CN112083200A - 一种新型高频测试插座 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种新型高频测试插座，包括用于包裹弹簧探针的环氧树脂绝缘层和金属导体，所述弹簧探针设置于环氧树脂绝缘层内部的针孔中，所述环氧树脂绝缘层的上部外侧设有卡环凹槽，所述针孔的上端设有环状插接斜面，所述环状插接斜面内部设有插接槽；所述金属导体内部设有用于固定环氧树脂绝缘层的固定腔，所述固定腔内壁上部设有用于卡在卡环凹槽内的凸起环，所述固定腔的底部设有插入至插接槽的插接凸起，所述插接凸起与固定腔连接处设有用于插入环状插接斜面的斜面凹槽。本发明避免环氧树脂绝缘层上下活动的可能，可有效防止环氧树脂绝缘层脱落，有效减少了产品的报废率，加长了产品的使用寿命，提高了产品的品质。

Description

一种新型高频测试插座
技术领域
本发明涉及测试插座技术领域，具体为一种新型高频测试插座。
背景技术
同轴插座的主体是金属，中间的弹簧探针也是金属，为防止信号连接，弹簧探针孔内设有绝缘作用的固化的环氧树脂，根据阻抗匹配要求，弹簧探针的尺寸，环氧树脂和金属导体上孔之间将配以合理的尺寸匹配。在这个尺寸匹配中，环氧树脂的厚度在0.05-0.3mm不等。弹簧探针在测试过程中需要反复上下活动，这要求环氧树脂在金属导体内有良好的附着力。随着客户的芯片的pitch越来越小，弹簧探针也越来越细，对应的针孔也越来越小，导致绝缘层也就是环氧树脂越来越薄，和金属导体的贴附面积越来越小，绝缘层在加工和实际应用中很容易脱落导致产品报废不能使用。为此，我们推出一种新型高频测试插座。
发明内容
本发明的目的在于提供一种新型高频测试插座，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种新型高频测试插座，包括用于包裹弹簧探针的环氧树脂绝缘层和金属导体，所述弹簧探针设置于环氧树脂绝缘层内部的针孔中，所述弹簧探针的两端经由针孔两端贯穿伸出，所述环氧树脂绝缘层的上部外侧设有卡环凹槽，所述针孔的上端设有环状插接斜面，所述环状插接斜面内部设有插接槽；
所述金属导体内部设有用于固定环氧树脂绝缘层的固定腔，所述固定腔内壁上部设有用于卡在卡环凹槽内的凸起环，所述固定腔的底部设有插入至插接槽的插接凸起，所述插接凸起与固定腔连接处设有用于插入环状插接斜面的斜面凹槽。
作为本技术方案的进一步优化，所述弹簧探针包括第一套筒、探针头、第一弹簧、连接头、第二弹簧、探针本体和第二套筒。
作为本技术方案的进一步优化，所述第一套筒中先后装入探针头和第一弹簧，所述第二套筒中先后装入探针本体和第二弹簧，所述探针头和探针本体之间装入连接头，并将第一套筒和第二套筒分别与连接头进行铆合固定连接。
与现有技术相比，本发明的有益效果是：本发明增加了卡环凹槽、环状插接斜面、插接槽、凸起环、斜面凹槽和插接凸起，由于凸起环卡在卡环凹槽内、插接凸起插入至插接槽、环状插接斜面插入至斜面凹槽，避免环氧树脂绝缘层上下活动的可能，可有效防止环氧树脂绝缘层脱落，有效减少了产品的报废率，加长了产品的使用寿命，提高了产品的品质。
附图说明
图1为本发明金属导体、环氧树脂绝缘层和弹簧探针连接的剖视结构示意图；
图2为本发明金属导体的侧剖结构示意图；
图3为本发明环氧树脂绝缘层和弹簧探针连接的剖视结构示意图；
图4为本发明弹簧探针的剖视结构示意图。
图中：1金属导体、2环氧树脂绝缘层、3针孔、4凸起环、5弹簧探针、6插接凸起、7固定腔、8斜面凹槽、9卡环凹槽、10环状插接斜面、11插接槽。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
请参阅图1-4，本发明提供一种技术方案：一种新型高频测试插座，包括用于包裹弹簧探针5的环氧树脂绝缘层2和金属导体1，所述弹簧探针5设置于环氧树脂绝缘层2内部的针孔3中，所述弹簧探针5的两端经由针孔3两端贯穿伸出，所述环氧树脂绝缘层2的上部外侧设有卡环凹槽9，所述针孔3的上端设有环状插接斜面10，所述环状插接斜面10内部设有插接槽11；
所述金属导体1内部设有用于固定环氧树脂绝缘层2的固定腔7，所述固定腔7内壁上部设有用于卡在卡环凹槽9内的凸起环4，所述固定腔7的底部设有插入至插接槽11的插接凸起6，所述插接凸起6与固定腔7连接处设有用于插入环状插接斜面10的斜面凹槽8。
具体的，所述弹簧探针5包括第一套筒53、探针头51、第一弹簧52、连接头54、第二弹簧57、探针本体58和第二套筒56。
具体的，所述第一套筒53中先后装入探针头51和第一弹簧52，所述第二套筒56中先后装入探针本体58和第二弹簧57，所述探针头51和探针本体58之间装入连接头54，并将第一套筒53和第二套筒56分别与连接头54进行铆合固定连接。
具体的，使用时，原有的弹簧探针5给环氧树脂绝缘层2施加了向上的力，在没有卡环凹槽9、环状插接斜面10、插接槽1、凸起环4、斜面凹槽8和插接凸起6等的设置下，当这个力大于环氧树脂绝缘层2和固定腔7内壁之间的附着力时，环氧树脂绝缘层2就会脱落；
现在结构中增加了卡环凹槽9、环状插接斜面10、插接槽1、凸起环4、斜面凹槽8和插接凸起6，由于凸起环4卡在卡环凹槽9内、插接凸起6插入至插接槽11、环状插接斜面10插入至斜面凹槽8，避免环氧树脂绝缘层2上下活动的可能，可有效防止环氧树脂绝缘层2脱落，有效减少了产品的报废率，加长了产品的使用寿命，提高了产品的品质。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (3)

1.一种新型高频测试插座，包括用于包裹弹簧探针(5)的环氧树脂绝缘层(2)和金属导体(1)，其特征在于：所述弹簧探针(5)设置于环氧树脂绝缘层(2)内部的针孔(3)中，所述弹簧探针(5)的两端经由针孔(3)两端贯穿伸出，所述环氧树脂绝缘层(2)的上部外侧设有卡环凹槽(9)，所述针孔(3)的上端设有环状插接斜面(10)，所述环状插接斜面(10)内部设有插接槽(11)；
所述金属导体(1)内部设有用于固定环氧树脂绝缘层(2)的固定腔(7)，所述固定腔(7)内壁上部设有用于卡在卡环凹槽(9)内的凸起环(4)，所述固定腔(7)的底部设有插入至插接槽(11)的插接凸起(6)，所述插接凸起(6)与固定腔(7)连接处设有用于插入环状插接斜面(10)的斜面凹槽(8)。
2.根据权利要求1所述的一种新型高频测试插座，其特征在于：所述弹簧探针(5)包括第一套筒(53)、探针头(51)、第一弹簧(52)、连接头(54)、第二弹簧(57)、探针本体(58)和第二套筒(56)。
3.根据权利要求2所述的一种新型高频测试插座，其特征在于：所述第一套筒(53)中先后装入探针头(51)和第一弹簧(52)，所述第二套筒(56)中先后装入探针本体(58)和第二弹簧(57)，所述探针头(51)和探针本体(58)之间装入连接头(54)，并将第一套筒(53)和第二套筒(56)分别与连接头(54)进行铆合固定连接。
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