TW320770B - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
TW320770B
TW320770B TW086103708A TW86103708A TW320770B TW 320770 B TW320770 B TW 320770B TW 086103708 A TW086103708 A TW 086103708A TW 86103708 A TW86103708 A TW 86103708A TW 320770 B TW320770 B TW 320770B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
substrate
metal
patent application
semiconductor element
semiconductor
Prior art date
Application number
TW086103708A
Other languages
English (en)
Original Assignee
Ericsson Telefon Ab L M
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from SE9601119A external-priority patent/SE9601119L/xx
Priority claimed from SE9601444A external-priority patent/SE9601444D0/xx
Application filed by Ericsson Telefon Ab L M filed Critical Ericsson Telefon Ab L M
Application granted granted Critical
Publication of TW320770B publication Critical patent/TW320770B/zh

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/52Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames
    • H01L23/522Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames including external interconnections consisting of a multilayer structure of conductive and insulating layers inseparably formed on the semiconductor body
    • H01L23/5222Capacitive arrangements or effects of, or between wiring layers
    • H01L23/5225Shielding layers formed together with wiring layers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/70Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
    • H01L21/71Manufacture of specific parts of devices defined in group H01L21/70
    • H01L21/74Making of localized buried regions, e.g. buried collector layers, internal connections substrate contacts
    • H01L21/743Making of internal connections, substrate contacts
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/552Protection against radiation, e.g. light or electromagnetic waves
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/58Structural electrical arrangements for semiconductor devices not otherwise provided for, e.g. in combination with batteries
    • H01L23/585Structural electrical arrangements for semiconductor devices not otherwise provided for, e.g. in combination with batteries comprising conductive layers or plates or strips or rods or rings
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)

Description

經濟部中央棵準局負工消費合作社印装 320770 A7 _ B7 五、發明説明(1 ) 技術範圍 本發明相關的是半導體元件和其製造的方法,且特別是 有關於元件的基板通路與電子屏蔽。此外,也和排列基板 通路的方法有關。 發明的背景和先前技藝 矽晶元件的製造都是緊密封裝而成的,所以,避免在同 一矽晶基板上不同區元件問不必要的電子耦合,是非常重 要的。這種發生於不同區元件間不必要的電子耦合或是漏 電流,在製造所謂混合模式的類比數位積體電路(IC)時, 常常造成一些困擾’不同線路區之間的漏電流,會從連接 導體間的電容耦合或是基板耦合中產生。對於如何利用基 板來減少漏電流的一些方法,已經可在一些發表的論文上 看到,例如,佐達(K. Joardar)發表在IEEE Γ固態電路」 期刊vol. 29 ’ 1994,1212頁的「積體電路中模擬漏電流的 一種簡單處理方法」。 所有這種技術的描述,其共同的特徵就是,利用不同形 態的絕緣方法結合基板的導通’來抑制漏電流的發生。除 了需要在各別元件之間有很好的絕緣效果外,爲了達到最 好的效果,基板通路的電阻越低越好。 上面提到的論文中,其方法的缺點就是;因爲使用摻質 的P-型矽晶接腳,金屬與基板間的導電電阻非常高。該p_ 型矽晶的擴散層必須有幾個;um深,以確保高密度摻質基 板與金屬間的導通。但是它需要結合長時間與高溫的擴散 過程,這種過程對現代製造元件低溫成本的要求,不切實 本紙張尺度逋用中固囷家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) —^ 裝 訂 I 線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) A7 B7 32(5770 —------- 五·、發明説明(2 最後要提的但不是最重要的是;P+_型的擴散;也就 疋所謂的護環結構,需要足夠的空間,因爲橫向與縱向的 擴散過程是同時發生的。 概要 本發明的目的是要克服製造半導體先前技藝中產生的缺 點,也就疋提供半導趙元件中基板的低電阻.通路。 g更進一步的目的就是提供一種方法,可以在一個或— 几件區之間安置基板通路,形成很好的電子屏蔽。 達成這些目地的方法,是利用金屬形成的基板通路,往 下延伸到下層的半導體物質,直到基板。更進一步的,就 是延著元件或元件區,以緊鄰的間隔放上一些這樣的金屬 通路,這樣就可以形成有效的電子屏蔽來避免耦合或是漏 電流。 如此’藉著利用基板表面不同的底部結構,以一種普通 的方法就可以得到一個半導體元件。基板與元件的表面或 是隔壁元件’藉著一種良導體,以接腳的形狀接通,形成 電通路。下層的物質可以不同於基板,基本上是半導體且 可以有不同的择質形態。通路最好是金屬,—定要從基板 的内部延伸到元件或是隔壁元件表面緊鄰的一個區域。此 外,接腳必須非常深入到基板,而不只是到基板中的p_N 接合面^ 一些這種接腳最好延著半導體元件的表面排列, 這樣可以形成元件的電子屏蔽。再者,這些接腳的上端最 好是利用一層導體或一條路徑接通,最好是高導電度物 質,特別是金屬》 -5 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) ----Γ7--Ί—----裝------訂------線 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央樣準局貝工消費合作社印製 A7 B7 320770 五、發明説明(3 ) 接腳的製造’首先挖適當形狀的孔’之後再填入導 物質。 接腳的填人,最好與半導趙上其它不同的導電電接同時 填入。孔有的直徑,甚至有斜對角—般最大的尺寸, 但基本上必需符合孔的導電作用應有的大小。皋論如何, 孔的直徑必需埤當,以便在製造過程中,導'趙能完全填入 孔中。 前面所提的接腳也可以放置在半導體結構中,形成導電 訊號的電子屏蔽。這種接腳的放置必需非常緊密,才可以 成爲很好的橫向屏蔽。而在訊號導體上面或下面塗上適當 的金屬層,可形成縱向的屏蔽。它可以與結構中其它金屬 層的形成同時植入。且接腳與這些金屬層最好連成電路。 圖式説明 現在我們藉由沒有限制的例子,以及附加的圖式來描述 這個發明: -圖la-lc説明的是,製造基板通路方法中的幾個步樣。 • 圖2描述的是,爲了元件屏蔽,一些基板通路被安排 過的全貌〇 - 圖3是有屏蔽的電訊導體。 囷4是相同基板上’數個元件排列在一起的全貌。 圖5是一個截面圖’它顯不藉由基板通路形成的橫向 屏蔽,以及上層金屬面形成的縱向屏蔽。 較佳實施初乏説明 圖la-lc説明的是製造基板通路的步驟。這些圖描述 -6 - 本紙張尺度適用中國國家搮準(CMS ) A4规格(210X297公釐) ----Z-------^-------ΐτ------.^- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局貝工消费合作社印装 Β7五、發明説明(4 ) 320770 Μ 經濟部中央搮準局負工消費合作社印装 NMOS基本流程中基板通路的製造。在另外一種應用領域 上;也就是製造無線電傳播用的雙極性元件,這種製程特 別重要。此外,製造CMOS以及雙極性元件時,也可以在 這種方法上做一些改變。 圖la説明矽晶基板101上一塊導電區,例如LOCOS (局 部氧化矽),這種基板可以是其它種類的丰導體,例如 鍺、砷化鎵、碳化矽,以及磷化銦。基板的上面有一層碎 磊晶層’通常是5-10 Mm厚。圖中也有顯示場氧化層的區 域 102 〇 再者,如圖lb’上面有一個熱成長形成的薄閘門,它 是一層複晶碎艘膜105。爲了形成一道閑門,它可以是高 密度掺質的N-型複晶矽。形成閘門的方法有雕像術與乾 蝕。閘門蝕刻完成後’雜質的佈植;例如砷或是峰,以及 源極、汲極107的擴散植入,會以—種自動排列的方法進 行。 下一步,是沉積一面防護層1〇9,有可能再加上一層硬 式護罩111 ’且最好是氮化矽或是氧化矽,再一層就是加 在晶圓上的光阻。爲了構成基板通路,這個光阻層會由雕 像術形成某種圖案,這種圖案有可能是元件上全部或部份 區分通路的架構。後者所提的,類似於前面引用的論文中 所謂的P+-型護環結構。 w 光阻圖案上有一些由乾蝕刻方法形成的、寬的開 口’穿過硬式護罩與氧化層,這裡所提的是沉積的 與熱成長形成的場氧化層。之後,利用_種非 ^ 本紙張尺度適用中國國家橾準(CNS ) A4規格(21〇χ297公釐) n. M I J n 裝 n 訂 線 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁} 320770 A7 A7 B7 五、發明説明(5 ) 刻法’拿掉光阻。非同軸衫晶蝕刻很深,通 深,以致於能通到底層高密度㈣的p+_型基板;^ 刻後,可能有触刻殘留物質,例如聚合物或其它雜;成麵 以利用乾式清潔(電漿條)與濕式化學清潔的组合,太可 些雜質。圖示lb就是這些製程之後的元件結構。π這 *接觸孔的圖形.蝕刻完成後,再鋪上一層光.阻於晶圓上, 等接觸孔蝕刻完成後,光阻又被清除,再利用焱式清潔 (電漿條)與濕式化學清潔的组合,把一些光阻殘留物與有 機物清掉。而硬式護罩及—般的濕式化學清潔,也經由蝕 刻清除,接下的製程就如前面所知的製程進行。然而,當 接觸孔的蝕刻進行時,它會穿過氧化防護層,深入矽晶, 通常約5 "m深,或至少比最深的?1^接面還深。爲了要使 兀件正常運作,一般接觸孔的蝕刻只做到矽晶表面,因此 只穿過防護層。 如囷lc所示,有一個接觸金屬層113,例如鈦、鉑或是 銘’被沉積成爲通路,大約〗〇〇〇 A.U.厚,沉積方式是利 用連貫的濺鍍’例如離子化金屬電漿0ΜΡ )或是可矽化的 物理性聚合。中間層的連接是另一層薄金屬115,大約5〇〇 A.U. ’是利用反應式濺鍍或是CVD技術沉積而成的。因爲 接觸孔必須利用CVD技術同時填入金屬;最好是鎢,這種 所謂的擴散栅被沉積在晶圓上,最好是氮化鈦。爲了確保 與矽晶園良好的金屬接處,該金屬通路與矽,可以在高溫 下形成合圣,因此,如上所提,通路區會製造出矽金屬。 金屬通路與擴散柵沉積完後,金屬通路會藉由RTP (快速 8- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4规格(210X 297公釐) 〔靖先聞讀背面之注意事¾再填寫本頁> -β 丁 經濟部中央標隼局員工消费合作社印製 % 經濟部中央標準局貝工消貧合作社印東 A7 _________B7 五、發明説明(6 ) 加熱過程)或是傳統的烘烤過程矽化β 利用CVD技術完成晶圓通路構造;也就是鎢的沉積之 後,CVD的鍍膜是同時進行的,如果沉積的金屬通路與接 觸孔的大小一樣,接觸孔119及基板電路117就會過度沉 積(插入)。對同一種電路不同元件間相同通路的金屬化與 鉾型,爲整個製程的最後步驟。圖所示就是其最後的 結果。 金屬通路也可以座落在沒有氧化層1〇2的位置,就如圖 所示的金屬通路120。 利用前面敘述的方法,就可以得到一種低電阻的基板金 屬通路。該基板金屬通路也可以有屏蔽欄的功能,它可在 個 '別元件間或是不同组元件間形成遮蔽欄。因此也可以提 供抑制漏電流這種特別的功能。 不同於前面提到的實施例,另一種選擇例如均勻摻質的 型或1ST型矽基板,也可以採用如前面P+/P-·型磊晶的方 式。如果要使用這種低密度均勻摻質的晶體,必須在基板 通路的底層,加上另外一次的摻質擴散,以確保低電阻通 路0 前面描述的實施例所形成的低電阻基板通路,比早期利 用擴散方式形成的基板通路,有更佳的功效。在某些特例 中,摻質的複晶矽也可以形成爲基板的通路。然而,最後 提到的兩個例子都會製造出比較高的電阻。目前CMOS以 及雙極元#的製程中,穿孔到基板的内部,再填入導電體 例如金屬 '複晶矽等等的方法,已經很容易實行,現在只 -9- 本紙張尺度逍用中國國家搮準(CNS )八4規格(210X297公釐) ' ' H.! ™T J— II^各 I,. 訂 r 線 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 32077ο ------------- 五、發明説明(7 ) 需要多加護罩以及下_步非同軸矽晶蝕刻的過程而已。 這種約6 深的基板通路與其它標準通路的填入是同 時進行的,例如嫣_CVD的填入。其它種㈣金屬,例如 鋁铜等等,也可能以CVD技術方法沉積而成,其工作方 式是相同的。 因β爲具有以金屬爲通路的優點,金屬與基板的導通電阻 變得非常低。而且可以有低溫成本預算。最後但並非不重 要的一點,就是比傳統的技術節省更多的空間,因爲已經 没有橫向的擴散,更値得一提的優點,就是基板通路與其 它一般通路是同時填入的,所以不需要額外的製程步驟。 此外,基板通路間的位置可以很靠近,以致於元件或元 件组就好像放在一種屏蔽欄内,而提供一個最佳的電子屏 蔽。因此,可以説這種方法也提供了元件内可能的電子屏 蔽效應。 經濟部中央橾準局舅工消費合作社印製 圖2中,説明了一個半導體在這種原則下,形成的屏 蔽。一個元件或一組元件201在基板203的上面,在這個 元件或是這組元件的外園有很多孔深入到基板2〇3内,之 後,如前面所提的方法,這些孔被填入金屬成爲金屬接腳 2〇5,這些金屬接腳205會連接其本身上端的導體2〇7成爲 通路。深入的基板通路更可以與傳統的溝槽隔離2〇9結 合,而得到最好的絕緣,並成爲很好的屏蔽。它是製造無 線電應用方面的先進積餅電路必要的構造。 這種基;t通路也可以在半導體結構中,電訊導體的橫向 屏蔽。它形成的方式,是依前面説明的方法,在電訊導體 -10- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) A7 B7 經濟部中央梯準局負工消費合作社印製 五、發明説明(8 ) 兩邊沉積金屬接腳。它也可以採用傳統的方法,在垂直方 向沉積金屬層形成電訊導體的縱向屏蔽。 囷3描述的,就是半導體結構中依這種原理,形成的導 禮301屏蔽導禮3〇1被安排在兩個金屬面3〇3與305之 間,一在上,一在下,形成縱向的屏蔽。此外,導髏的兩 側有很多孔延伸到下層的金屬面3〇5,並填入金屬。以這 種方法形成的金屬接腳,如果彼此間隔夠緊密,它可以形 成電訊導體的橫向屏蔽。金屬接腳的頂端也可以如圖2所 示,連接電導體,在此沒有表示出來而已。 此外,圖4表示的是同一基板上兩組半導體元件4〇1與 403的全貌,它們彼此以及和環境間,藉由基板通路4〇5 形成展蔽。這個實施例中基板·通路405以三重排列圍著元 件组,目地是爲了有更好的屏蔽。更進一步地,在此實例 中’訊號導體可以放在基板通路4〇5排舆排之間,成爲電 訊導體的屏蔽。這種基板通路基本上也具有二次截面空 間,且每排接腳間的距離可以是接腳厚度的50〇/〇到1〇〇0/〇 之間。 最後,囷5表示的,是元件以及元件組間,如何藉由前 面所提的.基板通路結合元件上層的金屬面形成展蔽。如 此,圖5描述的是一個矽晶基板501上多個元件的排列。 這個例子中’元件間藉著傳統的溝槽503填入絕緣的複 晶,以及填入鎢並深入基板的基板通路505,而形成橫向 的屏蔽。…' 而且,在最上面的氧化保護層507上,有一個附加的金 ----:---;-----裝-- (請先M讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 線
A7 B7 五、發明説明(9 ) 屬層509接地,其目的是爲了提供基板上的元件垂直向上 的異蔽。以這種方式就可以得到環繞元件周圍的屏蔽欄。 金屬屏蔽層509不一定是封閑的,它只要能夠覆蓋大部 •份的區域,形成很好的縱向屏蔽就可以了。反之,如果在 金屬層上打孔511,可能有好處;也就是防止或降低金屬 層脱落的危險。 ----:---;-----f------------# (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央梯準局負工消費合作社印裝 _ -12- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐)

Claims (1)

  1. 320770 六、申請專利範圍 i·:種排列在基板上的半導體元件,包含基板以及半導體 基二’的:子連接,其特徵爲這種連接包括-種有別於 基二艮導電性接腳;特別是金展接腳,延伸在基板内 部輿半導趙表面層之間。 2·:!申:專利範固第1項之元件’其特徵爲這種接腳延 基板内部,而不是只到基板面或是PN-接合面。 3. 一種排列在基板表㈣半導體元件,其特徵爲很多接脚 裝 從基板的内邵延伸到半導體元件的表面,形成半導體元 件的電子屏蔽。 4 «中請㈣項之元件’其特徵爲這種接腳延 伸深入基板内邵,而不是只到基板面或是接合面。 5‘根據申請專利範圍第3或4項之元件,其特徵爲這種接 訂 腳的頂端由-種導趙互相連接;特別是__種良導電體; 特別是一種金屬物質。 6·種製造有基板連接的+導链元件之方法,包括在該基 板中及/或基板表面下製造半導體元件,其特徵 幾個步驟: 底 -從半導體元件的表面或是旁邊穿出至少—個孔到 層的基板,最好深入基板,且 ' 之後在孔中填入金屬。 入 7. 根據申請專利範圍第6項之方法,其特徵爲這種孔深 基板内部,而不是只到基板面或是pN_接合面。 8. 一種製造有基板連接的半導體元件之方法,包括在該基 板中及/或該基板表面獲得半導體元件不同部份的製程 -13- 本紙張从相中關家標準(CNS ) A4· ( 210X297公釐) 經濟部中央標準局貝工消費合作社印I 32077ο Α8 Β8 C8 -~_____D8 六、申請專利範f ~~'~~ 程㈣包括爲了要接通半導體,在孔中填入 電體,特別是具有良好導電性的物質,特別是金 去、*企進f的特徵爲在填孔之前,先在半導表面或是 了個孔直到底層的基板,最好是深入基板内。 :申請專利範圍第8項之方法,其特徵爲使該孔之直 工-是對角最大的尺寸’基本上符合孔所相應的大小, 及/或1^#或尺寸係被選擇’使得^填充連接孔的製 程步驟中,能適當地填好接通的孔。 瓜一種製造具電子異蔽之半導趙元件或是元件组的方法, 其特徵爲 -在全部或部份丰導體元件或元件組周圍穿很多孔直 到基板内部,且 -在孔中填入金屬。 1L根據申請專利範圍第1 〇項之方法,其特徵爲這種孔深 入基板内部,而不是只到基板面或是PN-接合面。 12.根據申請專利範圍第“或^項之方法,其特徵爲填入 金屬的孔頂端,有導電物質相互連接。 13· —種半導體結構中有屏蔽的電訊導體,其特徵爲沿著電 訊導體周圍排列一些金屬接腳,該金屬接腳排列非常緊 达’以致於能形成電訊導趙很好的橫向電子屏蔽。 14. 根據申請專利範圍第13項之電訊導體,其特徵爲這種 電訊導體也可藉由半導體結構中存在的金屬層形成縱向 的電子屏蔽。 15. —種製造半導體結構中具電子屏蔽之電訊導體的方法, -14 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS )八4^格(210X297公釐) --.-------f------π------ii (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) Α8 Β8 C8 D8 六、申請專利範圍 其特徵爲 - 在電訊導體的旁邊形成孔, - 該孔彼此之間的位置非常緊密,且 ' 之後,在孔中填入金屬。 16·根據申請專利範圍第1 5項之方法,當電訊導體因一個 或數個金屬平面形成縱向的電子屏蔽,其特徵爲這些孔 很深以致於它們至少能接觸電訊導體下方最靠近的金屬 平面。 17. —種排列在基板上的半導體元件,包含基板以及半導體 表面間的電子連接’其特徵爲這種連接包含一種從基板 内部延伸到半導體元件表面之良導電性接腳,特別是與 基板不同的物質,特別是金屬接腳,在元件的上面有一 層導電物質,特別是金屬。 18_根據申請專利範圍第1 7項之半導體元件,其特徵爲這 個導電層是接地的。 經濟部中央標準局員工消費合作社印策 19. 一種排列在基板表面的半導體元件,其特徵爲很多接腳 從基板的内部延伸到半導體元件的表面,而形成半導體 元件的電子屏蔽,且在元件的上面有一層導電物質,特 別是金屬。 20. 根據申請專利範圍第17項之半導體元件,其特徵爲這 個導電層是接地的。 21. —種製造具有電子屏蔽之半導體元件或元件組的方法, 其特徵爲 -在該元件或元件组部份區域的周圍有很多深入底層 __ -15-本紙張尺及通用TSI阁参释竿1 INS ; Μ規格(210X297公董) 320770 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 基板的孔,且 - 這些孔被填入金屬,且 - 在這種半導體元件或元件組的上面有一層導電物 質,特別是金屬。 22.根據申請專利範圍第2 1項之方法,其特徵爲這個導電 層是接地的。 H f— . 訂. 矣 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局員工消費合作社印繁 _-16- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(2IOX297公釐)
TW086103708A 1996-03-22 1997-03-24 TW320770B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE9601119A SE9601119L (sv) 1996-03-22 1996-03-22 Förfarande vid tillverkning av substratkontakter
SE9601444A SE9601444D0 (sv) 1996-04-16 1996-04-16 Förfarande vid tillverkning av substratkontakter

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TW320770B true TW320770B (zh) 1997-11-21

Family

ID=26662547

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW086103708A TW320770B (zh) 1996-03-22 1997-03-24

Country Status (8)

Country Link
US (1) US6472723B1 (zh)
EP (1) EP0888636A1 (zh)
JP (1) JP2000507045A (zh)
KR (1) KR20000064650A (zh)
CN (1) CN1143386C (zh)
AU (1) AU2187397A (zh)
TW (1) TW320770B (zh)
WO (1) WO1997035344A1 (zh)

Families Citing this family (36)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE69841435D1 (de) 1997-07-11 2010-02-25 Infineon Technologies Ag Ein herstellungsverfahren für hochfrequenz-ic-komponenten
DE19834234C2 (de) 1998-07-29 2000-11-30 Siemens Ag Integrierter Halbleiterchip mit Füllstrukturen
US6133621A (en) * 1998-10-15 2000-10-17 Stmicroelectronics S.R.L. Integrated shielded electric connection
JP3851738B2 (ja) * 1999-01-29 2006-11-29 株式会社東芝 半導体装置
SE515158C2 (sv) * 1999-02-10 2001-06-18 Ericsson Telefon Ab L M Halvledaranordning med jordanslutning via en ej genomgående plugg
JP5172060B2 (ja) 1999-09-17 2013-03-27 インフィネオン テクノロジーズ アクチェンゲゼルシャフト 半導体装置の隔離のため浅いトレンチ内に深いトレンチを形成するための自己整合方法
DE60140722D1 (de) * 2000-09-05 2010-01-21 Nxp Bv Integrierte elektromagnetische Abschirmvorrichtung
US6486534B1 (en) * 2001-02-16 2002-11-26 Ashvattha Semiconductor, Inc. Integrated circuit die having an interference shield
FR2826780A1 (fr) * 2001-06-28 2003-01-03 St Microelectronics Sa Dispositif semi-conducteur a structure hyperfrequence
US6909150B2 (en) * 2001-07-23 2005-06-21 Agere Systems Inc. Mixed signal integrated circuit with improved isolation
WO2003019657A2 (en) * 2001-08-29 2003-03-06 Koninklijke Philips Electronics N.V. Integrated circuit device with bump bridges and method for making the same
US6750516B2 (en) * 2001-10-18 2004-06-15 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Systems and methods for electrically isolating portions of wafers
WO2004042820A1 (de) * 2002-11-08 2004-05-21 Siemens Aktiengesellschaft Abschirmung für emi-gefährdete elektronische bauteile und/oder schaltungen
DE10309614A1 (de) * 2003-03-05 2004-09-23 Infineon Technologies Ag Halbleiterstruktur und Verfahren zur Herstellung derselben
WO2005059961A2 (en) * 2003-12-10 2005-06-30 The Regents Of The University Of California Low crosstalk substrate for mixed-signal integrated circuits
US7221034B2 (en) * 2004-02-27 2007-05-22 Infineon Technologies Ag Semiconductor structure including vias
SE528629C2 (sv) 2004-09-08 2007-01-09 Ep Technology Ab Rillmönster för värmeväxlare
US7282906B2 (en) * 2005-04-21 2007-10-16 Stmicroelectronics S.A. Electronic circuit protection device
DE102006022360B4 (de) 2006-05-12 2009-07-09 Infineon Technologies Ag Abschirmvorrichtung
DE102006062844B4 (de) * 2006-05-12 2016-11-17 Infineon Technologies Ag Abschirmvorrichtung zum Abschirmen von elektromagnetischer Strahlung
US20080001262A1 (en) * 2006-06-29 2008-01-03 Telesphor Kamgaing Silicon level solution for mitigation of substrate noise
US7701057B1 (en) * 2007-04-25 2010-04-20 Xilinx, Inc. Semiconductor device having structures for reducing substrate noise coupled from through die vias
US8269308B2 (en) * 2008-03-19 2012-09-18 Stats Chippac, Ltd. Semiconductor device with cross-talk isolation using M-cap and method thereof
US7989282B2 (en) * 2009-03-26 2011-08-02 International Business Machines Corporation Structure and method for latchup improvement using through wafer via latchup guard ring
DE102010000892B4 (de) * 2010-01-14 2019-01-03 Robert Bosch Gmbh Verfahren zum Bereitstellen und Verbinden von zwei Kontaktbereichen eines Halbleiterbauelements bzw. einem Substrat, sowie ein Substrat mit zwei solchen verbundenen Kontaktbereichen
US8587121B2 (en) * 2010-03-24 2013-11-19 International Business Machines Corporation Backside dummy plugs for 3D integration
US8791015B2 (en) * 2011-04-30 2014-07-29 Stats Chippac, Ltd. Semiconductor device and method of forming shielding layer over active surface of semiconductor die
US8759950B2 (en) * 2011-05-05 2014-06-24 Intel Corporation Radio- and electromagnetic interference through-silicon vias for stacked-die packages, and methods of making same
US8304916B1 (en) * 2011-07-06 2012-11-06 Northrop Grumman Systems Corporation Half-through vias for suppression of substrate modes
US8618640B2 (en) 2011-07-29 2013-12-31 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Method of shielding through silicon vias in a passive interposer
CN102412229B (zh) * 2011-11-11 2013-12-18 上海华虹Nec电子有限公司 半导体器件中的金属塞结构
US9064868B2 (en) * 2012-10-12 2015-06-23 Globalfoundries Inc. Advanced faraday shield for a semiconductor device
US9064850B2 (en) * 2012-11-15 2015-06-23 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Through-substrate via formation with improved topography control
TWI528525B (zh) * 2013-09-03 2016-04-01 瑞昱半導體股份有限公司 金屬溝渠減噪結構及其製造方法
CN106601722A (zh) * 2015-10-16 2017-04-26 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 一种半导体器件及其制造方法和电子装置
US10446200B2 (en) 2018-03-19 2019-10-15 Micron Technology, Inc. Memory device with configurable input/output interface

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4470062A (en) * 1979-08-31 1984-09-04 Hitachi, Ltd. Semiconductor device having isolation regions
JPH021928A (ja) * 1988-06-10 1990-01-08 Toshiba Corp 半導体集積回路
JPH03165058A (ja) * 1989-11-24 1991-07-17 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
SE466078B (sv) 1990-04-20 1991-12-09 Ericsson Telefon Ab L M Anordning vid en skaerm hos en integrerad krets och foerfarande foer framstaellning av anordningen
US5288949A (en) * 1992-02-03 1994-02-22 Ncr Corporation Connection system for integrated circuits which reduces cross-talk
US5196920A (en) 1992-04-21 1993-03-23 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor integrated circuit device for limiting capacitive coupling between adjacent circuit blocks
SE500815C2 (sv) 1993-01-25 1994-09-12 Ericsson Telefon Ab L M Dielektriskt isolerad halvledaranordning och förfarande för dess framställning
US5406125A (en) * 1993-04-15 1995-04-11 Martin Marietta Corp. Semiconductor device having a metalized via hole
DE4314906C2 (de) 1993-05-05 1996-10-31 Siemens Ag Halbleiterbauelement mit Stromanschlüssen für hohe Integrationsdichte
JP2684979B2 (ja) * 1993-12-22 1997-12-03 日本電気株式会社 半導体集積回路装置及びその製造方法
JPH08250890A (ja) * 1995-03-09 1996-09-27 Nec Corp 混成集積回路装置
US5574621A (en) * 1995-03-27 1996-11-12 Motorola, Inc. Integrated circuit capacitor having a conductive trench
US5566052A (en) * 1995-06-08 1996-10-15 Northern Telecom Limited Electronic devices with electromagnetic radiation interference shields and heat sinks
US6011297A (en) * 1997-07-18 2000-01-04 Advanced Micro Devices,Inc. Use of multiple slots surrounding base region of a bipolar junction transistor to increase cumulative breakdown voltage
GB2341272B (en) * 1998-09-03 2003-08-20 Ericsson Telefon Ab L M High voltage shield
US6307252B1 (en) * 1999-03-05 2001-10-23 Agere Systems Guardian Corp. On-chip shielding of signals

Also Published As

Publication number Publication date
CN1143386C (zh) 2004-03-24
WO1997035344A1 (en) 1997-09-25
CN1218576A (zh) 1999-06-02
AU2187397A (en) 1997-10-10
EP0888636A1 (en) 1999-01-07
KR20000064650A (ko) 2000-11-06
JP2000507045A (ja) 2000-06-06
US6472723B1 (en) 2002-10-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW320770B (zh)
CN101371332B (zh) 低电阻和电感的背面通孔及其制造方法
KR950007421B1 (ko) 소자분리구조 및 배선구조의 개량된 반도체 장치
US5144404A (en) Polysilicon Schottky clamped transistor and vertical fuse devices
JPS6119145A (ja) 半導体装置の製造方法
CN103545311A (zh) 具有平行电阻器的高压器件
US8513764B2 (en) Schottky diode
TW201011893A (en) Method of forming an integrated semiconductor device and structure therefor
TW201135885A (en) Semiconductor device and method for forming the same
US5049521A (en) Method for forming dielectrically isolated semiconductor devices with contact to the wafer substrate
US20210272842A1 (en) Transistor device with sinker contacts and methods for manufacturing the same
CA1307055C (en) Semiconductor interconnection structure
EP0507446A2 (en) Structure and method for self-aligned contact formation
US6943428B2 (en) Semiconductor device including bipolar transistor and buried conductive region
JPS61180482A (ja) バイポーラトランジスタを製造する方法
CN109427893A (zh) 半导体装置
CN110364563A (zh) 半导体装置以及半导体装置的制造方法
CN100477156C (zh) 用于在集成电路区域上特别在晶体管的电极上制造接触垫的工艺
TW200812067A (en) RF power transistor device with high performance shunt capacitor and method thereof
CN207602570U (zh) 半导体器件结构
US11562927B2 (en) Method for forming an electrical contact between a semiconductor film and a bulk handle wafer, and resulting structure
US4971929A (en) Method of making RF transistor employing dual metallization with self-aligned first metal
EP1635399B1 (en) Lateral MOS device and method of making the same
JPH06204167A (ja) 半導体装置の製造方法
KR19980042509A (ko) 반도체 장치 및 그 제조 방법

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees