JP2015005465A - リセプタクルコネクタ及びそれを用いた回路検査方法 - Google Patents

Abstract

【課題】簡易な構成で、回路検査を迅速に行うことができ、リセプタクルコネクタの信頼性を安価かつ大幅に高めることを可能とする。
【解決手段】プラグ嵌合部１０Ａと反対側に位置する部位に、回路検査手段３０の導電部材３１を挿入するプローブ挿入部１０Ｂを設け、プローブ挿入部１０Ｂを通して挿入された回路検査手段３０の導電部材３１に対してリセコンタクト１３が電気的に接続し、かつプラグコンタクト２０に対してリセコンタクト１３が電気的に分断される構成になされていることで、回路検査を行うためのスイッチ機能付きコネクタを別個に設ける必要がなくなるとともに、回路検査を行うにあたってプラグコネクタ２０を抜去する必要がなくなるように構成したものである。
【選択図】図１０

Description

本発明は、プラグコネクタを嵌合して電気的な接続を行うリセプタクルコネクタ及びそれを用いた回路検査方法に関する。

一般に、携帯電話等の電子機器又は電気機器において、互いに嵌合接続可能に構成された一対の電気コネクタを使用して細線同軸ケーブルやフレキシブル配線基板等の各種信号伝送媒体を印刷配線基板に電気的に接続したり、一対の配線基板同士（基板対基板）を電気的に接続することが広く行われている。そのような一対の電気コネクタとしては、例えば、下記の特許文献１に記載されているような信号伝送媒体や配線基板が連結されるプラグコネクタ（第１のコネクタ）と、配線基板上に実装されるリセプタクルコネクタ（第２のコネクタ）とを使用するものが一般的であり、配線基板上のリセプタクルコネクタにプラグコネクタが嵌合されることによって電気的な接続が行われるようになっている。

一方、配線基板上には、上述した信号伝送用としてのリセプタクルコネクタとは別個に回路検査スイッチ機能付のコネクタがしばしば実装されることがあり、そのような回路検査スイッチ機能付コネクタを用いて、例えば、高周波回路等を有する各種電子回路の状態や性能に関する検査が行われる。この回路検査スイッチ機能付コネクタは、機器本体の電子回路を分断可能とするように回路基板上に実装されるものであり、当該回路検査スイッチ機能付コネクタに設けられた検査用の挿入穴に、回路検査用コネクタの導電部材（プローブ）が挿入されることで、電子回路からの電気信号が外部に取り出されるようになっている。

そのときの回路検査用コネクタの導電部材（プローブ）は、例えば、回路検査スイッチ機能付コネクタに設けられた可動コンタクトの自由端部分に当接する構成になされており、その導電部材（プローブ）により押圧された可動コンタクトが揺動することで固定コンタクトから離間し、それによって本来の電子回路が分断されるとともに、可動コンタクトに回路検査用コネクタの導電部材（プローブ）が導通されることで電子回路からの電気信号が外部に取り出され、適宜の検査工程が実行されるようになっている。

このように、信号伝送用のリセプタクルコネクタには、回路検査スイッチ機能付コネクタが別個に並設されることが多いことから、実質的に使用するコネクタの数が増大することとなっており、その分、製造コスト及び設置スペースが拡大するという問題がある。また、リセプタクルコネクタそのものを利用して検査する場合には、プラグコネクタが嵌合していない状態でプローブを接触させて検査工程が行われる。しかしながら、このような検査工程では、検査用の電極部（プローブ）を挿入する工程を実行するにあたって、プラグコネクタを一旦抜去する工程が必要となるとともに、検査後には再びプラグコネクタを嵌合する工程が必要となり、生産性が低下するおそれがある。

特開２００３−１２３９１５号公報

そこで本発明は、簡易な構成で、回路検査を迅速に行うことができるようにしたリセプタクルコネクタ及びそれを用いた回路検査方法を提供することを目的とする。

上記目的を達成するため本発明にかかるリセプタクルコネクタでは、回路基板に実装されるコネクタであって、絶縁ハウジングに取り付けられたリセコンタクトと、前記絶縁ハウジングの少なくとも外表面の一部を覆う導電性シェルとを備えているとともに、前記導電性シェルに設けられたプラグ嵌合部にプラグコネクタが嵌合された際に、前記プラグコネクタに設けられたプラグコンタクトに前記リセコンタクトが接触することによって前記プラグコネクタとの電気的な接続が行われる構成になされたリセプタクルコネクタにおいて、前記プラグコネクタの嵌合方向において前記プラグ嵌合部と反対側に位置する部位に、回路検査手段の導電部材を挿入する検査手段挿入部が設けられ、前記リセコンタクトは、前記検査手段挿入部を通して挿入された前記回路検査手段の導電部材が電気的に接続され、かつ前記プラグコンタクトに対しては電気的に分断される構成が採用されている。

また、本発明にかかるリセプタクルコネクタを用いた回路検査方法では、上述したリセプタクルコネクタにプラグコネクタを嵌合させた状態で、前記回路検査手段の導電部材を前記検査手段挿入部に挿入することで回路側の信号を取り出す構成になされている。

このような構成を有するリセプタクルコネクタ及びそれを用いた回路検査方法によれば、信号伝送用のリセプタクルコネクタが、通常のプラグ嵌合部に加えて、検査手段挿入部を備えた回路検査用のスイッチ機能を有することから、リセプタクルコネクタからプラグコネクタを抜去することなくリセプタクルコネクタにプラグコネクタを嵌合させた状態のままで、回路検査手段の導電部材を検査手段挿入部から挿入して回路検査を実行することが可能となり、回路検査工程を行うためのスイッチ機能付きコネクタを別個に設ける必要がなくなるとともに、回路検査工程を実行するために検査用の電極部（プローブ）を挿入するにあたってはプラグコネクタに対する抜去の工程、及び再嵌合の工程が省略される。

このとき、本発明におけるリセコンタクトが、略不動状態に取り付けられた固定コンタクトと、その固定コンタクトに対して接触・離間するように弾性変位する可動コンタクトとからなるものであって、前記固定コンタクトは、前記プラグコネクタの嵌合時に前記プラグコンタクトに接触するプラグ接触部と、前記可動コンタクトの弾性変位部が押圧接触するコンタクト接点部とを有し、前記可動コンタクトの弾性変位部が、前記回路検査手段の導電部材の挿入によって前記固定コンタクトのコンタクト接点部から離間するように変位する構成になされていることが望ましい。

また、本発明におけるコンタクト接点部は、前記固定コンタクトの一部分に穿設された孔部の内周縁部に形成され、前記可動コンタクトの弾性変位部が、前記孔部の内周縁部に接触した状態から、前記回路検査手段の導電部材の挿入によって前記孔部の内周縁部から離間するように変位する構成になされていることが望ましい。

さらに、本発明における検査手段挿入部は、前記絶縁ハウジングに形成された貫通挿入孔を有し、前記可動コンタクトの弾性変位部が、前記固定コンタクトに接触している際には当該可動コンタクトが前記貫通挿入孔の開口部を閉塞する構成になされていることが望ましい。

このような構成を有するリセプタクルコネクタによれば、回路検査が行われていない状態、つまり回路検査手段の導電部材が挿入されていない状態においては、貫通挿入孔の開口部が可動コンタクトにより閉塞されているため、当該貫通挿入孔を通してゴミ等の塵埃が絶縁ハウジングの内部に侵入することが防止される。

さらに、本発明における前記絶縁ハウジングには、前記可動コンタクトの弾性変位を規制する変位規制面が設けられていることが望ましい。

このような構成からなるリセプタクルコネクタによれば、回路検査手段の導電部材の挿入によって可動コンタクトが弾性変位された際に、当該可動コンタクトが固定コンタクトに過大な接触状態とならないように変位量が規制されることとなり、可動コンタクトまたは固定コンタクトの変形や損傷が防止される。

さらにまた、本発明においては、回路基板にコネクタ取付け穴が貫通形成され、その回路基板のコネクタ取付け穴に前記絶縁ハウジングが挿入されたものであって、前記コネクタ取付け穴が前記回路基板の表面に有する開口部から、前記絶縁ハウジングの少なくとも一部及び前記プラグ嵌合部が露出するように取り付けられて設置されていることが望ましい。

以上述べたように本発明にかかるリセプタクルコネクタ及びそれを用いた回路検査方法は、プラグコネクタの嵌合方向においてプラグ嵌合部と反対側に位置する部位に回路検査手段の導電部材を挿入する検査手段挿入部を設け、当該リセプタクルコネクタに設けられたリセコンタクトが、検査手段挿入部を通して挿入された前記回路検査手段の導電部材に対して電気的に接続し、かつプラグコンタクトに対して電気的に分断される構成になされていることによって、信号伝送用のリセプタクルコネクタが、通常のプラグ嵌合部によるプラグコネクタ接続機能に加えて、検査手段挿入部による回路検査用のスイッチ機能を有することとなり、従来のように回路検査を行うためのスイッチ機能付きコネクタを別個に設ける必要がなくなるとともに、回路検査を行うにあたってはリセプタクルコネクタからプラグコネクタを抜去する必要がなく、リセプタクルコネクタにプラグコネクタを嵌合させたままの状態で回路検査手段の導電部材を検査手段挿入部から挿入して回路検査を実行することが可能となる。このように本発明は、別個の検査用スイッチ付きコネクタを不要とするとともに、回路検査工程を実行するために検査用の電極部（プローブ）を挿入するにあたって、プラグコネクタに対する抜去及び再嵌合の工程が省略される構成としたものであるから、簡易な構成で、回路検査を迅速に行うことができ、リセプタクルコネクタの信頼性を安価かつ大幅に高めることができる。

本発明の一実施形態にかかるリセプタクルコネクタの全体構造を表した上方側からの外観斜視説明図である。 図１に示された本発明の実施形態にかかるリセプタクルコネクタの全体構造を表した下方側からの外観斜視説明図である。 図１及び図２に示された本発明の実施形態にかかるリセプタクルコネクタが印刷配線基板に実装された状態を表した平面説明図である。 図３中のＡ−Ａ線に沿った横断面説明図である。 図１〜図４に表された本発明の実施形態にかかるリセプタクルコネクタに用いられているリセ側コンタクトを拡大して示した外観斜視説明図である。 本発明の実施形態にかかるリセプタクルコネクタにプラグコネクタが嵌合される前の状態を上方側から表した外観斜視説明図である。 本発明の実施形態にかかるリセプタクルコネクタに挿入される回路検査用コネクタの挿入側端部を拡大して表した外観斜視説明図である。 本発明の実施形態にかかるリセプタクルコネクタにプラグコネクタが嵌合された後の状態を表した平面説明図である。 図８中のＢ−Ｂ線に沿った横断面説明図である。 本発明の実施形態にかかるリセプタクルコネクタにプラグコネクタが嵌合された状態で回路検査用コネクタを下方側から挿入した状態を表した図９相当の横断面説明図である。 本発明にかかるリセ側コンタクトの他の実施形態を拡大して示した外観斜視説明図である。

以下、本発明にかかる同軸型リセプタクルコネクタの一実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。

［リセプタクルコネクタの全体構造について］
図１〜図１０に示された本発明の一実施形態にかかる同軸型リセプタクルコネクタ（以下、単にリセプタクルコネクタと呼ぶ。）１０は、携帯電話等の電子機器内に配置された印刷配線基板Ｐに実装されるものであるが、その印刷配線基板Ｐに対するリセプタクルコネクタ１０の実装にあたっては、印刷配線基板Ｐに設けられたコネクタ取付け穴Ｐ１の内部にリセプタクルコネクタ１０が挿入された状態で実装されるようになっている。

このようにコネクタ取付け穴Ｐ１内に配置された本発明にかかるリセプタクルコネクタ１０に対して、相手コネクタとしての信号伝送用の同軸型プラグコネクタ（以下、単にプラグコネクタと呼ぶ。）２０が、例えば作業者の手で把持されながら上方側に同軸上に配置され（図６参照）、当該プラグコネクタ２０が、本発明にかかるリセプタクルコネクタ１０の上部に設けられたプラグ嵌合部１０Ａに接触された後に適宜の力で下方に押し込まれることによって両コネクタ１０，２０同士が嵌合状態になされる。また、そのような両コネクタ１０，２０同士の嵌合状態から、プラグコネクタ２０が図示上方側に適宜の力で引き上げられることによって、本発明にかかるリセプタクルコネクタ１０のプラグ嵌合部１０Ａからプラグコネクタ２０が上方側に離脱するようにして抜去が行われる。

一方、本発明にかかるリセプタクルコネクタ１０は、上述したプラグコネクタ２０の嵌合されるプラグ嵌合部１０Ａとは反対側の下方部分に、検査手段挿入部としてのプローブ挿入部１０Ｂが設けられており、そのプローブ挿入部（検査手段挿入部）１０Ｂに対して、回路検査手段としての回路検査用コネクタ３０が嵌合又は抜去される構成になされている。すなわち、本発明にかかるリセプタクルコネクタ１０の下方側部分に同軸上に配置された回路検査用コネクタ（回路検査手段）３０が、例えば作業者の手で把持されながら、リセプタクルコネクタ１０の下方部分に設けられたプローブ挿入部１０Ｂに対面するように接触され、その後に適宜の力で上方に押し込まれることによって、両コネクタ１０，３０同士が嵌合状態になされる。また、そのような両コネクタ１０，３０同士の嵌合状態から、回路検査用コネクタ３０が図示下方側に適宜の力で引き下げられることによって、本発明にかかるリセプタクルコネクタ１０のプローブ挿入部１０Ｂから、回路検査用コネクタ３０が下方側に離脱するようにして抜去が行われるようになっている。

なお、上述したようなリセプタクルコネクタ１０に対するプラグコネクタ２０及び回路検査用コネクタ３０の挿抜操作は、作業者の手で行われることに限られることはなく、所定の治具や機械によって自動的に行うようにしても良い。

ここで、以下においては、説明の便宜上、プラグコネクタ２０の挿入方向及び回路検査用コネクタ３０の抜去方向を「下方向」とし、プラグコネクタ２０の抜去方向及び回路検査用コネクタ３０の挿入方向を「上方向」として説明する。なお、実際の作業にあたって、上下を反対にして使用及び操作を行うことができることは当然である。

［絶縁ハウジングの構成について］
本発明の一実施形態にかかるリセプタクルコネクタ１０は、図４に示される様に枠体としての絶縁ハウジング１１を有しているとともに、その絶縁ハウジング１１の外表面の一部が導電性シェル１２により覆われている。このうちの絶縁ハウジング１１は、プラスチック等の樹脂材を用いて例えばモールド成形により製造されたものであって、印刷配線基板Ｐのコネクタ設置位置に平面略矩形状をなすように貫通形成されたコネクタ取付け穴Ｐ１の内部に挿入されるようにして設置される。この絶縁ハウジング１１も、上述したプラグ嵌合部１０Ａ及びプローブ挿入部（検査手段挿入部）１０Ｂに対応して機能的に異なる構成部分を有しており、略円筒形状をなすように形成されたハウジング本体部が、プラグ嵌合部１０Ａを構成している上方側部分から、下方側のプローブ挿入部１０Ｂを構成している部分まで上下方向に一体的に延在している。

このような絶縁ハウジング１１においてプラグ嵌合部１０Ａを構成しているハウジング本体部の上方側部分には、当該絶縁ハウジング１１の中心部分に沿って略円柱状の空間からなるコンタクト挿入孔１１ａ（図４参照）が、上端開口部から軸方向下方に向かって延在するように穿設されている。このとき、ハウジング本体部の上方側部分は、印刷配線基板Ｐのコネクタ取付け穴Ｐ１の内部に配置された部分から一部が上方に突出するようにして実装されるが、そのハウジング本体部の上方突出部分には、後述するプラグコネクタ２０が嵌合され、そのプラグコネクタ２０に設けられたプラグ側コンタクト２２が、上述したコンタクト挿入孔１１ａの内部に上方側から挿入される構成になされている。

また、絶縁ハウジング１１においてプローブ挿入部（検査手段挿入部）１０Ｂを構成しているハウジング本体部の下方側部分には、絶縁ハウジング１１の中心部分に沿って略円柱状の空間からなるプローブ挿入孔１１ｂ（図４参照）が、下端開口部から軸方向上方に向かって延在するように穿設されている。このプローブ挿入孔１１ｂは、上述したコンタクト挿入孔１１ａと同軸状をなすように連設されており、両挿入孔１１ａ，１１ｂによって絶縁ハウジング１１の中心部分が貫通形状になされている。

このような絶縁ハウジング１１におけるハウジング本体部の下方側部分は、実装時において印刷配線基板Ｐのコネクタ取付け穴Ｐ１から下方に突出するように配置されるが、当該ハウジング本体部の下方突出部分には、後述する回路検査用コネクタ３０が下方側から接触するように配置され、その回路検査用コネクタ３０に設けられたプローブ（導電部材）３１が、上述したプローブ挿入孔１１ｂの内部に挿入される構成になされている。

ここで、上述したプローブ挿入孔１１ｂにおける下方側への開口部分は、下方に向かって拡径する、すり鉢形状の挿入ガイド面になされており、回路検査用コネクタ３０のプローブ（導電部材）３１がプローブ挿入孔１１ｂに対して正確な同軸上に配置されない場合であっても、挿入ガイド面の表面に沿ってプローブ（導電部材）３１がプローブ挿入孔１１ｂ内に案内されるようになっている。

［導電性シェルの構成について］
一方、導電性シェル１２は、図１、および図２に示される様に上述した絶縁ハウジング１１のハウジング本体部を外方側から覆うシェル本体部１２ａを有している。そのシェル本体部１２ａは、前述したプラグ嵌合部１０Ａからプローブ挿入部（検査手段挿入部）１０Ｂまで一連に延在する略円筒形状になされており、当該シェル本体部１２ａにおける上端部分の外周表面に、プラグコネクタ２０が嵌合される上部嵌合溝１２ｂが環状凹溝をなすように形成されている。また、シェル本体部１２ａの下端部分に、回路検査用コネクタ３０の端部が接触する下部嵌合溝１２ｃが環状凹溝をなすように形成されている。なお、本実施形態における回路検査用コネクタ３０の端部は下部嵌合溝１２ｃに嵌合することはないが、種々の回路検査用コネクタ３０に応じて、その端部が嵌合可能な構成になされている。

さらに、導電性シェル１２には、上述したシェル本体部１２ａから外方に張り出すようにして一対の基板接続部１２ｄ，１２ｄが連設されている。これらの基板接続部１２ｄ，１２ｄは、上述した上部嵌合溝１２ｂからやや下方寄りの近傍部分において径方向に略対称な位置関係となるように配置されており、円環状をなすシェル本体部１２ａの接線方向に延在する板状部材から形成されている。そして、リセプタクルコネクタ１０の実装時においては、基板接続部１２ｄ，１２ｄが印刷配線基板Ｐの表面上に形成されたシールド用導電路に載置されて半田接合される。

［リセ側コンタクトの構成について］
また、図４、および図５に示される様に絶縁ハウジング１１におけるハウジング本体部の内部には、リセ側コンタクト１３が取り付けられている。そのリセ側コンタクト１３は、略不動状態に取り付けられた固定コンタクト部１３ａを備えているとともに、その固定コンタクト部１３ａに対して接触・離間する弾性変位可能な可動コンタクト１３ｂを備えている。

そのうちの固定コンタクト部１３ａは、上方側部分にプラグ嵌合部１０Ａを構成するプラグ接触部１３ａ１を備えているとともに、そのプラグ接触部１３ａ１の下方側部分に切替え接点部１３ａ２が設けられている。

プラグ接触部１３ａ１は、前述したようにプラグコネクタ２０の嵌合が行われた際に、当該プラグコネクタ２０に設けられたプラグ側コンタクト２２が接触する平面略円環状のバネ部材から形成されている。そのプラグ接触部１３ａ１を構成するバネ部材は、円環形状の一部を不連続となるように破断した形状になされており、バネ基部１３ａ３を中心として円周方向の両側に平面略円弧状に延出していることで径方向に弾性変位可能な構造になされている。そして、そのプラグ接触部１３ａ１の内方側領域に、後述するピン形状のプラグ側コンタクト２２が上方側から圧入状態で差し込まれることによって、当該プラグ側コンタクト２２外周面に対してプラグ接触部１３ａ１が、径方向の外方側から弾性的に圧接される構成になされている。

また、上述したプラグ接触部１３ａ１のバネ基部１３ａ３の下方側部分には、板状をなす取付け固定板１３ａ４が一体的に連接されており、その取付け固定板１３ａ４に切替え接点部１３ａ２が形成されている。この切替え接点部１３ａ２は、取付け固定板１３ａ４に略矩形状をなすように貫通形成された穴部１３ａ５の内周縁部の下端側縁部に形成されており、当該切替え接点部１３ａ２に対して、後述する可動コンタクト１３ｂの先端部分に設けられた可動側コンタクト接点部１３ｂ１が当接・離間されるようになっている。

すなわち、可動コンタクト１３ｂは、絶縁ハウジング１１に固定された取付け固定板１３ｂ２と、その取付け固定板１３ｂ２から、前述したコンタクト挿入孔１１ａを略水平方向（径方向）に横断するようにして片持ち状に延出する弾性板バネ状部１３ｂ３とを有しており、弾性板バネ状部１３ｂ３の自由端部分に、可動側コンタクト接点部１３ｂ１が形成されている。その可動側コンタクト接点部１３ｂ１は、弾性板バネ状部１３ｂ３の可撓性によって上下方向に変位可能になされているが、通常は、弾性板バネ状部１３ｂ３の弾性付勢力によって、上述した固定コンタクト１３ａの切替え接点部１３ａ２に対して上方側から弾性的に圧接した状態に維持されている。

一方、後述するように回路検査手段としての回路検査用コネクタ３０のプローブ（導電部材）３１が、プローブ挿入部（検査手段挿入部）１０Ｂから上方に向かって挿入されることで、可動コンタクト１３ｂの弾性板バネ状部１３ｂ３が押し上げられるようにして上方変位すると、それに伴って可動側コンタクト接点部１３ｂ１が、固定コンタクト１３ａの切替え接点部１３ａ２から上方側に向かって離間するように変位する構成になされている。

ここで、本実施形態における絶縁ハウジング１１には、可動コンタクト１３ｂの弾性変位を規制する変位規制面１１ｃが設けられている。この変位規制面１１ｃは、可動側コンタクト接点部１３ｂ１の上方位置に略水平に延在するように形成されており、可動コンタクト１３ｂの弾性板バネ状部１３ｂ３が必要な量だけ上方変位した際に、当該可動コンタクト１３ｂの可動側コンタクト接点部１３ｂ１が、変位規制面１１ｃに当接することによって、それ以上の押し上げが許容されなくなる構成になされている。

また、上述した可動コンタクト１３ｂの取付け固定板１３ｂ２には、弾性板バネ状部１３ｂ３と反対側の端縁部から上方に向かって略直角に折れ曲がるようにして延出する端子接続部１３ｂ４が一体的に連設されている。この端子接続部１３ｂ４は、印刷配線基板Ｐのコネクタ取付け穴Ｐ１の内壁面に沿って上方に延出した後、コネクタ取付け穴Ｐ１の開口部から上方に突出して再び略直角に折れ曲がり、印刷配線基板Ｐの上表面に対して上方側から重合するように延出している。そして、その端子接続部１３ｂ４が印刷配線基板Ｐの表面と重合する部位には信号伝送用の導電路が形成されており、その信号伝送用導電路に端子接続部１３ｂ４が半田接合されるようになっている。

［相手コネクタ（プラグコネクタ）の全体構成について］
前述したような構成を有する本発明の一実施形態にかかるリセプタクルコネクタ１０のプラグ嵌合部１０Ａに上方側から嵌合されるプラグコネクタ２０の構成を以下において説明する。

相手コネクタであるプラグコネクタ２０は、ケーブル状信号伝送媒体としての細線同軸ケーブルＳＣの端末部分が連結される構成になされており、前述したリセプタクルコネクタ１０に対して上方から差し込むようにして嵌合又は抜去される構成になされている。そのリセプタクルコネクタ１０に対するプラグコネクタ２０の嵌合・抜去作業は、印刷配線基板Ｐの表面に対して略直交する方向に行われる。

より具体的には、プラグコネクタ２０のコネクタ本体部は、略円筒形状をなすように形成されており、その略円筒形状をなすプラグコネクタ２０のコネクタ本体部に対して、径方向の外方側から細線同軸ケーブルＳＣの端末部が連結され、その細線同軸ケーブルＳＣが連結された状態で、リセプタクルコネクタ１０の上方位置に対面するようにプラグコネクタ２０が配置される（図６参照）。次いで、当該プラグコネクタ２０の全体が、印刷配線基板Ｐの表面に対して略直交する方向に下降されていき、それによってプラグコネクタ２０の下端部分が、リセプタクルコネクタ１０の上端部分に対して嵌合状態になされる（図８及び図９参照）。このようにプラグコネクタ２０が上方から差し込まれた嵌合状態においては、細線同軸ケーブルＳＣの端末部が、プラグコネクタ２０及びリセプタクルコネクタ１０から印刷配線基板Ｐ上の配線パターン導電路を介して信号処理集積回路（ＩＣ／ＬＳＩチップ）４０（図６参照）に接続されることとなる。

［同軸ケーブルについて］
ケーブル状信号伝送媒体としての細線同軸ケーブルＳＣの端末部分は、図９に示される様に外周被覆材が皮剥きされることによって、ケーブル内部導体（信号線）ＳＣ１及びケーブル外部導体（シールド線）ＳＣ２が同軸状をなすように露出されており、当該細線同軸ケーブルＳＣの中心軸に沿うようにして配置されたケーブル内部導体ＳＣ１が、絶縁ハウジング２１に取り付けられたプラグ側コンタクト２２に接続されることによって信号回路が構成される。また、そのケーブル内部導体ＳＣ１の外周側を取り囲むように配置されたケーブル外部導体ＳＣ２は、絶縁ハウジング２１の外表面を覆うように装着された導電性シェル２３に接続され、当該導電性シェル２３がグランドコンタクトとして機能することによってグランド回路が構成されるようになっている。

［絶縁ハウジングについて］
ここで、上述した絶縁ハウジング２１は、コネクタ本体部を構成するように略円板形状に形成された絶縁本体部を有しており、その絶縁本体部の下方側突出部分が、リセプタクルコネクタ１０の内方側に挿入される絶縁挿入部になされている。その絶縁本体部の略中央部分には、上述した細線同軸ケーブルＳＣの端末部分が載置されるようにしてセットされるが、当該細線同軸ケーブルＳＣのケーブル内部導体ＳＣ１を受けるプラグ側コンタクト２２が絶縁ハウジング２１の内部側に取り付けられているとともに、そのプラグ側コンタクト２２の周囲を取り囲むようにして、グランドコンタクトとしての導電性シェル２３が絶縁ハウジング２１の外部側に取り付けられている。

［導電性シェルについて］
上述したように絶縁ハウジング２１の外側表面は、薄板金属状部材からなる導電性シェル２３によって覆われている。この導電性シェル２３は、絶縁ハウジング２１の絶縁本体部を径方向外方側から環状に覆うシェル本体部２３ａと、絶縁本体部の上面側を覆う蓋状部材としてのシェル蓋部２３ｂとを有しており、シェル本体部２３ａの下端部分には、絶縁ハウジング２１の絶縁挿入部を径方向外方側から環状に覆うシェル挿入部が設けられている。

このとき、図示は省略するが、細線同軸ケーブルＳＣの端末部分を接続して固定する前の初期状態においては、上述した導電性シェル２３のシェル蓋部２３ｂはシェル本体部２３ａに対して連結部を介して略垂直方向に起き上がった上方開放状態になされていて、細線同軸ケーブルＳＣの端末部分が載置されてセットされた後、略直角下方に折り曲げられるようにして導電性シェル２３のシェル蓋部２３ｂが略水平状態まで押し倒される。これによって、絶縁ハウジング２１の絶縁本体部の全体が、シェル蓋部２３ｂにより上方側から覆われ、導電性シェル２３が閉塞状態になされる。

このときのシェル蓋部２３ｂは、上述したように略水平状態まで押し倒された際に、シェル本体部２３ａの上方側部分および外周側部分を覆うように被せられる構造になされているが、その略水平状態まで押し倒されたシェル蓋部２３ｂにおける連結部と反対側となる正面側部分には、細線同軸ケーブルＳＣの上方を覆うように突出カバー部２３ｃが設けられている。この突出カバー部２３ｃは、細線同軸ケーブルＳＣを覆うように配置されてカシメ固定され、それによってシェル本体部２３ａに対するシェル蓋部２３ｂの固定が、ケーブル外部導体ＳＣ２に接触した状態で行われ、導電性シェル２３によるグランド回路が構成されるようになっている。

一方、前述したように導電性シェル２３におけるシェル本体部２３ａの下方側部分を構成しているシェル挿入部は、リセプタクルコネクタ１０の径方向外方側部分に外嵌される構成になされており、リセプタクルコネクタ１０の径方向内方側に挿入される絶縁ハウジング２１の絶縁挿入部とともにコネクタ連結部分を構成している。より具体的には、このシェル挿入部は、略円筒形状を有するように形成されており、当該シェル挿入部の挿入側の下端部分に、径方向内方側に向かって突出する環状凹溝からなる円環状係止部２３ｃが形成されている。そして、当該円環状係止部２３ｃが、リセプタクルコネクタ１０に設けられた上部嵌合溝１２ｂに対して弾性的な嵌合関係になされるようになっている。

［プラグ側コンタクトについて］
また、本実施形態において採用されているプラグ側コンタクト２２は、前述した絶縁ハウジング２１の絶縁本体部に圧入又はインサート成形等により取り付けられているが、細線同軸ケーブルＳＣのケーブル内部導体ＳＣ１に接続されるケーブル挟持部２２ａを有している。このケーブル挟持部２２ａは、クリップビーム構造を有しており、細線同軸ケーブルＳＣのケーブル内部導体（信号線）をクリップ状に挟む構造になされている。より具体的には、細線同軸ケーブルＳＣの端末部分がセットされた後に、導電性シェル２３のシェル蓋部２３ｂが略水平状態まで押し倒されることによって、細線同軸ケーブルＳＣのケーブル内部導体ＳＣ１を挟持する構成になされている。

さらに、そのケーブル挟持部２２ａからは、ピン形状をなすように形成された信号接触部２２ｂが下方側に向かって突出するように設けられている。この信号接触部２２ｂは、リセプタクルコネクタ１０に設けられたプラグ接触部１３ａ１の内方側に圧接状態で挿入されて弾性的に接触する構成になされている。

［回路検査用コネクタの全体構成について］
一方、前述した回路検査用コネクタ３０は、図６、および図７に示される様にリセプタクルコネクタ１０の下部に設けられたプローブ挿入部（検査手段挿入部）１０Ｂに嵌合されるように構成されたものであって、略円筒形状をなすように形成された絶縁ハウジング３２の中心部分に沿って延在するように設けられたプローブ（導電部材）３１が、前述したリセプタクルコネクタ１０のプローブ挿入孔１１ｂ内に挿入される構成になされている。そのプローブ３１は、図示を省略した測定機器にケーブルを介して接続されている。また、絶縁ハウジング３２の外周側には、中空円筒状をなす導電性カバー３３が装着されており、その導電性カバー３３の先端部分には、すり鉢状の傾斜面部３３ａが形成されており、該傾斜面部３３ａが、リセプタクルコネクタ１０の導電性シェル１０に設けられた下部嵌合溝１２ｃのさらに下端付近に接触することとなる。なお、導電性カバー３３の先端部分を傾斜面部３３ａの内側に張出す様に段差を設けて、下部嵌合溝１２ｃと接触して嵌合状態になされるようにしてもよい。

この回路検査用コネクタ３０のプローブ（導電部材）３１は、前述したリセプタクルコネクタ１０の可動コンタクト１３ｂの一部である弾性板バネ状部１３ｂ３に対して下方側から接触可能に挿入される配置関係になされている。そして、リセプタクルコネクタ１０のプローブ挿入部（検査手段挿入部）１０Ｂに回路検査用コネクタ３０が嵌合されることによって当該回路検査用コネクタ３０のプローブ（導電部材）３１が、プローブ挿入部１０Ｂから上方に向かって挿入されてくると、回路検査用コネクタ３０のプローブ（導電部材）３１の上端部が、可動コンタクト１３ｂの弾性板バネ状部１３ｂ３に当接して、当該弾性板バネ状部１３ｂ３が上方に押し上げられて、可動コンタクト１３ｂの弾性板バネ状部１３ｂ３が上方に変位し、それに伴って可動側コンタクト接点部１３ｂ１が、切替え接点部１３ａ２から上方側に向かって離間する構成になされている。そのように可動側コンタクト接点部１３ｂ１が切替え接点部１３ａ２から離間すると、本来の電子回路が分断されるとともに、可動コンタクト１３ｂに回路検査用コネクタ３０の導電部材（プローブ）３１が導通されることとなり、当該回路検査用コネクタ３０を介して電子回路からの電気信号が外部に取り出され、適宜の検査工程が実行されるようになっている。また、導電性カバー３３の先端部分が導電性シェル１０に設けられた下部嵌合溝１２ｃに接触することにより、グランド回路の検査工程も実行されることとなる。

このような実施形態にかかるリセプタクルコネクタ１０は、通常のコネクタが有するプラグ嵌合部１０Ａに加えてプローブ挿入部（検査手段挿入部）１０Ｂを備えており、そのプローブ挿入部１０Ｂによる回路検査用のスイッチ機能を有していることから、例えば図１０に示されているように、リセプタクルコネクタ１０からプラグコネクタ２０を抜去することなく、リセプタクルコネクタ１０にプラグコネクタ２０を嵌合させた状態のままで、回路検査手段としての回路検査用コネクタ３０のプローブ（導電部材）３１をプローブ挿入部１０Ｂから挿入して回路検査を実行することが可能となっている。従って、従来のように回路検査工程を行うためのスイッチ機能付きコネクタを別個に設ける必要がなくなるとともに、回路検査工程を実行するためにプローブ（導電部材）３１を挿入するにあたって、プラグコネクタ１０に対するプラグコネクタ２０の抜去工程、及び再嵌合の工程が省略される。

このとき、本実施形態においては、可動コンタクト１３ｂの弾性変位を規制する変位規制面１１ｃが絶縁ハウジング１１に設けられていることから、回路検査手段としての回路検査用コネクタ３０のプローブ（導電部材）３１の挿入によって可動コンタクト１３ｂが弾性変位された際に、当該可動コンタクト１３ｂが固定コンタクト１３ａに過大な接触状態とならないように変位量が規制されることとなり、可動コンタクト１３ｂ及び固定コンタクト１３ａの変形や損傷が防止される。

一方、上述した実施形態と同一の構成部材に対して同一の符号を付した図１１にかかる他の実施形態においては、リセ側コンタクト１３の切替え接点部１３ａ２’が、取付け固定板１３ａ４の下端折曲げ部１３ａ６に形成されている。すなわち、本実施形態にかかる取付け固定板１３ａ４は、穴部を有しない板状部材から形成されており、当該取付け固定板１３ａ４の下端部分には、略直角に折り曲げ形成された下端折曲げ部１３ａ６が一体的に連接されており、その下端折曲げ部１３ａ６に切替え接点部１３ａ２’が形成されている。この切替え接点部１３ａ２’には、可動コンタクト１３ｂの揺動側先端部分に設けられた可動側コンタクト接点部１３ｂ１が、上方側から当接し又は離間される構成になされている。

以上、本発明者によってなされた発明を実施形態に基づき具体的に説明したが、本実施形態は上述した実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変形可能であるというのはいうまでもない。

例えば、リセ側コンタクト１３の切替え接点部１３ａ２に対して可動側コンタクト接点部１３ｂ１が当接している際に、可動コンタクト１３ｂの弾性板バネ状部１３ｂ３がプローブ挿入孔１１ｂの上端開口部を閉塞する構成とすることができる。このような構成を採用すれば、回路検査が行われていない状態、つまり回路検査用コネクタ３０のプローブ（導電部材）３１が挿入されていない状態においては、プローブ挿入孔１１ｂが可動コンタクト１３ｂにより閉塞されていることとなり、プローブ挿入孔１１ｂを通してゴミ等の塵埃が絶縁ハウジング１１の内部に侵入することが防止される。

さらに、本発明は、上述した実施形態のような回路検査スイッチ以外の用途に用いられるスイッチ付コネクタとすることも可能である。

以上のように本発明は、各種電子・電気機器に使用される多種多様なスイッチ付同軸コネクタに対して広く適用することが可能である。

１０ 同軸型リセプタクルコネクタ
１０Ａ プラグ嵌合部
１０Ｂ プローブ挿入部（検査手段挿入部）
Ｐ 印刷配線基板
Ｐ１ コネクタ取付け穴
１１ 絶縁ハウジング
１１ａ コンタクト挿入孔
１１ｂ プローブ挿入孔
１１ｃ 変位規制面
１２ 導電性シェル
１２ａ シェル本体部
１２ｂ 上部嵌合溝
１２ｃ 下部嵌合溝
１２ｄ 基板接続部
１３ リセ側コンタクト
１３ａ 固定コンタクト部
１３ａ１ プラグ接触部
１３ａ２，１３ａ２’ 切替え接点部
１３ａ３ バネ基部
１３ａ４ 取付け固定板
１３ａ５ 穴部
１３ａ６ 下端折り曲げ部
１３ｂ 可動コンタクト
１３ｂ１ 可動側コンタクト接点部
１３ｂ２ 取付け固定板
１３ｂ３ 弾性板バネ状部
１３ｂ４ 端子接続部
２０ 信号伝送用同軸型プラグコネクタ
２１ 絶縁ハウジング
２２ プラグ側コンタクト
２２ａ ケーブル挟持部
２２ｂ 信号接触部
２３ 導電性シェル
２３ａ シェル本体部
２３ｂ シェル蓋部
２３ｃ 円環状係止部
ＳＣ 細線同軸ケーブル
ＳＣ１ ケーブル内部導体（信号線）
ＳＣ２ ケーブル外部導体（シールド線）
３０ 回路検査用コネクタ（回路検査手段）
３１ プローブ（導電部材）
３２ 絶縁ハウジング
３３ 導電性カバー
３３ａ 傾斜面部
４０ 信号処理集積回路（ＩＣ／ＬＳＩチップ）

Claims (7)

1. 回路基板に実装されるコネクタであって、
   絶縁ハウジングに取り付けられたリセコンタクトと、前記絶縁ハウジングの少なくとも外表面の一部を覆う導電性シェルと、を備え、
   前記導電性シェルに設けられたプラグ嵌合部にプラグコネクタが嵌合された際に、前記リセコンタクトが、前記プラグコネクタに設けられたプラグコンタクトに接触することによって、前記プラグコネクタとの電気的な接続が行われる構成になされたリセプタクルコネクタにおいて、
   前記プラグコネクタの嵌合方向において前記プラグ嵌合部と反対側に位置する部位に、回路検査手段の導電部材を挿入する検査手段挿入部が設けられ、
   前記リセコンタクトは、前記検査手段挿入部を通して挿入された前記回路検査手段の導電部材が電気的に接続され、かつ前記プラグコンタクトに対しては電気的に分断される構成になされていることを特徴とするリセプタクルコネクタ。
2. 前記リセコンタクトが、略不動状態に取り付けられた固定コンタクトと、その固定コンタクトに対して接触・離間するように弾性変位する可動コンタクトと、からなるものであって、
   前記固定コンタクトは、前記プラグコネクタの嵌合時に前記プラグコンタクトに接触するプラグ接触部と、前記可動コンタクトの弾性変位部が押圧接触するコンタクト接点部と、を有し、
   前記可動コンタクトの弾性変位部が、前記回路検査手段の導電部材の挿入によって前記固定コンタクトのコンタクト接点部から離間するように変位する構成になされていることを特徴とする請求項１記載のリセプタクルコネクタ。
3. 前記コンタクト接点部は、前記固定コンタクトの一部分に穿設された孔部の内周縁部に形成され、
   前記可動コンタクトの弾性変位部が、前記孔部の内周縁部に接触した状態から、前記回路検査手段の導電部材の挿入によって前記孔部の内周縁部から離間するように変位する構成になされていることを特徴とする請求項２記載のリセプタクルコネクタ。
4. 前記検査手段挿入部は、前記絶縁ハウジングに形成された貫通挿入孔を有し、
   前記可動コンタクトの弾性変位部が、前記固定コンタクトに接触している際には当該可動コンタクトが前記貫通挿入孔の開口部を閉塞する構成になされていることを特徴とする請求項２記載のリセプタクルコネクタ。
5. 前記絶縁ハウジングには、前記可動コンタクトの弾性変位を規制する変位規制面が設けられていることを特徴とする請求項２記載のリセプタクルコネクタ。
6. 前記回路基板にコネクタ取付け穴が貫通形成され、その回路基板のコネクタ取付け穴に前記絶縁ハウジングが挿入されたものであって、
   前記コネクタ取付け穴が前記回路基板の表面に有する開口部から、前記絶縁ハウジングの少なくとも一部及び前記プラグ嵌合部が露出するように取り付けられて設置されていることを特徴とする請求項１記載のリセプタクルコネクタ。
7. 請求項１乃至請求項６のいずれかに記載のリセプタクルコネクタに、前記プラグコネクタを嵌合させた状態で、前記回路検査手段の導電部材を前記検査手段挿入部に挿入することで回路側の信号を取り出すことを特徴とするリセプタクルコネクタを用いた回路検査方法。
   

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