JPS614971A - 座屈柱プロ−ブ装置 - Google Patents
座屈柱プロ−ブ装置Info
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- JPS614971A JPS614971A JP60037736A JP3773685A JPS614971A JP S614971 A JPS614971 A JP S614971A JP 60037736 A JP60037736 A JP 60037736A JP 3773685 A JP3773685 A JP 3773685A JP S614971 A JPS614971 A JP S614971A
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- JP
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- probe
- wire
- positioning guide
- buckling
- guide
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07357—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with flexible bodies, e.g. buckling beams
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、半導体回路等の装置の電気的特性をテスト
するためのプローブ装置に関し、特に座屈柱を用いたプ
ローブ装置に関するものである。
するためのプローブ装置に関し、特に座屈柱を用いたプ
ローブ装置に関するものである。
ここで開示されるのは、多重モードの座屈柱プローブ装
置である。このプローブ装置は、露出されたワイヤ接点
の端部を抱く隙間変形用のグイと、上面に導電性のパラ
r゛を設けた下方の基板との間に、上下方向に組をなす
位置決めガイドを介在させることICより形成される。
置である。このプローブ装置は、露出されたワイヤ接点
の端部を抱く隙間変形用のグイと、上面に導電性のパラ
r゛を設けた下方の基板との間に、上下方向に組をなす
位置決めガイドを介在させることICより形成される。
そしてワイヤ・プロ−プは上下方向に組をなず位置決め
ガイド内に整合する孔を摺動可能に貫通する。これら上
下の位置決めガイドの間には、それらのガイドに整合す
る孔を形成された少くとも一枚の中間位置決めガイドが
、上下のガイドと離隔するように配置される。この中間
位置決めガイドの孔においても、ワイヤ・プローブは摺
動可能である。さらに、中間位置決めガイドと上下の位
置決め方イドの間にはさらに、ワイヤ・プローブを通過
させるための長孔を形成したガイドがそれぞれ介在配置
される。
ガイド内に整合する孔を摺動可能に貫通する。これら上
下の位置決めガイドの間には、それらのガイドに整合す
る孔を形成された少くとも一枚の中間位置決めガイドが
、上下のガイドと離隔するように配置される。この中間
位置決めガイドの孔においても、ワイヤ・プローブは摺
動可能である。さらに、中間位置決めガイドと上下の位
置決め方イドの間にはさらに、ワイヤ・プローブを通過
させるための長孔を形成したガイドがそれぞれ介在配置
される。
このガイドの長孔は、上下及び中間の位置決めガイドの
孔とは相対的にオフセットしている。そしてこのオフセ
ットにより、従来の座屈柱プローブよりも軸方向の変位
の増大が許容され、座屈柱の方向性を適正に限定するこ
とができる。こうビてプローブの密度を高めることがで
きるとともに、特定のユーザーの要望に応えるべく多重
モードの座屈柱の屈曲対力の特性を制御することが可能
となる。
孔とは相対的にオフセットしている。そしてこのオフセ
ットにより、従来の座屈柱プローブよりも軸方向の変位
の増大が許容され、座屈柱の方向性を適正に限定するこ
とができる。こうビてプローブの密度を高めることがで
きるとともに、特定のユーザーの要望に応えるべく多重
モードの座屈柱の屈曲対力の特性を制御することが可能
となる。
近年、半導体チップのパッドに接続された集積回路の電
気的特性の試験を容易にするため、座屈柱プローブ装置
が盛んに使用されつつある。そのような装置として例え
ば、隙間変形用のダイに対して基板を相対的に移動させ
ることにより可撓性の座屈柱の一端をダイのパッドまた
は接点に押しつけるようにしたものが知られている。そ
の典型的な座屈柱プローブ装置は米国特許第38068
01号に開示されている。
気的特性の試験を容易にするため、座屈柱プローブ装置
が盛んに使用されつつある。そのような装置として例え
ば、隙間変形用のダイに対して基板を相対的に移動させ
ることにより可撓性の座屈柱の一端をダイのパッドまた
は接点に押しつけるようにしたものが知られている。そ
の典型的な座屈柱プローブ装置は米国特許第38068
01号に開示されている。
さて、ワイヤー・プローブに軸方向の力を加えることに
より、その押圧力のもとでワイヤ・プローブは横方向に
座屈し、その結果プローグの両端点で、隙間変形用のダ
イと、パッドをもつ基板とに対して低い値のオーム接点
が保証される。しかし、パッドに当接するグローブの応
力がそのチップまたはパッドに対する適当な応力値を超
えると、チップまたはパッドが破損する虞れがある。さ
らに、そのような装置は、電気的短絡を防止すべくプロ
ーブとグローブの間に十分な隙間をとっておかねばなら
ない、ということから構造の複雑さをまぬがれ得ない。
より、その押圧力のもとでワイヤ・プローブは横方向に
座屈し、その結果プローグの両端点で、隙間変形用のダ
イと、パッドをもつ基板とに対して低い値のオーム接点
が保証される。しかし、パッドに当接するグローブの応
力がそのチップまたはパッドに対する適当な応力値を超
えると、チップまたはパッドが破損する虞れがある。さ
らに、そのような装置は、電気的短絡を防止すべくプロ
ーブとグローブの間に十分な隙間をとっておかねばなら
ない、ということから構造の複雑さをまぬがれ得ない。
そこで従来の典型的な座屈柱プローブ装置100例を第
3図に示す。第3図において、下方の基板18は、ワイ
ヤ接点14が植え込まれた上方の隙間変形用のダイ12
からある距離だけ隔てて配置されており、このワイヤ接
点14の先端はダイ12の下面から突出している。そし
て、典型的には、隙間変形用のダイ12及び基板18の
それぞれにある距離だけ離れて上方の位置決めガイド2
2及び下方の位置決めガイドろ4とが近接配置されろ。
3図に示す。第3図において、下方の基板18は、ワイ
ヤ接点14が植え込まれた上方の隙間変形用のダイ12
からある距離だけ隔てて配置されており、このワイヤ接
点14の先端はダイ12の下面から突出している。そし
て、典型的には、隙間変形用のダイ12及び基板18の
それぞれにある距離だけ離れて上方の位置決めガイド2
2及び下方の位置決めガイドろ4とが近接配置されろ。
これらの位置決めガイド22及び54には小さい直径の
孔24及び36が設けられ、これらの孔24及びろ6の
直径は、ワイヤ・プローブ38を摺動可能に通過させる
ためK、ワイヤ・プローブろ8の直接よりもやや大きく
設定されている。
孔24及び36が設けられ、これらの孔24及びろ6の
直径は、ワイヤ・プローブ38を摺動可能に通過させる
ためK、ワイヤ・プローブろ8の直接よりもやや大きく
設定されている。
このようにして、ワイヤ・プローブ38は偏向すること
なくその軸方向に亘って隙間変形用のダイヤ接点14と
、基板18のパッド20とに整合している。それに加え
て、通常はオフセット用のダイ26も配置される。すな
わち、ワイヤ58を通過させるためのダイ26の孔2B
は位置決めガイド22の孔24とは相対的にオフセット
され、これにより、ワイヤ・7゛ローブは所与の横方向
に座屈するように偏倚力を受ける。さらにまたオフセッ
ト用ダ1f26と下方の位置決めガイド34との間には
浮遊ダイ30が配置される。このダイ30は、ワイヤ・
プローブ38に軸方向に力が加えられている間は、ワイ
ヤ・プローブ3日が軸方向に屈曲し、且つ横方向の屈曲
がオフセット用ダイろ0によって予め設定された方向に
揃えられるように、個々のワイヤ・プローブ38を互い
に離隔させ絶縁させる役割を果たす。尚、典型的には上
記ずべてのガイド及びダイは隙間変形用のダイ12に接
続され、一体の装置として下方の基板18に対して近接
または離隔するように相対的に移動可能である。
なくその軸方向に亘って隙間変形用のダイヤ接点14と
、基板18のパッド20とに整合している。それに加え
て、通常はオフセット用のダイ26も配置される。すな
わち、ワイヤ58を通過させるためのダイ26の孔2B
は位置決めガイド22の孔24とは相対的にオフセット
され、これにより、ワイヤ・7゛ローブは所与の横方向
に座屈するように偏倚力を受ける。さらにまたオフセッ
ト用ダ1f26と下方の位置決めガイド34との間には
浮遊ダイ30が配置される。このダイ30は、ワイヤ・
プローブ38に軸方向に力が加えられている間は、ワイ
ヤ・プローブ3日が軸方向に屈曲し、且つ横方向の屈曲
がオフセット用ダイろ0によって予め設定された方向に
揃えられるように、個々のワイヤ・プローブ38を互い
に離隔させ絶縁させる役割を果たす。尚、典型的には上
記ずべてのガイド及びダイは隙間変形用のダイ12に接
続され、一体の装置として下方の基板18に対して近接
または離隔するように相対的に移動可能である。
ここで、従来の典型的な座屈柱グローブ装置における加
えられた力対軸方向の変位、及び軸方向の変位対横方向
の変位のグラフを第4図と第5図とにそれぞれ示す。先
ず第4図において見てとれるように、軸方向に加えられ
た力がある値を超えないうちは、軸方向の変位がその力
に比例して少しづつ増大するが、その力がある値を超え
ると軸方向の変位率が増大する。次に第5図において見
てとれるよう蹟、軸方向の小さい変位に対して横方向に
大きい変位が生じる。この特性により、座屈柱プローブ
の適用範囲が限定されてしまうが、それには2つの主な
理由がある。その第1は、複雑(稠密)なパターンをプ
ローブするときに、軸方向のわずかな変位のみしか扱う
ことができない、ということである。さもないと、ワイ
ヤ・プローブは互いに横方向に接触しやすくなり電気的
短絡を生じてしまう。そして、個々のプローブを離隔し
電気的に絶縁するために浮遊グイか使用されていても、
浮遊グー上・はいくつかのプローブを、パッドとの接触
を達成することなく座屈させてしまう作用をもつので、
浮遊ゲートの離隔にも限界がある。第2K、もし横方向
の変位が電気的短絡をもたらすほど重大ではないとして
も、ワイヤ・プローブとグイとの摩擦の増大を生じワイ
ヤ・プローブを拘束する影響を及ぼすため大きな座屈は
制限されなくてはならない、ということがある。さらに
、軸方向の変位があまりに太きいと、ワイヤ・プローブ
を永久的に座屈したまま復帰しない状態にしてしまうこ
とになりかねない。従って、複雑な(稠密な)パターン
にはきわめて均一なプロブ用の平面が必要であるととも
に、従来の座屈柱では軸方向の変位が約5 mil!(
0,12”; mm) 程度に限定されてしまう。
えられた力対軸方向の変位、及び軸方向の変位対横方向
の変位のグラフを第4図と第5図とにそれぞれ示す。先
ず第4図において見てとれるように、軸方向に加えられ
た力がある値を超えないうちは、軸方向の変位がその力
に比例して少しづつ増大するが、その力がある値を超え
ると軸方向の変位率が増大する。次に第5図において見
てとれるよう蹟、軸方向の小さい変位に対して横方向に
大きい変位が生じる。この特性により、座屈柱プローブ
の適用範囲が限定されてしまうが、それには2つの主な
理由がある。その第1は、複雑(稠密)なパターンをプ
ローブするときに、軸方向のわずかな変位のみしか扱う
ことができない、ということである。さもないと、ワイ
ヤ・プローブは互いに横方向に接触しやすくなり電気的
短絡を生じてしまう。そして、個々のプローブを離隔し
電気的に絶縁するために浮遊グイか使用されていても、
浮遊グー上・はいくつかのプローブを、パッドとの接触
を達成することなく座屈させてしまう作用をもつので、
浮遊ゲートの離隔にも限界がある。第2K、もし横方向
の変位が電気的短絡をもたらすほど重大ではないとして
も、ワイヤ・プローブとグイとの摩擦の増大を生じワイ
ヤ・プローブを拘束する影響を及ぼすため大きな座屈は
制限されなくてはならない、ということがある。さらに
、軸方向の変位があまりに太きいと、ワイヤ・プローブ
を永久的に座屈したまま復帰しない状態にしてしまうこ
とになりかねない。従って、複雑な(稠密な)パターン
にはきわめて均一なプロブ用の平面が必要であるととも
に、従来の座屈柱では軸方向の変位が約5 mil!(
0,12”; mm) 程度に限定されてしまう。
そこで、多重モードで良好に働くようなプローブ・ワイ
ヤをもつ座屈柱プローブ装置を提供すべくいくつかの試
みがなされている。例えば、IBMテクニカル拳ティス
クロジャ・ブレティン (Technical Di
sclosure Bulletin)Vol、 1
7. No、 2. 1974年7月19日、444ペ
ージ及び638ページを参照されたい。しかし上記文献
に記載された座屈柱プローブ装置においては、コネクタ
と接触子との多重座屈モードが個別、すなわち分離され
ており、従ってコネクタ側と接触子側で個別に離隔を行
う必要がある。
ヤをもつ座屈柱プローブ装置を提供すべくいくつかの試
みがなされている。例えば、IBMテクニカル拳ティス
クロジャ・ブレティン (Technical Di
sclosure Bulletin)Vol、 1
7. No、 2. 1974年7月19日、444ペ
ージ及び638ページを参照されたい。しかし上記文献
に記載された座屈柱プローブ装置においては、コネクタ
と接触子との多重座屈モードが個別、すなわち分離され
ており、従ってコネクタ側と接触子側で個別に離隔を行
う必要がある。
この発明の目的は、所望の屈曲特性を維持しながら横方
向の変位を低減1.且つ軸方向の大きい変位を許容し得
るよ5な座屈柱プローブ装置を提供することにある。
向の変位を低減1.且つ軸方向の大きい変位を許容し得
るよ5な座屈柱プローブ装置を提供することにある。
この発明の別の目的は、プローブ・パターンの密度を増
大でき、より多様なプローブ・パターンに対応し得るよ
うな座屈柱プローブ装置を提供することにある。
大でき、より多様なプローブ・パターンに対応し得るよ
うな座屈柱プローブ装置を提供することにある。
この発明は、基本的に1 ワイヤ・プローブが多重モー
ドで座屈され、個別の分離された座屈動作が、軸方向の
変位を増大させて横方向の変位の最大値を抑えるようK
した座屈柱プローブ装置に関するものである。その横方
向の変位の量は、横方向の長孔を形成した平面状の複数
のガイドを用いることによって制御される。これらのガ
イドは座屈モードのはじめに作用力を与え、座屈の方向
を制御し、ワイヤ・プローブが互いに接触するのを防止
すべく個々のワイヤ・プローブを分離するために使用さ
れる。この装置においては、上記長孔を形成されたガイ
ドの間に中間の位置決めガイドが配置されるとともに、
上方の隙間変形用のグイと下方の基板とに近接してそれ
ぞれ上下の位置決めガイドが配置される。このとき、中
間のガイド以外の、位置決めガイドの孔は互いに整合し
ているが、中間のガイドの長孔はそれらの孔とはオフセ
ットしている。こうして、ワイヤ・プローブは各位置決
めガイドに摺動可能に挿通され、これによりワイヤ・プ
ローブの下方がら上方へ軸方向の力を伝えることが可能
となる。さらに、中間の位置決めガイドは上方の位置決
めガイドと下方の位置決めガイドとで離隔する距離が異
なるように意図的に設定されている。この結果として、
1本の座屈柱の一端の有効自由長が他端の有効自由長よ
りも大きくなるので、ワイヤ・プローブは、軸方向の変
位を受けたときに、中間の位置決めガイドと近接する位
置決めガイドとの間のワイヤの距離が増大するような第
1のモードで座屈する。そして、座屈モードの横方向の
変位が、位置決めガイドの長孔の端部への当接により停
止すると、その有効自由長は半分になる。さらに負荷(
軸方向の変位)が増大すると、中間の位置決めガイドと
、それの近くの位置決めガイドとの間で第2のモードの
ワイヤ・プローブの座屈が行なわれる。すなわち、座屈
モードの相対的な有効自由長に応じて、応力対変位の曲
線のグラフをユーザーの個別の要求に沿わせることが可
能である。
ドで座屈され、個別の分離された座屈動作が、軸方向の
変位を増大させて横方向の変位の最大値を抑えるようK
した座屈柱プローブ装置に関するものである。その横方
向の変位の量は、横方向の長孔を形成した平面状の複数
のガイドを用いることによって制御される。これらのガ
イドは座屈モードのはじめに作用力を与え、座屈の方向
を制御し、ワイヤ・プローブが互いに接触するのを防止
すべく個々のワイヤ・プローブを分離するために使用さ
れる。この装置においては、上記長孔を形成されたガイ
ドの間に中間の位置決めガイドが配置されるとともに、
上方の隙間変形用のグイと下方の基板とに近接してそれ
ぞれ上下の位置決めガイドが配置される。このとき、中
間のガイド以外の、位置決めガイドの孔は互いに整合し
ているが、中間のガイドの長孔はそれらの孔とはオフセ
ットしている。こうして、ワイヤ・プローブは各位置決
めガイドに摺動可能に挿通され、これによりワイヤ・プ
ローブの下方がら上方へ軸方向の力を伝えることが可能
となる。さらに、中間の位置決めガイドは上方の位置決
めガイドと下方の位置決めガイドとで離隔する距離が異
なるように意図的に設定されている。この結果として、
1本の座屈柱の一端の有効自由長が他端の有効自由長よ
りも大きくなるので、ワイヤ・プローブは、軸方向の変
位を受けたときに、中間の位置決めガイドと近接する位
置決めガイドとの間のワイヤの距離が増大するような第
1のモードで座屈する。そして、座屈モードの横方向の
変位が、位置決めガイドの長孔の端部への当接により停
止すると、その有効自由長は半分になる。さらに負荷(
軸方向の変位)が増大すると、中間の位置決めガイドと
、それの近くの位置決めガイドとの間で第2のモードの
ワイヤ・プローブの座屈が行なわれる。すなわち、座屈
モードの相対的な有効自由長に応じて、応力対変位の曲
線のグラフをユーザーの個別の要求に沿わせることが可
能である。
尚、好適な実施例においては、上方の位置決めガイドと
下方の位置決めガイドの間に複数の中間位置決めガイド
が配置され、これらのすべての中間位置決めガイドは、
共通の直径を有し、基板のパッドと隙間変形用のダイの
接点とに整合する孔を備えている。そして、さまざまの
位置決めガイド間で孔の軸方向に対応してオフセットし
た中心をもつ長孔を形成されたガイドの長孔によって次
々のモードで変位を制御するために、中央の位置決めガ
イドや上下の位置決めガイドの間に長孔を形成されたガ
イドが配置される0 〔実施例〕 第1a〜第1d図は本発明に係る座屈柱プローブ装置5
0の構成及び動作を示すための図であり、この装置にお
いては、長孔を形成された複数のガイドの長孔の長さを
設定することにより、ワイヤ・プローブの横方向の変位
を最小に抑えつつワイヤ・プローブの軸方向の変位を増
大させるべく多重モードの座屈動作が行なわれる・装置
50を構成する部品の多くは、第1図に示した従来例と
しての座屈柱プローブ装置内の部品に対応している。
下方の位置決めガイドの間に複数の中間位置決めガイド
が配置され、これらのすべての中間位置決めガイドは、
共通の直径を有し、基板のパッドと隙間変形用のダイの
接点とに整合する孔を備えている。そして、さまざまの
位置決めガイド間で孔の軸方向に対応してオフセットし
た中心をもつ長孔を形成されたガイドの長孔によって次
々のモードで変位を制御するために、中央の位置決めガ
イドや上下の位置決めガイドの間に長孔を形成されたガ
イドが配置される0 〔実施例〕 第1a〜第1d図は本発明に係る座屈柱プローブ装置5
0の構成及び動作を示すための図であり、この装置にお
いては、長孔を形成された複数のガイドの長孔の長さを
設定することにより、ワイヤ・プローブの横方向の変位
を最小に抑えつつワイヤ・プローブの軸方向の変位を増
大させるべく多重モードの座屈動作が行なわれる・装置
50を構成する部品の多くは、第1図に示した従来例と
しての座屈柱プローブ装置内の部品に対応している。
この関連において、隙間変形用のガイド52は試験装置
とのインターフェースとして働き、符号54.54′で
示す箇所に下方に突出する端部56.56′をもつワイ
ヤ接点を有している。そして、このワイヤ接点54.5
4’はテストすべき基板上の回路にワイヤ62.62′
を介して電流を供給する役目を果たす。基板58は隙間
変形用ガイド(ダイ)52に向かう上方への移動を可能
とするように、例えば米国特許第58068.01号に
示された構成により支持される。基板58の上面には、
導電性のパッド60.60′が互い眞離隔して形成され
ている。尚、これらのパッド60.60′の位置は、相
対的に固定された隙間変形用のダイ52のワイヤ接点5
4.54’と厳密に対応するよ5に軸方向に整合して形
成されている。
とのインターフェースとして働き、符号54.54′で
示す箇所に下方に突出する端部56.56′をもつワイ
ヤ接点を有している。そして、このワイヤ接点54.5
4’はテストすべき基板上の回路にワイヤ62.62′
を介して電流を供給する役目を果たす。基板58は隙間
変形用ガイド(ダイ)52に向かう上方への移動を可能
とするように、例えば米国特許第58068.01号に
示された構成により支持される。基板58の上面には、
導電性のパッド60.60′が互い眞離隔して形成され
ている。尚、これらのパッド60.60′の位置は、相
対的に固定された隙間変形用のダイ52のワイヤ接点5
4.54’と厳密に対応するよ5に軸方向に整合して形
成されている。
このグローブ装置50は、隙間変形用のダイ52から基
板58までの間で上から順に上部位置決めガイド70と
、長孔を設けた第1のガイド(以下第1長孔ガイドと呼
ぶ)86と、第1の中間位置決めガイド84と、長孔を
設けた第2のガイド(以下第2長孔ガイドと呼ぶ)90
と、第2の中間位置決めガイド78と、長孔を設けた第
3のガイド(以下筒ろ長孔ガイドと呼ぶ)96と、底部
位置決めガイド74とを備えている・このとき、第1及
び第2の中間位置決めガイドは上部位置決めガイド70
及び底部位置決めガイド74と、それぞれ等しい働きを
行う。そこで、上部位置決めガイド70には符号72で
示した箇所に、ワイヤ・プローブを摺動可能に挿通させ
ることができるよ5にワイヤ・プローブより少しだけ大
きい直径の孔が形成されている。それと同様の大きさの
孔は、第1の中間位置決めガイド82、第2の中間位置
決めガイド78及び底部位置決めガイド74にもそれぞ
れ符号84.80及び76で示す箇所に形成されている
。ワイヤ・プローブ62及び62′の長さは、隙間変形
用ガイド52と基板58の間隙が最大であるときに、グ
ローブ62及び62′が直線状で屈曲状態にはなく、す
なわちプローブ62及び62 ’ Kは軸方向の力が加
えられないように設定されている。尚、ワイヤープロー
ブ62及び62′の上端には球状の膨出部62aが形成
されており、この膨出部如よって、ワイヤ・プローブに
下方から力が加えられないときにワイヤ・プローブは上
部位置決めガイド70に吊り下げられた状態に維持され
る。
板58までの間で上から順に上部位置決めガイド70と
、長孔を設けた第1のガイド(以下第1長孔ガイドと呼
ぶ)86と、第1の中間位置決めガイド84と、長孔を
設けた第2のガイド(以下第2長孔ガイドと呼ぶ)90
と、第2の中間位置決めガイド78と、長孔を設けた第
3のガイド(以下筒ろ長孔ガイドと呼ぶ)96と、底部
位置決めガイド74とを備えている・このとき、第1及
び第2の中間位置決めガイドは上部位置決めガイド70
及び底部位置決めガイド74と、それぞれ等しい働きを
行う。そこで、上部位置決めガイド70には符号72で
示した箇所に、ワイヤ・プローブを摺動可能に挿通させ
ることができるよ5にワイヤ・プローブより少しだけ大
きい直径の孔が形成されている。それと同様の大きさの
孔は、第1の中間位置決めガイド82、第2の中間位置
決めガイド78及び底部位置決めガイド74にもそれぞ
れ符号84.80及び76で示す箇所に形成されている
。ワイヤ・プローブ62及び62′の長さは、隙間変形
用ガイド52と基板58の間隙が最大であるときに、グ
ローブ62及び62′が直線状で屈曲状態にはなく、す
なわちプローブ62及び62 ’ Kは軸方向の力が加
えられないように設定されている。尚、ワイヤープロー
ブ62及び62′の上端には球状の膨出部62aが形成
されており、この膨出部如よって、ワイヤ・プローブに
下方から力が加えられないときにワイヤ・プローブは上
部位置決めガイド70に吊り下げられた状態に維持され
る。
さて、この発明を理解するために重要なのは、第1、第
2及び第3長孔ガイド86.90及び94のそれぞれに
、長孔88.92及び96が形成され、それらが上下の
孔72.84.80.76を結ぶ軸上からオフセットし
ているという事実である。それゆえ、これらの長孔はプ
ローブの局在化された屈曲または座屈の大きさ及び性質
を制御する働きを行う。そうして、ワイヤ・プローブ6
2.62’の有効自由長は、上部位置決めガイド70と
第1の中間位置決めガイド82・の間、第1の位置決め
ガイド82と第2の中間位置決めガイド78の間、及び
第2の中間位置決めガイド78と底部位置決めガイド7
4の間、の各々であり、これら各々の有効自由長が、ワ
イヤ・プローブに軸方向に加えられた力により、ワイヤ
・プローブ62.62’の座屈モードを決定する。その
ような軸方向の力は基板58を隙間変形用のダイ52の
方へ相対的r移動させることにより得られる。
2及び第3長孔ガイド86.90及び94のそれぞれに
、長孔88.92及び96が形成され、それらが上下の
孔72.84.80.76を結ぶ軸上からオフセットし
ているという事実である。それゆえ、これらの長孔はプ
ローブの局在化された屈曲または座屈の大きさ及び性質
を制御する働きを行う。そうして、ワイヤ・プローブ6
2.62’の有効自由長は、上部位置決めガイド70と
第1の中間位置決めガイド82・の間、第1の位置決め
ガイド82と第2の中間位置決めガイド78の間、及び
第2の中間位置決めガイド78と底部位置決めガイド7
4の間、の各々であり、これら各々の有効自由長が、ワ
イヤ・プローブに軸方向に加えられた力により、ワイヤ
・プローブ62.62’の座屈モードを決定する。その
ような軸方向の力は基板58を隙間変形用のダイ52の
方へ相対的r移動させることにより得られる。
すべての位置決めガイド及び長孔ガイドの垂直方向の位
置設定は、隙間変形用のダイ52から底部位置決めガイ
ド74へ垂直下方に延出するように固定されたロンド9
8への取り付けによって行なわれる0伺、そのような構
造については前述の米国特許第3806801号などの
文献を参照されたい。
置設定は、隙間変形用のダイ52から底部位置決めガイ
ド74へ垂直下方に延出するように固定されたロンド9
8への取り付けによって行なわれる0伺、そのような構
造については前述の米国特許第3806801号などの
文献を参照されたい。
ところで、第1a図から第1d図までの図において、ワ
イヤ・プローブ62.62’の屈曲位置に対する有効自
由長が、位置決めガイド7o及び位置決めガイド82の
間(EFLl)と、位置決めガイド82及び位置決めガ
イド78の間(EFr、)と、位置決めガイド78及び
位置決めガイド74の間(EFI、)とで異なり、その
有効自由長(EFL )が上から下へ向がう匠つれて次
第に小さく設定されていることが見てとれよう。すなわ
ち、EFLlはEFL2より大きく、EF’L2はEF
L 5より大きい。このことは、位置決めガイド70と
位置決めガイド82の間隔が、位置決めガイド82と位
置決めガイド78の間隔よりも大きく、位置決めガイド
82と位置決めガイド78の間隔が、位置決めガイド7
8と位置決めガイド74の間隔よりも大きいということ
□を意味する。
イヤ・プローブ62.62’の屈曲位置に対する有効自
由長が、位置決めガイド7o及び位置決めガイド82の
間(EFLl)と、位置決めガイド82及び位置決めガ
イド78の間(EFr、)と、位置決めガイド78及び
位置決めガイド74の間(EFI、)とで異なり、その
有効自由長(EFL )が上から下へ向がう匠つれて次
第に小さく設定されていることが見てとれよう。すなわ
ち、EFLlはEFL2より大きく、EF’L2はEF
L 5より大きい。このことは、位置決めガイド70と
位置決めガイド82の間隔が、位置決めガイド82と位
置決めガイド78の間隔よりも大きく、位置決めガイド
82と位置決めガイド78の間隔が、位置決めガイド7
8と位置決めガイド74の間隔よりも大きいということ
□を意味する。
そして、各有効自由長の間の関係式はEFL 1>EF
L2>EFL 3>EFL 1/2となる。
L2>EFL 3>EFL 1/2となる。
このように、位置決めガイド間の個々の座屈によりワイ
ヤ拳プローブ62.62’の軸方向の変位か増大するが
、その間、長孔ガイド86.9゜及び94内の長孔88
.92及び96の長さによって横方向の変位の最大値が
維持され限定される。
ヤ拳プローブ62.62’の軸方向の変位か増大するが
、その間、長孔ガイド86.9゜及び94内の長孔88
.92及び96の長さによって横方向の変位の最大値が
維持され限定される。
長孔ガイド86.90及び94は初期の座屈モードに作
用力を与え、座屈方向を制御し、個々のプローブ62を
互いに接触しないように離隔させ、プローブ62の横方
向の変位を限定するために使用される。プローブは中間
位置決めガイド82.78と上下の位置決めガイド70
.74とで自由に摺動可能である。そして、中間位置決
めガイド82.78が個々の座屈モードを決定すると2
もにグローブの長手方向に沿う作用力の自由な伝達を可
能ならしめる。
用力を与え、座屈方向を制御し、個々のプローブ62を
互いに接触しないように離隔させ、プローブ62の横方
向の変位を限定するために使用される。プローブは中間
位置決めガイド82.78と上下の位置決めガイド70
.74とで自由に摺動可能である。そして、中間位置決
めガイド82.78が個々の座屈モードを決定すると2
もにグローブの長手方向に沿う作用力の自由な伝達を可
能ならしめる。
第1a図から第1d図までを順に見てゆくと、有効自由
長EFL EFI、及びEF”L3の長さが互いに
異なるため、基板58を距離△だけ垂直上方に移動させ
たとき、第1b図の矢印97で示す軸線方向の力がワイ
ヤープローブ62の下端に加えられ、これによりワイヤ
拳プローブ62は第1のモードで座屈する。この実施例
では、そのときの基板58の上昇距離△は、 0.0
口81nch(0,203mm)である。そして、こ
の座屈モードの横方向の変位によりワイヤ・プローブ6
2が長孔88の左端に当接せしめられると、その有効長
は半分になる。次に基板58をさらに△′だげ上昇させ
ること妬より第1C図矢印99て示すように軸線方向の
力が増大すると、これにより現時点での最大の有効長E
FL2をもつ箇所でワイヤ・プローブ62の座屈が行な
われる。すなわち、このことは第1の中間位置決めガイ
ド82と第2の中間位置決めガイド78の間の、第2の
局在化された座屈をもたらし、この第2の座屈箇所では
ワイヤ°グローブが第2長孔ガイド9Qの長孔92の左
端に当接する(第1C図参照)。このときの基板58の
上昇距離Δ′は0.008inch(0,203mm)
である。
長EFL EFI、及びEF”L3の長さが互いに
異なるため、基板58を距離△だけ垂直上方に移動させ
たとき、第1b図の矢印97で示す軸線方向の力がワイ
ヤープローブ62の下端に加えられ、これによりワイヤ
拳プローブ62は第1のモードで座屈する。この実施例
では、そのときの基板58の上昇距離△は、 0.0
口81nch(0,203mm)である。そして、こ
の座屈モードの横方向の変位によりワイヤ・プローブ6
2が長孔88の左端に当接せしめられると、その有効長
は半分になる。次に基板58をさらに△′だげ上昇させ
ること妬より第1C図矢印99て示すように軸線方向の
力が増大すると、これにより現時点での最大の有効長E
FL2をもつ箇所でワイヤ・プローブ62の座屈が行な
われる。すなわち、このことは第1の中間位置決めガイ
ド82と第2の中間位置決めガイド78の間の、第2の
局在化された座屈をもたらし、この第2の座屈箇所では
ワイヤ°グローブが第2長孔ガイド9Qの長孔92の左
端に当接する(第1C図参照)。このときの基板58の
上昇距離Δ′は0.008inch(0,203mm)
である。
局在化された座屈動作は有効自由長が最大である箇所で
行なわれ、そのことは各座屈モードの相対的な有効自由
長に依存する・第1d図の第6のモードにおいては、有
効自由長EFL3が、ワイヤ・プローブ62の最大の有
効自由長である。そこで、矢印100で示すように基板
58を△“(0,203mm)だけ上昇させると、今度
は中間位置決めガイド78と底部位置決めガイド74と
の間で局所化された座屈が生じる。そして、ワイヤ・プ
ローブ62が長孔ガイド94の長孔96の左端に当接す
るので、それ以上の座屈が停止する。伺、各座屈モード
の相対的な有効自由長に応じて、軸方向のより大きい変
位の増大を許容するために、より多くの位置決めガイド
と長孔ガイドな使用するように設計してもよい。
行なわれ、そのことは各座屈モードの相対的な有効自由
長に依存する・第1d図の第6のモードにおいては、有
効自由長EFL3が、ワイヤ・プローブ62の最大の有
効自由長である。そこで、矢印100で示すように基板
58を△“(0,203mm)だけ上昇させると、今度
は中間位置決めガイド78と底部位置決めガイド74と
の間で局所化された座屈が生じる。そして、ワイヤ・プ
ローブ62が長孔ガイド94の長孔96の左端に当接す
るので、それ以上の座屈が停止する。伺、各座屈モード
の相対的な有効自由長に応じて、軸方向のより大きい変
位の増大を許容するために、より多くの位置決めガイド
と長孔ガイドな使用するように設計してもよい。
第2図は、多重モードの座屈柱プローブ装置5Qの多重
ワイヤ・プローブに対して力を加えた場合における、力
(単位ニゲラム)対軸方向の変位(単位:milりのグ
ラフである。尚、第1a図では2本のワイヤ命プローブ
62.62’が示され、第1b〜1d図でシま1本のワ
イヤ令グローブのみが図示されているけれども、各ワイ
ヤ・プローブの動作は第1a〜;6図と同一であること
を理解されたい。
ワイヤ・プローブに対して力を加えた場合における、力
(単位ニゲラム)対軸方向の変位(単位:milりのグ
ラフである。尚、第1a図では2本のワイヤ命プローブ
62.62’が示され、第1b〜1d図でシま1本のワ
イヤ令グローブのみが図示されているけれども、各ワイ
ヤ・プローブの動作は第1a〜;6図と同一であること
を理解されたい。
さて、第2図を、第4b、4c及び4a図に相関させて
みると、第4b図の矢印97で加えられた力は、プロー
ブの横方向の変位が開始する前に、1’2fの太きさま
で増大する。そして、横方向の変位の開始時点では、プ
ローブの軸方向の変位は12m1J である。軸方向
の変位が8m1j?のとき軸方向に12gを加えると第
5図のP点で横方向の変位が生じる。これは第1の座屈
モードの横方向の限界であり、ワイヤ・プローブ62が
第1長孔ガイド86の長孔88の左端に当接する(第1
b図参照)点でもある。次にワイヤ・プローブ62に加
えられる軸方向の力が13Fに達すると、ワイヤ・プロ
ーブ62が第2の座屈を開始しく第1C図参照)、との
座屈は軸方向の変位が約17m1j’になる点P′まで
続く。そして点P′では座屈したワイヤ・プローブ62
が第2長孔ガイド90の長孔92の左端に当接するので
、ワイヤ・プロー“プロ2が第2のモードの座屈を終え
る。さらに、ワイヤ・プローブ62に軸方向に加えられ
る力が13fから11’に増加されると、ワイヤ・・プ
ローブは第2の中間位置決めガイド78と底部位置決め
ガイド74の間の第3の座屈モードを開始する。この第
3のモードの座屈は、軸方向の変位が16m1l!から
24m1Jまで増大する点P″ま、で継続し、その点P
″で第6の座屈は横方向の限界に到達する。こうして軸
方向の変位が終了し、°このあと第5図に示されるよう
にワイヤ・プローブに加えられる力が14gから169
に上昇してもワイヤ・プローブはそれ以上は座屈しない
、というのは第1〜第ろ長孔88.92.96によって
ワイヤ・プローブの横方向の座屈が制限されているから
である。
みると、第4b図の矢印97で加えられた力は、プロー
ブの横方向の変位が開始する前に、1’2fの太きさま
で増大する。そして、横方向の変位の開始時点では、プ
ローブの軸方向の変位は12m1J である。軸方向
の変位が8m1j?のとき軸方向に12gを加えると第
5図のP点で横方向の変位が生じる。これは第1の座屈
モードの横方向の限界であり、ワイヤ・プローブ62が
第1長孔ガイド86の長孔88の左端に当接する(第1
b図参照)点でもある。次にワイヤ・プローブ62に加
えられる軸方向の力が13Fに達すると、ワイヤ・プロ
ーブ62が第2の座屈を開始しく第1C図参照)、との
座屈は軸方向の変位が約17m1j’になる点P′まで
続く。そして点P′では座屈したワイヤ・プローブ62
が第2長孔ガイド90の長孔92の左端に当接するので
、ワイヤ・プロー“プロ2が第2のモードの座屈を終え
る。さらに、ワイヤ・プローブ62に軸方向に加えられ
る力が13fから11’に増加されると、ワイヤ・・プ
ローブは第2の中間位置決めガイド78と底部位置決め
ガイド74の間の第3の座屈モードを開始する。この第
3のモードの座屈は、軸方向の変位が16m1l!から
24m1Jまで増大する点P″ま、で継続し、その点P
″で第6の座屈は横方向の限界に到達する。こうして軸
方向の変位が終了し、°このあと第5図に示されるよう
にワイヤ・プローブに加えられる力が14gから169
に上昇してもワイヤ・プローブはそれ以上は座屈しない
、というのは第1〜第ろ長孔88.92.96によって
ワイヤ・プローブの横方向の座屈が制限されているから
である。
伺、この実施例では、ワイヤ・プローブを形成する物質
はハリニー(Pa1iney)7合金であり、そのワイ
ヤの直径は0.0051nch(0,127mm)であ
る。
はハリニー(Pa1iney)7合金であり、そのワイ
ヤの直径は0.0051nch(0,127mm)であ
る。
以上のように、この発明によれば、座屈柱プローブ装置
において、上下の位置決めガイドの間にワイヤ・プロー
ブの横方向の変位を制限するための長孔を形成した長孔
ガイドを介在固定したことにより、ワイヤ・プローブの
過度の屈曲を防止できるとともに、電気的短絡を生じな
いよう好適にワイヤ・プローブを互いに離隔できるので
プローブの高密度をはかることができる。
において、上下の位置決めガイドの間にワイヤ・プロー
ブの横方向の変位を制限するための長孔を形成した長孔
ガイドを介在固定したことにより、ワイヤ・プローブの
過度の屈曲を防止できるとともに、電気的短絡を生じな
いよう好適にワイヤ・プローブを互いに離隔できるので
プローブの高密度をはかることができる。
第1a〜1d図は、本発明に係る座屈柱プローブ装置の
構造及び各座屈モードをあられす図、第2図は、第1図
の装置において、プローブに加えた力(ダラム)とプロ
ーブの軸方向の変位(m1d)との対応関係を示す図、 第3図は、従来の典型的な座屈柱プローブ装置の構造を
示す図、 第4図は、従来の座屈柱プローブ装置においてプローブ
に加えた力と軸方向の変位との対応関係を示す図、 第5図は、従来の座屈柱グローブ装置においてプローブ
の横方向と軸方向の変位との対応関係を示す図である。 58・・・・基板、60・・・・パッド、62.62’
・・・・ワイヤープローブ、70.74・・・・位置決
めガイド82.78・・・・中間位置決めガイド、86
゜90.94・・・・長孔ガイド。 1i[人 インターナシタブフレ・ビジネス・マシ
ーンズ壷コーポレーション代理人 弁理士 山
本 仁 朗(外1名)
構造及び各座屈モードをあられす図、第2図は、第1図
の装置において、プローブに加えた力(ダラム)とプロ
ーブの軸方向の変位(m1d)との対応関係を示す図、 第3図は、従来の典型的な座屈柱プローブ装置の構造を
示す図、 第4図は、従来の座屈柱プローブ装置においてプローブ
に加えた力と軸方向の変位との対応関係を示す図、 第5図は、従来の座屈柱グローブ装置においてプローブ
の横方向と軸方向の変位との対応関係を示す図である。 58・・・・基板、60・・・・パッド、62.62’
・・・・ワイヤープローブ、70.74・・・・位置決
めガイド82.78・・・・中間位置決めガイド、86
゜90.94・・・・長孔ガイド。 1i[人 インターナシタブフレ・ビジネス・マシ
ーンズ壷コーポレーション代理人 弁理士 山
本 仁 朗(外1名)
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 電気的試験装置と、上面に導電性のパッドを形成した基
板との間に弾性及び導電性をもつ複数のワイヤ・プロー
ブを配置し、上記基板と上記試験装置との間で上記ワイ
ヤ・プローブを座屈させるように挾持し、以て上記基板
と上記試験装置との電気的接続をはかるための座屈柱プ
ローブ装置において、 (a)上記試験装置と上記基板との間に離隔して配置し
、上記ワイヤ・プローブを摺動可能に挿通するための孔
を形成した一対の位置決めガイドと、 (b)上記位置決めガイドの間に介在配置して上記位置
決めガイドとは相対的に固定し、上記位置決めガイドの
孔に整合し上記ワイヤ・プローブを摺動可能に挿通する
ための孔を形成した少くとも1つの中間位置決めガイド
と、 (c)上記位置決めガイドと上記中間位置決めガイドの
それぞれの間に個別に介在配置して上記位置決めガイド
とは相対的に固定し、上記位置決めガイドの孔とはオフ
セットし上記ワイヤ・プローブを摺動可能に挿通するた
めの長孔を形成した長孔ガイドとを具備したことを特徴
とする座屈柱プローブ装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US06/620,983 US4622514A (en) | 1984-06-15 | 1984-06-15 | Multiple mode buckling beam probe assembly |
US620983 | 1984-06-15 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS614971A true JPS614971A (ja) | 1986-01-10 |
JPH0228828B2 JPH0228828B2 (ja) | 1990-06-26 |
Family
ID=24488239
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60037736A Granted JPS614971A (ja) | 1984-06-15 | 1985-02-28 | 座屈柱プロ−ブ装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4622514A (ja) |
EP (1) | EP0164672B1 (ja) |
JP (1) | JPS614971A (ja) |
DE (1) | DE3579502D1 (ja) |
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US6417684B1 (en) | 1997-11-05 | 2002-07-09 | Feinmetall Gmbh | Securement of test points in a test head |
WO2009016746A1 (ja) * | 2007-08-01 | 2009-02-05 | Elia Co., Ltd. | コンタクタ及びインターフェース組立体 |
JP2017533446A (ja) * | 2015-01-04 | 2017-11-09 | イル キム、 | 検査接触装置 |
KR20170129806A (ko) * | 2015-03-13 | 2017-11-27 | 테크노프로브 에스.피.에이. | 특히 고주파 응용을 위한 수직형 프로브를 구비한 테스트 헤드 |
JP2018515752A (ja) * | 2015-03-31 | 2018-06-14 | テクノプローベ エス.ピー.エー. | 高周波適用のためのバーチカル接触プローブ、及びバーチカル接触プローブをもつ試験ヘッド |
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