TW315465B - - Google Patents

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315465 A7 B7 經濟部中央搮準局男工消费合作社印装 五、發明説明（1 ) .發明背鼉 發昍铕城 本發明像鼷於一種半導艨記億鼸，尤其是備有潮試霣 路之動態随機取存記億元件（DRAM)e 翌爾柃術說昍 當記憶釀之容覺愈來愈大時，潮試時間就會顧著增加 ，而且16M(百萬位元)DRAM和更大容量之DRAM會發生此 重要間題，有一解決之方法，即将测試霣路放置在晶片 中，且利用轉換晶片操作之不同於正常操作的澍試棋式 完成澜試（下文中稱為"登錄”）β 编短澜試時間之澜轼棋式包含一利用先將位址緊密之 資料比較法的棋式，資料同時從許多記®單胞寫入或讀 出，再決定造些資料是否相同，若相同則输出"Η"，而 若不相同則输出，但是，當使用傳統的多功能簡試 器時，可以利用一偏測試器測試之元件數目到16DUT (在 澜試之元件），所以即使利用此方法，澍試時間也不會 明顳縮短，考處如此之背景，對於在16Μ DRAM之後具有 大容量DRAM的發展，ϋ試方法會變成大慨利用一有一些 DUT ,例如200-300DUT可以放置在一 ϋ試板上的監視器 ΒΤ元件之方法，但是，事實上，即使使用如此之監視器 ΒΤ元件，拥試·效率也不會顯著改菩。 此«藉由參考第6圈所示之監視器ΒΤ元件的測試板範 例説明前面之理由，該監視器ΒΤ测試板可以放置16行X 15列= 240DUT之四位元（X 4)DUT,該監視器ΒΤ元件每一 (请先閲讀背面之注意事項系填寫本頁) .裝· •tr 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） 經濟部中央樣準局員工消費合作社印*. 315465 Α7 Β7 五、發明説明（2 ) 鏔潮試板提供64值駆動器/比較器β 因此，某一資料匯流揉連接到15DUT的I/O ,所有的 時脈和位址訊號，如背向列位址盔通訊號（BRAS),行位 址選通訊號（BCAS)和背向寫入致能訊號（BWE)皆連接到 所有的DUT ,控制潮試操作之背向操作致能訊號（BOE) 獨立分佈到當作B0E1-B0E15之方塊1-15,每一館B0E1-B0E15可供應一各自操作之相異時脈，對於此測試板， 當企團立即測試所有DUT時，連接到某一資料匯流排之 15DUT同時試著輪出資料，而造成在各DUT之資料間 相衝突，所以各DUT不可確認決定，因此，例如，當測 試方塊1中之16DUT時，僅方塊1可以利用只有相對於 方塊1之B0E1的時脈澜試，而其他方塊之B0E2-B0E15保 持在"H"，結果，方塊1-15箱要15次各自測試，如此， 痛要潮試240DUT之測試時間（所有DUT可以同時測試的 情形）要X15,對於具有較高位元數之型式，其測試須 藉由方塊之分割數（15X4)乘上（I/O數.）/ 4，使得測試！ 效率會進一步降低，此外，因為監視器BT元件受限於比 較器之數目，以傳统上，當使用監視器BT元件時，測 試效率無法達到其上限。 對於前述之解決方法，其為使監視器BT元件能同時測 試所有晶片之晶片上比較澍試模式，前述問題之原因在 於當所有晶Η都同時建構資料輸出週期時，來自赛多DUT 之输出資料會在資料匯流排上相衝突，因此，若讀自記 億單胞之資料不輪出到外部，而是在晶Κ中確認決定， 本纸張尺度遢用中國國家梯準（CNS ) Α4規格（210Χ25»7公釐） ----------f------IT------# - ' -(請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) A7 B7 經濟部中央揉準局貝工消费合作社印製 五、 發明説明 (: ) 1 1 則 可 避 免 此 問 題 S 然 後 9 在 晶 片 中 會 足 以 閂 住 確 認 決 定 1 1 結 果 » 而 且 在 m 試 所 有 的 記 億 單 胞 之 後 9 利 用 bb 較 方 塊 1 I 將 此 確 認 決 定 結 東 輪 出 到 監 視 器 BT測 試 板 之 資 料 匯 流 铢 V - 請- ! 1 » 因 為 確 認 決 定 結 果 之 输 出 可 在 單 一 遇 期 中 完 成 f 而 且 先， 閲· 1 I 讀 較 晶 片 之 m 試 時 間 短 很 多 > 所 以 即 使 t±y 兀 成 1 5锢 分 立 方 塊 背 1¾- \ 之 1 之 m 試 9 也 不 會 發 生 問 題 S 例 如 9 即 使 確 認 決 定 結 果 之 注 | 意 I 输 出 遇 期 在 \ M S 内 完 成 9 也 僅 只 要 15 Μ S , 在此情形下之 事 項 * 1 1 绝 m 試 時 間 為 (晶片測試時間+ 15 Μ S) 9 基 本 上 其 等 於 所 fy % 本 1 威 有 晶 Η 同 時 m 試 的 情 形 > 此 有 晶 Η 上 比 較 m 試 模 式 的 觀 頁 1 念 〇 1 1 參 考 第 7 圓 • 其 為 具 有 晶 片 上 比 較 m 試 模 式 功 能 之 傳 1 I 统 m 試 霣 路 的 方 塊 _ 9 該 傳 统 的 m 試 霣 路 包 含 一 由 一 般 1 1 動 態 記 億 霄 路 所 組 成 之 進 資 料 缓 衝 器 1 一 記 憶 單 胞 陣 * η 1 列 2 1 由 第 0 到 第 3 資 料 匯 流 排 30 -3 3 組 成 之 資 料 匯 流 * I I 排 及 一 出 資 料 缓 衝 器 4 9 而 且 還 包 含 一 從 資 料 匯 流 排 1 1 3 檢 測 各 資 料 之 間 是 否 匹 S 之 確 認 決 定 電 路 5 9 決 定 確 1 I 認 和 輪 出 一 確 認 決 定 訊 Μ B 9 選 择 且 输 出 確 認 決 定 訊 號 線 I B 和 得 白 第 3 資 料 匯 流 抹 33其 中 之 一 都 可 的 選 擇 器 6 ) 1 fcb 較 控 制 方 塊 7 5 訊 號 B R A S 和 Β0Ε 之 通 輯 方 塊 8 $ m 試 I 模 式 決 定 方 塊 9 9 及 fcb 較 資 料 匯 流 排 10 〇 - 1 該 確 認 決 定 鬣 路 5 包 含 一 從 第 0 到 第 3 資 料 匯 流 排 30 1 ! -3 3 檢 測 資 料 是 否 匹 配 之 X0R 閘 5 1， -檢測在比較資料 1 I 匯 流 排 10 上 和 第 3 資 料 匯 流 排 3 3上 之 資 料 間 是 否 匹 配 之 * 1 1 X0R 閘 5 2 j 將 各 從 X0 R 閘 -5 5 1和 — 5 2 之 输 出 作 或 連 算 之 0R 1 1 1 1 1 1 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X 297公釐） 315465 A7 B7 經濟部中央梂準局貝工消費合作社印装 五、 發明説明 (4 ) 1 1 .蘭 5 3 » —» 使 具 有 晶 Η 上 比 較 致 能 訊 號 Φ 1之0 R閘5 3的输 1 1 出 工 作 之 AND 蘭 54 9 一 閂 住 AND 閘 54 之 输 出 且 输 出 決 定 ! 1 訊 號 A 之 RS型 正 反 器 (FF) 5 5 及 一 將 決 定 訊 號 A 反 相 且 /-V 請. 1 1 输 出 確 認 決 定 訊 號 Β 之 反 相 器 5 6 〇 先-- 閲 讀 背 1 I χΧ統 m 試 霣 路 之 操 作 參 考 第 7 圈 和 顯 示 毎 一 部 份 波 形 1 之 1 時 脈 圓 之 第 8 和 9 圔 說 明 9 第 8A 圈 顯 示 當 訊 號 BRAS 工 作 '意 1 1 且 變 成 "L II 時 3 從 訊. 號 BC AS 和 BWE 皆 為 "L » 之 事 實 檢 測 事 項 1 1 某 些 要 登 嫌 之 測 試 棋 式 的 晶 片 上 比 較 潮 試 楔 式 登 錄 遇 期 fy k 本 1 裝 9 然 後 當 訊 號 BCAS 旦 不 工 作 回 到 "Η 1 然 後 再 回 到 頁 1 "L η 時 > 曾 檢 m 晶 Η 上 比 較 m 試 楔 式 從 Υ 位 址 登 錄 ) 而 1 1 晶 Μ 上 比 較 潮 試 棋 式 決 定 訊 號 Φ 3變成" Η " 0 1 I 然 後 9 Λ.Λ. 刖 進 到 示 於 第 8 BH 之 FF 55的 重 設 遇 期 ，如前所述 1 1 訂 1 j FF55 將 確 認 決 定 結 果 儲 存 在 晶 Μ 中 > 而 且 即 使 當 記 慊 單 胞 陣 列 2 之 記 億 單 胞 的 __. 位 元 有 缺 陷 (失效） 時 1 也 會 1 | 儲 存 一 表 示 拒 絶 之 失 效 旗 幟 9 因 此 1 在 開 始 m 試 之 前 9 1 1 需 要 先 重 設 FF 5 5 使 其 输 出 "確認" J 此 處 1 FF5 5之 重 設 1 1 1 像 藉 由 在 訊 gy» m BRAS 變 成 "L ” 之 後 » 立 即 檢 潮 訊 號 BOE 為 線 1 "L 和 利 用 FF 重 設 訊 號 Φ 2受成" L " 而開始， 而且當訊 1 號 BRAS 再 次 不 工 作 時 兀 成 9 即 變 成 "Β Η Ο 1 I 然 後 9 前 進 到 示 於 第 8C 圔 之 寫 入 單 胞 資 料 之 擾 動 週 期 1 1 1 9 此 對 應 在 一 般 潮 試 之 資 料 讀 取 的 程 序 9 且 為 m 試 之 主 1 1 程 序 〇 1 I 第 9 A 圏 為 晶 片 上 tb 較 遇 期 9 且 對 應 一 般 潮 試 之 資 料 讀 1 1 .取 S 當 訊 號 BRAS 變 成 "L If· 時 -6 > 晶 Η 上 比 較 遇 期 從 訊 號 BWE 1 1 1 1 1 本紙張尺度適用中國國家揉準（CNS ) A4規格（210X297公釐） 經濟部中央橾準局—工消费合作社印装 Α7 Β7 五、發明説明（5 ) 之"L”狀態脫離，而且在此同時，供應且閂往一在比較 資料匯流排10上之單胞賁料的期望值E ,同時，在此一 般搡作下接收X位址，然後，蘋由訊號BCAS變成”L”接 收且罔住Y位址，然後將（X, Y)之記憶單胞資料謓到資 料匯流排，當讀取記憧單胞賁料時，利用X0R閘51檢測 在第0到第3資料匯滾排30-33上之賁料間是否匹配， 然後補出一匹配訊號D ,在另一方面，X0R閛52檢澜在 第3黄料匯流排33和比較資料匯流排10上之期望值E是 否匹SB,然後鑰出一匹R訊號F ,但是當0R閘53對訊》 F和匹配訊號D作或蓮算時，此檢澜由X0R閘51所造成 之匹配資料，然後將此结果供應到AHD W54之某一鑰入 皤，當訊號BRAS移到"H”時，比較控制方塊7在對應蟲 \片上比較遁期狀態檢測之單擊，訊號炎1移到"H” ，而 且將其供應到AHD閘54之另一输入薄}·, AND閘54將埴些 匹配訊.號D和F作或蓮算之後的结果髓存在FF55,若所 有匹K訊號D和F皆表示匹配狀態，則決定訊號A保持 在”L” ，但是，若有任何不匹配狀態，則訊號A變成” Η ” ，如果當完成所有位址之週期時有記憶單胞之任一位元 失效，則訊號Α變成”Η ” ，在此情形下，訊號Β0Ε保持 在不工作狀態或” Η ” ，使得沒有_出到晶片外部或到監 視器ΒΤ測試板之_料匯流排。 '屬9 Β匾為一當在訊號B R A S移到” L ”之後訊號BCAS和Β0Ε 移到”L”時，將確認決定訊號B鑰出到監視器BT測試板 之寅科匯流排的決定结果_出遇期，此決定结果_出« -7- 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) Μ规格（210'乂297公釐） —J—丨-----《装— (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 A7 B7 經濟部中央標準局貝工消费合作社印策 五、發明説明（6 ) 1 1 期 依 序 完 成監 視 器 BT測 試板 之方 塊 1-15 , 當 I/O 3 為”Η， 1 1 時 « 監 視 器BT元 件 決 定 可確 認之 ” Η η 期望 值 和可 拒 絕之 1 1 "L η 期 望 值， 如 此 完 成此 項測 試 〇 請 ! 先 ' ，第 9C 圈 為瀏 試 棋 式 決 定方 塊9 重 設 具有 R0R ( 只 有重 閲 ifi 1 背 1 新 淸 除 之 R AS ) 或 CBR (在 RAS 重 新 淸除 之 前的 CAS ) ιέ 之 之 測 試 撗 式， 而 且 將 訊 號Φ 3設為" L" 之測試横式里設 注 意 1 事 1 週 期 9 選 揮器 6 選 揮 對 應訊 m Φ 3之" L ”的資科匯滾排 項 再 填 1 33 0 寫 本 I 此 傅 统 測試 霣 路 利 用 監視 器BT元 件 頭蕃 降 低潮 試 時間 頁 1 I > 且 约 為 前面 m 試 板 的 1/5 ,但 是 9 因為 當 訊號 BRAS 不 t 1 1 工 作 時 » 傅统 m 試 霣 路 僅在 單擊 時 決 定對 應 晶片 上 比較 1 1 測 試 横 式 決定 訊 號 Φ 3工作之確認， 換言之， 當其移到 1 訂 "H ♦» 時 • 其僅 能 測 試 RAS/CAS Μ 期 而不 能 在快 m 頁棋 i 式 完 成 測 t 試， 在 另 一 方 面， 因為 測 試 項包 含 許多 快 速頁 f 1 棋 式 搡 作 之澜 試 9 所 由測 試時 間 降 低所 獲 得之 效 應並 1 I 不 明 顯 t 除非 這 些 測 試 可Μ 在晶 片 上 比較 m 試横 式 完成。 1 > V 例 如 ， 在澜 試 64M DRAM 時 ,快 速 頁 棋式 之 功能 測 試共 飞 1 約 1 分 30秒， 若 無 法 利 用晶 片上 比 較 拥試 横 式， 則 測試 1 1 要 1 分 30秒X 15 =22分30秒， 但是對快速頁戴式不同之 I 1 測 試 9 m 測試 時 間 約 40分鐮 ,因 為 在 快速 頁 横式 之 測試 I 不 能 在 比 較測 試 横 式 完 成， 所Μ 會 使 22分 30秒事 * 所發 1 1 生 之 相 當 大的 衝 擊 增 加 0 I 1 發 明 JL 農 1 I 因 此 本 發明 之 的 係 提供 一種 備 有 改良 m 測試 電 路之 1 1 -8 1 1 1 1 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X：Z97公釐） 經濟部中央樣準局員工消費合作社印製 A7 B7五、發明説明（7 ) 半導體記億元件<» 本發明之S —目的僳提供一種可以以頁模式完成測試 操作之DRAM。 根據本發明之半導醴記億元件包含一許多記億單胞 以矩陣排列之記億單胞陣列，及分別输出從該記億單胞 陣列讅取之第一記億資料和第二記億資料的第一資料匯 流排和第二資料匯流排，包含一用以傳送期望值資料之 期望值資料匯流排，一利用檢溯決定測試模式狀態輸出 測試控制訊號之澍試控制霣路及一檢測對應該澍試控制 訊號供應之第一和第二記億資料間與第一記億資料和期 望值間是否匹配，而且輪出一對窸記億單胞陣列確認或 拒绝之確認決定訊號的確認決定霣路之測試罨路，而且 其具有該澍試控制霣路包含一用以産生當列位址選通器 訊號工作時，對應行位址選通器訊號移到不工作狀態之 澍試控制訊號的測試控制訊號産生霣路之特性。 踵1㈣ , 藉由參考下面結合附圈之詳细説明，本發明前述的和 其他的目的，特傲和優點将變得更明顯，其中： 第1圖為根據本發明之測試電路第一實施例的方塊圖； 第2 A到2C圖為該測試電路實施例之一部分操作的時脈 圈； 第3圖為該測試霣路實施例g —部分操作的時脈圖； 第4A和4B圖為該測試電路實施例另一部分操作的時脈 圖； -9 - (請L閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 、τ 本紙張尺度適用中國國家揉準（CNS ) Μ規格（210X 297公釐） 經濟部中央揉準局貝工消費合作社印11 A7 B7 五、發明説明（8 ) \第5讕為根據本發明之測試霣路第二實施例的時脈圔； 第6匾為監視器BT澍試板範例之方塊 、第7' _為傳統測試霣路範例之方塊·; /第8 A到8(：圓為該傅統澜試電路之一部分搡作的時脈圈 ;Μ及 ^ 9Α到9C騙為該傳絞測試霣路之另一部分搡作的時Κ 。 儸费奮牖俐雄饨 琨在，#考顧示本發明實豳例之第1 _的方塊_，其 中類似於第7鼷之構件Μ相似參考數字表示，匾中所示 之實施例的澜試«路包含一類似於Κ前技術之進賁料缓 衡器1 , 一記憶單胞陣列2 ,由第0到第3資料匯流排 30-3 3所組成之資料匯流排3 ,—出資料級街器4 , 一 確認決定《路5 , —選揮器6 ,—邏輯方塊8 , —測試 棋式決定方塊9 ,及一比較資料睡流排10,和代替比較 控制方塊7之比較控制方塊7Α,此比較控制方塊7Α包含 一用Μ输出對應不工作之訊號BCAS的比較決定訊號φ 1 之比較決定訊號產生«路71。 現在，參考第1 _和顯示各部分操作時脈_之第2-4 謹說明此實施例之搡作，第2Α_為當訊《BRAS工作且變 成"L”時，用以檢測之晶片上比較拥|試横式登錄«期， 和某些測試横式從訊號BCAS和BVE皆為” L”進人之以前 技術一樣，一旦當訊號BCAS不工作到”H”且再變成"L” t 時，晶片上比較測試棋式之檢測從Y位址進入，然後晶 -10- 本紙張尺度遑用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） _].1--^----•叫装-- (請先閲讀背面之注意^項再填寫本頁) 訂· ^15465 7 A7 B7 經濟部中央揉準局貝工消费合作社印製 五、發明説明（9 ) 片上比較測試模式決定訊《决3變成"H” ，此使比較控 制方塊7A,邏輯方塊8 ,比較資料匯流排10和FF55工作 ，此外，番擇器6遘擇一決定訊號A 。 然後，完成FF55之簠設通期類似於Μ前技術且於第2B ί, FF55之重設係在訊號BRAS移到” L，之後立即檢涵訊 號Β0Ε為” L”而開始，而且FF簠設訊號多2變成’L” , 當訊號BRAS再移到”H”時完成。 · 接著，前進到示於第2C匾之主澜試程序的寫入單胞資 料之擾動«期。 然後，完成對應第3圓一般测試的資料讀取之晶片上 比較埋期，當訊號BRAS移到”L”時，比較控剌方塊7A從 訊號BVE之” L"狀態檢測晶片上比較通期，而且對於對 應訊號BCAS移到MT之晶片上比較決定訊號Φ1,程序 進入一準備工作狀態，當訊號BRAS移到”L"時，在正常 狀態下接收X位址，然後當訊號BCAS移到”L”時，接收 且閂住Y住址，如以前之技術，埴些（Χ,Υ)記憧單胞資 料係謓在資料匯流排上，1/03在訊號BCAS移到ΜΗ"之 前接收一記憶單胞資料之期望值，而且當訊號BCAS移到 "Η”時，將此期望值閂在比較資料匯潦排10上，在此同 時，比較控制方塊7Α在單擊使訊號Φ1移到” Η”，確認決 定霣路5之X0R閛51檢測第0到第3霣料匯流排30-33 之間的霣料是杏匹fi,然後輸出霣料D ,然而XOR W 5 2 檢測在第3資料匯流排33上之期望值E1和在比較資料匯 流排10上之期望值E1是否匹ffi,然後輸出資料F ,這些-11- (诗先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙浪尺度適用中國國家標準（CNS ) A4规格（210X297公嫠） A7 B7 經濟部中央樣準局爲工消費合作社印製. 五、 發明説明（10 1 1 資 料 D 和 F 供 應 到 OR閘 5 3 9 此 OR閘 53將 匹 配 訊 號 D 和 F 1 1 作 或 運 箄 » 然 後 供 應 到 NAD 閘 5 4之 某一 输 入 端 9 AND 閑 1 I 54將 對 應 於 訊 號 Φ 1移到供應到其他輪入端之訊號" Η " 的 請. 1 1 匹 配 訊 號 D 和 F 之 或 蓮 箄 訊 號 供應 到 FF55 FF 55儲 存 此 k,. 閱- 1 1 1 I 匹 配 或 蓮 算 訊 號 9 所 有 匹 配 訊號 D和 F 表 示 —* 匹 配 狀 背 面. 1 之 1 態 9 則 決 定 訊 號 A 保 持 在 "L II ，但 是， 若 有 任 —- 不 匹 配 注 意 1 狀 態 S 則 訊 號 A 變 成 ” Η II 〇 事 項 •s 1 1 讀 然 後 j 藉 由 改 變 Y 位 址 » BCAS 再 移到 "L " 9 而 且· 閂 住 Η % 本 1 取 對 應 記 億 單 胞 資 料 之 Y 位 址， 同理 ί 當 訊 號 BCAS 移 頁 1 到 "H « 時 > 記 億 單 胞 資 料 之 期 望值 Ε2閂 在 bb 較 匯 流 排 10 1 1 上 9 比 較 控 制 方 塊 7A使 訊 號 Φ 1移到” Η " 9 決 定 讀 出 之 資 1 I 料 和 確 認 決 定 霣 路 5 之 期 望 值 Ε2是 否匹 配 然 後 输 出 決 1 1 訂 1 定 訊 號 A 如 此 9 即 使 當 決 定 在任 何X 位 址 上 之 所 有 Υ * 位 址 的 記 億 單 胞 有 某 — 位 元 失 效時 ，在 快 速 頁 楔 式 9 不 1 I 匹 配 % 由 依 序 改 變 Y 位 址 而 檢 澜， 決定 訊 號 A 變 成 "Η II 1 1 9 藉 由 兀 成 所 有 X 位 址 9 會 在 快速 頁棋 式 測 試 所 有 的 記 1 I 億 單 胞 〇 I 線 I 第 4 A 圖 為 當 訊 號 B C A S 和 B0 E 在訊 號BRAS移 到 'L π 之 後 1 移 到 "L " 時 I 確 認 決 定 訊 號 B 輸出 監視 器 BT澜 試 板 之 決 1 | 定 結 果 輸 出 遇 期 f 此 決 定 結 果 输出 遇期 依 序 兀 成 該 監 視 - 1 1 器 BT測 試 板 之 方 塊 1- 15 » 該 監 視器 BT元 件 在 "Η 11 之 期 望 1 1 值 ， 若 I/O 3 為 ” Η ” 9 則 決 定 可確 認， 若 其 為 "L " 1 則 1 I 決 定 可 拒 絶 9 如 此 9 t±S9 兀 成 此 m 試。 • 1 1 如 以 前 之 技 術 ， 第 4 B圖 為 潮 試棋 式決 定 方 塊 9 由 R0R 1 1 -1 2 - 1 1 1 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐〉 A7 B7 經濟部中央樣準f工消费合作社印製 五、發明説明（11 ) 1 1 '( 只 重 新 濟 除 R AS ) 或 CBR ( 在 RAS 簠 新、 淸 除 之 前的 CAS ) 重 設 測 試 撗 式 和 將 獮 試 横 式 決 定 訊 號 Φ 3設為"L” 1 1 之 測 試 摸 式 重 設 Μ 期 > 相 對 於 "L 之 訊 號 Φ 3 , 選擇器6 —V 請 先 J m 擇 資 料 匯 流 排 33 0 閱 讀 如 前 所 述 9 在 另 —- 方 面 當 列 位 址 試 訊 號 不 工 作時， 背 1 4 I 之 1 傳 统 的 拥 試 電 路 決 定 確 μ 或 拒 m t 當 行 位 址 不 工 作時，. 注 意 1 I 此 實 施 例 完 成 t 因 此 在 快 速 頁 摸 式 之 测 試 可 以 在 晶片上 事 項 1 I 比 較 m 試 完 成 » 而 且 當 使 用 艦 視 器 ΒΤ元 件 時 9 洒 試時間 再 填 寫 本 1 装 可 以 顯 著 降 低 〇 頁 1 I 當 使 用 與 Η 前 技 術 之 澜 試 板 相 同 且 示 於 第 6 圓 時，明1 1 1 轼 時 間 約 可 減 少 19 不 實 行 晶 片 上 比 較 潮 試 之 情 形 的 1/15 1 | 此 外 1 當 所 要 之 澜 試 時 間 同 於 Μ 前 技 術 之 64M DRAM 的 1 訂 範 例 時 » 在 相 同 條 件 下 » 此 實 m 例 可 以 減 少 到 40分鐘+ 1 1 分 30秒 = 41分 30秒 » 然 而 傅 統 澜 試 時 間 為 62分 30秒， f I 因 此 » 效 果 顯 著 0 1 I 現 在 > 參 考 本 發 明 第 二 實 m 例 示 於 第 5 之 時 脈麵， 1 不 同 於 第 一 實 施 例 之 處 為 第 二 實 施 例 包 含 一 代 替 比較控 Λ 1 制 方 塊 7A之 比 較 控 制 方 塊 7Β » 此 比 較 控 制 方 塊 7B 之功能 1 * 為 檢 澜 在 登 錄 m 試 棋 式 時 測 试 摸 式 為 對 應 工 作 或”H” 1 1 之 測 試 棋 式 決 定 訊 號 Φ 3的晶片上比較週期， 因此當訊 r 1 號 BCAS 移 到 "Η η 時 1 利 用 單 擊 使 晶 片 上 比 較 決 定 訊號 1 1 Φ 1工作， 而且若訊號BVE 移到” L " t 則決定澜試横式 1 1 不 為 晶 片 上 比 較 m 期 9 因 此 澜 試 棋 式 變 成 沒 有 使 訊號 I Φ 1工作之寫入a期c 1 - * -1 3- 1 1 1 1 本紙柒尺度逋用中國國家揉準（CNS ) A4规格（210 X 297公釐） A7 B7五、發明説明（l2 ) 因為當訊號BRAS移到’L"時，如第一實施例，此實施 例不需要利用將訊號BWE變成” L”檢測晶片上比較《期 狀態，所Μ不需要產生供獻到晶片上比較洒試之快速頁 棋式時間，使得可Μ使用傅統的测試程式。 如前所述，因為本發明之測試«路包含一澜試控制® 路產生當訊號RAS工作時對應不工作之訊號CAS的測試 控制訊號之澜試控制訊號產生器«路，所以其可以藉由 使眭完成晶片之決定確認或拒絕而願著降低使用監視器 ΒΤ元件濂試之澜試時間。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) Τ 訂 經濟部中央梂準局貝X消费合作杜印製 本紙張尺度逋用中國國家橾準（CNS ) Α4规格（210X297公釐）

Claims (1)

1. 3 15465 i 1D8 第δ5112δ98號「裝镅有測試®路之半導體記憧體j專利案 (86年6月27日修正） A申謓專利範圍： (請先閲讀背面之注意事項再填寫，本頁) 1. 一種半導體記憶元件，包含：具有許多記億單胞之記 億單胞陣列，锅合到該記憶單胞陣列以输出第一和第 二記憶資料之第一和第二資料線，一含有傳送期望值 資料之期望值賁料匯流排的測試霣路，一利用檢測決 定測試棋式狀態输出洒試控制訊號之拥（試控制電路Μ 及一檢測在該第一和第二記憶資料與對應該測試控制 訊號的期望值資料中是否匹配Κ產生一檢測訊號之確 認決定«路，該測試控制電路真有產生對應於在列位 址選通訊號之工作準位期間，行位址選通訊號從工作 準位改變到非工作準位之該餺試控制訊號的測試控制 訊號產生器霣路。 2. 如申請專利範圍第1項之記憶元件，其中該確認決定 霣路包含： 一檢測該第一和第二記憶資料間是否匹配之第一互： 斥或W ; 一檢測該第一記憶賁料和該期望值資料間是否匹配， 之第二互斥或W ; 一決定該第'一和第二互斥或閘之埋輯和與输出襄輯 和訊號之OR W ; 經濟部中央標準局員工消费合作社印装 一決定對應供應之該測試控制訊號的該理輯和訊號 之理輯積，且_出一理輯積訊號之AND (及閘）間；Μ 及 一對應供應之重設訊號簠設，且用以館存該趣輯積 訊號和输出該決定訊號之正反器。 -1 - 本纸浪尺度適用中國國家標準（CNS ) Α4说格（210X297公釐） 8 8 8 8 ABCD 六、申請專利範圍 3.如申請専利範B第1項之記憶元件，其中該測試控制 S路，在該測試棋式狀態，檢測對應於工作之測試横 式決定訊號的該確認決定之測試遇期； 在寫入致能訊號之不工作狀態，產生對應於該行位 址選通訊號移到不工作狀態之該测試控制訊號；以及 在該寫入致能訊號之工作狀態，停止該測試控制訊 號之產生，和將测試横式設到寫入遇期。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝. 訂 經濟部中央揉準局男工消费合作社印«. 本紙張尺度適用中困躏家鏢挲（CNS)A4说格（210X297公釐）