TW201944089A - 用於測試半導體裝置的接觸器及其測試插槽裝置 - Google Patents

用於測試半導體裝置的接觸器及其測試插槽裝置

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Abstract

揭示係大致關於一種用於測試半導體裝置的接觸器及其插槽裝置。本發明的接觸器係為藉由沖切及折曲金屬板而配置於整合主體中的彈簧接觸器,並包括:彈性部件與尖端部件,彈性部件係由固定圖案的各種條帶組成,尖端部件係分別設置於彈性部件的相對端部上。較佳地,藉由在空間容積中填充具有導電性與彈性的填充物,本發明的接觸器具有優異的耐久性與電特性。此外,採用上述接觸器的橡膠類型的根據本發明的測試插槽針對具有微節距的半導體裝置的測試提供適當的效果。

Description

用於測試半導體裝置的接觸器及其測試插槽裝置
本申請案主張於2018年4月13日提交的韓國專利申請第10-2018-0043296號的優先權,其全部內容藉由引用併入本文。
本發明通常係關於用於測試半導體裝置的接觸器及測試插槽裝置。更特定言之,本發明係關於一種接觸器及測試插槽裝置,以利用內建於測試插槽中的IC的引線與PCB的焊盤的電連接,或安裝於電子應用(例如,個人電腦(PC)、行動電話等)內部的PCB的IC的引線與CPU的電連接,來實現接觸點與引線之間的電連接。
通常,作為在半導體的後處理步驟中檢查半導體裝置的缺陷的部件,測試插槽係為在與裝置接觸的測試處理期間透過測試裝置及測試板將所發射的訊號傳輸到裝置的部件。
測試插槽需要具有機械接觸的特性,而需要藉由移動到精確位置使每一裝置精確地與測試板接觸,而電接觸能夠在接觸點處穩定傳輸訊號而不會失真。
由於測試插槽係為消耗部件,其機械及電特性由於重複測試處理而劣化,因此期望藉由增加測試插槽可以使用的次數而透過測試插槽的使用壽命的延展來造成測試處理的成本降低。
同時,兩個主要原因可能決定測試插槽的使用壽命。第一原因係為插槽由於機械部件中的不穩定接觸而損傷的問題。第二原因係為由於連續接觸引起的接觸區域污染增加了接觸電阻,而因此導致電特性不穩定的問題。
取決於連接半導體裝置與測試裝置的導電方法的類型,通常使用的測試插槽可以分成銷型與橡膠型。
第1圖分別圖示常用的銷型及橡膠型的測試插槽的橫截面圖。
參照第1(a)圖,銷型測試插槽10包括:插槽主體11,設置複數個接觸銷12,複數個接觸銷12藉由形成為折曲而具有彈性;外罩13,能夠在插槽本體11的上部件處向上及向下移動;以及閂鎖14,組裝成可收到插槽主體11,以允許裝置20藉由利用外罩13的向上及向下移動互鎖而緊固或鬆開。
具有向上及向下方向的彈性的接觸銷12在電連接裝置的引線與測試裝置的焊盤中起作用。取決於裝置的引線與測試裝置的焊盤的材料及類型,可以取得各種銷,並且存在例如由柱塞、圓筒、及彈簧組成的彈簧銷。
閂鎖14形成為具有導引狹槽14a,導引狹槽14a係與導引銷15a結合,而導引銷15a緊固到驅動連桿15,驅動連桿15的一端係與外罩13結合,並插入鉸鏈。外罩13係由彈簧16彈性支撐。
如此配置的銷型測試插槽10允許在按壓外罩13時,閂鎖14向外展開而裝載裝置20,並在外罩13釋放時,閂鎖14藉由螺旋彈簧15的彈性恢復力按壓裝置20的上部件而緊固裝置20。
然而,銷型測試插槽10具有螺旋或彎曲結構,以使接觸銷12具有彈性,但由於電流路徑變長而出現訊號損失的問題,因此在微波頻率範圍中是不利的結構。此外,在具有微節距的測試插槽中,接收接觸銷12的殼體的結構的製造處理變得複雜,並且出現成本大為增加的問題。
接著,參照第1(b)圖,橡膠型測試插槽30包括:連接器主體31,利用固化的絕緣矽粉末而具有彈性;以及導電矽部件32,通過連接器主體31垂直形成,以對應於裝置20的焊球(引線)21。導電矽部件32具有大致垂直穿過連接器主體31的圓柱形狀。
當執行這樣的橡膠型測試插槽的製造方法時,當將電流施加到在將絕緣粉末與導電粉末的矽混合物以固定比例混合而插入模具並熔化混合物之後形成的導電矽部件32的位置時,迫使矽混合物的導電粉末聚集在允許施加電流的位置處,最後利用熔化的矽混合物固化的導電矽部件32來形成測試插槽30。
所述的所製造的測試插槽30的導電矽部件32的底部係與位於裝置下方的測試裝置的焊盤接觸,而導電矽部件32的頂部係藉由裝置20在頂部以固定壓力按壓而與焊球21電接觸。
由於橡膠型測試插槽30係由具有彈性的柔軟材料製成,因此利用覆蓋焊球的導電矽部件32的頂表面建立穩定的電接觸。此時,導電矽部件32的中央部件凸起擴展。
然而,由於在重複測試處理中失去彈性,橡膠型測試插槽30具有其使用壽命顯著降低的缺點。因此,由於使用次數少及頻繁更換而導致成本增加。
具體而言,橡膠型測試插槽不容易在具有微節距的裝置中確保足夠的距離L,以用於彼此相鄰的導電矽部件32之間的絕緣,而因此橡膠型測試插槽有很高的可能性發生短路。
因此,當用於具有微節距的半導體裝置的測試插槽中的彼此相鄰的導電矽部件32之間的距離L較短時,確保導電矽部件32之間的絕緣的足夠距離L非常重要。
然而,如前所述,藉由將電壓施加到絕緣粉末與導電粉末混合的熔化的矽混合物,導電粉末沿著電流路徑聚集,橡膠型測試插槽30形成導電矽部件32。因此,沿著電流路徑聚集的導電粉末可能無法以精確定義的尺寸d分佈,而因此具有導電粉末的密度連續減少的區段δ。
因此,橡膠型測試插槽30具有固定的阻尼區段δ,而不是導電矽部件32經精確定義的直徑d,而因此具有與彼此相鄰的導電矽部件32之間的絕緣的距離L變得較短的問題。因此,橡膠型測試插槽30對於作為具有微節距的半導體裝置的測試插槽相當不利。
此外,橡膠型測試插槽30必須在相當長的時間內施加電壓,以藉由在其製造處理中將電壓施加到熔化的矽混合物而沿著電流路徑獲得足夠的導電粉末密度,而因此具有製造處理需要很長時間的缺點。
針對上述問題,發明人開發混合接觸器與新型測試插槽裝置,而可以解決習知銷型及橡膠型測試插槽的缺點並結合其優點,而因此最終實現本專利申請案。
前述內容僅意欲幫助理解本發明的先前技術,並不意欲指稱本發明落入該領域具有通常知識者已知的相關技術的範圍。 相關技術文件 [專利文件] [專利文件]韓國未審查專利公開號10-2006-0062824(公開日:2006.06.12)
因此,本發明已考慮到相關技術中出現的上述問題,而本發明意欲提出一種適用於具有微節距的半導體裝置的測試插槽裝置。更特定言之,本發明提出一種測試插槽裝置,不僅具有優良的電特性,並且藉由解決習知銷型及橡膠型測試插槽裝置的缺點而具有延長的使用壽命。
此外,本發明意欲提出一種具有適用於具有微節距的半導體裝置的測試插槽裝置的結構的接觸器。
為了實現上述目的,提供一種用於測試半導體裝置的接觸器及其插槽裝置。根據本發明的一個態樣,藉由沖切金屬板並將金屬板軋製成圓柱形狀而配置於整合主體中的接觸器包括:彈性部件,以鋸齒形圖案連接單元條帶,並折曲成圓柱形狀,每一單元條帶係由水平條帶與垂直條帶組成,垂直條帶從水平條帶的一端垂直延伸,並具有比水平條帶更短的長度;上頭部部件,設置上尖端部件,並折曲成圓柱形狀,上尖端部件係藉由從彈性部件的最上端向上突出並延伸而形成;以及下頭部部件,設置下尖端部件,並折曲成圓柱形狀,下尖端部件係藉由從彈性部件的最下端向下突出並延伸而形成。
根據本發明的另一態樣,藉由沖切金屬板並將金屬板軋製成圓柱形狀而配置於整合主體中的接觸器包括:彈性部件,藉由節點串聯連接相同尺寸的複數個閉環條帶,並折曲成圓柱形狀;上頭部部件,設置上尖端部件,並折曲成圓柱形狀,上尖端部件係藉由從彈性部件的最上端向上突出並延伸而形成;以及下頭部部件,設置下尖端部件,並折曲成圓柱形狀,下尖端部件係藉由從彈性部件的最下端向下突出並延伸而形成。
較佳地,接觸器進一步包括具有導電性及彈性的填充物,以圓柱形狀填充到至少上頭部部件與下頭部部件之間的彈性區段中。
此外,根據本發明的包括上述接觸器的測試插槽包括:安裝部件,形成複數個通孔,接觸器插入每一通孔中,並對應於裝置的引線定位;以及具有彈性的絕緣主體部件,以允許接觸器在整合主體中緊固到安裝部件。
本發明的接觸器係為藉由沖切及折曲金屬板而配置於整合主體中的彈簧接觸器,並包括彈性部件與尖端部件,彈性部件係由固定圖案的單一或封閉條帶組成,尖端部件中之每一者係設置於彈性部件的相對端部上。較佳地,藉由在空間容積中填充具有導電性與彈性的填充物,本發明的接觸器可以解決銷型及橡膠型中之每一者的測試插槽裝置的缺點,並具有優異的電特性,且提供允許其使用壽命延長的效果。
此外,採用上述接觸器的橡膠類型的根據本發明的測試插槽可以解決習知橡膠型測試插槽的缺點,且更特定為針對具有微節距的半導體裝置的測試提供適當的效果。
在下文中,將參照隨附圖式詳細描述本發明的示例性實施例。在整個圖式中,相同的元件符號將指稱相同或相似的部件。首先,本案說明書及專利申請範圍中使用的術語及詞語不應理解為習知含義或詞典中定義的含義,而應基於發明人能夠適當地定義每一術語的概念,以利用他或她自己的最佳方式描述本揭示案之原則,而根據本揭示的技術思想來理解。
因此,在本說明書中描述的實施例與圖式中圖示的組合僅為本發明的較佳實施例,並不代表本發明的所有技術概念。因此,應理解,可能存在各種等同物或修改。
本發明具有藉由將沖切金屬板所形成的條帶捲成圓柱形狀而配置於整合主體中的接觸器以及由導電彈性填充部件填充基於使用接觸器的圓柱結構而組成的混合型接觸器的技術特徵。將參照隨附圖式詳細描述根據本發明的最佳實施例的接觸器。第一實施例
第2圖及第3圖係為圖示根據本發明的第一實施例的接觸器的圖式,其中第2(a)圖分別從左側圖示左側視圖與平板圖案的展開狀態的平面及前視圖,第2(b)圖分別從頂部圖示經捲動處理的接觸器的平面圖及前視圖,第3圖分別從頂部圖示利用填充物填充的混合型接觸器的平面圖及前視圖。
參照第2(a)及(b)圖,根據本案實施例的接觸器1200的平板圖案包括:彈性部件1210,利用單元條帶1211及1212以之字形圖案連接,單元條帶1211及1212係由水平條帶1211與垂直條帶1212組成;上頭部部件1222,設置上尖端部件1321,上尖端部件1321從彈性部件1210的最上端向上突出並延伸;及下頭部部件1232,設置下尖端部件1231,下尖端部件1231形成為從彈性部件1210的最下端向下突出並延伸。
藉由沖切由材料(例如,鈹銅(BeCu)、銅合金、或不銹鋼(SUS))製成的板,可以將接觸器製造成固定圖案,然後可以藉由將沖切成固定圖案的板折曲成圓柱形狀來製造接觸器。此外,接觸器的表面可以利用金、鈀(Pd)、鈀鎳(PdNi)、或鈀鈷(PdCo)等電鍍。
彈性部件1210包括由水平條帶1211與垂直條帶1212組成的單位條帶1211及1212,其中垂直條帶1212從水平條帶1211的一端垂直延伸,且具有比水平條帶1211更短的長度,而複數個單位條帶1211及1212係以之字形圖案連接。
上頭部部件1222與下頭部部件1232係設置上側尖端部件1221與下側尖端部件1231,並分別與半導體裝置的引線及測試設備的焊盤接觸,上側尖端部件1221與下側尖端部件1231沿著邊緣配置複數個齒狀物。
在本案實施例中,上頭部部件1222與下頭部部件1232係圖示為與彈性部件1210的水平條帶1211相同,但不限於本案實施例,而可以具有與水平條帶1211不同的寬度與長度。
可以允許具有上述平板圖案的接觸器1200折曲成圓柱形狀,並且可以藉由將水平條帶1211的中心作為垂直軸線C來實現將接觸器1200折曲成圓柱形狀。
接著,如第3圖所示,可以利用填充物1240填充以此方式配置的接觸器1200,填充物1240在其圓柱形狀內側具有導電性及彈性。作為參照,為了明確區分沒有填充物的接觸器,將本發明中利用填充物填充的接觸器稱為混合接觸器。
本案實施例中的填充物1240可以是與具有導電性的顆粒混合的絕緣材料。舉例而言,將導電粉末與絕緣矽粉末的混合物填充於圓柱形狀的接觸器中,並且可以藉由在混合物熔化之後將混合物固化來取得具有導電性及彈性的混合接觸器。
同時,模具可以用於熔化及固化混合物的處理。模具係形成為具有接收孔,而經過執行折曲處理的接觸器插入並定位於接收孔中。因此,將混合物插入已將接觸器插入的接收孔中。然後,可以藉由在熔化及固化混合物之後將混合物與模具分離來取得混合接觸器。
具有導電性的顆粒可以是金屬材料的顆粒,或者利用金、銀、鈀(Pd)、鈀鎳(PdNi)、或鈀鈷(PdCo)在金屬或非金屬材料的顆粒的表面上電鍍的顆粒,或者奈米碳管的混合。
作為構成填充物1240的具有絕緣性質的主要基礎材料,可以使用彈性高分子物質,並且可以代表性地使用矽,但是基礎材料不限於此。
此外,本案實施例圖示填充物1240係從上側尖端部件1221到下側尖端部件1231填充成圓柱形狀。然而,根據需要,可以僅在彈性部件1210的產生相對大的電阻的區段中實施填充,而不包括上頭部部件1221與下頭部部件1231的區段。 第二實施例
第4圖及第5圖係為圖示根據本發明的第二實施例的接觸器的圖式,其中第4(a)圖從左側圖示左側視圖與平板圖案的展開狀態的前視圖,第4(b)圖從頂部圖示經捲動處理的接觸器的平面圖及前視圖,第5圖從頂部圖示利用填充物填充的混合型接觸器的平面圖及前視圖。
參照第4(a)及(b)圖,根據本案實施例的接觸器1300的平板圖案包括:彈性部件1310,利用單元條帶1311及1312以之字形圖案連接,單元條帶1311及1312係由水平條帶1311與垂直條帶1312組成;上頭部部件1322,設置上尖端部件1321,上尖端部件1321從彈性部件1310的最上端向上突出並延伸;及下頭部部件1332,設置下尖端部件1331,下尖端部件1331形成為從彈性部件1310的最下端向下突出並延伸。
具體而言,上側尖端部件1321係配置複數個齒狀物,每一齒狀物相對於平板圖案的平面P具有預設角度θ1的斜率。因此,上側尖端部件1321藉由朝向圓柱形狀的中心折曲而具有圓錐形狀。此外,下側尖端部件1331亦配置複數個齒狀物,每一齒狀物相對於平板圖案的平面P具有預設角度θ2的斜率,而因此藉由朝向圓柱形狀的中心折曲而具有圓錐形狀。
參照第5圖,可以利用填充物1340填充以此方式配置的接觸器1300,填充物1340在其圓柱形狀內側具有導電性及彈性,而因此可取得混合接觸器。
如第一實施例所述,可以藉由在接觸器1300中填充導電粉末與絕緣矽粉末的混合物並藉由將混合物固化來製造填充物1340。此外,本發明的實施例中的接觸器與填充物及填充區段的材料係與第一實施例相同。因此,在下文中將省略重複的描述。 第三實施例
第6圖及第7圖係為圖示根據本發明的第三實施例的接觸器的圖式,其中第6(a)圖從左側圖示左側視圖與平板圖案的展開狀態的前視圖,第6(b)圖從頂部圖示經捲動處理的接觸器的平面圖及前視圖,第7圖從頂部圖示利用填充物填充的混合型接觸器的平面圖及前視圖。
參照第6(a)及(b)圖,根據本案實施例的接觸器1400的平板圖案包括:彈性部件1410,藉由節點1412串聯連接複數個相同尺寸的閉環1411;上頭部部件1422,設置上尖端部件1421,上尖端部件1421從彈性部件1410的最上端向上突出並延伸;及下頭部部件1432,設置下尖端部件1431,下尖端部件1431形成為從彈性部件1410的最下端向下突出並延伸。
構成本案實施例中的彈性部件1410的閉環1411具有近似矩形的形狀且具有相同尺寸,而相鄰閉環1411藉由單一節點1412串聯連接。
本案實施例圖示上頭部部件1422與下頭部部件1432係具有與彈性部件1410相同的單元條帶(封閉條帶)結構。然而,上頭部部件1422與下頭部部件1432並不限於本案實施例,且可以具有各種類型的形狀(例如,除了封閉條帶之外的矩形條帶)。較佳地,每一節點係設置於彈性部件1410的垂直軸線C上。
上側尖端部件1421與下尖端部件1431可以配置複數個齒狀物。
折曲以此方式配置的平板圖案以允許彈性部件1410、上頭部部件1422、及下頭部部件1432配置成圓柱形狀。此時,可以在上頭部部件1422及/或下頭部部件1432支撐為作用的參考點的情況下實現折曲成圓柱形狀。
參照第7圖,可以利用填充物1440填充以此方式配置的接觸器1400,填充物1440在其圓柱形狀內側具有導電性及彈性。 第四實施例
第8圖及第9圖係為圖示根據本發明的第四實施例的接觸器的圖式,其中第8(a)圖從左側圖示左側視圖與平板圖案的展開狀態的前視圖,第8(b)圖從頂部圖示經捲動處理的接觸器的平面圖及前視圖,第9圖從頂部圖示利用填充物填充的混合型接觸器的平面圖及前視圖。
參照第8(a)及(b)圖,根據本案實施例的接觸器1500的平板圖案包括:彈性部件1510,藉由節點1512串聯連接複數個相同尺寸的閉環1511;上頭部部件1522,設置上尖端部件1521,上尖端部件1521從彈性部件1510的最上端向上突出並延伸;及下頭部部件1532,設置下尖端部件1531,下尖端部件1531形成為從彈性部件1510的最下端向下突出並延伸。
具體而言,上側尖端部件1521係配置複數個齒狀物,每一齒狀物相對於平板圖案的平面P具有預設角度θ3的斜率。因此,上側尖端部件1521藉由朝向圓柱形狀的中心折曲而具有圓錐形狀。此外,下側尖端部件1351亦配置複數個齒狀物,每一齒狀物相對於平板圖案的平面P具有預設角度θ4的斜率,而因此藉由朝向圓柱形狀的中心折曲而具有圓錐形狀。
參照第9圖,可以利用填充物1540填充以此方式配置的接觸器1500,填充物1540在其圓柱形狀內側具有導電性及彈性。
在下文中,將詳細描述採用上述接觸器的測試插槽。 第一實施例
第10圖係為圖示根據本發明的第一實施例的測試插槽的圖式,其中第10(a)圖係為平面視圖,而第10(b)圖係為沿著線段AA截取的橫截面圖。
參照第10(a)及(b)圖,根據本案實施例的測試插槽2100包括安裝部件2120,安裝部件2120形成與裝置20的引線21對應的複數個通孔2121a,其中接觸器2110插入並定位於通孔2121a,而具有彈性的絕緣主體部件2130允許接觸器2110在整合主體中緊固到安裝部件2120。
作為平板構件的安裝部件2120形成與裝置20的引線21對應的複數個通孔2121a,藉此每一接觸器2110的底部的一部分插入相應的通孔中,而絕緣主體部件2130係設置於安裝部件2120的頂表面上。安裝部件2120可以設置用於將測試插槽2100安裝在其中的安裝孔2120a與用於導引測試插槽2100的組裝位置的導引孔2120b。
本案實施例中的安裝部件2120可以配置絕緣材料(例如,樹脂)的第一安裝部件2121與構成插槽底座(由金屬(SUS)或樹脂構成)的第二安裝部件2122,但並不限於此,而是可以單獨利用第一安裝部件2121。
作為具有彈性的絕緣材料的絕緣主體部件2130允許接觸器2110與安裝部件2120在整合主體中彼此緊固,而裝置20係安裝在其頂表面上。
同時,可以在絕緣主體部件2130的頂表面上增加直接安裝裝置20的安裝座2131。此外,安裝座2131可以設置具有絕緣性質的樹脂。
絕緣主體部件2130可以設置絕緣矽流體。舉例而言,接觸器2110臨時組裝在安裝部件2120的通孔2121a中,然後藉由使用模具將矽流體插入模具並加以固化,以使絕緣主體部件2130成形。因此,可以藉由移除模具來完成允許安裝部件2120與接觸器2110在整合主體中彼此緊固的絕緣主體部件2130。
較佳地,利用下側尖端部件從通孔2121a突出預設長度b1,接觸器2110可以增強與測試裝置的焊盤的接觸。
接觸器2110的上側尖端部件亦可以藉由從絕緣主體部件2130的頂表面突出預設長度b2來增強與裝置20的引線21的接觸,其中頂表面係面向裝置20。同時,裝置20直接安裝於安裝座2131上,安裝座2131係設置於絕緣主體部件2130的頂表面上。此時,安裝座2131的高度可以高於接觸器2110的頂部的高度,但是當裝置20安裝在其上時,可以利用將安裝座2131壓縮來實現裝置20的引線21與接觸器2110的接觸。 第二實施例
第11圖圖示根據本發明的第二實施例的測試插槽的橫截面圖,以及將描述與第一實施例不同的點,並省略與第一實施例重複的描述。
參照第11圖,根據本案實施例的測試插槽2200包括安裝部件2220,安裝部件2220形成與裝置20的引線21對應的複數個通孔,其中混合接觸器2210插入並定位於通孔,而具有彈性的絕緣主體部件2230允許混合接觸器2210在整合主體中緊固到安裝部件2220。
作為平板構件的安裝部件2220形成與裝置20的引線21對應的複數個通孔,藉此每一混合接觸器2210的底部的一部分插入相應的通孔中,而絕緣主體部件2230係設置於安裝部件2220的頂表面上。像這樣的安裝部件可以是由第一實施例中所述的均質或異質材料構成的雙層結構。
具體而言,藉由在接觸器中填充具有導電性及彈性的填充物而配置此實施例的混合接觸器2210,每一接觸器係藉由捲成前面所圖示的圓柱形狀而配置於整合主體中。
作為具有彈性的絕緣材料的絕緣主體部件2230允許混合接觸器2210與安裝部件2220在整合主體中彼此緊固,而裝置20係安裝在其頂表面上。如第一實施例所述,絕緣主體部件2230藉由將絕緣矽流體固化來允許安裝部件2220與混合接觸器2210在整合主體中彼此緊固。此外,可以將絕緣材料的安裝座2231增加到絕緣主體部件2230的頂表面上,而裝置20將直接安裝於其上。
較佳地,可以在每一混合接觸器2210的頂部上增加具有導電性及彈性的緩衝器接觸部件2211,其中緩衝器接觸部件2211可以利用插入混合接觸器2210與裝置20的引線21之間的接觸來減少混合接觸器2210的磨擦。同時,如上所述的緩衝器接觸部件可以同樣地應用至第一實施例中的接觸器。 第三實施例
第12圖圖示根據本發明的第三實施例的測試插槽的橫截面圖。
參照第12圖,根據本案實施例的測試插槽2300可以配備均質(或異質)接觸器2311(或混合接觸器2312),並取決於設備20的引線21或22而具有不同高度。
在取決於裝置的球型引線21與板型引線22混合的複合型裝置20的情況下,可以提供適合於每一引線的接觸器2311或2312。此時,BGA型或LGA型的接觸器(或混合接觸器)係用於接觸器2311或2312,適合於每一引線的接觸器係臨時組裝在安裝部件2320上,而藉由以與前述實施例相同的方式將絕緣矽流體固化,可以允許安裝部件2320與接觸器2311或2312彼此緊固。
如圖所示,儘管已藉由有限數量的示例性實施例及圖式描述本揭示,但是本發明並不限於此。因此,該領域具有通常知識者將理解,在不悖離本發明的技術範圍及精神以及與下文描述的申請專利範圍等同者的情況下,可以進行各種修改、增加、及替換。
10‧‧‧銷型測試插槽
11‧‧‧插槽主體
12‧‧‧接觸銷
13‧‧‧外罩
14‧‧‧閂鎖
14a‧‧‧導引狹槽
15‧‧‧驅動連桿
15a‧‧‧導引銷
16‧‧‧彈簧
20‧‧‧裝置
21‧‧‧引線
22‧‧‧引線
30‧‧‧橡膠型測試插槽
31‧‧‧連接器主體
32‧‧‧導電矽部件
1200‧‧‧接觸器
1210‧‧‧彈性部件
1211‧‧‧條帶
1212‧‧‧條帶
1221‧‧‧上尖端部件
1222‧‧‧上頭部部件
1231‧‧‧下尖端部件
1232‧‧‧下頭部部件
1240‧‧‧填充物
1300‧‧‧接觸器
1310‧‧‧彈性部件
1311‧‧‧條帶
1312‧‧‧條帶
1321‧‧‧上尖端部件
1322‧‧‧上頭部部件
1331‧‧‧下尖端部件
1332‧‧‧下頭部部件
1340‧‧‧填充物
1400‧‧‧接觸器
1410‧‧‧彈性部件
1411‧‧‧閉環
1412‧‧‧節點
1421‧‧‧上尖端部件
1422‧‧‧上頭部部件
1431‧‧‧下尖端部件
1432‧‧‧下頭部部件
1440‧‧‧填充物
1500‧‧‧接觸器
1510‧‧‧彈性部件
1511‧‧‧閉環
1512‧‧‧節點
1521‧‧‧上尖端部件
1522‧‧‧上頭部部件
1531‧‧‧下尖端部件
1532‧‧‧下頭部部件
1540‧‧‧填充物
2100‧‧‧測試插槽
2110‧‧‧接觸器
2120‧‧‧安裝部件
2120a‧‧‧安裝孔
2120b‧‧‧導引孔
2121‧‧‧第一安裝部件
2121a‧‧‧通孔
2122‧‧‧第二安裝部件
2130‧‧‧絕緣主體部件
2131‧‧‧安裝座
2200‧‧‧測試插槽
2210‧‧‧混合接觸器
2211‧‧‧緩衝器接觸部件
2220‧‧‧安裝部件
2230‧‧‧絕緣主體部件
2231‧‧‧安裝座
2300‧‧‧測試插槽
2311‧‧‧接觸器
2312‧‧‧接觸器
2320‧‧‧安裝部件
結合隨附圖式,從下文的詳細描述中,將更清楚地理解本發明的上述及其他目的、特徵、及其他優點,其中:
第1圖分別圖示一般的銷型及橡膠型的測試插槽的橫截面圖;
第2圖及第3圖係為圖示根據本發明的第一實施例的接觸器的圖式;
第4圖及第5圖係為圖示根據本發明的第二實施例的接觸器的圖式;
第6圖及第7圖係為圖示根據本發明的第三實施例的接觸器的圖式;
第8圖及第9圖係為圖示根據本發明的第四實施例的接觸器的圖式;
第10圖係為圖示根據本發明的第一實施例的測試插槽的圖式;
第11圖圖示根據本發明的第二實施例的測試插槽的橫截面圖;以及
第12圖圖示根據本發明的第三實施例的測試插槽的橫截面圖。
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Claims (25)

  1. 一種藉由沖切一金屬板並將該金屬板軋製成一圓柱形狀而配置於一整合主體中的接觸器,包含: 一彈性部件,以一鋸齒形圖案連接單元條帶,並折曲成一圓柱形狀,每一單元條帶係由一水平條帶與一垂直條帶組成,該垂直條帶從該水平條帶的一端垂直延伸,並具有比該水平條帶更短的一長度; 一上頭部部件,設置一上尖端部件,並折曲成該圓柱形狀,該上尖端部件係藉由從該彈性部件的一最上端向上突出並延伸而形成;以及 一下頭部部件,設置一下尖端部件,並折曲成該圓柱形狀,該下尖端部件係藉由從該彈性部件的一最下端向下突出並延伸而形成。
  2. 如請求項1所述之接觸器,其中藉由將該水平條帶的一中心作為一垂直軸線,將該彈性部件折曲成該圓柱形狀。
  3. 一種藉由沖切一金屬板並將該金屬板軋製成一圓柱形狀而配置於一整合主體中的接觸器,包含: 一彈性部件,藉由節點串聯連接相同尺寸的複數個閉環條帶,並折曲成一圓柱形狀; 一上頭部部件,設置一上尖端部件,並折曲成該圓柱形狀,該上尖端部件係藉由從該彈性部件的一最上端向上突出並延伸而形成;以及 一下頭部部件,設置一下尖端部件,並折曲成該圓柱形狀,該下尖端部件係藉由從該彈性部件的一最下端向下突出並延伸而形成。
  4. 如請求項3所述之接觸器,其中該等節點係設置於該彈性部件的一垂直軸線上。
  5. 如請求項1或3所述之接觸器,其中該上尖端部件係為向上突出形成的複數個齒狀物。
  6. 如請求項5所述之接觸器,其中該上尖端部件具有配置成一圓錐形狀的複數個齒狀物。
  7. 如請求項1或3所述之接觸器,其中該下尖端部件係為向下突出形成的複數個齒狀物。
  8. 如請求項7所述之接觸器,其中該下側尖端部件具有配置成一圓錐形狀的複數個齒狀物。
  9. 如請求項1或3所述之接觸器,進一步包含: 一填充物,具有導電性及彈性,而以一圓柱形狀填充到至少該上頭部部件與該下頭部部件之間的一彈性區段中。
  10. 一種包括如請求項1或3所述之接觸器的測試插槽,該測試插槽包含: 一安裝部件,形成複數個通孔,該接觸器插入每一通孔中,並對應於一裝置的一引線定位;以及 一絕緣主體部件,具有彈性,以允許該接觸器在一整合主體中緊固到該安裝部件。
  11. 如請求項10所述之測試插槽,其中該安裝部件包括一絕緣平板構件,該絕緣平板構件形成用於安裝的孔洞與用於導引一組裝位置的孔洞。
  12. 如請求項10所述之測試插槽,其中該安裝部件包括: 一第一安裝部件,形成該等通孔,並支撐該絕緣主體部件;以及 一第二安裝部件,安裝並位於該第一安裝部件的一頂部, 其中該第一安裝部件與該第二安裝部件形成為具有用於安裝的孔洞與用於導引一組裝位置的孔洞,每等孔洞中之每一者都貫穿。
  13. 如請求項10所述之測試插槽,進一步包含: 一安裝座,位於該絕緣本體的一頂部,該安裝座具有電絕緣性質,並形成與該等通孔對應形成的孔洞。
  14. 如請求項13所述之測試插槽,其中該接觸器具有一下側尖端部件與一上側尖端部件,該下側尖端部件藉由從該等通孔中之相應一者突出而定位,而該上側尖端部件藉由從該安裝座的一頂部突出而定位,以面向該裝置。
  15. 如請求項13所述之測試插槽,其中該接觸器具有一上尖端部件,該上尖端部件定位於比該安裝座的該頂部更低,以面向該裝置。
  16. 如請求項10所述之測試插槽,其中該接觸器進一步包括在其頂部上的具有導電性與彈性的一緩衝器接觸部件。
  17. 如請求項10所述之測試插槽,其中該測試插槽係設置具有不同高度的複數個接觸器,而藉此可允許針對具有異質引線的一複合型裝置進行一測試。
  18. 一種包括如請求項9所述之接觸器的測試插槽,該測試插槽包含: 一安裝部件,形成複數個通孔,該接觸器插入每一通孔中,並對應於一裝置的一引線定位;以及 一絕緣主體部件,具有彈性,以允許該接觸器在一整合主體中緊固到該安裝部件。
  19. 如請求項18所述之測試插槽,其中該安裝部件包括一絕緣平板構件,該絕緣平板構件形成用於安裝的孔洞與用於導引一組裝位置的孔洞。
  20. 如請求項18所述之測試插槽,其中該安裝部件包括: 一第一安裝部件,形成該等通孔,並支撐該絕緣主體部件;以及 一第二安裝部件,安裝並位於該第一安裝部件的一頂部, 其中該第一安裝部件與該第二安裝部件形成為具有用於安裝的孔洞與用於導引一組裝位置的孔洞,每等孔洞中之每一者都貫穿。
  21. 如請求項18所述之測試插槽,進一步包含: 一安裝座,位於該絕緣本體的一頂部,該安裝座具有一電絕緣性質,並形成與該等通孔對應形成的孔洞。
  22. 如請求項21所述之測試插槽,其中該接觸器具有一下側尖端部件與一上側尖端部件,該下側尖端部件藉由從該等通孔中之相應一者突出而定位,而該上側尖端部件藉由從該安裝座的一頂部突出而定位,以面向該裝置。
  23. 如請求項21所述之測試插槽,其中該接觸器具有一上尖端部件,該上尖端部件定位於比該安裝座的該頂部更低,以面向該裝置。
  24. 如請求項18所述之測試插槽,其中該接觸器進一步包括在其頂部上的具有導電性與彈性的一緩衝器接觸部件。
  25. 如請求項18所述之測試插槽,其中該測試插槽係設置具有不同高度的複數個接觸器,而藉此可允許針對具有異質引線的一複合型裝置進行一測試。
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