TWI724637B - 探針 - Google Patents

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Abstract

本發明之探針用於進行連接器之特性檢查，其具備：柱塞、同軸纜線、法蘭盤、及殼體，殼體之一側之端部具有自本體部在水平方向擴徑之擴徑部，在法蘭盤之上表面形成有以承接殼體之擴徑部之方式將貫通孔在水平方向擴大之凹部，擴徑部具有：與形成凹部之法蘭盤之內側面部分地接觸或對向之側壁、及抵接於形成凹部之法蘭盤之上表面之底壁，擴徑部具有將側壁與底壁連接之連接面，連接面係自側壁朝向底壁朝內側傾斜之傾斜面，或者，形成凹部之法蘭盤之內側面具有朝斜下方傾斜之第1面，鉛直面係自第1面朝下方延伸且連接於法蘭盤之上表面之第2面。

Description

探針
本發明係關於一種連接器用之探針。
自先前以來，業界曾揭示用於進行被檢查體即連接器之特性檢查之探針(例如，參照專利文獻1)。
專利文獻1之探針尤其是進行以傳輸複數個信號之方式設置有複數個端子之多極連接器之特性檢查者。專利文獻1之探針具備可相對於多極連接器之複數個端子同時接觸之複數個探針接腳。  [先前技術文獻]  [專利文獻]
[專利文獻1]國際公開第2016/072193號公報
[發明所欲解決之問題]
關於連接器之探針，謀求提高特性檢查之精度。如專利文獻1之探針般，在使複數個探針接腳分別相對於複數個端子同時接觸時，容易產生端子與探針接腳之位置偏移，而特性檢查之精度降低。業界謀求開發包含如專利文獻1所揭示之探針，且可更高精度地進行連接器之端子之特性檢查之技術。
因而，本發明之目的在於解決上述問題，且在於提供一種可更高精度地進行連接器之端子之特性檢查之探針。  [解決問題之技術手段]
為了達成上述目的，本發明之探針係用於進行連接器之特性檢查者，且具備：法蘭盤，其具有貫通孔，且前述貫通孔配置為沿鉛直方向延伸；同軸纜線，其插通於前述貫通孔且在軸向延伸，在前端部連接有探針接腳；柱塞，其將前述探針接腳內包並使前述探針接腳之前端露出；及殼體，其具有將前述同軸纜線內包之筒狀之形狀，且一側之端部嵌合於前述法蘭盤，另一側之端部安裝於前述柱塞；且前述殼體具備插通於前述法蘭盤之前述貫通孔之筒狀之本體部；前述殼體之前述一側之端部具有自前述本體部在水平方向擴徑之擴徑部；在前述法蘭盤之上表面，形成有以承接前述殼體之前述擴徑部之方式將前述貫通孔在水平方向擴大之凹部；前述擴徑部具有：與形成前述凹部之前述法蘭盤之內側面部分地接觸或對向之側壁、及抵接於形成前述凹部之前述法蘭盤之上表面之底壁；前述擴徑部具有將前述側壁與前述底壁連接之連接面，前述連接面係自前述側壁朝向前述底壁朝內側傾斜之傾斜面，或者，形成前述凹部之前述法蘭盤之前述內側面具有朝斜下方傾斜之第1面，前述鉛直面係自前述第1面朝下方延伸且連接於前述法蘭盤之前述上表面之第2面。  [發明之效果]
根據本發明之探針，可更高精度地進行連接器之端子之特性檢查。
根據本發明之第1態樣提供一種探針，其係用於進行連接器之特性檢查者，且具備：法蘭盤，其係用於將探針安裝於設備之構件，具有貫通孔，且前述貫通孔配置為沿鉛直方向延伸；同軸纜線，其插通於前述貫通孔且在軸向延伸，在前端部連接有探針；柱塞，其將前述探針內包且使前述探針之前端露出；及殼體，其具有將前述同軸纜線內包之筒狀之形狀，且一側之端部嵌合於前述法蘭盤，另一側之端部安裝於前述柱塞；且前述殼體具備插通於前述法蘭盤之前述貫通孔之筒狀之本體部；前述殼體之前述一側之端部具有自前述本體部在水平方向擴徑之擴徑部；在前述法蘭盤之上表面形成有以承接前述殼體之前述擴徑部之方式將前述貫通孔在水平方向擴大之凹部；前述擴徑部具有：與形成前述凹部之前述法蘭盤之內側面部分地接觸或對向之側壁、及抵接於形成前述凹部之前述法蘭盤之上表面之底壁；前述擴徑部具有將前述側壁與前述底壁連接之連接面，前述連接面係自前述側壁朝向前述底壁朝內側傾斜之傾斜面，或形成前述凹部之前述法蘭盤之前述內側面具有朝斜下方傾斜之第1面，前述鉛直面係自前述第1面朝下方延伸且連接於前述法蘭盤之前述上表面之第2面。根據此構成，藉由以法蘭盤之上表面支持擴徑部之底壁，而可確保殼體之鉛直性。又，由於擴徑部之側壁與法蘭盤之內側面部分地接觸或對向，故在殼體與法蘭盤之間存在間隙，而擴徑部在凹部中具有於水平方向移動之餘地。藉由設置此間隔，而可將殼體在一定之誤差範圍內返回原本之位置。藉此，可更高精度地維持探針之姿勢，而可更高精度地進行連接器之端子之特性檢查。
根據本發明之第2態樣，提供如第1態樣之探針，其中前述擴徑部具有將前述側壁與前述底壁連接之連接面，前述連接面係自前述側壁朝向前述底壁朝內側傾斜之傾斜面。根據此構成，藉由設置連接面，而在自法蘭盤升起之殼體下降之際當殼體之擴徑部之連接面壓抵於法蘭盤之凹部之角時，將殼體引導至凹部之中。藉此，可將殼體高精度地返回原本之位置，而可更高精度地維持探針之姿勢。
根據本發明之第3態樣，提供如第1態樣之探針，其中形成前述凹部之前述法蘭盤之前述內側面具有朝斜下方傾斜之第1面，前述鉛直面係自前述第1面朝下方延伸且連接於前述法蘭盤之前述上表面之第2面。根據此構成，藉由設置朝斜下方傾斜之第1面，而在自法蘭盤升起之殼體下降之際當殼體之擴徑部壓抵於第1面時，將殼體引導至凹部之中。藉此，可將殼體高精度地返回原本之位置，而可更高精度地維持探針之姿勢。
根據本發明之第4態樣，提供如第1態樣至第3態樣中任一項之探針，其中在前述擴徑部中，前述側壁係在鉛直方向延伸之鉛直面，前述底壁係在水平方向延伸之水平面。根據此構成，擴徑部之加工變簡單。且，藉由使底壁在水平方向延伸，而可更高精度地確保殼體之鉛直性。
根據本發明之第5態樣，提供如第1態樣至第4態樣中任一項之探針，其中形成前述凹部之前述法蘭盤之前述上表面係在水平方向延伸之水平面。根據此構成，凹部之加工變簡單。且，可更高精度地確保殼體之鉛直性。
根據本發明之第6態樣，提供如第1態樣至第5態樣中任一項之探針，其中前述擴徑部之前述底壁、及形成前述法蘭盤之前述凹部之前述上表面為平坦。根據此構成，可更高精度地確保殼體之鉛直性。又，藉由將擴徑部之底壁及法蘭盤之上表面分別設為平坦，而在其等抵接時，殼體之擴徑部可在水平方向自由地移動。藉此，可將殼體高精度地返回原本之位置，而可更高精度地維持探針之姿勢。
以下，基於圖式詳細地說明本發明之實施形態。
(實施形態1)  圖1-圖5係顯示實施形態1之探針2之概略構成之圖。圖1、圖2係顯示探針2之不同狀態之概略立體圖。圖3係顯示圖2之A-A剖面之裁切圖，圖4係顯示圖1之B-B剖面之裁切圖。圖5係探針2之分解立體圖。在圖1-圖5中，將鉛直方向設為X方向，將相互正交之水平方向設定為Y方向、Z方向。
探針2係進行連接器3之特性檢查之檢查器具。實施形態1之連接器3係具有複數個端子之多極連接器。探針2具備：柱塞4、同軸纜線6、法蘭盤8、彈簧10、殼體12、探針接腳16(圖4、圖5)、及板34。
柱塞4係用於使連接器3嵌合而定位之定位構件。柱塞4具備：供連接器3嵌合之嵌合部4A、及形成為筒狀之筒狀部4B。嵌合部4A係筒狀部4B之端部朝下方突出之部分。在嵌合部4A形成有用於使連接器3嵌合之突起22(圖3-圖5)。
此外，圖1、圖4顯示連接器3嵌合於嵌合部4A前之狀態，圖2、圖3顯示連接器3嵌合於嵌合部4A後之狀態。在圖2、圖3中，方便上，省略連接器3之圖示。
如圖3、圖4所示，在殼體12之內部插通有複數條同軸纜線6。
同軸纜線6係用於與連接器3之端子電性導通之構件。同軸纜線6構成為棒狀，在其前端部電性連接有探針接腳16。相對於1條同軸纜線6連接有1個探針接腳16。
探針接腳16為與連接器3各端子接觸而導通之棒狀之構件。探針接腳16之內側由導電性材料形成，外側由絕緣性構件形成。探針接腳16被壓入固定於柱塞4內。探針接腳16之前端16A為導電性部分，如圖4所示般自嵌合部4A之底部露出，可與連接器3之端子接觸。
在本實施形態1中，尤其是，在1個探針2中設置有複數條同軸纜線6及複數個探針接腳16。根據此構成，即便被檢查體即連接器3為具備複數個端子之多極連接器，亦可同時實施連接器3之各端子之特性檢查。
針對行動電話或智慧型手機內部之RF信號線之連接等，目前為止主要使用僅具有一個端子之同軸連接器。近年來形成為處理複數個頻帶之RF信號，而存在複數條RF信號線，與其相應地，也並排地使用複數個同軸連接器。若邁向電路之高密度化，則出於節省空間化等之目的，形成為採用如取代同軸連接器而在異形形狀之多極連接器之若干個端子傳輸RF信號之設計。相對於此，本實施形態1之探針2可作為可同時連接於連接器3之複數個端子而同時進行複數條線之特性檢查之測定用探針而發揮功能。
法蘭盤8係用於將探針2安裝於特定之設備之構件。特定之設備例如係用於基於連接器3之特性檢查之結果對安裝有連接器3之印刷基板予以選別之選別機。
如圖2、圖3所示，在法蘭盤8之中心部設置有用於將殼體12插通之貫通孔9。法蘭盤8配置為在水平方向延伸，貫通孔9配置為鉛直方向延伸。實施形態1之貫通孔9為圓柱形狀。
在法蘭盤8之上表面11形成有用於承接殼體12之凹部13。凹部13在法蘭盤8之上表面11中作為將貫通孔9在水平方向擴張之部分而設置。貫通孔9與凹部13在空間上連續地形成。關於凹部13與殼體12之關係、各者之詳細之形狀，於後文敘述。
彈簧10係用於以適切之荷重將前述之探針接腳16對連接器3之端子按壓之彈性構件。彈簧10安裝於殼體12之周圍。如圖3、圖4所示，彈簧10之一側(上側)之端部被壓入並安裝於法蘭盤8之下表面，另一側(下側)之端部被壓入並安裝於柱塞4之筒狀部4B。
在如圖1、圖4所示之使連接器3嵌合於嵌合部4A前之狀態下，彈簧10處於較自然長度為短之狀態。亦即，彈簧10處於壓縮狀態。處於壓縮狀態之彈簧10將位於上方之法蘭盤8與位於下方之柱塞4朝相互離開之方向彈推。
殼體12係將同軸纜線6內包之筒狀之構件。殼體12具有：一側(上方)之端部12A、另一側(下方)之端部12B、及筒狀之本體部12C。一側之端部12A具有自本體部12C在水平方向擴徑之擴徑部17。擴徑部17係被收容於法蘭盤8之凹部13之部分。另一側之端部12B被壓入並安裝於柱塞4之筒狀部4B。
板34係用於防止同軸纜線6朝上方脫離之構件。板34配置於柱塞4之筒狀部4B，且設置於殼體12之另一側之端部12B與柱塞4之間。
在將殼體12之另一側之端部12B介隔著板34安裝於柱塞4之狀態下，殼體12與柱塞4可繞周向R一體地旋轉。
針對具有上述之構成之探針2之動作，利用圖1-圖4概略地進行說明。
在圖1、圖4所示之初始狀態下，連接器3與柱塞4之嵌合部4A未接觸。此時，自連接器3對於探針2朝鉛直上方之荷重未發揮作用。如前述般彈簧10處於較自然長度為短之壓縮狀態，法蘭盤8與柱塞4朝相互離開之方向被彈推。藉此，安裝於柱塞4之殼體12與柱塞4一起朝下方被彈推。如圖1、圖4所示，殼體12之擴徑部17收容於法蘭盤8之凹部13。殼體12之擴徑部17在凹部13中由法蘭盤8支持。藉此，維持殼體12之鉛直性。
其次，使連接器3嵌合於嵌合部4A。藉由嵌合部4A之突起22進入形成於連接器3之空孔，而將連接器3定位。同時，露出於嵌合部4A之底面之探針接腳16之前端16A與連接器3之端子接觸。在實施形態1中，2個探針接腳16之前端16A各者與連接器3之2個端子接觸。同軸纜線6與連接器3之端子經由探針接腳16而電性連接，可進行連接器3之端子之特性檢查。
此時，利用連接器3朝上方按壓柱塞4。若自連接器3朝柱塞4賦予特定以上之鉛直荷重，則連接於柱塞4之彈簧10收縮。具體而言，處於較自然長度為短之狀態之彈簧10進一步收縮。藉由彈簧10收縮，而柱塞4及殼體12相對於被固定於特定位置之法蘭盤8一體地上升。如圖2、圖3所示，殼體12之擴徑部17自凹部13升起，而殼體12與法蘭盤8成為非接觸狀態。
如前述般，殼體12及柱塞4可一體地繞R方向旋轉。藉由自法蘭盤8升起之狀態之殼體12及柱塞4與連接器3之端子之位置相應地旋轉，而可將柱塞4及探針接腳16之姿勢修正為正確之姿勢。藉此，可更高精度地實施連接器3之端子之特性檢查。
在特性檢查結束時，連接器3待避至下方，而解除連接器3與嵌合部4A之嵌合。由於自連接器3朝柱塞4發揮作用的朝上方之鉛直荷重不復存在，故彈簧10伸長至原本之狀態。如圖1、圖4所示，殼體12相對於法蘭盤8相對地下降，將殼體12之擴徑部17收容於法蘭盤8之凹部13。
殼體12之擴徑部17在被收容於法蘭盤8之凹部13時，較理想為儘量在誤差少之範圍內返回相同之位置。在本實施形態1之探針2中，為了殼體12在預先容許之範圍內返回原本之位置，而關於凹部13之形狀及擴徑部17之形狀進行適當配置。具體而言，利用圖6A-圖6C、圖7A-圖7C、圖8A-圖8C進行說明。
圖6A-圖6C分別係法蘭盤8之立體圖、平面圖、縱剖視圖。圖7A-圖7C分別係殼體12之擴徑部17之立體圖、平面圖、縱剖視圖。
如圖6A-圖6C所示，法蘭盤8具有內側面19、及上表面21，作為形成凹部13之面。
內側面19具備第1面19A、及第2面19B。第1面19A係自法蘭盤8之上表面11朝斜下方傾斜之面。第2面19B係連接於第1面19A之下方側且自第1面19A朝下方延伸之面。實施形態1之第2面19B係在鉛直方向延伸之鉛直面。第1面19A、第2面19B均為平坦。
在實施形態1中，如圖6B所示，內側面19形成為在俯視下具有大致正方形狀。在對向之位置設置有一對內側面19，以呈大致正方形狀之方式設置有2對內側面19。鄰接之內側面19在俯視下相互正交。
如圖6B所示，對向之一對內側面19(第2面19B)之距離D1被設定為預先特定之長度。具體而言，將距離D1設定為可收容後述之殼體12之擴徑部17之長度。
上表面21係連接於第2面19B之下方側且自第2面19B在橫向方向延伸之面。上表面21形成至鄰接於貫通孔9之位置。實施形態1之上表面21係在水平方向延伸之水平面，且為平坦。上表面21可視為構成法蘭盤8之上表面11之一部分者。
藉由使第1面19A朝斜下方傾斜，而在殼體12之擴徑部17朝向法蘭盤8之凹部13下降之際當擴徑部17之角部壓抵於第1面19A時，擴徑部17朝向凹部13被引導至內側。藉此，可高精度地將擴徑部17收容於凹部13。又，配置於凹部13之擴徑部17係由上表面21支持。藉由設置上表面21，而可支持擴徑部17，且將殼體12之姿勢維持為特定之方向(亦即，可確保殼體12之鉛直性)。
如圖7A-圖7C所示，擴徑部17具有側壁17A、及底壁17B。側壁17A係配置為與前述之法蘭盤8之內側面19對向之面。底壁17B係由法蘭盤8之上表面21支持之面。在實施形態1中，側壁17A係在鉛直方向延伸之鉛直面，底壁17B係在水平方向延伸之水平面。
在實施形態1中，如圖7B所示，側壁17A形成為在俯視下具有大致正方形狀。在對向之位置設置有一對側壁17A，以呈大致正方形狀之方式設置有2對側壁17A。鄰接之側壁17A在俯視下相互正交。
如圖7B、圖7C所示，對向之一對側壁17A之距離D2設定為較前述之法蘭盤8之側壁19B彼此之距離D1略小。藉由此距離之設定，而擴徑部17可配置於由內側面19之第2面19B包圍之區域。
針對將上述之擴徑部17收容於法蘭盤8之凹部13之狀態，利用圖8A-圖8D進行說明。圖8A、圖8D分別係擴徑部17與法蘭盤8接觸之狀態之立體圖、平面圖。圖8B係圖8A之C-C剖視圖，圖8C係圖8A之D-D剖視圖。
在圖8B所示之剖面中，擴徑部17之側壁17A與法蘭盤8之內側面19(尤其是第2面19B)部分地接觸或對向。藉由如前述般將距離D1設定為較距離D2略大，而擴徑部17之側壁17A與法蘭盤8之第2面19B不完全接觸，而部分地接觸、或空開間隔地對向。擴徑部17在被收容於凹部13時，可在由第2面19B包圍之限定之區域內於水平方向略微地移動，但其移動量無限制。若與擴徑部17之側壁17A彼此之距離D2相應地，將法蘭盤8之內側面19彼此之距離D1設定於適切之範圍內，則可將擴徑部17在凹部13內之水平方向之位置偏移限定於所期望之範圍內。藉此，可在將殼體12收容於凹部13時設置適度之水平方向之間隙，且儘量減少殼體12之水平方向之位置偏移。
另一方面，設置於法蘭盤8之內側面19之第1面19A係傾斜面，與鉛直面相比更難加工，而容易產生形狀不均一。相對於此，在實施形態1之探針2中，第1面19A係將殼體12之擴徑部17引導至凹部13者，並非係支持擴徑部17者。由於擴徑部17由上表面21支持，故能夠不會因第1面19A之形狀不均一而影響殼體12之支持姿勢。
又，在實施形態1之探針2中，除第1面19A以外，還形成鉛直面即第2面19B。鉛直面與傾斜面相比加工更容易，而不易產生形狀不均一。藉由以鉛直面構成第2面19B且在水平方向包圍收容於凹部13之擴徑部17，而可高精度地限制擴徑部17之水平方向之位置偏移。
此外，在圖8C所示之剖面中，擴徑部17之側壁17A與法蘭盤8之內側面19不接觸，而空開間隔地對向。
如上述般，實施形態1之探針2係用於進行連接器3之特性檢查者，且具備：柱塞4、同軸纜線6、法蘭盤8、及殼體12。法蘭盤8係用於將探針2安裝於設備之構件，具有貫通孔9，貫通孔9配置為在鉛直方向延伸。同軸纜線6係插通於貫通孔9且在軸向延伸、在前端部連接有探針接腳16之構件。柱塞4係將探針接腳16內包並使探針接腳16之前端16A露出之構件。殼體12係一側之端部12A嵌合於法蘭盤8、另一側之端部12B安裝於柱塞4之構件。
在上述構成中，殼體12具備插通於法蘭盤8之貫通孔9之筒狀之本體部12C。又，殼體12之一側之端部12A具有自本體部12C在水平方向擴徑之擴徑部17。又，在法蘭盤8之上表面11，形成有以承接殼體12之擴徑部17之方式將貫通孔9在水平方向擴大之凹部13。又，擴徑部17具有：與法蘭盤8之內側面19部分地接觸或對向之側壁17A、及抵接於法蘭盤8之上表面21之底壁17B。又，法蘭盤8之內側面19具有：朝斜下方傾斜之第1面19A、及自第1面19A朝下方延伸且連接於法蘭盤8之上表面21之鉛直面即第2面19B。
根據此構成，藉由以法蘭盤8之上表面21支持擴徑部17之底壁17B，而可確保殼體12之鉛直性。又，由於擴徑部17之側壁17A與法蘭盤8之內側面19部分地接觸或對向，故在殼體12與法蘭盤8之間存在間隙，而擴徑部17在凹部13中具有於水平方向移動之餘隙。藉由設置此間隔，而與法蘭盤8離開之殼體12在返回凹部13時可容易地配置於凹部13，且可將殼體12之水平方向之位置控制在一定之誤差範圍內。藉此，可在連接器3之檢查前後更高精度地維持探針2之姿勢，而可更高精度地進行連接器3之端子之特性檢查。
又，藉由在法蘭盤8之內側面19設置朝斜下方傾斜之第1面19A，而在自法蘭盤8升起之殼體12下降之際，當殼體12之擴徑部17壓抵於第1面19A時，將殼體12引導至凹部13之中。藉此，可將殼體12高精度地返回原本之位置，而可更高精度維持探針2之姿勢。
又，根據實施形態1之探針2，於擴徑部17中，側壁17A係在鉛直方向延伸之鉛直面，底壁17B係在水平方向延伸之水平面。根據此構成，擴徑部17之加工簡單。又，藉由使底壁17B在水平方向延伸，而可更高精度地確保殼體12之鉛直性。
又，根據實施形態1之探針2，法蘭盤8之上表面21係在水平方向延伸之水平面。根據此構成，凹部13之加工簡單，可更高精度地確保殼體12之鉛直性。
又，根據實施形態1之探針2，擴徑部17之底壁17B、及法蘭盤8之上表面21為平坦。根據此構成，可更高精度地確保殼體12之鉛直性。
又，根據實施形態1之探針2，在法蘭盤8之內側面19設置有鉛直面即第2面19B。藉此，與內側面19全部為傾斜面之情形相比，可提高在法蘭盤8製作凹部13時之加工精度。
(實施形態2)  針對本發明之實施形態2之探針40，利用圖9-圖16B進行說明。此外，在實施形態2中，主要針對與實施形態1不同之方面進行說明。
圖9-圖13係顯示實施形態2之探針40之概略構成之圖。圖9、圖11係顯示探針2之不同狀態之概略立體圖。圖10係圖9之E-E剖視圖，圖12係圖11之F-F剖視圖。圖13係探針40之分解立體圖。在圖9-圖13中也同樣地，將鉛直方向設為X方向，將相互正交之水平方向設定為Y方向、Z方向。
實施形態2之探針40具備與實施形態1相同構成之柱塞4、同軸纜線6、及彈簧10，且具備與實施形態1不同構成之法蘭盤42、及殼體44。以後，主要針對法蘭盤42及殼體44進行說明。
如圖11、圖12所示，在法蘭盤42之中心部設置有用於將殼體44插通之貫通孔46。在法蘭盤42之上表面48形成有凹部50。凹部50在法蘭盤42之上表面48中係將貫通孔46在水平方向擴張之部分。
殼體44具有：一側(上方)之端部44A、另一側(下方)之端部44B、及筒狀之本體部44C。一側之端部44A具有自本體部44C在水平方向擴徑之擴徑部52。擴徑部52係被收容於法蘭盤42之凹部50之部分。
其次，利用圖14A-圖14C、圖15A-圖15D、圖16A、圖16B，關於凹部50及擴徑部52之形狀，分別進行說明。
圖14A-圖14C分別係法蘭盤42之立體圖、平面圖、縱剖視圖。圖15A-圖15D分別係擴徑部17之上方立體圖、下方立體圖、平面圖、縱剖視圖。
如圖14A-圖14C所示，法蘭盤42具有內側面54、及上表面56，作為形成凹部50之面。
內側面54具有第1面54A、及第2面54B。第1面54A係自法蘭盤42之上表面48朝斜下方傾斜之面。與實施形態1不同地，第1面54A僅形成於極微小之區域。第2面54B係自第1面54A朝下方延伸之面。第2面54B係在鉛直方向延伸至鉛直面。第1面54A、第2面54B均為平坦之面。
如圖14B、圖14C所示，對向之一對內側面54(第2面54B)之距離D3設定為可收容後述之擴徑部52之長度。
形成凹部50之上表面56係自第2面54B在橫向方向延伸之面。上表面56形成至鄰接於貫通孔46之位置。與實施形態1同樣地，上表面56係在水平方向延伸之水平面，且為平坦。
其次，利用圖15A-圖15D，針對殼體44之擴徑部52進行說明。
如圖15B、圖15D所示，擴徑部52與實施形態1同樣地具有側壁52A、及底壁52B。側壁52A係與前述之法蘭盤42之內側面54對向地配置之面，底壁52B係由法蘭盤42之上表面56支持之面。與實施形態1同樣地，側壁52A係在鉛直方向延伸之鉛直面，底壁52B係在水平方向延伸之水平面。
如圖15C、圖15D所示，對向之一對側壁52A之距離D4設定為較前述之法蘭盤42之側壁54B彼此之距離D3略小。
在實施形態2中，進一步在側壁52A與底壁52B之間設置有連接面52C。連接面52C係將側壁52A與底壁52B連接之面。實施形態2之連接面52C係自側壁52A朝向底壁52B朝斜下方傾斜之傾斜面。連接面52C形成為平坦之面。
針對將上述之擴徑部52收容於法蘭盤42之凹部50之狀態，利用圖16A、圖16B進行說明。圖16A係擴徑部52與法蘭盤42接觸之狀態之縱剖視圖，圖16B係圖16A之部分放大圖。
如圖16A、圖16B所示，擴徑部52之側壁52A與法蘭盤42之內側面54部分地接觸、或對向。又，擴徑部52之底壁52B係由法蘭盤42之上表面56支持。根據此構成，可發揮與實施形態1同樣之效果。
又，在實施形態2中，不僅在法蘭盤42設置有傾斜面即第1面54A，在擴徑部52之角部也設置有傾斜面即連接面52C。具體而言，擴徑部52具有將側壁52A與底壁52B連接之連接面52C，連接面52C係自側壁52A朝向底壁52B朝內側傾斜之傾斜面。藉此，在自法蘭盤42升起之殼體44朝向法蘭盤42下降時，容易將擴徑部52進一步朝向凹部50引導。藉此，可將殼體44高精度地配置於凹部50，而可更高精度地維持探針40之姿勢。
以上，舉出上述之實施形態1、2說明了本發明，但本發明並不限定於上述之實施形態1、2。例如，在上述實施形態1、2中，針對設置2條同軸纜線6及2個探針接腳16，同時實施連接器3之對應之端子之特性檢查之情形進行了說明，但並不限定於此情形。可與在連接器3中期望特性檢查之端子之數目相應地，分別設置1個或3個以上之同軸纜線6及探針接腳16。針對連接器3亦然，並不限定於具有2個端子之多極連接器，可為僅具有1個端子之單極連接器或具有3個以上之端子之多極連接器。
又，雖然在上述實施形態1、2中使用“鉛直”、“水平”之用語，但不限定於完全之鉛直、完全之水平，可與法蘭盤8之配置精度等相應地包含若干誤差。
又，雖然在上述實施形態1、2中設置有彈簧10，但並不限定於此情形，可設置筒狀之橡膠等其他種類之彈性體。
又，雖然在上述實施形態1、2中，針對在嵌合部4A中利用突起22對連接器3進行定位之情形進行了說明，但並不限定於此情形。可利用在嵌合部4A之底部設置凹部等任意之定位、嵌合結構，而取代突起22。
本發明雖然一面參照附圖一面與較佳之實施形態相關聯地充分地進行記載，但各種變化或修正對於熟悉此項技術各者而言係不言而喻的。此變化或修正只要不脫離根據後附之申請專利之範圍的本發明之範圍，則應理解為包含於其中。又，在不脫離本發明之範圍及思想下可實現各實施形態之要素之組合及順序之變化。
此外，藉由將上述各種實施形態1、2及變化例中之任意之實施形態或變化例適宜地組合，而可發揮各者具有之效果。  [產業上之可利用性]
本發明只要為連接器用之探針即可應用。
2:探針 3:連接器 4:柱塞 4A:嵌合部 4B:筒狀部 6:同軸纜線 8:法蘭盤 9:貫通孔 10:彈簧 11:上表面 12:殼體 12A:一側之端部 12B:另一側之端部 12C:本體部 13:凹部 16:探針接腳 16A:前端 17:擴徑部 17A:側壁 17B:底壁 19:內側面 19A:第1面 19B:第2面/側壁 21:上表面 22:突起 34:板 40:探針 42:法蘭盤 44:殼體 44A:一側之端部 44B:另一側之端部 44C:本體部 46:貫通孔 48:上表面 50:凹部 52:擴徑部 52A:側壁 52B:底壁 52C:連接面 54:內側面 54A:第1面 54B:第2面/側壁 56:上表面 A-A:剖面 B-B:剖面 D1:距離 D2:距離 D3:距離 D4:距離 E-E:剖面 F-F:剖面 R:周向 X:方向 Y:方向 Z:方向
圖1係實施形態1之探針之立體圖  圖2係實施形態1之探針之立體圖  圖3係顯示圖2之A-A剖面之裁切立體圖  圖4係顯示圖1之B-B剖面之裁切立體圖  圖5係實施形態1之探針之分解立體圖  圖6A係實施形態1之法蘭盤之立體圖  圖6B係實施形態1之法蘭盤之平面圖  圖6C係實施形態1之法蘭盤之縱剖視圖  圖7A係實施形態1之殼體之立體圖  圖7B係實施形態1之殼體之平面圖  圖7C係實施形態1之殼體之縱剖視圖  圖8A係實施形態1之法蘭盤與殼體接觸之狀態之立體圖  圖8B係圖8A之C-C剖視圖  圖8C係圖8A之D-D剖視圖  圖8D係實施形態1之法蘭盤與殼體接觸之狀態之平面圖  圖9係實施形態2之探針之立體圖  圖10係顯示圖9之E-E剖面之裁切立體圖  圖11係實施形態2之探針之立體圖  圖12係顯示圖11之F-F剖面之裁切立體圖  圖13係實施形態2之探針之分解立體圖  圖14A係實施形態2之法蘭盤之立體圖  圖14B係實施形態2之法蘭盤之平面圖  圖14C係實施形態2之法蘭盤之縱剖視圖  圖15A係實施形態2之殼體之立體圖  圖15B係實施形態2之殼體之立體圖  圖15C係實施形態2之殼體之平面圖  圖15D係實施形態2之殼體之縱剖視圖  圖16A係實施形態2之法蘭盤與殼體接觸之狀態之縱剖視圖  圖16B係圖16A之部分放大圖
2:探針
3:連接器
4:柱塞
4A:嵌合部
4B:筒狀部
6:同軸纜線
8:法蘭盤
10:彈簧
11:上表面
12:殼體
12A:一側之端部
13:凹部
17:擴徑部
B-B:剖面
R:周向
X:方向
Y:方向
Z:方向

Claims (8)

  1. 一種探針，其係用於進行連接器之特性檢查者，且具備：法蘭盤，其具有貫通孔，且前述貫通孔配置為在鉛直方向延伸；同軸纜線，其插通於前述貫通孔且在軸向延伸，在前端部連接有探針接腳；柱塞，其將前述探針接腳內包並使前述探針接腳之前端露出；及殼體，其具有將前述同軸纜線內包之筒狀之形狀，且一側之端部嵌合於前述法蘭盤，另一側之端部安裝於前述柱塞；且前述殼體具備插通於前述法蘭盤之前述貫通孔之筒狀之本體部；前述殼體之前述一側之端部具有自前述本體部在水平方向擴徑之擴徑部；在前述法蘭盤之上表面，形成有以承接前述殼體之前述擴徑部之方式將前述貫通孔在水平方向擴大之凹部；形成前述法蘭盤之前述凹部之前述上表面係在水平方向延伸之水平面；前述擴徑部具有：與形成前述凹部之前述法蘭盤之內側面部分地接觸或對向之側壁、及抵接於形成前述凹部之前述法蘭盤之上表面之底壁；前述擴徑部具有將前述側壁與前述底壁連接之連接面，前述連接面係自前述側壁朝向前述底壁朝內側傾斜之傾斜面，或者，形成前述凹部之前述法蘭盤之前述內側面具有朝斜下方傾斜之第1面，且具有自前述第1面朝下方延伸且連接於前述法蘭盤之前述上表面之鉛直面即第2面。
  2. 一種探針，其係用於進行連接器之特性檢查者，且具備：法蘭盤，其具有貫通孔，且前述貫通孔配置為在鉛直方向延伸；同軸纜線，其插通於前述貫通孔且在軸向延伸，在前端部連接有探針接腳；柱塞，其將前述探針接腳內包並使前述探針接腳之前端露出；及殼體，其具有將前述同軸纜線內包之筒狀之形狀，且一側之端部嵌合於前述法蘭盤，另一側之端部安裝於前述柱塞；且前述殼體具備插通於前述法蘭盤之前述貫通孔之筒狀之本體部；前述殼體之前述一側之端部具有自前述本體部在水平方向擴徑之擴徑部；在前述法蘭盤之上表面形成有以承接前述殼體之前述擴徑部之方式將前述貫通孔在水平方向擴大之凹部；前述擴徑部具有：與形成前述凹部之前述法蘭盤之內側面部分地接觸或對向之側壁、及抵接於形成前述凹部之前述法蘭盤之上表面之底壁；在前述擴徑部與前述法蘭盤之間，具有用於供前述擴徑部一面與前述法蘭盤之上表面接觸、一面在前述法蘭盤之上表面上可於前述水平方向移動的間隙。
  3. 如請求項2之探針，其中前述擴徑部具有將前述側壁與前述底壁連接之連接面，且前述連接面係自前述側壁朝向前述底壁於內側傾斜之傾斜面。
  4. 如請求項2之探針，其中形成前述凹部之前述法蘭盤之前述內側面具 有朝斜下方傾斜之第1面，且具有自前述第1面朝下方延伸且連接於前述法蘭盤之前述上表面之鉛直面即第2面。
  5. 如請求項1或2之探針，其中在前述擴徑部中，前述側壁係在鉛直方向延伸之鉛直面，前述底壁係在水平方向延伸之水平面。
  6. 如請求項2之探針，其中形成前述法蘭盤之前述凹部之前述上表面係在水平方向延伸之水平面。
  7. 如請求項1或2之探針，其中前述擴徑部之前述底壁、及形成前述法蘭盤之前述凹部之前述上表面為平坦。
  8. 如請求項1或2之探針，其具有彈性構件，該彈性構件之一端安裝於前述法蘭盤之凹部下表面，另一端安裝於前述柱塞。
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