TW201833559A - 探針結構 - Google Patents

探針結構 Download PDF

Info

Publication number
TW201833559A
TW201833559A TW106142177A TW106142177A TW201833559A TW 201833559 A TW201833559 A TW 201833559A TW 106142177 A TW106142177 A TW 106142177A TW 106142177 A TW106142177 A TW 106142177A TW 201833559 A TW201833559 A TW 201833559A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
flange
plunger
connector
housing
probe structure
Prior art date
Application number
TW106142177A
Other languages
English (en)
Other versions
TWI637175B (zh
Inventor
劍崎真一
Original Assignee
日商村田製作所股份有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 日商村田製作所股份有限公司 filed Critical 日商村田製作所股份有限公司
Publication of TW201833559A publication Critical patent/TW201833559A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI637175B publication Critical patent/TWI637175B/zh

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/66—Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
    • G01R31/68—Testing of releasable connections, e.g. of terminals mounted on a printed circuit board
    • G01R31/69—Testing of releasable connections, e.g. of terminals mounted on a printed circuit board of terminals at the end of a cable or a wire harness; of plugs; of sockets, e.g. wall sockets or power sockets in appliances
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/66—Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
    • G01R31/68—Testing of releasable connections, e.g. of terminals mounted on a printed circuit board
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0416—Connectors, terminals
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/073—Multiple probes
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/073—Multiple probes
    • G01R1/07392—Multiple probes manipulating each probe element or tip individually
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/02—Contact members
    • H01R13/15—Pins, blades or sockets having separate spring member for producing or increasing contact pressure
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/02—Contact members
    • H01R13/22—Contacts for co-operating by abutting
    • H01R13/24—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R24/00—Two-part coupling devices, or either of their cooperating parts, characterised by their overall structure
    • H01R24/38—Two-part coupling devices, or either of their cooperating parts, characterised by their overall structure having concentrically or coaxially arranged contacts
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R11/00—Individual connecting elements providing two or more spaced connecting locations for conductive members which are, or may be, thereby interconnected, e.g. end pieces for wires or cables supported by the wire or cable and having means for facilitating electrical connection to some other wire, terminal, or conductive member, blocks of binding posts
    • H01R11/11—End pieces or tapping pieces for wires, supported by the wire and for facilitating electrical connection to some other wire, terminal or conductive member
    • H01R11/18—End pieces terminating in a probe
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R2201/00—Connectors or connections adapted for particular applications
    • H01R2201/20—Connectors or connections adapted for particular applications for testing or measuring purposes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
  • Details Of Connecting Devices For Male And Female Coupling (AREA)
  • Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)

Abstract

用於進行至少具有1個端子之連接器的特性檢查之探針結構具備柱塞、同軸探針、法蘭、殼體及彈簧，殼體之其中一側之端部及法蘭之貫穿孔具有在殼體之其中一側之端部嵌合於法蘭之貫穿孔之狀態下，限制殼體朝向周方向之旋轉之形狀，藉此，可精度更佳地進行連接器之端子之特性檢查。

Description

探針結構
本發明係關於一種連接器用之探針結構。
習知技術中，揭示有一種探針結構，其用於進行作為被檢查體之連接器之特性檢查(例如參照專利文獻1)。
專利文獻1之探針結構係用於進行同軸連接器之特性檢查之探針結構，尤其係進行設有複數個端子以供複數個訊號傳輸之多極連接器之特性檢查者。專利文獻1之探針結構具備可對多極連接器之複數個端子同時接觸之複數個中心導體。
現有技術文獻
專利文獻
專利文獻1：國際公開第2016/072193號公報
另一方面，於連接器之探針結構中，要求提高端子之特性檢查之精度。於如專利文獻1之探針結構般，使複數個中心導體同時接觸至複數個端子之情形中，會產生端子與中心導體之位置偏離，從而特性檢查之精度容易下降。故而要求開發一種技術，其包含專利文獻1中揭示之探針結構，可精度更佳地進行端子之特性檢查。
因而，本發明之目的在於解決上述問題，提供一種可精度更佳地進行連接器之端子的特性檢查之探針結構。
為達成上述目的，本發明之探針結構用於進行至少具有1個端子之連接器之特性檢查，其具備：柱塞，其具有供上述連接器嵌合之溝槽部；同軸探針，其插通於上述柱塞內，並且使導通銷於與嵌合於上述柱塞之上述溝槽部的上述連接器之上述端子對應之位置露出；法蘭，其在相對於上述柱塞而與上述導通銷之露出側為相反側隔開間隔之位置，固定於用於進行上述特性檢查之設備，且形成有供上述同軸探針插通之貫穿孔；殼體，其中一側之端部從與上述柱塞所配置之側為相反側嵌合至上述法蘭之上述貫穿孔，一面內包上述同軸探針一面朝向上述柱塞延伸，另一側之端部安裝於上述柱塞；以及彈簧，其安裝於上述柱塞與上述法蘭之間且設於包圍上述殼體之位置，朝遠離上述法蘭之方向對上述柱塞施力，上述殼體之上述其中一側之端部及上述法蘭之上述貫穿孔具有在上述殼體之上述其中一側之端部嵌合於上述法蘭之上述貫穿孔之狀態下，限制上述殼體朝向周方向之旋轉之外形。
根據本發明之探針結構，可精度更佳地進行連接器之端子之特性檢查。
2、40、50‧‧‧探針結構
3、14‧‧‧連接器
3a、3b‧‧‧端子
4‧‧‧柱塞
4a‧‧‧嵌合部
4b‧‧‧筒狀部
4c‧‧‧凹部
6‧‧‧同軸探針
8、42、52‧‧‧法蘭
8A、42A、52A‧‧‧貫穿孔
10‧‧‧彈簧
16‧‧‧導通銷
18‧‧‧筒管
22‧‧‧溝槽部
22a‧‧‧第1空間
22b‧‧‧第2空間
24‧‧‧底壁
26‧‧‧第1側壁
28‧‧‧第2側壁
30、44、54‧‧‧殼體
30A、44A、54A‧‧‧其中一側之端部
30B、44C、54C‧‧‧另一側之端部
32‧‧‧環
34‧‧‧板
38‧‧‧夾具
42B、52B‧‧‧表面
42C、52C‧‧‧突起
44B、54B‧‧‧溝槽
52D‧‧‧傾斜面
A、B、C、D、E‧‧‧箭頭
F‧‧‧外力
F1、F2‧‧‧力
H‧‧‧水平面
L1‧‧‧線
R‧‧‧周方向
X‧‧‧摩擦力
θ‧‧‧傾斜角度
本發明之該些形態及特徵將根據與關於隨附圖式之較佳實施形態關聯之以下記述而明確。
圖1係實施形態1中之探針結構之概略立體圖。
圖2係表示探針結構之一部分之概略立體圖。
圖3係表示探針結構之一部分之概略立體圖。
圖4係表示插通於柱塞內之複數根同軸探針之概略立體圖。
圖5係表示1根同軸探針之概略立體圖。
圖6係用於對同軸探針與多極連接器之端子之關係進行說明之概略立體圖。
圖7係柱塞中之嵌合部之局部性的概略縱剖面圖。
圖8A係用於對將多極連接器配置於溝槽部中而進行端子之特性檢查之方法進行說明之概略剖面圖。
圖8B係用於對將多極連接器配置於溝槽部中而進行端子之特性檢查之方法進行說明之概略剖面圖。
圖9係探針結構之分解立體圖。
圖10係探針結構之分解立體圖。
圖11係探針結構之概略縱剖面圖。
圖12A係表示殼體與法蘭嵌合之嵌合狀態之概略立體圖。
圖12B係表示殼體與法蘭未嵌合之非嵌合狀態之概略立體圖。
圖13係表示將連接器配置於柱塞之溝槽部中而進行定位時之各構成構件之位置關係之概略圖。
圖14係表示將連接器配置於柱塞之溝槽部中而進行定位時之各構成構件之位置關係之概略圖。
圖15係表示將連接器配置於柱塞之溝槽部中而進行定位時之各構成構件之位置關係之概略圖。
圖16係表示溝槽部中之第2側壁之結構之概略縱剖面圖。
圖17係表示第2側壁之摩擦係數與傾斜角度之關係之圖表。
圖18係實施形態2中之探針結構之概略立體圖。
圖19係實施形態3中之探針結構之概略立體圖。
根據本發明之第1形態，提供一種探針結構，其用於進行至少具有1個端子之連接器之特性檢查，其具備：柱塞，其具有供上述連接器嵌合之溝槽部；同軸探針，其插通於上述柱塞內，並且使導通銷於與嵌合於上述柱塞之上述溝槽部的上述連接器之上述端子對應之位置露出；法蘭，其在相對於上述柱塞而與上述導通銷之露出側為相反側隔開間隔之位置，固定於用於進行上述特性檢查之設備，且形成有供上述同軸探針插通之貫穿孔；殼體，其中一側之端部從與上述柱塞所配置之側為相反側嵌合至上述法蘭之上述貫穿孔，一面內包上述同軸探針一面朝向上述柱塞延伸，另一側之端部安裝於上述柱塞；以及彈簧，其安裝於上述柱塞與上述法蘭之間且設於包圍上述殼體之位置，朝遠離上述法蘭之方向對上述柱塞施力，上述殼體之上述其中一側之端部及上述法蘭之上述貫穿孔具有在上述殼體之上述其中一側之端部嵌合於上述法蘭之上述貫穿孔之狀態下，限制上述殼體朝向周方向之旋轉之外形。根據此種結構，柱塞及殼體可根據連接器之端子之位置而旋轉，可使同軸探針之導通銷精度良好地接觸至連接器之端子，從而可提高特性檢查之可靠性。
根據本發明之第2形態，提供第1形態所述之探針結構，其中，上述殼體之上述其中一側之端部具有朝向上述另一側之端部而朝內側收窄之錐形狀，上述法蘭之上述貫穿孔具有容受上述殼體之上述其中一側之端部之傾斜形狀。根據此種結構，由殼體及法蘭之貫穿孔之外形形狀構成殼體之旋轉限制機構，藉此，不設突起等，利用簡單的結構便可實現殼體之旋轉限制機構。
根據本發明之第3形態，提供第1形態或第2形態所述之探針結構，其中，上述法蘭於容受上述殼體之上述其中一側之端部之側之面上的上述貫穿孔周圍，具有朝向上述殼體之上述其中一側之端部延伸之突起，上述殼體 之上述其中一側之端部形成供上述法蘭之上述突起嵌合之溝槽。根據此種結構，由溝槽與突起構成殼體之旋轉限制機構，藉此，可更確實地限制殼體之旋轉。
根據本發明之第4形態，提供第3形態所述之探針結構，其中，上述法蘭之上述突起及上述殼體之上述溝槽係沿周方向連續不斷地設置。根據此種結構，利用較將突起與溝槽分別分為複數個地設置之情形更為簡單的結構，便可實現殼體之旋轉限制機構。
根據本發明之第5形態，提供第3形態所述之探針結構，其中，上述法蘭之上述突起及上述殼體之上述溝槽係分別沿周方向而分為複數個地設置。根據此種結構，可更確實地限制殼體之旋轉。
根據本發明之第6形態，提供第1形態至第5形態中任一形態所述之探針結構，其中，形成上述溝槽部之上述柱塞之壁部具備：底壁，其使上述導通銷之前端部露出；第1側壁，其自上述底壁之周圍豎立；以及第2側壁，其自上述第1側壁之周圍豎立，並且以朝向上述第1側壁而朝內側收窄之方式傾斜。根據此種結構，可將連接器精度良好地配置於所期望之測定位置，因此可精度更佳地實施連接器之端子之特性檢查。
根據本發明之第7形態，提供第6形態所述之探針結構，其中，上述第2側壁之傾斜角度係基於構成上述第2側壁之材料之摩擦係數而設定。根據此種結構，可藉由第2側壁來確實地引導連接器，從而可提高連接器之定位精度。
以下，基於圖式詳細說明本發明之實施形態。
(實施形態1)
圖1至圖3係表示實施形態1中之探針結構2之概略結構之圖。圖1係表示探針結構2之概略立體圖，圖2、圖3係表示探針結構2之一部分之概略立體圖。
探針結構2係進行具有複數個端子之連接器(多極連接器)3之特 性檢查之檢查器具。探針結構2具備柱塞4、同軸探針6、法蘭8、彈簧10及連接器14。
柱塞4係用於使連接器3嵌合而定位之定位構件。柱塞4例如由SUS(Steel Special Use Stainless，不鏽鋼)所形成。柱塞4具備供連接器3嵌合之嵌合部4a、及形成為筒狀之筒狀部4b。嵌合部4a係自筒狀部4b之端部突出地形成。於嵌合部4a，形成有用於使連接器3嵌合之溝槽部22(圖3)。溝槽部22周邊之詳細結構將於後述。
於柱塞4之內部，插通有複數個同軸探針6。
同軸探針6係用於與連接器3之端子接觸並電性導通之構件。同軸探針6構成為棒狀，其前端部自柱塞4露出。
本實施形態中，尤其於1個探針結構2中設有複數個同軸探針6。藉由此種結構，即使於作為被檢查體之連接器3具備複數個端子之情形時，亦可同時實施連接器3之各端子之特性檢查。本實施形態1中，例示設有3個同軸探針6之情形。
法蘭8係用於將探針結構2安裝至既定設備(例如，用於基於連接器3之特性檢查結果來揀選安裝有連接器3之印刷基板之揀選機等)之構件。法蘭8被固定於柱塞4之筒狀部4b中的與嵌合部4a為相反側之端部。
彈簧10係用於將同軸探針6以適當之負荷按壓至連接器3之端子之彈性構件。彈簧10被設於柱塞4之筒狀部4b之周圍，且安裝於法蘭8與嵌合部4a之間。
連接器14係用於將同軸探針6連接至外部之測定器(未圖示)之連接器。本實施形態1中，對應於3個同軸探針6之各個而設有3個連接器14。
接下來，使用圖4、圖5說明同軸探針6。
圖4係表示插通至柱塞4內之複數根同軸探針6之概略立體圖。圖5 係表示1根同軸探針6之概略立體圖。
如圖4、圖5所示，同軸探針6具備導通銷16及筒管18。
導通銷16係與連接器3之各端子接觸而導通之棒狀構件。導通銷16由導電性之材料所形成，以與連接器3之各端子導通。導通銷16作為對連接器3之各端子之特性進行測定之測定銷發揮功能。
筒管18係覆蓋導通銷16周圍之筒狀構件。筒管18係以在相對於導通銷16而電性絕緣之狀態下，覆蓋導通銷16周圍之方式而設。筒管18被壓入固定至柱塞4內。筒管18例如係對銅系材料(例如磷青銅)實施鍍金而形成。
接下來，使用圖6說明同軸探針6與連接器3之端子之關係。
如圖6所示，於連接器3中，設有複數個端子3a。本實施形態1中，藉由將8個端子3a各排列有2列，從而設有合計16個端子3a。於與其中之3個端子3b對應之位置，設有3個同軸探針6。具體而言，柱塞4中之同軸探針6之位置被設定為，當連接器3配置於溝槽部22中時，同軸探針6之導通銷16之前端部接觸至端子3b。藉此，可使3個同軸探針6之導通銷16同時接觸至連接器3之3個端子3b，從而同時進行各個端子3b之特性檢查。
接下來，使用圖7說明柱塞4之嵌合部4a之結構。
圖7係柱塞4之嵌合部4a之局部性的縱剖面圖。如圖7所示，於柱塞4之嵌合部4a中，形成有用於使連接器3嵌合之溝槽部22。藉由形成溝槽部22，從而嵌合部4a具有朝內側凹陷之外形。
本實施形態1之溝槽部22具有第1空間22a與第2空間22b。
第1空間22a係用於配置連接器3之空間，比起第2空間22b形成於更內側。同軸探針6之導通銷16之前端部露出於第1空間22a內。
第2空間22b係形成於第1空間22a外側之空間。第2空間22b如後所述般，係作為用於將連接器3引導至第1空間22a之空間發揮功能。
第1空間22a由嵌合部4a之底壁24及第1側壁26所形成。底壁24為構成溝槽部22之底面的嵌合部4a之壁部。底壁24使同軸探針6之導通銷16之前端部露出。第1側壁26為自底壁24之周圍豎立之側壁。本實施形態1中之第1側壁26係以相對於底壁24而正交之方式豎立。
第2空間22b由嵌合部4a之第2側壁28所形成。第2側壁28為自第1側壁26之周圍豎立之側壁。本實施形態1中之第2側壁28係以朝向遠離第1側壁26之方向呈放射狀向外側展開之方式而延伸。換言之，第2側壁28具有以朝向第1空間22a而朝內側收窄之方式傾斜之錐形狀。具有此種形狀之第2側壁28作為引導連接器3朝向第1空間22a之導引部發揮功能。
接下來，使用圖8A、圖8B來說明將連接器3配置於溝槽部22中以進行端子3b之特性檢查之方法。
圖8A、圖8B係表示將連接器3配置於溝槽部22中之動作之概略剖面圖。
如圖8A所示，首先，使連接器3靠近溝槽部22(箭頭A)。藉此，連接器3開始與嵌合部4a之第2側壁28之接觸(圖中左側)。
如上所述，第2側壁28具有以朝向第1側壁26內之第1空間22a而朝內側收窄之方式傾斜之錐形狀。藉此，與第2側壁28接觸之連接器3朝向第1空間22a而受到引導(箭頭B)。
最終，如圖8B所示，連接器3配置於第1側壁26內之第1空間22a中。連接器3藉由被第1側壁26包圍而定位於既定之測定位置。此時，連接器3之端子3b接觸至同軸探針6之導通銷16。藉此，可同時進行各個端子3b之特性檢查。
如此，藉由使複數個同軸探針6同時接觸至連接器3之複數個端子3b，從而可同時實施複數個端子3b之特性檢查。藉此，可同時測定複數個訊號。
對於行動電話或智慧型手機內部之RF訊號線之連接等，迄今為 止，主要使用僅具有1個端子之同軸連接器。近年來，要處理複數個頻帶之RF訊號，因而具有複數根RF訊號線，相應地，亦須排列使用複數個同軸連接器。隨著電路之高密度化之推進，為實現節省空間等目的，正逐漸採用使RF訊號於異形形狀之多極連接器之若干個端子中傳輸之設計，以取代同軸連接器之使用。
相對於此，本實施形態1之探針結構2可作為可同時連接至連接器3之複數個端子3b，從而同時進行複數線之特性檢查之測定用探針發揮功能。
如上所述，本實施形態1之探針結構2係用於進行具有複數個端子3a之連接器3的特性檢查之探針結構，具備柱塞4及同軸探針6。柱塞4具有供連接器3嵌合之溝槽部22。同軸探針6插通於柱塞4內，並且在與嵌合於柱塞4之溝槽部22中的連接器3之複數個端子3a中之至少1個(本實施形態1中為3個端子3b)對應之位置，分別配置有導通銷16。
根據此種結構，於1個探針結構2中設有複數個同軸探針6，因此可同時進行具有複數個端子3a之連接器3中的複數個端子3b之特性檢查。藉此，可同時測定複數個訊號。
又，於本實施形態1之探針結構2中，形成溝槽部22之柱塞4之壁部具備底壁24、第1側壁26及第2側壁28。底壁24使導通銷16之前端部露出。第1側壁26自底壁24之周圍豎立。第2側壁28自第1側壁26之周圍豎立，並且以朝向第1側壁26而朝內側收窄之方式傾斜。
根據此種結構，與第2側壁28接觸之連接器3朝向第1側壁26內之空間及底壁24而受到引導。藉此，可將連接器3精度良好地配置於所期望之測定位置。因此，可精度更佳地實施連接器3之端子3b之特性檢查。
接下來，使用圖9至圖11來說明探針結構2之更詳細之結構。圖9、圖10係探針結構2之分解立體圖，圖11係探針結構2之概略縱剖面圖。
如圖9至圖11所示，探針結構2除上述柱塞4、同軸探針6、法蘭8、 彈簧10及連接器14以外，還具備殼體30、環32及板34。圖1至8B中，省略了殼體30、環32及板34之圖示。
殼體30係內包同軸探針6，並且嵌合於法蘭8之貫穿孔8A之構件。殼體30具有其中一側(上方)之端部30A、及另一側(下方)之端部30B。其中一側之端部30A嵌合於法蘭8之貫穿孔8A。另一側之端部30B嵌合於上述柱塞4之凹部4c。
其中一側之端部30A具有水平方向之外形尺寸較另一側之端部30B為大之擴徑形狀。殼體30之形狀為中空之筒狀，於其內部內包有同軸探針6。
於圖11中，表示殼體30之其中一側之端部30A嵌合於法蘭8之貫穿孔8A之狀態。又，殼體30之另一側之端部30B嵌合於柱塞4，於殼體30及柱塞4之周圍配置有彈簧10。於彈簧10與法蘭8接觸之部位設有環32。環32係夾在法蘭8與殼體30之間，用於使兩者之滑動變佳之構件。環32例如由滑動性優異之聚甲醛(POM,Polyoxymethylene)等材料所形成。環32係以包圍殼體30之外周部之方式而形成為中空之筒狀。
板34係於柱塞4之凹部4c內，配置於殼體30之另一側之端部30B與柱塞4之間之構件。藉由設置板34，可抑制同軸探針6朝上方脫落。
於殼體30之另一側之端部30B經由板34而安裝於柱塞4之狀態下，殼體30與柱塞4以沿周方向R一體地旋轉之方式彼此嵌合。
此種結構中，於本實施形態1中，致力於將連接器3定位至柱塞4之溝槽部22時可精度良好地進行定位。具體而言，使用圖12A至圖15進行說明。
圖12A係殼體30與法蘭8嵌合之嵌合狀態之概略立體圖。圖12B係殼體30移動至法蘭8上方而未彼此嵌合之非嵌合狀態之概略立體圖。圖12A、圖12B中，省略了殼體30與法蘭8以外之結構之圖示。
圖12A所示之嵌合狀態下，殼體30之其中一側之端部30A嵌合於 法蘭8之貫穿孔8A。此時，殼體30朝向周方向R之旋轉被法蘭8限制。具體而言，其中一側之端部30A及貫穿孔8A為自上方朝向下方而朝內側收窄之錐狀，尤其周方向R之外周為非圓形。本實施形態1中，為俯視時角部有弧度之大致矩形狀。藉由採用此種形狀，在殼體30與法蘭8之嵌合狀態下，殼體30之朝向周方向R之旋轉被法蘭8限制。
如此，殼體30之其中一側之端部30A及法蘭8之貫穿孔8A分別具有在嵌合狀態下限制殼體30之朝向周方向R之旋轉之外形。
另一方面，安裝於殼體30下方之柱塞4在將連接器3配置於溝槽部22中之狀態下，由連接器3朝上方按壓。此時，藉由設於柱塞4及殼體30周圍之彈簧10收縮，從而如圖12B所示，殼體30相對於法蘭8而朝上方移動。藉此，殼體30之其中一側之端部30A成為未與法蘭8之貫穿孔8A嵌合之非嵌合狀態。在圖12B所示之非嵌合狀態下，殼體30未被法蘭8限制旋轉，可相對於法蘭8而沿周方向R旋轉。因而，根據連接器3之端子之位置，殼體30及柱塞4可旋轉。具體而言，使用圖13至15進行說明。
圖13至圖15係表示將連接器3配置於柱塞4之溝槽部22中進行定位時之各構成構件之位置關係之概略圖。(a)係自上方觀察法蘭8及殼體30之概略圖，(b)係自側方觀察探針結構2及連接器3之概略圖，(c)係表示柱塞4之溝槽部22及連接器3之旋轉位置之概略圖。
圖13中，表示探針結構2自上方靠近連接器3之狀態。連接器3藉由夾具38而固定。如圖13(b)所示，由於柱塞4未與連接器3接觸，因此柱塞4及彈簧10未自連接器3受到朝向上方之按壓力。未受到來自連接器3之按壓力之彈簧10朝遠離法蘭8的方向即下方對柱塞4施力(箭頭C)。藉由彈簧10，柱塞4及殼體30朝下方受力，殼體30與法蘭8之嵌合狀態得以維持。由於此係上述圖12A所示之嵌合狀態，因此殼體30之朝向周方向R之旋轉受到限制。藉由在此狀態下 使柱塞4朝向連接器3靠近，可保持殼體30及柱塞4之旋轉位置固定而將柱塞4靠近連接器3，從而可精度良好地進行定位。
圖13所示之示例中，如圖13(c)所示，俯視時之連接器3之旋轉位置與柱塞4之溝槽部22之旋轉位置並不一致。
當使柱塞4靠近連接器3時，如圖14所示，連接器3被配置於柱塞4之溝槽部22內而柱塞4接觸至連接器3。當將柱塞4相對於連接器3而朝下方按壓時，由於連接器3被夾具38固定，因此自連接器3受到朝向上方之反作用力(參照箭頭D)。藉由該反作用力，柱塞4朝上方受到按壓。當柱塞4朝上方受到按壓時，如使用圖12B所說明般，彈簧10收縮，藉此，柱塞4及殼體30朝上方移動，殼體30與法蘭8之嵌合狀態被解除。由於此係上述圖12B所示之非嵌合狀態，因此殼體30之旋轉不受法蘭8限制，殼體30可朝周方向R旋轉。
如使用圖7等前述般，於柱塞4之溝槽部22內，設有作為導引部之第2側壁28，其將連接器3朝向內側引導。因此，當柱塞4之溝槽部22開始與連接器3接觸時，如圖14(a)、14(b)所示，柱塞4及殼體30沿周方向R旋轉，以靠近連接器3之旋轉位置。此時，彈簧10及環32(圖11)亦同樣旋轉。
當將柱塞4進一步按壓向連接器3時，柱塞4及殼體30進一步沿周方向R旋轉，最終成為圖15所示之狀態。圖15所示之狀態下，如圖15(c)所示，柱塞4之溝槽部22之旋轉位置與連接器3之旋轉位置一致。此時，露出於溝槽部22之3根同軸探針6係配置於與連接器3之端子3b對應之位置，可確實地接觸至端子3b。如此，可使同軸探針6與連接器3之端子3b精度良好地接觸，因此可提高連接器3之特性檢查之精度。
如上所述，根據實施形態1之探針結構2，在殼體30與法蘭8嵌合之狀態下，殼體30之旋轉受到限制，另一方面，在殼體30與法蘭8未嵌合之狀態下，殼體30之旋轉限制被解除。具體而言，殼體30之其中一側之端部30A及法蘭 8之貫穿孔8A具有在殼體30之其中一側之端部30A嵌合於法蘭8之貫穿孔8A之狀態下，限制殼體30之朝向周方向R之旋轉之外形。藉由此種結構，可使同軸探針6精度良好地接觸至連接器3之端子3b，從而可提高特性檢查之可靠性。
更具體而言，藉由彈簧10對柱塞4施力，藉此，安裝於柱塞4的殼體30始終朝向與法蘭8嵌合的方向受力。藉此，當將連接器3定位於柱塞4之溝槽部時，可在固定柱塞4及殼體30之旋轉位置之狀態下進行定位。因此，可精度良好地對連接器3進行定位。又，當在將連接器3配置於柱塞4之溝槽部中之狀態下將連接器3按壓向柱塞4時，彈簧10收縮，藉此，殼體30與法蘭8之嵌合狀態被解除，柱塞4及殼體30變得可旋轉。藉此，柱塞4及殼體30可根據連接器3之端子3b之位置而旋轉，從而可使同軸探針6精度良好地接觸至連接器3之端子3b，可提高特性檢查之精度。
又，根據實施形態1之探針結構2，殼體30之其中一側之端部30A具有朝向另一側之端部30B而朝內側收窄之錐形狀。又，法蘭8之貫穿孔8A具有容受殼體30之其中一側之端部30A之傾斜形狀。如此，由殼體30及法蘭8之貫穿孔8A之外形形狀構成限制殼體30旋轉之旋轉限制機構。根據此種結構，可不於法蘭8或者殼體30上設置突起等，利用簡單的結構便可實現殼體30之旋轉限制機構。
接下來，使用圖16、圖17說明於溝槽部22中將連接器3朝向內側引導之第2側壁28之結構。
如圖16所示，當柱塞4朝下方移動(參照箭頭E)，而連接器3(未圖示)接觸至溝槽部22之第2側壁28時，朝向上方之外力F自連接器3作用至第2側壁28。外力F被分解為與第2側壁28平行之方向之力F1、及與第2側壁28垂直之方向之力F2。力F2被第2側壁28承受，另一方面，力F1成為使連接器3沿第2側壁28滑動移動的推進力。與此相對，於第2側壁28上，在與力F1所作用之方向相反 之方向上產生摩擦力X。
本實施形態1中，為沿第2側壁28確實地產生連接器3之滑動移動，以力F1大於摩擦力X之方式算出第2側壁28之傾斜角度θ。具體而言，摩擦力X係由與第2側壁28之材質相應之摩擦係數μ所決定者，因此以滿足下述式1之關係之方式設定傾斜角度θ。再者，第2側壁28之傾斜角度θ係指第2側壁28相對於水平面H之傾斜角度。
(式1)θ>tanμ(rad)=(180×tanμ)/π(度)
自式1導出之摩擦係數μ與傾斜角度θ之關係示於圖17。圖17中，圖示了線L1，該線L1對應於自式1導出之摩擦力X和力F1為相等之摩擦係數μ、與傾斜角度θ之關係。於圖17之表中，相對於某摩擦係數μ，若設定較線L1位於上方之傾斜角度θ，便可使力F1確實地大於摩擦力X，從而可使連接器3沿第2側壁28確實地移動。
如上所述，根據實施形態1之探針結構2，第2側壁28之傾斜角度θ係基於構成第2側壁28之材料之摩擦係數μ而設定。更具體而言，第2側壁28之傾斜角度θ係設定為較根據摩擦係數μ而自式1導出之下限值(線L1)更大之角度。根據此種角度設定，可沿第2側壁28確實地引導連接器3，從而可進一步提高連接器3之定位精度。
再者，於構成第2側壁28之材料例如為不鏽鋼之情形時，該摩擦係數為約0.3。此時，根據圖17之表，只要將傾斜角度θ設定為16.7度以上即可。此時，例如亦可帶有餘裕地設定為20度以上。又，若摩擦係數為0.5，則根據圖17之表，只要將傾斜角度θ設定為26.6度以上即可，因此亦可帶有餘裕地設定為例如30度以上。
(實施形態2)
使用圖18說明本發明之實施形態2之探針結構40。再者，實施形態2中，主要說明與實施形態1之不同點。
圖18係表示實施形態2之探針結構40中之法蘭42與殼體44之概略立體圖。圖18中，省略了法蘭42與殼體44以外之結構之圖示。
如圖18所示，於法蘭42中設有貫穿孔42A，供殼體44插通。殼體44具有其中一側之端部44A與另一側之端部44C。於殼體44之其中一側之端部44A，設有複數個溝槽44B。圖18所示之示例中，沿周方向R隔開間隔地於4處設有溝槽44B。又，溝槽44B係沿上下方向貫穿其中一側之端部44A之貫穿孔。
於法蘭42之容受殼體44之其中一側之端部44A側之表面42B，於貫穿孔42A之周圍具有複數個突起42C。複數個突起42C係與殼體44之其中一側之端部44A中的複數個溝槽44B嵌合。與溝槽44B同樣地，沿周方向R而分為多處地設有複數個突起42C。圖18所示之示例中，於與複數個突起42C對應之位置，沿周方向R隔開間隔地於4處設有溝槽44B。圖18所示之示例中，突起42C具有前端部帶弧度之柱狀形狀。
當殼體44自圖18所示之狀態朝向法蘭42下降而突起42C嵌合至溝槽44B時，殼體44之朝向周方向R之旋轉受法蘭42限制。
根據上述結構，由溝槽44B與突起42C構成限制殼體44旋轉之旋轉限制機構，藉此，可更確實地限制殼體44之旋轉。尤其，本實施形態2中，法蘭42之突起42C及殼體44之溝槽44B係分別沿周方向R而分為複數個地設置。藉此，可更確實地限制殼體44之旋轉。
(實施形態3)
使用圖19說明本發明之實施形態3之探針結構。再者，實施形態3中，主要說明與實施形態1、2之不同點。
圖19係表示實施形態3之探針結構50中之法蘭52與殼體54之概略 立體圖。圖19中，省略了法蘭52與殼體54以外之結構之圖示。
如圖19所示，於法蘭52中設有貫穿孔52A，供殼體54插通。殼體54具有其中一側之端部54A與另一側之端部54C。於殼體54之其中一側之端部54A設有溝槽54B。溝槽54B係沿周方向R而連續不斷地形成。又，溝槽54B係使其中一側之端部54A之下表面朝內側凹陷之凹部。
於法蘭52之容受殼體54之其中一側之端部54A側之表面52B，於貫穿孔52A之周圍具有突起52C。突起52C與殼體54之其中一側之端部54A中的溝槽54B嵌合。與溝槽54B同樣地，突起52C沿周方向R而連續不斷地形成。圖19所示之示例中，突起52C具有前端部朝向外側而朝斜下方傾斜之傾斜面52D。
當殼體54自圖19所示之狀態朝向法蘭52下降而突起52C嵌合至溝槽54B時，殼體54之朝向周方向R之旋轉受法蘭52限制。
根據上述結構，與實施形態2同樣地，由溝槽54B與突起52C構成限制殼體54旋轉之旋轉限制機構，藉此，可更確實地限制殼體54之旋轉。尤其，本實施形態3中，法蘭52之突起52C及殼體54之溝槽54B係分別沿周方向R而連續不斷地形成。藉此，利用較如實施形態2般將溝槽與突起分別分為複數個地設置之情形更為簡單的結構，便可實現殼體54之旋轉限制機構。
又，突起52C與殼體54之其中一側之端部54A接觸之部位係朝斜下方傾斜之傾斜面52D。藉此，當殼體54自法蘭52稍許上升時，殼體54便可旋轉。藉此，可進一步提高定位精度。
以上，舉上述實施形態1至3說明了本發明，但本發明並不限定於上述實施形態1至3。例如，上述實施形態1至3中，對設有3個同軸探針6而同時實施連接器3之對應端子3b之特性檢查之情形進行了說明，但並不限於此種情形。亦可根據連接器3中期望特性檢查之端子3a之數量而設置1個、2個或者4個以上之同軸探針6。對於連接器3，亦不限於具有複數個端子3a之多極連接器， 亦可為僅具有1個端子之單極連接器。亦即，只要於與連接器3中的端子3a中之至少1個對應之位置，設置配置有導通銷16之1個以上之同軸探針6即可。此種情形時，亦可起到與實施形態同樣之效果。
又，上述實施形態1至3中，對於溝槽部22中形成第1空間22a，與朝向第1空間22a而朝內側收窄之方式傾斜的第2空間22b之情形進行了說明，但並不限於此種情形。例如，亦可不形成第2空間22b。此種情形時，亦可將連接器3配置於第1空間22a內而實施端子3b之特性檢查。然而，藉由如實施形態般設置以朝向第1空間22a而朝內側收窄之方式傾斜之第2空間22b，可將連接器3容易地配置於第1空間22a內，從而可提高端子3b之特性檢查之可靠性。
對於本揭示，一面參照附圖，一面關聯於較佳實施形態而進行了充分記載，但對於熟悉該技術之人而言，各種變形或修正是顯而易見的。應理解為，此類變形或修正只要未脫離隨附之申請專利範圍之本揭示之範圍，便包含於其中。又，各實施形態中之要素之組合或順序之變化可不脫離本揭示之範圍及思想而實現。
再者，藉由將上述各種實施形態1至3及變形例中之任意實施形態或者變形例適當組合，可起到各自所具有之效果。
於2016年12月22日申請之日本專利申請案No.2016-249796號之說明書、圖式及申請專利範圍之揭示內容之全文以參考之方式併入本說明書中。

Claims (10)

  1. 一種探針結構，其用於進行至少具有1個端子之連接器之特性檢查，其具備：柱塞，其具有供上述連接器嵌合之溝槽部；同軸探針，其插通於上述柱塞內，並且使導通銷於與嵌合於上述柱塞之上述溝槽部的上述連接器之上述端子對應之位置露出；法蘭，其在相對於上述柱塞而與上述導通銷之露出側為相反側隔開間隔之位置，固定於用於進行上述特性檢查之設備，且形成有供上述同軸探針插通之貫穿孔；殼體，其中一側之端部從與上述柱塞所配置之側為相反側嵌合至上述法蘭之上述貫穿孔，一面內包上述同軸探針一面朝向上述柱塞延伸，另一側之端部安裝於上述柱塞；以及彈簧，其安裝於上述柱塞與上述法蘭之間且設於包圍上述殼體之位置，朝遠離上述法蘭之方向對上述柱塞施力，上述殼體之上述其中一側之端部及上述法蘭之上述貫穿孔具有在上述殼體之上述其中一側之端部嵌合於上述法蘭之上述貫穿孔之狀態下，限制上述殼體朝向周方向之旋轉之外形。
  2. 如申請專利範圍第1項之探針結構，其中上述殼體之上述其中一側之端部具有朝向上述另一側之端部而朝內側收窄之錐形狀，上述法蘭之上述貫穿孔具有容受上述殼體之上述其中一側之端部之傾斜形狀。
  3. 如申請專利範圍第1項之探針結構，其中上述法蘭於容受上述殼體之上述其中一側之端部之側之面上的上述貫穿孔周圍，具有朝向上述殼體之上述其中一側之端部延伸之突起，上述殼體之上述 其中一側之端部形成供上述法蘭之上述突起嵌合之溝槽。
  4. 如申請專利範圍第2項之探針結構，其中上述法蘭於容受上述殼體之上述其中一側之端部之側之面上的上述貫穿孔周圍，具有朝向上述殼體之上述其中一側之端部延伸之突起，上述殼體之上述其中一側之端部形成供上述法蘭之上述突起嵌合之溝槽。
  5. 如申請專利範圍第3項之探針結構，其中上述法蘭之上述突起及上述殼體之上述溝槽係沿周方向連續不斷地設置。
  6. 如申請專利範圍第4項之探針結構，其中上述法蘭之上述突起及上述殼體之上述溝槽係沿周方向連續不斷地設置。
  7. 如申請專利範圍第3項之探針結構，其中上述法蘭之上述突起及上述殼體之上述溝槽係分別沿周方向而分為複數個地設置。
  8. 如申請專利範圍第4項之探針結構，其中上述法蘭之上述突起及上述殼體之上述溝槽係分別沿周方向而分為複數個地設置。
  9. 如申請專利範圍第1至8中任一項之探針結構，其中形成上述溝槽部之上述柱塞之壁部具備：底壁，其使上述導通銷之前端部露出；第1側壁，其自上述底壁之周圍豎立；以及第2側壁，其自上述第1側壁之周圍豎立，並且以朝向上述第1側壁而朝內側收窄之方式傾斜。
  10. 如申請專利範圍第9項之探針結構，其中上述第2側壁之傾斜角度係基於構成上述第2側壁之材料之摩擦係數而設定。
TW106142177A 2016-12-22 2017-12-01 Probe structure TWI637175B (zh)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016249796 2016-12-22
JPJP2016-249796 2016-12-22
PCT/JP2017/034787 WO2018116568A1 (ja) 2016-12-22 2017-09-26 プローブ構造
??PCT/JP2017/034787 2017-09-26

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201833559A true TW201833559A (zh) 2018-09-16
TWI637175B TWI637175B (zh) 2018-10-01

Family

ID=62626284

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW106142177A TWI637175B (zh) 2016-12-22 2017-12-01 Probe structure

Country Status (6)

Country Link
US (2) US10641814B2 (zh)
JP (1) JP6597915B2 (zh)
CN (1) CN110088632B (zh)
DE (1) DE112017005724T5 (zh)
TW (1) TWI637175B (zh)
WO (1) WO2018116568A1 (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI724637B (zh) * 2018-11-19 2021-04-11 日商村田製作所股份有限公司 探針
TWI808290B (zh) * 2018-12-28 2023-07-11 英屬開曼群島商鴻騰精密科技股份有限公司 測試連接器組件

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113167813A (zh) 2018-11-29 2021-07-23 株式会社村田制作所 探针嵌合构造以及探针
CN113167817B (zh) * 2018-12-13 2024-04-23 株式会社村田制作所 探针
TW202033967A (zh) * 2018-12-21 2020-09-16 日商友華股份有限公司 檢查用輔助具支持具、支持具及檢查用輔助具
KR102158735B1 (ko) * 2019-02-15 2020-09-22 피닉슨컨트롤스 주식회사 플로팅 구조의 프로브 장치
JPWO2020175346A1 (ja) * 2019-02-27 2021-12-02 株式会社村田製作所 プローブ部材およびコネクタの検査構造
CN114223098B (zh) * 2019-10-04 2024-04-12 株式会社村田制作所 探头
CN113325203B (zh) * 2020-02-29 2023-08-18 电连技术股份有限公司 一种探测连接器
JPWO2022163007A1 (zh) * 2021-01-29 2022-08-04
JP2022138224A (ja) * 2021-03-10 2022-09-26 株式会社村田製作所 検査用コネクタ
JP7487701B2 (ja) * 2021-04-16 2024-05-21 株式会社オートネットワーク技術研究所 コネクタ
CN113848515B (zh) * 2021-05-17 2023-06-20 昆山德普福电子科技有限公司 探测器
DE102021122236A1 (de) 2021-08-27 2023-03-02 Telegärtner Karl Gärtner GmbH Prüfadapter

Family Cites Families (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5641315A (en) * 1995-11-16 1997-06-24 Everett Charles Technologies, Inc. Telescoping spring probe
US5940559A (en) * 1996-07-17 1999-08-17 Glenair, Inc. Fiber-optic test probe and connector adapter for testing fiber-optic connector harnesses
JP2003526874A (ja) * 1998-11-25 2003-09-09 リカ エレクトロニクス インターナショナル インコーポレイテッド 電気接触装置
CN2405224Y (zh) * 1999-11-30 2000-11-08 深圳市中兴通讯股份有限公司 同轴射频信号测试探针
JP2002005959A (ja) * 2000-06-22 2002-01-09 Nidec-Read Corp 同軸型コンタクトプローブ及び多点測定用コンタクトプローブ
US20030042883A1 (en) * 2001-08-28 2003-03-06 Thurston William E. Electrical contact spring probe with RF shielding
JP2003123910A (ja) * 2001-10-12 2003-04-25 Murata Mfg Co Ltd コンタクトプローブ及びこれを用いた通信装置の測定装置
US7053643B2 (en) * 2004-03-25 2006-05-30 Intel Corporation Radio frequency (RF) test probe
JP3993880B2 (ja) * 2006-08-25 2007-10-17 Ｔｄｋ株式会社 プローブ装置
US7510436B2 (en) * 2007-06-01 2009-03-31 Ftime Technology Industrial Co., Ltd. Multi-connector set for signal testing
JP4707038B2 (ja) * 2008-03-28 2011-06-22 原田工業株式会社 同軸ケーブルの供試体構造
JP4888563B2 (ja) * 2008-07-16 2012-02-29 株式会社村田製作所 同軸コネクタ
JP5133196B2 (ja) * 2008-10-10 2013-01-30 モレックス インコーポレイテド プローブコネクタ
JP5243946B2 (ja) * 2008-12-24 2013-07-24 モレックス インコーポレイテド 同軸コネクタ
US20100194419A1 (en) * 2009-02-05 2010-08-05 Chan Edward K Multi-contact probe assembly
WO2010100981A1 (ja) * 2009-03-04 2010-09-10 株式会社村田製作所 検査用同軸コネクタ
JP2012099246A (ja) * 2010-10-29 2012-05-24 Murata Mfg Co Ltd 検査用同軸コネクタ及びプローブ
WO2013046829A1 (ja) * 2011-09-28 2013-04-04 株式会社村田製作所 同軸コネクタプラグ及び同軸コネクタレセプタクル
US8922196B2 (en) * 2012-03-20 2014-12-30 Paul Nicholas Chait Multifunction test instrument probe
CN103713246B (zh) * 2014-01-09 2016-01-20 上海昭程整流子科技有限公司 电机换向器耐高压测试检测头
CN104022370B (zh) * 2014-06-21 2016-01-20 常州普纳电子科技有限公司 用于测试电缆的快插型射频同轴连接器
US10006939B2 (en) * 2014-10-30 2018-06-26 Tongfu Microelectronics Co., Ltd. Testing probe and semiconductor testing fixture, and fabrication methods thereof
JP6447635B2 (ja) * 2014-11-04 2019-01-09 株式会社村田製作所 カセット及び検査ユニット
JP6380549B2 (ja) * 2014-11-07 2018-08-29 株式会社村田製作所 プローブ
US10012686B2 (en) * 2016-08-15 2018-07-03 Tektronix, Inc. High frequency time domain reflectometry probing system

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI724637B (zh) * 2018-11-19 2021-04-11 日商村田製作所股份有限公司 探針
TWI808290B (zh) * 2018-12-28 2023-07-11 英屬開曼群島商鴻騰精密科技股份有限公司 測試連接器組件

Also Published As

Publication number Publication date
US11226380B2 (en) 2022-01-18
JPWO2018116568A1 (ja) 2019-10-24
TWI637175B (zh) 2018-10-01
US10641814B2 (en) 2020-05-05
WO2018116568A1 (ja) 2018-06-28
JP6597915B2 (ja) 2019-10-30
CN110088632A (zh) 2019-08-02
DE112017005724T5 (de) 2019-08-22
CN110088632B (zh) 2021-07-30
US20200233041A1 (en) 2020-07-23
US20190310301A1 (en) 2019-10-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI637175B (zh) Probe structure
US10197598B2 (en) Probe
JP5133196B2 (ja) プローブコネクタ
JP5209460B2 (ja) 同軸コネクタ
JP4803743B2 (ja) コネクタ
TWI706138B (zh) 探針
KR101239309B1 (ko) 검사용 동축 커넥터 및 리셉터클
TWI530036B (zh) Connectors and performance boards, motherboards, and semiconductor test devices including the connector
KR101504873B1 (ko) 검사용 동축 커넥터
JP7095753B2 (ja) プローブ
JP2005209364A (ja) 同軸ケーブル用コネクタ
EP2495819A2 (en) Electrical connector and electrical connector assembly
TWI722626B (zh) 連接器
JP5071587B2 (ja) 検査用同軸コネクタ
JP5077551B2 (ja) スイッチ付きコネクタ及び検査用プラグコネクタ、並びに回路検査スイッチ
CN109983769B (zh) 相机模块测试装置
WO2022113489A1 (ja) プローブ
WO2021235082A1 (ja) プローブ
WO2021065702A1 (ja) プローブ
WO2022014435A1 (ja) 検査用プローブ装置及びコネクタ検査方法
JP2023100075A (ja) プローブ