,並放置在下頂出模且上占 第14頁 548754 五、發明說明(10) (箭號F51 )。 首先,藉由用以釋放之了g Φ丨 體5 0 6從放置的中間模型1()= 2構505而僅將封裝的物 Τ間稹型101中移除(箭號F52 ) 〇 除已.封裝且釋放的物體(箭號F53)。. 出模且二错而上含士用以推出澆口 504的銷部及衝頭503的頂 ®模,、5 0 1而將形成本φ p弓播;丨, 推出(箭號F54^ 間模型101上的洗口 406及流道405 替地ίΐ重ΐΐ述過程,在頂出沖壓單元208的處理係交 替地在第一及第二中間模型101進行。 模型ΪΠΐ述第一實施例及第二實施'列,係將-或兩 例,且將可二f機中’但本發明並非僅限定為這些實施 a的=ΐ ϊ用數個沖壓機及數個巾間模型而在無重 ^理y/ 、過輸达手部加以輸送而更有效率地進行封裝 t上所述,依據本發明之樹脂封裝系統中,一或多個 ::杈〒係保持鬆開狀態地不與上模型及下模型有機械性 接。樹脂封襞成型進行時,中間模型係、 ::模Γΐ單元、中間模型清潔單元、及用於藉由頂出 頂f : 3 ΐί ι的物·、流道、及澆口從中間模型中分離的 麵羽1堊f70之間循環。藉以,依據本發明,係提供一種 二ί:技術成本更低之有效的樹脂封裝系統並允許自動化
第15頁 548754 圖式簡單說明 一— ---—---— 圖1顯不用於習知樹脂封裝系統之上模型、中間模 t、及下模型的組合侧視圖。 、 經秘ί2Α為日本公開專利公報第31 471 7/1 994號所揭露之 季模負載測量模型的分解立體圖。 圖2Β為釋模負載測量模型的剖面圖。 圖3為充填有釋模負載測量模型中之成型脂 模型剖面圖。 τ间 圖4Α為依據本發明之樹脂封裝系統的一實施例之 機側視圖。 7 ! 圖4Β為沖壓機中之中間模型的立體圖。 圖5為說明依據本發明之第一實施例的樹脂封裝系 所進行之處理的上視圖。 /、、、、 圖6為說明依據本發明之第二實施例的樹脂封震系 所進行之處理的上視圖。 “、、 圖7為說明依據本發明之第二實施例的樹脂封裝系統 之沖壓機進行之處理的側視圖,其中各處理依序以(^ ) (2) 、(3)、及(4)表示。 圖8為說明依據本發明之第二實施例的樹脂封裝系統 之頂出沖壓單元進行之處理的侧視圖,其中各處、 U ) 、(2 ) 、(3 )、及(4 )表示。 【符號說明】 101 ^ 601 . 702 中間模型 1 〇 2、6 0 2、7 0 1 上模型
第16頁 548754 圖式簡單說明 103、6 0 3、703 下模型 1 0 4 沖壓機 1 0 5 模穴部 1 0 6 澆口部 1 0 7 通路孔 1 0 8 灌注部 1 0 9 流道部 201卡槽暫存單元 202 可迴轉單元 2 0 3錠部供應單元 2 0 4 載入機架 20 5預熱單元 20 6中間模型卸載機 2 0 7中間模型清潔單元 2 0 8頂出沖壓單元 20 9輸送機 2 1 0卡槽單元 4 0 1 錠部 4 0 2 灌注區 40 3活塞 4 0 4 模穴部 40 5 流道部 40 6澆口部 407頂出器機構
第17頁 548754 圖式簡單說明 5 0 1頂出模具 5 0 2下頂出模具 50 3衝頭 5 0 4 澆口 50 5頂出機構 5 0 6 封裝物體 6 0 4連桿 7 0 4 射出孔部
70 5轉移成型機器 7 0 6樹脂輸入璋 70 7 流道部 708 澆口部 7 0 9模穴部 71 0 側面 711 平面 71 2貫通孔部 71 6 成型樹脂 71 7壓合部
B、F2 卜 F29、F3 卜 F38、F4 卜 F44、F5 卜 F54 箭號
第18頁
Claims (1)
- 5487541 · 一種樹脂封裝系統,包含·· 一沖壓機,使用一上模型 型, 、 一中間模型、及一下模 該沖ί;插;二:模型輸送機構’其"從 更包含: 流道、及一 2.如申請專利範圍第i項之樹脂封裝系統 一中間模型預熱單元; 一中間模型清潔單元;及 一頂出沖壓單元,其使一封裝的物體 澆口從該中間模型中分離, 其中,藉由該中間模型輸送機構而.使該中間模型在該 :堊機、該中間模型預熱單元、f亥中間模型清潔單元、及 該頂出沖壓單元之間循環。 3·如申請專利範圍第1項之樹脂封裝系統, 其中係没置複數之該中間模型輸送’機構。 4·如申請專利範圍第1項之樹脂封裝系統, 其中係設置用以在該中間模型中藉由樹脂而進行樹脂 封裝的一模穴部及一澆口部。 5·如申請專利範圍第1項之樹脂封裝系統, 其中將一流道部形成在該下模型上。548754 六、申請專利範圍 6.如申請專利範圍第1項之樹脂封裝系統, 其中係設置複數之該中間模型。 統 系 裝 封 脂 樹 之 項 上 型 模 下 該 在 置 設 :構 第機 圍出 範頂 利一 專將 請中 申其 如 統 系 裝 ο 封 隹幾 匕曰 #^ Μ J該 3Χ之 第數 圍複 範置 利設 專係 請中 申其 如 8 統 系 裝 封 脂 樹 之 項 體 物 的 裝 封 該 出 頂 別 分 係 元 單 Γ — 第壓 圍沖 範出。 利頂口 專該澆 請中該 其及 如 、 9 道 流 該 第20頁
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001139045A JP4574059B2 (ja) | 2001-05-09 | 2001-05-09 | 樹脂封止システムおよび半導体装置の樹脂封止方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW548754B true TW548754B (en) | 2003-08-21 |
Family
ID=18985889
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW091109866A TW548754B (en) | 2001-05-09 | 2002-05-09 | Resin encapsulation system |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6908293B2 (zh) |
JP (1) | JP4574059B2 (zh) |
KR (1) | KR100480517B1 (zh) |
CN (1) | CN1224088C (zh) |
SG (1) | SG113417A1 (zh) |
TW (1) | TW548754B (zh) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB0127154D0 (en) * | 2001-11-13 | 2002-01-02 | Bae Systems Plc | A mould tool |
JP2004063851A (ja) * | 2002-07-30 | 2004-02-26 | Renesas Technology Corp | 樹脂封止装置 |
TWI327756B (en) * | 2002-11-29 | 2010-07-21 | Apic Yamada Corp | Resin molding machine |
CN100359419C (zh) * | 2004-06-23 | 2008-01-02 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 一种用于微电子器件后封装加工设备的控制装置 |
JP3786946B1 (ja) * | 2005-01-24 | 2006-06-21 | 株式会社三井ハイテック | 永久磁石の樹脂封止方法 |
US20070126158A1 (en) * | 2005-12-01 | 2007-06-07 | 3M Innovative Properties Company | Method of cleaning polymeric mold |
US7618249B2 (en) * | 2006-09-22 | 2009-11-17 | Asm Technology Singapore Pte Ltd. | Memory card molding apparatus and process |
US7837466B2 (en) * | 2007-04-08 | 2010-11-23 | Griffith Richard J | Orthodontic apparatus and method |
KR20120046633A (ko) * | 2010-11-02 | 2012-05-10 | 삼성전자주식회사 | 반도체 패키지 몰딩 시스템 및 몰딩 방법 |
JP2015144200A (ja) * | 2014-01-31 | 2015-08-06 | アピックヤマダ株式会社 | モールド金型、樹脂モールド装置及び樹脂モールド方法 |
JP6527381B2 (ja) * | 2015-04-24 | 2019-06-05 | エムテックスマツムラ株式会社 | 樹脂封止システム及び樹脂封止方法 |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62150834A (ja) * | 1985-12-25 | 1987-07-04 | Hitachi Micro Comput Eng Ltd | 半導体装置樹脂成形方法および樹脂成形装置 |
JP2719530B2 (ja) | 1989-09-04 | 1998-02-25 | 日立化成工業株式会社 | 半導体封止用成形材料の接着性評価方法 |
US5409362A (en) * | 1992-11-24 | 1995-04-25 | Neu Dynamics Corp. | Encapsulation molding equipment |
JPH06314717A (ja) | 1993-04-28 | 1994-11-08 | Sony Corp | 離型荷重測定用金型とこれを用いた離型荷重測定方法 |
JP2932136B2 (ja) | 1993-07-22 | 1999-08-09 | トーワ株式会社 | 電子部品の樹脂封止成形方法及び装置 |
JP3630446B2 (ja) * | 1994-07-12 | 2005-03-16 | アピックヤマダ株式会社 | モールド金型 |
NL9401930A (nl) * | 1994-11-18 | 1996-07-01 | Fico Bv | Modulaire omhulinrichting. |
JP3590146B2 (ja) | 1995-08-09 | 2004-11-17 | アピックヤマダ株式会社 | 樹脂モールド装置 |
JP2738361B2 (ja) * | 1995-09-13 | 1998-04-08 | 日本電気株式会社 | 樹脂モールド装置および樹脂モールド方法 |
JPH09153506A (ja) | 1995-12-01 | 1997-06-10 | Hitachi Ltd | 半導体樹脂封止用金型及びそれを用いた半導体装置の製造方法 |
TW410194B (en) * | 1996-08-20 | 2000-11-01 | Apic Yamada Kk | Resin molding machine |
JPH10189624A (ja) * | 1996-12-25 | 1998-07-21 | Sony Corp | 金型搬送台車 |
JPH10335360A (ja) * | 1997-05-27 | 1998-12-18 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | 半導体素子の樹脂封止装置 |
JPH11286022A (ja) | 1998-04-02 | 1999-10-19 | Yazaki Corp | 成形物の成形方法 |
JP4037564B2 (ja) * | 1999-07-14 | 2008-01-23 | 第一精工株式会社 | 半導体装置封止装置 |
JP2001338939A (ja) * | 2000-05-29 | 2001-12-07 | Apic Yamada Corp | 樹脂封止装置 |
-
2001
- 2001-05-09 JP JP2001139045A patent/JP4574059B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
2002
- 2002-05-08 US US10/140,055 patent/US6908293B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2002-05-09 SG SG200202770A patent/SG113417A1/en unknown
- 2002-05-09 KR KR10-2002-0025488A patent/KR100480517B1/ko active IP Right Grant
- 2002-05-09 TW TW091109866A patent/TW548754B/zh not_active IP Right Cessation
- 2002-05-09 CN CNB021192049A patent/CN1224088C/zh not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1387243A (zh) | 2002-12-25 |
SG113417A1 (en) | 2005-08-29 |
US6908293B2 (en) | 2005-06-21 |
JP4574059B2 (ja) | 2010-11-04 |
KR20020085855A (ko) | 2002-11-16 |
CN1224088C (zh) | 2005-10-19 |
KR100480517B1 (ko) | 2005-04-06 |
JP2002334893A (ja) | 2002-11-22 |
US20020180066A1 (en) | 2002-12-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TW548754B (en) | Resin encapsulation system | |
JP3017485B2 (ja) | 半導体装置の樹脂封止方法及び樹脂封止装置 | |
US4374080A (en) | Method and apparatus for encapsulation casting | |
JP3423766B2 (ja) | 電子部品の樹脂封止成形方法及び金型装置 | |
US5316463A (en) | Encapsulating molding equipment | |
TW317532B (zh) | ||
USH1654H (en) | Transfer molding process for encapsulating semiconductor devices | |
JP4417096B2 (ja) | 樹脂封止方法および樹脂封止装置 | |
US20130140737A1 (en) | Stacked substrate molding | |
TW544879B (en) | Mold cleaning sheet and method of producing semiconductor devices using the same | |
US3685784A (en) | Injection mold wherein moveable cavity portions act to close the mold gates and further compress the mold material | |
JPS5926244U (ja) | 半導体樹脂封入成形用の成形装置 | |
US3763300A (en) | Method of encapsulating articles | |
JP3403409B2 (ja) | リードフレームを封止するための方法とペレットおよびペレットを製造するための装置 | |
CN110709978B (zh) | 半导体塑封料传送系统及相关方法 | |
JP2834257B2 (ja) | 半導体装置の製造方法およびモールド装置 | |
TW404029B (en) | Mould, encapsulating device and method of encapsulation | |
JPS6082316A (ja) | モ−ルド装置 | |
US4449690A (en) | Apparatus for encapsulation casting | |
JPH11191563A (ja) | モールド方法および装置 | |
JP3022419B2 (ja) | 半導体樹脂封止金型 | |
JPH01187830A (ja) | 電子部品の樹脂封止成形用金型 | |
CN112349671A (zh) | 通用半导体封装模具 | |
JPH11314228A (ja) | 上金型キャビテイ可動離型構造を有する樹脂成形用モールド金型装置 | |
JPH0621126A (ja) | 半導体連続封止装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
GD4A | Issue of patent certificate for granted invention patent | ||
MK4A | Expiration of patent term of an invention patent |