KR102654545B1 - 플로팅블록 - Google Patents

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KR102654545B1
KR102654545B1 KR1020230179459A KR20230179459A KR102654545B1 KR 102654545 B1 KR102654545 B1 KR 102654545B1 KR 1020230179459 A KR1020230179459 A KR 1020230179459A KR 20230179459 A KR20230179459 A KR 20230179459A KR 102654545 B1 KR102654545 B1 KR 102654545B1
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강민우
김준혁
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주식회사 프로이천
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Abstract

본 발명은, 회동체와 결합하는 플레이트; 및 플레이트의 저면에 돌출하여 형성되고, 회동을 통해 피검사체의 패드에 접촉할 수 있는 접촉블록을 포함하고, 접촉블록은, 프로브핀이 삽입되는 슬롯; 및 슬롯보다 더 돌출하여 형성된 가늠돌기를 포함하되, 슬롯은 X축 방향으로 서로 나란하게 배열된 적어도 두 개의 제1슬롯열 및 제2슬롯열을 이루고, 가늠돌기는, 슬롯을 감싸는 둘레에 형성된 외부가늠돌기; 및 제1슬롯열과 제2슬롯열의 사이에 형성된 내부가늠돌기를 포함하고, 가늠돌기는, 슬롯에 삽입되는 프로브핀의 첨두보다 더 도출되게 형성되도록 구성되는, 플로팅블록을 게시한다. 본 발명에 따르면, 플로팅블록을 통해 프로브핀이 안전하게 피검사체의 패드에 접촉할 수 있다.

Description

플로팅블록{FLOATING BLOCK}
본 발명은 플로팅블록에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 캐리어지그가 회동 시에 프로브핀을 정렬(align)하여 피검사체의 패드에 접촉시키는 플로팅블록에 관한 것이다.
본 섹션에서 제시된 내용은 본 발명의 배경이 되는 정보를 제공하는 것일 뿐이며 선행기술을 구성하는 것은 아니다.
플로팅블록(floating block)은, 프로브시스템(probe system)에서 피검사체(test subject)에 접촉하는 프로브핀(probe pin)이 삽입되는 부품에 해당한다. 플로팅블록은, 프로브핀이 피검사체의 패드에 접촉하는 과정에서 발생할 수 있는 오차에 대비하기 위해 고정되어 있지 않고 일정 범위에서 유동적이어서 오차만큼 위치를 변경하여 프로브핀을 정렬하여 목표하는 패드 상에 접촉시키는 기능을 갖는다.
종래의 기술에 따른 플로팅블록은, 위치가 유동적이라는 특징 외에, 프로브핀을 피검사체의 패드 상의 목표하는 정확한 위치에 안내하기 위한 적합한 형상적 특징을 가지고 있지 않았다.
본 발명과 관련된 기술로서, 대한민국 등록특허공보에 게시된, 기판 검사장치는, 커넥터안착부가 형성된 플로팅헤드를 게시한다. 그러나 게시된 플로팅헤드는, 핀블록에 대해 상대적으로 상하 유동하는 기능 외에 구성적인 특징이 묘사되어 있지 않다. 본 발명에 따른 플로팅블록은 유동성 외에, 더 얇아진 프로브핀을 피검사체의 패드에 접촉시키는 데에 적합한 형상을 갖는다는 점에서, 양 발명의 구성 및 효과는 서로 구별된다.
대한민국 등록특허 제10-2388161호 (2022.05.17 공고)
본 발명이 해결하고자 하는 일 과제는, 프로브핀을 피검사체의 패드에 접촉시키기 위해 위치를 안내하는 데에 적합한 형상을 갖는 플로팅블록을 제공하는 것이다.
본 발명이 해결하고자 하는 일 과제는, 더 얇아진 프로브핀이 위치오차로 인하여 파손되는 것을 방지할 수 있는 플로팅블록을 제공하는 것이다.
본 발명이 해결하고자 하는 일 과제는, 이상에서 언급한 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제는 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 기술적 사상에 의한 일 실시 예에 따르면, 회동체와 결합하는 플레이트; 및 플레이트의 저면에 돌출하여 형성되고, 회동을 통해 피검사체의 패드에 접촉할 수 있는 접촉블록을 포함하고, 접촉블록은, 프로브핀이 삽입되는 슬롯; 및 슬롯보다 더 돌출하여 형성된 가늠돌기를 포함하되, 슬롯은 X축 방향으로 서로 나란하게 배열된 적어도 두 개의 제1슬롯열 및 제2슬롯열을 이루고, 가늠돌기는, 슬롯을 감싸는 둘레에 형성된 외부가늠돌기; 및 제1슬롯열과 제2슬롯열의 사이에 형성된 내부가늠돌기를 포함하고, 가늠돌기는, 슬롯에 삽입되는 프로브핀의 첨두보다 더 도출되게 형성되도록 구성되는, 플로팅블록이 게시된다.
또한, 플로팅블록은, 슬롯이, 각 슬롯을 구성하는 격벽의 측부성분에 해당하는 립(rib)이 제거되도록 구성될 수 있다.
또한, 플로팅블록은, 가늠돌기가, 프로브핀의 첨두가 피검사체에 접촉하기 전에 피검사체가 놓이는 바닥과 굴곡에 따라 먼저 접촉함으로써 프로브핀의 위치를 미리 정해진 위치로 안내하도록 구성될 수 있다.
또한, 플로팅블록은, 가늠돌기가, 대향하는 위치에 있는 피검사체가 놓이는 바닥과 충돌이 방지되게 모서리가 없이 라운드지게 구성될 수 있다.
또한, 플로팅블록은, 회동체와 플로팅 결합하는 결합홀 및 결합돌기 중에서 적어도 하나를 포함하고, 가늠돌기는 플로팅 상태에서 피검사체가 놓인 바닥의 굴곡과 맞는 위치에서 슬롯에 삽입된 프로브핀의 X좌표 및 Y좌표를 결정하도록 구성될 수 있다.
또한, 플로팅블록은, 가늠돌기가, 슬롯을 감싸는 둘레에 형성된 외부가늠돌기; 및 제1슬롯열과 제2슬롯열의 사이에 형성된 내부가늠돌기를 포함하고, 가늠돌기는, 슬롯에 삽입되는 프로브핀의 첨두보다 더 도출되게 형성되도록 구성될 수 있다.
또한, 플로팅블록은, 외부가늠돌기가, 4개의 코너부, 코너부 사이의 4개의 에지부를 포함하되, 코너부가 에지부보다 더 도출되게 구성될 수 있다.
또한, 플로팅블록은, 에지부 중에서 제1슬롯열 또는 제2슬롯열과 나란한 에지부는, 내측이 내부가늠돌기의 높이와 동일한 높이로 돌출되고, 외측이 내부가늠돌기보다 더 도출되도록, 외측과 내측이 서로 다른 2단의 높이로 구성될 수 있다.
기타 실시 예의 구체적인 사항은 "발명을 실시하기 위한 구체적인 내용" 및 첨부 "도면"에 포함되어 있다.
본 발명의 이점 및/또는 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 각종 실시 예를 참조하면 명확해질 것이다.
그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 각 실시 예의 구성만으로 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로도 구현될 수도 있으며, 단지 본 명세서에서 개시한 각각의 실시 예는 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 본 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구범위의 각 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐임을 알아야 한다.
본 발명에 의하면, 플로팅블록을 통해 프로브핀이 안전하게 피검사체의 패드에 접촉할 수 있다.
또한, 플로팅블록이 정확한 위치를 안내함으로써, 더 얇아진 프로브핀이 위치오차로 인하여 파손되는 것이 방지될 수 있다.
본 발명의 기술적 사상에 따른 플로팅블록이 얻을 수 있는 효과는 이상에서 언급한 효과들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 효과들은 아래의 기재로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
도 1은 캐리어 지그의 예시도이다.
도 2는 도 1의 캐리어 지그에 포함된, 본 발명의 실시예에 따른 플로팅블록의 저면을 묘사한 예시도이다.
도 3은 도 1의 캐리어 지그에 포함된, 본 발명의 실시예에 따른 플로팅블록의 탑면을 묘사한 예시도이다.
도 4는 도 2의 플로팅블록에 포함된 접촉블록의 저면을 묘사한 예시도이다.
도 5는 도 4의 접촉블록을 확대하여 묘사한 예시도이다.
도 6은 도 4의 접촉블록의 h3 위치에서 잘려진 단면이 묘사된 단면도이다.
본 발명을 상세하게 설명하기 전에, 본 명세서에서 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 무조건 한정하여 해석되어서는 아니 되며, 본 발명의 발명자가 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해서 각종 용어의 개념을 적절하게 정의하여 사용할 수 있고, 더 나아가 이들 용어나 단어는 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야 함을 알아야 한다.
즉, 본 명세서에서 사용된 용어는 본 발명의 바람직한 실시 예를 설명하기 위해서 사용되는 것일 뿐이고, 본 발명의 내용을 구체적으로 한정하려는 의도로 사용된 것이 아니며, 이들 용어는 본 발명의 여러 가지 가능성을 고려하여 정의된 용어임을 알아야 한다.
또한, 본 명세서에서, 단수의 표현은 문맥상 명확하게 다른 의미로 지시하지 않는 이상, 복수의 표현을 포함할 수 있으며, 유사하게 복수로 표현되어 있다고 하더라도 단수의 의미를 포함할 수 있음을 알아야 한다.
본 명세서의 전체에 걸쳐서 어떤 구성 요소가 다른 구성 요소를 "포함"한다고 기재하는 경우에는, 특별히 반대되는 의미의 기재가 없는 한 임의의 다른 구성 요소를 제외하는 것이 아니라 임의의 다른 구성 요소를 더 포함할 수도 있다는 것을 의미할 수 있다.
더 나아가서, 어떤 구성 요소가 다른 구성 요소의 "내부에 존재하거나, 연결되어 설치된다"라고 기재한 경우에는, 이 구성 요소가 다른 구성 요소와 직접적으로 연결되어 있거나 접촉하여 설치되어 있을 수 있고, 일정한 거리를 두고 이격되어 설치되어 있을 수도 있으며, 일정한 거리를 두고 이격되어 설치되어 있는 경우에 대해서는 해당 구성 요소를 다른 구성 요소에 고정 내지 연결하기 위한 제 3의 구성 요소 또는 수단이 존재할 수 있으며, 이 제 3의 구성 요소 또는 수단에 대한 설명은 생략될 수도 있음을 알아야 한다.
반면에, 어떤 구성 요소가 다른 구성 요소에 "직접 연결"되어 있다거나, 또는 "직접 접속"되어 있다고 기재되는 경우에는, 제 3의 구성 요소 또는 수단이 존재하지 않는 것으로 이해하여야 한다.
마찬가지로, 각 구성 요소 간의 관계를 설명하는 다른 표현들, 즉 " ~ 사이에"와 "바로 ~ 사이에", 또는 " ~ 에 이웃하는"과 " ~ 에 직접 이웃하는" 등도 마찬가지의 취지를 가지고 있는 것으로 해석되어야 한다.
또한, 본 명세서에서 "일면", "타면", "일측", "타측", "제 1", "제 2" 등의 용어는, 사용된다면, 하나의 구성 요소에 대해서 이 하나의 구성 요소가 다른 구성 요소로부터 명확하게 구별될 수 있도록 하기 위해서 사용되며, 이와 같은 용어에 의해서 해당 구성 요소의 의미가 제한적으로 사용되는 것은 아님을 알아야 한다.
또한, 본 명세서에서 "상", "하", "좌", "우" 등의 위치와 관련된 용어는, 사용된다면, 해당 구성 요소에 대해서 해당 도면에서의 상대적인 위치를 나타내고 있는 것으로 이해하여야 하며, 이들의 위치에 대해서 절대적인 위치를 특정하지 않는 이상은, 이들 위치 관련 용어가 절대적인 위치를 언급하고 있는 것으로 이해하여서는 아니된다.
또한, 본 명세서에서는 각 도면의 각 구성 요소에 대해서 그 도면 부호를 명기함에 있어서, 동일한 구성 요소에 대해서는 이 구성 요소가 비록 다른 도면에 표시되더라도 동일한 도면 부호를 가지고 있도록, 즉 명세서 전체에 걸쳐 동일한 참조 부호는 동일한 구성 요소를 지시하고 있다.
본 명세서에 첨부된 도면에서 본 발명을 구성하는 각 구성 요소의 크기, 위치, 결합 관계 등은 본 발명의 사상을 충분히 명확하게 전달할 수 있도록 하기 위해서 또는 설명의 편의를 위해서 일부 과장 또는 축소되거나 생략되어 기술되어 있을 수 있고, 따라서 그 비례나 축척은 엄밀하지 않을 수 있다.
또한, 이하에서, 본 발명을 설명함에 있어서, 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 구성, 예를 들어, 종래 기술을 포함하는 공지 기술에 대해 상세한 설명은 생략될 수도 있다.
이하, 본 발명의 실시 예에 대해 관련 도면들을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.
도 1은 캐리어 지그의 예시도이다.
도 1을 참조하면, 프로브시스템(probe system)에 포함되는 캐리어지그(carrier jig)가 묘사되어 있다. 캐리어지그는 컨베이어장치에 의해 이동하면서, 프로브핀을 피검사체에 접촉시켜 피검사체에 검사 신호를 입력시키는 기능을 갖는다. 캐리어지그는 피검사체가(test subject)가 배치되는 안착영역(22)이 형성된 베이스플레이트(20) 및, 베이스플레이트(20) 상에 결합된 소켓조립체(10)를 포함하도록 구성될 수 있다.
베이스플레이트(20)는, 피검사체를 고정시키는 일종의 작업대에 해당한다. 베이스플레이트(20)는 피검사체의 일단과 타단을 가압하여 고정시키는 클램프(21a, 21b), 안착영역(22), 안착영역의 바닥에 형성된 중공(23) 및 위치마크(24)를 포함하도록 구성될 수 있다.
프로브시스템은 비젼시스템 및 위치마크(24)를 이용하여 캐리어지그의 위치를 파악할 수 있다. 프로브시스템은, 피검사체가 안착된 복수의 캐리어지그를, 프로브시스템 내의 컨베이어장치를 통해 운반하면서, 소켓조립체(10)를 동작시켜 완성품의 최종조립 전에 완성품의 부품에 해당하는 피검사체, 예를 들어 디스플레이패널의 성능 검사(probe)를 수행할 수 있다.
소켓조립체(10)는 피검사체에 검사 신호를 입력시키는 장치에 해당한다. 소켓조립체의 말단에는 프로브핀이 위치하고 있고, 프로브핀이 피검사체의 패드 상에 접촉하여, 프로브핀을 통해 검사 신호가 피검사체에 입력될 수 있다.
소켓조립체(10)는 베이스플레이트(20) 상에 결합하여 고정되는 고정체와 힌지를 통해 결합하여 회동하는 회동체를 포함하도록 구성될 수 있다. 고정체 상에 피검사체의 FPCB의 말단에 형성된 패드가 안착되면, 회동체는 패드 쪽으로 회동하여 프로브핀을 패드와 접촉시킬 수 있다. 여기서, 회동체는 플로팅블록(100)을 포함하고, 플로팅블록(floating block)(100) 내에 프로브핀(probe pin)이 삽입 배치된다. 그리고 고정체는 네스트블록을 포함한다. 네스트블록 상에 피검사체의 패드가 안착된다. 즉 피검사체의 패드는 네스트블록 상에 안착된 상태에서, 플로팅블록에 삽입된 프로브핀과 접촉하게 된다.
플로팅블록(100)은 프로브핀을 포함하고 있으면서, 프로브핀이 피검사체의 패드 상의 정확한 위치에 접촉되게, 프로브핀의 움직임을 안내하는 기능을 갖는다.
도 2는 도 1의 캐리어지그에 포함된, 본 발명의 실시예에 따른 플로팅블록의 저면을 묘사한 예시도이다.
도 3은 도 1의 캐리어지그에 포함된, 본 발명의 실시예에 따른 플로팅블록의 탑면을 묘사한 예시도이다.
도 2를 참조하면, 플로팅블록(100)의 저면이 묘사되어 있다. 플로팅블록(100)은 캐리어지그의 회동체와 결합하는 플레이트(110) 및 플레이터의 저면에 돌출하여 형성된 접촉블록(200)을 포함하도록 구성될 수 있다.
접촉블록(200)은 회동을 통해 피검사체의 패드에 전기적으로 접촉하는 기능을 갖는다. 플레이트(110)의 중심에 접촉블록(200)이 배치될 수 있다. 접촉블록(200)은 회동 시에, 접촉블록(200)에 포함된 프로브핀이 접촉되는 패드상의 위치를 안내해야 하므로 플레이트(110)보다 돌출하여 형성될 수 있다.
접촉블록(200)의 주변으로 플레이트(110)의 표면에 구경이 서로 다른 복수의 제1결합홀(101)과 복수의 제2결합홀(102)이 형성될 수 있다. 제1결합홀(101) 및 제2결합홀(102)은 플로팅블록(100)을 회동체에 결합하는 데에 사용될 수 있다. 접촉블록(200)에 포함된 프로브핀과는 다른 용도의 프로브핀이 삽입되는 핀홀(103)이 플레이트(110)에 추가로 형성될 수 있다.
도 3을 참조하면, 플로팅블록(100)의 탑면이 묘사되어 있다. 플로팅블록(100)의 저면에 형성된 복수의 제1결합홀(101)과 복수의 제2결합홀(102)이 플레이트(110)를 관통하여 형성되므로 플레이트(110)의 탑면에도 묘사되어 있다. 플레이트(110)의 탑면에도 핀홀(103)이 묘사되어 있다.
플레이트(110)의 탑면에 한 쌍의 결합돌기(105)가 추가적으로 형성될 수 있다. 한 쌍의 결합돌기(105)는 결합홀과 반대의 개념으로, 회동체에 형성된 결합홀과 결합할 수 있다.
도 4는 도 2의 플로팅블록에 포함된 접촉블록의 저면을 묘사한 예시도이다.
도 5는 도 4의 접촉블록을 확대하여 묘사한 예시도이다.
도 6은 도 4의 접촉블록의 h3 위치에서 잘려진 단면이 묘사된 단면도이다.
도 4 및 도 5를 참조하면, 접촉블록(200)은 슬롯(213) 및 가늠돌기(220)를 포함하도록 구성될 수 있다. 슬롯(213)은 복수의 열, 예를 들어 도 4와 같이 2개의 열을 형성할 수 있다. 가늠돌기(220)는 외부가늠돌기(230) 및 내부가늠돌기(270)로 구성될 수 있다.
슬롯(213)은 일정 간격으로 배치된 복수 개의 격벽으로 구성되며, 격벽 사이의 공간에 프로브핀이 삽입될 수 있다.
슬롯(213)은 복수 개의 격벽이 열을 이루며 배치될 수 있는데, 도 4 및 도 5에는 2개의 슬롯열이 묘사되어 있다. 슬롯(213)은 복수 개가 X축 방향으로 서로 나란하게 배열될 수 있다. 배열된 슬롯(213)은 제1슬롯열(211) 제2슬롯열(212)을 형성할 수 있다.
각 슬롯을 구성하는 격벽의 측부성분에 해당하는 립이 제거되도록 형성될 수 있다. 종래의 기술에 따르면 슬롯의 격벽의 측부성분이 존재하여서, 위치 오차로 인하여 측부성분이 손상되는 경우가 있었다. 본 발명에서는 측부성분에 해당하는 립이 제거되어 있으므로, 위치 오차로 인하여 슬롯이 손상되는 경우가 발생하지 않는다.
외부가늠돌기(230)는 슬롯(213)의 외부, 즉 슬롯(213)을 감싸면서 둘레에 형성될 수 있다. 내부가늠돌기(270)는 슬롯(213)의 내부, 즉 제1슬롯열(211)과 제2슬롯열(212)의 사이에 형성될 수 있다. 플로팅블록(100)의 회동 시에, 외부가늠돌기(230)와 내부가늠돌기(270)는 시간 차를 두어 피검사체의 패드 또는 피검사체가 놓이는 바닥에 해당하는 네스트플레이트와 접촉하게 된다.
외부가늠돌기(230) 및 내부가늠돌기(270)는 슬롯(213)에 배치된 프로브핀이 피검사체의 패드와 접촉하기에 앞서, 패드의 표면의 굴곡을 읽어서, 외부가늠돌기(230) 및 내부가늠돌기의 굴곡과 패드의 표면의 굴곡이 서로 일치하는 자리를 잡음으로써, 슬롯(213)에 배치된 프로브핀의 위치를 안내하는 기능을 갖는다. 여기서, 가늠돌기의 “가늠”은 표면의 굴곡을 “읽음”을 의미한다.
프로브핀이 패드와 접촉하기에 앞서, 먼저 외부가늠돌기(230)가 패드 또는 바닥의 굴곡진 부위와 접촉하고, 내부가늠돌기(270)가 뒤를 이어 패드 또는 바닥의 다른 굴곡진 부위와 접촉하게 하기 위해, 내부가늠돌기(270)보다 외부가늠돌기(230)가 형태적으로 더 돌출되게 형성될 수 있다.
도 4를 참조하면, 외부가늠돌기(230)는, 가상의 수평선(h1, h2) 2개와 가상의 수직선(v1, v2) 2개를 경계로, 4개의 코너부(240), 코너부(240) 사이의 2개의 가로에지부(250) 및 2개의 세로에지부(260)를 포함하도록 구성될 수 있다.
도 5를 참조하면, 외부가늠돌기(230) 내에서도 위치에 따라 코너부(240)는 에지부(250, 260)보다 더 돌출되게 형성될 수 있다.
도 5 및 도 6을 참조하면, 에지부(250, 260) 중에서 제1슬롯열(211) 또는 제2슬롯열(212)과 나란한 세로에지부(260)는, 내측이 내부가늠돌기(270)의 높이와 동일한 높이로 돌출되고, 외측이 내부가늠돌기보다 더 도출되도록, 즉 외측과 내측이 서로 다른 2단의 높이로 형성될 수 있다. 즉, 외부가늠돌기(230) 중에서 세로에지부(260)의 높이를 2단계로 나누어 형성시킴으로써, 플로팅블록(100)은, 패드의 굴곡에 더 효과적으로 대체하여 미리 설정된 위치를 잡을 수 있다.
내부가늠돌기(270)는 수평선(h4)을 기준으로 수평요소(270h) 및 수직요소(270v)를 포함하도록 형성될 수 있다. 수평요소(270h)는 플로팅블록(100)의 X축좌표를 안내하고, 수직요소(270v)는 플로팅블록(100)의 Y축좌표를 안내할 수 있다.
외부가늠돌기(230) 및 내부가늠돌기(270)는, 대향하는 위치에 있는 피검사체가 놓이는 바닥과 충돌이 방지되게 모서리가 없이 라운드지게, 즉 곡면으로 구성될 수 있다. 예들 들어, 세로에지부의 곡면(252, 264), 가로에지부의 곡면(252), 코너부의 곡면(242)이 도 5에 묘사되어 있다.
도 5를 다시 참조하면, 더 나아가 외부가늠돌기(230)는 X축방향 및 Y축방향 중에서 적어도 하나의 방향에서 내측에 형성된 경사면(243)을 포함하도 구성될 수 있다. 플로팅블록(100)은, 외부가늠돌기(230)에 형성된 경사면(243)을 이용하여 충돌없이 피검사체의 패드 또는 바닥의 굴곡을 가늠하면서 위치를 잡을 수 있다.
플로팅블록(100)은, 회동체와 플로팅 결합, 즉 제한된 범위에서 위치를 변경할 수 있는 결합을 하고 있어서 회동체의 회동에 따라, 피검사체의 패드 또는 피검사체가 놓이는 바닥의 굴곡에 맞게 위치를 변경하여, 프로브핀을 피검사체의 패드 상의 목적하는 위치에 접촉시키는 기능을 갖는다.
본 발명에서는 플로팅블록(100)의 형상이 피검사체의 패드 또는 바닥의 굴곡을 감지하기에 적합한 형상을 갖는 것을 특징으로 한다. 즉 플로팅블록(100) 내의 접촉블록(200)은, 외부가늠돌기 외에 내부가늠돌기를 추가로 포함하고, 외부가늠돌기 중에서도, 코너부 및 에지부가 높이차를 보이고, 세로방향의 에지부는 내측과 외측이 서로 높이 차가 형성되어 있어서, 프로브핀의 위치 조절을 정밀하게 수행할 수 있다.
이와 같이 본 발명의 일 실시 예에 따르면, 플로팅블록을 통해 프로브핀이 안전하게 피검사체의 패드에 접촉할 수 있다.
또한, 플로팅블록이 정확한 위치를 안내함으로써, 더 얇아진 프로브핀이 위치오차로 인하여 파손되는 것이 방지될 수 있다.
이상, 일부 예를 들어서 본 발명의 바람직한 여러 가지 실시 예에 대해서 설명하였지만, 본 "발명을 실시하기 위한 구체적인 내용" 항목에 기재된 여러 가지 다양한 실시 예에 관한 설명은 예시적인 것에 불과한 것이며, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이상의 설명으로부터 본 발명을 다양하게 변형하여 실시하거나 본 발명과 균등한 실시를 행할 수 있다는 점을 잘 이해하고 있을 것이다.
또한, 본 발명은 다른 다양한 형태로 구현될 수 있기 때문에 본 발명은 상술한 설명에 의해서 한정되는 것이 아니며, 이상의 설명은 본 발명의 개시 내용이 완전해지도록 하기 위한 것으로 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 본 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것일 뿐이며, 본 발명은 청구범위의 각 청구항에 의해서 정의될 뿐임을 알아야 한다.
100: 플로팅블록, 110: 플레이트, 101: 제1결합홀, 102: 제2결합홀, 103: 핀홀, 200: 접촉블록, 211: 제1슬롯열, 212: 제2슬롯열, 213: 슬롯, 220: 가늠돌기, 230: 외부가늠돌기, 240: 코너부, 243: 경사면, 250: 가로에지부, 260: 세로에지부, 270: 내부가늠돌기

Claims (9)

  1. 회동체와 결합하는 플레이트; 및
    상기 플레이트의 저면에 돌출하여 형성되고, 회동을 통해 피검사체의 패드에 접촉할 수 있는 접촉블록을 포함하고,
    상기 접촉블록은,
    프로브핀이 삽입되는 슬롯; 및
    상기 슬롯보다 더 돌출하여 형성된 가늠돌기를 포함하되,
    상기 슬롯은 X축 방향으로 서로 나란하게 배열된 적어도 두 개의 제1슬롯열 및 제2슬롯열을 이루고,
    상기 가늠돌기는,
    상기 슬롯을 감싸는 둘레에 형성된 외부가늠돌기; 및
    상기 제1슬롯열과 제2슬롯열의 사이에 형성된 내부가늠돌기를 포함하고,
    상기 가늠돌기는, 상기 슬롯에 삽입되는 상기 프로브핀의 첨두보다 더 도출되게 형성되도록 구성되는,
    플로팅블록.
  2. 청구항 1에 있어서, 상기 슬롯은,
    각 슬롯을 구성하는 격벽의 측부성분에 해당하는 립(rib)이 제거되도록 구성되는,
    플로팅블록.
  3. 청구항 1에 있어서, 상기 가늠돌기는,
    상기 프로브핀의 첨두가 상기 피검사체에 접촉하기 전에 상기 피검사체가 놓이는 바닥과 굴곡에 따라 먼저 접촉함으로써 상기 프로브핀의 위치를 미리 정해진 위치로 안내하도록 구성되는,
    플로팅블록.
  4. 청구항 1에 있어서, 상기 가늠돌기는,
    대향하는 위치에 있는 피검사체가 놓이는 바닥과 충돌이 방지되게 모서리가 없이 라운드지게 구성되는,
    플로팅블록.
  5. 청구항 1에 있어서, 상기 플로팅블록은,
    상기 회동체와 플로팅 결합하는 결합홀 및 결합돌기 중에서 적어도 하나를 포함하고,
    상기 가늠돌기는 플로팅 상태에서 상기 피검사체가 놓인 바닥의 굴곡과 맞는 위치에서 상기 슬롯에 삽입된 상기 프로브핀의 X좌표 및 Y좌표를 결정하도록 구성되는,
    플로팅블록.
  6. 청구항 1에 있어서, 상기 가늠돌기는,
    상기 슬롯을 감싸는 둘레에 형성된 외부가늠돌기; 및
    상기 제1슬롯열과 제2슬롯열의 사이에 형성된 내부가늠돌기를 포함하고,
    상기 가늠돌기는, 상기 슬롯에 삽입되는 상기 프로브핀의 첨두보다 더 도출되게 형성되도록 구성되는,
    플로팅블록.
  7. 청구항 6에 있어서, 상기 외부가늠돌기는,
    4개의 코너부, 상기 코너부 사이의 4개의 에지부를 포함하되,
    상기 코너부가 상기 에지부보다 더 도출되게 구성되는,
    플로팅블록.
  8. 청구항 7에 있어서,
    상기 에지부 중에서 상기 제1슬롯열 또는 상기 제2슬롯열과 나란한 에지부는,
    내측이 상기 내부가늠돌기의 높이와 동일한 높이로 돌출되고, 외측이 상기 내부가늠돌기보다 더 도출되도록, 상기 외측과 상기 내측이 서로 다른 2단의 높이로 구성되는,
    플로팅블록.
  9. 청구항 7에 있어서, 상기 외부가늠돌기는,
    X축방향 및 Y축방향 중에서 적어도 하나의 방향에서 내측에 형성된 경사면을 포함하도록 구성되는,
    플로팅블록.

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