ATE140542T1 - Gerät zum elektronischen testen von gedruckten leiterplatten oder ähnlichem - Google Patents

Gerät zum elektronischen testen von gedruckten leiterplatten oder ähnlichem

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ATE140542T1
ATE140542T1 AT92300030T AT92300030T ATE140542T1 AT E140542 T1 ATE140542 T1 AT E140542T1 AT 92300030 T AT92300030 T AT 92300030T AT 92300030 T AT92300030 T AT 92300030T AT E140542 T1 ATE140542 T1 AT E140542T1
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    • G01R1/02General constructional details
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    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
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Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4406538A1 (de) * 1994-02-28 1995-08-31 Mania Gmbh Leiterplatten-Prüfeinrichtung mit Prüfadapter und Verfahren zum Einstellen desselben
DE10223867B4 (de) * 2002-05-29 2006-07-06 Elco Europe Gmbh Leiterplatten-Prüfeinheit
US6703855B1 (en) * 2002-12-03 2004-03-09 C.C.P. Contact Probes Co., Ltd. Structure of a probe
US8648616B2 (en) * 2009-12-22 2014-02-11 Ltx-Credence Corporation Loaded printed circuit board test fixture and method for manufacturing the same
CN106199089B (zh) * 2016-10-10 2018-05-22 广东惠伦晶体科技股份有限公司 一种用于石英晶体测试头的防带料装置
TWI627411B (zh) * 2017-12-15 2018-06-21 致茂電子股份有限公司 電流探針結構
CN109932535B (zh) * 2017-12-15 2021-03-02 致茂电子(苏州)有限公司 电流探针结构
CN111442706B (zh) * 2020-04-27 2024-08-13 大连吉星电子股份有限公司 一种柔性线路板产品厚度测量治具

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4164704A (en) * 1976-11-01 1979-08-14 Metropolitan Circuits, Inc. Plural probe circuit card fixture using a vacuum collapsed membrane to hold the card against the probes
US4322682A (en) * 1979-05-21 1982-03-30 Everett/Charles Inc. Vacuum actuated test head having programming plate
US4352061A (en) * 1979-05-24 1982-09-28 Fairchild Camera & Instrument Corp. Universal test fixture employing interchangeable wired personalizers
US4528500A (en) 1980-11-25 1985-07-09 Lightbody James D Apparatus and method for testing circuit boards
DE3340179C1 (de) 1983-11-07 1985-05-09 MANIA Elektronik Automatisation Entwicklung und Gerätebau GmbH Anordnung an einem Leiterplattenpruefgeraet zur Anpassung der Abstaende von Kontakten
DE3340180C1 (de) 1983-11-07 1985-05-15 MANIA Elektronik Automatisation Entwicklung und Gerätebau GmbH Kontaktfeldanordnung fuer ein rechnergesteuertes Leiterplattenpruefgeraet
US4622514A (en) * 1984-06-15 1986-11-11 Ibm Multiple mode buckling beam probe assembly
DE3562478D1 (en) 1984-11-13 1988-06-09 Mania Gmbh Mechanically activated deflector for lifting and holding objects
HU192083B (en) * 1984-11-29 1987-05-28 Bhg Hiradastech Vallalat Testing probe for testing printed wiring and printed circuit panels
ATE36197T1 (de) 1985-09-16 1988-08-15 Mania Gmbh Vorrichtung zum elektronischen pruefen von leiterplatten oder dergleichen.
DE3540100A1 (de) 1985-11-12 1987-06-11 Mania Gmbh Verfahren zur optischen pruefung von leiterplatten
EP0250620B1 (de) 1986-06-25 1990-09-05 MANIA Elektronik Automatisation Entwicklung und Gerätebau GmbH Verfahren und Vorrichtung zum elektrischen Prüfen von Leiterplatten
DE3630548A1 (de) 1986-09-08 1988-03-10 Mania Gmbh Vorrichtung zum elektronischen pruefen von leiterplatten mit kontaktpunkten im 1/20 zoll-raster
EP0283545B1 (de) * 1987-03-27 1991-10-16 Ibm Deutschland Gmbh Kontaktsonden-Anordnung zur elektrischen Verbindung einer Prüfeinrichtung mit den kreisförmigen Anschlussflächen eines Prüflings
EP0299232A1 (de) * 1987-06-22 1989-01-18 Everett/Charles Contact Products Inc. Prüfadapter für gedruckte Schaltung
US4803424A (en) * 1987-08-31 1989-02-07 Augat Inc. Short-wire bed-of-nails test fixture
EP0315707B1 (de) * 1987-11-09 1992-04-22 MANIA GmbH & Co. Adapter für eine Vorrichtung zur elektronischen Prüfung von Leiterplatten

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Publication number Publication date
EP0508561A1 (de) 1992-10-14
DE69212195D1 (de) 1996-08-22
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DE69212195T2 (de) 1996-12-19
EP0508561B1 (de) 1996-07-17

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