KR20160141848A - 무선주파수 테스트 소켓 및 무선주파수 테스트 케이블 - Google Patents

무선주파수 테스트 소켓 및 무선주파수 테스트 케이블 Download PDF

Info

Publication number
KR20160141848A
KR20160141848A KR1020167031310A KR20167031310A KR20160141848A KR 20160141848 A KR20160141848 A KR 20160141848A KR 1020167031310 A KR1020167031310 A KR 1020167031310A KR 20167031310 A KR20167031310 A KR 20167031310A KR 20160141848 A KR20160141848 A KR 20160141848A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
test
cable
resilient
socket
elastic
Prior art date
Application number
KR1020167031310A
Other languages
English (en)
Other versions
KR101900171B1 (ko
Inventor
펭유 리우
Original Assignee
지티이 코포레이션
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 지티이 코포레이션 filed Critical 지티이 코포레이션
Publication of KR20160141848A publication Critical patent/KR20160141848A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101900171B1 publication Critical patent/KR101900171B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0433—Sockets for IC's or transistors
    • G01R1/0441—Details
    • G01R1/045—Sockets or component fixtures for RF or HF testing
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/44—Testing lamps
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/58—Testing of lines, cables or conductors
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/66—Structural association with built-in electrical component
    • H01R13/70—Structural association with built-in electrical component with built-in switch
    • H01R13/703—Structural association with built-in electrical component with built-in switch operated by engagement or disengagement of coupling parts, e.g. dual-continuity coupling part
    • H01R13/7031—Shorting, shunting or bussing of different terminals interrupted or effected on engagement of coupling part, e.g. for ESD protection, line continuity
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/66—Structural association with built-in electrical component
    • H01R13/70—Structural association with built-in electrical component with built-in switch
    • H01R13/703—Structural association with built-in electrical component with built-in switch operated by engagement or disengagement of coupling parts, e.g. dual-continuity coupling part
    • H01R13/7036—Structural association with built-in electrical component with built-in switch operated by engagement or disengagement of coupling parts, e.g. dual-continuity coupling part the switch being in series with coupling part, e.g. dead coupling, explosion proof coupling
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04M—TELEPHONIC COMMUNICATION
    • H04M1/00—Substation equipment, e.g. for use by subscribers
    • H04M1/24—Arrangements for testing
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R2201/00—Connectors or connections adapted for particular applications
    • H01R2201/02—Connectors or connections adapted for particular applications for antennas
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R2201/00—Connectors or connections adapted for particular applications
    • H01R2201/20—Connectors or connections adapted for particular applications for testing or measuring purposes
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R24/00—Two-part coupling devices, or either of their cooperating parts, characterised by their overall structure
    • H01R24/38—Two-part coupling devices, or either of their cooperating parts, characterised by their overall structure having concentrically or coaxially arranged contacts
    • H01R24/40—Two-part coupling devices, or either of their cooperating parts, characterised by their overall structure having concentrically or coaxially arranged contacts specially adapted for high frequency
    • H01R24/42—Two-part coupling devices, or either of their cooperating parts, characterised by their overall structure having concentrically or coaxially arranged contacts specially adapted for high frequency comprising impedance matching means or electrical components, e.g. filters or switches
    • H01R24/46—Two-part coupling devices, or either of their cooperating parts, characterised by their overall structure having concentrically or coaxially arranged contacts specially adapted for high frequency comprising impedance matching means or electrical components, e.g. filters or switches comprising switches

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
  • Details Of Connecting Devices For Male And Female Coupling (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Telephone Function (AREA)
  • Telephone Set Structure (AREA)

Abstract

본 발명은 RF 테스트 소켓과 RF 테스트 케이블을 개시하였고, RF 테스트 기술 분야에 관한 것이며, 그 RF 테스트 방법은: 제1테스트 장치와 제2테스트 장치가 RF 테스트 소켓의 제1테스트 장치를 연결하기 위한 제1탄성 장치와 제2테스트 장치를 연결하기 위한 제2탄성 장치를 통해 연결되는 단계; RF 테스트 케이블의 절연 푸시핀 장치는 상기 제2탄성 장치를 눌러 RF 테스트 소켓과 제2테스트 장치의 연결을 차단시키고 상기 RF 테스트 삽입헤드와 상기 제1탄성 장치에 의해 제1테스트 장치에 대하여 테스트하는 단계; RF 테스트 케이블의 절연 푸시핀 장치는 상기 제1탄성 장치를 눌러 RF 테스트 소켓과 제1테스트 장치의 연결을 차단시키고 상기 RF 테스트 삽입헤드와 상기 제2탄성 장치에 의해 제2테스트 장치에 대하여 테스트하는 단계;를 포함한다.

Description

무선주파수 테스트 소켓 및 무선주파수 테스트 케이블{RADIO FREQUENCY TEST SOCKET AND RADIO FREQUENCY TEST CABLE}
본 발명은 단말기 무선주파수(RADIO FREQUENCY, RF) 테스트 기술분야에 관한 것이며, 특히 RF 테스트 소켓(TEST SOCKET) 및 RF 테스트 케이블(TEST CABLE)에 관한 것이다.
현재 사용되고 있는 RF 테스트 소켓은 주로 RF 케이블의 출력(Power)과 감도의 테스트에 사용되는 것이고, RF 테스트 케이블을 삽입하지 않을 경우 신호는 양방향으로 흐를 수 있으며, 도 1과 같이 화살표를 가진 라인은 신호 라인이고 화살표 방향은 신호의 흐름 방향을 나타낸다. 그러나, RF 테스트 케이블을 삽입할 경우에 신호는 단방향으로 전도되며, 도 2와 도 3은 각각 RF 테스트 소켓 및 RF 테스트 케이블의 개략도를 보여주었다. 도 4와 같이, RF 케이블의 출력을 테스트하는 시나리오에서, RF 테스트 케이블을 RF 테스트 소켓에 연결시 RF 테스트 소켓은 단방향으로 전도되는 바, 단지 RF 칩과의 일측에서 전도되며 안테나(Antenna)와의 일단은 차단된다. 다시 말한 즉, RF 테스트 케이블을 삽입하지 않을 경우 RF 테스트 소켓 내의 스프링 스트립(Spring leaf)은 도면의 점선이 위치한 상태에 놓인다. RF 테스트 케이블을 삽입할 경우 RF 테스트 소켓 내의 스프링 스트립은 점선의 상태에서 내리 눌리어 실선의 상태로 된다.
다시 말해, LTE의 단말기는 각 RF 칩과 안테나 사이에는 RF 테스트 소켓을 가지며, 기존의 RF 테스트 소켓에 RF 테스트 케이블을 삽입한 후 단방향 전도만 가능한 바, 안테나의 S11 파라미터나 스미스(Smith) 차트를 측정해야 할 경우 RF 테스트 소켓을 제거하고 RF 테스트 케이블을 메인 보드(Mainboard)에 용접시켜야 한다. 이럴 경우 아래와 같은 몇가지 단점이 있다:
1. 반드시 메인 보드를 훼손시켜 안테나 측정 패시브 지그(passive jig for testing the antenna)를 제조해야 한다;
2. 패시브 보드(Passive board)은 통상적으로 액티브 보드(Active board)과 어느 정도 차이점을 가지므로, 패시브 보드에서 조절된 안테나의 정상파(stationary wave)와 액티브 보드에서 테스트한 안테나 성능은 자주 일일이 대응되지 못한다;
3. 메인 보드 RF 매칭 또는 메인 보드의 제조 업체를 변경하려면 다시 패시브 보드를 제조하여야 하며, 이럴 경우 많은 메인 보드를 훼손해야 한다.
상기 문제들을 해결하기 위하여, 본 발명의 실시예에서는 RF 테스트 소켓 및 RF 테스트 케이블을 제공한다.
본 발명의 실시예에서는 적어도 관련 기술에 존재하는 문제를 해결하기 위한 것으로, 메인 보드를 훼손할 필요없이 안테나 지그(Antenna jig)를 제조시 안테나 패시브 보드(antenna passive board)와 RF 액티브 보드(radio frequency active board)를 통합시킬 수 있는 RF 테스트 소켓 및 RF 테스트 케이블을 제공한다.
본 발명의 실시예에 따르면 RF 테스트 소켓을 제공하며:
RF 테스트 베이스;
상기 RF 테스트 베이스 내에 고정된 연결장치;
상기 RF 테스트 베이스 내에 고정되고 각각 상기 연결장치와 탄성연결되는 제1탄성 장치와 제2탄성 장치;를 포함한다.
상기 연결장치는:
금속편;
상기 금속편 하측 양단에 설치된 제1접점과 제2접점;을 포함한다.
상기 제1탄성 장치는 상기 연결 장치의 제1접점과 탄성연결되고, 상기 제2탄성 장치는 상기 연결 장치의 제2접점과 탄성연결된다.
본 발명의 다른 실시예에 따르면 무선주파수 테스트 케이블을 제공하며:
RF 테스트 라인 말단에 고정되는 RF 테스트 삽입헤드(radio frequency test plug);
상기 RF 테스트 삽입헤드 일측에 안착되고 상기 RF 테스트 삽입헤드보다 긴 절연 푸시핀(insulation push pin) 장치;를 포함한다.
본 발명의 다른 실시예에 따르면 휴대폰 무선주파수 테스트 장치를 제공하며:
RF 테스트 소켓;
RF 테스트 케이블;
상기 RF 테스트 케이블과 상기 RF 테스트 소켓을 이용하여 RF 테스트 소켓의 제1탄성 장치 및 제2탄성 장치와 각각 연결되는 제1테스트 장치 및 제2테스트 장치에 대하여 각각 테스트를 진행하도록 하는 테스트 모듈;을 포함한다.
상기 테스트 모듈은:
상기 절연 푸시핀 장치를 이용하여 상기 제2탄성 장치를 누름으로써, 상기 RF 테스트 케이블과 상기 제2테스트 장치의 연결을 차단시키는 동시에 상기 RF 테스트 삽입헤드와 상기 연결 장치를 연결시켜, 상기 제1탄성 장치에 의해 연결된 상기 제1테스트 장치에 대하여 테스트하는 제1테스트 서브 모듈을 포함한다.
상기 테스트 모듈은:
상기 절연 푸시핀 장치를 이용하여 상기 제1탄성 장치를 누름으로써, 상기 RF 테스트 케이블과 상기 제1테스트 장치의 연결을 차단시키는 동시에 상기 RF 테스트 삽입헤드와 상기 연결 장치를 연결시켜, 상기 제2탄성 장치에 의해 연결된 상기 제2테스트 장치에 대하여 테스트하는 제2테스트 서브 모듈을 더 포함한다.
상기 절연 푸시핀 장치가 상기 제2탄성 장치를 누를 경우 상기 제2탄성 장치와 상기 연결 장치의 제2접점의 탄성연결은 차단되어 상기 RF 테스트 케이블과 상기 제2테스트 장치가 차단되게 한다.
상기 절연 푸시핀 장치가 상기 제1탄성 장치를 누를 경우 상기 제1탄성 장치와 상기 연결 장치의 제1접점의 탄성연결은 차단되어 상기 RF 테스트 케이블과 상기 제1테스트 장치가 차단되게 한다.
본 발명의 다른 실시예에 따르면 휴대폰 무선주파수 테스트 방법을 제공하며, 하기와 같은 단계를 포함한다:
제1테스트 장치 및 제2테스트 장치가 RF 테스트 소켓의 제1테스트 장치를 연결하는 제1탄성 장치 및 제2테스트 장치를 연결하는 제2탄성 장치를 통해 연결되는 단계;
RF 테스트 케이블의 절연 푸시핀 장치는 상기 제2탄성 장치를 눌러 RF 테스트 소켓과 제2테스트 장치의 연결을 차단시키고 상기 RF 테스트 삽입헤드와 상기 제1탄성 장치에 의해 제1테스트 장치에 대하여 테스트하는 단계;
RF 테스트 케이블의 절연 푸시핀 장치는 상기 제1탄성 장치를 눌러 RF 테스트 소켓과 제1테스트 장치의 연결을 차단시키고 상기 RF 테스트 삽입헤드와 상기 제2탄성 장치에 의해 제2테스트 장치에 대하여 테스트하는 단계;를 포함한다.
관련 기술과 비교할 때, 본 발명의 실시예의 유리한 효과는 아래와 같다:
본 발명의 실시예는 RF 테스트 소켓 및 RF 테스트 케이블를 통해 제1테스트 유닛과 제2테스트 유닛을 통합시킬 수 있어 메인 보드를 훼손할 필요없이 안테나 지그를 제조하여 사용자의 체험(user experience)을 향상시켰다.
도 1은 관련 기술에서 제공한 RF 테스트 소켓의 저면도이며;
도 2는 관련 기술에서 제공한 RF 테스트 소켓의 개략도이며;
도 3은 관련 기술에서 제공한 RF 테스트 케이블의 개략도이며;
도 4는 관련 기술에서 제공한 RF 테스트 소켓 및 RF 테스트 케이블이 동작하는 구조도이며;
도 5는 본 발명에서 제공한 RF 테스트 소켓의 개략도이며;
도 6은 본 발명에서 제공한 RF 테스트 케이블의 개략도이며;
도 7은 본 발명의 실시예에서 제공한 휴대폰 RF 테스트 장치의 개략도이며;
도 8은 본 발명의 실시예에서 제공한 휴대폰 RF 테스트 방법의 흐름도이며;
도 9는 본 발명의 실시예에서 제공한 RF 테스트 소켓이 테스트를 진행하는 개략도이며;
도 10은 본 발명의 실시예에서 제공한 RF 케이블의 출력과 감도를 테스트하는 개략도이며;
도 11은 본 발명의 실시예에서 제공한 휴대폰 안테나의 패시브 파형을 테스트하는 개략도이다.
하기에서는 도면을 결합하여 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 상세하게 설명하나, 하기에서 설명한 바람직한 실시예는 단지 본 발명에 대하여 설명하고 해석하기 위한 것일 뿐 본 발명을 한정하기 위한 것이 아님을 이해하여야 한다.
도 5는 본 발명에서 제공한 RF 테스트 소켓의 개략도를 표시하였으며, 이는 도 5와 같이 RF 테스트 베이스; RF 테스트 베이스내에 고정되고, RF 테스트 케이블과 연결되도록 설치되는 연결장치; 및 상기 RF 테스트 베이스내에 고정되고, 각각 상기 연결 장치와 탄성연결되며, RF 테스트 케이블 및 제1테스트 장치와 제2테스트 장치를 연결/차단시키도록 설치되는 제1탄성 장치 및 제2탄성 장치;를 포함한다. 여기서, 상기 연결장치는 금속편; 및 상기 금속편 하측 양단에 설치되는 제1접점과 제2접점;을 포함한다. 상기 제1탄성 장치는 상기 연결 장치의 제1접점과 탄성연결되고 상기 제2탄성 장치는 상기 연결 장치의 제2접점과 탄성연결된다.
도 6은 본 발명의 실시예에서 제공한 RF 테스트 케이블의 개략도를 표시하였으며, 이는 도 6과 같이 RF 테스트 라인의 말단에 고정되고, 상기 RF 테스트 소켓의 연결장치와 연결되도록 설치되는 RF 테스트 삽입헤드; 상기 RF 테스트 삽입헤드 일측에 안착되되 상기 RF 테스트 삽입헤드보다 길며, 상기 RF 테스트 소켓의 제1탄성 장치 또는 제2탄성 장치를 누르도록 설치되는 절연 푸시핀(Insulation push pin) 장치;를 포함한다.
도 7은 본 발명의 실시예에서 제공한 휴대폰 RF 테스트 장치의 개략도를 표시하였으며, 이는 도 7과 같이 상기 RF 테스트 소켓(701); 상기 RF 테스트 케이블(702); 상기 RF 테스트 케이블과 상기 RF 테스트 소켓을 이용하여, RF 테스트 소켓의 제1탄성 장치 및 제2탄성 장치와 각각 연결되는 제1테스트 장치 및 제2테스트 장치에 대하여 각각 테스트를 진행하도록 설치된 테스트 모듈(703);을 포함한다. 구체적으로 말하면, 상기 테스트 모듈(703)은 제1테스트 서브 모듈과 제2테스트 서브 모듈을 포함한다. 상기 제1테스트 서브 모듈은 상기 푸시핀 장치를 이용하여 상기 제2탄성 장치를 누름으로써 상기 RF 테스트 케이블과 상기 제2테스트 장치의 연결을 차단시키는 동시에 상기 RF 테스트 삽입헤드와 상기 연결 장치를 연결시켜, 상기 제1탄성 장치에 의해 연결된 상기 제1테스트 장치에 대하여 테스트하며 구체적으로 말하면, 상기 절연 푸시핀 장치가 상기 제2탄성 장치를 누를 경우, 상기 제2탄성 장치와 상기 연결 장치의 제2접점의 탄성연결은 차단되어 상기 RF 테스트 케이블과 상기 제2테스트 장치를 차단시킨다. 제2테스트 서브 모듈은 상기 푸시핀 장치를 이용하여 상기 제1탄성 장치를 누름으로써 상기 RF 테스트 케이블과 상기 제1테스트 장치의 연결을 차단시키는 동시에 상기 RF 테스트 삽입헤드와 상기 연결 장치를 연결시켜, 상기 제2탄성 장치에 의해 연결된 상기 제2테스트 장치에 대하여 테스트하며; 구체적으로 말하면, 상기 절연 푸시핀 장치가 상기 제1탄성 장치를 누를 경우, 상기 제1탄성 장치와 상기 연결 장치의 제1접점의 탄성연결은 차단되어 상기 RF 테스트 케이블과 상기 제1테스트 장치를 차단시킨다.
도 8은 본 발명의 실시예에서 제공한 휴대폰 RF 테스트 방법의 흐름도를 표시하였으며, 도 8과 같이, 하기와 같은 단계를 포함한다:
단계 (S801): 제1테스트 장치와 제2테스트 장치는, RF 테스트 소켓의 제1테스트 장치를 연결하는 제1탄성 장치와 제2테스트 장치를 연결하는 제2탄성 장치를 통해 연결된다;
단계 (S802): RF 테스트 케이블의 절연 푸시핀 장치는 상기 제2탄성 장치를 눌러 RF 테스트 소켓과 제2테스트 장치의 연결을 차단시켜, 상기 RF 테스트 삽입헤드와 상기 제1탄성 장치에 의해 제1테스트 장치에 대하여 테스트한다;
단계 (S803): RF 테스트 케이블의 절연 푸시핀 장치는 상기 제1탄성 장치를 눌러 RF 테스트 소켓과 제1테스트 장치의 연결을 차단시켜, 상기 RF 테스트 삽입헤드와 상기 제2탄성 장치에 의해 제2테스트 장치에 대하여 테스트한다.
도 9는 본 발명의 실시예에서 제공한 RF 테스트 소켓이 테스트를 진행하는 개략도를 표시하였으며, 도 9와 같이, 일측의 스프링 스트립이 경질 플라스틱(hard plastic) 푸시핀에 의해 눌리울 경우 중간 금속편과 차단되어 해당 경로의 신호는 차단되고 다른 한 경로의 신호는 RF 테스트 케이블에서 전도(conducted)를 실현한다.
도 10은 본 발명의 실시예에서 제공한 RF 케이블의 출력과 감도를 테스트하는 개략도를 표시하였으며, 도 10과 같이, 제1방향에 따라 RF 테스트 케이블을 RF 테스트 소켓에 삽입시켜 상기 RF 테스트 케이블의 RF 테스트 삽입헤드와 상기 RF 테스트 소켓의 금속편이 접촉되고 상기 RF 테스트 케이블의 절연 푸시핀이 상기 RF 테스트 소켓의 제2스프링 스트립을 아래로 누르게 하며; 상기 RF 테스트 삽입헤드와 상기 금속편의 접촉 및 상기 절연 푸시핀이 상기 제2스프링 스트립을 아래로 누르는 것을 이용하여 상기 RF 테스트 소켓과 상기 휴대폰 안테나의 연결을 차단시키고, 상기 RF 테스트 케이블은 상기 제1스프링 스트립을 통해 상기 RF 무선 트랜시버(RF radio transceiver)를 연결하여 상기 RF 무선 트랜시버에 대해 테스트한다. 다시 말해, 휴대폰 안테나를 연결한 일측 경로의 RF 테스트 소켓의 제2스프링 스트립은 눌리어짐으로써 상기 제2스프링 스트립과 RF 테스트 소켓의 금속편은 차단되어, 상기 RF 테스트 케이블이 상기 제1스프링 스트립을 통해 상기 RF 무선 트랜시버를 연결하여 상기 RF 무선 트랜시버에 대해 테스트한다.
도 11은 본 발명의 실시예에서 제공한 휴대폰 안테나의 패시브 파형을 테스트하는 개략도를 표시하였으며, 도 11과 같이, 제2방향에 따라 RF 테스트 케이블을 RF 테스트 소켓에 삽입시켜 상기 RF 테스트 케이블의 RF 테스트 삽입헤드와 상기 RF 테스트 소켓의 금속편이 접촉되고 상기 RF 테스트 케이블의 절연 푸시핀이 상기 RF 테스트 소켓의 제1스프링 스트립을 아래로 누르게 하며; 상기 RF 테스트 삽입헤드와 상기 금속편의 접촉 및 상기 절연 푸시핀이 상기 제1스프링 스트립을 아래로 누르는 것을 이용하여 상기 RF 테스트 소켓과 상기 휴대폰 안테나의 연결을 차단시키고, 상기 RF 테스트 케이블은 상기 제2스프링 스트립을 통해 상기 휴대폰 안테나를 연결하여 상기 휴대폰 안테나에 대해 테스트한다. 다시 말해, RF 무선 트랜시버를 연결한 일측 경로의 RF 테스트 소켓의 제1스프링 스트립은 눌리어짐으로써 상기 제1스프링 스트립과 RF 테스트 소켓의 금속편은 차단되어, 상기 RF 테스트 케이블이 상기 제2스프링 스트립을 통해 상기 휴대폰 안테나를 연결하여 상기 휴대폰 안테나의 S11과 스미스 차트(Smith circle diagram)에 대해 테스트한다.
또한, 본 발명의 실시예는 RF 테스트 케이블에 대해 일 방향으로 회전시키면 도 10과 도 11의 두가지 상태를 실현할 수 있다.
종합하면, 본 발명의 실시예는 아래와 같은 기술효과를 가진다:
본 발명의 실시예는 신규의 RF 테스트 소켓 및 이에 조립되는 RF 테스트 케이블를 통해 안테나 패시브 보드와 RF 액티브 보드를 통합시킬 수 있어 메인 보드를 훼손할 필요없이 안테나 지그를 제조할 수 있다.
상기 진술을 통해 본 발명에 대하여 상세하게 설명하였으나 본 발명은 이에 한정되지 않으며 본 기술분야의 기술자들은 본 발명의 원리에 따라 여러가지 변형을 할 수 있다. 따라서, 본 발명의 원리에 근거한 변형은 모두 본 발명의 보호범위에 속한다는 것을 이해하여야 한다.
상기 진술한 바와 같이, 본 발명의 실시예는 RF 테스트 소켓 및 RF 테스트 케이블을 제공하며 하기와 같은 유리한 효과를 가진다: 본 발명의 실시예는 RF 테스트 소켓 및 RF 테스트 케이블을 통해 제1테스트 유닛과 제2테스트 유닛을 통합시킬 수 있어 메인 보드를 훼손할 필요없이 안테나 지그를 제조하여 사용자의 체험을 향상시켰다.

Claims (10)

  1. RF 테스트 베이스;
    상기 RF 테스트 베이스 내에 고정된 연결장치;
    상기 RF 테스트 베이스 내에 고정되고 각각 상기 연결장치와 탄성연결되는 제1탄성 장치와 제2탄성 장치;를 포함하는 무선주파수 테스트 소켓.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 연결장치는:
    금속편;
    상기 금속편 하측 양단에 설치된 제1접점과 제2접점; 을 포함하는 무선주파수 테스트 소켓.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 제1탄성 장치는 상기 연결 장치의 제1접점과 탄성연결되고, 상기 제2탄성 장치는 상기 연결 장치의 제2접점과 탄성연결되는 무선주파수 테스트 소켓.
  4. RF 테스트 라인 말단에 고정되는 RF 테스트 삽입헤드;
    상기 RF 테스트 삽입헤드 일측에 안착되고 상기 RF 테스트 삽입헤드보다 긴 절연 푸시핀 장치;를 포함하는 무선주파수 테스트 케이블.
  5. 제1항 내지 제3항 중 한 항의 RF 테스트 소켓;
    제4항의 RF 테스트 케이블;
    상기 RF 테스트 케이블과 상기 RF 테스트 소켓을 이용하여 RF 테스트 소켓의 제1탄성 장치 및 제2탄성 장치와 각각 연결되는 제1테스트 장치 및 제2테스트 장치에 대하여 각각 테스트를 진행하도록 하는 테스트 모듈;을 포함하는 휴대폰 무선주파수 테스트 장치.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 테스트 모듈은:
    상기 절연 푸시핀 장치를 이용하여 상기 제2탄성 장치를 누름으로써 상기 RF 테스트 케이블과 상기 제2테스트 장치의 연결을 차단시키는 동시에 상기 RF 테스트 삽입헤드와 상기 연결 장치를 연결시켜, 상기 제1탄성 장치에 의해 연결된 상기 제1테스트 장치에 대하여 테스트하는 제1테스트 서브 모듈을 포함하는 휴대폰 무선주파수 테스트 장치.
  7. 제5항에 있어서,
    상기 테스트 모듈은:
    상기 절연 푸시핀 장치를 이용하여 상기 제1탄성 장치를 누름으로써 상기 RF 테스트 케이블과 상기 제1테스트 장치의 연결을 차단시키는 동시에 상기 RF 테스트 삽입헤드와 상기 연결 장치를 연결시켜, 상기 제2탄성 장치에 의해 연결된 상기 제2테스트 장치에 대하여 테스트하는 제2테스트 서브 모듈을 더 포함하는 휴대폰 무선주파수 테스트 장치.
  8. 제6항에 있어서,
    상기 절연 푸시핀 장치가 상기 제2탄성 장치를 누를 경우 상기 제2탄성 장치와 상기 연결 장치의 제2접점의 탄성연결은 차단되어 상기 RF 테스트 케이블과 상기 제2테스트 장치가 차단되게 하는 휴대폰 무선주파수 테스트 장치.
  9. 제7항에 있어서,
    상기 절연 푸시핀 장치가 상기 제1탄성 장치를 누를 경우 상기 제1탄성 장치와 상기 연결 장치의 제1접점의 탄성연결은 차단되어 상기 RF 테스트 케이블과 상기 제1테스트 장치가 차단되게 하는 휴대폰 무선주파수 테스트 장치.
  10. 제1테스트 장치 및 제2테스트 장치가 RF 테스트 소켓의 제1테스트 장치를 연결하기 위한 제1탄성 장치 및 제2테스트 장치를 연결하기 위한 제2탄성 장치를 통해 연결되는 단계;
    RF 테스트 케이블의 절연 푸시핀 장치는 상기 제2탄성 장치를 눌러 RF 테스트 소켓과 제2테스트 장치의 연결을 차단시키고 상기 RF 테스트 삽입헤드와 상기 제1탄성 장치에 의해 제1테스트 장치에 대하여 테스트하는 단계;
    RF 테스트 케이블의 절연 푸시핀 장치는 상기 제1탄성 장치를 눌러 RF 테스트 소켓과 제1테스트 장치의 연결을 차단시키고 상기 RF 테스트 삽입헤드와 상기 제2탄성 장치에 의해 제2테스트 장치에 대하여 테스트하는 단계;를 포함하는 휴대폰 무선주파수 테스트 방법.
KR1020167031310A 2014-04-30 2014-09-17 무선주파수 테스트 소켓 및 무선주파수 테스트 케이블 KR101900171B1 (ko)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201410180990.1 2014-04-30
CN201410180990.1A CN105025139B (zh) 2014-04-30 2014-04-30 一种射频测试座和射频测试线缆
PCT/CN2014/086763 WO2015165194A1 (zh) 2014-04-30 2014-09-17 一种射频测试座和射频测试线缆

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20160141848A true KR20160141848A (ko) 2016-12-09
KR101900171B1 KR101900171B1 (ko) 2018-09-18

Family

ID=54358090

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020167031310A KR101900171B1 (ko) 2014-04-30 2014-09-17 무선주파수 테스트 소켓 및 무선주파수 테스트 케이블

Country Status (7)

Country Link
US (1) US10168355B2 (ko)
EP (1) EP3139579B1 (ko)
JP (1) JP2017520141A (ko)
KR (1) KR101900171B1 (ko)
CN (1) CN105025139B (ko)
ES (1) ES2813675T3 (ko)
WO (1) WO2015165194A1 (ko)

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105100308B (zh) * 2015-06-26 2019-03-08 努比亚技术有限公司 移动终端及其测试方法
CN107102175B (zh) * 2016-02-22 2019-06-18 京元电子股份有限公司 转塔式测试装置的快拆式ic测试座
CN106324368A (zh) * 2016-09-26 2017-01-11 维沃移动通信有限公司 一种射频测试座及移动终端
CN106597030B (zh) * 2016-11-07 2020-02-11 上海斐讯数据通信技术有限公司 一种连接主板和小板信号的方法及装置
CN106707090A (zh) * 2016-11-24 2017-05-24 宇龙计算机通信科技(深圳)有限公司 一种终端壳体弹片导通测试装置
CN107465781B (zh) * 2017-09-01 2020-01-10 北京小米移动软件有限公司 终端
CN107942108B (zh) * 2017-12-04 2020-02-14 中航光电科技股份有限公司 一种射频线缆组件测试机构
CN207947784U (zh) * 2018-01-10 2018-10-09 南京中兴新软件有限责任公司 射频线缆头及射频性能测试装置
KR102231536B1 (ko) 2019-06-10 2021-03-23 정기현 핸드폰 테스트용 지그
CN112652927A (zh) * 2019-10-10 2021-04-13 中兴通讯股份有限公司 射频传输装置及电子设备
CN110932797B (zh) * 2019-11-30 2022-03-25 惠州Tcl移动通信有限公司 连接电路、连接电路组、验证天线有源性能的系统及方法
CN113495172B (zh) * 2020-03-20 2024-03-26 北京字节跳动网络技术有限公司 探测装置、测试座、电路结构、测试装置和终端
CN111781431A (zh) * 2020-07-13 2020-10-16 芝纶自动化科技(上海)有限公司 一种测试装置
CN113267716B (zh) * 2021-05-10 2024-02-23 维沃移动通信有限公司 射频测试座、射频电路以及电子设备
CN113395123B (zh) * 2021-06-23 2023-05-12 杭州涂鸦信息技术有限公司 用于测试模组射频性能的测架和射频性能测试系统
CN114665342A (zh) * 2022-02-23 2022-06-24 中国电子科技集团公司第二十九研究所 一种射频弹性互联测试电缆组件
CN115065425B (zh) * 2022-05-12 2024-02-27 联想(北京)有限公司 射频测试装置、电子系统及射频测试方法
CN115118354B (zh) * 2022-06-24 2023-08-22 成都美数科技有限公司 一种射频收发组件的测试设备

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE69519889T2 (de) * 1994-04-19 2001-08-16 Hirose Electric Co Ltd Hochfrequenzschalter und Verfahren zum Testen von Hochfrequenzeinrichtungen
CN1271804C (zh) * 2003-06-26 2006-08-23 联想(北京)有限公司 一种内置天线设备的射频测试装置及方法
US7161544B2 (en) * 2004-12-29 2007-01-09 Sony Ericsson Mobile Communications Mobile terminals including a built-in radio frequency test interface
US20100295569A1 (en) * 2009-05-20 2010-11-25 Azurewave Technologies, Inc. Rf performance test structure with electronic switch function
CN102142856B (zh) * 2010-01-29 2014-04-30 深圳富泰宏精密工业有限公司 便携式电子装置
US8903672B2 (en) * 2010-06-04 2014-12-02 Apple Inc. Methods for calibration of radio-frequency path loss in radio-frequency test equipment
CN202084697U (zh) * 2011-02-12 2011-12-21 中航光电科技股份有限公司 可改变接触件通路短路状态的连接器组件及其插座
US8610439B2 (en) * 2011-04-14 2013-12-17 Apple Inc. Radio-frequency test probes with integrated matching circuitry for testing transceiver circuitry
US9157930B2 (en) * 2011-05-09 2015-10-13 Apple Inc. Bidirectional radio-frequency probing
US8587335B2 (en) * 2011-06-17 2013-11-19 Apple Inc. Methods for providing proper impedance matching during radio-frequency testing
US9000989B2 (en) * 2011-08-17 2015-04-07 Apple Inc. Test system with adjustable radio-frequency probe array
TW201528712A (zh) * 2013-12-09 2015-07-16 Patrick Antoine Rada 無線發送器及無線接收器之無線耦合射頻校準及測試方法
US9857392B2 (en) * 2014-12-23 2018-01-02 Keysight Technologies, Inc. Single ended test probe having ground and signal tips

Also Published As

Publication number Publication date
EP3139579A4 (en) 2018-01-10
ES2813675T3 (es) 2021-03-24
CN105025139B (zh) 2019-04-12
JP2017520141A (ja) 2017-07-20
EP3139579B1 (en) 2020-07-22
WO2015165194A1 (zh) 2015-11-05
KR101900171B1 (ko) 2018-09-18
EP3139579A1 (en) 2017-03-08
US10168355B2 (en) 2019-01-01
US20170045549A1 (en) 2017-02-16
CN105025139A (zh) 2015-11-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101900171B1 (ko) 무선주파수 테스트 소켓 및 무선주파수 테스트 케이블
JP4459846B2 (ja) 携帯用電気機器の接続端子
US9197000B2 (en) SIM card holder, mobile terminal and method for identifying hotplug of SIM card
WO2019137433A1 (zh) 射频线缆头及射频性能测试装置
US20150331037A1 (en) Testing apparatus for testing electrical circuit board having electrical connectors thereon
US8981999B2 (en) Broadband antenna element
WO2016165137A1 (zh) 射频测试座及测试探针
US9626534B2 (en) SIM card connector and electronic device including the same
KR20160111100A (ko) 시그널 패드
CN204439793U (zh) 射频开关测试装置
JP5402718B2 (ja) コネクタ
CN205194922U (zh) 一种电子设备及其射频测试插座
US8899992B2 (en) Connector
KR200476274Y1 (ko) 휴대 단말기용 이어 소켓 커넥터
CN104051909B (zh) 耳机连接器
KR101712540B1 (ko) 스마트 카드홀더 및 전자기기
CN105717446B (zh) 射频开关测试装置
KR100677371B1 (ko) 휴대단말기의 전기적 성능 검출장치
CN209418847U (zh) 一种Lightning母座
JP6268901B2 (ja) 電気コネクタ
KR101578837B1 (ko) 면 접촉식 커넥터
WO2018058685A1 (zh) 耳机插座、射频信号插头、通信终端、配合结构和装置
KR20190001280U (ko) 전도성 프로브의 탄성중합체 구조
CN117129820A (zh) 射频板、测试组件以及射频板的检测方法
JP2015005465A (ja) リセプタクルコネクタ及びそれを用いた回路検査方法

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant