JP4614434B2 - プローブ - Google Patents

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本発明は、ソケットに配設され、このソケットに配設される基板と被検査部材の間を電気的導通させるためのプローブに関するものである。
従来より、半導体やICソケットなどの被検査部材の電気特性試験において、ソケットに両端部に可動端子を有するプローブを複数本配設し、ソケットに配設したICテスタなどの基板に一方の可動端子を弾接させ、他方の可動端子に被検査部材を弾接させ、もって基板と被検査部材の間の電気的導通が図られる。
かかる従来例のプローブの構造の一例を図を参照して説明する。図は、従来のプローブの一例の縦断面図である。導電性の筒状部材10の両端部に狭搾部10a、10aが形成される。この筒状部材10内の両端側に、小径の突出部12a、12aを外方に突出させるとともに大径の内側端部12b、12bにより外方への抜けが規制される導電性の可動端子12、12が軸方向に摺動自在にそれぞれに配設される。しかも、筒状部材10内の2つの可動端子12、12の間にコイルスプリング14が縮設されて、プローブ16が構成されている。そして、このプローブ16が一例として絶縁材からなるソケット18に可動端子12、12の突出部12a、12aの先端がそれぞれに表面から外方に突出するようにして複数本配設され、さらにソケット18の一方の面にICテスタなどの基板20が配設される。なお、ソケット18が導電材からなり、ソケット18とプローブ16の間に絶縁材が介装され、プローブ16がソケット18に対して電気的絶縁状態に配設されて同軸構造が形成されても良い。また、導電材からなるソケット18をグランドとして作用させ、プローブ16がソケット18に電気的導通状態に配設されて、プローブ16をグランド接地用の端子として作用させても良い。さらに、導電材からなるソケット18とプローブ16の間に誘電体を介装させてプローブ16とソケット18を電極とするコンデンサを形成させ、プローブ16を貫通型コンデンサの端子として作用させても良い。
かかる構成において、一方の可動端子12の突出部12aの先端がコイルスプリング14の弾力により基板20に弾接して、プローブ16と基板20の電気的接続がなされる。また、ソケット18の他方の面に被検査部材を接近させて、この被検査部材に他方の可動端子12の突出部12aの先端を当接させれば、コイルスプリング14の弾力により弾接して、プローブ16と被検査部材の電気的接続がなされる。もって、プローブ16を介して、基板20と被検査部材の電気的接続が図られる。なお、両端部の2つの可動端子12、12は、筒状部材10およびコイルスプリング14を介して良好な電気的導通状態にあることは勿論である。
上述の従来例のプローブ16にあっては、両端部の可動端子12、12が基板20と被検査部材とに弾接する弾力は同じである。そこで、一方の可動端子12を被検査部材に所定の弾力で弾接させて確実な電気的導通を確保するためには、基板20に対しても所定の大きさの弾力が加わることとなる。ところで、近年は、ICの多ピン化などによりソケット18に配設されるプローブ16の本数が増大している。そして、ICの動作速度が高速であるので、プローブ16自体のインダクタンス成分をより小さくすべく、その軸方向長さが短く設定され、これに伴いソケット18の厚さが薄くなる傾向にある。
そこで、プローブ16の基板20に弾接する弾力が大きいと、本数の増加によりソケット18に加わる総和の力は極めて大きなものとなる。しかも、ソケット18の厚さは薄くなって機械的強度は小さくなっている。この結果、ソケット18がプローブ16の弾力で撓み、プローブ16の可動端子12の先端の位置精度が悪いという不具合が生ずる。また、ソケット18に基板20を配設する際には、総和の大きな力に抗して作業をしなければならず、作業性が悪いという不具合もあった。
ところで、特開2003−329707号公報(特許文献1)には、被検査部材の一例である半田ボールに対して可動端子が弾接する力を小さなものとし、半田ボールに傷が付かないようにした技術が示されている。しかるに、この特許文献1には、ソケットと基板の間に作用する弾力によるソッケトの撓みなどについては何ら記述されていない。
特開2003−329707号公報
本発明は、上述したごとき従来のプローブの事情に鑑みてなされたもので、プローブが配設されるソケットに撓みがなく、高い位置精度が得られるプローブを提供することを目的とする。
かかる目的を達成するために、本発明のプローブは、導電性の筒状部材の両端部に狭搾部を設け、前記狭搾部から突出部を外方に突出させるとともに外方に抜け出さないように大径の内側端部を設けて軸方向に摺動自在に導電性の可動端子をそれぞれに配設し、2つの前記可動端子の間に縮設されるコイルスプリングにより前記可動端子を突出方向にそれぞれ弾性付勢し、しかもソケットに配設され、前記ソケットの一方の面に基板が配設されて一方の前記可動端子が前記基板に弾接し、前記ソケットの他方の面に被検査部材が接近して他方の前記可動端子が弾接するプローブにおいて、前記コイルスプリングが大きい弾力の部分と小さい弾力の部分とを有して2つのバネ定数を備え、前記ソケットに前記基板が配設されて小さい弾力の部分の作用により小さいバネ定数の弾力で一方の前記可動端子が前記基板に弾接し、前記ソケットに前記被検査部材が接近すると、前記小さい弾力の部分が密着巻き状態となって前記コイルスプリングの大きな弾力の部分の作用により大きなバネ定数で前記可動端子がそれぞれに前記基板と前記被検査部材に弾接するように構成されている。
そして、前記コイルスプリングに巻きピッチの大きい部分と巻きピッチの小さい部分を設けて2つのバネ定数を設定し、前記巻きピッチの小さい部分の弾力により一方の前記可動端子が前記基板に弾接するように構成しても良い。
また、前記コイルスプリングに巻き径の大きい部分と巻き径の小さい部分を設けて2つのバネ定数を設定し、前記巻き径の大きい部分の弾力により一方の前記可動端子が前記基板に弾接するように構成しても良い。
さらに、前記コイルスプリングに線径の太い部分と線径の細い部分を設けて2つのバネ定数を設定し、前記線径の細い部分の弾力により一方の前記可動端子が前記基板に弾接するように構成しても良い。
そしてまた、導電性の筒状部材の両端部に狭搾部を設け、前記狭搾部から突出部を外方に突出させるとともに外方に抜け出さないように大径の内側端部を設けて軸方向に摺動自在に導電性の可動端子をそれぞれに配設し、コイルスプリングにより前記可動端子を突出方向にそれぞれ弾性付勢し、しかもソケットに配設され、前記ソケットの一方の面に基板が配設されて一方の前記可動端子が前記基板に弾接し、前記ソケットの他方の面に被検査部材が接近して他方の前記可動端子が弾接するプローブにおいて、巻き径が異なる2つのコイルバネを同軸上に配設して前記コイルスプリングとなし、一方の小さい巻径の前記コイルバネを自然状態で両端側の前記可動端子の間で縮設されずに一方の前記可動端子が収容方向に所定寸法だけ移動されて始めて両端側の前記可動端子の間で縮設される寸法に設定し、他方の大きい巻径の前記コイルバネを両端側の前記可動端子の間で縮設される寸法に設定し、前記ソケットに前記基板が配設されて大きい巻径のコイルバネの弾力で一方の前記可動端子が前記基板に弾接し、前記ソケットに前記被検査部材が接近すると、2つの前記コイルバネのそれぞれの弾力による前記コイルスプリング全体の大きな弾力で前記可動端子がそれぞれに前記基板と前記被検査部材に弾接するように構成することもできる。
請求項1記載のプローブにあっては、2つの可動端子の間に縮設されるコイルスプリングが2つのバネ定数を備え、小さいバネ定数の弾力で一方の可動端子を基板に弾接させるので、プローブの本数が多くてもソケットおよび基板に加わる弾力の総和は、従来に比較して小さなものとすることができる。そこで、ソケットの撓みが抑制され、プローブの可動端子の位置精度が向上する。そして、被検査部材が他方の可動端子に弾接すると、コイルスプリングの小さい弾力の部分が密着巻き状態となって大きなバネ定数で可動端子がそれぞれに基板と被検査部材に弾接し、確実な電気的接続が得られる。
請求項2ないし4記載のいずれのプローブにあっても、簡単な構成によりコイルスプリングに2つのバネ定数を設定することができる。
請求項5記載のプローブにあっては、巻き径が異なる2つのコイルバネを同軸上に配設してコイルスプリングとなし、可動端子が所定寸法だけ収容方向に移動するまでは大きい巻径のコイルバネの弾力で一方の可動端子が基板に弾接し、被検査部材が接近すると2つのコイルバネのそれぞれの弾力によるコイルスプリング全体の大きな弾力で可動端子がそれぞれに基板と被検査部材に弾接するので、2つのコイルバネのバネ定数を適宜に設定することで、基板に一方の可動端子が当接する弾力と、被検査部材が接近して可動端子がそれぞれに基板と被検査部材に当接する弾力とを任意に設定することができる。そこで、被検査部材が他方の可動端子に弾接すると、コイルスプリング全体の大きな弾力で可動端子がそれぞれに基板と被検査部材に弾接し、確実な電気的接続が得られる。しかも、請求項1のプローブと同様に、大きい巻き径のコイルバネの弾力で一方の可動端子を基板に弾接させるので、プローブの本数が多くてもソケットおよび基板に加わる弾力の総和は、従来に比較して小さなものとすることができる。そこで、ソケットの撓みが抑制され、プローブの可動端子の位置精度が向上する。
以下、本発明の第1実施例を図1を参照して説明する。図1は、本発明のプローブの第1実施例の縦断面図であり、(a)はソケットに基板が配設されていない状態を示し、(b)はソケットに基板が配設された状態を示す。図1において、図と同じまたは均等な部材には同じ符号を付けて重複する説明を省略する。
図1に示す第1実施例のプローブ44において、図に示す従来例と相違するところは、筒状部材10内の2つの可動端子12、12の間に縮設されるコイルスプリング24が巻きピッチの大きな部分24aと巻きピッチの小さい部分24bとからなることにある。この巻きピッチの大きな部分24aは大きな弾力を備え、巻きピッチの小さな部分24bは小さな弾力を備える。そこで、コイルスプリング24は2つの異なるバネ定数を有する。
そこで、図1(b)に示すごとく、ソケット18に基板20が配設されると、一方の可動端子12は巻きピッチの小さい部分24bの小さな弾力により基板20に弾接する。そこで、ソケット18および基板20に加わる総和の弾力は、従来のものよりも小さく設定でき、ソケット18が撓むようなことがない。そして、他方の可動端子12は巻きピッチの大きな部分24aの大きな弾力で被検査部材に弾接し得る。なお、図1にあっては、基板20に当接する可動端子12側に巻きピッチの小さな部分24bが配設されるが、巻きピッチの大きな部分24aが配設されていてもかまわない。そして、基板20に一方の可動端子12が弾接した状態で巻きピッチの小さな部分24bが密着巻き状態となるように設定することが望ましい。すると、被検査部材に対して他方の可動端子12は、弾接当初より巻きピッチの大きな部分24aの大きな弾力で弾接することができる。そこで、被検部材が接近した状態では、2つの可動端子12、12を巻きピッチの大きな部分24aの大きな弾力で、基板20と被検査部材にそれぞれに弾接させることができ、基板20と被検査部材に確実な電気的接続が得られる。
本発明の第2実施例を図2を参照して説明する。図2は、本発明のプローブの第2実施例の縦断面図であり、(a)はソケットに基板が配設されていない状態を示し、(b)はソケットに基板が配設された状態を示す。図2において、図1および図と同じまたは均等な部材には同じ符号を付けて重複する説明を省略する。
図2に示す第2実施例のプローブ46において、図1に示す第1実施例と相違するところは、筒状部材10内の2つの可動端子12、12の間に縮設されるコイルスプリング26が巻き径の小さい部分26aと巻き径の大きな部分26bとからなることにある。この巻き径の小さな部分26aは大きな弾力を備え、巻き径の大きな部分24bは小さな弾力を備える。そこで、コイルスプリング26は2つの異なるバネ定数を有する。一方の可動端子12が巻き径の大きな部分26bの弾力により基板20に弾接される。図2(b)に示すごとく、一方の可動端子12が基板20に弾接した状態で巻き径の大きな部分26bが密着巻きの状態となることが望ましい。
本発明の第3実施例を図3を参照して説明する。図3は、本発明のプローブの第3実施例の縦断面図であり、(a)はソケットに基板が配設されていない状態を示し、(b)はソケットに基板が配設された状態を示す。図3において、図1と図2および図と同じまたは均等な部材には同じ符号を付けて重複する説明を省略する。
図3に示す第3実施例のプローブ48において、図1に示す第1実施例と相違するところは、コイルスプリング28が線径の太い部分28aと線径の細い部分28bとからなることにある。なお、図3では、線径の太い部分28aと線径の細い部分28bの巻き径は同じで巻きピッチは線径の細い部分28bが小さくなっている。線径の太い部分28aは大きな弾力を備え、線径の細い部分28bは小さな弾力を備える。そこで、コイルスプリング28は2つの異なるバネ定数を有する。一方の可動端子12が線径の細い部分28bの弾力により基板20に弾接される。図3(b)に示すごとく、一方の可動端子12が基板20に弾接した状態で線径の細い部分28bが密着巻きの状態となることが望ましい。
本発明の第4実施例を図4を参照して説明する。図4は、本発明のプローブの第4実施例の縦断面図であり、(a)はソケットに基板が配設されていない状態を示し、(b)はソケットに基板が配設された状態を示す。図4において、図1ないし図3および図と同じまたは均等な部材には同じ符号を付けて重複する説明を省略する。
図4に示す第4実施例のプローブ50において、図1に示す第1実施例と相違するところは、コイルスプリング30が巻き径の異なる2つのコイルバネ32、34が同軸上に配設されて構成されたことにある。しかも、一方の巻き径が大きいコイルバネ32は、2つの可動端子12、12の間に縮設され、他方の巻き径が小さいコイルバネ34は自然状態で2つの可動端子12、12の間で縮設されずに一方の可動端子12が収容方向に所定寸法dだけ移動されて初めて両端側の可動端子12、12の間で縮設され得る寸法に設定される。なお、一方の巻き径の大きなコイルバネ32の巻きピッチは、他方の巻き径の小さなコイルバネ34の巻きピッチより大きく設定される。そこで、図4(b)のごとく、ソケット18に基板20が配設されると、一方の巻き径の大きなコイルバネ32の弾力により一方の可動端子12が基板20に弾接される。そして、他方の可動端子12に被検査部材が当接すれば、2つのコイルバネ32、34のそれぞれの弾力によるコイルスプリング30全体の大きな弾力により弾接することとなる。なお、第4実施例において、径の異なる2つのコイルバネ32、34が別部材として形成され、これらのコイルバネ32、34が弾接する可動端子12、12の端部が適宜な形状とされていて、2つのコイルバネ32、34が確実に同軸上に配設されるようにしても良い。また、図5に示すごとく、2つのコイルバネ32、34がその一端側(図4で下側)で連結される一部材として形成され、それ自体によって同軸上に配設される構成としても良い。
なお、上記実施例において、巻きピッチや巻き径および線径の違いにより、バネ定数を大きいものと小さいものに設定しているが、これらを適宜に組み合わせてバネ定数を適宜に設定しても良いことは勿論である。例えば、巻きピッチが大きくしかも巻き径が小さなの部分と巻きピッチが小さくしかも巻き径が大きな部分により、2つの異なるバネ定数を設定しても良い。
本発明のプローブの第1実施例の縦断面図であり、(a)はソケットに基板が配設されていない状態を示し、(b)はソケットに基板が配設された状態を示す。 本発明のプローブの第2実施例の縦断面図であり、(a)はソケットに基板が配設されていない状態を示し、(b)はソケットに基板が配設された状態を示す。 本発明のプローブの第3実施例の縦断面図であり、(a)はソケットに基板が配設されていない状態を示し、(b)はソケットに基板が配設された状態を示す。 本発明のプローブの第4実施例の縦断面図であり、(a)はソケットに基板が配設されていない状態を示し、(b)はソケットに基板が配設された状態を示す。 本発明のプローブの第4実施例の2つのコイルバネの一端側が連結されて一部材として形成される例を示す図である。 従来のプローブの一例の縦断面図である。
10 筒状部材
10a 狭搾部
12 可動端子
12a 突出部
12b 内側端部
14、24、26、28、30 コイルスプリング
16、44、46、48、50、52、54、56 プローブ
18 ソケット
20 基板
24a 巻きピッチの大きな部分
24b 巻きピッチの小さな部分
26a 巻き径の小さい部分
26b 巻き径の大きい部分
28a 線径の太い部分
28b 線径の細い部分
32、34 コイルバネ
d 所定寸法

Claims (5)

  1. 導電性の筒状部材の両端部に狭搾部を設け、前記狭搾部から突出部を外方に突出させるとともに外方に抜け出さないように大径の内側端部を設けて軸方向に摺動自在に導電性の可動端子をそれぞれに配設し、2つの前記可動端子の間に縮設されるコイルスプリングにより前記可動端子を突出方向にそれぞれ弾性付勢し、しかもソケットに配設され、前記ソケットの一方の面に基板が配設されて一方の前記可動端子が前記基板に弾接し、前記ソケットの他方の面に被検査部材が接近して他方の前記可動端子が弾接するプローブにおいて、前記コイルスプリングが大きい弾力の部分と小さい弾力の部分とを有して2つのバネ定数を備え、前記ソケットに前記基板が配設されて小さい弾力の部分の作用により小さいバネ定数の弾力で一方の前記可動端子が前記基板に弾接し、前記ソケットに前記被検査部材が接近すると、前記小さい弾力の部分が密着巻き状態となって前記コイルスプリングの大きい弾力の部分の作用により大きなバネ定数で前記可動端子がそれぞれに前記基板と前記被検査部材に弾接するように構成したことを特徴とするプローブ。
  2. 請求項1記載のプローブにおいて、前記コイルスプリングに巻きピッチの大きい部分と巻きピッチの小さい部分を設けて2つのバネ定数を設定し、前記巻きピッチの小さい部分の弾力により一方の前記可動端子が前記基板に弾接するように構成したことを特徴とするプローブ。
  3. 請求項1記載のプローブにおいて、前記コイルスプリングに巻き径の大きい部分と巻き径の小さい部分を設けて2つのバネ定数を設定し、前記巻き径の大きい部分の弾力により一方の前記可動端子が前記基板に弾接するように構成したことを特徴とするプローブ。
  4. 請求項1記載のプローブにおいて、前記コイルスプリングに線径の太い部分と線径の細い部分を設けて2つのバネ定数を設定し、前記線径の細い部分の弾力により一方の前記可動端子が前記基板に弾接するように構成したことを特徴とするプローブ。
  5. 導電性の筒状部材の両端部に狭搾部を設け、前記狭搾部から突出部を外方に突出させるとともに外方に抜け出さないように大径の内側端部を設けて軸方向に摺動自在に導電性の可動端子をそれぞれに配設し、コイルスプリングにより前記可動端子を突出方向にそれぞれ弾性付勢し、しかもソケットに配設され、前記ソケットの一方の面に基板が配設されて一方の前記可動端子が前記基板に弾接し、前記ソケットの他方の面に被検査部材が接近して他方の前記可動端子が弾接するプローブにおいて、巻き径が異なる2つのコイルバネを同軸上に配設して前記コイルスプリングとなし、一方の小さい巻径の前記コイルバネを自然状態で両端側の前記可動端子の間で縮設されずに一方の前記可動端子が収容方向に所定寸法だけ移動されて始めて両端側の前記可動端子の間で縮設される寸法に設定し、他方の大きい巻径の前記コイルバネを両端側の前記可動端子の間で縮設される寸法に設定し、前記ソケットに前記基板が配設されて大きい巻径のコイルバネの弾力で一方の前記可動端子が前記基板に弾接し、前記ソケットに前記被検査部材が接近すると、2つの前記コイルバネのそれぞれの弾力による前記コイルスプリング全体の大きな弾力で前記可動端子がそれぞれに前記基板と前記被検査部材に弾接するように構成したことを特徴とするプローブ。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102013175B1 (ko) * 2019-06-13 2019-08-22 주식회사 제네드 교체 가능한 더블타입 프로브 핀
KR102013176B1 (ko) * 2019-06-13 2019-08-22 주식회사 제네드 교체 가능한 싱글타입 프로브 핀

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4685694B2 (ja) * 2006-04-14 2011-05-18 株式会社エンプラス コンタクトピン及び電気部品用ソケット
JP4832213B2 (ja) 2006-08-18 2011-12-07 株式会社ヨコオ プローブ
JP4939879B2 (ja) * 2006-09-13 2012-05-30 株式会社エンプラス 電気接触子、及び、電気部品用ソケット
WO2008133209A1 (ja) * 2007-04-19 2008-11-06 Nhk Spring Co., Ltd. 導電性接触子および導電性接触子ユニット
JP2009250917A (ja) * 2008-04-10 2009-10-29 Nidec-Read Corp 基板検査用治具及び検査用接触子
JP2010091358A (ja) * 2008-10-07 2010-04-22 Unitechno Inc 検査用ソケット
JP5298817B2 (ja) * 2008-12-08 2013-09-25 日本電気株式会社 半導体パッケージ用ソケット
JP5503477B2 (ja) * 2010-09-13 2014-05-28 シチズンセイミツ株式会社 コンタクトプローブ及びこれを用いた電子回路試験装置
JP5845678B2 (ja) * 2011-07-21 2016-01-20 日本電産リード株式会社 検査用接触子及び検査用治具
JP5465229B2 (ja) * 2011-11-14 2014-04-09 株式会社エンプラス 電気接触子
JP5861423B2 (ja) * 2011-12-06 2016-02-16 山一電機株式会社 コンタクトプローブ及びそれを備えた半導体素子用ソケット
JP2013190270A (ja) * 2012-03-13 2013-09-26 Nidec-Read Corp プローブ及び接続治具
JP2014197489A (ja) * 2013-03-29 2014-10-16 株式会社エンプラス 電気部品用ソケット
JP6212235B2 (ja) * 2014-05-23 2017-10-11 アルプス電気株式会社 圧接コネクタ
KR101841107B1 (ko) * 2016-04-27 2018-03-22 주식회사 아이에스시 양분형 탐침 장치
KR101841108B1 (ko) * 2016-04-27 2018-03-22 주식회사 아이에스시 양분형 탐침 장치
JP7063609B2 (ja) * 2017-12-26 2022-05-09 株式会社エンプラス プローブピン及びソケット
KR102421924B1 (ko) * 2020-04-29 2022-07-21 주식회사 케이엠더블유 커넥팅 장치
CN112083200A (zh) * 2020-09-11 2020-12-15 苏州韬盛电子科技有限公司 一种新型高频测试插座
WO2023181906A1 (ja) * 2022-03-25 2023-09-28 株式会社ヨコオ スプリングコネクタ

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08100801A (ja) * 1994-09-30 1996-04-16 Yokogawa Electric Corp 電空ポジショナ
JP2002156387A (ja) * 2000-11-20 2002-05-31 Seiko Epson Corp 半導体測定装置のコンタクトピン
JP2002231399A (ja) * 2001-02-02 2002-08-16 Fujitsu Ltd 半導体装置試験用コンタクタ及びその製造方法
JP2003172748A (ja) * 2001-12-10 2003-06-20 Nhk Spring Co Ltd 導電性接触子
JP2003329707A (ja) * 2002-05-08 2003-11-19 Nec Kyushu Ltd コンタクトプローブピン
JP2004152495A (ja) * 2002-10-28 2004-05-27 Yamaichi Electronics Co Ltd 狭ピッチicパッケージ用icソケット

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08100801A (ja) * 1994-09-30 1996-04-16 Yokogawa Electric Corp 電空ポジショナ
JP2002156387A (ja) * 2000-11-20 2002-05-31 Seiko Epson Corp 半導体測定装置のコンタクトピン
JP2002231399A (ja) * 2001-02-02 2002-08-16 Fujitsu Ltd 半導体装置試験用コンタクタ及びその製造方法
JP2003172748A (ja) * 2001-12-10 2003-06-20 Nhk Spring Co Ltd 導電性接触子
JP2003329707A (ja) * 2002-05-08 2003-11-19 Nec Kyushu Ltd コンタクトプローブピン
JP2004152495A (ja) * 2002-10-28 2004-05-27 Yamaichi Electronics Co Ltd 狭ピッチicパッケージ用icソケット

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102013175B1 (ko) * 2019-06-13 2019-08-22 주식회사 제네드 교체 가능한 더블타입 프로브 핀
KR102013176B1 (ko) * 2019-06-13 2019-08-22 주식회사 제네드 교체 가능한 싱글타입 프로브 핀

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