TW543206B - EL display device and electronic device - Google Patents

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TW543206B TW091104560A TW91104560A TW543206B TW 543206 B TW543206 B TW 543206B TW 091104560 A TW091104560 A TW 091104560A TW 91104560 A TW91104560 A TW 91104560A TW 543206 B TW543206 B TW 543206B
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film transistor
gate
light
emitting device
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Shunpei Yamazaki
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Semiconductor Energy Lab
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543206 A7 _ B7 五、發明説明(1 ) 發明背景 1 ·發明部份 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 本發明係有關E L (電發光)顯示裝置,由半導體元 件(使用半導體薄膜之一元件)構成,建造於基體中,且 係有關具有E L顯示裝置作爲顯示器之電子裝置。 2 .有關技藝之說明 製造T F T於基體上之技術近年來大有進步,且其應 用於主動矩陣式顯示裝置上之發展亦有進步。明確言之, 使用多晶矽薄膜之T F T較之使用普通非晶質矽薄膜之 T F T具有較高之電場效應遷移率,且故此可高速操作。 結果,可由構製於與像素同一基體上之驅動電路執行普通 由基體外之驅動電路所執行之像素控制。 此式主動矩陣顯示裝置由於許多優點而受重視,此等 可由加裝各種電路及元件於此式主動矩陣顯示裝置之同一 基體上而獲得,諸如減少製造成本,顯示裝置小型化,增 加生產率,及提高產出。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 在具有像素部份及用以驅動像素部份之驅動電路在同 一基體上之單石式顯示裝置中,驅動電路構製於像素部份 之週邊中,且故此,與僅構製像素部份於基體上相較,所 需之基體大小較大該驅動電路之大小。故此,可切製一基 體之顯示裝置之數隨可製造如何小之驅動電路之獨用表面 積而改變。 明確言之,在像素部份具有對角線1吋或以下之顯示 -4- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 543206 A7 B7 五、發明説明(2 ) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝置,需裝置該驅動電路於極小之基體上,及驅動電路之 獨用面積對基體大小有巨大之影響。然而,不管像素部份 之大小,驅動電路之功能相同,且爲構製具有相功能之驅 動電路於非常小之面積中,多種因素,諸如增加T F T特 性及小型化技術成爲關鍵。 發明槪要 本發明著眼於以上問題,且本發明之目的在進一步小 型化主動矩陣式E L顯示裝置,並降低小型化成本。而且 ,本發明之另一目的在進一步小型化設有主動矩陣式E L 顯示裝置作爲顯示裝置之電子裝置,並降低小型化成本。 主動矩陣式E L顯示裝置之每一像素構製有一 E L元 件。EL元件指一發光元件,在此由一陰極,一 EL層, 及一陽極構成。EL元件之輸出光(此後稱爲EL光)自 基體方向基體反方輸出。此顯示於圖6 A及6 B。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 在圖6A之結構中,EL元件由ITO (氧化銦鍚) 所製之一像素電極(陽極),一 EL層,及一MgAg電 極(陰極)所構成,依次自E L元件底端開始。而且,陰 極本身薄,且故此構製一保護電極(在此爲鋁電極)以資 保護,且同時輔助陰極功能。在此情形,E L光自T F T 構製處之基體方輸出。故此,整個像素電極表面積中在下 方不構製T F T及接線之部份成爲有效之發光區。 另一方面,在圖6 B之結構中,E L元件由鋁薄膜所 製之一像素電極(陽極),一 MgAg電極(陰極),一 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -5 - 543206 A7 B7 五、發明説明(3 ) EL層,及一 I T ◦電極(陽極)構成,依次自EL元件 之底端開始。在此情形,EL光自TFT並不發射通過像 素電極,且故此,所有光輸出至基體之對面(E L顯示裝 置之頂面)。像素電極之整個表面區故此成爲有效之發光 區。 在圖6 A之情形,故此,在像素電極下方之元件或接 線需儘可能少。然而,在圖6 B之情形,不管像素下方有 何物件,均無關係,此全然爲一死空間。 爲澄淸本發明之要點,本發明之目的在有效利用主動 矩陣式E L顯示裝置之像素電極下方之死空間,其中,使 E L元件由圖6 B之方法發光。明確言之,用以驅動像素 電極之驅動電路構製於像素部份中安排成矩陣狀態之每一 像素之像素電極下方。而且,不獨驅動電路,其他信號處 理電路(諸如分波電路,增強電路,r補償電路,記憶器 ,及微分放大電路)亦可構製。 換言之,普通構製於像素部份之周邊中之電路及元件 可安排於像素部份內之死區中,且可有效利用基體表面積 。注意包含諸如用作E S D (電狀態變壞)反制之保護性 元件,如構製於像素部份之周邊中之元件。 而且,本發明不獨可應用於主動矩陣式E L顯示裝置 ’且亦可應用於具有驅動電路構製於同一基體上,並具有 簡單矩陣式之像素部份之E L顯示裝置上。換言之,本發 明可有效用於E L顯示裝置上,其中,像素部份之e L光 輸出至與基體相對之方,且其中,其他電路或元件構製於 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) -6 · (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) ••I裝. 訂 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 543206 A7 B7 五、發明説明(4 基體上。 附圖簡述 在附圖中: 圖1顯示一 E L顯示裝置之斷面結構; 圖2 A至2 E顯示製造E L顯示裝置之程序 圖3 A至3 D顯示製造E L顯示裝置之程序 圖4A至4D顯示製造E L顯示裝置之程序 圖5 A至5 C顯示製造E L顯示裝置之程序; 圖6 A至6 B用以說明自E L顯示裝置輸出光之方向 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) :裝. 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 圖7 A至7 B顯示E L模組之外觀; 圖8 A至8 C顯示製造接觸結構之程序; 圖9顯示E L顯示裝置之像素部份之構成; 圖1 0顯示E L顯示裝置之斷面結構; 圖1 1 A至1 1 B顯示E L顯示裝置之像素部份之頂 部結構; 圖1 2顯示E L顯示裝置之像素部份之頂部結構;& 圖1 3A至1 3 F顯示電子裝置之特定實例。 符號說明 11 12 13 基體 絕緣薄膜 源區 -訂 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -7 - 543206 A7 B7 五、發明説明(5 ) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 1 4 汲 1 6 分 隔 區 1 7 通 道 形 成 1 8 閘 絕 緣 薄 膜 1 9 閘 電 極 2 0 層 間 絕 緣 薄 膜 2 1 源 接 線 2 2 汲 接 線 4 7 鈍 化 薄 膜 4 9 像 素 電 極 5 1 陰 極 5 2 E L 層 2 0 1 開 關 T F T 2 0 3 E L 元 件 2 0 2 電 流 控 制 T F T 5 0 5 保 護 薄 膜 5 1 6 摻 雜 1^ 5 1 9 光 阻 罩 2 0 0 1 主 體 2 0 0 2 外 殻 2 0 0 3 顯 示 部 份 2 0 0 4 鍵 盤 2 1 0 3 聲 音 輸 入 部 份 2 10 4 操作開關 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) •I裝· 訂 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -8 - 543206 A7 B7 五、發明説明(6 ) 2 10 5 電池 2 10 6 影像接收部份 4 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 2302 信號電纜 2303 頭固定帶 2 3 0 4 顯示監視器 2305 光學系統 2 5 0 2 攝影部份 2602 支持座 較佳蹇施例之詳細說明 實施例模式 首先,圖1顯示本發明之主動矩陣式E L顯示裝置之 斷面結構之設計。圖1中參考編號11標示一基體,及參 考編號1 2標示一絕緣薄膜’此成爲一基層(此後稱爲基 層薄膜)。一玻璃基體’一石央基體’一結晶玻璃基體, 一陶瓷基體,一矽基體,一金屬基體,或一塑膠基體可用 作基體1 1。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 而且,基層薄膜1 2在使用含有移動離子之基體,或 具有導電性之基體之情形特別有效,但無需構製於石英基 體上。可構製含矽之絕緣薄膜,作爲基層薄膜1 2。注意 含砂之絕緣薄膜一辭特別表示諸如氧化砂薄膜,氮化砂薄 膜,或氮氧化矽薄膜(由S i OxNy標示,其中X及y 爲隨意整數)等絕緣薄膜,且在此規格中包含預定比率之 石夕,氧,及氮。 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -9 - 543206 A7 B7 五、發明説明(7 ) 梦考編號2 0 1標不一開關T F T,及參考編號 2 0 2標示一電流控制T F 丁,二者由n通道τ F T構成 。η通道TFT之場效遷移率大於ρ通道TFT之場效遷 移率,且故此電流可局速流,且容易使大量之電流流於η 通道TFT中。而且,即使同量電流,η通道TFT可製 成較小。故此,當使用η通道T F T爲電流控制T F 丁時 ’可更有效利用像素電極下面之死空間。 注意在本發明中無需限制開關T F Τ及電流控制 TFT於η通道TFT,且可使用ρ通道TFT作爲開關 丁 F T,電流控制T F T,或二者。 開關TFT2 0 1構製具有:一主動層,包含一源區 13,一汲區14,LDD區15a至15d,一分離區 1 6,及通道形成區1 7 a及1 7 b ; —閘絕緣薄膜1 8 ;閘電極1 9 a及1 9 b,一第一層間絕緣薄膜2 0,一 請 先 閲 讀 背 面 之 注 意 事 項 再 寫 本 頁 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 源接線2 1 ,及一汲接線2 2。注意閘絕緣薄膜1 8或第 間絕緣薄膜2 0可構製於基體上所有相同T F T之間 亦可構製於不同T F T之間,此視電路或元件而定。 圖1 A所示之開關T F T 2 0 1具有閘電極1 9 a及 b電相接,形成所謂雙閘結構。不獨雙閘結構,當然 所謂多閘結構(包含具有二或更多通道形成區串連之 動層之結構),諸如三閘結構亦可使用。 多閘結構在降低T F T之斷電流値上極爲有效,且由 降低開關丁 F T之斷電流,則可使用一替代物,其中 關丁 F T之汲極中不構製一電容器(用以維持電流控 層 且 9 且 主 充分 ,開 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -10 - 543206 A7 ___________B7_ 五、發明説明(8 ) 制T F T之閘電流之一電容器)。結果,可甚至更有效利 用像素內之死空間。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 而且,開關TFT20 1中之LDD區1 5 a至 1 5 d構製經由閘絕緣薄膜1 8不重疊於閘電極1 9 a及 1 9 b。此結構在降低斷電流値上非常有效。而且, LDD區1 5 a至1 5 d之長度(寬度)可設定於自 0 · 5至3 _ 5//m,普通在2 _ 0及2 · 5#m之間。 注意更宜構製一偏置區(半導體層構成之一區,具有 與通道形成區相同之組成份,且閘電壓不施加於其上)於 通道形成區及L D D區之間,用以降低斷電流値。而且, 當使用具有二或更多閘電極之多閘結構時,構製於通道形 成區之間之分隔區1 6 (加有與源區或汲區相同雜質元素 且在相同濃度上之一區)可有效降低斷電流値。 其次,電流控制T F T 2 0 2構製具有:一主動層, 包含一源區26,一汲區27,一 LDD區28,及一通 道形成區2 9 ;閘絕緣薄膜1 8 ;閘電極3 0 ;第一層間 絕緣薄膜2 0 ;源接線3 1 ;及汲接線3 2。注意閘電極 2 0具有單閘結構,但亦可使用多閘結構。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 開關T F T 2 0 1之汲極電連接至電流控制 T F T 2 0 2之閘極。明確言之,電流控制T F T 2 0 2 之閘電極3 0經汲接線(亦稱爲連接線)2 2電連接至開 關TFT2 0 1之汲區1 4。而且,源接線3 1連接至一 電流供應線,以供應預定之電壓。 電流控制T F T爲一元件,用以控制注射於E L元件 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -11 - 543206 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、 發明説明 (9 ) 1 I 2 0 3 中 之 電 流 量 且 如 慮 及E L 元件之 惡化, 則不宜 太 1 1 I 多 電 流 流 過 〇 故 此 j 宜 設 計 通道長 度(L ),俾 不致過 度 1 1 電 流 流於 電 流控制 Τ F T 2 0 2中 。電流 量宜每 像素自 1 ! 請 1 I 0 • 5 至 2 β A ( 更 宜 在 1 及1 · 5 // A 之間) 〇 閱 1 I 根 道長度 讀 1 據 以 上 , 當 開 關 T F T之通 取作L 1 (其 中 背 1 I L 1 = L 1 a + L 1 b ) 且其通 道寬度 爲W 1 ,及電 流 之 注 意 1 1 控 制 丁 F T 之 通 道 長 度 取作 L 2, 及其通 道寬度 爲W 2 時 事 項 s 1 5 如 顯 示 於 圖 9 5 則 宜 W 1 自0 · 1至5 β m ( 普通在 丹 填 寫 本 •裝 1 0 • 5 及 2 β m 之 間 ) 及 W 2自 0 . 5 至1 0 β m ( 普 頁 1 I 通 在 0 • 5 及 2 β m 之 間 ) 。而且 ,宜L ISO • 2至 1 1 8 β m ( 通 在 2 及 1 5 "m之 間), 及L 2 自1至 1 I 5 〇 β m ( 普 通 在 1 0 及 3 0 // m 之間) 。注意 本發明 並 1 訂 不 限 於 以 上 之 數 値 〇 1 1 圖 1 所 示 之 Ε L 顯 示 裝 置亦具; 有特徵 ,即L D D區 1 I 2 8 構 製 於 電 流 控 制 1 I Τ F T 2 0 2 中 汲 區 2 7及通 道形成 區2 9 之間, 且 ! | L D D 區 2 8 具 有 一 區 經 由 絕緣薄 膜1 8 重疊及 一區不 重 1 1 疊 _ 電 極 3 0 〇 1 電 流 控 制 T F T 2 0 2 具有較 大量之 電流流 過,俾 使 1 E L 元 件 2 0 3 發 亮 > 且 故 此,宜 採取行 動,以 反制由 於 1 I 熱 載 子 注 射 而 惡 化 〇 而 且 , 當顯示: 黑色時 ,電流; 控制 1 1 I T F Τ 設 定 於 斷 狀 態 j 但 如 此時斷 電流高 ,則不 能淸楚 顯 1 1 示 里 y \ w 色 且 此 發 生 問 題 諸 如對比 降低。 故此, 需抑制 斷 1 1 電 流 値 0 1 1 1 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -12 - 543206 A7 _____B7_ 五、發明説明(1〇 ) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 知道一種結構(其中,L D D區重疊閘電極)對付由 於熱載子注射所引起之惡化極爲有效。然而,如使整個 L D D重疊閘電極,則斷電流値升高,且故此,本發明之 申請者由加一創新結構於以上結構,同時解決熱載子及斷 電流値問題,其中,構製不重疊於閘電極之一 L D D區成 串連。 重疊於閘電極之LDD區在此點之長度可自0.1至 3 // m (宜在〇 · 3及1 · 5 // m之間)。如太長,則寄 生電容變大,且如太短,則熱載子防止效果變弱。而且, 不重疊於閘電極之LDD區之長度可設定於自1.〇至 3 · 5 // m (宜在1 · 5及2 · 0 // m之間。如太長,則 充分之電流不能流過,且如太短,則斷電流値降低效果變 弱。 一寄生電容形成於以上結構中,在閘電極及L D D區 重疊之區域中,且故此,此區宜不構製於源區2 6及通道 形成區2 9之間。電流控制T F T中載子(在此爲電子) 流動方向恆相同,且故此,構製L D D區僅於汲區方上即 夠。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 注意如電流控制T F T 2 0 2之驅動電壓(施加於源 區及汲區間之電壓)等於或低於1 0 V,則熱載子注射難 以再引起問題,且故此,亦可略去L D D區2 8。在此情 形,有效層由源區26,汲區27,及通道形成區29構 成。 而且,自增加電流之可容許量之觀點來看,使電流控 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -13 - 543206 Α7 Β7 五、發明説明(11 ) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 制TFT2 0 2之有效層(尤其是通道形成區)之薄膜厚 度厚(宜自5 0至1 OOnm,更宜在6 0及8 Onm之 間)有效。反之,自減少開關T F T 2 0 1之斷電流値之 觀點來看,使有效層(尤其是通道形成區)之薄膜厚度薄 (宜自20至50nm,更宜在25及40nm之間)有 效。 以上說明像素內所構製之T F T之結構。注意一驅動 電路(嚴格言之,驅動電路之一部份)亦同時構製於同一 像素內。一 CMO S電路,形成驅動電路之基本單位顯示 於圖1。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 在圖1中,使用一 TFT作爲CMOS電路之一 η通 道丁 F Τ 2 0 4,此具有儘可能降低熱載子注射,儘可能 減少操作速度下降之結構。注意此處所指之驅動電路表示 一資料信號驅動電路(包含一轉移暫存器,一位準轉移器 ,一緩衝器,一閂,一 D / Α變換器,及一抽樣電路), 及一閘信號驅動電路(包括一轉移暫存器,一位準轉移器 ,及一緩衝器)。當然,亦可構製其他信號處理電路(諸 如一分波電路,一增強電路,一 r補償電路,記憶器,或 一微分放大電路)。 η通道TFT2 0 4之主動層包含一源區3 5,一汲 區36,一 LDD區37,及一通道形成區38,且 L D D區3 7經閘絕緣薄膜1 8重疊一閘電極3 9。 L D D區僅構製於汲區方上,此乃考慮不降低操作速 度之故。而且,無需考慮η通道TFT2 0 4之斷電流値 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X297公釐) -14 - 543206 A7 B7 五、發明説明(12 ) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) ,但需更強調操作速度。故此,LDD區37宜完全覆蓋 閘電極,儘可能降低電阻性組成件。換言之,消除所有偏 置爲佳。 CM〇S電路之p通道TFT2 0 5由於熱載子注射 所引起之惡化幾不考慮,且尤其是,無需構製一 LDD區 。主動層故此包含一源區40,一汲區4 1,及一通道形 成區4 2,及閘絕緣薄膜1 8及閘電極4 3構製於其上。 且當然,亦可採取行動,由構製一 L D D區來對付熱載子 ,如η通道TFT204者。 而且,n通道TFT204及p通道TF丁205各 由第一層間絕緣薄膜2 0覆蓋,並構製源接線4 4及4 5 。而且,二者由汲接線4 6電連接。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 其次,參考編號4 7標示一第一鈍化薄膜,且其薄膜 厚度可設定自1 0 nm至1 //m (宜在2 0 0至 5 0 0 n m之間)。含砍之一絕緣薄膜(尤其是,宜使用 氮氧化矽薄膜或氮化矽薄膜)可用作鈍化薄膜材料。鈍化 薄膜4 7擔任防止所構製之T F T受鹼金屬及濕氣之侵害 。最後欲構製於T F T上之一 E L層包含鹼金屬,諸如鈉 。言之,第一鈍化薄膜4 7作用如保護層,俾此等鹼金屬 (移動離子)不致穿透進入TFT。 而且,參考編號4 8標示一第二層間絕緣薄膜,此作 用如平面化薄膜,用以使由於T F T所引起之不平平坦。 一有機樹脂薄膜宜作爲第二層間絕緣薄膜4 8,可使用其 一聚醯亞胺,聚醯胺,壓克力,或BCB (苯環丁烯)。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) · 15 - 543206 A7 B7 五、發明説明(13 ) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 此等有機樹脂薄膜具有容易形成良好平坦表面之優點,並 具有低特定介質常數。E L層對不平坦極爲敏感,且故此 宜由第二層間絕緣薄膜幾乎吸收T F T不平坦。而且,低 特定介質常數材料宜製厚,以減小閘接線或資料線及E F 元件之陰極間所形成之寄生電容。故此,該厚度宜自 0 · 5至5//m (更宜在1 · 5及2 · 5//m之間) 而且,參考編號4 9標示一像素電極,由透明傳導性 薄膜所構成。在第二層間絕緣薄膜4 8及第一鈍化薄膜 4 7中打開一接觸孔後,構製像素電極4 9,俾在開口部 份處連接至電流控制T F T 2 0 2之汲接線3 2。注意如 像素電極4 9及汲區2 7並不直接相接,如圖1 ,則即使 E L層中之鹼金屬擴散通過像素電極,鹼金屬亦不經此像 素電極進入主動層中。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 一第三層間絕緣薄膜5 0由氧化矽薄膜,氮氧化矽薄 膜,或有機樹脂薄膜構製於像素電極4 9上,具有厚度自 0 · 3至1 // m。一開口部份由鈾刻法構製於第三層間絕 緣薄膜5 0中像素電極4 9上,並蝕刻該開口部份之邊緣 ,俾成錐形。錐形角度可設定自10至60° (宜在30 至5 0 °之間)。 一陰極5 1構製於第三層間絕緣薄膜5 0上。包含低 功函數材料之一材料,諸如鎂(Mg),鋰(Li),或 鈣(C a )用作陰極5 1 。宜使用由MgAg (由Mg及 Ag以Mg ·· Ag = l 〇 : 1 )所構成之材料)所製之電 極。而且,可提出一 MgAgA 1電極,一L i A 1電極 本紙張尺度適用中國國家標準YcNS ) A4規格(210X297公釐1 - 16 - "~ 543206 A7 B7 五、發明説明(14 ) ,及一 L i F aA 1電極作爲他例。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 一 EL層52構製於陰極5 1上。陰極5 1在此點需 在完全由E L層覆蓋之狀態,且該E L層構製具有較陰極 5 1爲大之圖案。由如此作,可防止陰極5 1及其後所製 之一陽極間之短路。 而且,需使用多室式(亦稱爲簇工具式)直空蒸發機 器,連續構製陰極5 1及EL層5 2,而不曝露於大氣中 。此在避免E L層5 2由於濕氣而降低品質。有關構製陰 極5 1及EL層5 2,可使用已知之技術。 首先,例如,由使用一第一蔽罩,構製與所有像素相 對應之陰極,且其次,由使用一第二蔽罩,構製一紅發光 E L層於與紅色相對應之像素中。然後可依次構製綠發光 E L層及藍發光E L層,同時精確控制第二蔽罩之移動。 注意,當與RGB相對應之像素對對齊成條形時,可簡單 移動第二蔽罩,如上述,但爲達成所稱三角形安排像素結 構,可使用一特殊第三蔽罩於綠發光E L層上,並可使用 一特殊第四蔽罩於藍發光E L層上。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 而且,以上說明中顯示使用一蔽罩,由蒸發構製一發 光E L層於每一色中之一例,但亦可使用噴墨方法,網印 ,及離子塗鍍。而且,可構製一肋包圍像素,分隔E L層 之每一色。 而且,以上說明中顯示使用紅,綠,及藍三色執行色 顯示之例,但假設E L顯示裝置顯示單色光,則可構製發 紅,綠,或藍任一色之光之一 E L層於整個表面上。當然 ^紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -17 - " 543206 A7 ______B7 五、發明説明(15 ) ’亦可構製白色發光E L層,以製造單色顯示E L顯示裝 置。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 可使用單層結構或疊層結構作爲E L層5 1,但宜使 用疊層結構,因其具有良好之發光效率。一般言之,一孔 注射層,一孔輸送層,一發光層,及一電子輸送層依次構 製於像素電極上,但具有一孔輸送層,一發光層,及一電 子輸送層之結構,或具有一孔注射層,一孔輸送層,一發 光層,一電子輸送層,及一電子注射層之結構亦可使用。 本發明可使用任何已知之結構,且亦可執行摻雜螢光顏料 於E L層中。 例如經公開之以下美專利及日本專利申請書中所發表 之材料可用作有機EL材料:美專利4,356,429 ;美專利4,5 3 9,5 0 7,美專利 4,720,432;美專利 4,769,292;美專 利 4,8 8 5,2 1 1 ;美專利 4,9 5 0,9 5 0 ;美 專利 5,059,861;美專利 5,047,687; 美專利 5 ,073 ,446 ;美專利 5,059,862 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 ;美專利5,0 6 1,6 1 7 ;美專利 5,151 ,629 ;美專利 5,294,869;美專 利5,2 9 4,8 7 0 ;日本專利申請公報H e i 1 〇 — 189525號;日本專利申請公報He i 8 — 241048號;及日本專利申請公報Hei8-7 8 1 5 9 號。 明確言之,諸如由以下通式所表示之一之材料可用作 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210Χ297公釐Ί ^18- 543206 A7 _B7五、發明説明(16 ) 孔注射層° 化學1 其中Q爲N或一 c — R (碳鏈);Μ爲一金屬,一金屬氧 化物,或一金屬鹵化物;R爲氫,一烷基,一芳烷基,一 烯基,或一鹼基烯丙基;及Τ 1及τ 2爲不滿和六構件環 ,包含諸如氫’院’或歯素等替代物。 而且,可使用芳族叔胺爲有機材料,用作孔輸送層, 宜包含四烯丙基二胺,由以下通式表示。 化學2 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 其中,Ar e爲丙炔圍,η爲自1至4之整數,及AR, R7,r8,及R9各爲所選之烯丙基。 而且,可使用金屬氧化物作爲E L層,電子輸送層, 或電子注射層之有機材料。可使用以下通式所表示之材料 作爲金屬氧化物。 化學3 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -19 - 543206 A7 B7 五、發明説明(17 ) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 其中,R2至R7可被取代,且亦可使用以下之一金屬氧 化物。 化學4 其中R2至R7可定義如上述:Li至L 5爲碳水化合物團 ,包含1至1 2碳原子;及二LiSLs,或二L2&L3 可形成苯環。而且,亦可使用以下金屬氧化物。 化學5 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 其中’ R2至Re可被取代。故此包含具有有機配合基之 配位化學物作爲有機E L元素材料。注意以上僅爲有機e L材料之一些例,此等可用作本發明之E L材料,且絕對 無需限制E L材料於此等。 本紙張尺度適;^^^家辟(CNS ) A4· (21Gx297公着):20- 一 -- 543206 A7 ______B7 五、發明説明(18 ) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 而且,可使用聚合材料作爲E L材料。可提出諸如以 下之聚合物作爲典型之聚合材料:聚對苯乙烯(p p V ) 及聚芴。爲顏色化,宜使用例如氰聚苯乙烯於紅發光材料 ,聚苯乙烯於綠發光材料,及聚苯乙烯或聚鹼苯於藍發光 材料。 注意E L顯示裝置約分爲四種色顯示方法:構製與r (紅),G (綠),及B (藍)相對應之三種e L元件之 方法,合倂白色發光E L元件與濾色器之方法,合倂藍或 藍-綠發光E L元素及螢光物質(螢光色改變層,C cm )之方法,及使用透明電極作爲陰極(相對電極)並覆蓋 與R,G,及B相對應之E L元件之方法。 圖1之結構爲使用構製與R,G,及B相對應之三種 E L元件之方法之情形。注意雖圖1中僅顯示一像素,但 可如此執行與紅,綠,及藍色分別對應之具有相同結構之 像素,及該色顯示。然而,可實施本發明,而不管發光之 方法,且可使用所有以上四方法於本發明中。 在如此構製至E L層5 2後,構製由透明傳導性薄膜 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 上 2 5 層 L E 於 3 5 極 陽 1 之 成 構 所 } 自 膜定 薄設 性可 導度 傳厚 物膜 化薄 氧。 間, 之中 m形 層 L E η 情由 ο之對 ο明需 2 發 3 及本5 ο 在極 ο C陽 1 方此 在上故 宜 1 且 C 圖, m向出 η 光輸 ο 之} ο 發向 3 所方 至中之 ο 層反 8 L 相 「TJ 趟沒 。 基 與 明 5 透極 光陰 之由 發意 所注 2 5 之 IX 5 極 陰 及 9 4 極 電 素 像 含 包 或 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X297公釐) -21 - 543206 A7 B7 五、發明説明(19 ) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 一陰極),EL層52,及陽極53所構成之發光元件在 此整個說明中稱爲EL元件。EL元件在圖1中由參考編 號2 0 3標示。 參考編號5 4標示一第二鈍化薄膜,且其薄膜原度可 設定自l〇nm至lnm (宜在200及500nm間) 。構製第二鈍化薄膜5 4之目的主要在保護EL層52, 防止濕氣,但如構製具有散熱作用之第二鈍薄化5 4亦有 效。注意E L層在熱方面較弱,如上述,且故此,宜在儘 可能低溫上(宜自室溫至1 2 0 °C之範圍中)執行薄膜沉 積。故此,可說電漿CVD,濺散,真空蒸發,離子塗鎪 ,及溶液施敷(旋塗)爲所需之薄膜沉積方法。 如此完成具有圖1所示之結構形之像素部份。在本發 明之像素部份中,由η通道TFT204及P通道 TFT2 0 5所構成之CMOS電路構製於像素電極 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 4 9下方,且由此CM〇S電路作爲一基本單位,可 構成各種元件,驅動電路,及一信號處理部份。注意圖1 並不意謂一 CM〇S電路構製於一像素中,而是意謂普通 構製於像素部份之周邊中之電路,諸如驅動電路可構製於 像素部份內。 普通構製於像素部份之周邊中之元件,驅動電路,及 信號處理部份使用T F T構製於每一像素之像素電極下方 。一般言之,此等構製於像素部份內部(像素部份內)。 注意本發明之要點爲有效利用基體表面區,安排普通 構製於像素部份之周邊中之電路或元件於E L顯示裝置( 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -22 - 543206 A7 B7 五、發明説明(2〇 ) 此與基體相對輸出光)之像素部份內之死空間中(在像素 電極下面)。故此,本發明並不限於圖1之TFT結構。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 實施例1 使用圖2 A至5 C說明本發明之較佳實施例。在此說 明製造形1所示之像素部份之方法。注意該等圖顯示一 CMO S電路,作爲驅動電路之基本單位,以簡化說明。 首先,如顯示於圖2A,製備一基體501,其表面 上構製一基層薄膜(未顯示於圖中)。疊置10 0 nm厚 度之氧氮化矽薄膜及2 0 0 nm厚度之氧氮化矽薄膜於實 施例1之結晶玻璃上,並用作基層薄膜。此際,宜設定與 結晶玻璃基體接觸之薄膜之氮濃度於1 0及2 5重量%之 間。各元件當然亦可直接構製於石英基體上,而不製造基 層薄膜。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 其次,由已知之薄膜沉積方法,構製4 5 nm厚之一 非晶質矽薄膜5 0 2於基體5 0 1上。注意無需限制此於 非晶質矽薄膜,且亦可使用任何其他薄膜,假設此爲具有 非晶質結構之半導體薄膜(包括微晶半導體薄膜)。而且 ,亦可使用包含非晶質結構之化合物半導體薄膜,諸如非 晶質矽鍺薄膜。 可整個引用本發明之受讓人之日本專利申請書公報 He i 10 - 24773 5號作爲自此至圖2C之程序。 在以上專利申請書中,發表有關晶化半導體薄膜之一方法 ,使用諸如N i之一元素作爲催化劑。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -23 - 543206 Α7 Β7 五、發明説明(21 ) 首先,構製一保護性薄膜504,具有開口部份 503a及503b。在實施例1中使用1 5〇nm厚之 氧化矽薄膜。然後由旋塗法構製含鎳(N i ) 5 0 5之一 層(含N i層)於保護性薄膜5 0 4上。有關製造含N i 層,可參考以上專利申請書。 其次,如顯示於圖2 B,在惰性大氣中以5 7 0 °C熱 處理1 4小時,晶化該非晶質矽薄膜。晶化約與基體平行 進行,使區域與Ni (此後稱爲Ni加進區)506a及 5 0 6 b如原狀接觸,形成具有結晶結構之多晶矽薄膜 5 0 7,其中,棍形晶體對齊一起。 然後加進週期表團1 5中之一元素(宜爲磷)於N i 加進區5 0 6 a及5 0 6 b中,留保護性薄膜5 0 5於原 地作爲蔽罩,如顯示於圖2 C。如此構製加有高度磷之區 域(此後稱爲加磷區)508a及508b。 其次,如顯示於圖2 C,在惰性大氣中以6 0 0 t熱 處理1 2小時。存在於多晶矽薄膜5 0 7中之N i由於熱 處理而遷移,且最後幾乎完全爲加磷區5 0 8 a及 5 0 8 b所捕捉,如箭頭所示。此可視爲由磷吸除金屬元 素(實施例1中之N i )之效果現象。 由此處理而留於多晶矽薄膜5 0 9中之N i之濃度降 低至少至2 X 1 017原子/cm3,如由S IMS (二次 離子質譜儀)所量度。N i爲半導體之壽命促短劑,且如 N i之濃度降至此程度,則對T F T之特性無有害之影響 。而且,此濃度幾乎爲目前S IMS可量度之極限,且故 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X297公釐) -24 - 請 先 閲 讀 背 之 注 項 再 填 寫 本 頁 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 543206 A7 B7 五、發明説明(22 ) 此,預期實際濃度更低(低於2 X 1 〇17原子/cm3) 〇 如此獲得多晶矽薄膜5 0 9,由使用催化劑晶化,且 其中之催化劑然後減少至其不會引起T F T受損之程度。 其後由造形法構製使用此多晶矽薄膜5 〇 9之主動層 5 1 0至5 1 3。注意用以在其後造形法中執行蔽罩對齊 之記號可在此時使用以上多晶矽薄膜製造(閱圖2 D )。 其次’由電漿CVD構製5 0 nm厚之氧氮化矽薄膜 ,如顯示於圖2 E,而且,由在氧化大氣中在9 5 0 °C上 熱處理1小時,執行熱氧化步驟。注意氧化環境可爲氧大 氣,或加有鹵元素之氧大氣。 在主動層及以上氧氮化矽薄膜之介面中由以上熱氧化 步驟進行氧化,及氧化約1 5 n m厚之多晶矽薄膜,形成 約3 0 nm厚氧化矽薄膜。換言之,由3 0 nm厚之氧化 矽薄膜及5 0 nm厚之氧氮化矽薄膜形成8 0 nm厚之一 閘絕緣薄膜5 1 4。 其次製造一光阻罩5 1 5,如顯示於圖3 A,並經由 閘絕緣薄膜5 1 4加進雜質元素,此施加ρ型導電性(此 後稱爲P型雜質元件)。可使用週期表團13中之一元素 ,普通爲硼或鎵爲P型雜質元素。此程序(稱爲通道摻雜 程序)爲用以控制T F T之臨限電壓之程序。 注意實施例1中由電漿激發之離子摻雜法加進硼,而 不分離二硼氫(B2H6)之質體。當然,亦可使用執行 分離質體之離子植入法。由此程序製造摻雜區5 1 6至 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -25 - (請先閲讀背面之注意事 項再填寫‘ 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 543206 B7 五、發明説明(23 ) 1 0 1 5 至 至 5 X 1 0 1 0 1 8 原子/ c m 原子/ c m 3之間) 518,包含濃度1 3 (普通在5 X 1 0 之硼。 請 先 閲 ik 背 面 之 注 意 事 項 再 填 寫 本 頁 其次構製光阻罩5 19 a及5 19b,如顯示於圖 3 B ’並經由閘絕綠薄膜5 χ 4加進雜質元素,此施加^ 型導電性(此後稱爲η型雜質元素)。可使用週期表團 1 5中之一元素作爲η型雜質元素。注意在實施例1中由 電漿激發電漿摻雜法加進1 X 1 〇 1 8原子/ c m 3濃度之 磷而不分離磷化氫(PH3)之質體。當然,亦可使用執 行分離質體之離子植入。 調節劑量,俾如以上構製之η型摻雜區5 2 0及 5 2 1中包含在濃度2 X 1 016至5 X 1 〇19原子/ cm3 (普通在 55Χ1011 至 5xl〇14 原子/ cm3 之間)之η型雜質元素。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 然後執行活化所加之η型雜質元素及ρ型雜質元素之 程序,如顯示於圖3 C。活化措施無需任何限制,但以爐 退火程序較佳,因爲已製造閘絕緣薄膜。而且,可能慣及 主動層及(在圖3 Α之程序中成爲通道形成區之部份之) 閘絕緣薄膜之介面,且故此,宜在儘可能高之溫度上執行 熱處理。 實施例1中使用具有高抗熱力之晶化玻璃,且故此, 由在8 0 0 °C上爐退火1小時,執行活化程序。注意可使 處理環境成爲氧化大氣,執行熱氧化,且可使用惰性大氣 ,執行熱處理。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -26 - 543206 Α7 Β7 五、發明説明(24 ) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 由以上程序界定η型摻雜區5 2 0及5 2 1之邊緣部 份,即η型摻雜區5 2 0及5 2 1之周邊中之一區域(其 中未加有η型雜質元素,由圖3 Α之程序所構製之Ρ型摻 雜區)之邊界。此意謂可在其後完成TFT之時刻,構製 L D D區及通道形成區間之一極爲良好之連接部份。 其次構製2 0 0至4 0 0 nm厚之導電性薄膜,並造 形,形成閘電極5 2 2至5 2 5。注意可構製一單層電極 薄膜作爲閘電極,但當需要時,宜使用二層或三層之疊層 薄膜。可使用已知之導電性薄膜爲閘電極材料(閱圖3 D )° 明確言之,可使用選自鉅(T a ),鈦(T i ),鉬 (Mo),鎢(W ),鉻(C I* ),及導電性矽(S i ) 所組成之群中之一元素之一薄膜;或以上元素之氮化物之 薄膜(普通爲氮化钽薄膜,氮化鎢薄膜,氮化鈦薄膜;或 以上元素之合倂之合金薄膜(普通爲Mo - W合金或Mo 一 T a合金); 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 或以上元素之矽化物薄膜(普通爲矽化鎢薄膜或矽化 鈦薄膜)。當然可使用一單層薄膜或一疊層。 實施例1中使用由5 0 nm厚之氮化鎢(WN)薄膜 及3 5 0 n m厚之鎢(W )薄膜所構成之疊層薄膜。此薄 膜可由濺散製造。而且,如加進惰性氣體,諸如X e或 N e作爲濺散氣體,則可防止薄膜由於應力而剝開。 此時構製閘電極5 2 3及5 2 5,俾η型摻雜區 5 2 0及5 2 1之部份分別與置於其間之閘絕緣薄膜 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X297公釐) -27 - 543206 A7 B7 五、發明説明(25 ) 5 1 4重疊。重疊部份其後成爲LDD區,重疊於閘電極 。注意二閘電極5 2 4可在斷面上看見,但實際上電連接 〇 質次’以自我對齊之方式加進η型雜質元素(實施例 1中使用磷),以閘電極522至525作爲蔽罩,如顯 示於圖4Α。調節加進量,俾磷以摻雜區5 2 0及5 2 1 之濃度之1/10至1/2 (普通在1/4及1/3之間 )加進於如此所形成之摻雜區5 2 6至5 3 2中。明確言 之,濃度宜爲1 X 1 〇16至5 xl 018原子/ cm3 ( 普通在3xl017及3xl018原子/ cm3之間)。 其次構製光阻罩5 3 3 a至5 3 3 d,其形狀在覆蓋 閘電極,如顯示於圖4 B,並加進一 η型雜質元素(實施 例1中使用磷),形成含有高濃度磷之摻雜區534至 5 4 0。在此亦執行使用磷化氫(ρ Η 3 )之離子摻雜法 ,並調節此等區域之磷濃度自1 X 1 〇2。至1 X 1 〇2ΐ 原子/ cm3 (普通在2 X 1 02Q至5 X 1 02。原子/ c m 3之間)。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 由此程序製造η通道T F T之源區及汲區,且在開關 TFT中,留下由圖4Α之程序所構製之η型摻雜區 5 2 9至5 3 1之一部份。此等留下之區相當於圖1之開 關 TFT 之 LDD 區 1 5 a 至 1 5 d。 其次,如顯示於圖4C,移去光阻罩5 3 3 a至 533d,並構製新光阻罩541。然後加進一 ρ型雜質 元素(在實施例1中使用硼),形成含有高濃度硼之摻雜 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -28 - 543206 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明説明(26 ) 區542及543。在此,由離子摻雜法,使用二硼氫( B2H6)加進硼至3x1 02Q至3x1 022原子/ cm 3 (普通在 之濃度。 X 1 0 至 X 1 0 2 1 原子/ c 之間) 注意已以1 X 1 016至5 X 1 018原子/ cm3之 濃度加進磷於摻雜區5 4 2及5 4 3中,但在此以磷之濃 度之至少3倍加進硼。故此,完全變換已製成之N型摻雜 區爲P型,且用作P型摻雜區。 其次,在移去光阻罩541後,如顯示於圖4D,構 製一第一層間絕緣薄膜5 4 4。使用含矽之一單層之絕緣 薄膜作爲第一層間絕緣薄膜,但亦可使用相同之疊層薄膜 。而且,薄膜厚度宜在400nm及1 · 5//m之間。實 施例1中使用8 0 0 nm厚氧化矽薄膜在2 0 0 nm厚氧 氮化矽上之一疊層結構。 其後,活化以其各別濃度所加之η型摻雜區及p型摻 雜區。爐退火宜爲一活化措施。在實施例1中使用電爐在 惰性大氣中以5 5 0 °C執行熱處理4小時。 而且,亦在含有3至1 0 0%氫之大氣中以3 0 0至 4 5 0 °C執行熱處理1至1 2小時,執行氫化。此爲由熱 激發之氫終接半導體薄膜中之懸空鍵之一程序。亦可執行 電漿氫化法(使用由電漿激發之氫),作爲氫化之另一措 施。 注意在構製桌一*層間絕緣薄膜5 4 4之期間中’亦可 執行氫化步驟。即是’在構製2 0 0 n m氧氮化砂薄膜後 請 先 閲 讀 背 之 注 意 事 項 再 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -29 - 5432〇6 A7 B7 _ 五、發明説明(27 ) ,可執行如上之氫處理,然後可構製其餘8 0 0 nm厚之 氧化矽薄膜。 其次構製第一層間絕緣薄膜5 4 4中之接觸孔,並構 製源接線545至548及汲接線549至551。在實 施例1中,使用一疊層薄膜作爲電極,具有一 1 〇 〇 nm 之鈦薄膜,一 3 0 0 nm之含鈦之鋁薄膜,及一 1 5 0 n m鈦薄膜之三層結構由連續濺散法構成。當然亦 可使用其他導電性薄膜。 其次構製一第一鈍化薄膜5 5 2,具有厚度5 0至 500nm(普通在200及300nm之間)。使用一 3 0 0 nm厚之氮氧化矽薄膜作爲實施例1中之鈍化薄膜 3 4 4。氮化矽薄膜亦可取代氧氮化矽薄膜。 在構製氧氮化矽薄膜之前,此際使用含氫之氣貘,諸 如H2或NH3執行電漿處理有效。由此預處理所激發之 氫供應至第一層間絕緣薄膜3 4 4,並由執行熱處理,提 高第一鈍化薄膜5 5 2之薄膜品質。同時,加於第一層間 絕緣薄膜5 4 4中之氫擴散至較下面,且可有效氫化主動 層。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 其次’由有機樹脂構製第二層間絕緣薄膜5 5 3,如 顯示於圖5B。可使用諸如聚醯亞胺,壓克力,及BCB (本環丁院)作爲有機樹脂。尤其是’需平坦化第二層間 絕緣薄膜5 5 3上由T F T所形成之不平,且故此,宜使 用具有超平坦化特性之壓克力薄膜。實施例1中構製一 2 _ 5nm厚之壓克力薄膜。 本紙張尺度適财關家縣(CNS ) A4規格(210X297公釐)-30 · 543206 B7 五、發明説明(28 ) 其次,構製進入汲接線5 5 1之接觸孔於第二層間絕 緣薄膜5 5 3及第一鈍化薄膜5 5 2中,並構製一像素電 極5 5 4。構製一 2 0 0 nm厚之鋁合金薄膜(含有1重 量%之鈦),作爲實施例1之像素電極。 其次,構製一 5 0 0 n m厚之含矽絕緣薄膜(實施例 1中之氧化矽薄膜),並構製一開口部份於與像素電極 5 5 4相對應之位置處,構製一第三層間絕緣薄膜5 5 5 。由使用濕蝕刻法,當構製該開口部份時,可容易製造具 有錐形之一側壁。如開口部份之側壁並不充分緩和時,則 E L層由於不平坦所引起之品質下降成爲顯著問題。 其次,使用真空蒸發法,連續構製一陰極(M g A g 電極)556及一 EL層557,而不曝露於大氣中。陰 極5 5 6之薄膜厚度可設定自1 4 0至3 0 0 NM (普通 在200及2 5 0ΝΜ之間,及EL層5 5 7之厚度可設 定自80至2 OOnm (普通在1 〇〇及1 20nm之間 在此步驟中,首先,依次構製與色紅相對應之像素, 與色綠相對應之像素,及與色藍相對應之像素之陰極。如 在此際對陰極造形,則需曝露於大氣,且不能連續製造其 次所構製之E L層。故此,宜在使用諸如金屬蔽罩,由真 空蒸發沉積之時刻,對陰極實際造形。 然後由真空蒸發構製發出各別色之E L層5 5 7,以 覆蓋構製於每一像素上之陰極5 5 6。注意E L層具有較 一溶液爲小之電阻,且故此需個別構製每一色之E L層, 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -31 - 請 先 閲 讀 背 面 意 事 項 再 % 本 頁 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 543206 A7 B7 五、發明説明(29 ) 而不使用照相製版技術。然後使用一金屬蔽罩或類似者, 以覆蓋除所需之像素以外之區域,並選擇性構製E L層。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 換言之,設置一蔽罩,以覆蓋除與色紅相對應之像素 以外之所有區域,並使用該蔽罩,選擇性構製紅發光E L 層及陰極。其次,設置一蔽罩,以覆蓋除與色綠相對應之 像素以外之所有區域,並使用該蔽罩,選擇性構製綠發光 E L層及陰極。同樣,設置一蔽罩,以覆蓋除與色藍相對 應之像素以外之所有區域,並使用該蔽罩,選擇性構製藍 發光E L層及陰極。注意在此說明所有所用之蔽罩不同, 但亦可使用相同之蔽罩。 如使用實施例1所示之製造方法,俾在使用真空蒸發 沉積之時刻執形造形,則可連續製造陰極5 5 6及E L層 5 5 7,而不曝露於大氣中,且可增加El元件之發光效 效率。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 注意可使用已知之材料作爲E L層。考慮驅動電壓, 則宜使用一有機材料作爲該已知材料。例如,可使用由一 孔注射層,一孔輸送層,一發射層,及一電子注射層所構 成之一 4層結構作爲E L層。而且,在實施例1中顯示一 例’使用M g A g電極作爲E L元件之陰極,但亦可使用 另外已知材料。 其次’構製由透明傳導性薄膜所製之一陽極5 5 8, 覆盖EL層5 5 7。在實施例中構製一;[1 〇 nm厚之氧 化銦鏡(I T〇)薄膜,並執行造形,形成陽極。而且, 亦可使用一透明傳導性薄膜,其中,在2及2 0 %間之氧 本紙張尺度適财®國家標準(CNS ) Α4規格(210X297公董)7^2^ 543206 A7 B7 五、發明説明(3〇 ) 化鋅(Ζ η 0 )與氧化銦或氧化鍚薄膜混合。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 最後,構製由氮化矽所構成之一第二鈍化薄膜5 5 9 ,具有厚度3 0 0 nm。E L層5 5 7由第二鈍化薄膜 5 5 9防止諸如濕氣等。而且,第二鈍化薄膜5 5 9亦擔 任釋放由EL層5 5 7所產生之熱之任務。 如此完成具有如圖5 C所示之結構之一主動矩陣式 E L顯示裝置。注意實施例1之製造程序僅爲一例。例如 ,雖形成實施例1中之主動層之半導體薄膜可由日本專利 申請書公報He i 10 - 247735號所述之裝置製造 ,但其他已知之裝置亦可使用。此公開專利之整個說明列 作參考。 而且,LDD區等之安排僅顯示一較宜之例,且無需 限制該結構於實施例1之安排。注意在使用多晶矽薄膜作 爲主動層之情形,實施例1之結構較宜,因爲可靠性增加 ,且完全利用使用多晶矽薄膜作爲主動層之優點。 實施例2 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 在依實施例1完成至圖5 C後,而且,宜由使用殼材 料,諸如高度氣密之保護薄膜(諸如層形薄膜或紫外線硬 化樹脂薄膜)或陶瓷密封罐執行包裝(密封),俾不曝露 於大氣中。由使殼材料內部爲惰性環境,並由置一乾燥劑 (例如,氣化鋇)於殼材料內,E L層之可靠性(壽命) 此時增加。 而且,在由包裝處理增加氣密程度後,附裝一連接器 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -33 - 543206 A7 B7 五、發明説明(31 ) (可撓性印刷電路,F P C ),用以連接基體上所構製之 元件或電路之輸出端及外部輸入端之間,完成所製之產品 。在此可運輸狀態中之E L顯示裝置在整個本說明書中稱 爲E L模組。 在此使用圖7 A及7 B,說明E L模組之構造。構製 一像素部份7 0 2,一閘信號方驅動電路7 0 3,一資料 信號方驅動電路7 0 4,及一信號處理部份(驅動電路以 外之一電路群,諸如分波電路及增強電路)7 0 5於基體 701上。閘信號方驅動電路703,資料信號方驅動電 路7 〇 4,及信號處理部份7 0 5由本發明構製於像素部 份之內部上。而且,雖未顯示於圖中,但來自各別驅動電 路及信號處理部份之接線經由F P C 7 0 6連接至外部裝 備。 此時構製殼材料7 0 7,包圍像素部份。注意殼材料 7 0 7爲具有大不規則之形狀,其中,內部大小(深度) 大於像素部份7 0 2之外部大小(高度),或具有片形狀 ,且由透明材料製造。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 ffiil ’殼材料7 〇 7由黏著劑7 〇 8固定於基體 7 0 1上’俾與基體7 〇 1形成一氣密空間7 0 9,如顯 示於圖7 B。此際,;e L元件在完全密封於上述氣密空間 中之狀態’且完全不在外部大氣中。注意可構製多個殻材 料 7 0 7。 宜使用一絕緣物質,諸如璃或聚合物作爲殼材料 7 0 7。以下可作爲一例··非晶質玻璃(諸如矽酸硼玻璃 本紙張尺度適用中國國( CNS)八4娜(21GX297公慶)^34 - " ' ^ 543206 A7 B7 五、發明説明(32 ) 或石英);結晶玻璃;陶瓷玻璃,有機樹脂(諸如丙烯酸 樹脂,苯乙烯樹脂,及環氧樹脂):及矽樹脂。 可使用黏著劑’諸如環氧樹脂或丙烯酸樹脂作爲黏著 劑7 0 8之材料。而且,亦可使用熱硬化樹脂或光硬化樹 脂作爲黏著劑。注意需使用一材料,此儘可能不發射氧及 濕氣。 而且,宜由惰性氣體(諸如氬,氦,或氮)塡滿殼材 料7 0 7及基體7 0 1間之空間7 0 9。並不限於氣體, 且亦可使用惰性液體(諸如液體氟酸碳,普通爲氟鹼)。 有關惰性液體,可參考諸如日本專利申請書公報H e i 8 一78519號所述之材料。 有效製造乾燥劑於空間7 0 9內。可使用日本專利申 請書公報He i 9 — 1 4 8 0 6 6中所述之材料作爲乾燥 劑。普通可使用氧化鋇。 構製具有E L元件之多個隔離之像素於像素部份中, 且所有像素具有一陽極作爲公共電極。在由參考編號 7 1 1所標示之一區域中,經由與像素電極相同材料所製 之一連接線7 1 2連接陽極7 1 0至一輸入/輸出接線 7 1 3。輸入/輸出接線7 1 3爲用以施加預定電壓於陽 極7 1 0上之接線,且經由導電性糊漿7 1 4連接至 F P C。 在此使用圖8A至8 C,說明用以在區域7 1 1中實 現接觸結構之製造程序。 首先,依據實施例1之程序,獲得圖5 A之狀態。此 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -35 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) -5-t» 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 543206 A7 B7 五、發明説明(33 )
際移去基體之邊緣部份中之接觸部份(由圖7 B中之參考 編號7 1 1所示之區域)中之第一層間絕緣薄膜5 4 4及 閘絕緣薄膜5 1 4,並構製輸入一輸出接線7 1 3。當然 ’此可與與圖5A之源接線及汲接線同時構製(閱圖8A )° 其次蝕刻圖5 B中之第二層間絕緣薄膜5 5 3及第一 鈍化薄膜5 5 2,移去由參考編號8 0 1所標示之一區域 ,並構製一開口部份8 0 2。然後構製連接線7 1 2,以 覆蓋開口部份8 0 2。連接線7 1 2當然可與圖5 B中之 像素電極5 5 4同時構製(閱圖8B)。 在此狀態中,在像素部份中執行E L元件構製程序( 構製第三層間絕緣薄膜,陰極,及E L層之程序)。此際 並不使用蔽罩等構製第三層間絕緣薄膜及E L元件於圖 8A至8 C所示之區域中。在構製EL層5 5 7後,使用 另一蔽罩構製陽極5 5 8。如此經由連接線7 1 2電連接 陽極5 5 8及輸入一輸出接線7 1 3。而且,構製第二鈍 化薄膜5 5 9,獲得圖8 C所示之狀態。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 如此達成由圖7B之參考編號711所示之區域中之 接觸結構。然後連接輸入-輸出接線7 1 3經殼材料 707及基70 1間之空間而至FPC706 (注意此空 間由黏著劑7 0 8塡滿,即是,黏著劑7 0 8需具有一厚 度可充分塡平輸入-輸出之隆起)。黏著劑707所形成 之部份被壓於殼材料7 0 7及基體7 0 1之間,且故此, 如此處有一元件或電路,則可能受損壞,但如僅一接線通 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -36 · 543206 A7 B7 五、發明説明(34 ) 過,如圖7 B中者,則無問題。 注意製造實施例2中所示之主動矩陣式E L顯示裝置 之方法可依實施例1執行。 實施例3 使用圖1 0,說明實施例3之本發明之主動矩陣式 E L顯示裝置之像素部份之斷面結構。注意在圖1 〇中, 與圖1相同之部份註以與圖1相同之符號。 在圖1 0中,參考編號1 0 0 1標示一電流供應線, 此連接至電流控制T F T之一源區(未顯示於圖中)。而 且,參考編號1 0 0 2標示一資料線,此連接至一開關 TFT之源區(未顯示於圖中)。 電流供應線1 0 0 1及資料線1 〇 〇 2存在於在與閘 接線平行之方向上安排之相鄰像素之間。故此,用以相互 連接不同像素中所構製之驅動電路TFT (形成驅動電路 之一部份之T F T )之接線需越過電流供應線1 1及 資料線1 0 0 2。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 在此情形,可提出諸如實施例3中所示之方法。首先 爲用以在與閘電極3 9及4 3同時製造一第一連接線 1 0 0 3,並使第一連接線1 〇 〇 3通過諸如資料線等接 線下方之方法。此方法使用於實施例3中,以連接電流供 應線1001及CMOS電路1000b。 而且,其次爲製造一第二連接線1 〇 〇 4之方法,此 越過電流供應線1 〇 〇 1及/或資料線1 q 〇 2。此方法 37 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 543206 A7 ___B7_ 五、發明説明(35 ) 用以連接實施例3中之一 CMOS電路1 〇 〇 〇 a及 CMOS電路l〇〇〇b。 在此情形,在打開第二層間絕緣薄膜5 5 3中之一接 觸孔後,可在圖5 B之程序中構製第一連接線1 〇 〇 4 ( 非像素電極)。其次構製一層間絕緣薄膜,覆蓋第二連接 線1 0 0 4,打開一接觸孔,並可構製像素電極。 注意電流供應線1 0 0 1及資料線1 0 〇 2構製於實 施例3之同層上,但二者亦可構製於分開之層上。即是, 電流供應線1 0 0 1或資料線1 0 0 2可構製於圖1 〇之 第二連接線1 0 0 4之層中。在此情形,第二連接線可構 製於與閘接線同層上,通過電流供應線及資料線上方。 實施例3之特徵故此爲使用構製於與電流供應線及資 料線不同層中之連接線,且依此,電流供應線及資料線相 交。可使用與閘接線,或構製於資料接線及閘電極間之〜 層中之一接線相同之接線作爲實施例3之連接線。 注意實施例3之結構可由參考實施例1製造。而且, 可實施實施例3之構造與實施例2所示之E L顯示裝置合 倂0 實施例4 使用實施例3之構造及構製一驅動電路於一像素內之 情形之一例說明於實施例4中。明確言之,顯示製造一轉 移暫存器於一像素部份內(內部)之一例。 圖1 1 A爲像素部份之一像素之放大頂視圖,及圖 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -38 - 請 先 閲 讀 背 面 之 2 頁 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 543206 A7 B7 五、發明説明(36 ) 請 先 閲 讀 背 之 注 意 事 項 再 1 1 B爲該像素之電路圖。開關TFT2 0 1及電流控制 TFT202具有與圖1相同之符號。參考編號1 1 0 1 標示一儲存電容器,此執行儲存供應至電流控制 T F T 2 0 2之閘極之電壓經一框週期之工作。注意假定 由使用多閘結構於開關T F T 2 0 2上,而儘可能降低開 關TFT2 0 2之斷電流,則可略去儲存電容器1 1 0 1 〇 儲存電容器1 1 0 1在實施例4中構製於電流控制 TFT202及電流供應線1102之間。當然,電容器 亦可構製於電流控制T F T之源區及電流控制 T F T 2 0 2之一閘電極(包含閘接線)之間。 而且,轉移暫存器之一部份(正反電路)顯示在像素 內,及一正反電路由以下三部份構成··一反相器1 1 0 3 ,及定時反相器1 1 0 4及1 1 0 5。正反器在實際轉移 暫存器中串連。 而且,V g爲閘信號,V s爲源信號(資料信號), 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 V d d :(電流供應線1 1 〇 2 )爲施加於E L元件2 〇 3 之一陰極上之陰極信號,爲時脈信號(V。,上一橫 意爲反相之Vek) ,Vdd2爲定時反相前方信號,及 Vdd3爲定時反相器之負荷方信號。注意在實施例4中’ 地電位施加於V d d 1上。 構製一正反電路於一像素上,具有實施例4中之結構 ,並與構製於相鄰像素內之另一正反電路串連。當VcR 然後橫過像素之間時,可使用連接線1 1 〇 6至1 1 1 5 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -39 - 543206 A/ 五、發明説明(37 ) ,如由圖1 0之參考編號1 0 0 4所標示之連接線。 注意連接線1 1 1 4及1 1 1 5可與資料線及電流供 應線同時製造。換言之,如不在同一層上相交’則並無問 題,且當一接線與另接線相交時,操作者可適當設定在何 層上構製另一接線。 注意可自由合倂實施例4之構造及實施例1至3之任
一之構造。 實施例5 與實施例4不同之一主動矩陣式E !^顯示裝置之結構 之例說明於實施例5中。明確言之,圖1 2顯示圖1 1所 示之像素結構之閘接線之不同材料之一例。注意圖1 2之 結構幾乎與圖1 1者相同,故僅說明其不同部份。 在實施例5中,由使用三閘結構於開關T F T中,設 定斷電流等於或小於1 0 p A (宜等於或小於1 P A )。 故此略去圖1 1中所示之儲存電容器1 1 0 1。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 在圖1 2中,參考編號6 1 a至6 1 c標示由氮化鎢 薄膜及鎢薄膜之疊層薄膜所構成之閘電極,與實施例1之 閘電極相似。此等各可由一獨立之圖案構成,如顯示於圖 12,且可製成一圖案,其中各電連接,但在製造時,閘 電極在電浮動狀態。 亦可使用其他導電性薄膜,諸如一氮化鉅薄膜及一鉅 薄膜之疊層薄膜,或組及鎢之一合金薄膜作爲閘電極 6 1 a至6 1 c。然而,宜使用具有較優之處理特性之一 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -40 - 543206 A7 B7 五、發明説明(38 ) 薄膜,能製造等於或小於3 //m (宜等於或小於2 /zm) 之細寬度。而且宜使用不含有會擴散進入主動層中之元素 之一薄膜作爲絕緣薄膜。 另一方面’使用具有電阻低於閘電極6 1 a至6 1 c 之一導電性薄膜作爲閘接線6 2,普通爲宜有鋁作爲其主 要組成份之合金薄膜,或具有銅作爲其主要組成份之合金 薄膜。在閘接線6 2上無需特別細處理特性。而且,閘接 線並不重疊主動層,且故此,如閘接線含有容易擴散通過 絕緣薄膜之鋁或銅,亦無問題。 在製造實施例5之結構中,宜在實施例1之圖4D之 步驟中構製第一層間絕緣薄膜5 4 4之前,執行一活化程 序。在此情形,使閘電極6 1 a至6 1 c在曝露狀態中施 加熱處理,但閘電極6 1 a至6 1 c不由在充分惰性大氣 中執行熱處理而氧化,宜在氧濃度等於或低於1 p prn中 。即是’不由氧化而增加電阻値,且閘電極不由不易移去 之一絕緣薄膜(氧化物薄膜)覆蓋。 在完成活化程序後,然後構製具有鋁或銅作爲其主要 組成份之一導電性薄膜,且可由濺散法構製閘接線。閘電 極6 1 a至6 1 c及閘接線6 2間之接觸部份此際維持良 好之歐姆接觸,且可施加預定之閘電壓於閘電極6 1 a至 6 1 c 上。 由諸如實施例5之結構儘可能降低閘接線之接線電阻 ’此在減小接線滯後上極爲有效。注意實施例5中之圖 1 2所示之像素結構並不任何限制本發明,且僅爲一較宜 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -41 - 請 先 閲 讀 背 面 之 注 意 事 項 本 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 543206 B7 五、發明説明(39 ) 至3 實例。而且,可自由合倂實施例5之構造及實施例 之任一之構造。 請 先 聞 讀 背 之 注 意 事 項 再 實施例6有效使用具有高度散熱效果之材料作爲圖1 所示之結構中之主動層及基體11間所構製之基層薄膜 1 2。明確言之,相當大量之電流在長時間中流於電流控 制T F T中,且故此,電流控制T F T容易溫度上升,且 由於自我發熱而引起品質下降,成爲一問題。在此情形, 可使基層薄膜具有散熱效果而控制T F T之熱品質下降, 如在實施例6。 可提出含有選自B (硼),(:(碳),及N (氮)所 組之群中之至少一元素,及選自A 1 (鋁),Si (矽) ,及P (磷)所組之群中之至少一元素之一絕緣薄膜作爲 具有散熱特性之發光材料。 例如,可使用:一氮化鋁化合物,普通爲氮化鋁( 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A 1 X N y ); 一碳化矽化合物,普通爲碳化矽(S i x C y );一氮化硼化合物,普通爲氮化硼(BxNy):或一 磷化硼化合物,普通爲磷化硼(PxPy)。而且,氧化 鋁化合物,普通爲氧化鋁(A 1 x〇y)具有較優之光透 明特性,並具有導熱系數爲2 OWm — iK — 1,且可說爲 較佳材駚之一。注意X及y爲以上透明材料之隨意整數。 以上化合物亦可與另一元素合倂。例如,可使用氧氮 化鋁,由A 1 Nx〇y表示,其中,氮加於氧化鋁中。此 材料不獨具有散熱效果,且亦有效防止諸如濕氣及鹼金屬 之穿透。注意X及y爲以上氧氮化鋁之隨意整數。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -42 - 543206 Α7 Β7 日本專利申請書公報Sh〇62— 表之材料。即是,亦可使用包含S i Μ之絕緣薄膜(注意Μ爲稀土元素, ,Y b (釔),S m (釤),E r ( a (鑭),Gd (釔),Dy (鏑) 之群中之一元素)。此等材料不獨具 效防止諸如濕氣及鹼金屬等物質之穿 碳薄膜,諸如鑽石薄膜或非晶質碳( 等特性者;稱爲似鑽石之碳)。此等 數,且爲極爲有效之輻射層。注意如 黃帶化,且傳導係數降低,且故此, 膜厚度(宜在5及1 0 0 nm之間) 而且,可使用由具有以上散熱效果之材料本身所製之 薄膜’且可使用此等薄膜及含矽之一絕緣薄膜之疊層。 注意可自由合倂實施例6之構造及實施例1至5之任 一之構造。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明説明(40 ) 而且,亦可使用 90260號中所發 ,A 1 ,N,〇,及 宜爲選自C e (硒) 餌),Y (鏡),L ,及N d (鈸)所組 有散熱效果,且亦有 進。 而且,亦可使用 尤其是具有接近鑽石 具有非常高之導熱係 薄膜厚度增加,則有 宜使用儘可能薄之薄 請 先 閲 讀 背 ιέ 之 注 意 事 項 再 填 寫 本 頁 實施例7 宜使用有機E L材料作爲實施例1中之E L層,但本 發明亦可使用無機 E L材料實施。然而,本無機E l材料具有極高之驅 動電壓’且故此,應使用具有能抵抗此驅動電壓之電壓電 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X297公羡) -43 - 543206 A7 B7 五、發明説明(41 ) 阻之T F 丁。 另一方面,假定在將來發展出具有較低驅動電壓之無 機E L材料,則可應用其於本發明中。 而且,可自由合倂實施例7之構造及實施例1至6之 任一之構造。 實施例8 由實施本發明所構製之主動矩陣式E L顯示裝置( E L模組)較之液晶顯示裝置在發亮位置上具有較高之能 見度,因爲此爲自我發射式裝置。故此,本發明可實施於 直視E L顯示器(表示裝有E L模組之顯示器)。可提出 以下作爲此E L顯示器之例:個人電腦監視器,電視廣播 接收監視器,及廣告顯示監視器。 而且,可實施本發明於含有顯示器之所有電子裝置上 ,包含以上E L顯示器,作爲一組成件。 可提出以下作爲此種電子裝置之例:E L顯示器,電 視攝影機,數位攝影機,頭戴顯示器,車用導航系統,個 人電腦,便攜式資訊端未機(諸如行動電腦,行動電話機 ,或電子書),及影像回放裝置,使用記錄媒體(明確言 之,執行記錄媒體之回放,並設有能顯示影像之顯示器之 裝置,諸如小巧碟(C D ),雷射碟(L D ),或數位影 碟(DVD))。此等電子裝置之例顯示於圖13A至 1 3 F ° A爲個人電腦,包含一主體2001 ,一殼 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -44 - 請 先 閲 讀 背 面 之 注 意 事 項 再 旁 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 圖 543206 A7 B7 五、發明説明(42 ) 鍵盤2 Ο Ο 4。本 2002,一顯示部份2003,及 發明可使用於顯示部份2 0 0 3中。 圖13B爲電視攝影機,包含一主體2101,一顯 示部份2 102,一聲音輸出部份2 103 ’操作開關 2104,電池2105,及一影像接收部份2106。 本發膽可用於顯示部份2 1 0 2中。 圖1 3 C爲頭戴EL顯示器(右方)之一部份,包含 一主體2301,一信號電纜2302,一頭固定帶 2303,一顯示監視器2304,一光學系統2305 ,及一顯示裝置2 3 0 6。本發明可使用於顯示裝置 2 3 0 6 中。 圖1 3D爲影像回放裝置(明確言之,一 DVD回放 裝置),設有一記錄媒體,包含一主體2401 ,一記錄 媒體(諸如CD,LD 2 4 0 3,顯示部份( )2 4 0 5。顯示部份 請 先 閲 讀 背 面 之 注 意 事 項 再 填 本 頁 或DVD) 2402,操作開關 )2 4 0 4,及一顯示部份(b a )主要用於顯示影像資訊,及 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 影像部份(b )主要用以顯示字元資訊,及本發明可用於 影像部份(a )及影像部份(b )中。注意本發明可用作 影像回放裝置,裝置中具有記錄媒體,諸如C D回放裝置 及遊戲裝備。 圖13E爲行動電腦,包含一主體2501 ,一攝影 部份2 5 0 2,一影像接收部份2 5 0 3,操作開關 2 5 0 4,及一顯示部份2 5 0 5。本發明可用於顯示部 份2 5 0 5中。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -45 - 543206 A7 B7 五、發明説明(43 ) 請 先 閲 讀 背 面 之 注 意 事 項 再 填 寫 本 頁 圖13F爲一EL顯示器,包含殼2601 ,一支座 6 0 2,及一顯示部份2 6 0 3。本發明可使用於顯示部 份2 6 0 3中。本發明之E L顯示器在大螢幕之情形特別 有利,且有利於具有對角線大於或等於1 0吋之顯示器( 尤其是大於或等於30吋者),因其能見度之範圍廣大。 而且,如E L材料之發光在將來提高,則可使用本發 明於前置或後置式投影器中,使用透鏡或類似者放大並投 射含有影像資訊之輸出光。 故此,本發明之應用範圍非常廣大,且可應用本發明 於所有各方面之電子裝置中。而且,實施例8之電子裝置 亦可使用實施例1至7之任一種之合倂之構造達成。 由實施本發明’可製造驅動電路及其他信號處理電路 於主動矩陣式E L顯示裝置之像素部份內(在像素部份之 同一區域中),光自與基體相反方輸出,且達成主動矩陣 式E L顯示裝置之小型化。 而且,由安排基體上所構製之丁 FT成最佳構造之 TFT,達成高度可靠之主動矩陣式EL顯示裝置,適合 電路及元件所需之性能。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 然後由安裝此式之主動矩陣式E L顯示裝置成一顯示 器,則可產生高度可靠之小型電子裝置。 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -46

Claims (1)

  1. 543206 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 第9 1 1 04560號專利申請案 中文申請專利範圍修正本 民國92年1月23日修正 1 _一種發光裝置,包括: 基體; 多個閘接線,在基體上於一方向上彼此平行地延伸; 多個資料接線,在基體上於另一方向上彼此平行地延 伸’其中’該多個資料接線與該多個閘接線相交會且多個 像素中的每一像素由該多個資料接線及該多個閘接線界定 , 至少第一薄膜電晶體,設置在個別像素處,該第一薄 膜電晶體包括成對的第一雜質區、在成對的第一雜質區之 間的通道區、在第一雜質區與通道區之間成對的第二雜質 區、及在通道區上的閘電極,其中該閘電極電連接至對應 的閘接線; 至少第二薄膜電晶體,設置在個別像素處,該第二薄 膜電晶體包括成對的第三雜質區、在成對的第三雜質區之 間的通道區、在第三雜質區之一與通道區之間的第四雜質 區、及位於通道區的閘電極,其中,另一第三雜質區鄰近 通道區; 層間絕緣膜,在該第一及第二薄膜電晶體上; 電發光元件,在該層間絕緣膜上,其中該第二薄膜電 晶體電連接至電發光元件; · 驅動電路,包括第三薄膜電晶體’在基體上;及 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 0^-- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 543206 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 訊號處理電路,包括第四薄膜電晶體,在基體上。 2 ·如申請專利範圍第1項所述之發光裝置,其中, 該第三雜質區之一電連接至該電發光元件。 3 ·如申請專利範圍第1項之發光裝置,其中該發光 裝置適於倂入選自個人電腦、攝影機、頭戴式顯示器、影 像播放裝置、及行動電腦所組成的群類之電子設備中。 4·一種發光裝置,包括: 基體; 多個閘接線,在基體上於一方向上彼此平行地延伸; 多個資料接線,在基體上於另一方向上彼此平行地延 伸’其中,該多個資料接線與該多個閘接線相交會且多個 像素中的每一像素由該多個資料接線及該多個閘接線界定 至少第一薄膜電晶體,設置在個別像素處,該第一薄 膜電晶體包括成對的第一雜質區、在成對的第一雜質區之 間的通道區、在第一雜質區與通道區之間成對的第二雜質 區、及在通道區上的閘電極,其中該閘電極電連接至對應 的閘接線; 至少第二薄膜電晶體,設置在個別像素處,該第二薄 膜電晶體包括成對的第三雜質區、在成對的第三雜質區之 間的通道區、在第三雜質區之一與通道區之間的第四雜質 區、及位於通道區的閘電極,其中,另一第三雜質區鄰近 通道區; . 層間絕緣膜,在該第一及第二薄膜電晶體上; 本紙張尺度適用中國國家操準(CNS ) A4規格(210X297公釐) _ 2 - 裝-- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 543206 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 電發光元件,在該層間絕緣膜上,其中該第二薄膜電 晶體電連接至電發光元件; 驅動電路,包括第三薄膜電晶體,在基體上;及 訊號處理電路,包括第四薄膜電晶體,在基體上; 其中,該成對的第二雜質區未與該閘電極重疊,及 其中,該第四雜質區與該閘電極至少部份地重疊。 5 ·如申請專利範圍第4項所述之發光裝置,其中, 該第三雜質區之一電連接至該電發光元件。 6 ·如申請專利範圍第4項所述之發光裝置,其中該 發光裝置適於倂入選自個人電腦、攝影機、頭戴式顯示器 、影像播放裝置、及行動電腦所組成的群類之電子設備中 〇 7·—種發光裝置,包括: 至少二通道區; 基體; 多個閘接線,在基體上於一方向上彼此平行地延伸; 多個資料接線,在基體上於另一方向上彼此平行、也延 伸,其中,該多個資料接線與該多個閘接線相交會且多個 像素中的每一像素由該多個資料接線及該多個閘接線界定 j 至少第一薄膜電晶體,設置在個別像素處,該第一薄 膜電晶體具有至少二閘電極,其中,每一該閘電極電連接 至對應的閘接線; . 至少第二薄膜電晶體,設置在個別像素處; 本紙張尺度適用中國國家襟準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -3 - ------IT------ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 543206 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 層間絕緣膜,在該第一及第二薄膜電晶體上; 電發光元件,在該層間絕緣膜上,其中該第二薄膜電 曰曰體電連接至電發光兀件; 驅動電路,包括第三薄膜電晶體,在基體上;及 分波電路,包括第四薄膜電晶體,在基體上。 8 ·如申請專利範圍第7項所述之發光裝置,其中該 發光裝置適於倂入選自個人電腦、攝影機、頭戴式顯示器 、影像播放裝置、及行動電腦所組成的群類之電子設備中 〇 9 · 一種發光裝置,包括·· 基體; 多個閘接線,在基體上於一方向上彼此平行地延伸; 多個資料接線,在基體上於另一方向上彼此平行地延 伸’其中’該多個資料接線與該多個閘接線相交會且多個 像素中的每一像素由該多個資料接線及該多個閘接線界定 至少第一薄膜電晶體,設置在個別像素處,該第一薄 膜電晶體具有至少二閘電極,其中,每一該閘電極電連接 至對應的閘接線; 至少第二薄膜電晶體,設置在個別像素處; 層間絕緣膜,在該第一及第二薄膜電晶體上; 電發光元件,在該層間絕緣膜上,其中該第二薄膜電 晶體電連接至電發光元件; · 驅動電路,包括第三薄膜電晶體,在基體上;及 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) _ 4 - --------0^ II (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 543206 A8 B8 C8 __ D8 六、申請專利範圍 升壓電路,包括第四薄膜電晶體,在基體上。 1 ◦•如申請專利範圍第9項所述之發光裝置,其中 該發光裝置適於倂入選自個人電腦、攝影機、頭戴式顯示 器、影像播放裝置、及行動電腦所組成的群類之電子設備 中。 1 1 . 一種發光裝置,包括: 基體; 多個閘接線,在基體上於一方向上彼此平行地延伸; 多個資料接線,在基體上於另一方向上彼此平行地延 伸’其中’該多個資料接線與該多個閘接線相交會且多個 像素中的每一像素由該多個資料接線及該多個閘接線界定 至少第一薄膜電晶體,設置在個別像素處,該第一薄 膜電晶體具有至少二閘電極,其中,每一該閘電極電連接 至對應的閘接線; 至少第二薄膜電晶體,設置在個別像素處; 層間絕緣膜,在該第一及第二薄膜電晶體上; 電發光元件,在該層間絕緣膜上,其中該第二薄膜電 晶體電連接至電發光元件; 驅動電路,包括第三薄膜電晶體,在基體上;及 伽瑪電路,包括第四薄膜電晶體,在基體上。 1 2 ·如申請專利範圍第1 1項所述之發光裝置,其 中該發光裝置適於倂入選自個人電腦、攝影機、.頭戴式顯 示器、影像播放裝置、及行動電腦所組成的群類之電子設 本紙張尺度適财國國家襟準(CNS)〜祕(21Gx297公楚)Γ5Τ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 、1T 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 543206 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 備中。 13·—種發光裝置,包括: 基體; 多個聞接線,在基體上於一方向上彼此平行地延伸; 多個貪料接線,在基體上於另一方向上彼此平行地延 伸’其中’該多個資料接線與該多個閘接線相交會且多個 像素中的每一像素由該多個資料接線及該多個閘接線界定 至少弟 溥膜電晶體’设置在個別像素處,該第一^薄 膜電晶體具有至少二閘電極,其中,每一該閘電極電連接 至對應的閘接線; 至少第二薄膜電晶體,設置在個別像素處; 層間絕緣膜,在該第一及第二薄膜電晶體上; 電發光元件,在該層間絕緣膜上,其中該第二薄膜電 晶體電連接至電發光元件; 驅動電路,包括第三薄膜電晶體,在基體上;及 記憶體,包括第四薄膜電晶體,在基體上。 1 4 .如申請專利範圍第1 3項所述之發光裝置,其 中該發光裝置適於倂入選自個人電腦、攝影機、頭戴式顯 示器、影像播放裝置、及行動電腦所組成的群類之電子設 備中。 本紙張尺度逋用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) -6 - Aw ^IT (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI452564B (zh) * 2011-02-10 2014-09-11 Global Oled Technology Llc 具積體演算電路的數位顯示裝置

Families Citing this family (106)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6677613B1 (en) * 1999-03-03 2004-01-13 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method of fabricating the same
JP4627822B2 (ja) * 1999-06-23 2011-02-09 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置
TW585895B (en) * 1999-09-02 2004-05-01 Nippon Steel Chemical Co Organic EL material
US6876145B1 (en) * 1999-09-30 2005-04-05 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Organic electroluminescent display device
US6580094B1 (en) 1999-10-29 2003-06-17 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Electro luminescence display device
US6879110B2 (en) 2000-07-27 2005-04-12 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method of driving display device
US7019457B2 (en) * 2000-08-03 2006-03-28 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device having both electrodes formed on the insulating layer
MY141175A (en) * 2000-09-08 2010-03-31 Semiconductor Energy Lab Light emitting device, method of manufacturing the same, and thin film forming apparatus
JP2002200936A (ja) 2000-11-06 2002-07-16 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 表示装置及び車両
JP2002216976A (ja) * 2001-01-15 2002-08-02 Sony Corp 発光素子及びその製造方法
US6724150B2 (en) * 2001-02-01 2004-04-20 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device and manufacturing method thereof
SG114529A1 (en) * 2001-02-23 2005-09-28 Semiconductor Energy Lab Method of manufacturing a semiconductor device
SG114530A1 (en) * 2001-02-28 2005-09-28 Semiconductor Energy Lab Method of manufacturing a semiconductor device
JP2002261007A (ja) * 2001-02-28 2002-09-13 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置の作製方法
US6661180B2 (en) * 2001-03-22 2003-12-09 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device, driving method for the same and electronic apparatus
JP4801278B2 (ja) * 2001-04-23 2011-10-26 株式会社半導体エネルギー研究所 発光装置及びその作製方法
KR100620323B1 (ko) * 2001-05-29 2006-09-13 엘지.필립스 엘시디 주식회사 유기전기발광소자 및 그의 구동회로
JP3696132B2 (ja) * 2001-07-10 2005-09-14 株式会社東芝 アクティブマトリクス基板及びその製造方法
JP5057619B2 (ja) * 2001-08-01 2012-10-24 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置の作製方法
SG120075A1 (en) 2001-09-21 2006-03-28 Semiconductor Energy Lab Semiconductor device
US7365713B2 (en) 2001-10-24 2008-04-29 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and driving method thereof
US7456810B2 (en) 2001-10-26 2008-11-25 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light-emitting device and driving method thereof
US7488986B2 (en) * 2001-10-26 2009-02-10 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device
US6956240B2 (en) * 2001-10-30 2005-10-18 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device
JP4498669B2 (ja) 2001-10-30 2010-07-07 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置、表示装置、及びそれらを具備する電子機器
US7483001B2 (en) * 2001-11-21 2009-01-27 Seiko Epson Corporation Active matrix substrate, electro-optical device, and electronic device
US7141817B2 (en) 2001-11-30 2006-11-28 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device
KR100834346B1 (ko) * 2001-12-28 2008-06-02 엘지디스플레이 주식회사 능동행렬 유기전기발광소자
US20030134486A1 (en) * 2002-01-16 2003-07-17 Zhongze Wang Semiconductor-on-insulator comprising integrated circuitry
KR20020025918A (ko) * 2002-02-15 2002-04-04 박병주 습식 공정으로 제작된 유기 반도체 디바이스 및 유기전계발광 소자
US20050174045A1 (en) * 2002-04-04 2005-08-11 Dielectric Systems, Inc. Organic light-emitting device display having a plurality of passive polymer layers
US7579771B2 (en) 2002-04-23 2009-08-25 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device and method of manufacturing the same
US7786496B2 (en) 2002-04-24 2010-08-31 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method of manufacturing same
JP2003317971A (ja) * 2002-04-26 2003-11-07 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 発光装置およびその作製方法
JP4192494B2 (ja) * 2002-05-14 2008-12-10 カシオ計算機株式会社 発光パネル
US7164155B2 (en) * 2002-05-15 2007-01-16 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device
US6680130B2 (en) * 2002-05-28 2004-01-20 Agere Systems, Inc. High K dielectric material and method of making a high K dielectric material
US7592980B2 (en) 2002-06-05 2009-09-22 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
US7897979B2 (en) 2002-06-07 2011-03-01 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device and manufacturing method thereof
US7228405B2 (en) * 2002-06-25 2007-06-05 Intel Corporation Methods and apparatuses for allowing users to dynamically interact with configurable devices or hardware during a preboot stage
JP4216008B2 (ja) * 2002-06-27 2009-01-28 株式会社半導体エネルギー研究所 発光装置およびその作製方法、ならびに前記発光装置を有するビデオカメラ、デジタルカメラ、ゴーグル型ディスプレイ、カーナビゲーション、パーソナルコンピュータ、dvdプレーヤー、電子遊技機器、または携帯情報端末
JP4286495B2 (ja) 2002-06-28 2009-07-01 株式会社半導体エネルギー研究所 発光装置及びその作製方法
US20050212448A1 (en) * 2002-11-20 2005-09-29 Makoto Shibusawa Organic EL display and active matrix substrate
JP4373086B2 (ja) 2002-12-27 2009-11-25 株式会社半導体エネルギー研究所 発光装置
JP3791616B2 (ja) * 2003-02-06 2006-06-28 セイコーエプソン株式会社 配線基板、電気光学装置及びその製造方法並びに電子機器
TWI363573B (en) 2003-04-07 2012-05-01 Semiconductor Energy Lab Electronic apparatus
TW587236B (en) * 2003-05-12 2004-05-11 Au Optronics Corp Active organic electroluminescent device structure
US7961160B2 (en) * 2003-07-31 2011-06-14 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device, a driving method of a display device, and a semiconductor integrated circuit incorporated in a display device
CN101771135B (zh) 2003-09-26 2012-05-23 株式会社半导体能源研究所 发光元件及其制造方法
EP2276088B1 (en) 2003-10-03 2018-02-14 Semiconductor Energy Laboratory Co, Ltd. Light emitting element, and light emitting device using the light emitting element
CN100551187C (zh) 2003-12-26 2009-10-14 株式会社半导体能源研究所 发光元件
KR100623254B1 (ko) * 2004-04-27 2006-09-18 삼성에스디아이 주식회사 유기 전계 발광 표시 장치
KR100590260B1 (ko) * 2004-04-29 2006-06-19 삼성에스디아이 주식회사 유기 전계 발광 표시 장치
KR100626009B1 (ko) * 2004-06-30 2006-09-20 삼성에스디아이 주식회사 박막 트랜지스터 구조체 및 이를 구비하는 평판디스플레이 장치
JP2006295104A (ja) * 2004-07-23 2006-10-26 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 発光素子およびそれを用いた発光装置
KR100642490B1 (ko) * 2004-09-16 2006-11-02 엘지.필립스 엘시디 주식회사 유기전계발광 소자 및 그 제조방법
US7500307B2 (en) * 2004-09-22 2009-03-10 Avery Dennison Corporation High-speed RFID circuit placement method
CN101841002B (zh) 2004-09-24 2011-11-16 株式会社半导体能源研究所 发光器件
KR101436791B1 (ko) 2004-10-29 2014-09-03 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 복합 재료, 발광 소자, 발광 장치 및 이의 제조방법
US20060091397A1 (en) * 2004-11-04 2006-05-04 Kengo Akimoto Display device and method for manufacturing the same
US7989694B2 (en) * 2004-12-06 2011-08-02 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Photoelectric conversion element, solar battery, and photo sensor
KR100700642B1 (ko) * 2004-12-13 2007-03-27 삼성에스디아이 주식회사 유기전계발광표시소자 및 그 제조방법
US7948171B2 (en) * 2005-02-18 2011-05-24 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device
US7244659B2 (en) * 2005-03-10 2007-07-17 Micron Technology, Inc. Integrated circuits and methods of forming a field effect transistor
EP1866984B1 (en) 2005-03-23 2017-08-30 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Composite material, light emitting element and light emitting device
US7851989B2 (en) 2005-03-25 2010-12-14 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device
US7888702B2 (en) * 2005-04-15 2011-02-15 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device and manufacturing method of the display device
JP4619186B2 (ja) 2005-04-19 2011-01-26 株式会社半導体エネルギー研究所 発光装置
EP1724852A3 (en) 2005-05-20 2010-01-27 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting element, light emitting device, and electronic device
JP4916439B2 (ja) * 2005-05-25 2012-04-11 シャープ株式会社 発光回路基板及び発光表示装置
US8334057B2 (en) * 2005-06-08 2012-12-18 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light-emitting element, light-emitting device, and electronic device
US8017252B2 (en) 2005-06-22 2011-09-13 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device and electronic appliance using the same
US7745989B2 (en) 2005-06-30 2010-06-29 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd Light emitting element, light emitting device, and electronic apparatus
KR101369864B1 (ko) * 2005-08-12 2014-03-05 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체장치 및 그 제조방법
DE102005046406B4 (de) * 2005-09-28 2010-02-25 Infineon Technologies Ag Halbleiteranordnung mit einem elektrischen Verbraucher und einer Halbleitereinrichtung zur Steuerung der Stärke eines elektrischen Stroms
KR101437086B1 (ko) 2006-01-07 2014-09-03 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체장치와, 이 반도체장치를 구비한 표시장치 및 전자기기
US8330492B2 (en) 2006-06-02 2012-12-11 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Liquid crystal display device and electronic device
US7557002B2 (en) * 2006-08-18 2009-07-07 Micron Technology, Inc. Methods of forming transistor devices
EP1895545B1 (en) 2006-08-31 2014-04-23 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Liquid crystal display device
US7989322B2 (en) * 2007-02-07 2011-08-02 Micron Technology, Inc. Methods of forming transistors
US8283724B2 (en) 2007-02-26 2012-10-09 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Memory element and semiconductor device, and method for manufacturing the same
US20090101980A1 (en) * 2007-10-19 2009-04-23 International Business Machines Corporation Method of fabricating a gate structure and the structure thereof
JP5552753B2 (ja) * 2008-10-08 2014-07-16 ソニー株式会社 薄膜トランジスタおよび表示装置
JP2010153365A (ja) * 2008-11-19 2010-07-08 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 発光素子、発光装置、電子機器及び照明装置
KR101746198B1 (ko) 2009-09-04 2017-06-12 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 표시장치 및 전자기기
CN105161543A (zh) * 2009-09-24 2015-12-16 株式会社半导体能源研究所 半导体器件及其制造方法
TW201114317A (en) * 2009-10-07 2011-04-16 Au Optronics Corp Organic electro-luminescent device and packaging process thereof
US8404500B2 (en) 2009-11-02 2013-03-26 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing light-emitting element, light-emitting element, light-emitting device, lighting device, and electronic appliance
KR20110060494A (ko) * 2009-11-30 2011-06-08 삼성전자주식회사 유기 발광소자
US8803857B2 (en) * 2011-02-10 2014-08-12 Ronald S. Cok Chiplet display device with serial control
JP5969216B2 (ja) 2011-02-11 2016-08-17 株式会社半導体エネルギー研究所 発光素子、表示装置、照明装置、及びこれらの作製方法
JP2013058562A (ja) 2011-09-07 2013-03-28 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 光電変換装置
CN102881712B (zh) * 2012-09-28 2015-02-25 京东方科技集团股份有限公司 一种阵列基板及其制造方法、oled显示装置
CN102903732A (zh) * 2012-10-12 2013-01-30 深圳市华星光电技术有限公司 有机发光二极管器件及相应的显示装置
CN104423137B (zh) * 2013-09-04 2018-08-10 联想(北京)有限公司 三维显示装置、显示方法和电子设备
TW201513334A (zh) * 2013-09-30 2015-04-01 Au Optronics Corp 電激發光顯示面板
CN103811503A (zh) * 2014-02-19 2014-05-21 合肥鑫晟光电科技有限公司 阵列基板及制备方法、显示面板
KR102360783B1 (ko) * 2014-09-16 2022-02-10 삼성디스플레이 주식회사 디스플레이 장치
KR102284756B1 (ko) 2014-09-23 2021-08-03 삼성디스플레이 주식회사 디스플레이 장치
US9781800B2 (en) 2015-05-21 2017-10-03 Infineon Technologies Ag Driving several light sources
US9974130B2 (en) * 2015-05-21 2018-05-15 Infineon Technologies Ag Driving several light sources
JP2018032018A (ja) 2016-08-17 2018-03-01 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置、表示モジュール及び電子機器
US9918367B1 (en) 2016-11-18 2018-03-13 Infineon Technologies Ag Current source regulation
CN107275342B (zh) * 2017-06-12 2019-11-08 京东方科技集团股份有限公司 一种显示装置及其制备方法
KR102684682B1 (ko) * 2017-12-27 2024-07-15 엘지디스플레이 주식회사 패널 내장형 게이트 드라이버를 포함한 표시장치
TWI650748B (zh) * 2018-03-02 2019-02-11 友達光電股份有限公司 顯示面板及顯示面板的驅動方法

Family Cites Families (56)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2050498A (en) * 1933-05-18 1936-08-11 Mitchell Robert Cross-word puzzle
US2782530A (en) * 1955-07-06 1957-02-26 Ramon G Larroca Crossword puzzle structure
US4356429A (en) 1980-07-17 1982-10-26 Eastman Kodak Company Organic electroluminescent cell
US4539507A (en) 1983-03-25 1985-09-03 Eastman Kodak Company Organic electroluminescent devices having improved power conversion efficiencies
JPS6290260A (ja) 1985-10-16 1987-04-24 Tdk Corp サ−マルヘツド用耐摩耗性保護膜
US4720432A (en) 1987-02-11 1988-01-19 Eastman Kodak Company Electroluminescent device with organic luminescent medium
US4885211A (en) 1987-02-11 1989-12-05 Eastman Kodak Company Electroluminescent device with improved cathode
US4769292A (en) 1987-03-02 1988-09-06 Eastman Kodak Company Electroluminescent device with modified thin film luminescent zone
JP2653099B2 (ja) 1988-05-17 1997-09-10 セイコーエプソン株式会社 アクティブマトリクスパネル,投写型表示装置及びビューファインダー
US4950950A (en) 1989-05-18 1990-08-21 Eastman Kodak Company Electroluminescent device with silazane-containing luminescent zone
US5288068A (en) * 1989-08-04 1994-02-22 Way With Words, Inc. Word game system
US5047687A (en) 1990-07-26 1991-09-10 Eastman Kodak Company Organic electroluminescent device with stabilized cathode
US5059861A (en) 1990-07-26 1991-10-22 Eastman Kodak Company Organic electroluminescent device with stabilizing cathode capping layer
US5059862A (en) 1990-07-26 1991-10-22 Eastman Kodak Company Electroluminescent device with improved cathode
US5073446A (en) 1990-07-26 1991-12-17 Eastman Kodak Company Organic electroluminescent device with stabilizing fused metal particle cathode
US5061617A (en) 1990-12-07 1991-10-29 Eastman Kodak Company Process for the preparation of high chloride tabular grain emulsions
US5661371A (en) * 1990-12-31 1997-08-26 Kopin Corporation Color filter system for light emitting display panels
JP2782020B2 (ja) 1991-05-28 1998-07-30 株式会社半導体エネルギー研究所 液晶電気光学装置およびその作製方法
US5151629A (en) 1991-08-01 1992-09-29 Eastman Kodak Company Blue emitting internal junction organic electroluminescent device (I)
JP2650543B2 (ja) * 1991-11-25 1997-09-03 カシオ計算機株式会社 マトリクス回路駆動装置
US5294870A (en) 1991-12-30 1994-03-15 Eastman Kodak Company Organic electroluminescent multicolor image display device
US5294869A (en) 1991-12-30 1994-03-15 Eastman Kodak Company Organic electroluminescent multicolor image display device
JP3191061B2 (ja) * 1992-01-31 2001-07-23 キヤノン株式会社 半導体装置及び液晶表示装置
WO1994000882A1 (en) * 1992-06-24 1994-01-06 Seiko Epson Corporation Thin film transistor, solid-state device, display device, and method for manufacturing thin film transistor
JPH06102530A (ja) 1992-09-18 1994-04-15 Sharp Corp 液晶表示装置
US5282631A (en) * 1992-09-22 1994-02-01 Baker Dorothee A Cross-word board game construction system and method
US5403762A (en) * 1993-06-30 1995-04-04 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method of fabricating a TFT
US5667438A (en) * 1993-04-22 1997-09-16 Rehm; Peter H. Method of constructing crossword puzzles by computer
JP2821347B2 (ja) * 1993-10-12 1998-11-05 日本電気株式会社 電流制御型発光素子アレイ
TW277129B (zh) * 1993-12-24 1996-06-01 Sharp Kk
US5798746A (en) 1993-12-27 1998-08-25 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Liquid crystal display device
JP3192546B2 (ja) * 1994-04-15 2001-07-30 シャープ株式会社 半導体装置およびその製造方法
JP2639355B2 (ja) * 1994-09-01 1997-08-13 日本電気株式会社 半導体装置およびその製造方法
JP3254335B2 (ja) 1994-09-08 2002-02-04 出光興産株式会社 有機el素子の封止方法および有機el素子
JP3187254B2 (ja) 1994-09-08 2001-07-11 シャープ株式会社 画像表示装置
EP0781075B1 (en) 1994-09-08 2001-12-05 Idemitsu Kosan Company Limited Method for sealing organic el element and organic el element
JP3062406B2 (ja) * 1994-10-26 2000-07-10 沖電気工業株式会社 直流型気体放電パネルのメモリ駆動方法
EP0717445B1 (en) 1994-12-14 2009-06-24 Eastman Kodak Company An electroluminescent device having an organic electroluminescent layer
JP3630489B2 (ja) 1995-02-16 2005-03-16 株式会社東芝 液晶表示装置
JPH09148066A (ja) 1995-11-24 1997-06-06 Pioneer Electron Corp 有機el素子
JPH1082994A (ja) * 1996-09-09 1998-03-31 Casio Comput Co Ltd 表示装置およびその駆動方法
JPH10104663A (ja) * 1996-09-27 1998-04-24 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 電気光学装置およびその作製方法
TWI236556B (en) * 1996-10-16 2005-07-21 Seiko Epson Corp Substrate for a liquid crystal equipment, liquid crystal equipment and projection type display equipment
EP0845812B1 (en) * 1996-11-28 2009-10-28 Casio Computer Co., Ltd. Display apparatus
JP3530362B2 (ja) * 1996-12-19 2004-05-24 三洋電機株式会社 自発光型画像表示装置
KR100226548B1 (ko) 1996-12-24 1999-10-15 김영환 웨이퍼 습식 처리 장치
JP3463971B2 (ja) 1996-12-26 2003-11-05 出光興産株式会社 有機アクティブel発光装置
JP3032801B2 (ja) 1997-03-03 2000-04-17 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置の作製方法
TW379360B (en) 1997-03-03 2000-01-11 Semiconductor Energy Lab Method of manufacturing a semiconductor device
JPH1154268A (ja) * 1997-08-08 1999-02-26 Sanyo Electric Co Ltd 有機エレクトロルミネッセンスディスプレイ装置
US6585585B1 (en) * 1998-04-24 2003-07-01 Joel Anthony Fletcher Mathematical puzzle game system and method
US6165543A (en) * 1998-06-17 2000-12-26 Nec Corporation Method of making organic EL device and organic EL transfer base plate
DE69934201T2 (de) * 1998-08-04 2007-09-20 Seiko Epson Corp. Elektrooptische einheit und elektronische einheit
US6512504B1 (en) * 1999-04-27 2003-01-28 Semiconductor Energy Laborayory Co., Ltd. Electronic device and electronic apparatus
US6198225B1 (en) * 1999-06-07 2001-03-06 Symetrix Corporation Ferroelectric flat panel displays
SG148032A1 (en) * 2001-07-16 2008-12-31 Semiconductor Energy Lab Light emitting device

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI452564B (zh) * 2011-02-10 2014-09-11 Global Oled Technology Llc 具積體演算電路的數位顯示裝置

Also Published As

Publication number Publication date
US6552496B2 (en) 2003-04-22
CN1967858A (zh) 2007-05-23
US20030214246A1 (en) 2003-11-20
KR20010029845A (ko) 2001-04-16
EP1065723A3 (en) 2006-05-24
US7256422B2 (en) 2007-08-14
CN1967858B (zh) 2011-05-25
TW515109B (en) 2002-12-21
US6380687B1 (en) 2002-04-30
CN1607872B (zh) 2010-12-08
KR100684481B1 (ko) 2007-02-22
CN1203556C (zh) 2005-05-25
CN1279518A (zh) 2001-01-10
US20080024069A1 (en) 2008-01-31
EP1065723B1 (en) 2011-08-31
EP1065723A2 (en) 2001-01-03
US7548027B2 (en) 2009-06-16
US20050006667A1 (en) 2005-01-13
US20020093290A1 (en) 2002-07-18
US6774573B2 (en) 2004-08-10
CN1607872A (zh) 2005-04-20

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