CN2677944Y

CN2677944Y - 检测电路板的治具

Info

Publication number: CN2677944Y
Application number: CN 200320126429
Authority: CN
Inventors: 陈嘉隆; 黄冠霖; 廖碧娥
Original assignee: Individual
Current assignee: Treasure Polytron Technologies Inc
Priority date: 2003-12-03
Filing date: 2003-12-03
Publication date: 2005-02-09
Anticipated expiration: 2013-12-03

Abstract

本实用新型是关于一种检测电路板的治具，其针座上设有与电路板的待测点相对应的、一个以上的针孔，该针座的两侧设有上针座固定板和下针座固定板，上针座固定板上叠设有针盘下固定板与弹性布，上、下针座固定板、针盘下固定板与弹性布设有与针孔相对应的穿孔；其中，针座的针孔供放置探针、弹簧及导线，针盘上、下固定板、针座上板与弹性布的穿孔供插设探针，当探针与电路板上的待测点接触时，可以通过探针经导线将检测信号传导回计算机，从而得知电路板上的电路是否为通路或短路，另外弹簧具有缓冲的功能，所以当探针与电路板接触时，可防止电路板表面损伤，而且弹性布具有防止探针掉落的功能。

Description

检测电路板的治具

技术领域

本实用新型涉及一种检测治具，特别是涉及一种利用探针与电路板上的待测点接触时，将测试信号通过导线传至计算机分析，进而得知电路板上的线路是否良好的检测电路板的治具。

背景技术

由于科技的进步，现今的电路板在制作上也愈来愈精密，而制作精密的电路板也采用多层次方法，在一块电路板上以不同的层次来区分不同的线路，而电路间是否为通路，就必须以检测电路板的治具来检测，而测试厂商在测试某单一型号的电路板时，就会设计一块符合待测点的针座或面板(依测试治具的不同，而有不同的设计)。

现有常用的检测电路板的治具可分为专用型检测电路板的治具及复合型检测电路板的治具两种。

请参阅图2所示，专用型检测电路板的治具的构造主要是由针座41中设有与电路板30的待测点相对应的一个以上的针孔411，针孔411内设有套管43，套管43上缘为一喇叭型的开口，其开口处设有向外的卡缘431，用于卡在针孔411的开口处，套管43的另一端则与导线46焊固连接；套管43中设有针管44，针管44形成有一颈缩部441，并在针管44中设有弹簧45与探针42；治具护板40是位于针座41之上，所以探针42会由治具护板40上所设有的穿孔401穿出与待测点接触。

因此，如果需要检测电路板30时，首先将电路板30置于专用型检测电路板的治具上，使针座41上的针孔411与待测点的位置相对应，而且探针42与待测点是相互接触的，通过探针42所连结的导线46，将测试结果传递给计算机分析，另外，弹簧45是具有缓冲的功用，当电路板向下压时，通过弹簧45的压缩，使得探针42不至损伤电路板，另外，颈缩部441是防止探针42从针管44中脱落。

综合上述，专用型检测电路板的治具欲检测电路板30时，针座41上的针孔411数量与待测点的数量是相等的，而待测点愈密集，则针孔411也愈密集，针孔411愈密集时，探针42就会愈细密，探针42制造成本愈昂贵且制造困难，其测试成本费用就愈高。

请配合参考图3所示，另一种的复合型检测电路板的治具的结构主要是由针座62中设有一个以上的针孔621，针孔621内设有导线66、杯型弹簧65与探针64，导线66的一端与杯型弹簧65焊合，另一端由针座下板63上所设有的线孔631穿出；探针64由针座62向上斜穿过针座上板61与针盘60上所设有的穿孔611和601与待测点接触。

因此，如果需要检测电路板50时，首先将电路板50置于复合型检测电路板的治具上，各针盘60之间设有支柱(图中未示)，使各层针盘60定位，而且由于位在电路板50上的待测点是密集度极高，因针座62的针孔621内须容置杯型弹簧65与导线66连接的焊点，因此其焊点尺寸的大小必须大于线孔631，因此影响针孔621尺寸的大小，是故各针孔621之间无法太过密集，所以当密集的待测点无法与针孔621相互配合时，因此运用一斜率装置，将探针64通过针盘60上的穿孔601而形成倾斜状，通过成倾斜至某一角度的探针64来测试待测点。

综合上述，复合型检测电路板的治具欲检测电路板50时，探针64与针盘60非垂直且具有斜率，并且探针64与针盘60之间形成有摩擦点70，由于摩擦力的影响，造成阻力增加，所以杆径小，且强度低的探针64也会因此损坏与变形，而探针64的顶端因摩擦力的影响易扎伤电路板50。

前述被测试的电路板，皆属于多层次的电路板，位于其上的待测点密度极高，而且其上下各相邻的针盘60与待测点之间可容许的斜率有限(图中未示)，是故需要更多层的针盘60，而整体高度也随之提高，所以当复合型检测电路板的治具测试的电路板时，其针盘60层数愈高，其成本也随之提高，而治具的整体高度与组装困难度也随之提高，因此整体测试成本就会提高。

总结以上的复合型检测电路板的治具与专用型检测电路板的治具，具有如下一些缺点：

专用型检测电路板的治具：待测点愈密集，探针42成本就愈高且不易回收，是故提高其测试成本。

复合型检测电路板的治具：待测点愈密集，各针盘60层数就越多，其高度也随之提高，而整体成本也愈高，而斜率装置易损伤探针64与待测电路板50，另外，杯型弹簧65与导线66之间的焊点，由于焊锡的传导性不佳的因素，其测试结果也随之不好。

由此可见，上述现有的检测电路板的治具仍存在诸多的缺陷，而亟待加以进一步改进。

为了解决检测电路板的治具存在的问题，相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道，但长久以来一直未见适用的设计被发展完成，而一般产品又没有适切的结构能够解决上述问题，此显然是相关业者急欲解决的问题。

有鉴于上述现有的检测电路板的治具存在的缺陷，本设计人基于丰富的实务经验及专业知识，积极加以研究创新，经过不断的研究设计，并经反复试作样品及改进后，终于创设出确具实用价值的本实用新型。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于，克服现有的检测电路板的治具存在的缺陷，而提供一种新型结构的检测电路板的治具，所要解决的主要技术问题是利用导线头、弹簧及探针相互组合予以设计，在不需要套筒与焊接的条件下，而进行测试电路板。

本实用新型的目的及解决其主要技术问题是采用以下的技术方案来实现的。依据本实用新型提出的检测电路板的治具，该检测电路板的治具包括：针座的两侧设有针座上板与针座下板，针座上板上叠设有针盘下固定板、弹性布及针盘上固定板，针座、针座上板、针座下板、弹性布、针盘下固定板及针盘上固定板上设有与电路板的待测点相对应的一个以上的针孔、穿孔及线孔，并且在针孔内设有探针，其向上穿过穿孔；针孔之内设有导线，位于针孔之内的导线，该导线为单芯线，其一端经机器制成一T字型的导线头，其外径尺寸大于线孔；导线的另一端则穿过针座下板上所设有的线孔与计算机连结，导线头与探针之间设有弹簧。

本实用新型的目的及解决其技术问题还可以采用以下的技术措施来进一步实现。

前述的检测电路板的治具，其中所述的针盘上固定板与针盘下固定板上分别设有支柱。

本实用新型与现有技术相比具有明显的优点和有益效果。由以上技术方案可知，为了达到前述目的，本实用新型所运用的技术手段是提供一种检测电路板的治具，其是利用导线的一端经冲压而成一T型的导线头，并在导线头与探针之间设有弹簧，并将此机构设置于针座中所设有的针孔，探针向上穿过分别在针座上板、针盘下固定板、弹性布与针盘上固定板所设有的针孔，并与待测点接触。

经由上述可知，本实用新型提出的一种检测电路板的治具，该检测电路板的治具的针座上设有与电路板的待测点相对应的一个以上的针孔，该针座的两侧设有上、下针座固定板，上针座固定板上叠置有针盘下固定板与弹性布，上、下针座固定板、针盘下固定板与弹性布设有与针孔相对应的穿孔；其中，针座的针孔供放置探针、弹簧及导线，针盘上、下固定板、针座上板与弹性布的穿孔供插设探针，当探针与电路板上的待测点接触时，可以通过探针经导线将检测信号传导回计算机，从而得知电路板上的电路是否为通路或短路，另外弹簧具有缓冲的的功能，所以当探针与电路板接触时，可防止电路板表面损伤，而且弹性布具有防止探针掉落的功能。

借由上述技术方案，本实用新型具有如下一些优点：

1.测试电路板时，针座上的针孔密度可相同于待测点的密度，所以测试电路板时，探针无须倾斜，就不需要斜率装置；因此没有摩擦力，所以探针不须多余的力量去穿过各层的针孔，故不伤探针，而因无摩擦力，所以探针的顶端与电路板接触时，不会损伤电路板。

2.探针、弹簧与导线不须装置在套管内，而且探针及弹簧不易损坏，易回收再次使用。

3.测试电路板时，不需使用斜率，针盘不一定须多层，所以成本降低，另外，在组装时也容易。

4.弹簧与导线的结合不须焊接，所以不会因为焊锡本身或焊接不良所造成导通性不佳而产生的测试不良就，所以测验品质提高。

综上所述，本实用新型是利用导线头、弹簧及探针相互组合予以设计，在不需要套筒与焊接的条件下，可以进行测试电路板，克服了现有的检测电路板治具存在的缺陷，具有诸多的优点及实用价值，并在同类产品中未见有类似的结构设计公开发表或使用而确属创新，其不论在结构上或功能上皆有较大的改进，在技术上有较大的进步，并产生了好用及实用的效果，且较现有的检测电路板的治具具有增进的多项功效，从而更加适于实用，而具有产业的广泛利用价值，诚为一新颖、进步、实用的新设计。

上述说明仅是本实用新型技术方案的概述，为了能够更清楚了解本实用新型的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本实用新型的较佳实施例并配合附图详细说明如后。

本实用新型的具体实施方式由以下实施例及其附图详细给出。

附图说明

图1是本实用新型的使用状态剖面图。

图2是现有技术的使用状态剖面图。

图3是现有技术的另一使用状态剖面图。

10、电路板 20、针盘上固定板

201、穿孔 21、弹性布

211、穿孔 22、针盘下固定板

221、穿孔 23、针座上板

231、穿孔 24、针座

241、针孔 25、针座下板

251、线孔 26、探针

27、弹簧 28、导线头

29、导线 30、电路板

40、治具护板 401、穿孔

41、针座 411、针孔

42、探针 43、套管

431、卡缘 44、针管

441、颈缩部 45、弹簧

46、导线 50、电路板

60、针盘 601、穿孔

61、针座上板 611、穿孔

62、针座 621、针孔

63、针座下板 631、线孔

64、探针 65、杯型弹簧

66、导线 70、压力点

具体实施方式

以下结合附图及较佳实施例，对依据本实用新型提出的检测电路板的治具的具体实施方式、结构、特征及其功效，详细说明如后。

本实用新型是一种检测电路板的治具，请参阅图1所示，其结构包括：由针座24的两侧设有针座上板23与针座下板25，针座上板23上叠设有针盘下固定板22、弹性布21及针盘上固定板20，针座24、针座上板23、针座下板25、针盘下固定板22、弹性布21及针盘上固定板20上设有与电路板10的待测点相对应的一个以上的针孔241、穿孔201、211、221、231及线孔251，并在针孔241内设有探针26，其向上穿过穿孔231、221、211和201。

针孔241之内设有导线29，该导线29为单芯线，其一端经机器制成一T字型的导线头28，其外径尺寸大于线孔251，防止导线29自线孔251中脱落，导线29的另一端则穿过针座下板25上所设有的线孔251与计算机连结，导线头28与探针26之间设有弹簧27。

针盘上固定板20与针盘下固定板22之间设有支柱(图中没有标出)，通过该支柱固定针盘上固定板20与针盘下固定板22的位置。

当电路板10放置在检测电路板的治具上时，电路板10向下挤压时，探针26下的具有缓冲作用的弹簧27将压力吸收，并在压力解除时，将被压下的探针26推出，而弹性布21具有夹持的作用，目的是防止探针26从针孔241中脱落，另外，穿孔201、211、221和231具有引导探针26的功能。

探针26将所得的测试讯号，经由弹簧27传递至导线头28，经由导线29传递至计算机，然后再由计算机将所得的讯号加以分析。

以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非对本实用新型作任何形式上的限制，虽然本实用新型已经用较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本实用新型，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本实用新型技术方案范围内，当可利用上述揭示的结构及技术内容作出些许的更动或修饰为等同变化的等效实施例，但是凡是未脱离本实用新型技术方案的内容，依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本实用新型技术方案的范围内。

Claims

1、一种检测电路板的治具，包括针座的两侧设有针座上板与针座下板，针座上板上叠设有针盘上固定板、针盘下固定板及弹性布，针座、针座上板、针座下板、弹性布、针盘下固定板及针盘上固定板上设有与电路板上的待测点相对应的一个以上的针孔、穿孔及线孔，并在针孔内设有探针，其向上穿过穿孔；针孔之内设有导线，该导线为单芯线，其特征在于：

该导线一端经机器制成一T字型的导线头，其外径尺寸大于线孔；

导线的另一端则穿过针座下板上所设有的线孔与计算机连接，导线头与探针之间设有弹簧。

2、根据权利要求1所述的检测电路板的治具，其特征在于其中所述的针盘上固定板与针盘下固定板上分别设有支柱。