TW406504B - Unreliability detector apparatus and reproduction apparatus provided with the unreliability detector apparatus - Google Patents

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TW406504B
TW406504B TW087115578A TW87115578A TW406504B TW 406504 B TW406504 B TW 406504B TW 087115578 A TW087115578 A TW 087115578A TW 87115578 A TW87115578 A TW 87115578A TW 406504 B TW406504 B TW 406504B
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Johannes Otto Voorman
Johannes Wilhelmus M Bergmans
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Koninkl Philips Electronics Nv
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Description

406504 五、發明說明(i) 置ΐΠί置::靠性”裝置及具有此不可靠性谓測裝 較给入伫# & 不可罪性偵測裝置一般有二比較器比 為在對庫一正及一負門檻水平,&門捏水平 及零之^。同彳5唬及零信號水平間及最高負信號水平 正測器,,通常是由信號為正或為負所決定, 謂相當於一+i及一負信號相當於一1。理“ -100; ^ ^ ^ ^ a, P, ^ + 100,; 於正埃Λ ///號在近於+1GG%或―腦時應屬近 有丄t 信號近於零水平即為不正確定。 等於+Vd及相對應之',-決定>+Vd是謂 相應2+1及-決定<-Vd是謂相當於-1 β " 間為不易確定,此稱 =由決定之Η楹水平以,如增加⑽值刪除率;^ 如吾人考慮删除如不確定位元決定, 定位元決定成為較確定,此可由雙 ° 讓此不確 來完成之,刪為已知之技藝,器⑽Ε) 請:同-之申請人No,IB97/〇〇792 (PHN 15.8⑷際,利申 刪除取自輸入信號如一不可靠之取樣:正=删除’此 是可偵測到的。 ㊉^由位元取樣 根據本發明不可靠性偵測裝置包含— 在反應一輸入信號產生一不可靠之 奍丨生偵測裝置 决义彳§號,裝置包括 第9頁 C:\Program Files\Patent\54995. ptd 406504
-輸入裝置用以接收輸入信號, 第比較器裝置執行相當於比較輸入信號與一正極性之 第二^檻值(+vd)之功能及對此反應送出一第一比較器輪 出信號,在輪入信號超過第一門檻值該第一比較器輪出信 號由一第一信號值(~ι)改變至一第二信號值( + 1),及反之 第一比較器裝置執行相當於比較輸入信號與一負極性之 第=門檻值(-vd)之功能及對此反應送出一第二比較器輸 出信號,在輸入信號超過第二門檻值該第一 號由-第三信號值(])改變至一第四信號值 亦然, 二距離計算裝置執行相當於計算由第一及第二比較器輸出 h號之一距離值之功能,該距離值具有在一χ-γ平面在該 平面上一固定點及一曲線之距離關係,該平面上之該 在該X_Y平面上沿對應之Y-及X-軸由第一及第二比較器鈐 出信號之時間等值信號值繪出而得,由Χ-Υ平面形成之= 形成該曲線,在Χ〜Υ平面上之該固定點(匕)由該第一信號 值/口該Υ -軸及該第四信號值沿該轴繪出而得, -第三比較器裝置執行相當於比較該距離值與一距離門俨 值之功能及在該一距離值未超過該距離門梭值二 靠之決定信號。 时屋生不可 另一具體裝置,根據本發明之具體裝置包含一不可 測裝置對一輸入信號反應產生一不可靠決定信號,裝置包
406504
輸入裝置用.以接收輸入信號, _第一比較器裝置執行相當於比較輸入信號與—正 第一門檻值(+vd)之功能及對此反應送出一第一比 出信號,在輸入信號超過第一門檻值該第_比較 3 號由一第一信號值(-1)改變至一第二信號值(H :2 亦然, 久汉之 -第二比較器裝置執行相當於比較輸入信號與負極性之一 第二門檻值(-vd)之功能及對此反應送出—第二比 出信號,在輸入信號超過第二門檻值該第二比較器輸出 號由一第二b號值(-1)改變至一第四信號值(+ 1),及反之 亦然, -處理裝置執行相當於判定一曲線是否在χ_γ平面内之功 能,該平面上該曲線由第一及第二比較器輸出信號之時間 等值信號值在該Χ-Υ平面沿相對應之丫_及卜軸繪出而得, 至少有一共同點於該χ-γ平面之預判定線上,該預判定線 臥於该Χ-Υ平面之一半平面上由第一線相互連接一第一固 定點及一第二固定點而形成及其中第三固定點即置於半平 面亡:該第一固定點(P1)由該第一信號值沿該γ_軸及該第 二S號值沿該X-轴繪出而得,該第二固定點(Ρ ) 一 信號值沿該Υ-軸及該第四信號值沿該厂轴繪出而得二在該 Χ-Υ平面之第三固定點(Ρ3)由該第一信號值沿該γ_軸及該 第四信號值沿該X-轴繪出而得,該預判定線臥於該半平面 第一線及該第三點之間,處理裝置進—步在合於偵測該曲 線與該預判定線上至少有一共同點時產生不可靠之決定信
C:\Program Files\Patent\54995. ptd 第11頁 406504 五、發明說明(4) 號0 本發明基於下述之認知。假定一理想之第一及第二比較 器裝置之行為其可能為門閂之形式,二比較器達成一相同 之決定。此意即:假定此比較器反應時間相比於位元頻率 週期為短,此決定在上述限定之X-Y平面上之第—點及第 二點間前後移動。 無論如何,當比較器裝置之反應時間與位元週期次序相 同之一情況時,決定曲線脫離以上所限定之在χ_γ平面上 之第一及第二間之直線。以上所限定2Ρ3 一刪除一致。一 般,決定曲線在當每一輸入信號之極性轉變經過第一及第 一點及臥於第一第二及第三點所形成之三角内,曲線至點 h之距離較短,則一刪除之機會越大。 根據本發明,當每一輸入信號之極性轉變時,可決定出 由點已至決定曲線之距離及該距離與一距離之門檻值之比 k ,當其判定該距離較距離門檻值為小時, =得之輸入信號,且此輸入信號之取得為—位元= 樣可視為不可靠。在第二具體裝置中,其判定在於在該 平面上決定曲線與預判定線是否至少有—共同點。當 ::線與該預判定線至少有一共同點時當該一瞬間時間其 - m貞測輸人信號,此輸人信號取得之取樣視為不 體裝置圖面解說及 具體裝置及圖lb示 本發明之這些及其他方面可由以下具 以下說明當能了解,其中 圖1 a示出不可靠性偵測裝置之一第一
C:\ProgramFiies\Patent\54995.ptci 第 12 頁 一406504 五、發明說明(5) 出不可靠性偵測裝置之一第二且 圖二圖W示出一與時間有關之;貞 之一例’在圖2b中偵測裝置第— 之輪入仏號 反應之輪出信號及圖2 c中斟5第单7°對輸入信號 元之輸出^ 對輪入信號反應之第—比較器單 =3不出一想像之χ_γ平面上如圖213及以所得沿X 軸於此平面繪出之比較器單元之輸出信號, 圖4之圖4a示出-與時間有關之偵、測裝置之輸入 -例’在圖4b中偵測裝置之第二比較器單元對其他榦1^ 號反應之輪出信號及圖4C第一比較器單元對其他輸二芦; 反應之輸出信號, ° & 圖5不出想像之χ-γ平面由此平面沿χ_&γ_軸繪出如圖4b 及4c所得之比較器單元之輸出信號, 圖6在圖lb之裝置中一精心之作文處理單元η, 圖7不出圖1之偵測裝置併入一由一記錄載具讀取資之 裝置,及 圖8再次在χ-γ平面二曲線在輸入信號下具有二極性轉換 之特性。 圖1示出不可靠性偵測裝置之一具體裝置,裝置包含一 輸入端子1接收輸入信號,此輸入端子耦合至第一比較器 單元2及一第二比較器單元4之一輸入上。第一比較器單元 之一第一輸入搞合至一端子6可利用此一端子接一第一門 檻值+ Vd。第二比較器單元4之第二輸入搞合至一端子8可 利用此端子接一第二門檻值_Vd。第—及第二比較器單元
C:\Program Files\Patent\54995. ptd 第13頁 406504 五、發明說明(6) 耦i至相對應之一距離計算單元10之輪入上。 π 1二有一輪出耦合於—比較器單元12之一第一輸 —端子2較盗12之第二輸入耦合至一輸入端子丨4可利用此 子比較器12之一輸出輕合至-輸出端 了利用此一端子得一不可靠之決定信號。 近圖==一裳置之具體裝置,顯示與圖1a裝置甚為相 九與圖la裝置不同之處為提供一處理單元 算;元10及比較器單元12,其有-輸出輕合至 出&子16以提供不可靠之決定信號。 二具體裝置之功能將於以下進一步加以說明。 :-比較器單元2比較輸入信號與第—門檻值+ Vd在對此 反應达出-第一比較器輸出信號至其輸出。第二比較 疋4比較輪入信號與第二門檻值對此反應 =輸出信號至其輸出。第一及第二比較器單元2及第二 月b再進一步參考圖2及3及參考圖4及5進—步說明之。 、圖2a示出當輸入信號之一反轉極性時,輸入信號之一 分如—時間之函數。圖2a進一步揭示相對應之第一二 門檻值+ Vd及-\。圖21)示出圖解之比較器單元4之輸出俨號 如一時間之函數及圖2c示出圖解之比較器2之輸出信號°如;u 函數。在瞬間時間t。時比較器單元4之輪出。信號 5越ο由一負水平(要求之第三信號水平)如水平―丨改 至一正水平(要求之第四信號水平)如H。在瞬間時間t 比較器單元2之輸出信號跨過+ Vd由一負水平(要求之第|一听 h號水平)如水平-1改變至一正水平(要求之第二作號水
C:\Program Files\Patent\54995. ptd 第 U 頁 406504 五、發明說明(7) " " " ~~—----- 平),如+ 1。 號=出一想像之Η平面由第-比較器單元2之輸出信 X’ ::山之Υ_軸及第—比較器單元4之輸出信號沿水平之 X轴繪出。比較器單元2及4之給屮栌觫 相併合以形成[Υ平面上各點二出點 等值信號值 六_ · * 兮‘ 5該點形成Pi至卩2間之曲魄。 ::較器單702及4之輸出信號有一輸出值為 J有,瞬間時,之特性情況,一如在瞬間 之情 况。在二比較器單元2及4之輪出信號有 。清 點Pz具有遲於瞬間時間t2之特性愔:牙,—值f + 1時, 之情況。當輸入信號跨過門#二時二如在,間時Μ ^ , . y 〗板值 + Vd時,在點P1及P2間曲 ,、他點為匕“1)具有士1之特性情況,及當比較器里- j ^出信號達到水平Η時點匕⑹具有之特性情況二= 換時所循曲線之方向為沿由Pl至&。 田轉 假定在圖2a所示之輸入信號之2部分,此部分包 極性至-正極性之極性反轉,為近於時間轴—反像=負 子。此反像之鏡子造成由一正極性至一兄 此一曲線為通過沿一由Pz至Pi之方向。 ’ 所不 圖4 a再示出當極性反轉輸入信號一部份如— 數,與圖2&加以比較圖4a中極性反轉較慢 _山 較器單元4之輸出信號如—時間之函數圖::出, 出比較器單元2之輸出信號如—時間之函數之=^再不 圖5再示出想像之X-Y平面中第—比較輸 號沿垂直Y-轴緣出及第二比較器單元4之輪出信
C:\Program Files\Patent\54995. ptd 第15頁
—406504 五、發明說明(8) X~轴纷出。當二比較器單元2及4之輸出信 f兄有,間時叭。之特性情況,一如4:二,3 虽:比較器2及4之輸出信號有+ 1之輸出點。月 有在辑間時間遲於t之特性情況。 :點匕具 况。當輸入仁祙技L行r贯/兄 士在瞬間時間t13之情 田輸入k號跨過門檻植+Vd時在點Ρι^間之其他3馆 私4 (t„ )具有瞬間時間之特性情況及當比較器/單^ ’、’、 輪出信號達到水平+1時點p5(ti2)具有此—特性之情況之 清ΐΓΛ5?%曲Γ至點P3有某一距離D,比較圊3與5可以 =及點P5間時間區間取出之輸入信號,由p3至曲線2 離D愈小’取樣之不可靠性愈大。 、,f HU”離計算器10適用於計算該距離D,此距離值 2比較盗早兀1 2之第-輸入’比較器單元1 2比較計算距 士與一距離門棰值T,當距離D計算出較該門植值τ為小 ’比較器單元12在其輪出端子產生一不可靠之偵測信 號。 圖3與圖5中所示之曲線為理想曲線,較實際之曲線則如 ㈣斤示。圖8示出點Ρι&ρ』二曲線[μ,不同形狀之輪 入k號之具有二極性變換之特性,對偵測由輸入信號取得 之-取樣為不可靠或非’可用不同於#經如以上解說過有 關圖la之具體裝置之方式’即可利用圖lb之具體裝置。 圖lb具體裝置之處理單元n之功能現解說如下。處理單 元11適用於執行相當於列定如圖中曲線Ci叫之一曲線是 否在該X-Y平面上與1定判定線至少有—共同點之功
406504 五、發明說明(9) 能’此線在圖8中以線1示出。 線1臥於受限之由點Pi及匕連接線形成之該X-Y平面上之 一半平面中,點P3即位於其中之半平面上,見圖8。 更特殊者’線1臥於該半平面並於Pi及?2之連線及該點p3之 間,由圖8,可以了解曲線C2與線1至少有一共同點。處理 單元11在達成曲線C2與1最少有一共同點時即合於產生不 可靠之決定性信號。取自在一時間間隔相當於沿己至h之 時間間隔之輸入信號之取樣現可認為是不確定。 圖6示出圖lb —精心設計之處理單元11。單元n包括— 第一電晶體對Τη ’ Tq,其射極互相連接,及第二電晶體 對Τι*3,Τι*4其射極亦相互連接。電晶體為NPN型電晶體。電 晶體對Τη,Ti"2之基極耦合於端子以記號22表示,為處理 單元11之第一輸入。電晶體對卜3 ’τη之基極耦合於端子 以記號24表示,為處理單元η之第二輸入。二電晶體 射極相互連接後分別經相對應之電流電源丨耦合至’ 之一點上,如接地。 电位 電:HRl及。4之集極相互連接並經一電抗R耦合至定 合至疋電壓( + 1)之第二點。此相互 /耦 :至端子,以26表示之,形成處理單元= =源及τ =,可简合於定電位之第-點及V :ί 3 相互連接而得。電流電源T可判定士電 ”線1㈣相關位置之電流,如圖8所示。在本且 ’線1垂直於線"3。電流電源Τ之電流幅度之變化結^
406504 五、發明說明(10) 變動線1與〇-P3之方向。 當由曲線&所致之極性轉換特性時,在 號極性未變。此表示當此轉換時位元偵測^子之信 C!曲線C2為線丨交割所致之極性轉換特性J ^ *曲線 之信號極性結果為變化。此為一表示,輪出端子26 取自輸人信號之取樣之反應可能為不可靠^㈤當轉換時 上述之不可靠性偵測裝置可用於由一記 上。此一裝置示出圖7。讀取裝置包含-讀取取單資訊 ?自-.己錄載具32如-磁力記錄載具,讀取:早疋 早儿包含-讀取頭34自記錄載32以讀取資料。^ j取 36提供而獲得送至不可靠性項測裝置2〇之:广輸出 亦送至已知技藝之位元债測器單元4〇。不可靠::1’並 2〇之輸出端子1 6耦合至位元偵測單元4〇之—控制^ ^置 42上。位疋偵測單元40之_輸出44耦合 :▲:二 端子46上。 貝取装置之輸出 不可靠性债測裝晉20之輪出信號送至位元 之控制信號輸入42上。在對來自裝置2。送出之; 偵測信號反應,位元福測單元4G當不可靠性 ^ 無債測信號時將發出可為—不修改之位元,或•為= 一不可靠之決定信號目的為校正此位元時;1 =,,,、發生出 校正之步驟。 Μ正此位兀時執仃在位元上— 不裝置已加以說明,應可了解此為 不限疋之例。因而,由此—技藝之技術在不背離 範圍下可能有許多修改出現,如申請專利範圍之限^即為
406504 五 發明說明(11) ' '____ -例’在申請專利範圍其限制為第一比 一相當於比較輸入信號與一正極性 、置執行 對此反應送出一第—比較琴於^ 帛n檻值之功能及 執仃-相當於比較輸入信號與負,裝置 及對此反應送出—第二比較器輪出信J第:之功能 多之途徑實現此-作用之可能。 ^可有甚 述說明即為途徑之一。且其他二 參考圖1如上 _於輸入信號上及比較:他獲途得::屬// ’如力…電 -零門檻值,及由輸入信號上獲:去之=::較單元4之 信號與比較器單元2之一零門檻值。 d及比較獲仔之 進而,本發明存在於每—及任— 上。 新賴特點或特點之合併

Claims (1)

  1. 406504 六、申請專利範圍 1.—種對一輸入信號反應產生一不可靠之決定之不可 靠偵測裝置,裝置包括: - 接收輸入信號之輸入裝置, -第一比較器裝置(2)執行一相當於比較輸入信號 與一正極性之第一門檻值(+ Vd)之功能及對此反應送出 一第一比較器輸出信號,該第一比較器輸出信號在輸入 信號超過第一門檻植時由第一信號值(-1 )改變至一第二 信號值(+ 1),及反之亦然, -第二比較器裝置(4)執行一相當於比較輸入信號 與一負極性之第二門檻值(-Vd)之功能及對此反應送出 一第二比較器輸出信號,該第二比較器輸出信號在輸入 信號超過第二門檻值時由一第三信號值(-1)改變至一第 四信號值(+ 1 ),及反之亦然, - 距離計算裝置執行相當於計算一由第一及第二比 較器輸出信號之距離值之功能,該距離值具有在X-Y平 面上一固定點及與在該平面上一曲線之距離關係,該曲 線在該平面上由第一及第二比較器輸出信號之時間等值 信號值在X-Y平面之相對應之Y-及X-轴繪出而得,在X-Y 平面之該固定點(P3)由該第一信號值在X-Y平面沿該Y-軸及該第四信號值沿該X -軸繪出·而得, - 第三比較器裝置執行一相當於比較該距離值與一 距離門檻值之功能,及在該距離值未超過該距離門檻值 時產生不可靠之決定信號。 2. —種對一輸入信號反應產生一不可靠之決定信號之
    L:\EXT\54\54995. PTD 第20頁 406504 六、申請專利範圍 不可靠性偵測裝置,裝置包括: - 接收輸入信號之輸入裝置, -第一比較器裝置(2)執行一相當於比較輸入信號 與一正極性之第一門檻值(+ vd)之功能及對此反應送出 一第一比較器輸出信號,該第一比較器輸出信號在輸入 信號超過第一門檻值時由一第一信號值(-1 )改變至一第 二信號值(+ 1 ),及反之亦然, -第二比較器裝置(4)執行一相當於比較輸入信號 與一負極性之第二門檻值(-Vd)之功能及對此反應送出 一第二比較器輸出信號,該第二比較器輸出信號在輸入 信號超過第二門檻值時由一第三信號值(-1 )改變至一第 四信號值(+ 1 ),及反之亦然, - 處理裝置執行一相當於判定一曲線是否在一 X- Y 平面上,該平面中該曲線由第一及第二比較器輸出信號 之時間等值信號沿該X-Y平面對應之Y-及X-轴繪出而 得,與在X - Y平面上之一預判定線至少有一共同點,該 預判定線臥於X - Y平面之一半平面内,由第一線互相連 接一第一固定點及一第二固定點所形成及在其中半平面 位有之一第三點,該第一固定點(P,)為由該第一信號值 沿該Y -軸及該第三信號值沿該X -軸繪出而得,該第二固 定點(P2)為由該第二信號值沿Y-轴及該第四信號值沿該X -轴繪出而得,在X-Y平面之該第三固定點(P3)為由該第 一信號值沿該Y -軸及該第四信號值沿X -軸繪出而得,該 預判定線臥於半平面該第一線及該第三點之間,處理裝
    L:\EXT\54\54995. PTD 第21頁 4〇65〇4 '申請專利範圍 線與該預判定線至少有一共同點時產生不可靠之決定信 號。 3·如申請專利範圍第2項之裝置,其中該處理震 含: 一—第—輪入端子用以接收該第一比較器輸出信號及第 —輸入端子用以接收該第二比較器輸出信號, 第一電晶體對具有第一主極相互連接及且有其控 制極耦合至該第—輸入端子上, …、 第一電晶體對具有第一主極相互連接及具有其控 制極耗合至該第二輸入端子上, 第—及第二電晶體對之一電晶體之第二主極相互連 二第一及第二電晶體對之另一電晶體之第二主電極相互 土種對輸入信號反應產生一不可靠之決定信號之不 0 Λ性偵測裝置,該裝置包含: 接收輸入信號之輪入裝置., 梅Ϊ 一比較器裝置執行一相當於比較輸入信號與一正 _Λ 一門檻值( + Vd)之功能在對此反應送出一第一比 二ϋ號:輸入信號超過第一門檻值該第-比較器 信號值㈠)改變至-第二信號值⑴), 久久 < 亦然, 極性之第:裝ν置、執行一相當於比較輸入信號與-負 ,Λ ^ ^ . 檻值(V<1)之功能在對此反應送出一第二比 唬,在輸入信號超過第二門檻值該第一比較器
    406504
    第四信號值( + 1) 六、申請專利範圍 輸出信號由一第三信號值(-1)改變至 及反之亦然, 一處理裝置,包含: (a)第—輸入端子接收該第一比转哭μ 一輪入端子接收該第二比較器輸出信號,益輪出信號及第 ^ ^ (b)—第—電晶體對具有相互連^之楚 有其控制極耦合至該第一輸入端子, 第—主極及具 .^ (c) 一第二電晶體對具有相互連接之笛^ α 有其控制極耗合至該第二輸入端子連接_之第-主極及具 之一電晶體之笙- 昂 及第一電晶體對 =曰曰體之第—主極相互連接,第 另一雪異雜*>够 外—%日日篮對之 力电日日體之第二主極相互連接, (d)送出不可靠信號之一輸出。 二=士利範圍第3項或第4項之裝置,其中處理裝置 00 y匕括一耦合至一相互連接之第二主極之電流發生 器0 6. —種自一記錄載具讀取資訊之裝置,裝置包含: —自該記錄載具讀取一信號之讀取裝置, -在該信號中偵測位元之偵測裝置, 輸出裝置送出該位元資料,其中之裝置有本申請專 利範圍中申凊專利之第丨,2及4項提供之不可靠性偵測 置。
    C:\Program Files\Patent\54995. ptd 第23頁
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