JP7040641B2 - プローブ - Google Patents

プローブ Download PDF

Info

Publication number
JP7040641B2
JP7040641B2 JP2020558321A JP2020558321A JP7040641B2 JP 7040641 B2 JP7040641 B2 JP 7040641B2 JP 2020558321 A JP2020558321 A JP 2020558321A JP 2020558321 A JP2020558321 A JP 2020558321A JP 7040641 B2 JP7040641 B2 JP 7040641B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
flange
probe
housing
enlarged diameter
diameter portion
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2020558321A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2020105525A1 (ja
Inventor
肇 末政
真一 剱崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Murata Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Murata Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Murata Manufacturing Co Ltd filed Critical Murata Manufacturing Co Ltd
Publication of JPWO2020105525A1 publication Critical patent/JPWO2020105525A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7040641B2 publication Critical patent/JP7040641B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06733—Geometry aspects
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06716—Elastic
    • G01R1/06722—Spring-loaded
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06716—Elastic
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06733—Geometry aspects
    • G01R1/06738—Geometry aspects related to tip portion
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/66—Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/62—Means for facilitating engagement or disengagement of coupling parts or for holding them in engagement
    • H01R13/629—Additional means for facilitating engagement or disengagement of coupling parts, e.g. aligning or guiding means, levers, gas pressure electrical locking indicators, manufacturing tolerances
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/62—Means for facilitating engagement or disengagement of coupling parts or for holding them in engagement
    • H01R13/629—Additional means for facilitating engagement or disengagement of coupling parts, e.g. aligning or guiding means, levers, gas pressure electrical locking indicators, manufacturing tolerances
    • H01R13/631—Additional means for facilitating engagement or disengagement of coupling parts, e.g. aligning or guiding means, levers, gas pressure electrical locking indicators, manufacturing tolerances for engagement only
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/62—Means for facilitating engagement or disengagement of coupling parts or for holding them in engagement
    • H01R13/629—Additional means for facilitating engagement or disengagement of coupling parts, e.g. aligning or guiding means, levers, gas pressure electrical locking indicators, manufacturing tolerances
    • H01R13/631—Additional means for facilitating engagement or disengagement of coupling parts, e.g. aligning or guiding means, levers, gas pressure electrical locking indicators, manufacturing tolerances for engagement only
    • H01R13/6315—Additional means for facilitating engagement or disengagement of coupling parts, e.g. aligning or guiding means, levers, gas pressure electrical locking indicators, manufacturing tolerances for engagement only allowing relative movement between coupling parts, e.g. floating connection
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R43/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing, assembling, maintaining, or repairing of line connectors or current collectors or for joining electric conductors
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R43/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing, assembling, maintaining, or repairing of line connectors or current collectors or for joining electric conductors
    • H01R43/002—Maintenance of line connectors, e.g. cleaning

Description

本発明は、コネクタ用のプローブに関する。
従来より、被検査体であるコネクタの特性検査を行うためのプローブが開示されている（例えば、特許文献１参照）。
特許文献１のプローブは特に、複数信号を流すように複数の端子が設けられた多極コネクタの特性検査を行うものである。特許文献１のプローブは、多極コネクタの複数の端子に対して同時に接触可能な複数のプローブピンを備えている。
国際公開第２０１６／０７２１９３号公報
コネクタのプローブに関しては、特性検査の精度を向上させることが求められている。特許文献１のプローブのように、複数の端子に対して複数のプローブピンをそれぞれ同時に接触させる場合には、端子とプローブピンの位置ずれが生じ、特性検査の精度が低下しやすい。特許文献１に開示されるようなプローブを含めて、コネクタの端子の特性検査をより精度良く行うことができる技術の開発が求められている。
従って、本発明の目的は、上記問題を解決することにあって、コネクタの端子の特性検査をより精度良く行うことができるプローブを提供することにある。
上記目的を達成するために、本発明の一態様のプローブは、コネクタの特性検査を行うためのプローブであって、貫通孔を有し、前記貫通孔が鉛直方向に延在するように配置されるフランジと、前記貫通孔に挿通されて軸方向に延び、先端部にプローブピンを接続した同軸ケーブルと、前記プローブピンを内包しながら前記プローブピンの先端を露出させたプランジャと、前記同軸ケーブルを内包する筒状の形状を有し、一方側の端部が前記フランジに嵌合し、他方側の端部が前記プランジャに取り付けられたハウジングと、を備え、前記ハウジングは、前記フランジの前記貫通孔に挿通される筒状の本体部を備え、前記ハウジングの前記一方側の端部は、前記本体部から水平方向に拡径した拡径部を有し、前記フランジの上面には、前記ハウジングの前記拡径部を受けるように前記貫通孔を水平方向に拡大する凹部が形成されており、前記拡径部は、前記凹部を形成する前記フランジの内側面に部分的に接触又は対向する側壁と、前記凹部を形成する前記フランジの上面に当接する底壁とを有し、前記拡径部は、前記側壁と前記底壁とを接続する接続面を有し、前記接続面は、前記側壁から前記底壁に向かって内側に傾斜した傾斜面である、あるいは、前記凹部を形成する前記フランジの前記内側面は、斜め下方に傾斜した第１の面と、前記第１の面から下方に延びて前記フランジの前記上面に接続される鉛直面としての第２の面とを有する。
また、本発明の別の態様のプローブは、コネクタの特性検査を行うためのプローブであって、貫通孔を有し、前記貫通孔が鉛直方向に延在するように配置されるフランジと、前記貫通孔に挿通されて軸方向に延び、先端部にプローブピンを接続した同軸ケーブルと、前記プローブピンを内包しながら前記プローブピンの先端を露出させたプランジャと、前記同軸ケーブルを内包する筒状の形状を有し、一方側の端部が前記フランジに嵌合し、他方側の端部が前記プランジャに取り付けられたハウジングと、を備え、前記ハウジングは、前記フランジの前記貫通孔に挿通される筒状の本体部を備え、前記ハウジングの前記一方側の端部は、前記本体部から水平方向に拡径した拡径部を有し、前記フランジの上面には、前記ハウジングの前記拡径部を受けるように前記貫通孔を水平方向に拡大する凹部が形成されており、前記拡径部は、前記凹部を形成する前記フランジの内側面に部分的に接触又は対向する側壁と、前記凹部を形成する前記フランジの上面に当接する底壁とを有し、前記拡径部の前記底壁が前記フランジの前記上面に当接する状態において、前記拡径部の前記側壁と前記フランジの前記内側面との間には、前記拡径部が前記水平方向に移動可能にするための隙間が形成される。
本発明のプローブによれば、コネクタの端子の特性検査をより精度良く行うことができる。
実施の形態１におけるプローブの斜視図 実施の形態１におけるプローブの斜視図 図２のＡ－Ａ断面を表す切欠斜視図 図１のＢ－Ｂ断面を表す切欠斜視図 実施の形態１におけるプローブの分解斜視図 実施の形態１におけるフランジの斜視図 実施の形態１におけるフランジの平面図 実施の形態１におけるフランジの縦断面図 実施の形態１におけるハウジングの斜視図 実施の形態１におけるハウジングの平面図 実施の形態１におけるハウジングの縦断面図 実施の形態１におけるフランジとハウジングが接触した状態の斜視図 図８ＡのＣ－Ｃ断面図 図８ＡのＤ－Ｄ断面図 実施の形態１におけるフランジとハウジングが接触した状態の平面図 実施の形態２におけるプローブの斜視図 図９のＥ－Ｅ断面を表す切欠斜視図 実施の形態２におけるプローブの斜視図 図１１のＦ－Ｆ断面を表す切欠斜視図 実施の形態２におけるプローブの分解斜視図 実施の形態２におけるフランジの斜視図 実施の形態２におけるフランジの平面図 実施の形態２におけるフランジの縦断面図 実施の形態２におけるハウジングの斜視図 実施の形態２におけるハウジングの斜視図 実施の形態２におけるハウジングの平面図 実施の形態２におけるハウジングの縦断面図 実施の形態２におけるフランジとハウジングが接触した状態の縦断面図 図１６Ａの一部拡大図
本発明の第１態様によれば、コネクタの特性検査を行うためのプローブであって、貫通孔を有し、前記貫通孔が鉛直方向に延在するように配置されるフランジと、前記貫通孔に挿通されて軸方向に延び、先端部にプローブピンを接続した同軸ケーブルと、前記プローブピンを内包しながら前記プローブピンの先端を露出させたプランジャと、前記同軸ケーブルを内包する筒状の形状を有し、一方側の端部が前記フランジに嵌合し、他方側の端部が前記プランジャに取り付けられたハウジングと、を備え、前記ハウジングは、前記フランジの前記貫通孔に挿通される筒状の本体部を備え、前記ハウジングの前記一方側の端部は、前記本体部から水平方向に拡径した拡径部を有し、前記フランジの上面には、前記ハウジングの前記拡径部を受けるように前記貫通孔を水平方向に拡大する凹部が形成されており、前記拡径部は、前記凹部を形成する前記フランジの内側面に部分的に接触又は対向する側壁と、前記凹部を形成する前記フランジの上面に当接する底壁とを有し、前記拡径部は、前記側壁と前記底壁とを接続する接続面を有し、前記接続面は、前記側壁から前記底壁に向かって内側に傾斜した傾斜面である、あるいは、前記凹部を形成する前記フランジの前記内側面は、斜め下方に傾斜した第１の面と、前記第１の面から下方に延びて前記フランジの前記上面に接続される鉛直面としての第２の面とを有する、プローブを提供する。このような構成によれば、拡径部の底壁をフランジの上面で支持することで、ハウジングの鉛直性を担保できる。また、拡径部の側壁はフランジの内側面と部分的に接触又は対向するため、ハウジングとフランジの間に隙間があり、拡径部が凹部の中で水平方向に動く余地がある。このような間隔を設けることで、ハウジングを一定の誤差範囲で元の位置に戻すことができる。これらにより、プローブの姿勢をより精度良く維持することができ、コネクタの端子の特性検査をより精度良く行うことができる。
本発明の第２態様によれば、コネクタの特性検査を行うためのプローブであって、貫通孔を有し、前記貫通孔が鉛直方向に延在するように配置されるフランジと、前記貫通孔に挿通されて軸方向に延び、先端部にプローブピンを接続した同軸ケーブルと、前記プローブピンを内包しながら前記プローブピンの先端を露出させたプランジャと、前記同軸ケーブルを内包する筒状の形状を有し、一方側の端部が前記フランジに嵌合し、他方側の端部が前記プランジャに取り付けられたハウジングと、を備え、前記ハウジングは、前記フランジの前記貫通孔に挿通される筒状の本体部を備え、前記ハウジングの前記一方側の端部は、前記本体部から水平方向に拡径した拡径部を有し、前記フランジの上面には、前記ハウジングの前記拡径部を受けるように前記貫通孔を水平方向に拡大する凹部が形成されており、前記拡径部は、前記凹部を形成する前記フランジの内側面に部分的に接触又は対向する側壁と、前記凹部を形成する前記フランジの上面に当接する底壁とを有し、前記拡径部の前記底壁が前記フランジの前記上面に当接する状態において、前記拡径部の前記側壁と前記フランジの前記内側面との間には、前記拡径部が前記水平方向に移動可能にするための隙間が形成される、プローブを提供する。このような構成によれば、拡径部の底壁をフランジの上面で支持することで、ハウジングの鉛直性を担保できる。また、拡径部とフランジとの間には拡径部が水平方向に移動可能とするための隙間があり、拡径部が凹部の中で水平方向に動く余地がある。このような隙間を設けることで、ハウジングを一定の誤差範囲で元の位置に戻すことができる。これらにより、プローブの姿勢をより精度良く維持することができ、コネクタの端子の特性検査をより精度良く行うことができる。
本発明の第３態様によれば、前記拡径部は、前記側壁と前記底壁とを接続する接続面を有し、前記接続面は、前記側壁から前記底壁に向かって内側に傾斜した傾斜面である、第１態様又は第２態様に記載のプローブを提供する。このような構成によれば、接続面を設けることで、フランジから浮き上がったハウジングが下降する際に、ハウジングの拡径部の接続面がフランジの凹部の角に当たると、ハウジングが凹部の中に誘導される。これにより、ハウジングを元の位置に精度良く戻すことができ、プローブの姿勢をより精度良く維持することができる。
本発明の第４態様によれば、前記凹部を形成する前記フランジの前記内側面は、斜め下方に傾斜した第１の面を有し、前記鉛直面は、前記第１の面から下方に延びて前記フランジの前記上面に接続される第２の面である、第１態様又は第２態様に記載のプローブを提供する。このような構成によれば、斜め下方に傾斜した第１の面を設けることで、フランジから浮き上がったハウジングが下降する際に、ハウジングの拡径部が第１の面に当たると、ハウジングが凹部の中に誘導される。これにより、ハウジングを元の位置に精度良く戻すことができ、プローブの姿勢をより精度良く維持することができる。
本発明の第５態様によれば、前記拡径部において、前記側壁は鉛直方向に延在する鉛直面であり、前記底壁は水平方向に延在する水平面である、第１態様から第４態様のいずれか１つに記載のプローブを提供する。このような構成によれば、拡径部の加工が簡単となる。また、底壁を水平方向に延在させることで、ハウジングの鉛直性をより精度良く担保することができる。
本発明の第６態様によれば、前記凹部を形成する前記フランジの前記上面は水平方向に延在する水平面である、第１態様から第５態様のいずれか１つに記載のプローブを提供する。このような構成によれば、凹部の加工が簡単となる。また、ハウジングの鉛直性をより精度良く担保することができる。
本発明の第７態様によれば、前記拡径部の前記底壁、および、前記フランジの前記凹部を形成する前記上面は、平坦である、第１態様から第６態様のいずれか１つに記載のプローブを提供する。このような構成によれば、ハウジングの鉛直性をより精度良く担保することができる。また、拡径部の底壁とフランジの上面をそれぞれ平坦とすることで、それらが当接したときに、ハウジングの拡径部は水平方向に自由に動くことができる。これにより、ハウジングを元の位置に精度良く戻すことができ、プローブの姿勢をより精度良く維持することができる。
本発明の第８態様によれば、前記フランジの下面における前記凹部に対向する位置に一端が取り付けられ、前記プランジャに他端が取り付けられ、前記フランジと前記プランジャを互いに離れる方向に付勢する弾性部材をさらに備える、第１態様から第７態様のいずれか１つに記載のプローブを提供する。このような構成によれば、弾性部材がフランジとプランジャを互いに離れる方向に付勢することで、ハウジングの拡径部をフランジの凹部に案内して収容することができる。さらに、プランジャの底部にコネクタを嵌合させたときに、コネクタの端子に対してプローブピンを適切な荷重で押し付けることができる。
以下に、本発明にかかる実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。
（実施の形態１）
図１―図５は、実施の形態１におけるプローブ２の概略構成を示す図である。図１、図２は、プローブ２の異なる状態を示す概略斜視図である。図３は、図２におけるＡ－Ａ断面を示す切欠図であり、図４は、図１におけるＢ－Ｂ断面を示す切欠図である。図５は、プローブ２の分解斜視図である。図１－図５では、鉛直方向をＸ方向とし、互いに直交する水平方向をＹ方向、Ｚ方向として設定する。
プローブ２は、コネクタ３の特性検査を行う検査器具である。実施の形態１のコネクタ３は、複数の端子を有する多極コネクタである。プローブ２は、プランジャ４と、同軸ケーブル６と、フランジ８と、スプリング１０と、ハウジング１２と、プローブピン１６（図４、図５）と、プレート３４とを備える。
プランジャ４は、コネクタ３を嵌合させて位置決めするための位置決め部材である。プランジャ４は、コネクタ３が嵌合される嵌合部４Ａと、筒状に形成された筒状部４Ｂとを備える。嵌合部４Ａは、筒状部４Ｂの端部から下方に突出した部分である。嵌合部４Ａには、コネクタ３を嵌合させるための突起２２（図３―図５）が形成されている。
なお、図１、図４は、嵌合部４Ａにコネクタ３が嵌合する前の状態を示し、図２、図３は、嵌合部４Ａにコネクタ３が嵌合した後の状態を示す。図２、図３では、便宜的にコネクタ３の図示を省略している。
図３、図４に示すように、ハウジング１２の内部には、複数の同軸ケーブル６が挿通されている。
同軸ケーブル６は、コネクタ３の端子と電気的に導通するための部材である。同軸ケーブル６は棒状に構成されており、その先端部にプローブピン１６が電気的に接続されている。１つの同軸ケーブル６に対して１つのプローブピン１６が接続されている。
プローブピン１６は、コネクタ３の各端子に接触して導通する棒状の部材である。プローブピン１６は、内側が導電性材料により形成され、外側が絶縁性部材により形成されている。プローブピン１６はプランジャ４内に圧入固定される。プローブピン１６の先端１６Ａは導電性部分であり、図４に示すように嵌合部４Ａの底部から露出しており、コネクタ３の端子に接触可能である。
本実施の形態１では特に、１つのプローブ２において複数の同軸ケーブル６および複数のプローブピン１６を設けている。このような構成により、被検査体であるコネクタ３が複数の端子を備える多極コネクタであっても、コネクタ３の各端子の特性検査を同時に実施することができる。
携帯電話やスマートフォン内部のＲＦ信号ラインの接続などには、これまでは端子を１つのみ有する同軸コネクタが主に使用されていた。近年は複数バンドのＲＦ信号を取り扱うようになり、ＲＦ信号ラインが複数ある分、同軸コネクタも複数並べて使用されている。回路の高密度化が進むと、省スペース化等の目的で、同軸コネクタを使う代わりに異形形状の多極コネクタのいくつかの端子にＲＦ信号を流すような設計がされるようになっている。これに対して、本実施の形態１のプローブ２は、コネクタ３の複数の端子に同時に接続して、複数ラインの特性検査を同時に行うことが可能な測定用プローブとして機能することができる。
フランジ８は、プローブ２を所定の設備に取り付けるための部材である。所定の設備は例えば、コネクタ３が実装されたプリント基板をコネクタ３の特性検査の結果に基づいて選別するための選別機である。
図２、図３に示すように、フランジ８の中心部には、ハウジング１２を挿通するための貫通孔９が設けられている。フランジ８は水平方向に延在するように配置され、貫通孔９は鉛直方向に延びるように配置される。実施の形態１の貫通孔９は円柱形状である。
フランジ８の上面１１には、ハウジング１２を受けるための凹部１３が形成されている。凹部１３は、フランジ８の上面１１において、貫通孔９を水平方向に拡張した部分として設けられている。貫通孔９と凹部１３は、空間的に連続して形成されている。凹部１３とハウジング１２との関係、それぞれの詳細な形状については後述する。
スプリング１０は、前述したプローブピン１６をコネクタ３の端子に対して適切な荷重で押し付けるための弾性部材である。スプリング１０は、ハウジング１２の周囲に取り付けられている。図３、図４に示すように、スプリング１０の一方側（上側）の端部がフランジ８の下面に圧入して取り付けられており、他方側（下側）の端部がプランジャ４の筒状部４Ｂに圧入して取り付けられている。
図１、図４に示すような、嵌合部４Ａにコネクタ３を嵌合させる前の状態において、スプリング１０は自然長よりも短い状態にある。すなわちスプリング１０は圧縮状態にある。圧縮状態にあるスプリング１０は、上方にあるフランジ８と下方にあるプランジャ４をそれぞれ互いに離れる方向に付勢している。
ハウジング１２は、同軸ケーブル６を内包する筒状の部材である。ハウジング１２は、一方側（上方）の端部１２Ａと、他方側（下方）の端部１２Ｂと、筒状の本体部１２Ｃとを有する。一方側の端部１２Ａは、本体部１２Ｃから水平方向に拡径した拡径部１７を有する。拡径部１７は、フランジ８の凹部１３に収容される部分である。他方側の端部１２Ｂは、プランジャ４の筒状部４Ｂに圧入して取り付けられている。
プレート３４は、同軸ケーブル６が上方へ抜けるのを防止するための部材である。プレート３４は、プランジャ４の筒状部４Ｂに配置され、ハウジング１２の他方側の端部１２Ｂとプランジャ４の間に設けられる。
ハウジング１２の他方側の端部１２Ｂがプレート３４を介してプランジャ４に取り付けられた状態において、ハウジング１２とプランジャ４は周方向Ｒに一体的に回転可能となる。
上述した構成を有するプローブ２の動作について、図１－図４を用いて概略的に説明する。
図１、図４に示す初期状態において、コネクタ３はプランジャ４の嵌合部４Ａに接触していない。このとき、コネクタ３からプローブ２に対して鉛直上方への荷重は作用していない。前述したようにスプリング１０は自然長よりも短い圧縮状態にあり、フランジ８とプランジャ４は互いに離れる方向に付勢されている。これにより、プランジャ４に取り付けられているハウジング１２は、プランジャ４とともに下方に付勢される。図１、図４に示すように、ハウジング１２の拡径部１７がフランジ８の凹部１３に収容される。ハウジング１２の拡径部１７は凹部１３においてフランジ８により支持されている。これにより、ハウジング１２の鉛直性が維持される。
次に、嵌合部４Ａにコネクタ３を嵌合させる。嵌合部４Ａの突起２２がコネクタ３に形成された空洞に入り込むことにより、コネクタ３が位置決めされる。同時に、嵌合部４Ａの底面に露出したプローブピン１６の先端１６Ａがコネクタ３の端子に接触する。実施の形態１では、２つのプローブピン１６の先端１６Ａのそれぞれが、コネクタ３の２つの端子に接触する。プローブピン１６を介して同軸ケーブル６がコネクタ３の端子と電気的に接続され、コネクタ３の端子の特性検査を行うことができる。
このとき、コネクタ３によってプランジャ４が上方に押圧される。コネクタ３からプランジャ４へ所定以上の鉛直荷重が付与されると、プランジャ４に接続されたスプリング１０が縮む。具体的には、自然長よりも短い状態にあったスプリング１０がさらに縮む。スプリング１０が縮むことにより、所定位置に固定されたフランジ８に対してプランジャ４およびハウジング１２が一体的に上昇する。図２、図３に示すように、ハウジング１２の拡径部１７が凹部１３から浮き上がり、ハウジング１２はフランジ８と非接触状態となる。
前述したように、ハウジング１２およびプランジャ４は一体的にＲ方向に回転可能である。フランジ８から浮き上がった状態のハウジング１２およびプランジャ４がコネクタ３の端子の位置に応じて回転することで、プランジャ４およびプローブピン１６の姿勢が正しい姿勢に補正される。これにより、コネクタ３の端子の特性検査をより精度良く実施することができる。
特性検査が終了すると、コネクタ３が下方に待避し、コネクタ３と嵌合部４Ａとの嵌合が解除される。コネクタ３からプランジャ４へ作用していた上方への鉛直荷重がなくなるため、スプリング１０が元の状態まで伸びる。図１、図４に示すように、ハウジング１２がフランジ８に対して相対的に下降し、ハウジング１２の拡径部１７がフランジ８の凹部１３に収容される。
ハウジング１２の拡径部１７がフランジ８の凹部１３に収容される際に、なるべく少ない誤差の範囲で同じ位置に戻ることが望ましい。本実施の形態１のプローブ２では、予め許容された範囲内でハウジング１２が元の位置に戻るようにするために、凹部１３の形状および拡径部１７の形状に関して工夫を行っている。具体的には、図６Ａ－図６Ｃ、図７Ａ－図７Ｃ、図８Ａ－図８Ｃを用いて説明する。
図６Ａ－図６Ｃはそれぞれ、フランジ８の斜視図、平面図、縦断面図である。図７Ａ－図７Ｃはそれぞれ、ハウジング１２の拡径部１７の斜視図、平面図、縦断面図である。
図６Ａ－図６Ｃに示すように、フランジ８は、凹部１３を形成する面として、内側面１９と、上面２１とを有する。
内側面１９は、第１の面１９Ａと、第２の面１９Ｂとを有する。第１の面１９Ａは、フランジ８の上面１１から斜め下方に傾斜した面である。第２の面１９Ｂは、第１の面１９Ａの下方側に接続されて第１の面１９Ａから下方に延びる面である。実施の形態１の第２の面１９Ｂは、鉛直方向に延びる鉛直面である。第１の面１９Ａ、第２の面１９Ｂはともに平坦である。
実施の形態１では、図６Ｂに示すように、内側面１９が平面視において大略正方形状を有するように形成されている。対向する位置に一対の内側面１９が設けられ、大略正方形状を呈するように２対の内側面１９が設けられる。隣接する内側面１９は平面視で互いに直交する。
図６Ｂに示すように、対向する一対の内側面１９（第２の面１９Ｂ）の距離Ｄ１は予め所定の長さに設定されている。具体的には、後述するハウジング１２の拡径部１７を収容可能な長さに距離Ｄ１が設定されている。
上面２１は、第２の面１９Ｂの下方側に接続されて第２の面１９Ｂから横方向に延びる面である。上面２１は、貫通孔９に隣接する位置まで形成される。実施の形態１の上面２１は、水平方向に延びる水平面であり、かつ、平坦である。上面２１は、フランジ８の上面１１の一部を構成するものとみなしてもよい。
第１の面１９Ａを斜め下方に傾斜させることで、ハウジング１２の拡径部１７がフランジ８の凹部１３に向かって下降する際に拡径部１７の角部が第１の面１９Ａに当たると、拡径部１７は凹部１３に向かって内側に誘導される。これにより、拡径部１７を精度良く凹部１３に収容することができる。また、凹部１３に配置された拡径部１７は上面２１によって支持される。上面２１を設けることで、拡径部１７を支持するとともに、ハウジング１２の姿勢を所定の向きに維持することができる（すなわち、ハウジング１２の鉛直性を担保できる）。
図７Ａ－図７Ｃに示すように、拡径部１７は、側壁１７Ａと、底壁１７Ｂとを有する。側壁１７Ａは、前述したフランジ８の内側面１９に対向するように配置される面である。底壁１７Ｂは、フランジ８の上面２１に支持される面である。実施の形態１では、側壁１７Ａは鉛直方向に延びる鉛直面であり、底壁１７Ｂは水平方向に延びる水平面である。
実施の形態１では、図７Ｂに示すように、側壁１７Ａが平面視において大略正方形状を有するように形成されている。対向する位置に一対の側壁１７Ａが設けられ、大略正方形状を呈するように２対の側壁１７Ａが設けられる。隣接する側壁１７Ａは平面視で互いに直交する。
図７Ｂ、図７Ｃに示すように、対向する一対の側壁１７Ａの距離Ｄ２は、前述したフランジ８の側壁１９Ｂ同士の距離Ｄ１よりもわずかに小さく設定されている。このような距離の設定により、内側面１９の第２の面１９Ｂで囲まれた領域に拡径部１７が配置可能となる。
上述した拡径部１７がフランジ８の凹部１３に収容された状態について、図８Ａ－図８Ｄを用いて説明する。図８Ａ、図８Ｄはそれぞれ、拡径部１７がフランジ８に接触した状態の斜視図、平面図である。図８Ｂは、図８ＡのＣ－Ｃ断面図であり、図８Ｃは、図８ＡのＤ－Ｄ断面図である。
図８Ｂに示す断面では、拡径部１７の側壁１７Ａと、フランジ８の内側面１９（特に第２の面１９Ｂ）とは部分的に接触又は対向している。前述したように距離Ｄ１を距離Ｄ２よりもわずかに大きく設定することにより、拡径部１７の側壁１７Ａとフランジ８の第２の面１９Ｂは完全に接触せず、部分的に接触する、あるいは、間隔を空けて対向する。拡径部１７は凹部１３に収容されたときに、第２の面１９Ｂに囲まれた限られた領域内で水平方向にわずかに移動可能であるが、その移動量は制限されている。拡径部１７の側壁１７Ａ同士の距離Ｄ２に応じて、フランジ８の内側面１９同士の距離Ｄ１を適切な範囲に設定すれば、凹部１３内での拡径部１７の水平方向の位置ずれを所望の範囲に限定することができる。これにより、ハウジング１２が凹部１３に収容される際に適度な水平方向のクリアランスを設けつつ、ハウジング１２の水平方向の位置ずれをできるだけ少なくすることができる。
一方で、フランジ８の内側面１９に設けた第１の面１９Ａは傾斜面であり、鉛直面に比べて加工が難しく形状バラつきが生じやすい。これに対して、実施の形態１のプローブ２では、第１の面１９Ａはハウジング１２の拡径部１７を凹部１３に誘導するものであり、拡径部１７を支持するものではない。拡径部１７は上面２１によって支持されるため、第１の面１９Ａの形状バラつきによってハウジング１２の支持姿勢が影響されないようにすることができる。
また実施の形態１のプローブ２では、第１の面１９Ａに加えて、鉛直面である第２の面１９Ｂを形成している。鉛直面は傾斜面に比べて加工が容易であり、形状バラつきが生じにくい。第２の面１９Ｂを鉛直面で構成するとともに凹部１３に収容した拡径部１７を水平方向に取り囲むようにすることで、拡径部１７の水平方向の位置ずれを精度良く制限することができる。
なお、図８Ｃに示す断面では、拡径部１７の側壁１７Ａとフランジ８の内側面１９とは接触せず、間隔を空けて対向している。
上述したように、実施の形態１のプローブ２は、コネクタ３の特性検査を行うためのプローブであって、プランジャ４と、同軸ケーブル６と、フランジ８と、ハウジング１２とを備える。フランジ８は、プローブ２を設備に取り付けるための部材であって、貫通孔９を有し、貫通孔９が鉛直方向に延在するように配置される。同軸ケーブル６は、貫通孔９に挿通されて軸方向に延び、先端部にプローブピン１６を接続した部材である。プランジャ４は、プローブピン１６を内包しながらプローブピン１６の先端１６Ａを露出させた部材である。ハウジング１２は、一方側の端部１２Ａがフランジ８に嵌合し、他方側の端部１２Ｂがプランジャ４に取り付けられる部材である。
上記構成において、ハウジング１２は、フランジ８の貫通孔９に挿通される筒状の本体部１２Ｃを備える。また、ハウジング１２の一方側の端部１２Ａは、本体部１２Ｃから水平方向に拡径した拡径部１７を有している。また、フランジ８の上面１１には、ハウジング１２の拡径部１７を受けるように貫通孔９を水平方向に拡大する凹部１３が形成されている。また、拡径部１７は、フランジ８の内側面１９に部分的に接触又は対向する側壁１７Ａと、フランジ８の上面２１に当接する底壁１７Ｂとを有する。また、フランジ８の内側面１９は、斜め下方に傾斜した第１の面１９Ａと、第１の面１９Ａから下方に延びてフランジ８の上面２１に接続される鉛直面である第２の面１９Ｂとを有する。
このような構成によれば、拡径部１７の底壁１７Ｂをフランジ８の上面２１で支持することで、ハウジング１２の鉛直性を担保できる。また、拡径部１７の側壁１７Ａはフランジ８の内側面１９と部分的に接触又は対向するため、ハウジング１２とフランジ８の間に隙間があり、拡径部１７が凹部１３の中で水平方向に動く余地がある。このような間隔を設けることで、フランジ８から離れたハウジング１２が凹部１３に戻る際に凹部１３に容易に配置することができるとともに、ハウジング１２の水平方向の位置を一定の誤差範囲に収めることができる。これらにより、コネクタ３の検査の前後においてプローブ２の姿勢をより精度良く維持することができ、コネクタ３の端子の特性検査をより精度良く行うことができる。
また、フランジ８の内側面１９に斜め下方に傾斜した第１の面１９Ａを設けることで、フランジ８から浮き上がったハウジング１２が下降する際に、ハウジング１２の拡径部１７が第１の面１９Ａに当たると、ハウジング１２が凹部１３の中に誘導される。これにより、ハウジング１２を元の位置に精度良く戻すことができ、プローブ２の姿勢をより精度良く維持することができる。
また、実施の形態１のプローブ２によれば、拡径部１７において、側壁１７Ａは鉛直方向に延在する鉛直面であり、底壁１７Ｂは水平方向に延在する水平面である。このような構成によれば、拡径部１７の加工が簡単となる。また、底壁１７Ｂを水平方向に延在させることで、ハウジング１２の鉛直性をより精度良く担保することができる。
また、実施の形態１のプローブ２によれば、フランジ８の上面２１は水平方向に延在する水平面である。このような構成によれば、凹部１３の加工が簡単となり、ハウジング１２の鉛直性をより精度良く担保することができる。
また、実施の形態１のプローブ２によれば、拡径部１７の底壁１７Ｂ、および、フランジ８の上面２１は平坦である。このような構成によれば、ハウジング１２の鉛直性をより精度良く担保することができる。
また、実施の形態１のプローブ２によれば、フランジ８の内側面１９に鉛直面である第２の面１９Ｂを設けている。これにより、内側面１９が全て傾斜面である場合に比べて、フランジ８に凹部１３を作成する際の加工精度を向上させることができる。
（実施の形態２）
本発明に係る実施の形態２のプローブ４０について、図９－図１６Ｂを用いて説明する。なお、実施の形態２では、主に実施の形態１と異なる点について説明する。
図９―図１３は、実施の形態２におけるプローブ４０の概略構成を示す図である。図９、図１１は、プローブ２の異なる状態を示す概略斜視図である。図１０は、図９におけるＥ－Ｅ断面図であり、図１２は、図１１におけるＦ－Ｆ断面図である。図１３は、プローブ４０の分解斜視図である。図９－図１３でも同様に、鉛直方向をＸ方向、互いに直交する水平方向をＹ方向、Ｚ方向として設定する。
実施の形態２のプローブ４０は、実施の形態１と同じ構成のプランジャ４、同軸ケーブル６、スプリング１０を備え、実施の形態１とは異なる構成のフランジ４２と、ハウジング４４とを備える。以降、フランジ４２およびハウジング４４について主に説明する。
図１１、図１２に示すように、フランジ４２の中心部には、ハウジング４４を挿通するための貫通孔４６が設けられている。フランジ４２の上面４８には凹部５０が形成されている。凹部５０は、フランジ４２の上面４８において貫通孔４６を水平方向に拡張した部分である。
ハウジング４４は、一方側（上方）の端部４４Ａと、他方側（下方）の端部４４Ｂと、筒状の本体部４４Ｃとを有する。一方側の端部４４Ａは、本体部４４Ｃから水平方向に拡径した拡径部５２を有する。拡径部５２は、フランジ４２の凹部５０に収容される部分である。
次に、図１４Ａ－図１４Ｃ、図１５Ａ－図１５Ｄ、図１６Ａ、図１６Ｂを用いて、凹部５０および拡径部５２の形状に関してそれぞれ説明する。
図１４Ａ－図１４Ｃはそれぞれ、フランジ４２の斜視図、平面図、縦断面図である。図１５Ａ－図１５Ｄはそれぞれ、拡径部１７の上方斜視図、下方斜視図、平面図、縦断面図である。
図１４Ａ－図１４Ｃに示すように、フランジ４２は、凹部５０を形成する面として、内側面５４と、上面５６とを有する。
内側面５４は、第１の面５４Ａと、第２の面５４Ｂとを有する。第１の面５４Ａは、フランジ４２の上面４８から斜め下方に傾斜した面である。実施の形態１と異なり、第１の面５４Ａはごくわずかな領域にのみ形成されている。第２の面５４Ｂは、第１の面５４Ａから下方に延びる面である。第２の面５４Ｂは、鉛直方向に延びる鉛直面である。第１の面５４Ａ、第２の面５４Ｂはともに平坦な面である。
図１４Ｂ、図１４Ｃに示すように、対向する一対の内側面５４（第２の面５４Ｂ）の距離Ｄ３は、後述する拡径部５２を収容可能な長さに設定されている。
凹部５０を形成する上面５６は、第２の面５４Ｂから横方向に延びる面である。上面５６は、貫通孔４６に隣接する位置まで形成されている。実施の形態１と同様に、上面５６は水平方向に延びる水平面であり、かつ平坦である。
次に、図１５Ａ－図１５Ｄを用いてハウジング４４の拡径部５２について説明する。
図１５Ｂ、図１５Ｄに示すように、拡径部５２は、実施の形態１と同様に、側壁５２Ａと、底壁５２Ｂとを有する。側壁５２Ａは、前述したフランジ４２の内側面５４に対向して配置される面であり、底壁５２Ｂは、フランジ４２の上面５６に支持される面である。実施の形態１と同様に、側壁５２Ａは鉛直方向に延びる鉛直面であり、底壁５２Ｂは、水平方向に延びる水平面である。
図１５Ｃ、図１５Ｄに示すように、対向する一対の側壁５２Ａの距離Ｄ４は、前述したフランジ４２の側壁５４Ｂ同士の距離Ｄ３よりもわずかに小さく設定されている。
実施の形態２ではさらに、側壁５２Ａと底壁５２Ｂとの間に接続面５２Ｃが設けられている。接続面５２Ｃは、側壁５２Ａと底壁５２Ｂを接続する面である。実施の形態２における接続面５２Ｃは、側壁５２Ａから底壁５２Ｂに向かって斜め下方に傾斜した傾斜面である。接続面５２Ｃは平坦な面として形成されている。
上述した拡径部５２がフランジ４２の凹部５０に収容された状態について、図１６Ａ、図１６Ｂを用いて説明する。図１６Ａは、拡径部５２がフランジ４２に接触した状態の縦断面図であり、図１６Ｂは、図１６Ａの一部拡大図である。
図１６Ａ、図１６Ｂに示すように、拡径部５２の側壁５２Ａはフランジ４２の内側面５４に部分的に接触、又は対向している。また、拡径部５２の底壁５２Ｂはフランジ４２の上面５６により支持されている。このような構成によれば、実施の形態１と同様の効果を奏することができる。
また実施の形態２では、フランジ４２に傾斜面である第１の面５４Ａを設けるだけでなく、拡径部５２の角部にも傾斜面である接続面５２Ｃを設けている。具体的には、拡径部５２は、側壁５２Ａと底壁５２Ｂとを接続する接続面５２Ｃを有し、接続面５２Ｃは、側壁５２Ａから底壁５２Ｂに向かって内側に傾斜した傾斜面である。これより、フランジ４２から浮き上がったハウジング４４がフランジ４２に向かって下降する際に、拡径部５２が凹部５０に向かってより誘導されやすくなる。これにより、ハウジング４４を凹部５０に精度良く配置することができ、プローブ４０の姿勢をより精度良く維持することができる。
以上、上述の実施の形態１、２を挙げて本発明を説明したが、本発明は上述の実施の形態１、２に限定されない。例えば、上記実施の形態１、２では、２つの同軸ケーブル６および２つのプローブピン１６を設けて、コネクタ３の対応する端子の特性検査を同時に実施する場合について説明したが、このような場合に限らない。コネクタ３において特性検査が望まれる端子の数に応じて、１つあるいは３つ以上の同軸ケーブル６およびプローブピン１６をそれぞれ設けてもよい。コネクタ３についても、２つの端子を有する多極コネクタに限らず、１つの端子のみを有する単極コネクタあるいは３つ以上の端子を有する多極コネクタであってもよい。
また、上記実施の形態１、２では、「鉛直」、「水平」という用語を使用しているが、完全な鉛直、完全な水平に限らず、フランジ８の配置精度等に応じて若干の誤差を含んでもよい。
また、上記実施の形態１、２では、スプリング１０を設けていたが、このような場合に限らず、筒状のゴムなどその他の種類の弾性体を設けてもよい。
また、上記実施の形態１、２では、嵌合部４Ａにおいて突起２２を用いてコネクタ３を位置決めする場合について説明したが、このような場合に限らない。突起２２に代えて、嵌合部４Ａの底部に凹部を設ける等、任意の位置決め・嵌合手段を用いてもよい。
本開示は、添付図面を参照しながら好ましい実施の形態に関連して充分に記載されているが、この技術の熟練した人々にとっては種々の変形や修正は明白である。そのような変形や修正は、添付した特許請求の範囲による本開示の範囲から外れない限りにおいて、その中に含まれると理解されるべきである。また、各実施の形態における要素の組合せや順序の変化は、本開示の範囲及び思想を逸脱することなく実現し得るものである。
なお、上記様々な実施の形態１、２および変形例のうちの任意の実施の形態あるいは変形例を適宜組み合わせることにより、それぞれの有する効果を奏するようにすることができる。
本発明は、コネクタ用のプローブであれば適用可能である。
２ プローブ
３ コネクタ
４ プランジャ
４Ａ 嵌合部
４Ｂ 筒状部
６ 同軸ケーブル
８ フランジ
９ 貫通孔
１０ スプリング
１１ 上面
１２ ハウジング
１２Ａ 一方側の端部
１２Ｂ 他方側の端部
１２Ｃ 本体部
１３ 凹部
１６ プローブピン
１６Ａ 先端
１７ 拡径部
１７Ａ 側壁
１７Ｂ 底壁
１９ 内側面
１９Ａ 第１の面
１９Ｂ 第２の面
２１ 上面
２２ 突起
３４ プレート
４２ フランジ
４４ ハウジング
４４Ａ 一方側の端部
４４Ｂ 他方側の端部
４４Ｃ 本体部
４６ 貫通孔
４８ 上面
５０ 凹部
５２ 拡径部
５２Ａ 側壁
５２Ｂ 底壁
５２Ｃ 接続面
５４ 内側面
５４Ａ 第１の面
５４Ｂ 第２の面
５６ 上面

Claims (8)

  1. コネクタの特性検査を行うためのプローブであって、
    貫通孔を有し、前記貫通孔が鉛直方向に延在するように配置されるフランジと、
    前記貫通孔に挿通されて軸方向に延び、先端部にプローブピンを接続した同軸ケーブルと、
    前記プローブピンを内包しながら前記プローブピンの先端を露出させたプランジャと、
    前記同軸ケーブルを内包する筒状の形状を有し、一方側の端部が前記フランジに嵌合し、他方側の端部が前記プランジャに取り付けられたハウジングと、を備え、
    前記ハウジングは、前記フランジの前記貫通孔に挿通される筒状の本体部を備え、
    前記ハウジングの前記一方側の端部は、前記本体部から水平方向に拡径した拡径部を有し、
    前記フランジの上面には、前記ハウジングの前記拡径部を受けるように前記貫通孔を水平方向に拡大する凹部が形成されており、
    前記拡径部は、前記凹部を形成する前記フランジの内側面に部分的に接触又は対向する側壁と、前記凹部を形成する前記フランジの上面に当接する底壁とを有し、
    前記拡径部は、前記側壁と前記底壁とを接続する接続面を有し、前記接続面は、前記側壁から前記底壁に向かって内側に傾斜した傾斜面である、あるいは、前記凹部を形成する前記フランジの前記内側面は、斜め下方に傾斜した第１の面と、前記第１の面から下方に延びて前記フランジの前記上面に接続される鉛直面としての第２の面とを有する、プローブ。
  2. コネクタの特性検査を行うためのプローブであって、
    貫通孔を有し、前記貫通孔が鉛直方向に延在するように配置されるフランジと、
    前記貫通孔に挿通されて軸方向に延び、先端部にプローブピンを接続した同軸ケーブルと、
    前記プローブピンを内包しながら前記プローブピンの先端を露出させたプランジャと、 前記同軸ケーブルを内包する筒状の形状を有し、一方側の端部が前記フランジに嵌合し、他方側の端部が前記プランジャに取り付けられたハウジングと、を備え、
    前記ハウジングは、前記フランジの前記貫通孔に挿通される筒状の本体部を備え、
    前記ハウジングの前記一方側の端部は、前記本体部から水平方向に拡径した拡径部を有し、
    前記フランジの上面には、前記ハウジングの前記拡径部を受けるように前記貫通孔を水平方向に拡大する凹部が形成されており、
    前記拡径部は、前記凹部を形成する前記フランジの内側面に部分的に接触又は対向する側壁と、前記凹部を形成する前記フランジの上面に当接する底壁とを有し、
    前記拡径部の前記底壁が前記フランジの前記上面に当接する状態において、前記拡径部の前記側壁と前記フランジの前記内側面との間には、前記拡径部が前記水平方向に移動可能にするための隙間が形成される、プローブ。
  3. 前記拡径部は、前記側壁と前記底壁とを接続する接続面を有し、前記接続面は、前記側壁から前記底壁に向かって内側に傾斜した傾斜面である、請求項１又は２に記載のプローブ。
  4. 前記凹部を形成する前記フランジの前記内側面は、斜め下方に傾斜した第１の面を有し、前記鉛直面は、前記第１の面から下方に延びて前記フランジの前記上面に接続される第２の面である、請求項１又は２に記載のプローブ。
  5. 前記拡径部において、前記側壁は鉛直方向に延在する鉛直面であり、前記底壁は水平方向に延在する水平面である、請求項１から４のいずれか１つに記載のプローブ。
  6. 前記凹部を形成する前記フランジの前記上面は水平方向に延在する水平面である、請求項１から５のいずれか１つに記載のプローブ。
  7. 前記拡径部の前記底壁、および、前記フランジの前記凹部を形成する前記上面は、平坦である、請求項１から６のいずれか１つに記載のプローブ。
  8. 前記フランジの下面における前記凹部に対向する位置に一端が取り付けられ、前記プランジャに他端が取り付けられ、前記フランジと前記プランジャを互いに離れる方向に付勢する弾性部材をさらに備える、請求項１から７のいずれかに記載のプローブ。
JP2020558321A 2018-11-19 2019-11-13 プローブ Active JP7040641B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018216673 2018-11-19
JP2018216673 2018-11-19
PCT/JP2019/044542 WO2020105525A1 (ja) 2018-11-19 2019-11-13 プローブ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2020105525A1 JPWO2020105525A1 (ja) 2021-10-07
JP7040641B2 true JP7040641B2 (ja) 2022-03-23

Family

ID=70773610

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2020558321A Active JP7040641B2 (ja) 2018-11-19 2019-11-13 プローブ

Country Status (6)

Country Link
US (1) US11619654B2 (ja)
JP (1) JP7040641B2 (ja)
KR (1) KR102538245B1 (ja)
CN (1) CN113039442A (ja)
TW (1) TWI724637B (ja)
WO (1) WO2020105525A1 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2022085474A (ja) * 2020-11-27 2022-06-08 Ｉ－Ｐｅｘ株式会社 プローブ
JPWO2022163007A1 (ja) * 2021-01-29 2022-08-04
WO2023047618A1 (ja) * 2021-09-27 2023-03-30 株式会社村田製作所 検査用コネクタ

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5227718A (en) 1992-03-10 1993-07-13 Virginia Panel Corporation Double-headed spring contact probe assembly
JP2004247494A (ja) 2003-02-13 2004-09-02 Tdk Corp プローブ装置およびこれを用いた検査装置
WO2016072193A1 (ja) 2014-11-07 2016-05-12 株式会社村田製作所 プローブ
JP6337261B2 (ja) 2016-01-12 2018-06-06 株式会社オフィスサニー 文字シートおよび文字シートセット
WO2018116568A1 (ja) 2016-12-22 2018-06-28 株式会社村田製作所 プローブ構造
WO2019069576A1 (ja) 2017-10-06 2019-04-11 株式会社村田製作所 プローブ
JP2019138768A (ja) 2018-02-09 2019-08-22 株式会社村田製作所 プローブ

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4764722A (en) * 1985-10-28 1988-08-16 International Business Machines Corporation Coaxial probe
JPH0471173A (ja) * 1990-07-12 1992-03-05 Japan Aviation Electron Ind Ltd コネクタ端子とケーブルの接続方法
JPH0471173U (ja) * 1990-10-31 1992-06-24
JP2003322269A (ja) * 2002-05-07 2003-11-14 Saginomiya Seisakusho Inc 電磁弁およびそれを備えた空気調和機
JP4270489B2 (ja) * 2002-12-11 2009-06-03 東京特殊電線株式会社 フレキシブル高周波同軸ケーブルと同軸型コネクタとの接続構造
JP4556698B2 (ja) * 2005-02-14 2010-10-06 ソニー株式会社 プローブピンユニット
JP2006267649A (ja) * 2005-03-24 2006-10-05 Seikoh Giken Co Ltd 光コネクタ
JP5075531B2 (ja) * 2007-08-27 2012-11-21 日機装株式会社 接続部材
JP5203785B2 (ja) * 2008-04-16 2013-06-05 大西電子株式会社 検査治具
KR101415722B1 (ko) * 2010-06-25 2014-07-25 니혼 하츠쵸 가부시키가이샤 콘택트 프로브 및 프로브 유닛
JP5126310B2 (ja) * 2010-07-22 2013-01-23 株式会社村田製作所 検査用同軸コネクタ及びレセプタクル
JP2012032162A (ja) * 2010-07-28 2012-02-16 Sankei Engineering:Kk コンタクトプローブ及びコンタクトプローブ用導電部材
JP5673366B2 (ja) * 2011-06-03 2015-02-18 山一電機株式会社 半導体素子用ソケット
CN202720286U (zh) * 2012-07-26 2013-02-06 佳楠精密电子股份有限公司 同轴连接器的探测器结构
JP5927703B2 (ja) * 2012-11-15 2016-06-01 ヒロセ電機株式会社 コネクタ装置及びそれに用いるコネクタ
KR101504873B1 (ko) * 2014-08-13 2015-03-20 주식회사 기가레인 검사용 동축 커넥터
JP6802654B2 (ja) * 2016-07-22 2020-12-16 ヒロセ電機株式会社 視認窓を有する同軸コネクタ、及び、該同軸コネクタを用いた同軸コネクタ装置

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5227718A (en) 1992-03-10 1993-07-13 Virginia Panel Corporation Double-headed spring contact probe assembly
JP2004247494A (ja) 2003-02-13 2004-09-02 Tdk Corp プローブ装置およびこれを用いた検査装置
WO2016072193A1 (ja) 2014-11-07 2016-05-12 株式会社村田製作所 プローブ
JP6337261B2 (ja) 2016-01-12 2018-06-06 株式会社オフィスサニー 文字シートおよび文字シートセット
WO2018116568A1 (ja) 2016-12-22 2018-06-28 株式会社村田製作所 プローブ構造
WO2019069576A1 (ja) 2017-10-06 2019-04-11 株式会社村田製作所 プローブ
JP2019138768A (ja) 2018-02-09 2019-08-22 株式会社村田製作所 プローブ

Also Published As

Publication number Publication date
WO2020105525A1 (ja) 2020-05-28
CN113039442A (zh) 2021-06-25
US11619654B2 (en) 2023-04-04
KR102538245B1 (ko) 2023-05-31
US20210263072A1 (en) 2021-08-26
TW202026645A (zh) 2020-07-16
KR20210055738A (ko) 2021-05-17
JPWO2020105525A1 (ja) 2021-10-07
TWI724637B (zh) 2021-04-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP7040641B2 (ja) プローブ
US10197598B2 (en) Probe
US8669774B2 (en) Probe pin and an IC socket with the same
CN110088632B (zh) 探测器构造
JP6711469B2 (ja) プローブ
US10948519B2 (en) Probe
JP7095753B2 (ja) プローブ
JP6442668B2 (ja) プローブピンおよびｉｃソケット
CN110581085B (zh) 一体型弹簧针
US11482805B2 (en) Electrical contactor, electrical connecting structure and electrical connecting apparatus
US11162979B2 (en) Plate spring-type connecting pin
KR20100094876A (ko) 스프링 콘택터
US20220155347A1 (en) Electrical contactor and electrical connecting apparatus
JP2007128727A (ja) 接続装置
WO2021235082A1 (ja) プローブ
JP2009115798A (ja) Ｈピンブロック
WO2022163007A1 (ja) プローブ装置
JP7364063B2 (ja) 同軸コネクタ
WO2022130704A1 (ja) 同軸コネクタ
WO2015163160A1 (ja) プローブピンおよびｉｃソケット
KR20180070734A (ko) 양방향 도전성 핀 및 이를 이용한 반도체 테스트 소켓
KR20170119469A (ko) 전기 단자 테스트용 메쉬형 컨택 핀
JP2023026039A (ja) プローブ及び検査用ソケット
JP2004079411A (ja) コネクタ

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20210323

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20220208

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20220221

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7040641

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150