KR20100094876A - 스프링 콘택터 - Google Patents

Abstract

개시된 본 발명에 따른 스프링 콘택터는 복수개의 관통홀이 형성된 하우징 및 상기 복수의 관통홀 각각에 삽입 고정되며, 일측단부 및 타측단부가 상기 하우징 외부로 돌출된 도전성의 스프링을 포함하되, 상기 스프링은 외측 코일 및 상기 외측 코일이 연장되어 상기 외측 코일 내에 수용된 내측 코일로 이루어질 수 있다. 이에 의하면, 스프링을 복수개의 열로 이루어진 코일 형태로 형성하고, 또한 그 단부를 코일이 감긴 방향에 수직한 방향으로 벤딩하여 서로 이격된 격벽을 형성함으로써 결함 검사 시 스프링의 변형량을 줄이고, 접속 단락을 줄일 수 있는 효과를 제공할 수 있다.

Description

스프링 콘택터{SPRING CONTACTOR}

본 발명은 스프링 콘택터에 관한 것으로서, 특히 반도체 소자 등의 결함 검사 등에 사용되는 스프링 콘택터에 관한 것이다.

일반적으로 반도체 소자 등의 제조 공정이 완료되면 테스트 소켓 등과 같은 결함 검사 장비에 의하여 상기 반도체 소자의 전기적 성능을 시험한다.

반도체 소자의 전기적 성능 시험은 결함 검사 장비, 예컨대 테스트 소켓의 콘택부에 반도체 소자의 리드 단자가 접촉되도록 삽입하고, 각 콘택부에 입출력되는 신호를 시험용 회로로써 분석하는 방식으로 이루어지고 있다.

상기 테스트 소켓의 콘택부와 반도체 소자의 리드 단자는 접촉에 의하여 연결되므로, 접촉 저항이 작아야 하고, 빈번한 시험에 의하여 접촉 횟수가 많아지므로 이에 대한 내구성을 가져야 한다.

상기 콘택부는 다양한 형태 및 재질 등이 알려져 오고 있는데, 특히 상기 콘택부로 스프링이 채용된 경우가 있다.

그러나. 상기 콘택부가 스프링으로 형성된 경우, 반도체 소자 등의 빈번한 검사 시 스프링의 변형을 초래할 수 있다.

예컨대, 스프링의 강도가 약한 경우에는 상기 반도체 소자 등과 접촉 시 휘어질 수도 있는데, 이 경우 원상태로 복원되지 않게 되면 다음 검사 시 그 위치에서는 반도체 소자의 결함 검사가 이루어질 수 없게 되는 문제점이 있다.

또한, 반도체 소자 등과 접촉에 의한 스프링의 수축 시 일부가 반도체 소자의 리드 단자로부터 튕겨져 나가 접속 불량이 초래 되는 문제점이 있다.

본 발명은 상기의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 반도체 소자 등의 결함 검사 시 접속 부분인 스프링의 변형을 방지하여 원활한 결함 검사가 이루어질 수 있도록 개선된 스프링 콘택터를 제공하는 것을 그 목적으로 한다.

본 발명에 따른 스프링 콘택터는 복수개의 관통홀이 형성된 하우징 및 상기 복수의 관통홀 각각에 삽입 고정되며, 일측단부 및 타측단부가 상기 하우징 외부로 돌출된 스프링을 포함하되, 상기 스프링은 외측 코일 및 상기 외측 코일이 연장되어 상기 외측 코일 내에 수용된 내측 코일로 이루어질 수 있다.

상기 외측 코일의 단부 및 상기 내측 코일의 단부는 동일선상에 배치되되, 상기 내/외측 코일의 단부는 상기 코일이 형성된 방향에 수직인 방향으로 벤딩될 수 있다.

상기 관통홀들을 형성하는 하우징의 내면 중 중심 부분의 면에는 고정홈이 형성되어 상기 관통홀들의 중심부가 상하부보다 더 큰 직경을 가지며, 상기 외측 코일의 중심부가 상하부보다 더 큰 직경을 가져 상기 외측 코일의 중심부가 상기 고정홈에 삽입될 수 있다.

상기 내측 코일은 상기 외측 코일에 대해 복수의 열로 이루어질 수 있다.

본 발명에 따른 스프링 콘택터에 의하면, 스프링을 복수개의 열로 이루어진 코일 형태로 형성하고, 또한 그 단부를 코일이 감긴 방향에 수직한 방향으로 벤딩하여 서로 이격된 격벽을 형성함으로써 결함 검사 시 스프링의 변형량을 줄이고, 접속 단락을 줄일 수 있는 효과를 제공할 수 있다.

이하 첨부된 도면을 참조하면서 본 발명에 따른 스프링 콘택터에 대해 상세히 설명하기로 한다.

도 1은 일반적으로 스프링 콘택터가 테스트 대상물과 테스트 보드 사이에 개재된 모습을 개략적으로 나타낸 사시도이고, 도 2는 본 발명의 제1 실시예에 따른 스프링 콘택터가 테스트 대상물과 테스트 보드 사이에 개재된 모습을 개략적으로 나타낸 단면도이며, 도 3은 도 2의 스프링을 나타낸 사시도이다.

도 1 내지 도 3을 참조하면, 본 발명의 스프링 콘택터(spring contactor;10)는 반도체 소자 등과 같은 테스트 대상물(test matter;20)과 인쇄회로기판 등과 같은 테스트 보드(test board;30) 사이에 개재되어 테스트 대상물(20)과 테스트 보드(30) 사이를 전기적으로 접속시킬 수 있다.

상기 스프링 콘택터(10)는 하우징(housing;11) 및 스프링(spring;14)을 포함한다.

상기 하우징(11)은 절연체로써 복수개의 관통홀(12)이 형성되며, 상기 관통 홀(12)들은 상기 하우징(11)의 가장자리 부분에 일정한 간격으로 배치될 수 있다.

상기 스프링(14)은 도전성을 가지며, 상기 복수개의 관통홀(12) 각각에 삽입 고정되되, 상부 및 하부가 상기 하우징(11) 외부로 돌출되어, 상부는 상기 테스트 대상물(20)의 단자(21)와 접속되고, 하부는 테스트 보드(30)의 단자(미도시)와 접속될 수 있다.

예컨대, 상기 테스트 대상물(20)이 볼 그리드 어레이(ball grid array)형 반도체 소자이고, 테스트 보드(30)가 인쇄회로기판인 경우, 상기 스프링(14)의 상부는 상기 반도체 소자의 솔더볼(solder ball;21)과 접속되고, 하부는 인쇄회로기판의 배선에 접속될 수 있다.

상기 스프링(14)은 복수열로 배열된 형태일 수 있다.

즉, 상기 스프링(14)은 외측 코일(outer coil;15) 및 상기 외측 코일(15)이 연장되어 외측 코일(15) 내부에 수용된 내측 코일(inner coil;16)로 이루어질 수 있다.

즉, 상기 스프링(14)은 전도성 와이어(wire)가 일단으로부터 일정한 직경과, 일방향 및 일정한 거리만큼 감겨 외측 코일(15)이 형성된 후, 상기 외측 코일(15)의 직경보다 작은 직경으로, 상기 외측 코일(15)이 감긴 방향과 반대 방향 및 외측 코일(15)이 감긴 거리만큼 감겨 내측 코일(16)이 형성될 수 있다.

상기와 같은 구조의 스프링 콘택터(10)에 의하면, 상기 스프링(14) 상하부에 테스트 대상물(20) 및 테스트 보드(30)가 접속 시 2열로 배열된 스프링(14) 구조에 의하여 스프링(14)의 변형량이 적어 접속 단락이 되는 것을 방지할 수 있다.

도 4는 본 발명의 제2 실시예에 따른 스프링 콘택터가 테스트 대상물과 테스트 보드 사이에 개재된 모습을 개략적으로 나타낸 단면도이며, 도 5는 도 4의 스프링을 나타낸 사시도이다.

이하, 제1 실시예와 동일한 구조 및 작용에 대하여는 그 상세한 설명을 생략하기로 한다.

도 4 및 도 5를 참조하면, 본 발명의 스프링 콘택터(10)에서 스프링(14)은 외측 코일(15) 및 외측 코일(15) 내에 수용된 내측 코일(16)을 포함하며, 상기 외측 코일(15)의 단부(15a)와 상기 내측 코일(16)의 단부(16a)는 동일선상에 배치될 수 있다.

즉, 상기 외측 코일(15)의 단부(15a) 및 상기 내측 코일(16)의 단부(16a)는 상단부의 동일선상에 배치될 수 있다.

상기 외측 코일(15)의 단부(15a) 및 상기 내측 코일(16)의 단부(16a)는 상기 코일(15,16)이 감긴 방향에 대해 수직인 방향으로 벤딩될 수 있다.

상기와 같이 외측 코일(15)의 단부(15a) 및 내측 코일(16)의 단부(16a)가 벤딩되면, 서로 이격된 격벽을 형성할 수 있고, 상기 테스트 대상물(20)이 볼 그리드 어레이형 반도체 소자인 경우, 솔더볼(21)이 상기 벤딩된 격벽 사이로 삽입되어 접속될 수 있다.

이 경우, 상기 솔더볼(21)은 양 측면 및 하면이 상기 스프링(14)에 접속될 수 있다.

상기와 같은 구조의 스프링 콘택터(10)에 의하면, 테스트 대상물(20)과의 접 속 시 그 변형을 최소화할 수 있음과 더불어, 예컨대 솔더볼(21)이 접속되는 경우 벤딩된 양 격벽에 의하여 상기 솔더볼(21)을 고정할 수 있으므로 접속 불량을 방지할 수 있다.

도 6은 본 발명의 제3 실시예에 따른 스프링 콘택터가 테스트 대상물과 테스트 보드 사이에 개재된 모습을 개략적으로 나타낸 단면도이며, 도 7은 도 6의 스프링을 나타낸 사시도이다.

이하, 제1 실시예와 동일한 구조 및 작용에 대하여는 그 상세한 설명을 생략하기로 한다.

도 6 및 도 7을 참조하면, 본 발명의 스프링 콘택터(10)에서 하우징(11)의 관통홀(12)을 형성하는 내면의 중심 부분에는 고정홈(13)이 형성되어 상기 관통홀(12)의 중심부 직경, 즉 고정홈(13) 부분의 직경이 상하부의 직경보다 더 크게 형성될 수 있다.

즉, 상기 관통홀(12)을 형성하는 하우징(11)의 내면은 오목부 및 볼록부로 이루어진 요철 형태일 수 있다.

상기 스프링(14)은 외측 코일(15) 및 상기 외측 코일(15)이 연장되되, 상기 외측 코일(15) 내부에 형성된 내측 코일(16)로 이루어지며, 상기 외측 코일(15)의 중심 부분(15c)은 상하부보다 그 직경이 더 크게 형성되어 소위 배불뚝이 형태일 수 있다.

상기 스프링(14)이 상기 하우징(11)의 관통홀(12)에 삽입 시, 전체적으로 볼록하게 형성된 상기 외측 코일(15)의 중심 부분(15c)은 상기 하우징(11)의 고정 홈(13)에 삽입되어 상기 스프링(14)은 상기 하우징(11)의 관통홀(12) 내에 고정될 수 있다.

즉, 상기 하우징(11)의 고정홈(13)은 볼록하게 형성된 스프링(15)의 중심 부분(15c)에 대해 상하 방향으로의 걸림턱 기능을 할 수 있다.

상기와 같은 구조의 스프링 콘택터(10)에 의하면, 상기 스프링(14) 상하부에 테스트 대상물(20) 및 테스트 보드(30)가 접속 시 2열로 배열된 스프링(14) 구조에 의하여 스프링(14)의 변형량이 적어 접속 단락이 되는 것을 방지할 수 있으며, 상기 하우징(11) 내에 상기 스프링(14)을 적절히 고정할 수 있다.

도 8은 본 발명의 제4 실시예에 따른 스프링 콘택터가 테스트 대상물과 테스트 보드 사이에 개재된 모습을 개략적으로 나타낸 단면도이며, 도 9는 도 8의 스프링을 나타낸 사시도이다.

이하 제1 실시예 및 제3 실시예와 동일한 구조 및 작용에 대하여는 그 상세한 설명을 생략하기로 한다.

도 8 및 도 9를 참조하면, 본 발명의 스프링 콘택터(10)에서 하우징(11)의 내면에는 고정홈(13)이 형성되고, 상기 스프링(14) 중 외측 코일(15)의 중심 부분(15c)은 상하부보다 더 큰 직경을 갖도록 볼록하게 형성되며, 상기 외측 코일(15) 및 내측 코일(16)의 각 단부(15d,16a)는 동일선상에 배치되어 코일(15,16)이 감긴 방향에 수직한 방향으로 벤딩될 수 있다.

상기 외측 코일(15) 및 내측 코일(16)의 벤딩된 단부(15d,16a)는 서로 소정의 간격으로 이격되어 격벽을 형성할 수 있다.

상기와 같은 구조의 스프링 콘택터(10)에 의하면, 테스트 대상물(20)과의 접속 시 그 변형을 최소화할 수 있음과 더불어, 예컨대 솔더볼(21)이 접속되는 경우 벤딩된 양 격벽에 의하여 상기 솔더볼(21)을 고정할 수 있으므로 접속 불량을 방지할 수 있다.

또한, 하우징(11)의 고정홈(13)에 외측 코일(15)의 볼록한 중심부(15c)가 삽입 고정되므로 상기 스프링(14)을 상기 하우징(11)의 관통홀(12) 내에 적절히 고정할 수 있다.

도 10 및 도 11은 본 발명의 제5 실시예 및 제6 실시예에 따라 스프링을 개략적으로 나타낸 사시도이다.

이하 상기 제1 내지 제4 실시예와 동일한 구성과, 작용 및 효과에 대하여는 그 상세한 설명을 생략하기로 한다.

도 10을 참조하면, 본 발명의 스프링(14)은 외측 코일(15) 및 상기 외측 코일(15)이 연장되어 상기 외측 코일(15) 내에 수용된 내측 코일(16)로 이루어지되, 상기 내측 코일(16)은 복수개의 열로 이루어질 수 있다.

예컨대, 상기 내측 코일(16)이 제1 내측 코일(16b) 및 제2 내측 코일(16c)로 이루어진다면, 상기 제1 내측 코일(16b)은 상기 외측 코일(15)로부터 직접 연장되되, 상기 외측 코일(15)이 감긴 방향에 반대 방향으로 감기게 되고, 상기 제2 내측 코일(16c)은 상기 제1 내측 코일(16b)로부터 연장되되, 코일이 감긴 방향은 상기 외측 코일(15)이 감긴 방향과 동일한 방향일 수 있다.

도 11을 참조하면, 본 발명의 스프링(14)은 제5 실시예와 같이 내측 코 일(16)이 복수개의 열로 이루어지되, 외측 코일(15)의 중심 부분(15c)은 상하부보다 더 큰 직경을 갖도록 볼록하게 형성될 수 있다.

한편, 제5 및 제6 실시예에도 상기 외측 코일(15)의 단부 및 내측 코일(16)의 단부의 벤딩에 의해 서로 이격된 격벽이 형성될 수 있으며, 상기 격벽에 테스트 대상물의 솔더볼 등이 삽입되어 결함 검사가 진행될 수 있다.

상기와 같은 실시예에 의한 본 발명의 스프링 콘택터(10)는 종래와 같은 연성의 재질로 이루어진 스프링(14)을 사용하되, 복수개의 열 및 단부의 벤딩에 의해 결함 검사 시 스프링(14)의 변형량을 줄이고, 접속 단락을 줄일 수 있는 효과를 제공할 수 있다.

도 1은 일반적으로 스프링 콘택터가 테스트 대상물과 테스트 보드 사이에 개재된 모습을 개략적으로 나타낸 사시도.

도 2는 본 발명의 제1 실시예에 따른 스프링 콘택터가 테스트 대상물과 테스트 보드 사이에 개재된 모습을 개략적으로 나타낸 단면도.

도 3은 도 2의 스프링을 나타낸 사시도.

도 4는 본 발명의 제2 실시예에 따른 스프링 콘택터가 테스트 대상물과 테스트 보드 사이에 개재된 모습을 개략적으로 나타낸 단면도.

도 5는 도 4의 스프링을 나타낸 사시도.

도 6은 본 발명의 제3 실시예에 따른 스프링 콘택터가 테스트 대상물과 테스트 보드 사이에 개재된 모습을 개략적으로 나타낸 단면도.

도 7은 도 6의 스프링을 나타낸 사시도.

도 8은 본 발명의 제4 실시예에 따른 스프링 콘택터가 테스트 대상물과 테스트 보드 사이에 개재된 모습을 개략적으로 나타낸 단면도.

도 9는 도 8의 스프링을 나타낸 사시도.

도 10 및 도 11은 본 발명의 제5 실시예 및 제6 실시예에 따라 스프링을 개략적으로 나타낸 사시도.

Claims (5)

1. 복수개의 관통홀이 형성된 하우징; 및

   상기 복수의 관통홀 각각에 삽입 고정되며, 일측단부 및 타측단부가 상기 하우징 외부로 돌출된 도전성의 스프링을 포함하되,

   상기 스프링은 외측 코일 및 상기 외측 코일이 연장되어 상기 외측 코일 내에 수용된 내측 코일로 이루어진 것을 특징으로 하는 스프링 콘택터.
2. 청구항 1에 있어서,

   상기 외측 코일의 단부 및 상기 내측 코일의 단부는 동일선상에 배치되되,

   상기 내/외측 코일의 단부는 상기 코일이 형성된 방향에 수직인 방향으로 벤딩된 것을 특징으로 하는 스프링 콘택터.
3. 청구항 1에 있어서,

   상기 관통홀들을 형성하는 하우징의 내면 중 중심 부분의 면에는 고정홈이 형성되어 상기 관통홀들의 중심부가 상하부보다 더 큰 직경을 가지며,

   상기 외측 코일의 중심부가 상하부보다 더 큰 직경을 가져 상기 외측 코일의 중심부가 상기 고정홈에 삽입되는 것을 특징으로 하는 스프링 콘택터.
4. 청구항 3에 있어서,

   상기 외측 코일의 단부 및 상기 내측 코일의 단부는 동일선상에 배치되되,

   상기 내/외측 코일의 단부는 상기 코일이 형성된 방향에 수직인 방향으로 벤딩된 것을 특징으로 하는 스프링 콘택터.
5. 청구항 1에 있어서,

   상기 내측 코일은 상기 외측 코일에 대해 복수의 열로 이루어진 것을 특징으로 하는 스프링 콘택터.

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