CN117129820A - 射频板、测试组件以及射频板的检测方法 - Google Patents
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Abstract
本申请实施例公开了一种射频板、测试组件以及射频板的检测方法,射频板包括基板,包括安装面和侧边;射频电路,设置于安装面;射频线,设置于安装面,并与射频电路连接;连接部,设置于侧边,连接部通过射频线与射频电路连接,连接部用于与测试端子连接,以测试射频电路。本申请实施例在测试射频板的射频性能时,不用贴装射频连接器,降低射频板的成本。
Description
技术领域
本申请涉及电子技术领域,尤其涉及一种射频板、测试组件以及射频板的检测方法。
背景技术
当前,大部分生产厂商会把通用的核心电路做成模块电路板,可以灵活贴装在不同项目的主电路板上,避免重复开发,节省项目开发时间和成本。模块电路板的侧边大多做成邮票孔形式。具有射频电路的射频板也可以制作成其中一个模块电路板,当需要测试射频电路的射频性能时,需要在射频板上贴装射频连接器。但是射频连接器在工厂测试完射频性能后就不会再使用,造成了资源浪费,增加了射频板的成本。
发明内容
本申请实施例提供一种射频板、测试组件以及射频板的检测方法,在测试射频板的射频性能时,不用贴装射频连接器,降低射频板的成本。
第一方面,本申请实施例提供一种射频板,其包括
基板,包括安装面和侧边;
射频电路,设置于所述安装面;
射频线,设置于所述安装面,并与所述射频电路连接;
连接部,设置于所述侧边,所述连接部通过所述射频线与所述射频电路连接,所述连接部用于与测试端子连接,以测试所述射频电路。
可选的,所述基板的侧边包括多个依次连接的弧形结构,每一个所述弧形结构包括第一弧形端面,所述连接部设置于其中一个所述第一弧形端面,所述测试端子包括测试头,所述测试头包括第二弧形端面,所述第一弧形端面用于和所述第二弧形端面贴合。
可选的,所述第一弧形端面对应的半径不大于所述第二弧形端面对应的半径。
第二方面,本申请实施例提供一种测试组件,其包括:
射频板,所述射频板包括基板、射频电路、射频线和连接部,所述射频电路和射频线设置于所述基板的安装面,所述连接部设置于所述基板的侧边,所述连接部通过所述射频线与所述射频电路连接;
测试端子,用于抵接位于所述基板侧边的连接部,并通过所述连接部连接所述射频板的射频电路;
测试仪器,所述测试仪器连接所述测试端子,以用于测试所述射频电路。
可选的,所述测试端子包括:
测试头,用于抵接射频板侧边的连接部;
测试座,具有容纳空间,所述测试头部分安装于所述容纳空间内;
弹性件,设置于容纳空间内,并设置于所述测试座和所述测试头之间,以使所述测试头可伸缩安装于所述测试座。
可选的,所述测试座包括相对所述测试头的内壁,所述内壁邻接所述测试头,所述测试头能够相对所述内壁移动。
第三方面,本申请实施例提供一种射频板的检测方法,其包括:
获取射频板,所述射频板包括基板、射频电路、射频线和连接部,所述射频电路和射频线设置于所述基板的安装面,所述连接部设置于所述基板的侧边,所述连接部通过所述射频线与所述射频电路连接;
将测试端子抵接所述连接部,通过所述测试端子测试所述射频电路。
可选的,所述测试端子包括测试头、测试座和弹性件,所述测试头通过弹性件可伸缩安装于所述测试座;所述将测试端子抵接所述连接部包括:
将所述测试头和所述连接部相对设置;
移动所述射频板或所述测试端子,以将所述测试头和所述连接部接触;
继续移动所述射频板或所述测试端子,直至所述测试头压缩所述弹性件,以使所述测试端子抵接所述连接部。
可选的,所述基板的侧边包括多个依次连接的弧形结构,每一个所述弧形结构包括第一弧形端面,所述连接部设置于其中一个所述第一弧形端面,所述第一弧形端面具有第一圆心,所述测试端子的测试头包括第二弧形端面,所述第二弧形端面具有第二圆心,所述将所述测试头和所述连接部接触包括:
将所述第一圆心与所述第二圆心对应重合。
可选的,所述将所述测试头和所述连接部相对设置包括:
将所述测试端子沿第一方向放置,所述测试头的伸缩方向沿所述第一方向,所述第一方向为水平方向或竖直方向;
将所述射频板沿所述第一方向放置,并使所述连接部和所述测试头相对设置。
本申请实施例中,射频板的基板包括安装面和侧边,基板的安装面设置有射频电路和射频线,基板的侧边设置有连接部,连接部连接射频线,并通过射频线与射频电路连接,因此通过使用测试端子与位于侧边的连接部连接,即可测试射频电路的射频性能,而不需要额外在安装面贴装射频连接器,不会造成资源的浪费,从而降低了射频板的成本。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例提供的射频板的结构示意图。
图2为本申请实施例提供的射频板和测试端子的结构示意图。
图3为图2所示A部分的局部放大图。
图4为本申请实施例提供的测试组件的结构示意图。
图5为本申请实施例提供的测试端子的结构示意图
图6为本申请实施例提供的第一种射频板的检测方法。
图7为本申请实施例提供的第二种射频板的检测方法。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的,决不作为对本申请及其应用或使用的任何限制。基于本申请中的实施例,本领域技术人员在没有付出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请的保护范围。
在本文中提及“实施例”或“实施方式”意味着,结合实施例或实施方式描述的特定特征、组件或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例,也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是,本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
请参阅图1,图2和图3,图1为本申请实施例提供的射频板的结构示意图,图2为本申请实施例提供的射频板与测试端子的结构示意图,图3为图2所示A部分的局部放大图。本申请实施例中射频板100包括基板110、射频电路120、射频线130和连接部140。其中,基板110包括安装面111和侧边112;射频电路120设置于安装面111;射频线130设置于安装面111,并与射频电路120连接;连接部140设置于侧边112,连接部140与射频线130连接,并通过射频线130与射频电路120连接,连接部140用于与测试端子200连接,以测试射频电路120。
当需要测试射频板100时,可以将测试端子200的一端与连接部140连接,测试端子200的另外一端连接测试仪器300,以测试射频电路120的射频性能。当测试完射频板100时,只需要将测试端子200与连接部140分离,与连接部140断开连接即可。
需要说明的是,当测试完成后,射频板100作为模块化电路贴装在不同的主控板上,连接部140还可以用于与不同的主控板连接,比如可以射频板100可以通过连接部140与主控板进行焊接,以贴装在不同的主控板上,避免重复开发,节省开发时间,降低成本。因此本申请实施例中,射频板100的连接部140在测试阶段和使用阶段可以复用实现不同的功能,在测试阶段时,不需要额外在安装面贴装射频连接器,不会造成资源的浪费,从而降低了射频板的成本。
在一种实施方式中,基板110的侧边112包括多个依次连接的弧形结构,每一个弧形结构包括第一弧形端面150,连接部140设置于第一弧形端面150上,第一弧形端面150用于和测试端子200的第二弧形端面250贴合。
射频板100可以制作成模块电路板,可以贴装在不同的主控板上,节省开发时间和成本,模块电路板的侧边112可以是邮票孔的形状,具体的,基板110的侧边112包括多个依次连接的弧形结构,每一个弧形结构包括第一弧形端面150,连接部140设置于其中一个第一弧形端面150,示例性的,连接部140可以位于第一弧形端面150的中心点。测试端子200包括测试头210,测试头210包括第二弧形端面250,第一弧形端面150用于和第二弧形端面250贴合,使得连接部140与测试端子200充分接触,以保证射频板100进行正常的射频性能测试。当测试完成后,将测试端子200与连接部140分离,连接部140还可以用于与主控板连接,比如可以射频板100可以通过连接部140与主控板进行焊接,以贴装在不同的主控板上,避免重复开发,节省开发时间,降低成本。
测试端子200的测试头210可以为金属材质,测试头210用于与连接部140贴合的部分可以为半球形,半球形包括第二弧形端面250,第一弧形端面150和第二弧形端面250的尺寸和形状可以相匹配,当需要测试射频板100的射频性能时,将连接部140的第一弧形端面150与测试头210的第二弧形端面250贴合设置,以使测试端子200的测试头210与连接部140能够充分接触并连接。
可选的,第一弧形端面150对应的半径不大于第二弧形端面250对应的半径,示例性的,第二弧形端面250对应的半径可以略大于第一弧形端面150对应的半径,由于第二弧形端面250对应的半径略大于第一弧形端面150对应的半径,因此当第一弧形端面150和第二弧形端面250贴合后,第一弧形端面150和第二弧形端面250可以相互挤压,使得测试端子200的测试头210不容易与连接部140分离。需要说明的是,本申请实施例中第一弧形端面150对应的半径也可以大于或等于第二弧形端面250对应的半径,只需要保证测试头210与连接部140抵接即可。
请参考图4和图5,图4为本申请实施例提供的测试组件的结构示意图。图5为本申请实施例提供的测试端子的结构示意图。本申请实施例还提供一种测试组件10,测试组件10包括射频板100,测试端子200和测试仪器300。
射频板100包括基板110、射频电路120、射频线130和连接部140。其中,基板110包括安装面111和侧边112;射频电路120设置于安装面111;射频线130设置于安装面111,并与射频电路120连接;连接部140设置于侧边112,连接部140与射频线130连接,并通过射频线130与射频电路120连接。
测试端子200用于抵接位于射频板100侧边112的连接部140,并通过连接部140连接射频板100的射频电路120。
测试仪器300连接测试端子200,以用于测试射频电路120。可以理解的,测试端子200还可以包括连接线260,测试端子200的测试头210连接连接部140,通过连接部140与射频电路120连接,测试端子200的另外一端通过连接线260连接了测试仪器300,以通过测试仪器300测试射频电路120。
其中,测试端子200包括测试头210、测试座220和弹性件230,测试头210用于抵接基板110侧边112的连接部140;测试座220具有容纳空间240,测试头210部分安装于容纳空间240内;弹性件230设置于容纳空间240内,并设置于测试座220和测试头210之间,以使测试头210可伸缩安装于测试座220。
测试头210可以是金属材质,测试头210可以分为两部分,第一部分为半球形,半球形具有第二弧形端面250,第二弧形端面250用于和设置有连接部140的第一弧形端面150贴合,以使测试头210抵接连接部140,第二部分可以为圆柱形。
弹性件230设置于容纳空间240内,并设置于测试座220和测试头210之间,以使测试头210可伸缩安装于测试座220。
测试座220包括相对测试头210的内壁221,内壁221邻接测试头210,测试头210能够相对内壁221移动。也即,测试座220安装测试头210的开口位置具有与测试头210相对的内壁211,内壁211与测试头210保持接触,但不会卡住测试头210,因此测试头210可以相对内壁211上下伸缩移动。
当测试射频板100时,将测试头210和连接部140相接触,移动射频板100或测试端子200,直至测试头210压缩弹性件230,并让弹性件230产生弹性回复力,此时弹性件230被压缩,位于测试座220以外的测试头210中的一部分被压缩进测试座220,以保证测试头210与连接部140相互抵接,以稳定地进行正常的射频性能测试,测试头210不容易从连接部140脱离,同时只需将位于测试座220以外的测试头210中的一部分压缩进测试座220,使得测试头210与连接部140之间的压力适中,避免在测试时过分挤压对射频板100或测试端子200造成损坏。
请参考图6,图6为本申请实施例提供的第一种射频板的检测方法。检测方法包括:
在101中,获取射频板,射频板包括基板、射频电路、射频线和连接部,射频电路和射频线设置于基板的安装面,连接部设置于基板的侧边,连接部通过射频线与射频电路连接。
在102中,将测试端子抵接连接部,通过测试端子测试射频电路。
本申请实施例中当测试射频板时,可以将测试端子抵接射频板的连接部,以测试射频电路的射频性能。可以理解的,测试端子的一端与连接部连接,测试端子的另外一端可以连接测试仪器,以测试射频电路的射频性能。当射频板测试完成后,只需要将测试端子与连接部分离,以使测试端子与连接部断开连接即可,连接部还可以用于与主控板连接,比如射频板可以通过连接部与主控板进行焊接,以贴装在不同的主控板上,避免重复开发,节省开发时间,降低成本。因此本申请实施例中,射频板的连接部在测试阶段和使用阶段可以复用实现不同的功能,在测试阶段时,不需要额外在安装面贴装射频连接器,不会造成资源的浪费,从而降低了射频板的成本。
请参考图7,图7为本申请实施例提供的第二种检测方法,方法包括:
在201中,获取射频板,射频板包括基板、射频电路、射频线和连接部,射频电路和射频线设置于基板的安装面,连接部设置于基板的侧边,连接部通过射频线与射频电路连接。
获取需要测试的射频板,射频板可以制作成模块电路板,可以贴装在不同的主电路板上,节省开发时间和成本,模块电路板的侧边可以是邮票孔的形状,具体的,射频板的基板侧边包括多个依次连接的弧形结构,每一个弧形结构包括第一弧形端面,连接部设置于其中一个第一弧形端面,示例性的,连接部可以位于第一弧形端面的中心点。
在202中,测试端子包括测试头、测试座和弹性件,测试头通过弹性件可伸缩安装于测试座,将测试端子沿第一方向放置,测试头的伸缩方向沿第一方向,第一方向为水平方向或竖直方向。
本申请实施例中测试端子包括测试头、测试座和弹性件,测试头通过弹性件可伸缩安装于测试座,将测试端子沿第一方向放置,测试头的伸缩方向沿第一方向。示例性的,第一方向可以为水平方向也可以为竖直方向等方向,本申请实施例以第一方向为竖直方向为例。
在203中,将射频板沿第一方向放置,并使连接部和测试头相对设置。
将射频板也沿着第一方向放置,比如射频板也沿着竖直方向,以使连接部和测试头相对设置,比如将连接部与测试头正向相对,通过将射频板和测试端子都沿竖直方向放置,且将连接部和测试头相对设置,可以方便后续连接部和测试头相对移动并抵接。
在204中,移动射频板或测试端子,以将测试头和连接部接触。
连接部与测试头相对设置后,可以移动射频板和测试端子,以将测试头和连接部接触。比如,试端子的测试头包括第二弧形端面,可以将设置有连接部的第一弧形端面贴合测试头的第二弧形端面,以保证测试头和连接部能够充分接触连接。再比如,设置有连接部的第一弧形端面具有第一圆心,测试头的第二弧形端面具有第二圆心,将测试头和连接部接触时,可以将第一圆心与第二圆心对应重合,以保证测试头与连接部对准连接。
在205中,继续移动射频板或测试端子,直至测试头压缩弹性件,以使测试端子抵接连接部。
移动射频板或测试端子,直至测试头压缩弹性件,并让弹性件产生弹性回复力,此时弹性件被压缩,位于测试座以外的测试头中的一部分被压缩进测试座,以保证测试头与连接部相互抵接,以稳定地进行正常的射频性能测试,测试头不容易从连接部脱离,同时,只需将位于测试座以外的测试头中的一部分压缩进测试座,使得测试头与连接部之间的压力适中,避免在测试时过分挤压对射频板或测试端子造成损坏。
本申请实施例中射频板的侧边具有连接部,连接部通过射频线连接射频电路,当需要测试射频板时,将测试端子抵接位于射频板侧边的连接部以完成射频性能的测试。当测试完成后,射频板作为模块化电路可以贴装在不同的主控板上,连接部可以用于与主控板焊接,贴装在不同的主控板上,避免重复开发,节省开发时间,降低成本。因此本申请实施例中,射频板的连接部在测试阶段和使用阶段可以复用实现不同的功能,在测试阶段不需要额外在安装面贴装射频连接器,不会造成资源的浪费,从而降低了射频板的成本。
以上对本申请实施例所提供的射频板、测试组件以及射频板的检测方法进行了详细介绍,本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想;同时,对于本领域的技术人员,依据本申请的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,综上,本说明书内容不应理解为对本申请的限制。
Claims (10)
1.一种射频板,其特征在于,包括:
基板,包括安装面和侧边;
射频电路,设置于所述安装面;
射频线,设置于所述安装面,并与所述射频电路连接;
连接部,设置于所述侧边,所述连接部通过所述射频线与所述射频电路连接,所述连接部用于与测试端子连接,以测试所述射频电路。
2.根据权利要求1所述的射频板,其特征在于,所述基板的侧边包括多个依次连接的弧形结构,每一个所述弧形结构包括第一弧形端面,所述连接部设置于其中一个所述第一弧形端面,所述测试端子包括测试头,所述测试头包括第二弧形端面,所述第一弧形端面用于和所述第二弧形端面贴合。
3.根据权利要求2所述的射频板,其特征在于,所述第一弧形端面对应的半径不大于所述第二弧形端面对应的半径。
4.一种测试组件,其特征在于,包括:
射频板,所述射频板包括基板、射频电路、射频线和连接部,所述射频电路和射频线设置于所述基板的安装面,所述连接部设置于所述基板的侧边,所述连接部通过所述射频线与所述射频电路连接;
测试端子,用于抵接位于所述基板侧边的连接部,并通过所述连接部连接所述射频板的射频电路;
测试仪器,所述测试仪器连接所述测试端子,以用于测试所述射频电路。
5.根据权利要求4所述的测试组件,其特征在于,所述测试端子包括:
测试头,用于抵接射频板侧边的连接部;
测试座,具有容纳空间,所述测试头部分安装于所述容纳空间内;
弹性件,设置于容纳空间内,并设置于所述测试座和所述测试头之间,以使所述测试头可伸缩安装于所述测试座。
6.根据权利要求5所述的测试设备,其特征在于,所述测试座包括相对所述测试头的内壁,所述内壁邻接所述测试头,所述测试头能够相对所述内壁移动。
7.一种射频板的检测方法,其特征在于,包括:
获取射频板,所述射频板包括基板、射频电路、射频线和连接部,所述射频电路和射频线设置于所述基板的安装面,所述连接部设置于所述基板的侧边,所述连接部通过所述射频线与所述射频电路连接;
将测试端子抵接所述连接部,通过所述测试端子测试所述射频电路。
8.根据权利要求7所述的检测方法,其特征在于,所述测试端子包括测试头、测试座和弹性件,所述测试头通过弹性件可伸缩安装于所述测试座;所述将测试端子抵接所述连接部包括:
将所述测试头和所述连接部相对设置;
移动所述射频板或所述测试端子,以将所述测试头和所述连接部接触;
继续移动所述射频板或所述测试端子,直至所述测试头压缩所述弹性件,以使所述测试端子抵接所述连接部。
9.根据权利要求8所述的检测方法,其特征在于,所述基板的侧边包括多个依次连接的弧形结构,每一个所述弧形结构包括第一弧形端面,所述连接部设置于其中一个所述第一弧形端面,所述第一弧形端面具有第一圆心,所述测试端子的测试头包括第二弧形端面,所述第二弧形端面具有第二圆心,所述将所述测试头和所述连接部接触包括:
将所述第一圆心与所述第二圆心对应重合。
10.根据权利要求8所述的检测方法,其特征在于,所述将所述测试头和所述连接部相对设置包括:
将所述测试端子沿第一方向放置,所述测试头的伸缩方向沿所述第一方向,所述第一方向为水平方向或竖直方向;
将所述射频板沿所述第一方向放置,并使所述连接部和所述测试头相对设置。
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2022
- 2022-07-06 CN CN202210798991.7A patent/CN117129820A/zh active Pending
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