KR102538245B1

KR102538245B1 - 프로브

Info

Publication number: KR102538245B1
Application number: KR1020217009991A
Authority: KR
Inventors: 하지메 스에마사; 신이치 켄자키
Original assignee: 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼
Priority date: 2018-11-19
Filing date: 2019-11-13
Publication date: 2023-05-31
Also published as: KR20210055738A; TW202026645A; JPWO2020105525A1; US11619654B2; JP7040641B2; US20210263072A1; WO2020105525A1; TWI724637B; CN113039442A

Abstract

커넥터의 특성 검사를 실시하기 위한 프로브는 플런저와 동축 케이블과 플랜지와 하우징을 포함하고, 하우징의 한쪽 측의 단부는 본체부로부터 수평방향으로 지름이 확장된 지름 확장부를 가지며, 플랜지의 윗면에는 하우징의 지름 확장부를 수용하도록 관통구멍을 수평방향으로 확대하는 오목부가 형성되고, 지름 확장부는 오목부를 형성하는 플랜지의 내측면에 부분적으로 접촉 또는 대향하는 측벽과, 오목부를 형성하는 플랜지의 윗면에 접촉하는 바닥벽을 가지며, 지름 확장부는 측벽과 바닥벽을 접속하는 접속면을 가지며, 접속면은 측벽으로부터 바닥벽을 향해 내측으로 경사진 경사면이거나, 혹은 오목부를 형성하는 플랜지의 내측면은 비스듬하게 하방으로 경사진 제1 면을 가지며, 연직면은 제1 면으로부터 하방으로 연장되어서 플랜지의 윗면에 접속되는 제2 면이다.

Description

프로브

본 발명은 커넥터용 프로브에 관한 것이다.

종래부터, 피(被)검사체인 커넥터의 특성 검사를 실시하기 위한 프로브가 개시되어 있다(예를 들면, 특허문헌 1 참조).

특허문헌 1의 프로브는 특히 복수 신호를 흐르게 하도록 복수개의 단자가 마련된 다극 커넥터의 특성 검사를 실시하는 것이다. 특허문헌 1의 프로브는 다극 커넥터의 복수개의 단자에 대하여 동시에 접촉 가능한 복수개의 프로브 핀을 포함한다.

국제공개공보 WO2016/072193

커넥터의 프로브에 관해서는 특성 검사의 정밀도를 향상시키는 것이 요구된다. 특허문헌 1의 프로브와 같이, 복수개의 단자에 대하여 복수개의 프로브 핀을 각각 동시에 접촉시키는 경우에는 단자와 프로브 핀의 위치 어긋남이 생기고, 특성 검사의 정밀도가 저하되기 쉽다. 특허문헌 1에 개시되는 바와 같은 프로브를 포함시켜서, 커넥터의 단자의 특성 검사를 보다 정밀도 높게 실시할 수 있는 기술의 개발이 요구되고 있다.

따라서, 본 발명의 목적은 상기 문제를 해결함에 있어서, 커넥터의 단자의 특성 검사를 보다 정밀도 높게 실시할 수 있는 프로브를 제공하는 것에 있다.

상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 한 양태의 프로브는 커넥터의 특성 검사를 실시하기 위한 프로브로서, 관통구멍을 가지며, 상기 관통구멍이 연직방향으로 연장되도록 배치되는 플랜지와, 상기 관통구멍에 삽입 통과되어서 축방향으로 연장되며 선단부에 프로브 핀을 접속한 동축 케이블과, 상기 프로브 핀을 내포하면서 상기 프로브 핀의 선단을 노출시킨 플런저와, 상기 동축 케이블을 내포하는 통상(筒狀)의 형상을 가지며 한쪽 측의 단부(端部)가 상기 플랜지에 끼워 맞춰지고 다른 쪽 측의 단부가 상기 플런저에 장착된 하우징을 포함하고, 상기 하우징은 상기 플랜지의 상기 관통구멍에 삽입 통과되는 통상의 본체부를 포함하며, 상기 하우징의 상기 한쪽 측의 단부는 상기 본체부로부터 수평방향으로 지름이 확장된 지름 확장부를 가지며, 상기 플랜지의 윗면에는 상기 하우징의 상기 지름 확장부를 수용하도록 상기 관통구멍을 수평방향으로 확대하는 오목부가 형성되고, 상기 지름 확장부는 상기 오목부를 형성하는 상기 플랜지의 내측면에 부분적으로 접촉 또는 대향하는 측벽과, 상기 오목부를 형성하는 상기 플랜지의 윗면에 접촉하는 바닥벽을 가지며, 상기 지름 확장부는 상기 측벽과 상기 바닥벽을 접속하는 접속면을 가지며, 상기 접속면은 상기 측벽으로부터 상기 바닥벽을 향해 내측으로 경사진 경사면이거나, 혹은 상기 오목부를 형성하는 상기 플랜지의 상기 내측면은 비스듬하게 하방(下方)으로 경사진 제1 면과, 상기 제1 면으로부터 하방으로 연장되어서 상기 플랜지의 상기 윗면에 접속되는 연직면으로서의 제2 면을 가진다.

또한, 본 발명의 다른 양태의 프로브는 커넥터의 특성 검사를 실시하기 위한 프로브로서, 관통구멍을 가지며 상기 관통구멍이 연직방향으로 연장되도록 배치되는 플랜지와, 상기 관통구멍에 삽입 통과되어서 축방향으로 연장되며 선단부에 프로브 핀을 접속한 동축 케이블과, 상기 프로브 핀을 내포하면서 상기 프로브 핀의 선단을 노출시킨 플런저와, 상기 동축 케이블을 내포하는 통상의 형상을 가지며 한쪽 측의 단부가 상기 플랜지에 끼워 맞춰지고, 다른 쪽 측의 단부가 상기 플런저에 장착된 하우징을 포함하고, 상기 하우징은 상기 플랜지의 상기 관통구멍에 삽입 통과되는 통상의 본체부를 포함하며, 상기 하우징의 상기 한쪽 측의 단부는 상기 본체부로부터 수평방향으로 지름 확장된 지름 확장부를 가지며, 상기 플랜지의 윗면에는 상기 하우징의 상기 지름 확장부를 수용하도록 상기 관통구멍을 수평방향으로 확대하는 오목부가 형성되고, 상기 지름 확장부는 상기 오목부를 형성하는 상기 플랜지의 내측면에 부분적으로 접촉 또는 대향하는 측벽과, 상기 오목부를 형성하는 상기 플랜지의 윗면에 접촉하는 바닥벽을 가지며, 상기 지름 확장부의 상기 바닥벽이 상기 플랜지의 상기 윗면에 접촉하는 상태에서, 상기 지름 확장부의 상기 측벽과 상기 플랜지의 상기 내측면 사이에는 상기 지름 확장부가 상기 수평방향으로 이동 가능하게 하기 위한 간극이 형성된다.

본 발명의 프로브에 따르면, 커넥터의 단자의 특성 검사를 보다 정밀도 높게 실시할 수 있다.

도 1은 실시형태 1에서의 프로브의 사시도
도 2는 실시형태 1에서의 프로브의 사시도
도 3은 도 2의 A-A 절단면을 나타내는 컷아웃(cutout) 사시도
도 4는 도 1의 B-B 절단면을 나타내는 컷아웃 사시도
도 5는 실시형태 1에서의 프로브의 분해 사시도
도 6a는 실시형태 1에서의 플랜지의 사시도
도 6b는 실시형태 1에서의 플랜지의 평면도
도 6c는 실시형태 1에서의 플랜지의 종단면도
도 7a는 실시형태 1에서의 하우징의 사시도
도 7b는 실시형태 1에서의 하우징의 평면도
도 7c는 실시형태 1에서의 하우징의 종단면도
도 8a는 실시형태 1에서의 플랜지와 하우징이 접촉한 상태의 사시도
도 8b는 도 8a의 C-C 단면도
도 8c는 도 8a의 D-D 단면도
도 8d는 실시형태 1에서의 플랜지와 하우징이 접촉한 상태의 평면도
도 9는 실시형태 2에서의 프로브의 사시도
도 10은 도 9의 E-E 절단면을 나타내는 컷아웃 사시도
도 11은 실시형태 2에서의 프로브의 사시도
도 12는 도 11의 F-F 절단면을 나타내는 컷아웃 사시도
도 13은 실시형태 2에서의 프로브의 분해 사시도
도 14a는 실시형태 2에서의 플랜지의 사시도
도 14b는 실시형태 2에서의 플랜지의 평면도
도 14c는 실시형태 2에서의 플랜지의 종단면도
도 15a는 실시형태 2에서의 하우징의 사시도
도 15b는 실시형태 2에서의 하우징의 사시도
도 15c는 실시형태 2에서의 하우징의 평면도
도 15d는 실시형태 2에서의 하우징의 종단면도
도 16a는 실시형태 2에서의 플랜지와 하우징이 접촉한 상태의 종단면도
도 16b는 도 16a의 일부 확대도

본 발명의 제1 양태에 따르면, 커넥터의 특성 검사를 실시하기 위한 프로브로서, 관통구멍을 가지며, 상기 관통구멍이 연직방향으로 연장되도록 배치되는 플랜지와, 상기 관통구멍에 삽입 통과되어서 축방향으로 연장되며, 선단부에 프로브 핀을 접속한 동축 케이블과, 상기 프로브 핀을 내포하면서 상기 프로브 핀의 선단을 노출시킨 플런저와, 상기 동축 케이블을 내포하는 통상의 형상을 가지며, 한쪽 측의 단부가 상기 플랜지에 끼워 맞춰지고, 다른 쪽 측의 단부가 상기 플런저에 장착된 하우징을 포함하며, 상기 하우징은 상기 플랜지의 상기 관통구멍에 삽입 통과되는 통상의 본체부를 포함하고, 상기 하우징의 상기 한쪽 측의 단부는 상기 본체부로부터 수평방향으로 지름이 확장된 지름 확장부를 가지며, 상기 플랜지의 윗면에는 상기 하우징의 상기 지름 확장부를 수용하도록 상기 관통구멍을 수평방향으로 확대하는 오목부가 형성되며, 상기 지름 확장부는 상기 오목부를 형성하는 상기 플랜지의 내측면에 부분적으로 접촉 또는 대향하는 측벽과, 상기 오목부를 형성하는 상기 플랜지의 윗면에 접촉하는 바닥벽을 가지며, 상기 지름 확장부는 상기 측벽과 상기 바닥벽을 접속하는 접속면을 가지며, 상기 접속면은 상기 측벽으로부터 상기 바닥벽을 향해 내측으로 경사진 경사면이거나, 혹은 상기 오목부를 형성하는 상기 플랜지의 상기 내측면은 비스듬하게 하방으로 경사진 제1 면과, 상기 제1 면으로부터 하방으로 연장되어서 상기 플랜지의 상기 윗면에 접속되는 연직면으로서의 제2 면을 가지는, 프로브를 제공한다. 이와 같은 구성에 따르면, 지름 확장부의 바닥벽을 플랜지의 윗면으로 지지함으로써, 하우징의 연직성을 담보할 수 있다. 또한, 지름 확장부의 측벽은 플랜지의 내측면과 부분적으로 접촉 또는 대향하기 때문에, 하우징과 플랜지 사이에 간극이 있고, 지름 확장부가 오목부 중에서 수평방향으로 움직일 여지가 있다. 이와 같은 간격을 마련함으로써, 하우징을 일정 오차 범위에서 원래의 위치로 되돌릴 수 있다. 이들에 의해, 프로브의 자세를 보다 정밀도 높게 유지할 수 있고, 커넥터의 단자의 특성 검사를 보다 정밀도 높게 실시할 수 있다.

본 발명의 제2 양태에 따르면, 커넥터의 특성 검사를 실시하기 위한 프로브로서, 관통구멍을 가지며, 상기 관통구멍이 연직방향으로 연장되도록 배치되는 플랜지와, 상기 관통구멍에 삽입 통과되어서 축방향으로 연장되며 선단부에 프로브 핀을 접속한 동축 케이블과, 상기 프로브 핀을 내포하면서 상기 프로브 핀의 선단을 노출시킨 플런저와, 상기 동축 케이블을 내포하는 통상의 형상을 가지며 한쪽 측의 단부가 상기 플랜지에 끼워 맞춰지고, 다른 쪽 측의 단부가 상기 플런저에 장착된 하우징을 포함하며, 상기 하우징은 상기 플랜지의 상기 관통구멍에 삽입 통과되는 통상의 본체부를 포함하고, 상기 하우징의 상기 한쪽 측의 단부는 상기 본체부로부터 수평방향으로 지름 확장된 지름 확장부를 가지며, 상기 플랜지의 윗면에는 상기 하우징의 상기 지름 확장부를 수용하도록 상기 관통구멍을 수평방향으로 확대하는 오목부가 형성되며, 상기 지름 확장부는 상기 오목부를 형성하는 상기 플랜지의 내측면에 부분적으로 접촉 또는 대향하는 측벽과, 상기 오목부를 형성하는 상기 플랜지의 윗면에 접촉하는 바닥벽을 가지며, 상기 지름 확장부의 상기 바닥벽이 상기 플랜지의 상기 윗면에 접촉하는 상태에서, 상기 지름 확장부의 상기 측벽과 상기 플랜지의 상기 내측면 사이에는 상기 지름 확장부가 상기 수평방향으로 이동 가능하게 하기 위한 간극이 형성되는, 프로브를 제공한다. 이와 같은 구성에 따르면, 지름 확장부의 바닥벽을 플랜지의 윗면으로 지지함으로써, 하우징의 연직성을 담보할 수 있다. 또한, 지름 확장부와 플랜지 사이에는 지름 확장부가 수평방향으로 이동 가능하게 하기 위한 간극이 있고, 지름 확장부가 오목부 안에서 수평방향으로 움직일 여지가 있다. 이와 같은 간극을 마련함으로써, 하우징을 일정 오차 범위에서 원래의 위치로 되돌릴 수 있다. 이들에 의해, 프로브의 자세를 보다 정밀도 높게 유지할 수 있고, 커넥터의 단자의 특성 검사를 보다 정밀도 높게 실시할 수 있다.

제1 양태 또는 제2 양태에 있어서, 본 발명의 제3 양태에 따르면, 상기 지름 확장부는 상기 측벽과 상기 바닥벽을 접속하는 접속면을 가지며, 상기 접속면은 상기 측벽으로부터 상기 바닥벽을 향해 내측으로 경사진 경사면인, 프로브를 제공한다. 이와 같은 구성에 따르면, 접속면을 마련함으로써, 플랜지로부터 떠오른 하우징이 하강할 때에 하우징의 지름 확장부의 접속면이 플랜지의 오목부의 모서리에 닿으면, 하우징이 오목부 안으로 유도된다. 이로써, 하우징을 원래의 위치로 정밀도 높게 돌릴 수 있고, 프로브의 자세를 보다 정밀도 높게 유지할 수 있다.

제1 양태 또는 제2 양태에 있어서, 본 발명의 제4 양태에 따르면, 상기 오목부를 형성하는 상기 플랜지의 상기 내측면은 비스듬하게 하방으로 경사진 제1 면을 가지며, 상기 연직면은 상기 제1 면으로부터 하방으로 연장되어서 상기 플랜지의 상기 윗면에 접속되는 제2 면인, 프로브를 제공한다. 이와 같은 구성에 따르면, 비스듬하게 하방으로 경사진 제1 면을 마련함으로써, 플랜지로부터 떠오른 하우징이 하강할 때에 하우징의 지름 확장부가 제1 면에 닿으면, 하우징이 오목부 안으로 유도된다. 이로써, 하우징을 원래의 위치로 정밀도 높게 돌릴 수 있고, 프로브의 자세를 보다 정밀도 높게 유지할 수 있다.

제1 양태 내지 제4 양태 중 어느 하나에 있어서, 본 발명의 제5 양태에 따르면, 상기 지름 확장부에서, 상기 측벽은 연직방향으로 연장되는 연직면이며, 상기 바닥벽은 수평방향으로 연장되는 수평면인, 프로브를 제공한다. 이와 같은 구성에 따르면, 지름 확장부의 가공이 간단해진다. 또한, 바닥벽을 수평방향으로 연장시킴으로써 하우징의 연직성을 보다 정밀도 높게 담보할 수 있다.

제1 양태 내지 제5 양태 중 어느 하나에 있어서, 본 발명의 제6 양태에 따르면, 상기 오목부를 형성하는 상기 플랜지의 상기 윗면은 수평방향으로 연장되는 수평면인, 프로브를 제공한다. 이와 같은 구성에 따르면, 오목부의 가공이 간단해진다. 또한, 하우징의 연직성을 보다 정밀도 높게 담보할 수 있다.

제1 양태 내지 제6 양태 중 어느 하나에 있어서, 본 발명의 제7 양태에 따르면, 상기 지름 확장부의 상기 바닥벽, 및 상기 플랜지의 상기 오목부를 형성하는 상기 윗면은 평탄한, 프로브를 제공한다. 이와 같은 구성에 따르면, 하우징의 연직성을 보다 정밀도 높게 담보할 수 있다. 또한, 지름 확장부의 바닥벽과 플랜지의 윗면을 각각 평탄하게 함으로써, 그들이 접촉했을 때에 하우징의 지름 확장부는 수평방향으로 자유롭게 움직일 수 있다. 이로써, 하우징을 원래의 위치로 정밀도 높게 되돌릴 수 있고, 프로브의 자세를 보다 정밀도 높게 유지할 수 있다.

제1 양태 내지 제7 양태 중 어느 하나에 있어서, 본 발명의 제8 양태에 따르면, 상기 플랜지의 아랫면에서의 상기 오목부에 대향하는 위치에 일단(一端)이 장착되고, 상기 플런저에 타단(他端)이 장착되며, 상기 플랜지와 상기 플런저를 서로 멀어지는 방향으로 힘을 가하는 탄성부재를 더 포함하는, 프로브를 제공한다. 이와 같은 구성에 따르면, 탄성부재가 플랜지와 플런저를 서로 멀어지는 방향으로 힘을 가함으로써, 하우징의 지름 확장부를 플랜지의 오목부로 안내하여 수용할 수 있다. 더욱이, 플런저의 바닥부에 커넥터를 끼워 맞출 때에 커넥터의 단자에 대하여 프로브 핀을 적절한 하중으로 프레싱할 수 있다.

이하에 본 발명에 따른 실시형태를 도면에 기초하여 상세하게 설명한다.

(실시형태 1)

도 1~도 5는 실시형태 1에서의 프로브(2)의 개략 구성을 나타내는 도면이다. 도 1, 도 2는 프로브(2)의 다른 상태를 나타내는 개략 사시도이다. 도 3은 도 2에서의 A-A 절단면을 나타내는 컷아웃 도면이며, 도 4는 도 1에서의 B-B 절단면을 나타내는 컷아웃 도면이다. 도 5는 프로브(2)의 분해 사시도이다. 도 1~도 5에서는 연직방향을 X방향으로 하고, 서로 직교하는 수평방향을 Y방향, Z방향으로 설정한다.

프로브(2)는 커넥터(3)의 특성 검사를 실시하는 검사 기구이다. 실시형태 1의 커넥터(3)는 복수개의 단자를 가지는 다극 커넥터이다. 프로브(2)는 플런저(4)와 동축 케이블(6)과 플랜지(8)와 스프링(10)과 하우징(12)과 프로브 핀(16)(도 4, 도 5)과 플레이트(34)를 포함한다.

플런저(4)는 커넥터(3)를 끼워 맞춰서 위치 결정하기 위한 위치 결정 부재이다. 플런저(4)는 커넥터(3)가 끼워 맞춰지는 끼워맞춤부(4A)와, 통상으로 형성된 통상부(4B)를 포함한다. 끼워맞춤부(4A)는 통상부(4B)의 단부로부터 하방으로 돌출된 부분이다. 끼워맞춤부(4A)에는 커넥터(3)을 끼워맞추기 위한 돌기(22)(도 3~도 5)가 형성된다.

한편, 도 1, 도 4는 끼워맞춤부(4A)에 커넥터(3)가 끼워 맞춰지기 전의 상태를 나타내고, 도 2, 도 3은 끼워맞춤부(4A)에 커넥터(3)가 끼워 맞춰진 후의 상태를 나타낸다. 도 2, 도 3에서는 편의적으로 커넥터(3)의 도시를 생략했다.

도 3, 도 4에 나타내는 바와 같이, 하우징(12)의 내부에는 복수개의 동축 케이블(6)이 삽입 통과된다.

동축 케이블(6)은 커넥터(3)의 단자와 전기적으로 도통(導通)하기 위한 부재이다. 동축 케이블(6)은 봉상(棒狀)으로 구성되며, 그 선단부에 프로브 핀(16)이 전기적으로 접속된다. 하나의 동축 케이블(6)당 하나의 프로브 핀(16)이 접속된다.

프로브 핀(16)은 커넥터(3)의 각 단자에 접촉하여 도통하는 봉상의 부재이다. 프로브 핀(16)은 내측이 도전성 재료에 의해 형성되며, 외측이 절연성 부재에 의해 형성된다. 프로브 핀(16)은 플런저(4) 내에 압입 고정된다. 프로브 핀(16)의 선단(16A)은 도전성 부분이며, 도 4에 나타내는 바와 같이 끼워맞춤부(4A)의 바닥부로부터 노출되고, 커넥터(3)의 단자에 접촉 가능하다.

본 실시형태 1에서는 특히, 하나의 프로브(2)에서 복수개의 동축 케이블(6) 및 복수개의 프로브 핀(16)을 마련했다. 이와 같은 구성에 의해, 피검사체인 커넥터(3)가 복수개의 단자를 포함하는 다극 커넥터여도 커넥터(3)의 각 단자의 특성 검사를 동시에 실시할 수 있다.

휴대전화나 스마트폰 내부의 RF 신호 라인의 접속 등에는 지금까지는 단자를 하나만 가지는 동축 커넥터가 주로 사용되었다. 최근에는 복수 밴드의 RF 신호를 처리하게 되어 RF 신호 라인이 복수개 있는 만큼, 동축 커넥터도 복수개 늘어놓고 사용되고 있다. 회로의 고밀도화가 진행되면, 공간 절약화 등의 목적으로, 동축 커넥터를 사용하는 대신에 이형(異形) 형상의 다극 커넥터의 몇 개의 단자에 RF 신호를 흐르게 하는 바와 같은 설계가 되도록 되어 있다. 이에 반하여, 본 실시형태 1의 프로브(2)는 커넥터(3)의 복수개의 단자에 동시에 접속하여 복수 라인의 특성 검사를 동시에 실시하는 것이 가능한 측정용 프로브로서 기능할 수 있다.

플랜지(8)는 프로브(2)를 소정 설비에 장착하기 위한 부재이다. 소정 설비는 예를 들면, 커넥터(3)가 실장된 프린트 기판을 커넥터(3)의 특성 검사의 결과에 기초하여 선별하기 위한 선별기이다.

도 2, 도 3에 나타내는 바와 같이, 플랜지(8)의 중심부에는 하우징(12)을 삽입 통과시키기 위한 관통구멍(9)이 마련된다. 플랜지(8)는 수평방향으로 연장되도록 배치되며, 관통구멍(9)은 연직방향으로 연장되도록 배치된다. 실시형태 1의 관통구멍(9)은 원기둥 형상이다.

플랜지(8)의 윗면(11)에는 하우징(12)을 수용하기 위한 오목부(13)가 형성된다. 오목부(13)는 플랜지(8)의 윗면(11)에서, 관통구멍(9)을 수평방향으로 확장한 부분으로서 마련된다. 관통구멍(9)과 오목부(13)는 공간적으로 연속하여 형성된다. 오목부(13)와 하우징(12)의 관계, 각각의 상세한 형상에 대해서는 후술한다.

스프링(10)은 전술한 프로브 핀(16)을 커넥터(3)의 단자에 대하여 적절한 하중으로 프레싱하기 위한 탄성부재이다. 스프링(10)은 하우징(12)의 주위에 장착된다. 도 3, 도 4에 나타내는 바와 같이, 스프링(10)의 한쪽 측(위쪽)의 단부가 플랜지(8)의 아랫면에 압입하여 장착되고, 다른 쪽 측(아래쪽)의 단부가 플런저(4)의 통상부(4B)에 압입하여 장착된다.

도 1, 도 4에 나타내는 바와 같은, 끼워맞춤부(4A)에 커넥터(3)를 끼워 맞추기 전의 상태에서, 스프링(10)은 자연의 길이보다도 짧은 상태에 있다. 즉 스프링(10)은 압축 상태에 있다. 압축 상태에 있는 스프링(10)은 상방(上方)에 있는 플랜지(8)와 하방에 있는 플런저(4)를 각각 서로 멀어지는 방향으로 힘을 가한다.

하우징(12)은 동축 케이블(6)을 내포하는 통상의 부재이다. 하우징(12)은 한쪽 측(상방)의 단부(12A)와 다른 쪽 측(하방)의 단부(12B)와 통상의 본체부(12C)를 가진다. 한쪽 측의 단부(12A)는 본체부(12C)로부터 수평방향으로 지름이 확장된 지름 확장부(17)를 가진다. 지름 확장부(17)는 플랜지(8)의 오목부(13)에 수용되는 부분이다. 다른 쪽 측의 단부(12B)는 플런저(4)의 통상부(4B)에 압입하여 장착된다.

플레이트(34)는 동축 케이블(6)이 상방으로 빠지는 것을 방지하기 위한 부재이다. 플레이트(34)는 플런저(4)의 통상부(4B)에 배치되며, 하우징(12)의 다른 쪽 측의 단부(12B)와 플런저(4) 사이에 마련된다.

하우징(12)의 다른 쪽 측의 단부(12B)가 플레이트(34)를 통해 플런저(4)에 장착된 상태에서, 하우징(12)과 플런저(4)는 둘레방향(R)으로 일체적으로 회전 가능해진다.

상술한 구성을 가지는 프로브(2)의 동작에 대해, 도 1~도 4를 이용하여 개략적으로 설명한다.

도 1, 도 4에 나타내는 초기 상태에서, 커넥터(3)는 플런저(4)의 끼워맞춤부(4A)에 접촉되지 않는다. 이때, 커넥터(3)로부터 프로브(2)에 대하여 연직 상방으로의 하중은 작용하지 않는다. 전술한 바와 같이 스프링(10)은 자연의 길이보다도 짧은 압축 상태에 있고, 플랜지(8)와 플런저(4)는 서로 멀어지는 방향으로 힘이 가해진다. 이로써, 플런저(4)에 장착된 하우징(12)은 플런저(4)와 함께 하방으로 힘이 가해진다. 도 1, 도 4에 나타내는 바와 같이, 하우징(12)의 지름 확장부(17)가 플랜지(8)의 오목부(13)에 수용된다. 하우징(12)의 지름 확장부(17)는 오목부(13)에서 플랜지(8)에 의해 지지된다. 이로써, 하우징(12)의 연직성이 유지된다.

다음으로, 끼워맞춤부(4A)에 커넥터(3)를 끼워 맞춘다. 끼워맞춤부(4A)의 돌기(22)가 커넥터(3)에 형성된 공동(空洞)으로 파고 들어감으로써, 커넥터(3)가 위치 결정된다. 동시에, 끼워맞춤부(4A)의 바닥면에 노출된 프로브 핀(16)의 선단(16A)이 커넥터(3)의 단자에 접촉한다. 실시형태 1에서는 2개의 프로브 핀(16)의 선단(16A) 각각이 커넥터(3)의 2개의 단자에 접촉한다. 프로브 핀(16)을 통해 동축 케이블(6)이 커넥터(3)의 단자와 전기적으로 접속되고, 커넥터(3)의 단자의 특성 검사를 실시할 수 있다.

이때, 커넥터(3)에 의해 플런저(4)가 상방으로 프레싱된다. 커넥터(3)로부터 플런저(4)로 소정 이상의 연직 하중이 부여되면, 플런저(4)에 접속된 스프링(10)이 줄어든다. 구체적으로는 자연의 길이보다도 짧은 상태에 있던 스프링(10)이 더 줄어든다. 스프링(10)이 줄어듦으로써, 소정 위치에 고정된 플랜지(8)에 대하여 플런저(4) 및 하우징(12)이 일체적으로 상승한다. 도 2, 도 3에 나타내는 바와 같이, 하우징(12)의 지름 확장부(17)가 오목부(13)로부터 떠오르고, 하우징(12)은 플랜지(8)와 비(非)접촉 상태가 된다.

전술한 바와 같이, 하우징(12) 및 플런저(4)는 일체적으로 R방향으로 회전 가능하다. 플랜지(8)로부터 떠오른 상태의 하우징(12) 및 플런저(4)가 커넥터(3)의 단자의 위치에 따라 회전함으로써, 플런저(4) 및 프로브 핀(16)의 자세가 바른 자세로 보정된다. 이로써, 커넥터(3)의 단자의 특성 검사를 보다 정밀도 높게 실시할 수 있다.

특성 검사가 종료되면, 커넥터(3)가 하방으로 대피되고, 커넥터(3)와 끼워맞춤부(4A)의 끼워맞춤이 해제된다. 커넥터(3)로부터 플런저(4)로 작용하고 있던 상방으로의 연직 하중이 없어지기 때문에, 스프링(10)이 원래의 상태까지 늘어난다. 도 1, 도 4에 나타내는 바와 같이, 하우징(12)이 플랜지(8)에 대하여 상대적으로 하강하고, 하우징(12)의 지름 확장부(17)가 플랜지(8)의 오목부(13)에 수용된다.

하우징(12)의 지름 확장부(17)가 플랜지(8)의 오목부(13)에 수용될 때에, 될 수 있는 한 적은 오차의 범위에서 동일한 위치로 되돌아가는 것이 바람직하다. 본 실시형태 1의 프로브(2)에서는 미리 허용된 범위 내에서 하우징(12)이 원래의 위치로 되돌아가도록 하기 위해, 오목부(13)의 형상 및 지름 확장부(17)의 형상에 관해 연구를 실시했다. 구체적으로는 도 6a~도 6c, 도 7a~도 7c, 도 8a~도 8c를 이용하여 설명한다.

도 6a~도 6c는 각각 플랜지(8)의 사시도, 평면도, 종단면도이다. 도 7a~도 7c는 각각 하우징(12)의 지름 확장부(17)의 사시도, 평면도, 종단면도이다.

도 6a~도 6c에 나타내는 바와 같이, 플랜지(8)는 오목부(13)를 형성하는 면으로서, 내측면(19)과 윗면(21)을 가진다.

내측면(19)은 제1 면(19A)과 제2 면(19B)을 가진다. 제1 면(19A)은 플랜지(8)의 윗면(11)으로부터 비스듬하게 하방으로 경사진 면이다. 제2 면(19B)은 제1 면(19A)의 하방 측에 접속되어서 제1 면(19A)으로부터 하방으로 연장되는 면이다. 실시형태 1의 제2 면(19B)은 연직방향으로 연장되는 연직면이다. 제1 면(19A), 제2 면(19B)은 모두 평탄하다.

실시형태 1에서는 도 6b에 나타내는 바와 같이, 내측면(19)이 평면에서 봤을 때 대략 정방형상을 가지도록 형성된다. 대향하는 위치에 한 쌍의 내측면(19)이 마련되며, 대략 정방형상을 띠도록 2쌍의 내측면(19)이 마련된다. 인접하는 내측면(19)은 평면에서 봤을 때 서로 직교한다.

도 6b에 나타내는 바와 같이, 대향하는 한 쌍의 내측면(19)(제2 면(19B))의 거리(D1)는 미리 소정 길이로 설정된다. 구체적으로는 후술할 하우징(12)의 지름 확장부(17)를 수용 가능한 길이로 거리(D1)가 설정된다.

윗면(21)은 제2 면(19B)의 하방 측에 접속되어서 제2 면(19B)으로부터 가로방향으로 연장되는 면이다. 윗면(21)은 관통구멍(9)에 인접하는 위치까지 형성된다. 실시형태 1의 윗면(21)은 수평방향으로 연장되는 수평면이면서, 평탄하다. 윗면(21)은 플랜지(8)의 윗면(11)의 일부를 구성하는 것으로 간주해도 된다.

제1 면(19A)을 비스듬하게 하방으로 경사지게 함으로써, 하우징(12)의 지름 확장부(17)가 플랜지(8)의 오목부(13)를 향해 하강할 때에 지름 확장부(17)의 모서리부가 제1 면(19A)에 닿으면, 지름 확장부(17)는 오목부(13)를 향해 내측으로 유도된다. 이로써, 지름 확장부(17)를 정밀도 높게 오목부(13)에 수용할 수 있다. 또한, 오목부(13)에 배치된 지름 확장부(17)는 윗면(21)에 의해 지지된다. 윗면(21)을 마련함으로써, 지름 확장부(17)를 지지함과 함께, 하우징(12)의 자세를 소정 방향으로 유지할 수 있다(즉, 하우징(12)의 연직성을 담보할 수 있음).

도 7a~도 7c에 나타내는 바와 같이, 지름 확장부(17)는 측벽(17A)과 바닥벽(17B)을 가진다. 측벽(17A)은 전술한 플랜지(8)의 내측면(19)에 대향하도록 배치되는 면이다. 바닥벽(17B)은 플랜지(8)의 윗면(21)에 지지되는 면이다. 실시형태 1에서는 측벽(17A)은 연직방향으로 연장되는 연직면이며, 바닥벽(17B)은 수평방향으로 연장되는 수평면이다.

실시형태 1에서는 도 7b에 나타내는 바와 같이, 측벽(17A)이 평면에서 봤을 때 대략 정방형상을 가지도록 형성된다. 대향하는 위치에 한 쌍의 측벽(17A)이 마련되고, 대략 정방형상을 띠도록 2쌍의 측벽(17A)이 마련된다. 인접하는 측벽(17A)은 평면에서 봤을 때 서로 직교한다.

도 7b, 도 7c에 나타내는 바와 같이, 대향하는 한 쌍의 측벽(17A)의 거리(D2)는 전술한 플랜지(8)의 측벽(19B)끼리의 거리(D1)보다도 약간 작게 설정된다. 이와 같은 거리의 설정에 의해, 내측면(19)의 제2 면(19B)으로 둘러싸인 영역에 지름 확장부(17)가 배치 가능해진다.

상술한 지름 확장부(17)가 플랜지(8)의 오목부(13)에 수용된 상태에 대해, 도 8a~도 8d를 이용하여 설명한다. 도 8a, 도 8d는 각각 지름 확장부(17)가 플랜지(8)에 접촉한 상태의 사시도, 평면도이다. 도 8b는 도 8a의 C-C 단면도이며, 도 8c는 도 8a의 D-D 단면도이다.

도 8b에 나타내는 절단면에서는 지름 확장부(17)의 측벽(17A)과 플랜지(8)의 내측면(19)(특히 제2 면(19B))은 부분적으로 접촉 또는 대향한다. 전술한 바와 같이 거리(D1)를 거리(D2)보다도 약간 크게 설정함으로써, 지름 확장부(17)의 측벽(17A)과 플랜지(8)의 제2 면(19B)은 완전히 접촉하지 않고, 부분적으로 접촉하거나, 혹은 간격을 두고 대향한다. 지름 확장부(17)는 오목부(13)에 수용되었을 때에 제2 면(19B)에 둘러싸인 한정된 영역 내에서 수평방향으로 약간 이동 가능하지만, 그 이동량은 제한된다. 지름 확장부(17)의 측벽(17A)끼리의 거리(D2)에 따라, 플랜지(8)의 내측면(19)끼리의 거리(D1)를 적절한 범위로 설정하면, 오목부(13) 내에서의 지름 확장부(17)의 수평방향의 위치 어긋남을 원하는 범위로 한정할 수 있다. 이로써, 하우징(12)이 오목부(13)에 수용될 때에 적당한 수평방향의 클리어런스(clearance)를 마련하면서, 하우징(12)의 수평방향의 위치 어긋남을 가능한 한 적게 할 수 있다.

한편으로, 플랜지(8)의 내측면(19)에 마련한 제1 면(19A)은 경사면이며, 연직면에 비해 가공이 어렵고 형상 불균일이 생기기 쉽다. 이에 반하여, 실시형태 1의 프로브(2)에서는 제1 면(19A)은 하우징(12)의 지름 확장부(17)를 오목부(13)로 유도하는 것이며, 지름 확장부(17)를 지지하는 것이 아니다. 지름 확장부(17)는 윗면(21)에 의해 지지되기 때문에, 제1 면(19A)의 형상 불균일에 의해 하우징(12)의 지지 자세가 영향을 받지 않도록 할 수 있다.

또한, 실시형태 1의 프로브(2)에서는 제1 면(19A)에 더하여, 연직면인 제2 면(19B)을 형성한다. 연직면은 경사면에 비해 가공이 용이하고, 형상 불균일이 생기기 어렵다. 제2 면(19B)을 연직면으로 구성함과 함께 오목부(13)에 수용한 지름 확장부(17)를 수평방향으로 둘러싸도록 함으로써, 지름 확장부(17)의 수평방향의 위치 어긋남을 정밀도 높게 제한할 수 있다.

한편, 도 8c에 나타내는 절단면에서는 지름 확장부(17)의 측벽(17A)과 플랜지(8)의 내측면(19)은 접촉하지 않고, 간격을 두고 대향한다.

상술한 바와 같이, 실시형태 1의 프로브(2)는 커넥터(3)의 특성 검사를 실시하기 위한 프로브로서, 플런저(4)와 동축 케이블(6)과 플랜지(8)와 하우징(12)을 포함한다. 플랜지(8)는 프로브(2)를 설비에 장착하기 위한 부재로서, 관통구멍(9)을 가지며, 관통구멍(9)이 연직방향으로 연장되도록 배치된다. 동축 케이블(6)은 관통구멍(9)에 삽입 통과되어서 축방향으로 연장되고, 선단부에 프로브 핀(16)을 접속한 부재이다. 플런저(4)는 프로브 핀(16)을 내포하면서 프로브 핀(16)의 선단(16A)을 노출시킨 부재이다. 하우징(12)은 한쪽 측의 단부(12A)가 플랜지(8)에 끼워 맞춰지고, 다른 쪽 측의 단부(12B)가 플런저(4)에 장착되는 부재이다.

상기 구성에서, 하우징(12)은 플랜지(8)의 관통구멍(9)에 삽입 통과되는 통상의 본체부(12C)를 포함한다. 또한, 하우징(12)의 한쪽 측의 단부(12A)는 본체부(12C)로부터 수평방향으로 지름 확장된 지름 확장부(17)를 가진다. 또한, 플랜지(8)의 윗면(11)에는 하우징(12)의 지름 확장부(17)를 수용하도록 관통구멍(9)을 수평방향으로 확대하는 오목부(13)가 형성된다. 또한, 지름 확장부(17)는 플랜지(8)의 내측면(19)에 부분적으로 접촉 또는 대향하는 측벽(17A)과, 플랜지(8)의 윗면(21)에 접촉하는 바닥벽(17B)을 가진다. 또한, 플랜지(8)의 내측면(19)은 비스듬하게 하방으로 경사진 제1 면(19A)과, 제1 면(19A)으로부터 하방으로 연장되어서 플랜지(8)의 윗면(21)에 접속되는 연직면인 제2 면(19B)을 가진다.

이와 같은 구성에 따르면, 지름 확장부(17)의 바닥벽(17B)을 플랜지(8)의 윗면(21)으로 지지함으로써, 하우징(12)의 연직성을 담보할 수 있다. 또한, 지름 확장부(17)의 측벽(17A)은 플랜지(8)의 내측면(19)과 부분적으로 접촉 또는 대향하기 때문에, 하우징(12)과 플랜지(8)의 사이에 간극이 있고, 지름 확장부(17)가 오목부(13) 안에서 수평방향으로 움직일 여지가 있다. 이와 같은 간격을 마련함으로써, 플랜지(8)로부터 멀어진 하우징(12)이 오목부(13)로 되돌아올 때에 오목부(13)에 용이하게 배치할 수 있음과 함께, 하우징(12)의 수평방향의 위치를 일정한 오차범위에 넣을 수 있다. 이들에 의해, 커넥터(3)의 검사 전후에서 프로브(2)의 자세를 보다 정밀도 높게 유지할 수 있고, 커넥터(3)의 단자의 특성 검사를 보다 정밀도 높게 실시할 수 있다.

또한, 플랜지(8)의 내측면(19)에 비스듬하게 하방으로 경사진 제1 면(19A)을 마련함으로써, 플랜지(8)로부터 떠오른 하우징(12)이 하강할 때에, 하우징(12)의 지름 확장부(17)가 제1 면(19A)에 닿으면, 하우징(12)이 오목부(13) 안으로 유도된다. 이로써, 하우징(12)을 원래의 위치로 정밀도 높게 되돌릴 수 있고, 프로브(2)의 자세를 보다 정밀도 높게 유지할 수 있다.

또한, 실시형태 1의 프로브(2)에 따르면, 지름 확장부(17)에서, 측벽(17A)은 연직방향으로 연장되는 연직면이며, 바닥벽(17B)은 수평방향으로 연장되는 수평면이다. 이와 같은 구성에 따르면, 지름 확장부(17)의 가공이 간단해진다. 또한, 바닥벽(17B)을 수평방향으로 연장시킴으로써, 하우징(12)의 연직성을 보다 정밀도 높게 담보할 수 있다.

또한, 실시형태 1의 프로브(2)에 따르면, 플랜지(8)의 윗면(21)은 수평방향으로 연장되는 수평면이다. 이와 같은 구성에 따르면, 오목부(13)의 가공이 간단해지고, 하우징(12)의 연직성을 보다 정밀도 높게 담보할 수 있다.

또한, 실시형태 1의 프로브(2)에 따르면, 지름 확장부(17)의 바닥벽(17B), 및 플랜지(8)의 윗면(21)은 평탄하다. 이와 같은 구성에 따르면, 하우징(12)의 연직성을 보다 정밀도 높게 담보할 수 있다.

또한, 실시형태 1의 프로브(2)에 따르면, 플랜지(8)의 내측면(19)에 연직면인 제2 면(19B)을 마련했다. 이로써, 내측면(19)이 모두 경사면인 경우에 비해, 플랜지(8)에 오목부(13)를 제작할 때의 가공 정밀도를 향상시킬 수 있다.

(실시형태 2)

본 발명에 따른 실시형태 2의 프로브(40)에 대해, 도 9~도 16b를 이용하여 설명한다. 한편, 실시형태 2에서는 주로 실시형태 1과 다른 점에 대해 설명한다.

도 9~도 13은 실시형태 2에서의 프로브(40)의 개략 구성을 나타내는 도면이다. 도 9, 도 11은 프로브(2)의 다른 상태를 나타내는 개략 사시도이다. 도 10은 도 9에서의 E-E 단면도이며, 도 12는 도 11에서의 F-F 단면도이다. 도 13은 프로브(40)의 분해 사시도이다. 도 9~도 13에서도 마찬가지로, 연직방향을 X방향, 서로 직교하는 수평방향을 Y방향, Z방향으로 설정한다.

실시형태 2의 프로브(40)는 실시형태 1과 동일한 구성의 플런저(4), 동축 케이블(6), 스프링(10)을 포함하고, 실시형태 1과는 다른 구성의 플랜지(42)와 하우징(44)을 포함한다. 이후, 플랜지(42) 및 하우징(44)에 대해 주로 설명한다.

도 11, 도 12에 나타내는 바와 같이, 플랜지(42)의 중심부에는 하우징(44)을 삽입 통과시키기 위한 관통구멍(46)이 마련된다. 플랜지(42)의 윗면(48)에는 오목부(50)가 형성된다. 오목부(50)는 플랜지(42)의 윗면(48)에서 관통구멍(46)을 수평방향으로 확장한 부분이다.

하우징(44)은 한쪽 측(상방)의 단부(44A)와 다른 쪽 측(하방)의 단부(44B)와 통상의 본체부(44C)를 가진다. 한쪽 측의 단부(44A)는 본체부(44C)로부터 수평방향으로 지름이 확장된 지름 확장부(52)를 가진다. 지름 확장부(52)는 플랜지(42)의 오목부(50)에 수용되는 부분이다.

다음으로, 도 14a~도 14c, 도 15a~도 15d, 도 16a, 도 16b를 이용하여, 오목부(50) 및 지름 확장부(52)의 형상에 관해 각각 설명한다.

도 14a~도 14c는 각각 플랜지(42)의 사시도, 평면도, 종단면도이다. 도 15a~도 15d는 각각 지름 확장부(17)의 상방 사시도, 하방 사시도, 평면도, 종단면도이다.

도 14a~도 14c에 나타내는 바와 같이, 플랜지(42)는 오목부(50)를 형성하는 면으로서, 내측면(54)과 윗면(56)을 가진다.

내측면(54)은 제1 면(54A)과 제2 면(54B)을 가진다. 제1 면(54A)은 플랜지(42)의 윗면(48)으로부터 비스듬하게 하방으로 경사진 면이다. 실시형태 1과 달리, 제1 면(54A)은 극히 얼마 안 되는 영역에만 형성된다. 제2 면(54B)은 제1 면(54A)으로부터 하방으로 연장되는 면이다. 제2 면(54B)은 연직방향으로 연장되는 연직면이다. 제1 면(54A), 제2 면(54B)은 모두 평탄한 면이다.

도 14b, 도 14c에 나타내는 바와 같이, 대향하는 한 쌍의 내측면(54)(제2 면(54B))의 거리(D3)는 후술할 지름 확장부(52)를 수용 가능한 길이로 설정된다.

오목부(50)를 형성하는 윗면(56)은 제2 면(54B)으로부터 가로방향으로 연장되는 면이다. 윗면(56)은 관통구멍(46)에 인접하는 위치까지 형성된다. 실시형태 1과 마찬가지로, 윗면(56)은 수평방향으로 연장되는 수평면이면서 평탄하다.

다음으로, 도 15a~도 15d를 이용하여 하우징(44)의 지름 확장부(52)에 대해 설명한다.

도 15b, 도 15d에 나타내는 바와 같이, 지름 확장부(52)는 실시형태 1과 마찬가지로, 측벽(52A)과 바닥벽(52B)을 가진다. 측벽(52A)은 전술한 플랜지(42)의 내측면(54)에 대향하여 배치되는 면이며, 바닥벽(52B)은 플랜지(42)의 윗면(56)에 지지되는 면이다. 실시형태 1과 마찬가지로, 측벽(52A)은 연직방향으로 연장되는 연직면이며, 바닥벽(52B)은 수평방향으로 연장되는 수평면이다.

도 15c, 도 15d에 나타내는 바와 같이, 대향하는 한 쌍의 측벽(52A)의 거리(D4)는 전술한 플랜지(42)의 측벽(54B)끼리의 거리(D3)보다도 약간 작게 설정된다.

실시형태 2에서는 더욱이 측벽(52A)과 바닥벽(52B) 사이에 접속면(52C)이 마련된다. 접속면(52C)은 측벽(52A)과 바닥벽(52B)을 접속하는 면이다. 실시형태 2에서의 접속면(52C)은 측벽(52A)으로부터 바닥벽(52B)을 향해 비스듬하게 하방으로 경사진 경사면이다. 접속면(52C)은 평탄한 면으로 형성된다.

상술한 지름 확장부(52)가 플랜지(42)의 오목부(50)에 수용된 상태에 대해, 도 16a, 도 16b를 이용하여 설명한다. 도 16a는 지름 확장부(52)가 플랜지(42)에 접촉한 상태의 종단면도이며, 도 16b는 도 16a의 일부 확대도이다.

도 16a, 도 16b에 나타내는 바와 같이, 지름 확장부(52)의 측벽(52A)은 플랜지(42)의 내측면(54)에 부분적으로 접촉, 또는 대향한다. 또한, 지름 확장부(52)의 바닥벽(52B)은 플랜지(42)의 윗면(56)에 의해 지지된다. 이와 같은 구성에 따르면, 실시형태 1과 동일한 효과를 발휘할 수 있다.

또한 실시형태 2에서는 플랜지(42)에 경사면인 제1 면(54A)을 마련할 뿐만 아니라, 지름 확장부(52)의 모서리부에도 경사면인 접속면(52C)을 마련한다. 구체적으로는 지름 확장부(52)는 측벽(52A)과 바닥벽(52B)을 접속하는 접속면(52C)을 가지며, 접속면(52C)은 측벽(52A)으로부터 바닥벽(52B)을 향해 내측으로 경사진 경사면이다. 이로부터, 플랜지(42)로부터 떠오른 하우징(44)이 플랜지(42)를 향해 하강할 때에 지름 확장부(52)가 오목부(50)를 향해 보다 유도되기 쉬워진다. 이로써, 하우징(44)을 오목부(50)에 정밀도 높게 배치할 수 있고, 프로브(40)의 자세를 보다 정밀도 높게 유지할 수 있다.

이상, 상술의 실시형태 1, 2를 들어 본 발명을 설명했는데, 본 발명은 상술의 실시형태 1, 2에 한정되지 않는다. 예를 들면, 상기 실시형태 1, 2에서는 2개의 동축 케이블(6) 및 2개의 프로브 핀(16)을 마련하여, 커넥터(3)가 대응하는 단자의 특성 검사를 동시에 실시하는 경우에 대해 설명했지만, 이와 같은 경우에 한정되지 않는다. 커넥터(3)에서 특성 검사가 희망되는 단자의 수에 따라, 하나 혹은 3개 이상의 동축 케이블(6) 및 프로브 핀(16)을 각각 마련해도 된다. 커넥터(3)에 대해서도 2개의 단자를 가지는 다극 커넥터에 한정되지 않고, 하나의 단자만 가지는 단극 커넥터 혹은 3개 이상의 단자를 가지는 다극 커넥터여도 된다.

또한, 상기 실시형태 1, 2에서는 "연직", "수평"이라는 용어를 사용했는데, 완전한 연직, 완전한 수평에 한정되지 않고, 플랜지(8)의 배치 정밀도 등에 따라 약간의 오차를 포함해도 된다.

또한, 상기 실시형태 1, 2에서는 스프링(10)을 마련했는데, 이와 같은 경우에 한정되지 않고, 통상의 고무 등 기타 종류의 탄성체를 마련해도 된다.

또한, 상기 실시형태 1, 2에서는 끼워맞춤부(4A)에서 돌기(22)를 이용하여 커넥터(3)를 위치 결정하는 경우에 대해 설명했는데, 이와 같은 경우에 제한되지 않는다. 돌기(22) 대신에 끼워맞춤부(4A)의 바닥부에 오목부를 마련하는 등, 임의의 위치 결정·끼워맞춤 수단을 이용해도 된다.

본 개시는 첨부 도면을 참조하면서 바람직한 실시형태에 관련하여 충분히 기재되어 있는데, 이 기술이 숙련된 사람들에게 있어서는 다양한 변형이나 수정은 명백하다. 그와 같은 변형이나 수정은 첨부한 특허청구범위에 의한 본 개시의 범위에서 벗어나지 않는 한, 그 안에 포함된다고 이해되어야 한다. 또한, 각 실시형태에서의 요소의 조합이나 순서의 변화는 본 개시의 범위 및 사상을 일탈하지 않고 실현할 수 있는 것이다.

한편, 상기 다양한 실시형태 1, 2 및 변형예 중 임의의 실시형태 혹은 변형예를 적당히 조합함으로써, 각각이 가지는 효과를 발휘하도록 할 수 있다.

본 발명은 커넥터용 프로브라면 적용 가능하다.

2: 프로브 3: 커넥터
4: 플런저 4A: 끼워맞춤부
4B: 통상부 6: 동축 케이블
8: 플랜지 9: 관통구멍
10: 스프링 11: 윗면
12: 하우징 12A: 한쪽 측의 단부
12B: 다른 쪽 측의 단부 12C: 본체부
13: 오목부 16: 프로브 핀
16A: 선단 17: 지름 확장부
17A: 측벽 17B: 바닥벽
19: 내측면 19A: 제1 면
19B: 제2 면 21: 윗면
22: 돌기 34: 플레이트
42: 플랜지 44: 하우징
44A: 한쪽 측의 단부 44B: 다른 쪽 측의 단부
44C: 본체부 46: 관통구멍
48: 윗면 50: 오목부
52: 지름 확장부 52A: 측벽
52B: 바닥벽 52C: 접속면
54: 내측면 54A: 제1 면
54B: 제2 면 56: 윗면

Claims

커넥터의 특성 검사를 실시하기 위한 프로브로서,
관통구멍을 가지며 상기 관통구멍이 연직방향으로 연장되도록 배치되는 플랜지와,
상기 관통구멍에 삽입 통과되어서 축방향으로 연장되며 선단부에 프로브 핀을 접속한 동축 케이블과,
상기 프로브 핀을 내포하면서 상기 프로브 핀의 선단을 노출시킨 플런저와,
상기 동축 케이블을 내포하는 통상(筒狀)의 형상을 가지며 한쪽 측의 단부(端部)가 상기 플랜지에 끼워 맞춰지고, 다른 쪽 측의 단부가 상기 플런저에 장착된 하우징을 포함하고,
상기 하우징은 상기 플랜지의 상기 관통구멍에 삽입 통과되는 통상의 본체부를 포함하며,
상기 하우징의 상기 한쪽 측의 단부는 상기 본체부로부터 수평방향으로 지름이 확장된 지름 확장부를 가지며,
상기 플랜지의 윗면에는 상기 하우징의 상기 지름 확장부를 수용하도록 상기 관통구멍을 수평방향으로 확대하는 오목부가 형성되고,
상기 지름 확장부는 상기 오목부를 형성하는 상기 플랜지의 내측면에 부분적으로 접촉 또는 대향하는 측벽과, 상기 오목부를 형성하는 상기 플랜지의 윗면에 접촉하는 바닥벽을 가지며,
상기 지름 확장부는 상기 측벽과 상기 바닥벽을 접속하는 접속면을 가지며, 상기 접속면은 상기 측벽으로부터 상기 바닥벽을 향해 내측으로 경사진 경사면이거나, 혹은 상기 오목부를 형성하는 상기 플랜지의 상기 내측면은 비스듬하게 하방(下方)으로 경사진 제1 면과, 상기 제1 면으로부터 하방으로 연장되어서 상기 플랜지의 상기 윗면에 접속되는 연직면으로서의 제2 면을 가지는, 프로브.
커넥터의 특성 검사를 실시하기 위한 프로브로서,
관통구멍을 가지며 상기 관통구멍이 연직방향으로 연장되도록 배치되는 플랜지와,
상기 관통구멍에 삽입 통과되어서 축방향으로 연장되며 선단부에 프로브 핀을 접속한 동축 케이블과,
상기 프로브 핀을 내포하면서 상기 프로브 핀의 선단을 노출시킨 플런저와, 상기 동축 케이블을 내포하는 통상(筒狀)의 형상을 가지며 한쪽 측의 단부(端部)가 상기 플랜지에 끼워 맞춰지고, 다른 쪽 측의 단부가 상기 플런저에 장착된 하우징을 포함하며,
상기 하우징은 상기 플랜지의 상기 관통구멍에 삽입 통과되는 통상의 본체부를 포함하고,
상기 하우징의 상기 한쪽 측의 단부는 상기 본체부로부터 수평방향으로 지름이 확장된 지름 확장부를 가지며,
상기 플랜지의 윗면에는 상기 하우징의 상기 지름 확장부를 수용하도록 상기 관통구멍을 수평방향으로 확대하는 오목부가 형성되고,
상기 지름 확장부는 상기 오목부를 형성하는 상기 플랜지의 내측면에 부분적으로 접촉 또는 대향하는 측벽과, 상기 오목부를 형성하는 상기 플랜지의 윗면에 접촉하는 바닥벽을 가지며,
상기 지름 확장부의 상기 바닥벽이 상기 플랜지의 상기 윗면에 접촉하는 상태에서, 상기 지름 확장부의 상기 측벽과 상기 플랜지의 상기 내측면 사이에는 상기 지름 확장부가 상기 수평방향으로 이동 가능하게 하기 위한 간극이 형성되는, 프로브.
제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 지름 확장부는 상기 측벽과 상기 바닥벽을 접속하는 접속면을 가지며, 상기 접속면은 상기 측벽으로부터 상기 바닥벽을 향해 내측으로 경사진 경사면인, 프로브.
제1항에 있어서,
상기 오목부를 형성하는 상기 플랜지의 상기 내측면은 비스듬하게 하방으로 경사진 제1 면을 가지며, 상기 연직면은 상기 제1 면으로부터 하방으로 연장되어서 상기 플랜지의 상기 윗면에 접속되는 제2 면인, 프로브.
제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 지름 확장부에서 상기 측벽은 연직방향으로 연장되는 연직면이며, 상기 바닥벽은 수평방향으로 연장되는 수평면인, 프로브.
제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 오목부를 형성하는 상기 플랜지의 상기 윗면은 수평방향으로 연장되는 수평면인, 프로브.
제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 지름 확장부의 상기 바닥벽, 및 상기 플랜지의 상기 오목부를 형성하는 상기 윗면은 평탄한, 프로브.
제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 플랜지의 아랫면에서의 상기 오목부에 대향하는 위치에 일단(一端)이 장착되고, 상기 플런저에 타단(他端)이 장착되며, 상기 플랜지와 상기 플런저를 서로 멀어지는 방향으로 힘을 가하는 탄성부재를 더 포함하는, 프로브.