JP4448086B2 - プリント配線板の検査治具 - Google Patents
プリント配線板の検査治具 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4448086B2 JP4448086B2 JP2005357718A JP2005357718A JP4448086B2 JP 4448086 B2 JP4448086 B2 JP 4448086B2 JP 2005357718 A JP2005357718 A JP 2005357718A JP 2005357718 A JP2005357718 A JP 2005357718A JP 4448086 B2 JP4448086 B2 JP 4448086B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- board
- pin
- coil spring
- hole
- probe
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07314—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
- G01R1/07328—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
- G01R1/06716—Elastic
- G01R1/06722—Spring-loaded
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
前記ピンボードは、前記収容孔が設けられた下側ピンボードと、前記下側ピンボードの上側に取付固定され、前記装着孔が設けられた一対の上側ピンボードと、前記一対の上側ピンボードの間に配設された弾性保持部材と、を備え、前記一対の上側ピンボードの前記装着孔、前記下側ピンボードの前記収容孔及び前記保護ボードの前記案内孔の内径は実質上等しく、前記弾性保持部材がゴムボードから構成され、前記ゴムボードの弾性保持部が前記一対の上側ピンボードの前記装着孔内に径方向内方に幾分突出しており、
また、前記プローブピンは細長い円筒形のストレート状であり、前記プローブピンの基部には先細のテーパ部が設けられ、前記テーパ部が前記コイルばねの端部に受け入れられており、
前記ゴムボードの前記弾性保持部は前記プローブピンの外周面をその軸方向に移動可能に弾性的に保持し、前記プローブピンの基部側が前記一対の上側ピンボードの前記装着孔に案内保持されるとともに、その先端側が前記保護ボードの前記案内孔に案内保持されることを特徴とする。
104 ピンボード
106 保護ボード
108 スペーサボード
110 下側ピンボード
112,114 上側ピンボード
118 収容孔
122,124 装着孔
128 案内孔
130,130B プローブピン
132,132A コイルばね
134 ゴムボード
138 弾性保持部
Claims (3)
- 収容孔及び装着孔を有するピンボードと、前記ピンボードの片面側に配設され、案内孔を有する保護ボードと、前記ピンボードの前記装着孔に挿入され、その先端部が前記保護ボードの前記案内孔を通して外方に突出するプローブピンと、前記ピンボードの前記収容孔に収容され、前記プローブピンの基部に作用するコイルばねと、を備えており、
前記ピンボードは、前記収容孔が設けられた下側ピンボードと、前記下側ピンボードの上側に取付固定され、前記装着孔が設けられた一対の上側ピンボードと、前記一対の上側ピンボードの間に配設された弾性保持部材と、を備え、前記一対の上側ピンボードの前記装着孔、前記下側ピンボードの前記収容孔及び前記保護ボードの前記案内孔の内径は実質上等しく、前記弾性保持部材がゴムボードから構成され、前記ゴムボードの弾性保持部が前記一対の上側ピンボードの前記装着孔内に径方向内方に幾分突出しており、
また、前記プローブピンは細長い円筒形のストレート状であり、前記プローブピンの基部には先細のテーパ部が設けられ、前記テーパ部が前記コイルばねの端部に受け入れられており、
前記ゴムボードの前記弾性保持部は前記プローブピンの外周面をその軸方向に移動可能に弾性的に保持し、前記プローブピンの基部側が前記一対の上側ピンボードの前記装着孔に案内保持されるとともに、その先端側が前記保護ボードの前記案内孔に案内保持されることを特徴とするプリント配線板の検査治具。 - 前記コイルばねにリード線が一体的に設けられていることを特徴とする請求項1に記載のプリント配線板の検査治具。
- 前記コイルばねにリード線が電気的に接触接続され、前記コイルばねに接触する前記リード線の一端部がフランジヘッド状に形成されていることを特徴とする請求項1に記載のプリント配線板の検査治具。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005357718A JP4448086B2 (ja) | 2005-12-12 | 2005-12-12 | プリント配線板の検査治具 |
KR1020060041750A KR100869720B1 (ko) | 2005-12-12 | 2006-05-10 | 프린트 배선판의 검사 지그 |
TW095119556A TWI323785B (en) | 2005-12-12 | 2006-06-02 | Inspection fixture for printed wiring board |
CN2006100930063A CN1982896B (zh) | 2005-12-12 | 2006-06-02 | 印刷配线板检查夹持具 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005357718A JP4448086B2 (ja) | 2005-12-12 | 2005-12-12 | プリント配線板の検査治具 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007163217A JP2007163217A (ja) | 2007-06-28 |
JP2007163217A5 JP2007163217A5 (ja) | 2007-10-04 |
JP4448086B2 true JP4448086B2 (ja) | 2010-04-07 |
Family
ID=38165570
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005357718A Expired - Fee Related JP4448086B2 (ja) | 2005-12-12 | 2005-12-12 | プリント配線板の検査治具 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4448086B2 (ja) |
KR (1) | KR100869720B1 (ja) |
CN (1) | CN1982896B (ja) |
TW (1) | TWI323785B (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20220052448A (ko) * | 2020-10-21 | 2022-04-28 | 주식회사 오킨스전자 | 테스트 소켓 |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009036532A (ja) * | 2007-07-31 | 2009-02-19 | Koyo Technos:Kk | 検査冶具および検査装置 |
WO2009016746A1 (ja) * | 2007-08-01 | 2009-02-05 | Elia Co., Ltd. | コンタクタ及びインターフェース組立体 |
JP4901811B2 (ja) * | 2008-05-27 | 2012-03-21 | ミツイ精密株式会社 | 電気的コネクタ、カメラレンズ及びカメラ |
JP5226429B2 (ja) * | 2008-08-25 | 2013-07-03 | 大西電子株式会社 | プリント配線板の検査治具 |
KR101522723B1 (ko) * | 2013-10-28 | 2015-06-01 | 김철군 | 반도체 테스트 소켓의 핀장치 |
CN105842490A (zh) * | 2016-05-25 | 2016-08-10 | 国家电网公司 | 继电保护端子排防损害装置 |
JP6710808B2 (ja) * | 2017-03-30 | 2020-06-17 | 日本発條株式会社 | プローブホルダおよびプローブユニット |
KR101911496B1 (ko) * | 2018-04-13 | 2018-12-28 | 황동원 | 반도체 디바이스 테스트 소켓장치 |
CN112305394B (zh) * | 2020-11-06 | 2021-04-27 | 法特迪精密科技(苏州)有限公司 | 探针承插件及探针组件 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2532331B2 (ja) * | 1992-11-09 | 1996-09-11 | 日本発条株式会社 | 導電性接触子 |
JPH07294552A (ja) * | 1994-04-26 | 1995-11-10 | Onishi Denshi Kk | プリント配線板の導通検査治具 |
CN1226632C (zh) * | 1998-07-10 | 2005-11-09 | 日本发条株式会社 | 导电的接触单元 |
JP4655392B2 (ja) | 2001-03-16 | 2011-03-23 | イビデン株式会社 | 導通検査治具及びその製造方法 |
CN2502280Y (zh) * | 2001-08-13 | 2002-07-24 | 吴志成 | 可提高测试密度的治具 |
JP4251855B2 (ja) * | 2002-11-19 | 2009-04-08 | 株式会社ヨコオ | 高周波・高速用デバイスの検査治具の製法 |
CN2677944Y (zh) * | 2003-12-03 | 2005-02-09 | 陈嘉隆 | 检测电路板的治具 |
-
2005
- 2005-12-12 JP JP2005357718A patent/JP4448086B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2006
- 2006-05-10 KR KR1020060041750A patent/KR100869720B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2006-06-02 TW TW095119556A patent/TWI323785B/zh not_active IP Right Cessation
- 2006-06-02 CN CN2006100930063A patent/CN1982896B/zh not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20220052448A (ko) * | 2020-10-21 | 2022-04-28 | 주식회사 오킨스전자 | 테스트 소켓 |
KR102413287B1 (ko) * | 2020-10-21 | 2022-06-27 | 주식회사 오킨스전자 | 테스트 소켓 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100869720B1 (ko) | 2008-11-21 |
CN1982896B (zh) | 2012-01-11 |
TW200722759A (en) | 2007-06-16 |
CN1982896A (zh) | 2007-06-20 |
JP2007163217A (ja) | 2007-06-28 |
KR20070062396A (ko) | 2007-06-15 |
TWI323785B (en) | 2010-04-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4448086B2 (ja) | プリント配線板の検査治具 | |
KR101951705B1 (ko) | 포고 핀 및 포고 핀의 배열을 구현하는 검사용 소켓 | |
JP5618729B2 (ja) | コンタクトプローブ及びこれを用いた電子回路試験装置 | |
US20090009205A1 (en) | Microcontactor probe assembly having a plunger and electric probe module using the same | |
JP5861423B2 (ja) | コンタクトプローブ及びそれを備えた半導体素子用ソケット | |
JP2008180689A (ja) | 検査探針装置及びこれを用いた検査用ソケット | |
JP2010025844A (ja) | コンタクトプローブおよび検査用ソケット | |
CN110581085A (zh) | 一体型弹簧针 | |
JP7021874B2 (ja) | コンタクトプローブ及び検査治具 | |
WO2009102030A1 (ja) | プローブユニット | |
KR101183809B1 (ko) | 검사용 동축 커넥터 | |
JP2010091358A (ja) | 検査用ソケット | |
JP6923821B2 (ja) | コンタクトプローブ及びこれを備えた検査用ソケット | |
JPWO2016043327A1 (ja) | プローブユニット | |
KR101827860B1 (ko) | 핀 블록 어셈블리 | |
JP4667253B2 (ja) | 四探針測定用同軸プローブ及びこれを備えたプローブ治具 | |
JP5203785B2 (ja) | 検査治具 | |
JP5184996B2 (ja) | 接触子及び電気的接続装置 | |
KR101808856B1 (ko) | 절연체를 구비한 프로브 핀 | |
JP2007048576A (ja) | アダプタソケット | |
JP5503477B2 (ja) | コンタクトプローブ及びこれを用いた電子回路試験装置 | |
JP5473444B2 (ja) | バットコンタクト式コネクタ | |
JP2009288156A (ja) | 検査用ソケット | |
JP5226429B2 (ja) | プリント配線板の検査治具 | |
JP2013195282A (ja) | コンタクトプローブ、コンタクトプローブを備えた半導体素子用ソケット、及びコンタクトプローブの製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070821 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070821 |
|
A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871 Effective date: 20070821 |
|
A975 | Report on accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005 Effective date: 20070911 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20071002 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20071122 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20071225 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080214 |
|
A911 | Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20080227 |
|
A912 | Removal of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20081024 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20091218 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100121 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130129 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140129 Year of fee payment: 4 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |