JPH06314717A - 離型荷重測定用金型とこれを用いた離型荷重測定方法 - Google Patents

離型荷重測定用金型とこれを用いた離型荷重測定方法

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JPH06314717A
JPH06314717A JP12493093A JP12493093A JPH06314717A JP H06314717 A JPH06314717 A JP H06314717A JP 12493093 A JP12493093 A JP 12493093A JP 12493093 A JP12493093 A JP 12493093A JP H06314717 A JPH06314717 A JP H06314717A
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JP
Japan
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mold
resin
cavity
load
measuring
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JP12493093A
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English (en)
Inventor
Keiichi Mogami
圭一 最上
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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  • Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
  • Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 樹脂封止工程におけるパッケージ成形金型と
モールド樹脂との離型荷重を正確に推定できるようにす
る。 【構成】 上型1と下型3の間に配置される中型2に、
半導体装置のパッケージ形状に対応したキャビティ9
と、キャビティ9から下型3の上面に通ずる加圧部成形
用の貫通孔12とを形成した。そして、中型2のキャビ
ティ9と貫通孔12とにモールド樹脂を充填してこれを
硬化させ、次いで貫通孔12により成形した加圧部に所
定方向から荷重を加えて中型2からモールド樹脂が離脱
する際の荷重を測定するようにした。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、樹脂封止工程における
パッケージ成形金型とモールド樹脂との離型荷重を推定
する際に用いて好適な離型荷重測定用金型と離型荷重測
定方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】半導体装置の製造工程の中には、ウエハ
から切り出された半導体チップを外部環境(温度、湿度
等)から保護したり機械的強度を確保する目的で、モー
ルド樹脂により半導体チップを樹脂封止する工程があ
る。一般に、こうした樹脂封止工程では、パッケージ成
形金型に設けられた突き出しピン(エジェクタピン又は
ノックアウトピンとも呼ばれる)により、所定形状に成
形されたモールド樹脂(薄型パッケージの場合はリード
フレーム)を押圧することで、キャビティ面に密着した
モールド樹脂をパッケージ成形金型から離脱させてい
る。
【0003】その際、パッケージ成形金型からモールド
樹脂を離脱させるのに必要な荷重(以下、離型荷重)が
大きな場合、パッケージの破損やリードフレームの変形
等のトラブルが発生して問題となる。本発明のポイント
は、このようなトラブルを未然に防ぐため、金型からモ
ールド樹脂を離脱させる際の離型荷重を予め測定するた
めの金型を供給する点にある。ここで従来の離型荷重測
定用の金型は、図3に示すように上型31と中型32と
下型33とから構成されており、このうち、上型31に
は樹脂注入孔34が形成され、中型32にはライナ3
5、ゲート36とともにキャビティ37が形成されてい
る。
【0004】そして、上記従来の離型荷重測定用金型を
用いて離型荷重を測定する場合は、まず図3(a)に示
すように中型32の上下面に上型31と下型33とを積
層させた状態で型締めし、この状態からトランスファ成
形機38の樹脂投入孔39にモールド樹脂40を投入す
る。さらに、この投入したモールド樹脂40を加熱溶融
しながら樹脂注入孔34→ライナ35→ゲート36を通
してキャビティ37内に注入し、この樹脂注入によりキ
ャビティ37に充填させたモールド樹脂40を加熱又は
冷却などの熱的変化により硬化させる。
【0005】次いで、上型31と下型33とを型開きし
て図3(b)に示すように中型32を取り出すととも
に、図中A矢視方向からモールド樹脂40に荷重を加え
てモールド樹脂40が中型32から離脱した際の荷重を
測定する。従来は、こうした方法によって離型荷重の測
定が行われていた。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
例では、中型32に設けられたキャビティ37の形状が
実際の半導体装置のパッケージ形状に対応していない。
つまりキャビティ37が所定勾配の側面41だけで形成
されているため、離型荷重の測定値には、キャビティ3
7の側面41とモールド樹脂40との密着強度だけしか
加味されないことになる。したがって、測定により得ら
れた離型荷重と樹脂封止工程での離型荷重との間には当
然のことながら相対的な誤差が生じる結果となり、特に
これが薄型パッケージになるとキャビティ側面とモール
ド樹脂との密着強度に加えてキャビティ平面とモールド
樹脂との密着強度が離型荷重を大きく左右するようにな
るため、上記離型荷重の相対的な誤差は今後半導体パッ
ケージの薄型化が進むにつれて益々無視できないものと
なる。
【0007】本発明は、上記の点に鑑みてなされたもの
で、樹脂封止工程におけるパッケージ成形金型とモール
ド樹脂との離型荷重を正確に推定することができる離型
荷重測定用金型とこれを用いた離型荷重測定方法を提供
することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するためになされたもので、キャビティ内に注入した
モールド樹脂を硬化させ且つその硬化させたモールド樹
脂を所定方向から押圧して離型荷重を測定するための離
型荷重測定用金型であり、これは上型と下型とこれらの
間に配置される中型とから構成され、このうち中型に
は、半導体装置のパッケージ形状に対応したキャビティ
と、このキャビティから下型の上面に通ずる加圧部成形
用の貫通孔とが形成されている。
【0009】また本発明は、上記離型荷重測定用金型を
用いて離型荷重を測定する方法であり、中型の上下面に
上型と下型とを積層させた状態で型締めするとともに、
中型に形成したキャビティと加圧部成形用の貫通孔とに
モールド樹脂を充填し且つその充填したモールド樹脂を
硬化させる工程と、上型と下型とを型開きして中型を取
り出すとともに、上記貫通孔により成形した加圧部に所
定方向から荷重を加えて、モールド樹脂が中型から離脱
した際の荷重を測定する工程とから成る。
【0010】
【作用】本発明においては、離型荷重の測定に際して、
キャビティの側面とモールド樹脂との密着強度だけでな
く、キャビティの平面とモールド樹脂との密着強度も測
定値に加味されることから、測定によって得られた離型
荷重と樹脂封止工程での離型荷重との誤差が解消され、
これによって樹脂封止工程におけるパッケージ成形金型
とモールド樹脂との離型荷重を正確に推定することが可
能となる。
【0011】
【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
ながら詳細に説明する。図1は本発明に係わる離型荷重
測定用金型の一実施例を説明する図であり、このうち
(a)はその全体斜視図、(b)は側断面図である。図
示のように本実施例の離型荷重測定用金型は、上型1と
中型2と下型3とから構成されている。まず上型1に
は、例えば台形円錐状の樹脂注入孔4が設けられてお
り、これはトランスファ成形機5の樹脂投入孔6に連通
している。また中型2には、ランナ7、ゲート8ととも
にキャビティ9が設けられており、ランナ7とキャビテ
ィ9とはゲート8を介して連通している。
【0012】ここで本実施例では、中型2に設けられた
キャビティ9の形状が実際の半導体装置のパッケージ形
状に対応したかたちで形成されている。すなわち、従来
(図3)はキャビティ37が所定勾配の側面41だけで
形成されていたが、本実施例では側面10と平面11と
によってキャビティ9が形成されている。さらに中型2
には、キャビティ9から下型3の上面に通ずる加圧部成
形用の貫通孔12が形成されており、この貫通孔12は
上述した平面11のほぼ中央に配置されている。
【0013】一方、下型3には位置決めピン13が設け
られており、この位置決めピン13が上型1に明けられ
た位置決め孔14と中型2に明けられた位置決め孔15
とに挿し込まれることで、金型全体の位置合わせが行わ
れるようになっている。
【0014】続いて、上記構成からなる離型荷重測定用
金型を用いた離型荷重測定方法について図2を参照しな
がら説明する。まず第1の工程では、図2(a)に示す
ように、中型2の上下面に上型1と下型3とを積層させ
た状態で例えばシリンダ等の加圧力により型締めし、こ
の状態からトランスファ成形機5の樹脂投入孔6に例え
ば熱硬化性樹脂からなるモールド樹脂を投入する。さら
に、この投入したモールド樹脂を加熱溶融しながらプラ
ンジャ(不図示)の押圧で移動させ、樹脂注入孔4→ラ
ンナ7→ゲート8を通してキャビティ9内に注入する。
そして、ゲート8からの樹脂注入によりキャビティ9と
貫通孔12とにモールド樹脂16を充填し、これを加熱
又は冷却などの熱的変化によって硬化させる。このと
き、中型2の内部では、加圧部成形用の貫通孔12に充
填されたモールド樹脂16でもって加圧部17が成形さ
れる。
【0015】次いで第2の工程では、上型1と下型3と
を型開きして図2(b)に示すように中型2をだけ取り
出し、上記貫通孔12により成形した加圧部17に対し
て所定方向、すなわち図中B矢印で示すように加圧部1
7の露出表面からキャビティ9側に向けて、例えばばね
秤等の測定器により荷重を加える。そして、加圧部17
に加えた荷重によりキャビティ9の側面10と平面11
の双方に密着したモールド樹脂16を中型2から離脱さ
せ、このときの上記測定器の目盛りを読み取ることで、
モールド樹脂16が中型2から離脱する際の荷重を測定
する。
【0016】このように本実施例における離型荷重測定
方法においては、中型2に設けられたキャビティ9が半
導体装置のパッケージ形状に対応したかたちで形成され
ているため、これを用いて得られる離型荷重の測定値に
は、キャビティ9の側面10とモールド樹脂16との密
着強度だけでなく、キャビティ9の平面11とモールド
樹脂16との密着強度も加味されることから、測定によ
って得られる離型荷重と樹脂封止工程での離型荷重との
誤差が解消され、これによって樹脂封止工程におけるパ
ッケージ成形金型とモールド樹脂との離型荷重を正確に
推定することが可能となる。
【0017】なお、中型2に設けられるキャビティ9の
形状としては、離型荷重の推定対象となる半導体パッケ
ージ、つまり実際に樹脂封止工程で成形される半導体パ
ッケージ(厳密にはパッケージ半体)と同一形状とした
方が好適である。しかし、本発明がこれに限定されるも
のでないことは言うまでもなく、例えばキャビティ9の
側面10と平面11の大きさを任意に設定し、この設定
した寸法条件と推定対象となる半導体パッケージの大き
さとを比較考慮することにより、様々な形や大きさの半
導体パッケージの離型荷重を一式の離型荷重測定用金型
を用いて推定することも可能である。
【0018】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、離
型荷重の測定に際して、キャビティの側面とモールド樹
脂との密着強度だけでなく、キャビティの平面とモール
ド樹脂との密着強度も測定値に加味されるようになるた
め、測定によって得られた離型荷重と樹脂封止工程での
離型荷重との誤差が解消され、これによって樹脂封止工
程におけるパッケージ成形金型とモールド樹脂との離型
荷重を正確に推定することが可能となり、これは特に、
モールド樹脂の材質の違いやパッケージ寸法の違いによ
る離型性の良否を判断したり、モールド樹脂部分を突き
出しピンで押圧できない薄型パッケージの離型荷重を推
定する場合などにきわめて有効である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係わる離型荷重測定用金型の一実施例
を説明する図である。
【図2】本発明に係わる離型荷重測定方法を説明する図
である。
【図3】従来例を説明する図である。
【符号の説明】
1 上型 2 中型 3 下型 9 キャビティ 12 貫通孔 16 モールド樹脂 17 加圧部

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 キャビティ内に注入したモールド樹脂を
    硬化させ且つその硬化させたモールド樹脂を所定方向か
    ら押圧して離型荷重を測定するための離型荷重測定用金
    型において、 前記離型荷重測定用金型は、上型と下型とこれらの間に
    配置される中型とから構成されるものであって、 前記中型には、半導体装置のパッケージ形状に対応した
    キャビティと、前記キャビティから前記下型の上面に通
    ずる加圧部成形用の貫通孔とが形成されていることを特
    徴とする離型荷重測定用金型。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の離型荷重測定用金型を用
    いて離型荷重を測定する方法であって、 前記中型の上下面に前記上型と前記下型とを積層させた
    状態で型締めするとともに、前記中型に形成したキャビ
    ティと加圧部成形用の貫通孔とにモールド樹脂を充填し
    且つその充填したモールド樹脂を硬化させる工程と、 前記上型と前記下型とを型開きして前記中型を取り出す
    とともに、前記貫通孔により成形した加圧部に所定方向
    から荷重を加えて、前記モールド樹脂が前記中型から離
    脱した際の荷重を測定する工程とからなることを特徴と
    する離型荷重測定方法。
JP12493093A 1993-04-28 1993-04-28 離型荷重測定用金型とこれを用いた離型荷重測定方法 Pending JPH06314717A (ja)

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JP (1) JPH06314717A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6908293B2 (en) 2001-05-09 2005-06-21 Nec Electronics Corporation Resin encapsulation system
US8928157B2 (en) 2000-06-09 2015-01-06 Vishay-Siliconix Encapsulation techniques for leadless semiconductor packages
JP2015144200A (ja) * 2014-01-31 2015-08-06 アピックヤマダ株式会社 モールド金型、樹脂モールド装置及び樹脂モールド方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2015144200A (ja) * 2014-01-31 2015-08-06 アピックヤマダ株式会社 モールド金型、樹脂モールド装置及び樹脂モールド方法

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