WO2009016746A1 - コンタクタ及びインターフェース組立体 - Google Patents

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WO2009016746A1 PCT/JP2007/065069 JP2007065069W WO2009016746A1 WO 2009016746 A1 WO2009016746 A1 WO 2009016746A1 JP 2007065069 W JP2007065069 W JP 2007065069W WO 2009016746 A1 WO2009016746 A1 WO 2009016746A1
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Hideto Satoh
Kengo Eguchi
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Elia Co., Ltd.
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    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/073—Multiple probes
    • G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07357—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with flexible bodies, e.g. buckling beams

Abstract

　プローブピンの狭ピッチ化を促進すると共に信号処理を円滑に行なうことができるコンタクタ及びインターフェース組立体を提供することを目的とする。複数のコンタクトピンと、該複数のコンタクトピンが通される複数の貫通孔が形成されていると共に互いに略平行に配置された、前記コンタクトピンを支持する複数の支持板とを有する、互いに略平行に配置された回路基板間を電気的に接続するコンタクタであって、前記コンタクトピン同士は、少なくとも１つの支持板の前記複数の貫通孔それぞれにおいて、互いに略同じ方向へ弓状に曲がっていることを特徴とするコンタクタ。
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