JP5077551B2 - スイッチ付きコネクタ及び検査用プラグコネクタ、並びに回路検査スイッチ - Google Patents

Description

本発明は、電子機器の電子回路を分断又は接続するように配置された回路切替を行うコネクタであって、検査用プラグコネクタを装着することにより電子機器の電子回路を検査する構成になされたスイッチ付きコネクタ及び検査用プラグコネクタ並びに回路検査スイッチに関する。

一般に、携帯電話等の種々の電子機器又は電気機器においては、それらの機器に設けられた高周波回路等の各種電子回路の状態や性能を検査するために小型の回路検査スイッチが電子回路内に組み込まれることがある。その回路検査スイッチは、例えば下記の特許文献１にかかる回路検査スイッチを表した図１３に示されているように、機器本体の電子回路を分断するように回路基板上に実装された回路切替コネクタ１を備えているとともに、その回路切替コネクタ１の内方側に向かって、検査用プラグコネクタ２のプローブ（検査針）２ａが上方側から挿入される構成になされている。

上記回路切替コネクタ１の内部側には、接触状態に維持されている一対の可動コンタクト１ａ及び固定コンタクト１ｂが設けられていて、それら一対の可動コンタクト１ａ及び固定コンタクト１ｂが、機器本体に設けられた電子回路の一方側及び他方側にそれぞれ接続されている。そして、回路切替コネクタ１に対して上方側から挿入された検査用プラグコネクタ２のプローブ（検査針）２ａの先端部（下端部）が、上下動可能に設けられた可動コンタクト１ａに上方側から圧接して下方に押し込み、それによって当該可動コンタクト１ａと固定コンタクト１ｂとの接触状態が離間状態に切り替えられると同時に、上記検査用プラグコネクタ２のプローブ２ａが可動コンタクト１ａと導通状態になされる。その結果、機器本体の電子回路の一方側からの電気信号が、上記可動コンタクト１ａ及びその可動コンタクト１ａに導通されたプローブ２ａを通して外部に取り出されて検査に供されるようになっている。

しかしながら、このような構成を有する従来の回路検査スイッチにおいては、検査用プラグコネクタ２のプローブ（検査針）２ａが、可動コンタクト１ａに対してのみ導通される構造になされている。そのため、可動コンタクト１ａに接続された一方側の電子回路の電気信号しか外部に取り出すことができず、検査可能な回路が限定されてしまっている。例えば、固定コンタクト１ｂが携帯電話のアンテナ側の回路に接続されている場合には、そのアンテナ側の回路の電気信号を外部に取り出すことができず、アンテナ側の回路の検査を行うことができないという問題がある。

特開平１１−３６３７号公報

そこで本発明は、簡易な構成によって、回路切替を行うコネクタであって、一対のコンタクトにそれぞれ接続された機器本体の双方の電子回路についての検査を行うことができるようにしたスイッチ付きコネクタ及び検査用プラグコネクタ並びに回路検査スイッチを提供することを目的とする。

上記目的を達成するため本発明にかかる回路検査スイッチでは、機器本体に設けられた電子回路を分断又は接続するように離間状態と接触状態との間で切り替えられる一対のコンタクトを備えたスイッチ付きコネクタと、そのスイッチ付きコネクタの内部に挿入されることにより当該スイッチ付きコネクタに設けられた前記一対のコンタクトの接触状態を離間状態に切り替えるプローブを有する検査用プラグコネクタとを備えた回路検査スイッチにおいて、前記検査用プラグコネクタのプローブは、導電性材料からなる導通部と、非導電性材料からなる非導通部とを有し、それらの導通部及び非導通部が、前記スイッチ付きコネクタにおける一対のコンタクトの一方及び他方に対してそれぞれ接触可能となるように配置されたものであって、当該スイッチ付きコネクタにおける一対のコンタクトの一方及び他方に対する前記プローブの導通部及び非導通部の接触関係が交互に切り替えられる構成が採用されている。

また本発明にかかるスイッチ付きコネクタでは、機器本体に設けられた電子回路を分断又は接続するように接触状態と離間状態との間で切り替えられる一対のコンタクトを備え、その一対のコンタクトに接触するように検査用プラグコネクタのプローブが挿入されることによって前記一対のコンタクトの接触状態が離間状態に切り替えられるように構成されたスイッチ付きコネクタにおいて、前記一対のコンタクトは、当該一対のコンタクトの一方及び他方に対して前記プローブに設けられた導通部及び非導通部がそれぞれ接触可能となるように配置され、それら一対のコンタクトの一方及び他方に対する前記プローブの導通部及び非導通部の接触関係が交互に切り替えられる構成が採用されている。

また本発明にかかる検査用プラグコネクタにおいては、機器本体に設けられた電子回路を分断又は接続するように接触状態と離間状態との間で切り替えられる一対のコンタクトを備えたスイッチ付きコネクタの内部に挿入され、前記スイッチ付きコネクタに設けられた前記一対のコンタクトの接触状態を離間状態に切り替えるプローブを有する検査用プラグコネクタにおいて、前記プローブは、導電性材料からなる導通部と、非導電性材料からなる非導通部とを有し、それらの導通部及び非導通部が、前記スイッチ付きコネクタにおける一対のコンタクトの一方及び他方に対してそれぞれ接触可能となるように配置されたものであって、当該スイッチ付きコネクタにおける一対のコンタクトの一方及び他方に対する前記導通部及び非導通部の接触関係が交互に切り替えられるように構成されている。

このような構成を有する本発明によれば、スイッチ付きコネクタの内方側に向かって挿入された検査用プラグコネクタのプローブに設けられた導通部が、スイッチ付きコネクタにおける一対のコンタクトのうちから適宜に選択された一方のコンタクトに接触されるとともに、検査用プラグコネクタのプローブの非導通部が、上記スイッチ付きコネクタにおける一対のコンタクトのうちの他方のコンタクトに接触される。そして、このような検査用プラグコネクタにおけるプローブの導通部及び非導通部と、スイッチ付きコネクタにおける一対のコンタクトとの接触関係が交互に切り替えられることによって、上記一対のコンタクトにそれぞれ接続された双方の電子回路からの電気信号を外部に取り出すことが可能となり、それら双方の電子回路に関する検査が行われるようになっている。

また、本発明にかかるスイッチ付きコネクタにおける前記一対のコンタクトは、前記検査用プラグコネクタのプローブが回転移動されることによって当該プローブに設けられた前記導通部及び非導通部に対する接触関係が交互に切り替えられる構成を採用することが可能である。

このような構成を有する本発明によれば、スイッチ付きコネクタの内部に挿入された検査用プラグコネクタのプローブが回転移動されることによって、そのプローブに設けられた導通部及び非導通部と、スイッチ付きコネクタに設けられた一対のコンタクトの一方及び他方との接触関係が交互に切り替えられることから、容易にかつ迅速に一対のコンタクト双方に接続された電子回路に導通する電気信号の検査を行なうことが可能となる。

また、本発明にかかるスイッチ付きコネクタにおける前記一対のコンタクトは、前記検査用プラグコネクタのプローブが直線移動されることによって当該プローブに設けられた前記導通部及び非導通部に対する接触関係が交互に切り替えられる構成を採用することが可能である。

このような構成を有する本発明によれば、スイッチ付きコネクタの内部に挿入された検査用プラグコネクタのプローブが直線移動されることによって、そのプローブに設けられた導通部及び非導通部と、スイッチ付きコネクタに設けられた一対のコンタクトの一方及び他方との接触関係が交互に切り替えられることから、容易にかつ迅速に一対のコンタクト双方に接続された電子回路に導通する電気信号の検査を行なうことが可能となる。

また、本発明にかかるスイッチ付きコネクタにおける前記一対のコンタクトは、互いに略同一の形状を有するように形成される構成になされることが可能である。

このような構成を有する本発明によれば、一対のコンタクトが、両者を区別することなく効率的に製造されることから、製品自体のコストダウンが容易に行われるとともに、部材管理も容易化される。

また、本発明にかかるスイッチ付きコネクタにおける前記一対のコンタクトは、前記検査用プラグコネクタのプローブの外周面を径方向の両側から挟み込むように対向配置された構成を採用することが可能である。

このような構成を有する本発明によれば、スイッチ付きコネクタに設けられた一対のコンタクトが、検査用プラグコネクタの挿入方向に略直交するほぼ同一の平面内に配置されることとなるため、回路検査スイッチにおける装置全体の高さが低減されて低背化が図られるようになっている。

また本発明にかかるスイッチ付きコネクタにおいては、前記一対のコンタクトを保持する絶縁ハウジングと、その絶縁ハウジングにおける前記検査用プラグコネクタの挿入側に設けられた挿入案内部の外表面のほぼ全面を覆う導電性シェルとを有し、電子回路に実装された際に同軸タイプの検査用プラグコネクタが嵌合されることにより使用される構成とすることが可能である。

このような構成を有する本発明によれば、スイッチ付きコネクタに対する検査用プラグコネクタの挿入及び嵌合が円滑に行われるとともに、導電性シェルによるノイズ対策が施されることとなり、同軸タイプのコネクタを使用する場合に特に好適である。

以上述べたように本発明は、機器本体に設けられた電子回路を分断するように配置したスイッチ付きコネクタの内方に向かって挿入する検査用プラグコネクタのプローブに導通部と非導通部とを設け、それら検査用プラグコネクタの導通部及び非導通部と、スイッチ付きコネクタにおける一対のコンタクトの一方及び他方との接触関係を交互に切り替えることによって、上記スイッチ付きコネクタにおける一対のコンタクトにそれぞれ接続した双方の電子回路からの電気信号を外部に取り出し、双方の電子回路に関する検査を行うことを可能とした構成を有するものであるから、簡易な構成によって、スイッチ付きコネクタ及び検査用プラグコネクタからなる回路検査スイッチの検査機能を大幅に向上させることができる。

以下、本発明にかかるスイッチ付きコネクタ及び検査用プラグコネクタからなる回路検査スイッチの実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。

［回路検査スイッチ組立体について］
まず、図１乃至図３に示された本発明の第１の実施形態にかかる回路検査スイッチの組立体は、スイッチ付きコネクタ１０に対して検査用プラグコネクタ２０が上方側から挿入されるように装着された構成を有している。このような両コネクタ１０，２０の装着状態から上記検査用プラグコネクタ２０を把持して上方側に適宜の力で引き上げれば、当該検査用プラグコネクタ２０がスイッチ付きコネクタ１０から上方に離脱して抜き取りが可能となるように構成されている。

［スイッチ付きコネクタについて］
上記回路検査スイッチ組立体のうちのスイッチ付きコネクタ１０は、例えば携帯電話等の電子機器に設けられた電子回路基板（図示省略）上に半田付けにより実装されて使用され、その電子機器に設けられた電子回路を、例えば機器本体側とアンテナ側とを分断するように配置される。

上記スイッチ付きコネクタ１０を構成している絶縁ハウジング１１は、プラスチック等の樹脂材を用いて例えばモールド成型により形成されたものであるが、図４にも示されているように、平面略正方形の箱状をなすように形成された本体基台部１１ａと、その本体基台部１１ａの上面側に載置された略円筒状の挿入案内部１１ｂとを一体に備えている。これらの本体基台部１１ａ及び挿入案内部１１ｂは、スイッチ付きコネクタ１０の中心軸１１ｘに関して略対称的な形状を有するように配置されている。

上記絶縁ハウジング１１を構成している本体基台部１１ａの内方空間部分には、特に図５及び図６に示されているような一対の可動コンタクト１２，１３がインサート成型や嵌め込みなどよって取り付けられている。これら一対の可動コンタクト１２，１３は、互いに同一形状をなすように形成されており、上述した中心軸１１ｘを中心として対称的な位置関係をなすように配置されている。

これらの各可動コンタクト１２，１３は、上記絶縁ハウジング１１の底部側に配置される基端接続部１２ａ，１３ａを有しており、それらの基端接続部１２ａ，１３ａが絶縁ハウジング１１側に固定されることによって、可動コンタクト１２，１３の全体が保持されるようになっている。

上記各可動コンタクト１２，１３の基端接続部１２ａ，１３ａの一部は、側面略Ｕ字状をなすように湾曲形成されて下方側に突出している。その湾曲状の突出部分は、実際の使用時に、図示を省略した回路基板上の導電路に半田付けされて固定され、それによって適宜の電子回路に接続されて電子回路を分断するように配置される。例えば、一方側の可動コンタクト１２の基端接続部１２ａが、携帯電話に設けられた電子回路の本体側に接続されるとともに、他方側の可動コンタクト１３の基端接続部１３ａが、アンテナ側の電子回路に接続される等である。

また、上記各可動コンタクト１２，１３の基端接続部１２ａ，１３ａからは、上記中心軸１１ｘの近傍に向かって、細長板状をなすように形成された弾性接触片部１２ｂ，１３ｂが片持ち状をなして略水平に延出している。それらの可動コンタクト１２，１３を構成している弾性接触片部１２ｂ，１３ｂの延出端部分は、他方側の可動コンタクト１３，１２の基端接続部１３ａ，１２ａの近傍位置まで達している。このとき、それらの基端接続部１３ａ，１２ａには、突起状をなす導通接点部１２ｃ，１３ｃがそれぞれ設けられており、それらの各導通接点部１２ｃ，１３ｃに対して、上述した弾性接触片部１２ｂ，１３ｂの延出端部分が弾性的に接触する配置関係になされている。

このように両可動コンタクト１２，１３どうしは、通常、互いに電気的に接触状態におかれているが、その接触状態において両可動コンタクト１２，１３の各弾性接触片部１２ｂ，１３ｂどうしは、上述した中心軸１１ｘに対して径方向の両側から対向するように近接配置されており、それらの弾性接触片部１２ｂ，１３ｂの間に、適宜の挿入間隙Ｓが形成されている。この弾性接触片部１２ｂ，１３ｂどうしの間に形成された挿入間隙Ｓの内方側には、後述する検査用プラグコネクタ２０に設けられたプローブ（検査針）が挿通されるようになっている。すなわち、導通接点部１２ｃと弾性接触片部１３ｂ、及び導通接点部１３ｃと弾性接触片部１２ｂがそれぞれ接触している。

このとき、上記両弾性接触片部１２ｂ，１３ｂどうしの間の挿入間隙Ｓは、後述する検査用プラグコネクタ２０のプローブ径よりもやや小さくなるように設定されており、その対向挿入間隙Ｓの内方側に挿通された検査用プラグコネクタ２０のプローブの外周面を、上記両可動コンタクト１２，１３の弾性接触片部１２ｂ，１３ｂが直径方向の両側から挟み込んで挟持する構成になされている。検査用プラグコネクタ２０のプローブ構成については後段において詳細に説明する。

一方、上述した絶縁ハウジング１１を構成している挿入案内部１１ｂの内部側には、前記中心軸１１ｘと略同心状をなすようにしてプローブ挿入口１１ｃが形成されている。このプローブ挿入口１１ｃは、上述した一対の可動コンタクト１２，１３における挿入間隙Ｓの直上位置から上記中心軸１１ｘに沿って上方側に延出しており、その途中位置から内径寸法が連続的に拡大することによって、略すり鉢形状をなす拡大開口部１１ｄになされている。そして、その拡大開口部１１ｄから前記プローブ挿入口１１ｃを通して、後述する検査用プラグコネクタ２０のプローブ（検査針）が、前記中心軸１１ｘに沿うように案内されつつスイッチ付きコネクタ１０の内部側に向かって円滑に挿入されるようになっている。

なお、上記プローブ挿入口１１ｃは、図８に示す上下方向に貫通するように形成されているが、回路基板の接地面側（図８下側）に向かって後述するプローブが挿入された時に何らかの不具合による過挿入によって回路基板が損傷されることを防止するために、絶縁ハウジング１１と別体もしくは一体に保護カバーを設けるようにすることができる。

また、上述した絶縁ハウジング１１の外表面には、板状の導電性部材からなる導電性シェル１４が装着されている。この導電性シェル１４は、前記絶縁ハウジング１１の挿入案内部１１ｂの外周表面、及び前記本体基台部１１ａの上表面のほぼ全面を覆っている。また、上記本体基台部１１ａの四隅を覆っている部位には、前記挿入案内部１１ｂの外側壁面の一部を覆って底面側に延出する４片のシェルベース部１４ａが設けられている。それらの各シェルベース部１４ａは、側面略横Ｕ字状をなすように折り曲げ形成されており、当該シェルベース部１４ａの底面部分が、実際の使用時に、図示を省略した回路基板上の導電路に半田付けされて固定され、適宜の回路接続が行われるとともに、スイッチ付きコネクタ１０の全体の保持が行われるようになっている。

このようにシェルベース部１４ａをスイッチ付きコネクタ１０の内側方向に折り曲げ形成することによって設置面積をよりコンパクトにすることができる。また、シェルベース部１４を上述したような側面略横Ｕ字状ではなく、側面略横Ｓ字状に成形してスイッチ付きコネクタ１０の外側方向に折り曲げた構成とすれば、スイッチコネクタ１０の接地安定性が向上される。このような形態の変更は、それぞれの用途に応じて決定すれば良い。

さらに、上記導電性シェル１４が前記絶縁ハウジング１１の挿入案内部１１ｂの外周表面を覆っている部位には、凹溝からなる固定係止溝１４ｂが全周にわたって環状に形成されている。その固定係止溝１４ｂは、横断面が略半円状をなして窪むように成形されており、当該固定係止溝１４ｂに対して、後述する検査用プラグコネクタ２０に設けられた導電性シェル２２の一部が嵌め込まれるようになっている。

［検査用プラグコネクタについて］
すなわち、図７及び図８にも示されているように、検査用プラグコネクタ２０は、上述した構成を有するスイッチ付きコネクタ１０の内部側に挿入されるものであるが、その検査用プラグコネクタ２０を構成している絶縁ハウジング２１は、上述したスイッチ付きコネクタ１０側の絶縁ハウジング１１と同様にプラスチック等の樹脂材を用いて例えばモールド成型によって中心軸２１ｘを中心とした円筒形状をなすように形成されている。

この検査用プラグコネクタ２０を構成している絶縁ハウジング２１の外周表面には、略中空円筒状の導電性部材からなる導電性シェル２２が、当該絶縁ハウジング２１の外周表面のほぼ全周面を覆うように装着されている。この導電性シェル２２は、上記中心軸２１ｘに沿った軸方向高さが、前記絶縁ハウジング２１よりもやや長尺状をなすように形成されており、当該導電性シェル２２における図８下端側の開口部分が、前記絶縁ハウジング２１における円形状の底面から適宜の軸方向高さにわたって突出するように装着されている。そして、この導電性シェル２２が下方側に突出する部位の内方側に、上述したスイッチ付きコネクタ１０を受け入れるための空間部分が形成されている。

また、その導電性シェル２２の図示下端側に形成された開口縁部には、上述した中心軸２１ｘ側に向かって横断面略半円状をなすように突出する固定係合突起２２ａが全周にわたって環状をなすように形成されている。この検査用プラグコネクタ２０側に設けられた固定係合突起２２ａは、当該検査用プラグコネクタ２０が前記スイッチ付きコネクタ１０に対して上方側から装着された際に、前述したスイッチ付きコネクタ１０側の固定係止溝１４ｂに対して嵌合される関係を有している。そして、それらの固定係合突起２２ａと固定係止溝１４ｂとが嵌合されることによって、スイッチ付きコネクタ１０に検査用プラグコネクタ２０が適宜の嵌合力で連結された状態に維持されるようになっている。

また、検査用プラグコネクタ２０を構成している絶縁ハウジング２１の下端面、すなわち前述したスイッチ付きコネクタ１０側に対面するように配置された円形状の端面の略中心部分には、前記中心軸２１ｘに沿って片持ち状に突出するプローブ（検査針）２３が設けられている。このプローブ２３は、横断面が略円形状を有する細長棒状をなすように形成されており、前述したスイッチ付きコネクタ１０の挿入案内部１１ｂに設けられた拡大開口部１１ｄ及びプローブ挿入口１１ｃを通して、スイッチ付きコネクタ１０の内部側に挿入される構成になされている。

この検査用プラグコネクタ２０に設けられたプローブ（検査針）２３は、導電性材料からなる導通部２３ａと、非導電性材料からなる非導通部２３ｂとを有している。これらの導通部２３ａ及び非導通部２３ｂは、横断面が略半円形状をなして長尺状に延出する蒲鉾形状をなすようにそれぞれ形成されており、平面状の端面どうしが互いに接合された構造になされている。

そのうちの非導通部２３ｂは、上述した絶縁ハウジング２１と一体的な構成になされており、プラスチック等の樹脂材を用いて例えばモールド成型により形成されている。これに対して導通部２３ａは、長尺状の金属部材等により形成されており、例えばインサート成型によって上述した非導通部２３ｂと背中合わせの状態に接合されることによって、円形状の横断面を有するプローブ（検査針）２３が成形されるようになっている。

上記導通部２３ａは、プローブ（検査針）２３の全長にわたって配置されているとともに、そのプローブ２３を構成している部位から、さらに前記絶縁ハウジング２１の内部を軸方向に貫通するように延出している。そして、その導通部２３ａが、前記絶縁ハウジング２１の上側端面に露出する部分には、図示を省略した検査用機器が接続されるようになっている。

このような構成を有する検査用プラグコネクタ２０のプローブ（検査針）２３は、上述したようにスイッチ付きコネクタ１０の拡大開口部１１ｄ及びプローブ挿入口１１ｃを通して内部側に挿入されるが、その際、当該プローブ２３の図示下端側の先端部分が、前述したスイッチ付きコネクタ１０に設けられた一対の可動コンタクト１２，１３どうしの間の挿入間隙Ｓ内に挿通される配置関係になされている。そして、特に図９に示されているように、上記検査用プラグコネクタ２０のプローブ２３が、上記スイッチ付きコネクタ１０の挿入間隙Ｓの内方側に完全に挿通された後においては、当該プローブ２３の下端側先端部分における外周面が、上記一対の可動コンタクト１２，１３の弾性接触片部１２ｂ，１３ｂによって径方向の両側から挟み込まれるようにして挟持される構成になされている。

このとき、上記プローブ２３の導通部２３ａが、前記一対の可動コンタクト１２，１３のうち一方側の可動コンタクト１２を外方側に開かせるように撓ませる。また、上記プローブ２３の非導通部２３ｂは、前記一対の可動コンタクト１２，１３のうち他方側の可動コンタクト１３を外方側に開かせるように撓ませる。その結果、上記一方側の可動コンタクト１２側に接続されている電子回路が、上記プローブ２３の導通部２３ａに導通され、当該電子回路における電気信号が上記導通部２３ａを通して外部に取り出される状態になされる。また、上記他方側の可動コンタクト１３側に接続されている電子回路は、上記プローブ２３の非導通部２３ｂによって電気的に遮断された状態になされる。

一方、上記スイッチ付きコネクタ１０の内部側に挿入された検査用プラグコネクタ２０は、上述した中心軸２１ｘの回りに回転可能となるように構成されている。すなわち、その検査用プラグコネクタ２０が中心軸２１ｘを中心として約１８０°だけ半回転移動されることによって、特に図１０に示されているように、上述したプローブ（検査針）２３を構成している導通部２３ａと非導通部２３ｂとが互いに反対側の領域に反転移動される。その結果、前記検査用プラグコネクタ２０のプローブ２３における導通部２３ａと非導通部２３ｂとの位置関係が互いに入れ替わることによって電気的な切り替えが行われる。

このように本実施形態においては、検査用プラグコネクタ２０が半回転移動されることによって、プローブ（検査針）２３の導通部２３ａ及び非導通部２３ｂと、一対の可動コンタクト１２，１３の一方及び他方との間の接触関係が交互に切り替えられる構成が採用されている。

以上のような構成を有する本実施形態によれば、スイッチ付きコネクタ１０の内方（下方）に向かって挿入された検査用プラグコネクタ２０のプローブ（検査針）２３の導通部２３ａが、スイッチ付きコネクタ１０に設けられた一対の可動コンタクト１２，１３のうち一方の所望の可動コンタクト１２又は１３のいずれかを選択して接触される。また、上記検査用プラグコネクタ２０のプローブ２３の非導通部２３ｂは、スイッチ付きコネクタ１０における一対の可動コンタクト１２，１３のうちのいずれか他方の所望の可動コンタクト１３又は１２を選択して接触される。

そして、このような検査用プラグコネクタ２０におけるプローブ（検査針）２３の導通部２３ａ及び非導通部２３ｂと、一対の可動コンタクト１２，１３の一方及び他方との接触関係は、検査用プラグコネクタ２０が半回転移動されることによって交互に切り替えられ、それによって、上記一対の可動コンタクト１２，１３にそれぞれ接続された双方の電子回路からの電気信号が外部に取り出すことが可能となり、それら双方の電子回路に関する検査が行われるようになっている。

このとき特に本実施形態においては、スイッチ付きコネクタ１０に設けられた一対の可動コンタクト１２，１３が夫々同一の形状で形成されていることから、それらの両可動コンタクト１２，１３を区別することなく効率的に製造されることとなり、コストダウンが可能であり、部材管理の面でも容易となる。

また本実施形態においては、スイッチ付きコネクタ１０に設けられた一対の可動コンタクト１２，１３が、検査用プラグコネクタ２０のプローブ（検査針）２３の外周面を径方向の両側から挟み込むように対向配置されていることから、スイッチ付きコネクタ１０に設けられた一対の可動コンタクト１２，１３が、検査用プラグコネクタ２０の挿入方向に略直交するほぼ同一の平面内に配置されることとなり、その結果、回路検査スイッチの装置全体の高さが低減されるようになっている。

なお、上述した実施形態にかかる可動コンタクト１２，１３は、その基端接続部１２ａ，１３ａが側面略Ｕ字状をなすように成形されており、スイッチ付きコネクタ１０の内側に曲げ込んだ状態とすることにより設置面積を小さくして回路基板に固定される構成になされているが、外側に曲げ込んだ構成など、回路基板の導電路に合わせて適宜に変更することが可能である。

また、上述した実施形態では、絶縁ハウジング１１の挿入案内部１１ｂ、挿入案内部１１ｂの外周表面を覆っている導電性シェル筒状部１４ｃ、及び導電性シェル２２下端側の形状が環状をなすように形成されているが、そのような構成を採用すれば、前述したように、検査用プラグコネクタ２０とスイッチ付きコネクタ１０とを嵌合した状態で、中心軸２１ｘの回りに回転可能とすることができ、双方の電子回路に関する検査を容易に行うことが可能である。

ここで、他の実施形態として、導電性シェル筒状部１４ｃの外表面の任意の箇所に図示しない凸形状を、検査用プラグコネクタ２０を構成する導電性シェル２２下端側の開口部に前記凸形状が嵌り合う凹形状をそれぞれ形成するとともに、上記凹形状の１８０度環状方向へ反転した箇所にもう一つの凹形状を設けた構成を採用することが可能である。

このような構成を有する実施形態においては、検査用プラグコネクタ２０と、スイッチ付き回路切替コネクタ１０とを、それぞれ前記凸形状、前記凹形状を合わせて嵌合した状態で、一方側の可動コンタクトに接続された電子回路からの電気信号を検査する。そして、検査用プラグコネクタ２０と、スイッチ付きコネクタ１０との嵌合を一旦外した後、検査用プラグコネクタ２０と、スイッチ付きコネクタ１０とを、それぞれ前記凸形状、前記もう一つの凹形状を合わせて嵌合した状態で他方側の可動コンタクトに接続された電子回路からの電気信号を検査する。

この実施形態によれば、検査用プラグコネクタ２０と、スイッチ付きコネクタ１０との位置合わせの確実性が高められるとともに、導電性シェル筒状部１４ｃの外表面と導電性シェル２２下端側の内側面を回転することによる磨耗を防止することができるという効果を奏する。

さらに別の実施形態としては、導電性シェル筒状部１４ｃ及び導電性シェル２２の下端側の形状を矩形に形成し、それによって互いが嵌合した後に回転不能となるように構成すれば、前述した凹凸形状を設けなくとも同様な効果が得られる。

上述した各実施形態のように、互いに嵌合する導電性シェルの形状、及び電気信号を検査する手順としては種々のものが考えられ、それらを適宜に選択することができる。

さらに別の実施形態としては、固定係止溝１４ｂ及び固定係合突起２２ａをなくして、導電性シェル筒状部１４ｃの外表面における任意の少なくとも１箇所に図示しない凸形状を形成したものを採用することができる。その場合、上記凸形状に合致する切欠き溝を導電性シェル２２に図８に示す上下方向に形成し、所定の位置より、同図８の紙面垂直方向に切欠き溝（略逆Ｌ字状の溝）を形成する。検査を行う工程としては、前述した様に両コネクタを嵌合した後に回転させるようにする。このような実施形態によれば、固定係止溝１４ｂ及び固定係合突起２２ａをなくすことができるため、各部材の形状が簡素化されるとともに検査時の位置決め性が高いという利点が得られる。

一方、図１１に示されている第２の実施形態においては、検査用プラグコネクタ３０が中心軸３１ｘに沿って上下方向に直線移動されるように構成されており、当該検査用プラグコネクタ３０のプローブ（検査針）３３に設けられた導通部３３ａ及び非導通部３３ｂの切り替えが行われるようになっている。

より具体的には、上記検査用プラグコネクタ３０のプローブ（検査針）３３には、当該プローブ３３の先端部分（図示下端部分）に第１導通部３３ａ１が設けられているとともに、その先端部分に配置された第１導通部３３ａ１から軸方向の上方側にやや離した直径方向の反対側に第２導通部３３ａ２が配置されている。これら第１導通部３３ａ１と第２導通部３３ａ２とは導電性部材にて一体的に繋げられている。

また、スイッチ付きコネクタ４０側に設けられた一対の可動コンタクト４２，４３は、前述した第１の実施形態と同様な構成を有するものであって、一方の可動コンタクト４２が、例えば携帯電話に設けられた電子回路の本体側に接続されるとともに、他方側の可動コンタクト４３がアンテナ側の電子回路に接続されている。

そして、図１１に示されているように前記検査用プラグコネクタ３０が、スイッチ付きコネクタ４０に対して完全に挿入されずに上方側に引き上げられた状態では、前記検査用プラグコネクタ３０の一方側の第１導通部３３ａ１が、スイッチ付きコネクタ４０においてアンテナ側の電子回路に接続された可動コンタクト４３に接触されて導通状態になされるとともに、検査用プラグコネクタ３０の絶縁部分である非導通部３３ｂが、スイッチ付きコネクタ４０において携帯電話の機器本体側の電子回路に接続された可動コンタクト４２が接触されることにより電気的に遮断された状態になされる。

これに対して、図１２に示されているように前記検査用プラグコネクタ３０が下方側に押し下げられて完全に挿入された状態においては、前記検査用プラグコネクタ３０の他方側の第２導通部３３ａ２が、携帯電話の機器本体側の電子回路に接続された可動コンタクト４２に接触されて導通状態になされるとともに、検査用プラグコネクタ３０の絶縁部分である非導通部３３ｂが、アンテナ側の電子回路に接続された可動コンタクト４３に接触されることにより電気的に遮断された状態になされる。

また、前記スイッチ付きコネクタ４０を構成している絶縁ハウジング４１の挿入案内部４１ｂの外周表面を覆っている導電性シェル４４には、環状の凹溝からなる上下二段の固定係止溝４４ｂ，４４ｃが軸方向に適宜の間隔をなして形成されている。そして、それら固定係止溝４４ｂ，４４ｃのいずれかに対して、前記検査用プラグコネクタ３０の導電性シェル３２の下端開口部に設けられた固定係合突起３２ａが選択的に嵌め込まれ、それによって、上述した検査用プラグコネクタ３０が上下いずれかの位置に保持され、上述したようなプローブ（検査針）３３の第１導通部３３ａ１及び第２導通部３３ａ２と、導通部３３ｂとの切り替えが行われるようになっている。

このような構成を有する本実施形態によれば、スイッチ付きコネクタ４０の内方に向かって挿入された検査用プラグコネクタ３０のプローブ３３の導通部３３ａ１，３３ａ２が、スイッチ付きコネクタ４０における一対の可動コンタクト４２，４３のうち一方の所望の可動コンタクト４２又は４３のいずれかを選択して接触される。また、上記検査用プラグコネクタ３０のプローブ３３の第１導通部３３ａ１及び第２導通部３３ａ２は、スイッチ付きコネクタ１０における一対の可動コンタクト４２，４３のうちのいずれか他方の所望の可動コンタクト４２又は４３を選択して接触されるようになっている。

そして、その検査用プラグコネクタ３０が軸方向に沿って上下方向に往復直線移動されることによって、その検査用プラグコネクタ３０に設けられたプローブ（検査針）３３の導通部３３ａ１，３３ａ２及び非導通部３３ｂと、スイッチ付きコネクタ４０における一対の可動コンタクト４２，４３の一方及び他方との接触関係が交互に切り替えられる。その結果、上記一対の可動コンタクト４２，４３にそれぞれ接続された双方の電子回路からの電気信号が外部に取り出すことが可能となり、それら双方の電子回路に関する検査が行われるようになっている。

なお、上述した図１２に示された第２の実施形態においては、検査用プラグコネクタ３０のプローブ（検査針）３３に設けられた導通部３３ａ１，３３ａ２の軸方向高さを異なるように配置しているが、可動コンタクト４２，４３における互いの軸方向高さを異なるように配置することも可能である。

以上、本発明者によってなされた発明を実施形態に基づき具体的に説明したが、本実施形態は上述した実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変形可能であるというのはいうまでもない。

以上のように本実施形態は、各種電子・電気機器に使用される多種多様なスイッチ付きコネクタ及び検査用プラグコネクタを有する回路検査スイッチに対して広く適用することが可能である。

本発明の第１の実施形態にかかる回路検査スイッチを構成しているスイッチ付きコネクタと検査用プラグコネクタとを装着した組立体を上方側からみたときの外観斜視説明図である。 図１に示された本発明の第１の実施形態にかかる回路検査スイッチを構成しているスイッチ付きコネクタと検査用プラグコネクタとの組立体を下方側からみたときの外観斜視説明図である。 図１及び図２に示された本発明の第１の実施形態にかかる回路検査スイッチを構成しているスイッチ付きコネクタと検査用プラグコネクタとを装着した組立体の概略構造を表した縦断面説明図である。 図１乃至図３に示された本発明の第１の実施形態にかかる回路検査スイッチを構成しているスイッチ付きコネクタの構造を表した外観斜視説明図である。 図１乃至図３に示された本発明の第１の実施形態にかかる回路検査スイッチを構成しているスイッチ付きコネクタの構造を表した底面説明図である。 図１乃至図３に示された本発明の第１の実施形態にかかる回路検査スイッチを構成している一対のコンタクトを抽出して上方からみたときの状態を表した外観斜視説明図である。 図１乃至図３に示された本発明の第１の実施形態にかかる回路検査スイッチを構成している検査用プラグコネクタの構造を表した外観斜視説明図である。 図１乃至図３に示された本発明の第１の実施形態にかかる回路検査スイッチを構成しているスイッチ付きコネクタと検査用プラグコネクタとを装着する直前の状態を表した縦断面説明図である。 図５に示されたスイッチ付きコネクタに対して検査用プラグコネクタを挿入した状態を表した底面説明図である。 図１乃至図３に示された本発明の第１の実施形態にかかる回路検査スイッチを構成しているスイッチ付きコネクタに対する検査用プラグコネクタの導通部及び非導通部の接触関係を回転移動により切り替えた状態を表した縦断面説明図である。 本発明の第２の実施形態にかかる回路検査スイッチを構成しているスイッチ付きコネクタと検査用プラグコネクタとを装着した組立体の概略構造を表した縦断面説明図である。 図１１に示された本発明の第２の実施形態にかかる回路検査スイッチを構成しているスイッチ付きコネクタに対する検査用プラグコネクタの導通部及び非導通部の接触関係を上下方向の直線移動により切り替えた状態を表した縦断面説明図である。 従来における回路検査スイッチを構成しているスイッチ付きコネクタと検査用プラグコネクタとを装着した組立体の概略構造を表した縦断面説明図である。

符号の説明

１０ スイッチ付きコネクタ
１１ 絶縁ハウジング
１１ａ 本体基台部
１１ｂ 挿入案内部
１１ｃ プローブ挿入口
１１ｄ 拡大開口部
１１ｘ 中心軸
１２，１３ 可動コンタクト
１２ａ，１３ａ 基端接続部
１２ｂ，１３ｂ 弾性接触片部
１２ｃ，１３ｃ 導通接点部
１４ 導電性シェル
１４ａ シェルベース部
１４ｂ 固定係止溝
２０ 検査用プラグコネクタ
２１ 絶縁ハウジング
２１ｘ 中心軸
２２ 導電性シェル
２２ａ 固定係合突起
２３ プローブ（検査針）
２３ａ 導通部
２３ｂ 非導通部
Ｓ 間隔
３０ 検査用プラグコネクタ
３１ｘ 中心軸
３２ 導電性シェル
３２ａ 固定係合突起
３３ プローブ
３３ａ 導通部
３３ａ１ 第１導通部
３３ａ２ 第２導通部
３３ｂ 非導通部
４０ スイッチ付きコネクタ
４１ 絶縁ハウジング
４１ｂ 挿入案内部
４２，４３ 可動コンタクト
４４ 導電性シェル
４４ｂ，４４ｃ 固定係止溝

Claims (8)

1. 機器本体に設けられた電子回路を分断又は接続するように離間状態と接触状態との間で切り替えられる一対のコンタクトを備えたスイッチ付きコネクタと、
   そのスイッチ付きコネクタの内部に挿入されることにより、当該スイッチ付きコネクタに設けられた前記一対のコンタクトの接触状態を離間状態に切り替えるプローブを有する検査用プラグコネクタと、
   を備えた回路検査スイッチにおいて、
   前記検査用プラグコネクタのプローブは、導電性材料からなる導通部と、非導電性材料からなる非導通部と、を有し、
   それらの導通部及び非導通部が、前記スイッチ付きコネクタにおける一対のコンタクトの一方及び他方に対してそれぞれ接触可能となるように配置されたものであって、
   当該スイッチ付きコネクタにおける一対のコンタクトの一方及び他方に対する前記プローブの導通部及び非導通部の接触関係が交互に切り替えられるように構成されていることを特徴とする回路検査スイッチ。
2. 機器本体に設けられた電子回路を分断又は接続するように離間状態と接触状態との間で切り替えられる一対のコンタクトを備え、その一対のコンタクトに接触するように検査用プラグコネクタのプローブが挿入されることにより前記一対のコンタクトの接触状態が離間状態に切り替えられるように構成されたスイッチ付きコネクタにおいて、
   前記一対のコンタクトは、当該一対のコンタクトの一方及び他方に対して前記プローブに設けられた導通部及び非導通部がそれぞれ接触可能となるように配置され、
   それら一対のコンタクトの一方及び他方に対する前記プローブの導通部及び非導通部の接触関係が交互に切り替えられるように構成されていることを特徴とするスイッチ付きコネクタ。
3. 前記一対のコンタクトは、前記検査用プラグコネクタのプローブが回転移動されることによって当該プローブに設けられた前記導通部及び非導通部に対する接触関係が交互に切り替えられるように構成されていることを特徴とする請求項２記載のスイッチ付きコネクタ。
4. 前記一対のコンタクトは、前記検査用プラグコネクタのプローブが直線移動されることによって当該プローブに設けられた前記導通部及び非導通部に対する接触関係が交互に切り替えられるように構成されていることを特徴とする請求項２記載のスイッチ付きコネクタ。
5. 前記一対のコンタクトは、互いに略同一の形状を有するように形成されていることを特徴とする請求項２記載のスイッチ付きコネクタ。
6. 前記一対のコンタクトは、前記検査用プラグコネクタのプローブの外周面を径方向の両側から挟み込むように対向配置されていることを特徴とする請求項２記載のスイッチ付きコネクタ。
7. 前記一対のコンタクトを保持する絶縁ハウジングと、その絶縁ハウジングにおける前記検査用プラグコネクタの挿入側に設けられた挿入案内部の外表面のほぼ全面を覆う導電性シェルと、を有し、
   電子回路に実装された際に、同軸タイプの検査用プラグコネクタが嵌合されて使用されるように構成されていることを特徴とする請求項２乃至請求項６のいずれかに記載のスイッチ付きコネクタ。
8. 機器本体に設けられた電子回路を分断又は接続するように離間状態と接触状態との間で切り替えられる一対のコンタクトを備えたスイッチ付きコネクタの内部に挿入され、前記スイッチ付きコネクタに設けられた前記一対のコンタクトの接触状態を離間状態に切り替えるプローブを備えた検査用プラグコネクタにおいて、
   前記プローブは、導電性材料からなる導通部と、非導電性材料からなる非導通部と、を有し、
   それらの導通部及び非導通部が、前記スイッチ付きコネクタにおける一対のコンタクトの一方及び他方に対してそれぞれ接触可能となるように配置されたものであって、
   当該スイッチ付きコネクタにおける一対のコンタクトの一方及び他方に対する前記導通部及び非導通部の接触関係が交互に切り替えられるように構成されていることを特徴とする検査用プラグコネクタ。

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