JP4448086B2 - プリント配線板の検査治具 - Google Patents

プリント配線板の検査治具 Download PDF

Info

Publication number
JP4448086B2
JP4448086B2 JP2005357718A JP2005357718A JP4448086B2 JP 4448086 B2 JP4448086 B2 JP 4448086B2 JP 2005357718 A JP2005357718 A JP 2005357718A JP 2005357718 A JP2005357718 A JP 2005357718A JP 4448086 B2 JP4448086 B2 JP 4448086B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
board
pin
coil spring
hole
probe
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2005357718A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2007163217A5 (ja
JP2007163217A (ja
Inventor
愼七 中村
勝昭 石川
宏和 田中
Original Assignee
大西電子株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 大西電子株式会社 filed Critical 大西電子株式会社
Priority to JP2005357718A priority Critical patent/JP4448086B2/ja
Priority to KR1020060041750A priority patent/KR100869720B1/ko
Priority to TW095119556A priority patent/TWI323785B/zh
Priority to CN2006100930063A priority patent/CN1982896B/zh
Publication of JP2007163217A publication Critical patent/JP2007163217A/ja
Publication of JP2007163217A5 publication Critical patent/JP2007163217A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4448086B2 publication Critical patent/JP4448086B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07314Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
    • G01R1/07328Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06711Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06716Elastic
    • G01R1/06722Spring-loaded

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Description

本発明は、プリント配線板の回路の短絡、絶縁状態などを検査するために用いるプリント配線板の検査治具に関する。
プリント配線板を検査するための検査治具として、図6に示す通りの構成のものが広く知られている。この検査治具は、ピンボード2と、このピンボード2の表面側に配設されたスペーサボード4と、スペーサボード4の表面側に配設された保護ボード6と、検査すべきプリント配線板の端子部に電気的に接続されるプローブピン体8とを備え、プローブ体8がピンボード2に装着されている。プローブピン体8は、ピンボード2に取り付けられた外側スリーブ10と、この外側スリーブ10の内側に配設された内側スリーブ12と、内側スリーブ12内の基部側に収容されたコイルばね14と、内側スリーブ12内の先端側に収容されたプローブピン16とから構成され、プローブピン16の先端側が保護ボート6に形成された案内孔18を通して外方に突出し、この突出端部がコイルばね14の弾性復元力を利用してプリント配線板の端子部に電気的に接続される。
このような検査治具では、内側スリーブ12が外側スリーブ10から取外し可能に構成されており、それ故に、プローブピン16が摩耗した場合に、古い内側スリーブ12を取り外して新しいものを取り付けることによって、この内側スリーブ12並びにこれに内蔵されたコイルばね14及びプローブピン16を新しいものに交換することができる。
しかし、この検査治具においては、外側スリーブ10の径方向内側に内側スリーブ12が配設され、この内側スリーブ12の径方向内側にコイルばね14及びプローブピン16が収容される構成である故に、プローブピン体8の外径が大きくなり、近年のプリント配線板の高実装化に充分に対応することができないという問題がある。
このような問題を解決するために、図7に示す検査治具も提案されている(例えば、特許文献1参照)。この検査治具は、下側ピンボード22と、この下側ピンボード22の上側に配設された上側ピンボード24とを備え、下側ピンボード22に段付きの装着孔26が設けられ、この装着孔26にプローブピン28が装着され、プローブピン28の小径突部30が下側ピンボード22から外方に突出している。また、上側ピンボード24にも段付き装着孔32が設けられ、この装着孔32にコイルばね34が装着され、コイルばね34と一体的に設けられたリード線36が上側ピンボード24から導出されている。このような検査治具では、プローブピン28自体が下側ピンボード22に装着されるので、その外径が小さく、プローブピン28の装着密度を高める(換言すると、プローブピン28間の間隔を小さくする)ことができる。
特開2000−227441号公報
しかしながら、上述した検査治具には、次の通りの問題がある。第1に、下側ピンボード22にプローブピン28を収容するための段付き装着孔26を設ける構成であるが、この段付き装着孔26の加工は容易でなく、検査治具の製作コストが高価となり、特に多数のプローブピン28を装着する形態のものでは、大きなコストアップとなる。第2に、プローブピン28が下側ピンボード22の段付き装着孔26に収容される構成であり、それ故に、摩耗などによってプローブピン28を新しいものと交換する場合、下側ピンボード22から上側ピンボード24を取り外して交換しなければならず、プローブピン28の交換作業が非常に煩雑となる。
本発明の目的は、プローブピンを所要の通りに保持することができるとともに、その交換も容易に行うことができ、更にプリント配線板の高実装化にも対応することができるプリント配線板の検査治具を提供することである。
本発明の請求項1に記載のプリント配線板の検査治具は、収容孔及び装着孔を有するピンボードと、前記ピンボードの片面側に配設され、案内孔を有する保護ボードと、前記ピンボードの前記装着孔に挿入され、その先端部が前記保護ボードの前記案内孔を通して外方に突出するプローブピンと、前記ピンボードの前記収容孔に収容され、前記プローブピンの基部に作用するコイルばねと、を備えており、
前記ピンボードは、前記収容孔が設けられた下側ピンボードと、前記下側ピンボードの上側に取付固定され、前記装着孔が設けられた一対の上側ピンボードと、前記一対の上側ピンボードの間に配設された弾性保持部材と、を備え、前記一対の上側ピンボードの前記装着孔、前記下側ピンボードの前記収容孔及び前記保護ボードの前記案内孔の内径は実質上等しく、前記弾性保持部材がゴムボードから構成され、前記ゴムボードの弾性保持部が前記一対の上側ピンボードの前記装着孔内に径方向内方に幾分突出しており、
また、前記プローブピンは細長い円筒形のストレート状であり、前記プローブピンの基部には先細のテーパ部が設けられ、前記テーパ部が前記コイルばねの端部に受け入れられており、
前記ゴムボードの前記弾性保持部は前記プローブピンの外周面をその軸方向に移動可能に弾性的に保持し、前記プローブピンの基部側が前記一対の上側ピンボードの前記装着孔に案内保持されるとともに、その先端側が前記保護ボードの前記案内孔に案内保持されることを特徴とする。
また、本発明の請求項2に記載のプリント配線板の検査治具では、前記コイルばねにリード線が一体的に設けられていることを特徴とする。
また、本発明の請求項3に記載のプリント配線板の検査治具では、前記コイルばねにリード線が電気的に接触接続され、前記コイルばねに接触する前記リード線の一端部がフランジヘッド状に形成されていることを特徴とする。
本発明の請求項1に記載のプリント配線板の検査治具によれば、ピンボードは弾性保持部材を含み、プローブピンが細長い円筒形のストレート状であり、この弾性保持部材の弾性保持部がプローブピンの外周面を弾性的に保持するので、このプローブピンの軸方向の移動を許容しながら所要の通りに保持することができ、多数のプローブピンを用いる場合であっても簡単な構成でもってプローブピンを保持することができる。また、プローブピンの基部側がピンボードの一対の上側ピンボードに設けられた装着孔に案内保持されるとともに、その先端側が保護ボードの案内孔に案内保持され、これらの装着孔及び案内孔の内径が実質上等しく形成されているので、プローブピンが軸方向に移動するときにも安定して保持することができる。また、プロープピンが細長い円筒状のストレート状であるので、その交換を簡単且つ容易に行うことができる。また、弾性保持部材がゴムボードから構成され、このゴムボードが一対の上側ピンボード間に配設されているので、弾性保持部材の構成を簡単にすることができるとともに、このゴムボードを確実に支持することができる。また、一対の上側ピンボードに設けられた装着孔の内径は実質上等しく、ゴムボードの弾性保持部が一対の上側ピンボードの装着孔内に径方向内方に突出しているので、この弾性保持部によってプローブピンを安定して弾性的に保持することができる。また、ゴムボードの弾性保持部の突出量が少ないので、プローブピンが軸方向に移動したときにもゴムボードの弾性保持部がこの移動方向に弾性変形することがほとんどなく、プローブピンを安定的に支持することができる。更に、下側ピンボードの収容孔の内径は一対の上側ピンボードの装着孔の内径と実質上同一であり、この装着孔にコイルばねが収容されるので、コイルばねが安定してプローブピンに作用し、プローブピンを軸方向に安定して移動させることができる。更にまた、プローブピンの基部には先細のテーパ部が設けられ、このテーパ部がコイルばねの端部に受け入れられているので、コイルばねが一層安定してプローブピンに作用し、このプローブピンをより安定させて軸方向に移動させることができる
また、本発明の請求項2に記載のプリント配線板の検査治具によれば、コイルばねにリード線が一体的に設けられているので、コイルばねに関連する構成を簡単にすることができるとともに、コイルばねとリード線との電気的接触の不良をなくすことができる。
また、本発明の請求項3に記載のプリント配線板の検査治具によれば、コイルばねに接触するリード線の一端部がフランジヘッド状に形成されているので、コイルばねとリード線とを半田付けなどをすることなく、このフランジヘッド状の端部を介してコイルばねとリード線とを安定して電気的に接続することができる。
以下、図1〜図5を参照して、本発明に従うプリント配線板の検査治具の最良の実施形態について説明する。図1は、本発明に従う検査治具の一実施形態を示す断面図であり、図2は、図1の検査治具の要部を示す拡大断面図であり、図3は、図1の検査治具におけるリード線付きコイルばねを拡大して示す正面図である。
図1及び図2において、図示の検査治具102は、ピンボード104、保護ボード106及びスペースボード108を備えている。保護ボード106はピンボード104の片面側(図1及び図2において上側)に配設され、スペースボード108はピンボード104と保護ボード106との間に介在されている。これらのボード104,106、108は、例えば固定用ナット及びボルトなどを用いて取付固定される。尚、保護ボード106及びスペースボード108は電気的絶縁材料から形成される。
図示のピンボード104は、下側ピンボード110と、この下側ピンボード110の片面側(図1及び図2において上面側)に配設された一対の上側ピンボード112,114と、下側ピンボード110の他面側(図1及び図2において下面側)に配設された配線ボード116とを備え、これらボード110,112,114,116も電気的絶縁材料から形成される。
この実施形態では、下側ピンボード110には収容孔118が設けられ、一対の上側ピンボード112,114には装着孔122,124が設けられ、スペーサボード108には貫通孔126が設けられ、また保護ボード106には案内孔128が設けられている。収容孔118、装着孔122,124、貫通孔126及び案内孔128は横断面形状が円形状に形成され、収容孔118、装着孔122,124及び案内孔128の内径は実質上等しく、貫通孔126の内径は収容孔118などの内径よりも大きく形成されている。尚、収容孔118の内径は、装着孔122,124及び案内孔128の内径よりも幾分大きく形成するようにすることもできる。
この検査治具102は、更に、プローブピン130及びコイルばね132を備えている。コイルばね132は下側ピンボード110の収容孔118内に収容される。また、プローブピン130は細長い円筒状のストレート状で、その外径は全長に渡って実質上等しく形成され、その基部側(図1及び図2において下部側)が一対の上側ピンボード112,114の装着孔122,124に収容され、その先端側はスペースボード108の貫通孔126及び保護ボード106の案内孔128を通して外方(図1及び2において上方)に突出している。
この治具装置102は、更に、プローブピン130を弾性的に保持するための弾性保持部材としてのゴムボード134を含んでいる。ゴムボード134は天然ゴム、合成ゴムなどの電気的絶縁性のゴム材料から形成され、一対の上側ピンボード112,114間に介在されている。ゴムボード134には、プローブピン130を保持するための保持孔136が設けられ、保持孔136を規定する弾性保持部138(ゴムボード134の一部であって、装着孔122,124内に位置する部位)は一対の上側ピンボード112,114の装着孔122,124内に径方向内方に幾分突出している。
プローブピン130は、その基部側の外周面がゴムボード134の弾性保持部138に弾性的に保持され、この弾性保持部138に保持された両側部位は一対の上側ピンボード112,114の装着孔122,124に案内保持され、その先端側が保護ボード106の案内孔128に案内保持されている。この形態では、プローブピン130の両端部はテーパ状に先細に形成されており、その基部側テーパ部の先端部が、図1及び図3に示すように、コイルばね132の端部内に受け入れられ、そのテーパ面がコイルばね132の端面に当接している。
このように構成されているので、プローブピン130に後述する如くして矢印Pで示す方向(図3において下方)の所定以上の力が加わると、コイルばね132が圧縮されてプローブピン130は軸方向下方に移動し、またこの力が解除されると、コイルばね132の弾性復元力によってプローブピン130は軸方向上方に移動して元の位置に戻る。そして、この移動の際には、プローブピン130は一対の上側ピンボード112,114の装着孔122,124及び保護ボード106の案内孔128に案内され、上記軸方向に安定して移動される。
この実施形態では、図3に示すように、コイルばね132とリード線140とが一体的に形成されている。このようなコイルばね132は、高強度の導電金属線から形成することができる。このコイルばね132から延びるリード線140は、配線ボード116に形成された導出孔142を通して外方に導出され、かく導出されたリード線140の先端部が配線ボード116に設けられた端子部に半田などによって電気的に接続固定される。このようにリード線140と一体となったコイルばね132を用いることによって、コイルばね132とリード線140との電気的接続不良をなくすことができる。
この検査治具102は、次のように用いられる。即ち、検査すべきプリント配線板144は、図1に示すようよう、検査治具102の上側に図示しない位置付け治具を用いて所定の位置関係に位置付けられ、保護ボード106から突出するプローブピン130の先端部を押すように取り付けられる。かくすると、コイルばね132が圧縮され、このコイルばね132の弾性復元力によってプローブピン130はプリント配線板144の所定の端子部に弾性的に押し付けられ、この端子部とプローブピン130とが電気的に確実に接続される。従って、このような構成の検査治具102を用いることによって、プリント配線板144の検査を所要の通りに行うことができる。
摩耗などが発生した古いプローブピン130を新しいものに交換する場合、保護ボード106から突出するプローブピン130の先端部を工具(図示せず)を用いて挟み、挟んだ状態で引き抜くようにすればよい。プローブピン130はストレート状で、ゴムボード134の弾性保持部138に弾性的に保持されているのみであるので、このように引き抜くことによってプローブピン130をピンボード104から簡単に取り外すことができる。また、新しいプローブピン130を取り付けるときには、プローブピン130を保護ボード106の案内孔128を通してピンボード104の一対の上側ピンボード112,114の装着孔122,124に挿入すればよく、かく挿入することよって、その基部側がゴムボード134の弾性保持部138に弾性的に保持され、簡単な操作でもって新しいプローブピン130を装着することができる。
上述した実施形態では、説明を簡単に且つ理解し易くするために、検査治具102のピンボード104に一つのプローブピン130を装着したものに適用して説明したが、実際の検査治具では多数、例えば1000〜5000個程度のプローブピン130がピンボード104に装着され、このように多数のプローブピン130を装着する場合においては、プローブピン130自体がピンボード104に装着される構成であるので、プローブピン130間の間隔を小さくすることができ、高実装化されたプリント配線板の検査に好都合に適用することができる。
図4は、コイルばねとリード線との接続構造の他の実施形態を示している。この実施形態では、コイルばね132Aとリード線140Aとが別体に形成され、コイルばね132Aは、導電金属線から形成された通常のコイルばねから構成され、リード線140Aは、例えばエナメル線から形成され、その一端部に例えばプレス加工を施すことによってフランジヘッド状に成され、このフランジヘッド状部152が、図4に示すように、コイルばね132Aの端部に電気的に接触接続される。
この実施形態においては、リード線140Aのフランジヘッド状部152が下側ピンボード110の収容孔118内に収容され、このフランジヘッド状部152から延びるリード線140Aが配線ボード116の導出孔142を通して外方に導出され、フランジヘッド状部152とプローブピン130との間にコイルばね132Aが介在される。このような接続構造を採用することによって、コイルばね132Aとリード線140Aのフランジヘッド状部152とを電気的に確実に接触接続することができる。
図5は、プローブピンにおけるコイルばねの受け構造の他の実施形態を示している。この実施形態では、コイルばね132A及びリード線140Aの構造は図4に示す構造と実質上同一であり、プローブピン130Bに修正が施されている。この実施形態におけるプローブピン130Bは、細長い円筒状のピン本体162を備え、このピン本体162の一端部に軸方向外方に突出する小径突部164が設けられている。小径突部164の外径はピン本体162の外径よりも幾分小さく、ピン本体162と小径突部164との間に肩部166が設けられる。また、この小径突部164の外径はコイルばね132Aの内径よりも小さく、この小径突部164はコイルばね132A内に挿入されてその端部内周面を支持する。尚、小径突部64の先端部は、コイルばね132A内への挿入が容易となるように先細のテーパ状に形成され、またピン本体162の他端部は、上述したと同様に先細のテーパ状に形成される。
この実施形態においては、プローブピン130Bの肩部166がばね受けとして機能し、コイルばね132Aの端部がこの肩部166で受けられるので、プローブピン130Bとコイルばね132Aの端部との当接支持が安定し、プローブピン130Bの上述した移動に伴うコイルばね132Aの摩耗が抑えられる。また、プロープピン130Bの小径突部164が、コイルばね132Aの端部内周面を支持するので、コイルばね132Aの端部における座屈の発生が抑えられ、これらによって、コイルばね132Aの寿命を長くすることができる。
以上、本発明に従うプリント配線板の検査治具の実施形態について説明したが、本発明はかかる実施形態に限定されるものではなく、本発明の範囲を逸脱することなく種々の変形乃至修正が可能である。
例えば、上述した実施形態では、一対の上側ピンボード112,114の間にゴムボード134を介在させているが、こうような構成に限定されず、例えば一方の上側ピンボード114を省略し、上側ピンボード112と下側ピンボード110との間にゴムボード134を介在させるようにしてもよく、このように構成した場合、上側ピンボード112の装着孔122の内径と下側ピンボード110の収容孔118の内径とを実質上等しくするのが望ましい。
本発明に従う検査治具の一実施形態を示す断面図。 図1の検査治具の要部を示す拡大断面図。 図1の検査治具におけるリード線付きコイルばねを拡大して示す正面図。 コイルばねとリード線との接続構造の他の実施形態を示す図。 プローブピンにおけるコイルばねの受け構造の他の実施形態を示す図。 従来の検査治具の代表例を示す断面図。 従来の検査治具の他の例を示す断面図。
符号の説明
102 検査治具
104 ピンボード
106 保護ボード
108 スペーサボード
110 下側ピンボード
112,114 上側ピンボード
118 収容孔
122,124 装着孔
128 案内孔
130,130B プローブピン
132,132A コイルばね
134 ゴムボード
138 弾性保持部

Claims (3)

  1. 収容孔及び装着孔を有するピンボードと、前記ピンボードの片面側に配設され、案内孔を有する保護ボードと、前記ピンボードの前記装着孔に挿入され、その先端部が前記保護ボードの前記案内孔を通して外方に突出するプローブピンと、前記ピンボードの前記収容孔に収容され、前記プローブピンの基部に作用するコイルばねと、を備えており、
    前記ピンボードは、前記収容孔が設けられた下側ピンボードと、前記下側ピンボードの上側に取付固定され、前記装着孔が設けられた一対の上側ピンボードと、前記一対の上側ピンボードの間に配設された弾性保持部材と、を備え、前記一対の上側ピンボードの前記装着孔、前記下側ピンボードの前記収容孔及び前記保護ボードの前記案内孔の内径は実質上等しく、前記弾性保持部材がゴムボードから構成され、前記ゴムボードの弾性保持部が前記一対の上側ピンボードの前記装着孔内に径方向内方に幾分突出しており、
    また、前記プローブピンは細長い円筒形のストレート状であり、前記プローブピンの基部には先細のテーパ部が設けられ、前記テーパ部が前記コイルばねの端部に受け入れられており、
    前記ゴムボードの前記弾性保持部は前記プローブピンの外周面をその軸方向に移動可能に弾性的に保持し、前記プローブピンの基部側が前記一対の上側ピンボードの前記装着孔に案内保持されるとともに、その先端側が前記保護ボードの前記案内孔に案内保持されることを特徴とするプリント配線板の検査治具。
  2. 前記コイルばねにリード線が一体的に設けられていることを特徴とする請求項1に記載のプリント配線板の検査治具。
  3. 前記コイルばねにリード線が電気的に接触接続され、前記コイルばねに接触する前記リード線の一端部がフランジヘッド状に形成されていることを特徴とする請求項1に記載のプリント配線板の検査治具。
JP2005357718A 2005-12-12 2005-12-12 プリント配線板の検査治具 Expired - Fee Related JP4448086B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005357718A JP4448086B2 (ja) 2005-12-12 2005-12-12 プリント配線板の検査治具
KR1020060041750A KR100869720B1 (ko) 2005-12-12 2006-05-10 프린트 배선판의 검사 지그
TW095119556A TWI323785B (en) 2005-12-12 2006-06-02 Inspection fixture for printed wiring board
CN2006100930063A CN1982896B (zh) 2005-12-12 2006-06-02 印刷配线板检查夹持具

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005357718A JP4448086B2 (ja) 2005-12-12 2005-12-12 プリント配線板の検査治具

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2007163217A JP2007163217A (ja) 2007-06-28
JP2007163217A5 JP2007163217A5 (ja) 2007-10-04
JP4448086B2 true JP4448086B2 (ja) 2010-04-07

Family

ID=38165570

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005357718A Expired - Fee Related JP4448086B2 (ja) 2005-12-12 2005-12-12 プリント配線板の検査治具

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JP4448086B2 (ja)
KR (1) KR100869720B1 (ja)
CN (1) CN1982896B (ja)
TW (1) TWI323785B (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20220052448A (ko) * 2020-10-21 2022-04-28 주식회사 오킨스전자 테스트 소켓

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009036532A (ja) * 2007-07-31 2009-02-19 Koyo Technos:Kk 検査冶具および検査装置
WO2009016746A1 (ja) * 2007-08-01 2009-02-05 Elia Co., Ltd. コンタクタ及びインターフェース組立体
JP4901811B2 (ja) * 2008-05-27 2012-03-21 ミツイ精密株式会社 電気的コネクタ、カメラレンズ及びカメラ
JP5226429B2 (ja) * 2008-08-25 2013-07-03 大西電子株式会社 プリント配線板の検査治具
KR101522723B1 (ko) * 2013-10-28 2015-06-01 김철군 반도체 테스트 소켓의 핀장치
CN105842490A (zh) * 2016-05-25 2016-08-10 国家电网公司 继电保护端子排防损害装置
JP6710808B2 (ja) * 2017-03-30 2020-06-17 日本発條株式会社 プローブホルダおよびプローブユニット
KR101911496B1 (ko) * 2018-04-13 2018-12-28 황동원 반도체 디바이스 테스트 소켓장치
CN112305394B (zh) * 2020-11-06 2021-04-27 法特迪精密科技(苏州)有限公司 探针承插件及探针组件

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2532331B2 (ja) * 1992-11-09 1996-09-11 日本発条株式会社 導電性接触子
JPH07294552A (ja) * 1994-04-26 1995-11-10 Onishi Denshi Kk プリント配線板の導通検査治具
CN1226632C (zh) * 1998-07-10 2005-11-09 日本发条株式会社 导电的接触单元
JP4655392B2 (ja) 2001-03-16 2011-03-23 イビデン株式会社 導通検査治具及びその製造方法
CN2502280Y (zh) * 2001-08-13 2002-07-24 吴志成 可提高测试密度的治具
JP4251855B2 (ja) * 2002-11-19 2009-04-08 株式会社ヨコオ 高周波・高速用デバイスの検査治具の製法
CN2677944Y (zh) * 2003-12-03 2005-02-09 陈嘉隆 检测电路板的治具

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20220052448A (ko) * 2020-10-21 2022-04-28 주식회사 오킨스전자 테스트 소켓
KR102413287B1 (ko) * 2020-10-21 2022-06-27 주식회사 오킨스전자 테스트 소켓

Also Published As

Publication number Publication date
KR100869720B1 (ko) 2008-11-21
CN1982896B (zh) 2012-01-11
TW200722759A (en) 2007-06-16
CN1982896A (zh) 2007-06-20
JP2007163217A (ja) 2007-06-28
KR20070062396A (ko) 2007-06-15
TWI323785B (en) 2010-04-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4448086B2 (ja) プリント配線板の検査治具
KR101951705B1 (ko) 포고 핀 및 포고 핀의 배열을 구현하는 검사용 소켓
JP5618729B2 (ja) コンタクトプローブ及びこれを用いた電子回路試験装置
US20090009205A1 (en) Microcontactor probe assembly having a plunger and electric probe module using the same
JP5861423B2 (ja) コンタクトプローブ及びそれを備えた半導体素子用ソケット
JP2008180689A (ja) 検査探針装置及びこれを用いた検査用ソケット
JP2010025844A (ja) コンタクトプローブおよび検査用ソケット
CN110581085A (zh) 一体型弹簧针
JP7021874B2 (ja) コンタクトプローブ及び検査治具
WO2009102030A1 (ja) プローブユニット
KR101183809B1 (ko) 검사용 동축 커넥터
JP2010091358A (ja) 検査用ソケット
JP6923821B2 (ja) コンタクトプローブ及びこれを備えた検査用ソケット
JPWO2016043327A1 (ja) プローブユニット
KR101827860B1 (ko) 핀 블록 어셈블리
JP4667253B2 (ja) 四探針測定用同軸プローブ及びこれを備えたプローブ治具
JP5203785B2 (ja) 検査治具
JP5184996B2 (ja) 接触子及び電気的接続装置
KR101808856B1 (ko) 절연체를 구비한 프로브 핀
JP2007048576A (ja) アダプタソケット
JP5503477B2 (ja) コンタクトプローブ及びこれを用いた電子回路試験装置
JP5473444B2 (ja) バットコンタクト式コネクタ
JP2009288156A (ja) 検査用ソケット
JP5226429B2 (ja) プリント配線板の検査治具
JP2013195282A (ja) コンタクトプローブ、コンタクトプローブを備えた半導体素子用ソケット、及びコンタクトプローブの製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070821

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070821

A871 Explanation of circumstances concerning accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871

Effective date: 20070821

A975 Report on accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005

Effective date: 20070911

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20071002

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20071122

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20071225

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080214

A911 Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20080227

A912 Removal of reconsideration by examiner before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20081024

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20091218

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100121

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130129

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140129

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees