JP5050839B2 - スイッチ付きコネクタ及び検査用プラグコネクタ、並びに回路検査スイッチ - Google Patents

Description

本発明は、電子機器の電子回路を分断又は接続するように配置された回路切り替えを行うコネクタであって、スイッチ付きコネクタに検査用プラグコネクタを装着することによって電子機器を検査するように構成されたスイッチ付きコネクタ及び検査用プラグコネクタ、並びに回路検査スイッチに関する。

一般に、携帯電話等の種々の電子機器又は電気機器においては、それらの機器に設けられた高周波回路等の各種電子回路の状態や性能を検査するために小型の回路検査スイッチが電子回路内に組み込まれることがある。その回路検査スイッチは、例えば下記の特許文献１にかかる回路検査スイッチを表した図１１に示されているように、機器本体の電子回路を分断するように回路基板上に実装されたスイッチ付きコネクタ１を備えているとともに、そのスイッチ付きコネクタ１の内方側に向かって、検査用プラグコネクタ２のプローブ（検査針）２ａが上方側から挿入される構成になされている。

上記スイッチ付きコネクタ１の内部側には、接触状態に維持されている可動コンタクト１ａ及び固定コンタクト１ｂからなるコンタクト対が設けられていて、それら一対の可動コンタクト１ａ及び固定コンタクト１ｂが、機器本体に設けられた電子回路の一方側及び他方側にそれぞれ接続されている。そして、スイッチ付きコネクタ１に対して上方側から挿入された検査用プラグコネクタ２のプローブ（検査針）２ａの先端部（下端部）が、上下動可能に設けられた可動コンタクト１ａに上方側から圧接して下方に押し込み、それによって当該可動コンタクト１ａと固定コンタクト１ｂとの接触状態が離間状態に切り替えられる。それと同時に、上記検査用プラグコネクタ２のプローブ２ａが可動コンタクト１ａと導通状態になされることから、機器本体の電子回路の一方側からの電気信号が上記可動コンタクト１ａに導通されたプローブ２ａを通して外部に取り出され、それによって適宜の検査が行われるようになっている。

しかしながら、このような構成を有する従来の回路検査スイッチにおいては、検査用プラグコネクタ２のプローブ（検査針）２ａが、一組のコンタクト対のみに導通される構造になされていることから、その一組のコンタクト対に接続された一つの電子回路の電気信号しか外部に取り出すことができない。すなわち、従来の回路検査スイッチでは、検査の対象となる電子回路が１つに限定されてしまっており、そのため、例えば一つの基板に複数の回路が並設されているような場合に、検査の対象となる電子回路毎に回路検査スイッチを複数にわたって配置しなければならないという問題がある。

特開平１１−３６３７号公報

そこで本発明は、簡易な構成によって、回路切り替えを行うコネクタであって、複数の電子回路についての検査を行うことができるようにしたスイッチ付きコネクタ及び検査用プラグコネクタ、並びに回路検査スイッチを提供することを目的とする。

上記目的を達成するため本発明にかかる回路検査スイッチでは、機器本体に設けられた電子回路を分断又は接続するように配置される離間状態と接触状態との間で切り替えられる一対のコンタクトを備えたスイッチ付きコネクタと、そのスイッチ付きコネクタの内部に挿入されることによって当該スイッチ付きコネクタに設けられた前記一対のコンタクトの接触状態を離間状態に切り替えるとともに、その離間状態に切り替えられたコンタクトに接続された電子回路に導通されるプローブを有する検査用プラグコネクタとを備えた回路検査スイッチにおいて、前記スイッチ付きコネクタには、前記一対のコンタクトを一組とするコンタクト対が複数組にわたって配置されているとともに、それら複数組のコンタクト対は、前記検査用プラグコネクタのプローブに設けられた導通部が一組ずつ順次に圧接可能となるように配置され、そのプローブの導通部が圧接されたコンタクト対に接続された電子回路に導通されるように構成されている。

また本発明にかかるスイッチ付きコネクタでは、機器本体に設けられた電子回路を分断又は接続するように離間状態と接触状態との間で切り替えられる一対のコンタクトを備え、その一対のコンタクトに接触するように検査用プラグコネクタのプローブが挿入されることにより前記一対のコンタクトの接触状態が離間状態に切り替えられるように構成されたスイッチ付きコネクタにおいて、前記一対のコンタクトを一組とするコンタクト対が複数組にわたって配置されたものであって、それら複数組のコンタクト対は、前記検査用プラグコネクタのプローブに設けられた導通部が一組ずつ順次に圧接可能となるように配置され、そのプローブの導通部が圧接されたコンタクト対を介して前記電子回路が前記プローブの導通部に接続されるように構成されている。

また本発明にかかる検査用プラグコネクタでは、機器本体に設けられた電子回路を分断又は接続するように離間状態と接触状態との間で切り替えられる一対のコンタクトを備えたスイッチ付きコネクタの内部に挿入され、前記スイッチ付きコネクタに設けられた前記一対のコンタクトの接触状態を離間状態に切り替えるプローブを備えた検査用プラグコネクタにおいて、前記プローブは、導電性材料からなる導通部と、非導電性材料からなる非導通部とを有し、それらの導通部及び非導通部が、前記スイッチ付きコネクタに設けられた前記一対のコンタクトを一組とする複数組のコンタクト対に対して一組ずつ順次に圧接可能となるように配置され、前記導通部が圧接されたコンタクト対を介して前記電子回路の接続が行われるように構成されている。

このような構成を有する本発明によれば、検査用プラグコネクタのプローブが圧接したコンタクト対の接触状態が離間状態に切り替えられるとともに、その接触状態から離間状態に切り替えられたコンタクト対に接続された電子回路からの電気信号が外部に取り出される点については従来と同様であるが、スイッチ付きコネクタに複数組にわたって配置されたコンタクト対に上記検査用プラグコネクタに設けられたプローブの導通部が一組ずつ順次圧接されていくことから、そのスイッチ付きコネクタに設けられた複数組のコンタクト対にそれぞれ接続された複数組の電子回路に関する検査が一個の回路検査スイッチにより容易に実行されるようになっている。

また本発明にかかるスイッチ付きコネクタにおいては、前記検査用プラグコネクタのプローブに設けられた導通部は、前記複数組のコンタクト対のうちの一組のコンタクト対に圧接し、さらに他組のコンタクト対に切り替え可能に構成することが可能である。

このような構成を有する本発明によれば、上記検査用プラグコネクタのプローブに設けられた導通部が、複数組のコンタクト対のうちの一組に対して順次圧接するように移動させられ、複数組のコンタクト対にそれぞれ接続された電子回路の検査が一組ずつ順次行われるようになっている。

また本発明にかかるスイッチ付きコネクタにおいては、前記複数組のコンタクト対が環状に配置された構成を採用することが可能である。

このような構成を有する本発明によれば、スイッチ付きコネクタの内部に挿入された検査用プラグコネクタのプローブが９０°毎に回転することで挿通可能になるため、複数組のコンタクト対のそれぞれに対する圧接状態の切り替えが容易に行われるようになっている。

また、本発明にかかるスイッチ付きコネクタにおいては、前記複数組のコンタクト対は、互いに略同一の形状を有するように形成される構成になされることが可能である。

このような構成を有する本発明によれば、複数組のコンタクト対を区別することなく効率的に製造されることから、製品自体のコストダウンが容易に行われるとともに、部材管理も容易化される。

また本発明にかかるスイッチ付きコネクタにおいては、前記複数組のコンタクト対を保持する絶縁ハウジングと、その絶縁ハウジングにおける前記検査用プラグコネクタの挿入側に設けられた挿入案内部の外表面のほぼ全面を覆う導電性シェルとを有し、電子回路に実装された際に、同軸タイプの検査用プラグコネクタが嵌合されて検査を行うように構成することが可能である。

このような構成を有する本発明によれば、スイッチ付きコネクタに対する検査用プラグコネクタの挿入及び嵌合が円滑に行われるとともに、同軸タイプのプラグコネクタを嵌合して使用される際に導電性シェルによるノイズ対策が施されることとなり、同軸タイプのコネクタを使用する場合に特に好適である。

以上述べたように本発明は、移動可能に設けた検査用プラグコネクタのプローブを、スイッチ付きコネクタに設けた複数組のコンタクト対に対して一組ずつ順次圧接させることによって、それら各組のコンタクト対の接触状態を離間状態に切り替えるとともに、当該各組のコンタクト対に接続された電子回路からの電気信号を外部に取り出して複数組の電子回路に関する検査を可能とするように構成したものであるから、簡易な構成によって複数の電子回路についての検査を行うことができ、スイッチ付きコネクタ及び検査用プラグコネクタからなる回路検査スイッチの検査機能を大幅に向上させることができる。

以下、本発明にかかるスイッチ付きコネクタ及び検査用プラグコネクタからなる回路検査スイッチの実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。

［回路検査スイッチ組立体について］
まず、図１乃至図３に示された本発明の第１の実施形態にかかる回路検査スイッチの組立体は、スイッチ付きコネクタ１０に対して検査用プラグコネクタ２０が上方側から挿入されるように装着された構成を有している。このような両コネクタ１０，２０の装着状態から上記検査用プラグコネクタ２０を把持して上方側に適宜の力で引き上げれば、当該検査用プラグコネクタ２０がスイッチ付きコネクタ１０から上方に離脱して抜き取りが可能となるように構成されている。

［スイッチ付きコネクタについて］
上記回路検査スイッチ組立体のうちのスイッチ付きコネクタ１０は、例えば携帯電話等の電子機器に設けられた電子回路基板（図示省略）上に半田付けにより実装されて使用され、その電子機器に設けられた電子回路を、例えば機器本体側とアンテナ側とを分断又は接続するように配置される。

さらに図４及び図５にも示されているように、上記スイッチ付きコネクタ１０を構成している絶縁ハウジング１１は、プラスチック等の樹脂材を用いて例えばモールド成型により略円筒状をなすように形成されている。この絶縁ハウジング１１の中心部分には、横断面略正方形状をなすプローブ挿入口１１ａが当該スイッチ付きコネクタ１０の中心軸１１ｘに沿って貫通するように形成されている。

また、上記絶縁ハウジング１１の外周表面には、略中空円筒状をなすように形成された薄板状の導電性部材からなる導電性シェル１２が装着されている。この導電性シェル１２は、前記絶縁ハウジング１１の上端面及び下端面を除いた外周表面のほぼ全面を覆っており、その下端側開口縁部には、半径方向の外方に向かって略直角に延出するように折曲形成された４片のシェルベース片１２ａが設けられている。それらの各シェルベース片１２ａの底面部分は、実際の使用時において図示を省略した回路基板上の導電路に半田付けされて固定され、それにより適宜の回路接続が行われるとともに、スイッチ付きコネクタ１０の全体の保持が行われるようになっている。

さらに、上記導電性シェル１２における軸方向の略中央部分には、断面略台形状の凹溝からなる固定係止溝１２ｂが全周にわたって円環状に形成されている。この固定係止溝１２ｂに対しては、後述する検査用プラグコネクタ２０に設けられた導電性シェル２２の一部が嵌め込まれる構成になされている。

また、上述した絶縁ハウジング１１の内部側には、特に図６にも示されているような複数組（３組）のコンタクト対１３，１４，１５が、適宜の周方向間隔をなして円環状に配列されている。これら各組のコンタクト対１３，１４，１５は、互いに略同一の形状及び構造をなすように構成されており、上述した中心軸１１ｘを中心として円周方向に沿って略９０°ずつ回転させた位置関係をなすように順次配置されている。このとき、その円周方向の両端位置に配置されたコンタクト対１３とコンタクト対１５とは、略１８０°にわたって回転させた配置関係になされている。

ここで、上記各組のコンタクト対１３，１４，１５は、可動コンタクト１３ａ，１４ａ，１５ａと、固定コンタクト１３ｂ，１４ｂ，１５ｂとを一組とする計３組のコンタクト対から構成されている。それらの各コンタクト１３ａ〜１５ａ、及び１３ｂ〜１５ｂは、上記絶縁ハウジング１１に対してインサート成型や嵌め込みなどより所定の位置関係となるように取り付けられている。上述したように各組のコンタクト対１３，１４，１５は互いに略同一の形状及び構造になされていることから、以下の説明においては、一組のコンタクト対１３の構造についての説明を行うものとし、その他二組のコンタクト対１４，１５については、各図面中における符号「１３」を符号「１４」又は「１５」に替えて示すことにより説明を省略することとする。

すなわち、上記コンタクト対１３は、特に図２、図４、及び図６に示されているように帯状部材を適宜の形状に湾曲形成した可動コンタクト１３ａ及び固定コンタクト１３ｂを備えており、それらの可動コンタクト１３ａ及び固定コンタクト１３ｂは、上述した絶縁ハウジング１１の底面に沿うようにして半径方向に延在する基端接続部１３ａ１，１３ｂ１をそれぞれ有している。そして、それらの各基端接続部１３ａ１，１３ｂ１における半径方向外端部分は、上記絶縁ハウジング１１から外方に向かって平板状に突出している。

この可動コンタクト１３ａ及び固定コンタクト１３ｂに設けられた各基端接続部１３ａ１，１３ｂ１の平板状外方突出部分は、実際の使用時において図示を省略した回路基板上の導電路に半田付けされて固定されるが、これらの各基端接続部１３ａ１，１３ｂ１は、適宜の電子回路に接続されて電子回路を分断又は接続するように配置される。例えば、可動コンタクト１３ａの基端接続部１３ａ１が、携帯電話に設けられた電子回路の本体側に接続される一方、他方側の可動コンタクト１３ｂの基端接続部１３ｂ１が、アンテナ側の電子回路に接続される等である。

また、特に図６に示されているように、上記可動コンタクト１３ａ及び固定コンタクト１３ｂに設けられた各基端接続部１３ａ１，１３ｂ１の内端部分は、上記中心軸１１ｘに沿って立ち上がるように略直角に折り曲げられており、その立ち上げられた部分が、片持ち状をなして上方に延出する弾性接触片部１３ａ２及び固定接触片部１３ｂ２になされている。そのうち固定コンタクト１３ｂに設けられた固定接触片部１３ｂ２は、上記中心軸１１ｘの上方に向かって比較的低い高さ位置まで立ち上げられた後に、上記中心軸１１ｘと略直交する略水平の接戦方向に適宜の長さだけ延在している。なお、前記固定接触片部１３ｂ２の立上げ位置は、後述する検査用プラグコネクタ２０のプローブ２３よりも外方へ離れており、接触していない。

これに対して、上記可動コンタクト１３ａに設けられた弾性接触片部１３ａ２は、上記中心軸１１ｘの上方に向かって比較的高い位置まで立ち上げられた後に、側面略逆Ｕ字状をなすようにして下方側に向かって湾曲状に折り返された形状になされている。この弾性接触片部１３ａ２は、湾曲状の折り返し部分よりその下端部分が半径方向内方側に向かってさらに側面略Ｓ字状をなすように湾曲形成されており、その略Ｓ字状湾曲部分における湾曲頂部１３ａ３を経て当該略Ｓ字状の下端側自由先端部分が、上述した固定コンタクト１３ｂの固定接触片部１３ｂ２に対して半径方向外面側から弾性的に圧接可能となるように延在している。

このとき、上記可動コンタクト１３ａの弾性接触片部１３ａ２は、上述した略Ｓ字状の湾曲頂部１３ａ３が、前記プローブ挿入口１１ａの内方空間に向かって突出するように配置されており、その弾性接触片部１３ａ２の湾曲頂部１３ａ３に対して、後述する検査用プラグコネクタ２０のプローブ（検査針）が弾性的に圧接する接触配置関係になされている。そして、その検査用プラグコネクタ２０のプローブが、上記可動コンタクト１３ａの弾性接触片部１３ａ２に圧接した際に、当該可動コンタクト１３ａの湾曲頂部１３ａ３が半径方向外方側に向かって押圧されて弾性的に変位されるようになっている。

上述したようにコンタクト対１３を構成している可動コンタクト１３ａと固定コンタクト１３ｂとは、通常、弾性接触片部１３ａ２と固定接触片部１３ｂ２とが互いに接触する配置関係になされており、それによって電気的に接続された状態におかれている。一方、スイッチ付きコネクタ１０のプローブ挿入口１１ａ内に検査用プラグコネクタ２０に設けられたプローブ（検査針）が挿通された場合には、スイッチ付きコネクタ１０側の可動コンタクト１３ａが押し広げられるように変位されることによって固定コンタクト１３ｂとの接触状態が離間状態に切り替えられるようになっている。

［検査用プラグコネクタについて］
すなわち、特に上述した図４及び図８に示されているように、検査用プラグコネクタ２０は、上述したような構成を有するスイッチ付きコネクタ１０の内方側に挿入されるものであって、その検査用プラグコネクタ２０を構成している絶縁ハウジング２１は、前記スイッチ付きコネクタ１０側の絶縁ハウジング１１と同様に、プラスチック等の樹脂材を用いた例えばモールド成型によって、前記中心軸２１ｘを中心とした円筒形状をなすように形成されている。

この検査用プラグコネクタ２０を構成している絶縁ハウジング２１の外周表面には、略中空円筒状の導電性部材からなる導電性シェル２２が、当該絶縁ハウジング２１の外周表面のほぼ全周面を覆うように装着されている。この導電性シェル２２は、上記中心軸２１ｘに沿った軸方向高さが、前記絶縁ハウジング２１よりも円形状の底面よりやや長尺状をなすように形成されており、当該導電性シェル２２における下端側の開口部分が、前記絶縁ハウジング２１における円形状の底面から適宜の軸方向高さにわたって下方側に向かって突出するように装着されている。そして、この導電性シェル２２における下方側突出部位の内方側に、上述したスイッチ付きコネクタ１０を受け入れるための空間部分が形成されている。

また、その導電性シェル２２の図示下端側に形成された開口縁部には、上述した中心軸２１ｘ側に向かって横断面略半円状をなすように突出する固定係合突起２２ａが全周にわたって環状をなすように形成されている。この検査用プラグコネクタ２０側に設けられた固定係合突起２２ａは、当該検査用プラグコネクタ２０が前記スイッチ付きコネクタ１０に対して上方側から装着された際に、前述したスイッチ付きコネクタ１０側の固定係止溝１２ｂに対して嵌合される関係を有している。そして、それらの固定係合突起２２ａと固定係止溝１２ｂとが嵌合されることによって、スイッチ付きコネクタ１０に検査用プラグコネクタ２０が適宜の嵌合力で連結された状態に維持されるようになっている。

また、検査用プラグコネクタ２０を構成している絶縁ハウジング２１の下端面、すなわち前述したスイッチ付きコネクタ１０側に対面するように配置された円形状の端面の略中心部分には、前記中心軸２１ｘに沿って下方側に片持ち状に突出するプローブ（検査針）２３が設けられている。この検査用プラグコネクタ２０のプローブ２３は、横断面が略正方形の細長棒状をなすように形成されており、前述したスイッチ付きコネクタ１０に設けられたプローブ挿入口１１ａを通して、当該スイッチ付きコネクタ１０の内部側に向かって下方側に挿入される構成になされている。

より詳細には、前記プローブ（検査針）２３は、略平板状の導電性材料からなる導通部２３ａと、略四角柱状の非導電性材料からなる非導通部２３ｂとを有している。そのうちの非導通部２３ｂは、上述した絶縁ハウジング２１と一体的な構成になされており、横断面が略正方形状の長尺状部材によって形成されている。これに対して、上記導通部２３ａは、長尺状の金属部材等により形成されており、上述した非導通部２３ｂの略正方形状断面の一辺に対して、例えばインサート成型により当該略平板状の導通部２３ａが接合された構造になされている。

このように非導通部２３ｂに導通部２３ａが接合されて形成された検査用プラグコネクタ２０のプローブ（検査針）２３は、その横断面形状が略正方形状をなす構成になされているが、そのプローブ２３における略正方形の横断面状は、前述したスイッチ付きコネクタ１０のプローブ挿入口１１ａよりも一回り小さい相似形となっている。すなわち、この検査用プラグコネクタ２０のプローブ２３は、前記スイッチ付きコネクタ１０のプローブ挿入口１１ａ内に遊嵌状態で挿通可能になされているとともに、そのプローブ挿入口１１ａに対する挿通位置が、上述した中心軸１１ｘの回りに９０°毎に挿通可能な構成になされている。

また、上述した導通部２３ａは、プローブ（検査針）２３の略全長にわたって配置されているとともに、そのプローブ２３を構成している部位から、さらに前記絶縁ハウジング２１の内部を軸方向に貫通するように延出している。そして、その導通部２３ａが前記絶縁ハウジング２１の上側端面に露出する部分には、図示を省略した検査用機器が接続されるようになっている。

このような構成を有する検査用プラグコネクタ２０のプローブ（検査針）２３は、上述したようにスイッチ付きコネクタ１０のプローブ挿入口１１ａを通して内部側に挿入される構成になされているが、当該プローブ２３の図示下端側の先端部分は、前述したスイッチ付きコネクタ１０に設けられた各組のコンタクト対１３，１４，１５の可動コンタクト１３ａ，１４ａ，１５ａに設けられた湾曲頂部１３ａ３，１４ａ３，１５ａ３に接触可能となる配置関係になされている。

すなわち、上記検査用プラグコネクタ２０のプローブ２３が上記スイッチ付きコネクタ１０のプローブ挿入口１１ａの内方側に完全に挿通された後においては、特に図３及び図９に示されているように、上記プローブ２３の下端側先端部分の外周面が、前記各組のコンタクト対１３，１４，１５の可動コンタクト１３ａ，１４ａ，１５ａに圧接し、それによって上記各可動コンタクト１３ａ，１４ａ，１５ａが半径方向外方に押し出されるように変位される。その結果、上記各可動コンタクト１３ａ，１４ａ，１５ａは、それまで接触状態にあった固定コンタクト１３ｂ，１４ｂ，１５ｂから半径方向外方に離間することとなり、その結果、それら両コンタクトどうしが非接触状態に切り替えられる構成になされている。

このように検査用プラグコネクタ２０のプローブ（検査針）２３がスイッチ付きコネクタ１０のプローブ挿入口１１ａの内方側に挿通されるにあたっては、上記プローブ２３に設けられた導通部２３ａがスイッチ付きコネクタ１０における各組のコンタクト対１３，１４，１５のうちのいずれかの可動コンタクト１３ａ，１４ａ，１５ａに圧接することとなるが、圧接が行われるコンタクト対は、検査用プラグコネクタ２０の回転方向位置をどのように設定するかで決定されることとなる。

すなわち、上述したように検査用プラグコネクタ２０のプローブ２３は、前記スイッチ付きコネクタ１０のプローブ挿入口１１ａの内部空間において略９０°の間隔で挿通可能となるように構成されていることから、当該検査用プラグコネクタ２０の回転方向位置を適宜に選択することによって、前記各組のコンタクト対１３，１４，１５の可動コンタクト１３ａ，１４ａ，１５ａのうちの検査対象となっている電子回路が接続されたものに対して上記プローブ２３の導通部２３ａが好適に圧接される。

このようにして上記プローブ（検査針）２３の導通部２３ａが圧接された各組のコンタクト対のうちのいずれか一つのコンタクト対１３（１４，１５）では、可動コンタクト１３ａ（１４ａ，１５ａ）が外方側に押し開かれるように撓ませられ、それによって当該可動コンタクト１３ａ（１４ａ，１５ａ）が固定コンタクト１３ｂ（１４ｂ，１５ｂ）から離間して非接触状態に切り替えられる。その結果、そのコンタクト対１３（１４，１５）に接続された電子回路が分断状態に切り替えられるととともに、上記プローブ２３が接触した電子回路側の電気信号が、当該プローブ２３の導通部２３ａを通して外部に取り出される。なお、図９においては、導通部２３ａが可動コンタクト１３ａに接触している。

またそのときに上記プローブ（検査針）２３の非導通部２３ｂは、他の二組のコンタクト対１４，１５に圧接し、その二組のコンタクト対１４，１５における可動コンタクト１４ａ，１５ａが非導通部２３ｂにより外方側に押し開かれるように撓ませられる。それによって、当該可動コンタクト１４ａ，１５ａが固定コンタクト１４ｂ，１５ｂ側から離間して非接触状態に切り替えられる。その結果、上記二組のコンタクト対１４，１５に接続された電子回路が同様に分断されるとともに、前記プローブ２３の導通部２３ａに対しても上記二組のコンタクト対１４，１５は電気的に非接触状態におかれることとなり、それら二組のコンタクト対１４，１５に接続されている電子回路は電気的に遮断された状態に切り替えられる。

なお、可動コンタクト１３ａを検査して電気信号に取り出す際には、必ずしも可動コンタクト１４ａ,１５ａは非導通部２３ｂに接触する必要はないが、上述したように本実施形態におけるプローブ２３は、環状の可動コンタクト１３ａ,１４ａ，１５ａそれぞれより接触圧を受けることから、スイッチ付きコネクタ１０と検査用プラグコネクタ２０とを嵌合した際のバランスが良いという利点がある。

一方、上述したようにスイッチ付きコネクタ１０の内部側に挿入された検査用プラグコネクタ２０のプローブ（検査針）２３は、中心軸２１ｘの回りに９０°毎に挿通可能となるように構成されていることから、例えばその検査用プラグコネクタ２０を、前記中心軸２１ｘを中心として約１８０°だけ回転移動させれば、例えば図１０に示された状態に切り替えられる。すなわち、この図１０に示された状態では、上述した検査用プラグコネクタ２０のプローブ２３を構成している導通部２３ａと非導通部２３ｂとが、図３の状態から互いに反対側の領域に反転移動されている。そして、図１０においては、導通部２３ａが可動コンタクト１５ａに接触している。このように検査用プラグコネクタ２０のプローブ２３における導通部２３ａと非導通部２３ｂとの位置関係が互いに入れ替わることによって、当該プローブ２３の導通部２３ａを接続すべきコンタクト対１３，１４，１５が適宜に選択される。

このように本実施形態においては、一対のコンタクトを一組とする複数組のコンタクト対１３，１４，１５が配置されたスイッチ付きコネクタ１０に検査用プラグコネクタ２０のプローブ（検査針）２３が挿入され、そのプローブ２３に設けられた導通部２３ａが、上記複数組のコンタクト対１３，１４，１５に対して一組ずつ順次圧接され、それら各組のコンタクト対１３，１４，１５における接触状態が離間状態に切り替えられるとともに、その離間状態に切り替えられた一組のコンタクト対に接続された電子回路からの電気信号が順次外部に取り出されることによって、複数組の電子回路に関する検査が一個の回路検査スイッチにより容易に行われるようになっている。

このとき、特に本実施形態においては、前記複数組のコンタクト対１３，１４，１５が環状に配置された構成が採用されていることから、スイッチ付きコネクタ１０の内部に挿入された検査用プラグコネクタ２０のプローブ２３を９０°毎に挿通し、切り替え可能に構成することによって、複数組のコンタクト対１３，１４，１５のそれぞれに対する圧接状態の切り替えが円滑に行われるようになっている。

また、本実施形態にかかるスイッチ付きコネクタ１０に設けられた複数組のコンタクト対１３，１４，１５は、互いに略同一の形状を有するように形成される構成になされることから、複数組のコンタクト対１３，１４，１５を区別することなく効率的に製造されることとなり、製品自体のコストダウンが容易に行われるとともに、部材管理も容易化される。

以上、本発明者によってなされた発明を実施形態に基づき具体的に説明したが、本実施形態は上述した実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変形可能であるというのはいうまでもない。

例えば上述した実施形態では、スイッチコネクタ１０に対して検査用プラグコネクタ２０を９０°毎に挿通可能としたが、プローブ挿入口１１ａ、及び可動コンタクト１３ａ〜１５ａをプローブ２３が回転可能な形状に設定すれば、スイッチコネクタ１０と検査用プラグコネクタ２０が互いに嵌合した状態にて検査を行うことが可能となる。

さらに上述した実施形態においては、複数組のコンタクト対１３，１４，１５が９０°毎に３組環状に配置されているが、本発明はそれに限定されるものではなく、例えば４組のものを環状に配置しても良く、組数、環状配置する角度等も適宜に変更可能である。また、複数組のコンタクト対１３，１４，１５を直線状、すなわち両コネクタの嵌合方向に重なった構成をなすように配置することも可能であり、検査用プラグコネクタ２０の嵌合量によって複数組のコンタクト対を検査することができる。そのように構成した場合においても、上述した実施形態と同様な作用・効果が得られる。

また、上述した実施形態においては、検査用プラグコネクタ２０のプローブ２３に導通部２３ａと非導通部２３ｂとを設けている非導通部２３ｂを設けることなく、導通部２３ａを複数組のコンタクト対に対して一組ずつ圧接させるように構成し、個別に電気信号を取り出すことも可能であり、その形態は問わない。

以上のように本発明は、各種電子・電気機器に使用される多種多様な回路検査スイッチに対して広く適用することが可能である。

本発明の一実施形態にかかる回路検査スイッチを構成しているスイッチ付きコネクタと検査用プラグコネクタとを装着した組立体を上方側からみたときの外観斜視説明図である。 図１に示された本発明の実施形態にかかる回路検査スイッチを構成しているスイッチ付きコネクタと検査用プラグコネクタとの組立体を下方側からみたときの外観斜視説明図である。 図１及び図２に示された本発明の実施形態にかかる回路検査スイッチを構成しているスイッチ付きコネクタと検査用プラグコネクタとを装着した組立体の概略構造を表した縦断面説明図である。 図１乃至図３に示された本発明の実施形態にかかる回路検査スイッチを構成しているスイッチ付きコネクタと検査用プラグコネクタとを装着する直前の状態を縦断面で表した斜視説明図である。 図１乃至図４に示された本発明の実施形態にかかる回路検査スイッチを構成しているスイッチ付きコネクタの構造を表した外観斜視説明図である。 図１乃至図４に示された本発明の実施形態にかかる一組のスイッチ付きコネクタにおけるコンタクト対を模式的に表した外観斜視説明図である。 図１乃至図４に示された本発明の実施形態にかかる回路検査スイッチを構成しているスイッチ付きコネクタの構造を表した底面説明図である。 図１乃至図４に示された本発明の実施形態にかかる回路検査スイッチを構成している検査用プラグコネクタの構造を表した外観斜視説明図である。 図７に示されたスイッチ付きコネクタに対して検査用プラグコネクタを挿入した状態を表した底面説明図である。 図１乃至図４に示された本発明の実施形態にかかる回路検査スイッチを構成しているスイッチ付きコネクタに対する検査用プラグコネクタの導通部及び非導通部の接触関係を回転移動により切り替えた状態を表した縦断面説明図である。 従来における回路検査スイッチを構成しているスイッチ付きコネクタと検査用プラグコネクタとを装着した組立体の概略構造を表した縦断面説明図である。

符号の説明

１０ スイッチ付きコネクタ
１１ 絶縁ハウジング
１１ａ プローブ挿入口
１１ｘ 中心軸
１２ 導電性シェル
１２ａ シェルベース片
１２ｂ 固定係止溝
１３，１４，１５ コンタクト対
１３ａ，１４ａ，１５ａ 可動コンタクト
１３ａ１，１４ａ１，１５ａ１ 基端接続部
１３ａ２，１４ａ２，１５ａ２ 弾性接触片部
１３ａ３，１４ａ３，１５ａ３ 湾曲頂部
１３ｂ，１４ｂ，１５ｂ 固定コンタクト
１３ｂ１，１４ｂ１，１５ｂ１ 基端接続部
１３ｂ２，１４ｂ２，１５ｂ２ 固定接触片部
２０ 検査用プラグコネクタ
２１ 絶縁ハウジング
２１ｘ 中心軸
２２ 導電性シェル
２２ａ 固定係合突起
２３ プローブ（検査針）
２３ａ 導通部
２３ｂ 非導通部

Claims (7)

1. 機器本体に設けられた電子回路を分断又は接続するように配置される離間状態と接触状態との間で切り替えられる一対のコンタクトを備えたスイッチ付きコネクタと、
   そのスイッチ付きコネクタの内部に挿入されることによって当該スイッチ付きコネクタに設けられた前記一対のコンタクトの接触状態を離間状態に切り替えるとともに、その離間状態に切り替えられたコンタクトに接続された電子回路に導通されるプローブを有する検査用プラグコネクタと、
   を備えた回路検査スイッチにおいて、
   前記スイッチ付きコネクタには、前記一対のコンタクトを一組とするコンタクト対が複数組にわたって配置されているとともに、
   それら複数組のコンタクト対は、前記検査用プラグコネクタのプローブに設けられた導通部が一組ずつ順次に圧接可能となるように配置され、そのプローブの導通部が圧接されたコンタクト対に接続された電子回路に導通されるように構成されていることを特徴とする回路検査スイッチ。
2. 機器本体に設けられた電子回路を分断又は接続するように離間状態と接触状態との間で切り替えられる一対のコンタクトを備え、その一対のコンタクトに接触するように検査用プラグコネクタのプローブが挿入されることにより前記一対のコンタクトの接触状態が離間状態に切り替えられるように構成されたスイッチ付きコネクタにおいて、
   前記一対のコンタクトを一組とするコンタクト対が複数組にわたって配置されたものであって、
   それら複数組のコンタクト対は、前記検査用プラグコネクタのプローブに設けられた導通部が一組ずつ順次に圧接可能となるように配置され、そのプローブの導通部が圧接されたコンタクト対を介して前記電子回路が前記プローブの導通部に接続されるように構成されていることを特徴とするスイッチ付きコネクタ。
3. 前記検査用プラグコネクタのプローブに設けられた導通部は、前記複数組のコンタクト対のうちの一組のコンタクト対に圧接し、さらに他組のコンタクト対に切り替え可能に構成されていることを特徴とする請求項２記載のスイッチ付きコネクタ。
4. 前記複数組のコンタクト対が、環状に配置されていることを特徴とする請求項２記載のスイッチ付きコネクタ。
5. 前記複数組のコンタクト対は、互いに略同一の形状を有するように形成されていることを特徴とする請求項２記載のスイッチ付きコネクタ。
6. 前記複数組のコンタクト対を保持する絶縁ハウジングと、その絶縁ハウジングにおける前記検査用プラグコネクタの挿入側に設けられた挿入案内部の外表面のほぼ全面を覆う導電性シェルと、を有し、
   電子回路に実装された際に、同軸タイプの検査用プラグコネクタが嵌合されて検査を行うように構成されていることを特徴とする請求項２乃至請求項５のいずれかに記載のスイッチ付きコネクタ。
7. 機器本体に設けられた電子回路を分断又は接続するように離間状態と接触状態との間で切り替えられる一対のコンタクトを備えたスイッチ付きコネクタの内部に挿入され、前記スイッチ付きコネクタに設けられた前記一対のコンタクトの接触状態を離間状態に切り替えるプローブを備えた検査用プラグコネクタにおいて、
   前記プローブは、導電性材料からなる導通部と、非導電性材料からなる非導通部と、を有し、
   それらの導通部及び非導通部が、前記スイッチ付きコネクタに設けられた前記一対のコンタクトを一組とする複数組のコンタクト対に対して一組ずつ順次に圧接可能となるように配置され、前記導通部が圧接されたコンタクト対を介して前記電子回路の接続が行われるように構成されていることを特徴とする検査用プラグコネクタ。

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