JP5477604B2 - スイッチ付きコネクタ及び回路検査スイッチ - Google Patents

Description

本発明は、電子機器の電子回路に接続されたスイッチ付きコネクタに対して検査用プラグコネクタを挿入することによって電子機器の検査を行うように構成されたスイッチ付きコネクタ及び回路検査スイッチに関する。

一般に、携帯電話などのような電子機器又は電気機器においては、内部に設けられた高周波回路等の各種電子回路の状態や性能を検査するために、小型の回路検査スイッチが電子回路内に組み込まれることがある。例えば下記の特許文献１に相当する図６にかかる回路検査スイッチは、機器本体の電子回路を分断するように回路基板上に実装されたスイッチ付きコネクタ１を備えているとともに、そのスイッチ付きコネクタ１の内部に、検査用プラグコネクタのプローブ（検査針）２が上方側（紙面垂直方向手前側）から挿入される構成になされている。

上記スイッチ付きコネクタ１の内部に配置された絶縁ハウジング１ａには、可動コンタクト１ｂと固定コンタクト１ｃとからなるコンタクト対が取り付けられていて、それら一対の可動コンタクト１ｂ及び固定コンタクト１ｃが、機器本体に設けられた電子回路（図示省略）の一方側及び他方側にそれぞれ接続されている。そして、そのスイッチ付きコネクタ１に対して上方側（紙面垂直方向手前側）から挿入された検査用プラグコネクタのプローブ（検査針）２の先端部分が、略水平面内で揺動する前記可動コンタクト１ｂの自由端部分を押し開くように圧接し、それによって可動コンタクト１ｂが固定コンタクト１ｃから離間して電子回路が分断される。また、それと同時に可動コンタクト１ｂが上記プローブ２側に接触することによって、機器本体の電子回路の一方側に対してプローブ２が導通され、そのプローブ２を通して前記電子回路からの電気信号が外部に取り出されることとなって適宜の検査が実行されるようになっている。

しかしながら、このような構成を有する従来の回路検査スイッチでは、装置全体の低背化等の要請に伴って上記可動コンタクト１ｂの板幅、すなわちプローブ２の挿抜方向における高さ寸法が年々縮小される傾向になってきている。その結果、可動コンタクト１ｂの弾性力が減少し、固定コンタクト１ｃに接触する圧接力が低下することによって、電気的な接続性の信頼性に問題を生じるおそれが大きくなりつつある。また、機器本体を落下した際などに可動コンタクト１ｂが変形する可能性があり、電子回路を分断させたまま状態になってしまうおそれがある。

このような回路検査スイッチ１の可動コンタクト１ｂにおける接触圧力の低下や変形の問題は、可動コンタクト１ｂのスパン長を拡大することによって応力集中を回避するようにした場合に顕著となる。また、上述した特許文献１のように、プローブ２の挿抜方向と直交する平面内において可動コンタクト１ｂを延在させるように構成した場合には、プローブ２の挿抜操作に伴って可動コンタクト１ｂが揺動方向と直交する方向に変形を生じやすくなることから、機器本体の電子回路を停止状態に陥らせるおそれが強い。

また、近年、複数組の電子回路に対して検査を行う場合が多くなってきているが、その場合には、複数組の電子回路ごとに回路検査スイッチが付設されることとなり、その結果として、回路検査スイッチの実装面積及び検査工程が増大するという問題を生じるおそれがある。

特開２００６−４９２７６号公報

そこで本発明は、簡易な構成によって、可動コンタクトの接触性を向上させつつ変形を良好に防止することができるとともに、複数組の電子回路に関する検査を容易に行うことができるようにしたスイッチ付きコネクタ及び回路検査スイッチを提供することを目的とする。

上記目的を達成するため本発明では、絶縁ハウジングに装着された固定コンタクトと、その固定コンタクトに対して回路接点部が接触・離間するように揺動可能に延出する揺動ビームを備えた可動コンタクトとを備えているとともに、前記可動コンタクトの揺動ビームに対して検査用プラグコネクタのプローブに設けられた導通部が接触・離間するように前記プローブの挿抜が行われ、前記プローブの導通部が前記可動コンタクトに接触することで、前記可動コンタクトに接続された電子回路に対して前記プローブが導通状態になされるスイッチ付きコネクタにおいて、前記可動コンタクトの揺動ビームは、前記回路接点部から延出する伸張延設部を有し、当該伸張延設部の少なくとも一部が、前記絶縁ハウジングに当接されていることによって、前記回路接点部が前記固定コンタクト側に押し付けられるように構成されているとともに、前記可動コンタクトの伸張延設部における延出方向の先端部分が、前記絶縁ハウジングに対して摺動可能に圧接され、かつ前記可動コンタクトの揺動ビームが延在している平面が、前記プローブの挿抜方向に対して略直交する位置関係となるように配置されている一方、前記可動コンタクトが、前記絶縁ハウジングの内部に複数体にわたって配置され、それら複数体の可動コンタクトの各々に対して複数組の電子回路の各々が接続されたものであって、前記複数体の可動コンタクトのいずれかに対して、前記プローブの導通部が選択的に接触可能となるように配置され、前記プローブの導通部が接触された可動コンタクトに接続された電子回路が前記プローブと導通状態になされるとともに、他の可動コンタクトに接続された電子回路が前記プローブと非導通状態になされる構成が採用されている。

また本発明では、絶縁ハウジングに装着された固定コンタクトに対して回路接点部が接触・離間するように揺動可能に延出する可動コンタクトを備えたスイッチ付きコネクタと、そのスイッチ付きコネクタに対して挿抜される検査用プラグコネクタとを有するものであって、前記スイッチ付きコネクタの可動コンタクトの揺動ビームに対して前記検査用プラグコネクタのプローブに設けられた導通部が接触・離間するように前記プローブの挿抜が行われ、前記プローブの導通部が前記可動コンタクトに接触することで、前記可動コンタクトに接続された電子回路に対して前記プローブが導通状態になされるように構成された回路検査スイッチにおいて、前記スイッチ付きコネクタの可動コンタクトを構成している揺動ビームは、前記回路接点部から延出する伸張延設部を有し、当該伸張延設部の少なくとも一部が、前記絶縁ハウジングに当接されていることによって、前記回路接点部が前記固定コンタクト側に押し付けられるように構成されているとともに、前記可動コンタクトの伸張延設部における延出方向の先端部分が、前記絶縁ハウジングに対して摺動可能に圧接され、かつ前記可動コンタクトの揺動ビームが延在している平面が、前記プローブの挿抜方向に対して略直交する位置関係となるように配置されている一方、前記可動コンタクトが、前記絶縁ハウジングの内部に複数体にわたって配置され、それら複数体の可動コンタクトの各々に対して複数組の電子回路の各々が接続されたものであって、前記複数体の可動コンタクトのいずれかに対して、前記プローブの導通部が選択的に接触可能となるように配置され、前記プローブの導通部が接触された可動コンタクトに接続された電子回路が前記プローブと導通状態になされるとともに、他の可動コンタクトに接続された電子回路が前記プローブと非導通状態になされる構成が採用されている。

このような構成を有する本発明によれば、可動コンタクトの揺動ビームに設けられた伸張延設部が絶縁ハウジングに当接されたときの支持反作用によって、当該可動コンタクトの回路接点部が固定コンタクト側に押し付けられ、その回路接点部を挟んだ両側の２点支持により可動コンタクトに予圧がかけられるようにしていることから、装置の低背化等に伴って可動コンタクトの弾性力が低下した場合においても、固定コンタクトに対する可動コンタクトの接触圧が良好かつ安定的に得られると同時に、その可動コンタクトの両端部分が支持された状態になされていることによって当該可動コンタクトの変形が良好に防止されるようになっている。

また、可動コンタクトの揺動が行われる際にあたっては、当該可動コンタクトの延出方向の先端部分が絶縁ハウジングの壁面に沿って移動することとなるため、可動コンタクトの揺動作用が良好な状態に維持される。さらに、プローブの挿抜方向である高さ方向と直交する平面内において可動コンタクトが延在していることから、全体の高さの低減化が図られる。

一方、このような構成を有する本発明によれば、スイッチ付きコネクタに複数体にわたって配置された可動コンタクトに対して、検査用プラグコネクタに設けられたプローブの導通部が選択的に圧接されることとなり、複数体の可動コンタクトの各々に接続された複数組の電子回路の各々に関する検査が、一個の回路検査スイッチによって容易に実行される。

また本発明における可動コンタクトの伸張延設部は、前記基端部に向かって略Ｕ字状をなすように折り返された形状を有する構成とすることが可能である。

このような構成を有する本発明によれば、可動コンタクトの全体が略Ｕ字状をなすように折り返されていることよって、当該可動コンタクト全体の小型化が図られるとともに、略Ｕ字状の折り返し部分に発生する弾性的な反発作用によって固定コンタクトに対する接触圧がさらに向上されるようになっている。

また本発明における可動コンタクトは、前記絶縁ハウジングの外部から内部に向かって前記プローブの挿抜方向と略直交する方向に装着されたものであって、前記絶縁ハウジング内に装着された前記可動コンタクトが、前記絶縁ハウジングの内壁面により前記プローブの挿抜方向に支持された構成とすることが可能である。

このような構成を有する本発明によれば、プローブの挿抜操作に伴って可動コンタクトが同方向に変形されようとしても、その可動コンタクトは、絶縁ハウジングの内壁面により支持されることとなり、それによって当該可動コンタクトの変形が良好に防止されるようになっている。

また本発明においては、可動コンタクトが、前記絶縁ハウジングの内部に複数体にわたって配置されたものであって、それら複数体の可動コンタクトのいずれかに対して前記プローブに設けられた導通部が選択的に接触可能となるように配置され、前記プローブの導通部が接触された可動コンタクトに接続された電子回路に対して前記プローブが導通されるように構成することが可能である。

このような構成を有する本発明によれば、スイッチ付きコネクタに複数体にわたって配置された可動コンタクトに検査用プラグコネクタに設けられたプローブの導通部が選択的に圧接されることとなり、スイッチ付きコネクタに設けられた複数体の可動コンタクトに接続された複数組の電子回路に関する検査が一個の回路検査スイッチにより容易に実行されるようになっている。

以上述べたように本発明は、スイッチ付きコネクタに設けられた可動コンタクトの回路接点部から延出する伸張延設部の少なくとも一部を絶縁ハウジングに当接させ、その伸張延設部の支持反作用によって可動コンタクトの回路接点部を固定コンタクト側に押し付けて可動コンタクトが２点支持構造となるように構成するとともに、絶縁ハウジングに複数体にわたって配置した可動コンタクトのいずれかに対して、プローブの導通部を選択的に接触可能に配置し、プローブの導通部が接触した可動コンタクトに接続された電子回路を導通させるように構成したものであるから、低背化等に伴って可動コンタクトの弾性力が低下された場合であっても固定コンタクトに対する可動コンタクトの接触圧を良好かつ安定的に維持することができると同時に、その可動コンタクトを安定的に支持した状態とすることによって当該可動コンタクトの変形を良好に防止することができるとともに、スイッチ付きコネクタに設けられた複数体の可動コンタクトに接続された複数体の電子回路に関する検査が、一個の回路検査スイッチにより容易に実行されるように構成したものであるから、簡易な構成によって、回路検査スイッチ及びスイッチ付きコネクタの信頼性を低廉かつ大幅に向上させることができる。

本発明の一実施形態にかかる回路検査スイッチを構成しているスイッチ付きコネクタに対して検査用プラグコネクタを上方側に装着する状態を表した外観斜視説明図である。 図１に示された本発明の実施形態にかかる回路検査スイッチを構成しているスイッチ付きコネクタの構成を表した分解斜視説明図である。 図１及び図２に示された本発明の実施形態にかかる回路検査スイッチを構成しているスイッチ付きコネクタの構造を表した縦断面説明図である。 図１乃至図３に示された本発明の実施形態にかかる回路検査スイッチを構成しているスイッチ付きコネクタの構造を表した図３中のIV−IV線に沿った横断面説明図である。 図４に表されたスイッチ付きコネクタに対して検査用プラグコネクタのプローブを挿入した状態を表した図４に相当する横断面説明図である。 従来の回路検査スイッチを構成しているスイッチ付きコネクタの構造を表した横断面説明図である。

以下、本発明にかかるスイッチ付きコネクタ及び検査用プラグコネクタからなる回路検査スイッチの実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。

［回路検査スイッチの組立体について］
まず、図１に示された本発明の第１の実施形態にかかる回路検査スイッチの組立体は、下方側に配置されたスイッチ付きコネクタ１０と、そのスイッチ付きコネクタ１０に対して上方側から挿入される検査用プラグコネクタ２０とを備えており、上記検査用プラグコネクタ２０がスイッチ付きコネクタ１０に対して下方向に挿入され又は上方向に抜出される構成になされている。すなわち、上記検査用プラグコネクタ２０を把持しながら、下方側に配置されているスイッチ付きコネクタ１０に向かって適宜の力で押し込むことによって、これら両コネクタ１０，２０どうしが嵌合された装着状態になされる。また、その両コネクタ１０，２０の装着状態から上記検査用プラグコネクタ２０を把持して上方側に適宜の力で引き上げれば、当該検査用プラグコネクタ２０がスイッチ付きコネクタ１０から上方に離脱して抜出が行われる。以下において、上記検査用プラグコネクタ２０の挿入方向及び抜出方向をそれぞれ下方向及び上方向とする。

［スイッチ付きコネクタについて］
このような回路検査スイッチの組立体を構成しているスイッチ付きコネクタ１０は、例えば携帯電話等の電子機器に設けられた電子回路基板（図示省略）上に半田付けにより実装されて使用され、その電子機器に設けられた電子回路を、例えば機器本体側とアンテナ側とを分断又は接続するように配置される。

図２、図３及び図４にも示されているように、上記スイッチ付きコネクタ１０を構成している絶縁ハウジング１１は、プラスチック等の樹脂材を用いて例えばモールド成型により中空状の構造体をなすように形成されている。その絶縁ハウジング１１は、平面略矩形状をなすように形成されたベース枠体部１１ａと、そのベース枠体部１１ａの上面中央部分に配置された挿入ガイド部１１ｂとを一体的に有する構成になされている。上記ベース枠体部１１ａは、薄厚の箱状体から形成されており、上述した検査用プラグコネクタ２０の挿抜方向（上下方向）に略直交する方向に貫通する一対のコンタクト収納部１１ｃ，１１ｄが互いに隣接するように設けられている。

これら一対のコンタクト収納部１１ｃ，１１ｄの各々には、可動コンタクト１２ａ，１２ｂ及び固定コンタクト１３ａ，１３ｂが互いに反対側の開口部から対向するように装着されている。そして、一方側のコンタクト収納部１１ｃの内部に、一組の可動コンタクト１２ａと固定コンタクト１３ａとからなるコンタクト対が互いに接触するように配置されているとともに、他方側のコンタクト収納部１１ｄの内部に、一組の可動コンタクト１２ｂと固定コンタクト１３ｂとからなるコンタクト対が互いに接触するように配置されている。

これらの各可動コンタクト１２ａ，１２ｂ及び固定コンタクト１３ａ，１３ｂは、各種の電子回路基板（図示省略）上の導電路に半田接続されて使用されるが、一方側の可動コンタクト１２ａ及び固定コンタクト１３ａからなる一組のコンタクト対が、一つの電子回路の途中位置に配置されているとともに、他方側の可動コンタクト１２ｂ及び固定コンタクト１３ｂからなる一組のコンタクト対が、他の電子回路の途中位置に配置されている。このように本実施形態における回路検査スイッチは、二組の電子回路に関する検査を可能とするものであるが、上述した各可動コンタクト１２ａ，１２ｂ及び固定コンタクト１３ａ，１３ｂの詳細構造については後述する。

また、上述したベース枠体部１１ａの中心部分には、当該ベース枠体部１１ａの中心軸１１ｘに沿って略直線状に延在するプローブ挿入口１１ｅが貫通するように形成されている。このプローブ挿入口１１ｅは、上述した検査用プラグコネクタ２０のプローブ２０ａを挿入可能とする大きさの平面略円形状をなすように形成されている。また、そのプローブ挿入口１１ｅの上面側開口部の周囲には、上述した挿入ガイド部１１ｂが略同心状をなすように配置されている。

上記挿入ガイド部１１ｂは、上述したベース枠体部１１ａの上側表面から略円筒状をなして上方に立ち上がるように形成されている。この挿入ガイド部１１ｂの内周側表面は、略すり鉢状をなすように形成されており、当該挿入ガイド部１１ｂの上端縁部分に形成された円環状外縁部から、中心部分に配置された前記プローブ挿入口１１ｅの上面側開口部に向かって斜め下方に延在する傾斜ガイド面１１ｆが形成されている。この傾斜ガイド面１１ｆは、図３中の一点鎖線で示されているように、前述した検査用プラグコネクタ２０のプローブ２０ａをプローブ挿入口１１ｅに向かって案内する機能を有するものであって、プローブ２０ａがプローブ挿入口１１ｅの真上に配置されていない場合であっても、傾斜ガイド面１１ｆの傾斜面上にプローブ２０ａの先端部が当接されれば、そのプローブ２０ａの先端部が傾斜ガイド面１１ｆに沿って下方に滑り落ちるように移動されることによってプローブ挿入口１１ｅまで円滑に案内されるようになっている。

さらに、前記絶縁ハウジング１１の上面側表面には、薄板状の導電性部材からなる導電性シェル１４が装着されている。この導電性シェル１４は、前記絶縁ハウジング１１の上面側から前記挿入ガイド部１１ｂの外周面にかけての部位を覆うように装着されている。この導電性シェル１４が前記絶縁ハウジング１１の上面側表面を覆う部分は、平面略矩形状をなすように形成されているが、その平面略矩形状における一対の対向縁部分に相当する部位には、下方に向かって垂れ下がるホールドダウン１４ａ，１４ａがそれぞれ連設されている。それらの各ホールドダウン１４ａは、図示を省略した電子回路基板上に半田付けされることによって、グランド接続が行われるとともに、スイッチ付きコネクタ１０の全体の保持が行われるようになっている。

さらに、この導電性シェル１４は、上述した絶縁ハウジング１１の挿入ガイド部１１ｂを外方側から覆うように形成されている。この挿入ガイド部１１ｂを覆う部位は、略中空円筒状をなすように形成されているが、その略中空円筒状部分の外周表面には、円環状をなすようにして固定係止溝１４ｂが形成されており、その固定係止溝１４ｂに対して、前記検査用プラグコネクタ２０に設けられた導電性シェルの一部が嵌め込まれるようにして嵌合され、スイッチ付きコネクタ１０に対して検査用プラグコネクタ２０が適宜の嵌合力で連結された状態に維持されるようになっている。

［コンタクトの構成について］
さらにまた、前記絶縁ハウジング１１に設けられたコンタクト収納部１１ｃ，１１ｄの内部には、前述したように二組のコンタクト対が、前記絶縁ハウジング１１の外方から内方に向かって挿通されるようにして装着されている。これら二組のコンタクト対は、一方側のコンタクト収納部１１ｃ内に装着された一組の可動コンタクト１２ａ及び固定コンタクト１３ａと、他方側のコンタクト収納部１１ｄ内に装着された一組の可動コンタクト１２ｂ及び固定コンタクト１３ｂとから構成されるものである。

これら両組のコンタクト対を構成している各可動コンタクト１２ａ，１２ｂ及び固定コンタクト１３ａ，１３ｂは、前記絶縁ハウジング１１の外縁側部分に固定された基端部１２ａ１，１３ａ１，１２ｂ１，１３ｂ１をそれぞれ有しているとともに、それらの基端部１２ａ１，１３ａ１，１２ｂ１，１３ｂ１には、外方に向かって延出する半田接続部１２ａ２，１２ｂ２，１３ａ２，１３ｂ２が設けられている。これらの各半田接続部１２ａ２，１２ｂ２，１３ａ２，１３ｂ２は、適宜の電子回路基板（図示省略）上の導電路、例えば二組のアンテナ回路（電子回路）が実装された電子回路基板上の各々の電子回路に対応した導電路にそれぞれ半田接続されることによって使用状態になされる。

そして、一方側の可動コンタクト１２ａ及び固定コンタクト１３ａからなるコンタクト対、並びに他方側の可動コンタクト１２ｂ及び固定コンタクト１３ｂからなるコンタクト対の各接触状態が、前記検査用プラグコネクタ２０が挿入されて互いに離間状態に切り替えられることによって、前記一方側及び他方側の電子回路がそれぞれ分断されることとなり、その電子回路の分断状態において当該電子回路に対する検査が実行されるようになっている。このように本実施形態におけるスイッチ付きコネクタ１０は、二組の電子回路に関する検査を可能とする構成を有するものとなっている。

ここで、上述した二組のコンタクト対は、互いに同一の形状・構造になされて対称的な配置関係になされているものであることから、以下においては、一方側の可動コンタクト１２ａ及び固定コンタクト１３ａからなる一方側のコンタクト対の構成のみを説明することとし、他方側の可動コンタクト１２ｂ及び固定コンタクト１３ｂからなるコンタクト対の構成については参考的な説明に止めることとする。

すなわち、その一方側のコンタクト対を構成している可動コンタクト１２ａ及び固定コンタクト１３ａには、上述したように前記絶縁ハウジング１１に対する挿通方向の後端側部分に、半田接続部１２ａ２，１３ａ２を有する基端部１２ａ１，１３ａ１が設けられている。それらの基端部１２ａ１，１３ａ１は、前記絶縁ハウジング１１のコンタクト収納部１１ｃの内周壁面に沿って延在するように横断面略コの字状をなすように折り曲げ形成されている。そして、それらの各基端部１２ａ１，１３ａ１は、前記コンタクト収納部１１ｃの両側外端開口部における内周壁面に対してそれぞれ圧接されるようにして嵌着されており、それによって前記可動コンタクト１２ａ及び固定コンタクト１３ａの全体が絶縁ハウジング１１に対して固定状態に維持されるようになっている。このとき、上記各基端部１２ａ１，１３ａ１は、適宜の形状の係止部を設けることにより固定を行う構成とすることも可能である。

また、前記可動コンタクト１２ａ及び固定コンタクト１３ａにおける各基端部１２ａ１，１３ａ１には、前記絶縁ハウジング１１の内方側に向かって延出する揺動ビーム１２ａ３及び固定ビーム１３ａ３の一端部が連設されている。それらの揺動ビーム１２ａ３及び固定ビーム１３ａ３は、前記基端部１２ａ１，１３ａ１から前記コンタクト収納部１１ｃの内壁面に沿って内方側に向かって延出する細長状の帯板状部材から形成されており、それらの可動コンタクト１２ａ及び固定コンタクト１３ａどうしが反対方向から互いに近接するように配置されている。

そのうちの固定コンタクト１３ａに設けられた固定ビーム１３ａ３は、そのほぼ全長が前記絶縁ハウジング１１の内壁面に沿うように配置されており、それによってほぼ固定された状態に取り付けられている。この固定ビーム１３ａ３の延出方向前端部分（内方端部分）には、略Ｌ字状をなすように折り曲げ形成された回路接点部１３ａ４が設けられている。

これに対して前記可動コンタクト１２ａの揺動ビーム１２ａ３は、前記絶縁ハウジング１１のコンタクト収納部１１ｃ内において略水平面内で揺動可能となるように延出する構成になされている。そして、その揺動ビーム１２ａ３には、当該揺動ビーム１２ａ３の延出方向（内方向）における途中部分に略平面状の回路接点部１２ａ４が設けられている。そして、この可動コンタクト１２ａ及び前記固定コンタクト１３ａを、上述したように絶縁ハウジング１１の内部に挿入して装着を完了した時点で、前記両回路接点部１２ａ４，１３ａ４どうしが互いに接触して電気的に導通されるようになっている。

前述したように可動コンタクト１２ａに設けられた揺動ビーム１２ａ３は、固定状態になされた前記基端部１２ａ１から絶縁ハウジング１１の内方側に向かって延出して回路接点部１２ａ４に至る長尺状の帯板状部材から形成されているが、その回路接点部１２ａ４に至る手前側の部分には、前記プローブ挿入口１１ｅの内方空間に向かって略山形状に張り出す弾性接触片部１２ａ５が形成されている。この弾性接触片部１２ａ５は、特に図５に示されているように上記プローブ挿入口１１ｅの内部に上方側から挿入された検査用プラグコネクタ２０のプローブ（検査針）２０ａの外周面に対して弾性的に圧接される配置関係になされている。

このとき、上記弾性接触片部１２ａ５の上縁側部分には、前記検査用プラグコネクタ２０のプローブ２０ａの先端部分に当接する傾斜案内面１２ａ６が形成されている。そしてその傾斜案内面１２ａ６に上方側から当接したプローブ（検査針）２０ａの先端部分が、前記プローブ挿入口１１ｅの中心側に滑り落ちるように案内される構成になされている。このようにしてプローブ挿入口１１ｅの内部側に挿入された検査用プラグコネクタ２０のプローブ２０ａに対しては、前記可動コンタクト１２ａの弾性接触片部１２ａ５が内方側から圧接することとなる。それによって、前記可動コンタクト１２ａの揺動ビーム１２ａ３は、半径方向の外方側に向かって押し広げられるように揺動され、その可動コンタクト１２ａの回路接点部１２ａ３が上述した固定コンタクト１３ａの回路接点部１３ａ４から離間されることによって、電子回路が一時的に切断されるようになっている。

なお、上記検査用プラグコネクタ２０のプローブ（検査針）２０ａは、他方側の可動コンタクト１２ｂの弾性接触片部１２ｂ５に対しても圧接されることとなり、その他方側の可動コンタクト１２ｂの回路接点部１２ｂ３も、他方側の固定コンタクト１３ｂの回路接点部１３ｂ４から離間されることとなる。このとき、その検査用プラグコネクタ２０のプローブ２０ａは、上記両可動コンタクト１２ａ，１２ｂのうちの一方側のみに対して導通される。

すなわち、上記検査用プラグコネクタ２０のプローブ（検査針）２０ａは、略円形状をなす横断面形状における一方側の半円部分が導通部２０ｂに形成されているとともに、他方側の半円部分は非導通部２０ｃに形成されている。そして、当該検査用プラグコネクタ２０のプローブ２０ａに設けられた導通部２０ｂが、上述した可動コンタクト１２ａ，１２ｂの回路接点部１２ａ３，１２ｂ３のいずれか一方に接触されることによって電子回路との導通が行われるように構成されている。

上記導通部２０ｂは、前記プローブ（検査針）２０ａの略全長にわたって配置されているとともに、そのプローブ２０ａを構成している部位から検査用プラグコネクタ２０の内部を軸方向に貫通するように延出して図示を省略した検査用機器が接続されることで当該検査用機器がプローブ２０ａに対して導通状態になされる。また、上述した非導通部２０ｃは、可動コンタクト１２ａ，１２ｂの回路接点部１２ａ３，１２ｂ３のいずれか他方側に接触され、それによって他方側の電子回路の切断が行われて検査用機器がプローブ２０ａに対して非導通状態になされるようになっている。このような導通部２０ｂと非導通部２０ｃとの接触導通関係は、検査用プラグコネクタ２０のプローブ２０ａを約１８０°にわたって半回転させることによって切り替えられることとなる。

なお、この導通関係の切替えは、プローブ２０ａを長手方向に移動させることにより行うことも可能である。すなわち、プローブの長手方向中央部分に絶縁体を配置するとともに、その絶縁体を挟んだ長手方向の両側部分に個別の導体部を設けておき、それらの各導体部を、当該プローブの長手方向に沿った切替動作により個別の電子回路に選択的に接続させることによってそれぞれの検査を行うようにしても良い。

さらに、上記可動コンタクト１２ａの揺動ビーム１２ａ３は、上述した弾性接触片部１２ａ５と、基端部１２ａ１との間部分において、略山形状をなすように折り曲げ成形されており、それによって可動コンタクト１２ａのスパン長が増大させられている。このように可動コンタクト１２ａの揺動ビーム１２ａ３は、まず上述した基端部１２ａ１から固定コンタクト１３ａに向かう方向にコンタクト収納部１１ｃ内を延出するように構成されている。そして、その延出方向に沿って、上述した弾性接触片部１２ａ５及び回路接点部１２ａ４が順に配置された構成になされているが、本実施形態における揺動ビーム１２ａ３は、上記回路接点部１２ａ４からさらに延出する伸張延設部１２ａ７を有している。

その伸張延設部１２ａ７は、前記回路接点部１２ａ４から延出した直後の部位において平面略Ｕ形状をなすように折り返されており、上述した基端部１２ａ１側に向かって戻るように配置されている。より具体的には、その伸張延設部１２ａ７は、平面略Ｕ字状をなすように折り返された後に斜め外方に開く方向に略直線状に延出しており、当該伸張延設部１２ａ７の延出側の先端部分が、前記コンタクト収納部１１ｃの内壁面に当接されるように配置されている。

この可動コンタクト１２ａに設けられた伸張延設部１２ａ７は、前記コンタクト収納部１１ｃの内部において本来の自由な延在形状から上述したＵ字形状の幅方向にやや押し縮められた状態で装着されており、当該伸張延設部１２ａ７の延出側先端部分が上記コンタクト収納部１１ｃの内壁面に対して圧接されるようになっている。すなわち、本実施形態における可動コンタクト１２ａは、前記回路接点部１２ａ４を挟んだ両側において前記基端部１２ａ１と伸張延設部１２ａ７とによる２点支持構造になされている。そして、そのような２点支持状態において前記伸張延設部１２ａ７に発生する弾性的反発力によって、前記回路接点部１２ａ４が上述した固定コンタクト１３ａの回路接点部１３ａ４に対して押し付け付勢されることにより予圧がかけられる構成になされている。

このように一組のコンタクト対を構成している可動コンタクト１２ａと固定コンタクト１３ａとは、通常、各々の回路接点部１２ａ４，１３ａ４どうしが互いに接触して予圧がかけられた状態の配置関係になされており、それによってアンテナ回路等の電子回路が電気的に接続された状態におかれている。一方、スイッチ付きコネクタ１０のプローブ挿入口１１ｅ内に検査用プラグコネクタ２０のプローブ（検査針）２０ａが上方側から挿通された際には、スイッチ付きコネクタ１０の可動コンタクト１３ａを構成している揺動ビーム１２ａ３が外方側に向かって押し広げられるように変位され、それによって当該可動コンタクト１２ａの回路接点部１２ａ４が前記固定コンタクト１３ｂの回路接点部１３ａ４に接触した導通状態から離間された非導通状態に切り替えられるようになっている。

その結果、そのコンタクト対の可動コンタクト１２ａ及び固定コンタクト１３ａに接続されたアンテナ回路等の電子回路が分断状態に切り替えられるとともに、上記検査用プラグコネクタ２０のプローブ（検査針）２０ａが接触した可動コンタクト１２ａを通してプローブ２０ａがアンテナ回路等の電子回路に対して導通状態となり、その電子回路側の電気信号が、前記プローブ２０ａの導通部２０ｂを通して外部に取り出される。

またそのときに上記プローブ（検査針）２０ａの非導通部２０ｃは、他のコンタクト対の可動コンタクト１２ｂに圧接し、それによって、当該可動コンタクト１２ｂが固定コンタクト１３ｂ側から離間して非接触状態に切り替えられる。その結果、当該コンタクト対の可動コンタクト１２ｂに接続された電子回路が切断されるとともに、前記プローブ２０ａの導通部２０ｂに対しても上記可動コンタクト１２ｂは電気的に非接触状態におかれることとなり、その可動コンタクト１２ｂに接続された電子回路は、プローブ２０ａに対して電気的に遮断された非導通状態に維持される。

なお、可動コンタクト１２ａを検査して電気信号に取り出す際には、必ずしも可動コンタクト１２ｂは非導通部２０ｃに接触する必要はないが、上述したように接触状態としておけば、プローブ（検査針）２０ａが複数の可動コンタクト１２ａ,１２ｂからの接触圧を受ける状態において、スイッチ付きコネクタ１０と検査用プラグコネクタ２０とを嵌合した際のバランスが良いという利点がある。

このように本実施形態によれば、可動コンタクト１２ａ（１２ｂ）の揺動ビーム１２ａ３（１２ｂ３）に設けられた伸張延設部１２ａ７の先端部分が、絶縁ハウジング１１のコンタクト収納部１１ｃの内壁面に当接されたときの支持反作用によって、当該可動コンタクト１２ａ（１２ｂ）の回路接点部１２ａ４（１２ｂ４）が固定コンタクト１３ａ（１３ｂ）側に押し付けられ、その回路接点部１２ａ４（１２ｂ４）を挟んだ両側の２点支持により可動コンタクト１２ａ（１２ｂ）に予圧がかけられるようにしていることから、装置の低背化等に伴って可動コンタクト１２ａ（１２ｂ）の弾性力が低下した場合においても、固定コンタクト１３ａ（１３ｂ）に対する可動コンタクト１２ａ（１２ｂ）の接触圧が良好かつ安定的に得られる。またそれと同時に、その可動コンタクト１２ａ（１２ｂ）の両端部分が支持された状態になされていることによって、当該可動コンタクト１２ａ（１２ｂ）の変形が良好に防止されるようになっている。

また本実施形態では、前記可動コンタクト１２ａ（１２ｂ）の伸張延設部１２ａ７（１２ｂ７）における延出方向の先端部分が、前記絶縁ハウジング１１に対して摺動可能に圧接されていることから、可動コンタクト１２ａ（１２ｂ）の揺動が行われる際に、当該可動コンタクト１２ａ（１２ｂ）の先端部分が絶縁ハウジング１１の壁面に沿って移動することとなり、それによって可動コンタクト１２ａ（１２ｂ）が揺動作用が良好な状態に維持される。このとき、上述した伸張延設部１２ａ７（１２ｂ７）の先端部分を、絶縁ハウジング１１の内壁面から離間するように反った形状に曲げ加工しておけば、当該可動コンタクト１２ａ（１２ｂ）の摺動性はさらに向上される。

また本実施形態における可動コンタクト１２ａ（１２ｂ）の伸張延設部１２ａ７（１２ｂ７）は、基端部１２ａ１（１２ｂ２）に向かって略Ｕ字状をなすように折り返された形状を有していることから、可動コンタクト１２ａ（１２ｂ）全体の小型化が図られるとともに、略Ｕ字状の折り返し部分に発生する弾性的な反発作用によって固定コンタクト１３ａ（１３ｂ）に対する接触圧がさらに向上されるようになっている。

また本実施形態においては、可動コンタクト１２ａ（１２ｂ）の揺動ビーム１２ａ３（１２ｂ３）が延在している平面が、前記プローブ２０ａの挿抜方向に対して略直交する位置関係になされていることから、プローブ２０ａの挿抜方向である高さが低減化されるようになっている。

また本実施形態では、可動コンタクト１２ａ（１２ｂ）が、絶縁ハウジング１１の内壁面によりプローブ２０ａの挿抜方向に支持されていることから、プローブ２０ａの挿抜操作に伴って可動コンタクト１２ａ（１２ｂ）が同方向に変形されようとしても、その可動コンタクト１２ａ（１２ｂ）は、絶縁ハウジング１１の内壁面により支持されることとなり、それによって当該可動コンタクト１２ａ（１２ｂ）の変形が良好に防止されるようになっている。

また本実施形態においては、スイッチ付きコネクタ１０内に複数体（２体）にわたって配置された可動コンタクト１２ａ（１２ｂ）に対して検査用プラグコネクタ２０に設けられたプローブ２０ａの導通部２０ｂが選択的に圧接されることから、スイッチ付きコネクタ１０に設けられた複数体（２体）の可動コンタクト１２ａ（１２ｂ）に接続された複数組の電子回路に関する検査が一個の回路検査スイッチにより容易に実行されるようになっている。

以上、本発明者によってなされた発明を実施形態に基づき具体的に説明したが、本実施形態は上述した実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変形可能であるというのはいうまでもない。

例えば上述した実施形態においては、可動コンタクト１２ａ（１２ｂ）の伸張延設部１２ａ７（１２ｂ７）の延出側先端部分を絶縁ハウジング１１に当接させるようにしているが、回路接点部に関する２点支持構造が構成されるものであれば、可動コンタクトの少なくとも一部を絶縁ハウジングに当接させるようにしても良い。例えば、前述した伸張延設部１２ａ７（１２ｂ７）の途中部分を絶縁ハウジング１１に当接させ、それによって回路接点部１２ａ４（１２ｂ４）に関する２点支持構造を構成するようにしても良い。

また、上述した実施形態では、可動コンタクト１２ａ（１２ｂ）の伸張延設部１２ａ７を略Ｕ状に折り曲げ形成しているが、絶縁ハウジング１１の内壁面に当接するものであれば、直線状に延出させたり、その他の形状に成形することも可能である。

また上述した実施形態では、可動コンタクト１２ａ（１２ｂ）をプローブ挿脱方向と略直交する平面内に延在させるように配置しているが、プローブ挿脱方向の平面内に延在する可動コンタクトに対しても本発明は同様に適用することが可能である。

さらに上述した実施形態では、可動コンタクト１２ａ（１２ｂ）を二組にわたって配置しているが、一組あるいは三組以上の可動コンタクトを有するスイッチコネクタに対しても本発明は同様に適用することが可能である。

以上のように本発明は、各種電子・電気機器に使用される多種多様な回路検査スイッチに対して広く適用することが可能である。

１０ スイッチ付きコネクタ
１１ 絶縁ハウジング
１１ａ ベース枠体部
１１ｂ 挿入ガイド部
１１ｃ，１１ｄ コンタクト収納部
１１ｅ プローブ挿入口
１１ｆ 傾斜ガイド面
１１ｘ 中心軸
１２ａ，１２ｂ 可動コンタクト
１２ａ１，１２ｂ１ 基端部
１２ａ２，１２ｂ２ 半田接続部
１２ａ３（１２ｂ３） 揺動ビーム
１２ａ４（１２ｂ４） 回路接点部
１２ａ５（１２ｂ５） 弾性接触片部
１２ａ６（１２ｂ６） 傾斜案内面
１２ａ７（１２ｂ７） 伸張延設部
１３ａ，１３ｂ 固定コンタクト
１３ａ１，１３ｂ１ 基端部
１３ａ２，１３ｂ２ 半田接続部
１３ａ３（１３ｂ３） 固定ビーム
１３ａ４（１３ｂ４） 回路接点部
１４ 導電性シェル
１４ａ ホールドダウン
１４ｂ 固定係止溝
２０ 検査用プラグコネクタ
２０ａ プローブ（検査針）
２０ｂ 導通部
２０ｃ 非導通部

Claims (4)

1. 絶縁ハウジングに装着された固定コンタクトと、その固定コンタクトに対して回路接点部が接触・離間するように揺動可能に延出する揺動ビームを備えた可動コンタクトと、を備えているとともに、
   前記可動コンタクトの揺動ビームに対して検査用プラグコネクタのプローブに設けられた導通部が接触・離間するように前記プローブの挿抜が行われ、前記プローブの導通部が前記可動コンタクトに接触することで、前記可動コンタクトに接続された電子回路に対して前記プローブが導通状態になされるスイッチ付きコネクタにおいて、
   前記可動コンタクトの揺動ビームは、前記回路接点部から延出する伸張延設部を有し、当該伸張延設部の少なくとも一部が、前記絶縁ハウジングに当接されていることによって、前記回路接点部が前記固定コンタクト側に押し付けられるように構成されているとともに、
   前記可動コンタクトの伸張延設部における延出方向の先端部分が、前記絶縁ハウジングに対して摺動可能に圧接され、かつ前記可動コンタクトの揺動ビームが延在している平面が、前記プローブの挿抜方向に対して略直交する位置関係となるように配置されている一方、
   前記可動コンタクトが、前記絶縁ハウジングの内部に複数体にわたって配置され、それら複数体の可動コンタクトの各々に対して複数組の電子回路の各々が接続されたものであって、
   前記複数体の可動コンタクトのいずれかに対して、前記プローブの導通部が選択的に接触可能となるように配置され、前記プローブの導通部が接触された可動コンタクトに接続された電子回路が前記プローブと導通状態になされるとともに、他の可動コンタクトに接続された電子回路が前記プローブと非導通状態になされるように構成されていることを特徴とするスイッチ付きコネクタ。
2. 絶縁ハウジングに装着された固定コンタクトに対して回路接点部が接触・離間するように揺動可能に延出する可動コンタクトを備えたスイッチ付きコネクタと、そのスイッチ付きコネクタに対して挿抜される検査用プラグコネクタと、を有するものであって、
   前記スイッチ付きコネクタの可動コンタクトの揺動ビームに対して前記検査用プラグコネクタのプローブに設けられた導通部が接触・離間するように前記プローブの挿抜が行われ、前記プローブの導通部が前記可動コンタクトに接触することで、前記可動コンタクトに接続された電子回路に対して前記プローブが導通状態になされるように構成された回路検査スイッチにおいて、
   前記スイッチ付きコネクタの可動コンタクトを構成している揺動ビームは、前記回路接点部から延出する伸張延設部を有し、当該伸張延設部の少なくとも一部が、前記絶縁ハウジングに当接されていることによって、前記回路接点部が前記固定コンタクト側に押し付けられるように構成されているとともに、
   前記可動コンタクトの伸張延設部における延出方向の先端部分が、前記絶縁ハウジングに対して摺動可能に圧接され、かつ前記可動コンタクトの揺動ビームが延在している平面が、前記プローブの挿抜方向に対して略直交する位置関係となるように配置されている一方、
   前記可動コンタクトが、前記絶縁ハウジングの内部に複数体にわたって配置され、それら複数体の可動コンタクトの各々に対して複数組の電子回路の各々が接続されたものであって、
   前記複数体の可動コンタクトのいずれかに対して、前記プローブの導通部が選択的に接触可能となるように配置され、前記プローブの導通部が接触された可動コンタクトに接続された電子回路が前記プローブと導通状態になされるとともに、他の可動コンタクトに接続された電子回路が前記プローブと非導通状態になされるように構成されていることを特徴とする回路検査スイッチ。
3. 前記可動コンタクトの伸張延設部は、前記基端部に向かって略Ｕ字状をなすように折り返された形状を有していることを特徴とする請求項１記載のスイッチ付きコネクタ又は請求項２記載の回路検査スイッチ。
4. 前記可動コンタクトが、前記絶縁ハウジングの外部から内部に向かって前記プローブの挿抜方向と略直交する方向に装着されたものであって、
   前記絶縁ハウジング内に装着された前記可動コンタクトが、前記絶縁ハウジングの内壁面により前記プローブの挿入方向及び抜脱方向に支持されていることを特徴とする請求項１記載のスイッチ付きコネクタ又は請求項２記載の回路検査スイッチ。
   

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