CN113267716B - 射频测试座、射频电路以及电子设备 - Google Patents

Abstract

本申请实施例提供了一种射频测试座、射频电路以及电子设备，所述射频测试座具体包括：导电外框、绝缘固定件以及导电柱；其中，导电外框上设置有用于容纳绝缘固定件的容纳空间；所述绝缘固定件设置在容纳空间内，所述绝缘固定件上设置有第一信号弹脚和第二信号弹脚；所述导电柱活动连接于所述绝缘固定件；探针可插入至所述射频测试座中，以使所述射频测试座由工作状态切换至测试状态；其中，在所述射频测试座处于所述工作状态时，所述第一信号弹脚、所述第二信号弹脚均与所述导电柱与电连接；在所述射频测试座处于所述测试状态时，所述第一信号弹脚与测试探针抵接，所述第一信号弹脚与所述导电柱断开连接，所述第二信号弹脚与所述导电柱电连接。

Description

射频测试座、射频电路以及电子设备

技术领域

本申请属于通信技术领域，具体涉及一种射频测试座、一种射频电路以及一种电子设备。

背景技术

随着通信技术的发展，手机、平板电脑等电子设备对网络功能的要求也越来越高，需要支持的网络制式也越来越多，相应的，电子设备上的天线通路也越来越多。

在先的技术中，每个天线通路中都需要设置射频测试座和天线弹片，射频测试座可以用于对该天线通路的射频性能进行调试和测试，天线弹片则可以用于电路板和天线之间的电连接。

然而，由于射频测试座和天线弹片都需要一定的结构避空区域，因此，射频测试座和天线弹片在电路板上占据的空间较大，进而，很容易导致电路板的空间很难得到有效的利用。

发明内容

本申请旨在提供一种射频测试座、一种射频电路以及一种电子设备，以解决现有的射频测试座和天线弹片在电路板上占据的空间较大，导致电路板的空间很难得到有效的利用的问题。

为了解决上述技术问题，本申请是这样实现的：

第一方面，本申请实施例提出了一种射频测试座，所述射频测试座包括：导电外框、绝缘固定件以及导电柱；其中，

所述导电外框上设置有用于容纳所述绝缘固定件的容纳空间；

所述绝缘固定件设置在所述容纳空间内，所述绝缘固定件上设置有第一信号弹脚和第二信号弹脚；

所述导电柱活动连接于所述绝缘固定件；

探针可插入至所述射频测试座中，以使所述射频测试座由工作状态切换至测试状态；

其中，在所述射频测试座处于所述工作状态时，所述第一信号弹脚、所述第二信号弹脚均与所述导电柱与电连接；在所述射频测试座处于所述测试状态时，所述第一信号弹脚与测试探针抵接，所述第一信号弹脚与所述导电柱断开连接，所述第二信号弹脚与所述导电柱电连接。

第二方面，本申请实施例提出了一种射频电路，包括：收发器、射频匹配模块、天线、天线调谐模块以及上述射频测试座；其中，

所述射频匹配模块的一端与所述收发器电连接，另一端与所述射频测试座的第一信号弹脚电连接；

所述天线与所述射频测试座的导电柱电连接；

所述天线调谐模块与所述射频测试座的第二信号弹脚电连接；

探针可插入至所述射频测试座中，以使所述射频测试座由工作状态切换至测试状态；

在所述射频测试座处于所述工作状态时，所述第一信号弹脚、所述第二信号弹脚均与所述导电柱电连接；在所述射频测试座处于所述测试状态时，所述第一信号弹脚与测试探针抵接，所述第一信号弹脚与所述导电柱断开连接，所述第二信号弹脚与所述导电柱电连接。

第三方面，本申请实施例还提出了一种电子设备，所述电子设备包括：上述射频电路。

本申请实施例中，由于所述导电柱活动连接于所述绝缘固定件，测试探针可插入至所述射频测试座中，以使所述射频测试座由工作状态切换至测试状态；在所述射频测试座处于所述工作状态时，所述第一信号弹脚、所述第二信号弹脚均与所述导电柱电连接，以导通射频电路，实现射频信号的传输；在所述射频测试座处于所述测试状态时，所述第一信号弹脚与测试探针抵接，所述第一信号弹脚与所述导电柱断开连接，所述第二信号弹脚与所述导电柱电连接，以断开所述射频电路，便于所述测试探针与所述第一信号弹脚抵接，对所述射频电路进行测试或者调试。也即，本申请实施例所述的射频测试座可以集成传统的射频测试座和天线弹片的功能，避免同时在射频电路中设置射频测试座和天线弹片的操作，从而，可以减少所述射频电路在电路板占据的空间，以提高所述电路板的空间利用效率。

本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1是现有技术中的一种射频电路的结构示意图；

图2是现有的一种天线弹片的结构示意图；

图3是本申请实施例的一种射频电路的结构示意图；

图4是本申请的一种射频测试座的装配结构示意图；

图5是图4所示的射频测试座的分解结构示意图；

图6是图4所示的射频测试座处于测试状态的结构示意图；

图7是图4所示的射频测试座处于工作状态的结构示意图；

图8是本申请的一种射频测试座处于工作状态时射频信号的传输路径示意图；

图9是本申请的一种射频测试座处于测试状态时射频信号的传输路径示意图；

附图标记：10－射频测试座，101－导电外框，1011－容纳空间，1012－第一卡接部，1013－第二卡接部，102－绝缘固定件，1021－第一信号弹脚，1022－第二信号弹脚，1023－辅助弹脚，1024－导向柱，1025－第二导向件，1026－第二通孔，1027－第一限位块，1028－第二限位块，103－导电柱，1031－第一通孔，11－收发器，12－射频匹配模块，13－传统射频测试座，14－天线匹配模块，15－天线弹片，150－弹性抵接部，151－固定部，16－天线，17－天线调谐模块，20－测试探针，201－外壳，202－探针本体，203－弹性件，204－卡接块。

具体实施方式

下面将详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

本申请的说明书和权利要求书中的术语“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。此外，说明书以及权利要求中“和/或”表示所连接对象的至少其中之一，字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

参照图1，示出了现有技术中的一种射频电路的结构示意图，如图1所示，所述射频电路可以包括依次设置的：收发器11、射频匹配模块12、传统射频测试座13、天线匹配模块14、天线弹片15、天线16以及天线调谐模块17。具体地，收发器11可以用于接收或者发射射频信号，射频匹配模块12可以用于射频信号的匹配，天线匹配模块14可以用于天线性能匹配，天线调谐模块17则可以用于调节天线14的谐振等。

现有的技术中，收发器11、射频匹配模块12、传统射频测试座13、天线匹配模块14以及天线调谐模块17一般电连接于电子设备的主板上，而天线16则连接在电子设备的中框或者后盖上。天线弹片15的一端电连接在所述主板上，另一端则与天线16抵持，以实现所述主板与天线16之间的电连接，将天线16电连接在图1所示的射频电路上。

如图1所示，所述射频电路上需要同时设置有传统射频测试座13和天线弹片15，由于传统射频测试座13和天线弹片15都需要一定的结构避空区域，因此，传统射频测试座13和天线弹片15在电路板上占据的空间较大，进而，很容易导致电路板的空间很难得到有效的利用。

而且，传统射频测试座13在进行调试时，通常以传统射频测试座13输出的射频信号的指标性能达到最佳为目标。但是，如图1所示，由于传统射频测试座13与天线16之间存在的距离较长，走线损耗较大，在射频信号到达天线16的位置时功率会存在损耗，负载会存在变化，射频信号的指标性能会下降，相位也可能会发生相应的转变，从而，很容易导致天线16的辐射性能较差。

参照图2，示出了现有的一种天线弹片的结构示意图，如图2所示，天线弹片15可以包括固定部151和弹性抵接部150，其中，固定部151可以焊接在所述电子设备的主板上，所述弹性抵接部150可以抵接在天线16上。由于天线弹片15的高度较高，需要在电子设备的高度方向预留足够的空间来设置天线弹片15，从而，很难实现所述电子设备的轻薄化设计。而且，采用天线弹片15来连接天线16，在进行射频信号的传输时，所述射频信号需要沿着弹性抵接部150走过较长的路径，增加寄生电感，进一步降低射频信号的传输质量。

参照图3，示出了本申请实施例的一种射频电路的结构示意图，如图3所示，本申请实施例所述的射频电路具体可以包括：收发器11、射频匹配模块12、天线16、天线调谐模块17以及射频测试座10。

参照图4，示出了本申请的一种射频测试座的装配结构示意图，参照图5，示出了图4所示的射频测试座的分解结构示意图，参照图6，示出了图4所示的射频测试座处于测试状态的结构示意图，参照图7，示出了图4所示的射频测试座处于工作状态的结构示意图。具体地，所述射频测试座具体可以包括：导电外框101、绝缘固定件102以及导电柱103；其中，

导电外框101上设置有用于容纳绝缘固定件102的容纳空间1011；

绝缘固定件102设置在容纳空间1011内，绝缘固定件102上设置有第一信号弹脚1021和第二信号弹脚1022，第一信号弹脚1021可以用于与射频匹配模块12连接，第二信号弹脚1022可以用于天线调谐模块17连接；

导电柱103活动连接于绝缘固定件102；

测试探针20可插入至所述射频测试座中，以使所述射频测试座由工作状态切换至测试状态。

如图7所示，在所述射频测试座处于所述工作状态时，第一信号弹脚1021、第二信号弹脚1022均与导电柱103与电连接。如图6所示，在所述射频测试座处于所述测试状态时，第一信号弹脚1021与测试探针20抵接，第一信号弹脚1021与导电柱103断开连接，第二信号弹脚1022与导电柱103电连接。

本申请实施例中，由于导电柱103活动连接于绝缘固定件102，测试探针20可插入至所述射频测试座中，以使所述射频测试座由工作状态切换至测试状态；在所述射频测试座处于所述工作状态时，第一信号弹脚1021、第二信号弹脚1022均与导电柱103电连接，以导通射频电路，实现射频信号的传输；在所述射频测试座处于所述测试状态时，第一信号弹脚1021与测试探针20抵接，第一信号弹脚1021与导电柱103断开连接，第二信号弹脚1022与导电柱103电连接，以断开所述射频电路，便于测试探针20与第一信号弹脚1021抵接，对所述射频电路进行测试或者调试。也即，本申请实施例所述的射频测试座可以集成传统射频测试座13和天线弹片15的功能，避免同时在射频电路中设置传统射频测试座13和天线弹片15的操作，从而，可以减少所述射频电路在电路板占据的空间，以提高所述电路板的空间利用效率。

具体地，导电外框101可以采用铜、银等能够导电的金属制成。在所述射频测试座用于电子设备的情况下，所述电子设备内可以设置有电路板，所述电路板可以包括但不局限于印制电路板和柔性电路板中的至少一种。所述电路板中可以设置有接地端，而所述射频测试座的导电外框101可以焊接在所述电路板上的接地端，以实现导电外框101的接地。

如图6所示，测试探针20可以包括外壳201以及设置外壳201内的探针本体202，探针本体202可以通过弹性件203弹性连接于外壳201。如图6所示，在所述射频测试座处于所述测试状态的情况下，测试探针20的外壳201可以固定连接在导电外框101上，以通过导电外框101与所述电路板的接地端连接，实现接地。

在本申请的一种可选实施例中，导电外框101上可以设置有多个第一卡接部1012，多个第一卡接部1012可以环绕容纳空间1011设置，用于卡接测试探针20，以将测试探针20固定在导电外框101上。

具体地，第一卡接部1012上可以形成卡接槽，测试探针20的外壳201的端部则可以设置有外凸的卡接块204，卡接块204的形状可以与所述卡接槽的形状适配，以便于卡接块204嵌设于所述卡接槽内，将测试探针20固定于导电外框101上。

在实际应用中，在需要将测试探针20插入所述射频测试座的情况下，可以将外壳201上的卡接块204卡接在导电外框101的第一卡接部1012上，以将外壳201固定在导电外框101上，以实现外壳201的接地。同时，在弹性件203的弹性作用力下，探针本体202可以往下移动直至与第一信号弹脚1021抵持，下压第一信号弹脚1021，直至第一信号弹脚1021与导电柱102分离，断开天线16与射频匹配模块12之间的电连接，便于测试探针20对射频匹配模块12进行测试和调试。

需要说明的是，本申请实施例的附图中，仅示出了导电外框101上设置有4个第一卡接部1012的情况，而在实际应用中，第一卡接部1012的数量还可以为5个、6个或者8个等，本申请实施例对于第一卡接部1012的数量不做具体限定。

本申请实施例中，绝缘固定件102可以采用塑胶、橡胶等绝缘材料制成。绝缘固定件102可以固定在导电外框101的容纳空间1011内。绝缘固定件102可以用于固定第一信号弹脚1021和第二信号弹脚1022，第一信号弹脚1021和第二信号弹脚1022可以采用铜、银等导电金属制成，具备导电性，而且，具备一定的弹性。

如图5所示，第一信号弹脚1021和第二信号弹脚1022可以设置在绝缘固定件102上相对的两侧，而导电柱103则可以设置在第一信号弹脚1021与第二信号弹脚1022之间的区域的上方，这样，不仅便于将第一信号弹脚1021与射频匹配模块12之间的电连接，以及第二信号弹脚1022与天线调谐模块17之间的电连接。而且，在所述射频测试座处于工作状态下，还可以便于导电柱103与第一信号弹脚1021和第二信号弹脚1022之间的作用力较为均衡，从而，可以提高导电柱103与第一信号弹脚1021和第二信号弹脚1022之间的电连接的稳定性。

当然，在实际应用中，第一信号弹脚1021和第二信号弹脚1022也可以根据实际需要设置在绝缘固定件102上相邻的两侧上，本申请实施例对于第一信号弹脚1021和第二信号弹脚1022在绝缘固定件102上的具体位置可以不做限定。

可选地，绝缘固定件102上还设置有辅助弹脚1023，在所述射频测试座处于所述测试状态的情况下，辅助弹脚1023可以与导电柱103抵持，以向导电柱103提供复位至所述工作状态的弹性回复力。这样，一旦将测试探针20从所述射频测试座上拔出，辅助弹脚1023则可以与第一信号弹性1021、第二信号弹脚1022一起作用于导电柱103，推动导电柱103往上复位至所述工作状态，在所述弹性复位力的作用下，导电柱103可以充当天线弹片的功能，可靠的抵持在天线16上。

在具体地应用中，辅助弹脚1023可以采用具备弹性的金属材料制成，例如，钢片或者铜片等。辅助弹脚1023可以设置在第一信号弹脚1021和第二信号弹脚1022之间，以节约绝缘固定件102的空间，也可以根据实际需要与第一信号弹脚1021或者第二信号弹脚1022并排设置，本申请实施例对于辅助弹脚1023在绝缘固定件102上的位置不做具体限定。

在本申请的一种可选实施例中，导电外框102上还设有多个第二卡接部1013，多个第一卡接部1013环绕容纳空间1011设置，用于卡接绝缘固定件102，提高绝缘固定件102在导电外框101上的连接可靠性。

需要说明的是，本申请实施例的附图中，仅示出了导电外框101上设置有4个第二卡接部1013的情况，而在实际应用中，第二卡接部1013的数量还可以为5个、6个或者8个等，本申请实施例对于第二卡接部1013的数量不做具体限定。

本申请实施例中，导电柱103可以采用铜、银等导电金属制成，导电柱102可以活动连接于绝缘固定件102上，而且，导电柱103的顶部可以用于与天线16电连接，导电柱103的底部可以与第一信号弹脚1021和第二信号弹脚1022相对设置。在导电柱103朝上运动的情况下，导电柱103的顶部可以与天线16电连接，导电柱103的底部可以分别与第一信号弹脚1021和第二信号弹脚1022电连接。以导通射频匹配模块12、天线16以及天线调谐模块17，导通图3所示的射频电路，实现射频信号的传输，同时，第一信号弹脚1021和第二信号弹脚1022可以向导电柱103提供弹性复位力，充当天线弹片的功能，使得导电柱103可以可靠的抵持在天线16上。在导电柱103朝下运动的情况下，导电柱103可以与第一信号弹脚1021分离，断开所述射频电路，以便于测试探针20与第一信号弹脚1021抵接，对射频匹配模块12进行测试或者调试。这样，通过导电柱103的朝向运动和朝下运动，可以使得所述射频测试座在工作状态和测试状态之间切换，充当射频测试座和天线弹片的功能。

在本申请的一些可选实施例中，绝缘固定件102上还可以设置有导向柱1024，导向柱1024可以采用塑胶、硅胶等绝缘材料制成；导电柱103内设置有与导向柱1024相适配的第一通孔1031，导电柱103套接在导向柱1024外，且导电柱103可沿导向柱1024滑动，以使导电柱103活动连接于绝缘固定件102。

具体地，第一通孔1031的内径可以略大于导向柱1024的外径，以便于导电柱103沿导向柱1024滑动。导向柱1024可以用于对导电柱103的滑动进行导向，限制导电柱103仅能够沿导向柱1024的轴向进行滑动，以提高导电柱103在绝缘固定件102上的位置移动精度。

可选地，第一通孔1031的内壁上设置有第一导向件(图中未示出)，导向柱1024与第一通孔1031相对的侧面上设置有第二导向件1025，所述第一导向件与第二导向件1025滑动连接；其中，所述第一导向件和第二导向件1025一者为滑块，另一者设置为滑槽，导电柱103与导向柱1024通过所述滑块与所述滑槽的配合实现滑动连接。

在实际应用中，所述滑槽的长度方向可以与导向柱1024以及导电柱103的轴线方向平行，所述滑块可以嵌设于所述滑槽内且可沿所述滑槽滑动。通过所述滑块与所述滑槽之间的配合，不仅可以限制导电柱103仅能够沿导向柱1024的轴向进行滑动，还可以避免导电柱103沿导向柱1024转动，进一步提高导电柱103在绝缘固定件102上的位置移动精度。

需要说明的是，本申请实施例的附图中，仅示出了在导电柱103上设置有滑槽，并在导向柱1024对应的位置设置滑块的技术方案，而在实际应用中，也可以选择在导电柱103上设置滑块，并在导向柱1024对应的位置设置滑槽的设计，本申请实施例对此不做限定。

可选地，导向柱1024内设置有第二通孔1026；第一信号弹脚1021设置于导向柱1024的底部，导向柱1024上与第一信号弹脚1021相对的位置处设置有第二通孔1026；在所述射频测试座处于所述测试状态时，测试探针20可以穿过第二通孔1026与第一信号弹脚1022抵接，以断开第一信号弹脚1022与导电柱103之间的电连接。

具体地，第二通孔1026可以为圆形孔或者梯形孔中的至少一种，本申请实施例对于第二通孔1026的形状不做具体限定。在便于实施的情况下，如图6所示，第二通孔1026应该尽可能地选用梯形孔+圆形孔的组合，且梯形孔靠近测试探针20深入的一侧设置，以便于测试探针20伸入第二通孔1026。

在本申请的一些可选实施例中，绝缘固定件102还可以设有第一限位块1027和第二限位块1028；其中，第一限位块1027设置在第一信号弹脚1022的下方，第二限位块1028设置在第二信号弹脚1022的下方，第一限位块1027的高度低于第二限位块1028的高度；在所述测试状态，第二限位块1028与第二信号弹脚1022抵接，以通过第二信号弹脚1022限位导电柱103的移动。

具体地，在需要对所述射频电路进行测试的情况下，测试探针20从第二通孔1026插入并与第二通孔1026下方的第一信号弹脚1021抵接，在测试探针20继续向下移动的过程中，导电柱103和第一信号弹脚1021都可以随之往下移动，由于第二限位块1028的高度高于第一限位块1027的高度，导电柱103在往下移动的过程中，会先同第二信号弹脚1022一起与第二限位块1028抵接，在第二限位块1028的限位作用下，导电柱103将无法进一步往下移动。由于第一限位块1027的高度低于第二限位块1028，在测试探针20的弹性作用力下，第一信号弹脚1021可以继续往下运动至与第一限位块1027抵接的位置，实现第一信号弹脚1021与导电柱103的分离。

参照图8，示出了本申请的一种射频测试座处于工作状态时射频信号的传输路径示意图，参照图9，示出了本申请的一种射频测试座处于测试状态时射频信号的传输路径示意图。如图8所示，在所述射频测试座处于工作状态的情况下，导电柱103分别与天线16、第一信号弹脚1021、第二信号弹脚1022电连接，以导通射频匹配模块12、天线16以及天线调谐模块17，射频信号可以按照图8中箭头所示的方向进行传输，即，射频匹配模块12输出的射频信号可以从第一信号弹脚1021输入，并经导电柱103和天线16，最后经第二信号弹脚1022输出至与其连接的天线调谐模块17。如图9所示，在所述射频测试座处于所述测试状态的情况下，导电柱103可以与第一信号弹脚1021分离，以断开所述射频电路，测试探针20与第一信号弹脚1021抵接，对射频匹配模块12进行测试或者调试，射频信号可以按照图9中箭头所示的方向进行传输，即，射频匹配模块12输出的射频信号可以从第一信号弹脚1021输入，并经测试探针20输出至测试设备上，同时，所述射频信号还可以通过测试探针20的外壳201与导电外框101实现接地。

如图3所示，由于射频测试座10可以集成传统射频测试座和天线弹片的功能，因此，测试探针20插入的位置与天线16的位置高度重合，射频信号从测试探针20插入的位置到达天线16的位置时功率损耗即小，负载几乎没有变化，射频信号的指标性能和相位也可能很难发生改变，从而，可以提高天线16的辐射性能较差。

而且，本申请实施例中，由于导电柱103沿绝缘固定件102上下运动的幅度较小，因此，在所述射频测试座应用于电子设备的情况下，无需在电子设备的高度方向预留足够的空间来容纳导电柱103，有利于电子设备的轻薄化设计。而且，采用导电柱103来连接天线16的情况下，在进行射频信号传输时，所述射频信号沿导电柱103走过的路径较短，不易产生寄生电感，从而，可以提升射频信号的传输质量。

综上，本申请实施例所述的射频测试座至少可以包括以下优点：

本申请实施例中，由于所述导电柱活动连接于所述绝缘固定件，测试探针可插入至所述射频测试座中，以使所述射频测试座由工作状态切换至测试状态；在所述射频测试座处于所述工作状态时，所述第一信号弹脚、所述第二信号弹脚均与所述导电柱电连接，以导通射频电路，实现射频信号的传输；在所述射频测试座处于所述测试状态时，所述第一信号弹脚与测试探针抵接，所述第一信号弹脚与所述导电柱断开连接，所述第二信号弹脚与所述导电柱电连接，以断开所述射频电路，便于所述测试探针与所述第一信号弹脚抵接，对所述射频电路进行测试或者调试。也即，本申请实施例所述的射频测试座可以集成传统的射频测试座和天线弹片的功能，避免同时在射频电路中设置射频测试座和天线弹片的操作，从而，可以减少所述射频电路在电路板占据的空间，以提高所述电路板的空间利用效率。

本申请实施例还提供了一种射频电路，如图3所示，本申请实施例所述的射频电路具体可以包括：收发器11、射频匹配模块12、天线16、天线调谐模块17以及射频测试座10；其中，射频匹配模块10的一端与收发器11电连接，另一端与射频测试座10的第一信号弹脚1021电连接；天线16与射频测试座10的导电柱103电连接；天线调谐模块17与射频测试座10的第二信号弹脚1022电连接。测试探针20可插入至所述射频测试座中，以使所述射频测试座由工作状态切换至测试状态；在所述射频测试座处于所述工作状态时，第一信号弹脚1021、第二信号弹脚1022均与导电柱103电连接；在所述射频测试座处于所述测试状态时，第一信号弹脚1021与测试探针20抵接，第一信号弹脚1021与导电柱103断开连接，第二信号弹脚1022与导电柱103电连接。

需要说明的是，本申请实施例中，射频测试座16与前述各实施例中的射频测试座的结构和工作原理都相同，在此不做赘述。

本申请实施例中，由于所述导电柱活动连接于所述绝缘固定件，测试探针可插入至所述射频测试座中，以使所述射频测试座由工作状态切换至测试状态；在所述射频测试座处于所述工作状态时，所述第一信号弹脚、所述第二信号弹脚均与所述导电柱电连接，以导通射频电路，实现射频信号的传输；在所述射频测试座处于所述测试状态时，所述第一信号弹脚与测试探针抵接，所述第一信号弹脚与所述导电柱断开连接，所述第二信号弹脚与所述导电柱电连接，以断开所述射频电路，便于所述测试探针与所述第一信号弹脚抵接，对所述射频电路进行测试或者调试。也即，本申请实施例所述的射频测试座可以集成传统的射频测试座和天线弹片的功能，避免同时在射频电路中设置射频测试座和天线弹片的操作，从而，可以减少所述射频电路在电路板占据的空间，以提高所述电路板的空间利用效率。

本申请实施例还提供了一种电子设备，所述电子设备具体可以包括：上述射频电路。

需要说明的是，本申请实施例中，所述射频电路与前述各实施例中的射频测试座的结构和工作原理都相同，在此不做赘述。

在本申请的一种可选地实施例中，所述电子设备还可以包括：电路板，所述电路板上设置有接地端；其中，所述射频电路中射频测试座与所述接地端电连接。

本申请实施例中，由于所述导电柱活动连接于所述绝缘固定件，测试探针可插入至所述射频测试座中，以使所述射频测试座由工作状态切换至测试状态；在所述射频测试座处于所述工作状态时，所述第一信号弹脚、所述第二信号弹脚均与所述导电柱电连接，以导通射频电路，实现射频信号的传输；在所述射频测试座处于所述测试状态时，所述第一信号弹脚与测试探针抵接，所述第一信号弹脚与所述导电柱断开连接，所述第二信号弹脚与所述导电柱电连接，以断开所述射频电路，便于所述测试探针与所述第一信号弹脚抵接，对所述射频电路进行测试或者调试。也即，本申请实施例所述的射频测试座可以集成传统的射频测试座和天线弹片的功能，避免同时在射频电路中设置射频测试座和天线弹片的操作，从而，可以减少所述射频电路在电路板占据的空间，以提高所述电路板的空间利用效率。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示意性实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

尽管已经示出和描述了本发明的实施例，本领域的普通技术人员可以理解：在不脱离本发明的原理和宗旨的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由权利要求及其等同物限定。

Claims (10)

1.一种射频测试座，其特征在于，所述射频测试座包括：导电外框、绝缘固定件以及导电柱；其中，

所述导电外框上设置有用于容纳所述绝缘固定件的容纳空间；

所述绝缘固定件设置在所述容纳空间内，所述绝缘固定件上设置有第一信号弹脚和第二信号弹脚；所述绝缘固定件还设有第一限位块和第二限位块；其中，所述第一限位块设置在所述第一信号弹脚的下方，所述第二限位块设置在所述第二信号弹脚的下方；

所述导电柱活动连接于所述绝缘固定件，所述导电柱的顶部与天线电连接，所述导电柱的底部与所述第一信号弹脚和所述第二信号弹脚相对设置；

测试探针可插入至所述射频测试座中，通过所述导电柱与所述测试探针的移动，使得所述射频测试座在工作状态和测试状态之间切换；

其中，在所述射频测试座处于所述工作状态时，所述第一信号弹脚、所述第二信号弹脚均与所述导电柱电连接；在所述射频测试座处于所述测试状态时，所述第一信号弹脚与所述测试探针抵接，所述第一信号弹脚与所述导电柱断开连接，所述第二信号弹脚与所述导电柱电连接。

2.根据权利要求1所述的射频测试座，其特征在于，所述绝缘固定件上设置有导向柱；

所述导电柱内设置有与所述导向柱相适配的第一通孔，所述导电柱套接在所述导向柱外，且所述导电柱可沿所述导向柱滑动，以使所述导电柱活动连接于所述绝缘固定件。

3.根据权利要求2所述的射频测试座，其特征在于，所述第一通孔的内壁上设置有第一导向件，所述导向柱与所述第一通孔相对的侧面上设置有第二导向件，所述第一导向件与所述第二导向件滑动连接；其中，

所述第一导向件和所述第二导向件一者为滑块，另一者设置为滑槽，所述导电柱与所述导向柱通过所述滑块与所述滑槽的配合实现滑动连接。

4.根据权利要求2所述的射频测试座，其特征在于，所述第一信号弹脚设置于所述导向柱的底部，所述导向柱上与所述第一信号弹脚相对的位置处设置有第二通孔；

在所述射频测试座处于所述测试状态时，所述测试探针穿过所述第二通孔与所述第一信号弹脚抵接。

5.根据权利要求1所述的射频测试座，其特征在于，所述第一限位块的高度低于所述第二限位块的高度；

在所述测试状态，所述第二限位块与所述第二信号弹脚抵接，以通过所述第二信号弹脚限位所述导电柱的移动。

6.根据权利要求1所述的射频测试座，其特征在于，所述导电外框设置有多个第一卡接部，所述多个第一卡接部环绕所述容纳空间设置，用于卡接所述测试探针。

7.根据权利要求1所述的射频测试座，其特征在于，所述导电外框设有多个第二卡接部，所述多个第二卡接部环绕所述容纳空间设置，用于卡接所述绝缘固定件。

8.根据权利要求1所述的射频测试座，其特征在于，所述绝缘固定件上还设置有辅助弹脚，在所述测试状态，所述辅助弹脚与所述导电柱抵接。

9.一种射频电路，其特征在于，所述射频电路包括：收发器、射频匹配模块、天线、天线调谐模块以及权利要求1至8任一项所述的射频测试座；

其中，所述射频匹配模块的一端与所述收发器电连接，另一端与所述射频测试座的第一信号弹脚电连接；

所述天线与所述射频测试座的导电柱电连接；

所述天线调谐模块与所述射频测试座的第二信号弹脚电连接；

测试探针可插入至所述射频测试座中，通过所述导电柱与所述测试探针的移动，使得所述射频测试座在工作状态和测试状态之间切换；

在所述射频测试座处于所述工作状态时，所述第一信号弹脚、所述第二信号弹脚均与所述导电柱电连接；在所述射频测试座处于所述测试状态时，所述第一信号弹脚与所述测试探针抵接，所述第一信号弹脚与所述导电柱断开连接，所述第二信号弹脚与所述导电柱电连接。

10.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：权利要求9所述的射频电路。