JP2006098254A - プローブ - Google Patents
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Abstract
【解決手段】導電性の筒状部材10の両端部に導電性の可動端子12、12をそれぞれに配設し、コイルスプリング24で可動端子を外方にそれぞれ弾性付勢するプローブ44であって、基板20が配設された絶縁材からなるソケット18に配設される。コイルスプリング24に巻きピッチの大きい部分24aと巻きピッチの小さい部分24bを設けて2つのバネ定数を設定する。巻きピッチの小さい部分24bの小さな弾力により一方の可動端子12を基板20に弾接する。配設するプローブ44の本数が多くしかもソケット18の厚みが薄くても、ソケット18に加わる総和の弾力を小さくでき、ソケット18が撓むようなことがなく、プローブ12の突出部12aの先端の位置精度が向上する。
【選択図】 図1
Description
10a 狭搾部
12 可動端子
12a 突出部
12b 内側端部
14、24、26、28、30 コイルスプリング
16、44、46、48、50、52、54、56 プローブ
18 ソケット
20 基板
24a 巻きピッチの大きな部分
24b 巻きピッチの小さな部分
26a 巻き径の小さい部分
26b 巻き径の大きい部分
28a 線径の太い部分
28b 線径の細い部分
32、34 コイルバネ
36 補助板
38 突起部
d 所定寸法
Claims (7)
- 導電性の筒状部材の両端部に狭搾部を設け、前記狭搾部から突出部を外方に突出させるとともに外方に抜け出さないように大径の内側端部を設けて軸方向に摺動自在に導電性の可動端子をそれぞれに配設し、コイルスプリングにより前記可動端子を突出方向にそれぞれ弾性付勢するプローブであって、しかもソケットに配設され、前記ソケットに基板が配設されて一方の前記可動端子が前記基板に弾接するプローブにおいて、前記コイルスプリングが2つのバネ定数を備え、小さいバネ定数の弾力で一方の前記可動端子が前記基板に弾接するように構成したことを特徴とするプローブ。
- 請求項1記載のプローブにおいて、前記コイルスプリングに巻きピッチの大きい部分と巻きピッチの小さい部分を設けて2つのバネ定数を設定し、前記巻きピッチの小さい部分の弾力により一方の前記可動端子が前記基板に弾接するように構成したことを特徴とするプローブ。
- 請求項1記載のプローブにおいて、前記コイルスプリングに巻き径の大きい部分と巻き径の小さい部分を設けて2つのバネ定数を設定し、前記巻き径の大きい部分の弾力により一方の前記可動端子が前記基板に弾接するように構成したことを特徴とするプローブ。
- 請求項1記載のプローブにおいて、前記コイルスプリングに線径の太い部分と線径の細い部分を設けて2つのバネ定数を設定し、前記線径の細い部分の弾力により一方の前記可動端子が前記基板に弾接するように構成したことを特徴とするプローブ。
- 請求項1記載のプローブにおいて、巻き径の異なる2つのコイルバネを同軸上に配設して前記コイルスプリングとなし、一方の前記コイルバネを自然状態で両端側の前記可動端子の間で縮設されずに一方の前記可動端子が収容方向に所定寸法だけ移動されて始めて縮設される寸法に設定し、他方の前記コイルバネを両端側の前記可動端子の間で縮設される寸法に設定し、一方の前記可動端子が略前記所定寸法だけ収容方向に移動された状態で他方の前記コイルバネの弾力により一方の前記可動端子が前記基板に弾接するように構成したことを特徴とするプローブ。
- 請求項2ないし4記載のいずれかのプローブにおいて、前記コイルスプリングをバネ定数の異なる2つの部分に分け、その間に仕切り用の補助板を介装して構成したことを特徴とするプローブ。
- 請求項2ないし4記載のいずれかのプローブにおいて、前記コイルスプリングをバネ定数の異なる2つの部分に分け、その間を仕切るように前記筒状部材に内側に突出する突起部を設けて構成したことを特徴とするプローブ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004285772A JP4614434B2 (ja) | 2004-09-30 | 2004-09-30 | プローブ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004285772A JP4614434B2 (ja) | 2004-09-30 | 2004-09-30 | プローブ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006098254A true JP2006098254A (ja) | 2006-04-13 |
JP4614434B2 JP4614434B2 (ja) | 2011-01-19 |
Family
ID=36238211
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004285772A Active JP4614434B2 (ja) | 2004-09-30 | 2004-09-30 | プローブ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4614434B2 (ja) |
Cited By (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007287427A (ja) * | 2006-04-14 | 2007-11-01 | Enplas Corp | コンタクトピン及び電気部品用ソケット |
JP2008046034A (ja) * | 2006-08-18 | 2008-02-28 | Yokowo Co Ltd | プローブ |
JP2008070178A (ja) * | 2006-09-13 | 2008-03-27 | Enplas Corp | 電気接触子、及び、電気部品用ソケット |
JP2009250917A (ja) * | 2008-04-10 | 2009-10-29 | Nidec-Read Corp | 基板検査用治具及び検査用接触子 |
JP2010091358A (ja) * | 2008-10-07 | 2010-04-22 | Unitechno Inc | 検査用ソケット |
JP2010135249A (ja) * | 2008-12-08 | 2010-06-17 | Nec Corp | 半導体パッケージ用ソケット |
JP2012032411A (ja) * | 2011-11-14 | 2012-02-16 | Enplas Corp | 電気接触子 |
JP2012058210A (ja) * | 2010-09-13 | 2012-03-22 | Citizen Tohoku Kk | コンタクトプローブ及びこれを用いた電子回路試験装置 |
JP2013024716A (ja) * | 2011-07-21 | 2013-02-04 | Nidec-Read Corp | 検査用接触子及び検査用治具 |
WO2013084730A1 (ja) * | 2011-12-06 | 2013-06-13 | 山一電機株式会社 | コンタクトプローブ及びそれを備えた半導体素子用ソケット |
CN103308733A (zh) * | 2012-03-13 | 2013-09-18 | 日本电产理德株式会社 | 探针和连接夹具 |
JP5361710B2 (ja) * | 2007-04-19 | 2013-12-04 | 日本発條株式会社 | 導電性接触子および導電性接触子ユニット |
JP2014197489A (ja) * | 2013-03-29 | 2014-10-16 | 株式会社エンプラス | 電気部品用ソケット |
JP2017107881A (ja) * | 2014-05-23 | 2017-06-15 | アルプス電気株式会社 | 圧接コネクタ |
WO2017188595A1 (ko) * | 2016-04-27 | 2017-11-02 | 주식회사 아이에스시 | 양분형 탐침 장치 |
KR101841108B1 (ko) * | 2016-04-27 | 2018-03-22 | 주식회사 아이에스시 | 양분형 탐침 장치 |
WO2019131438A1 (ja) * | 2017-12-26 | 2019-07-04 | 株式会社エンプラス | プローブピン及びソケット |
CN112083200A (zh) * | 2020-09-11 | 2020-12-15 | 苏州韬盛电子科技有限公司 | 一种新型高频测试插座 |
WO2021221473A1 (ko) * | 2020-04-29 | 2021-11-04 | 주식회사 케이엠더블유 | 커넥팅 장치 |
WO2023181906A1 (ja) * | 2022-03-25 | 2023-09-28 | 株式会社ヨコオ | スプリングコネクタ |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102013176B1 (ko) * | 2019-06-13 | 2019-08-22 | 주식회사 제네드 | 교체 가능한 싱글타입 프로브 핀 |
KR102013175B1 (ko) * | 2019-06-13 | 2019-08-22 | 주식회사 제네드 | 교체 가능한 더블타입 프로브 핀 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08100801A (ja) * | 1994-09-30 | 1996-04-16 | Yokogawa Electric Corp | 電空ポジショナ |
JP2002156387A (ja) * | 2000-11-20 | 2002-05-31 | Seiko Epson Corp | 半導体測定装置のコンタクトピン |
JP2002231399A (ja) * | 2001-02-02 | 2002-08-16 | Fujitsu Ltd | 半導体装置試験用コンタクタ及びその製造方法 |
JP2003172748A (ja) * | 2001-12-10 | 2003-06-20 | Nhk Spring Co Ltd | 導電性接触子 |
JP2003329707A (ja) * | 2002-05-08 | 2003-11-19 | Nec Kyushu Ltd | コンタクトプローブピン |
JP2004152495A (ja) * | 2002-10-28 | 2004-05-27 | Yamaichi Electronics Co Ltd | 狭ピッチicパッケージ用icソケット |
-
2004
- 2004-09-30 JP JP2004285772A patent/JP4614434B2/ja active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08100801A (ja) * | 1994-09-30 | 1996-04-16 | Yokogawa Electric Corp | 電空ポジショナ |
JP2002156387A (ja) * | 2000-11-20 | 2002-05-31 | Seiko Epson Corp | 半導体測定装置のコンタクトピン |
JP2002231399A (ja) * | 2001-02-02 | 2002-08-16 | Fujitsu Ltd | 半導体装置試験用コンタクタ及びその製造方法 |
JP2003172748A (ja) * | 2001-12-10 | 2003-06-20 | Nhk Spring Co Ltd | 導電性接触子 |
JP2003329707A (ja) * | 2002-05-08 | 2003-11-19 | Nec Kyushu Ltd | コンタクトプローブピン |
JP2004152495A (ja) * | 2002-10-28 | 2004-05-27 | Yamaichi Electronics Co Ltd | 狭ピッチicパッケージ用icソケット |
Cited By (31)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007287427A (ja) * | 2006-04-14 | 2007-11-01 | Enplas Corp | コンタクトピン及び電気部品用ソケット |
JP4685694B2 (ja) * | 2006-04-14 | 2011-05-18 | 株式会社エンプラス | コンタクトピン及び電気部品用ソケット |
US7772864B2 (en) | 2006-08-18 | 2010-08-10 | Yokowo Co., Ltd. | Contact probe with reduced voltage drop and heat generation |
JP2008046034A (ja) * | 2006-08-18 | 2008-02-28 | Yokowo Co Ltd | プローブ |
JP2008070178A (ja) * | 2006-09-13 | 2008-03-27 | Enplas Corp | 電気接触子、及び、電気部品用ソケット |
JP5361710B2 (ja) * | 2007-04-19 | 2013-12-04 | 日本発條株式会社 | 導電性接触子および導電性接触子ユニット |
JP2009250917A (ja) * | 2008-04-10 | 2009-10-29 | Nidec-Read Corp | 基板検査用治具及び検査用接触子 |
JP2010091358A (ja) * | 2008-10-07 | 2010-04-22 | Unitechno Inc | 検査用ソケット |
JP2010135249A (ja) * | 2008-12-08 | 2010-06-17 | Nec Corp | 半導体パッケージ用ソケット |
JP2012058210A (ja) * | 2010-09-13 | 2012-03-22 | Citizen Tohoku Kk | コンタクトプローブ及びこれを用いた電子回路試験装置 |
JP2013024716A (ja) * | 2011-07-21 | 2013-02-04 | Nidec-Read Corp | 検査用接触子及び検査用治具 |
JP2012032411A (ja) * | 2011-11-14 | 2012-02-16 | Enplas Corp | 電気接触子 |
WO2013084730A1 (ja) * | 2011-12-06 | 2013-06-13 | 山一電機株式会社 | コンタクトプローブ及びそれを備えた半導体素子用ソケット |
JP2013120065A (ja) * | 2011-12-06 | 2013-06-17 | Yamaichi Electronics Co Ltd | コンタクトプローブ及びそれを備えた半導体素子用ソケット |
JP2013190270A (ja) * | 2012-03-13 | 2013-09-26 | Nidec-Read Corp | プローブ及び接続治具 |
CN103308733A (zh) * | 2012-03-13 | 2013-09-18 | 日本电产理德株式会社 | 探针和连接夹具 |
JP2014197489A (ja) * | 2013-03-29 | 2014-10-16 | 株式会社エンプラス | 電気部品用ソケット |
JP2017107881A (ja) * | 2014-05-23 | 2017-06-15 | アルプス電気株式会社 | 圧接コネクタ |
JP2017107880A (ja) * | 2014-05-23 | 2017-06-15 | アルプス電気株式会社 | 圧接コネクタ |
JP2017117806A (ja) * | 2014-05-23 | 2017-06-29 | アルプス電気株式会社 | 圧接コネクタ |
TWI641838B (zh) * | 2016-04-27 | 2018-11-21 | Isc股份有限公司 | 兩分型探針裝置 |
KR101841107B1 (ko) * | 2016-04-27 | 2018-03-22 | 주식회사 아이에스시 | 양분형 탐침 장치 |
KR101841108B1 (ko) * | 2016-04-27 | 2018-03-22 | 주식회사 아이에스시 | 양분형 탐침 장치 |
WO2017188595A1 (ko) * | 2016-04-27 | 2017-11-02 | 주식회사 아이에스시 | 양분형 탐침 장치 |
WO2019131438A1 (ja) * | 2017-12-26 | 2019-07-04 | 株式会社エンプラス | プローブピン及びソケット |
JP2019117058A (ja) * | 2017-12-26 | 2019-07-18 | 株式会社エンプラス | プローブピン及びソケット |
WO2021221473A1 (ko) * | 2020-04-29 | 2021-11-04 | 주식회사 케이엠더블유 | 커넥팅 장치 |
KR20210134160A (ko) * | 2020-04-29 | 2021-11-09 | 주식회사 케이엠더블유 | 커넥팅 장치 |
KR102421924B1 (ko) * | 2020-04-29 | 2022-07-21 | 주식회사 케이엠더블유 | 커넥팅 장치 |
CN112083200A (zh) * | 2020-09-11 | 2020-12-15 | 苏州韬盛电子科技有限公司 | 一种新型高频测试插座 |
WO2023181906A1 (ja) * | 2022-03-25 | 2023-09-28 | 株式会社ヨコオ | スプリングコネクタ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4614434B2 (ja) | 2011-01-19 |
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