CN105025139B - 一种射频测试座和射频测试线缆 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种射频测试座和射频测试线缆，涉及射频测试技术领域，其射频测试方法包括：第一测试装置与第二测试装置通过射频测试座中的连接第一测试装置的第一弹性装置和连接第二测试装置的第二弹性装置进行连接；射频测试线缆的绝缘顶针装置通过顶压所述第二弹性装置，断开射频测试座与第二测试装置连接，以便经由所述射频测试头和所述第一弹性装置对第一测试装置进行测试；射频测试线缆的绝缘顶针装置通过顶压所述第一弹性装置，断开射频测试座与第一测试装置连接，以便经由所述射频测试头和所述第二弹性装置对第二测试装置进行测试。

Description

一种射频测试座和射频测试线缆
技术领域
本发明涉及终端射频测试技术领域，特别涉及一种射频测试座和射频测试线缆。
背景技术
现在所使用的射频测试座，主要是用来测试射频线缆的功率和灵敏度的，当不插入射频测试线缆的时候，信号可以双向流通，如图1所示，带箭头的线是信号线，箭头的方向表示信号的流向，但是，当插入射频测试线缆的时候，信号只能单向导通，如图2和图3分别显示了射频测试座和射频测试线缆的示意图。如图4所示，在测试射频线缆功率的场景，当射频测试线缆连接到射频测试座的时候，射频测试座就是单向导通的，只与射频芯片这边是导通的，与天线这一端是断开的，也就是说，当不插入射频测试线缆的时候，射频测试座里面一个簧片是在图中虚线所在的状态。当插入射频测试线缆的时候，射频测试座中的簧片就从虚线的状态，被往下挤压到了实线这个状态。
也就是说，LTE的终端上在每个射频芯片和天线之间都有一个射频测试座，现有的射频测试座在插上射频测试线缆以后，只有单向导通，如果需要测量天线的S11参数或者史密斯Smith圆图的时候，必须把射频测试座吹掉，把射频测试线缆焊到主板上。这样做有几个缺点：
1、必须破坏主板来制作测试天线无源治具；
2、无源板通常和有源板有一定的差异，我们在无源板上调好天线的驻波和有源板测试的天线性能经常不能一一对应；
3、如果更换主板射频匹配或者更换主板厂家，我们需要重新制作无源板，这样就需要破坏很多主板。
为解决上述问题，本发明提供了一种射频测试座和射频测试线缆。
发明内容
本发明的目的在于提供一种射频测试座和射频测试线缆，解决了现有技术中在不需要破坏主板来制作天线治具时，使得天线无源板和射频有源板可以统一起来的问题。
根据本发明的一个方面，提供了一种射频测试座，包括：
射频测试机座；
固定在所述射频测试机座内的连接装置；
固定在所述射频测试机座内的第一弹性装置和第二弹性装置，分别与所述连接装置弹性连接。
优选地，所述连接装置包括：
金属片；
设置在所述金属片下侧两端的第一接触点和第二接触点。
优选地，所述第一弹性装置与所述连接装置的第一接触点弹性连接，所述第二弹性装置与所述连接装置的第二接触点弹性连接。
根据本发明的另一个方面，提供了一种射频测试线缆，包括：
固定在射频测试线末端的射频测试插头；
安装在所述射频测试插头一侧并长于所述射频测试插头的绝缘顶针装置。
根据本发明的另一个方面，提供了一种手机射频测试设备，包括：
权利要求1-3所述的射频测试座；
权利要求4-6所述的射频测试线缆；
测试模块，用于分别通过射频测试座中的第一弹性装置和第二弹性装置连接的第一测试装置和第二测试装置，利用所述射频测试线缆和所述射频测试座分别进行测试。
优选地，所述测试模块包括：
第一测试子模块，用于利用所述绝缘顶针装置顶压所述第二弹性装置，断开所述射频测试线缆与所述第二测试装置的连接，同时利用所述射频测试插头与所述连接装置相连接，以便经由所述第一弹性装置连接的所述第一测试装置进行测试。
优选地，所述测试模块还包括：
第二测试子模块，用于利用所述绝缘顶针装置顶压所述第一弹性装置，断开所述射频测试线缆与所述第一测试装置的连接，同时利用所述射频测试插头与所述连接装置相连接，以便经由所述第二弹性装置连接的所述第二测试装置进行测试。
优选地，所述绝缘顶针装置顶压所述第二弹性装置时，断开所述第二弹性装置与所述连接装置的第二接触点弹性连接，使得所述射频测试线缆与所述第一测试装置断开。
优选地，所述绝缘顶针装置顶压所述第一弹性装置时，断开所述第一弹性装置与所述连接装置的第一接触点弹性连接，使得所述射频测试线缆与所述第二测试装置断开。
根据本发明的另一个方面，提供了一种手机射频测试方法，包括以下步骤：
第一测试装置与第二测试装置通过射频测试座中的连接第一测试装置的第一弹性装置和连接第二测试装置的第二弹性装置进行连接；
射频测试线缆的绝缘顶针装置通过顶压所述第二弹性装置，断开射频测试座与第二测试装置连接，以便经由所述射频测试头和所述第一弹性装置对第一测试装置进行测试；
射频测试线缆的绝缘顶针装置通过顶压所述第一弹性装置，断开射频测试座与第一测试装置连接，以便经由所述射频测试头和所述第二弹性装置对第二测试装置进行测试。
与现有技术相比较，本发明的有益效果在于：
本发明通过射频测试座和射频测试线缆，使第一测试单元和第二测试单元可以统一起来，不需要破坏主板来制作天线治具，提高了用户体验。
附图说明
图1是现有技术提供的射频测试座的仰视图；
图2是现有技术提供的射频测试座的示意图；
图3是现有技术提供的射频测试线缆的示意图；
图4是现有技术提供的射频测试座和射频测试线缆工作的结构图；
图5是本发明提供的一种射频测试座的示意图；
图6是本发明提供的一种射频测试线缆的示意图；
图7是本发明实施例提供的一种手机射频测试的装置示意图；
图8是本发明实施例提供的一种手机射频测试的方法流程图；
图9是本发明实施例提供的射频测试座进行测试的示意图；
图10是本发明实施例提供的测试射频线缆功率和灵敏度的示意图；
图11是本发明实施例提供的测试手机天线的无源波形的示意图。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的优选实施例进行详细说明，应当理解，以下所说明的优选实施例仅用于说明和解释本发明，并不用于限定本发明。
图5显示了本发明提供的一种射频测试座的示意图，如图5所示，包括：射频测试机座；固定在所述射频测试机座内的连接装置，用于与射频测试线缆相连接；固定在所述射频测试机座内的第一弹性装置和第二弹性装置，分别与所述连接装置弹性连接，用于连接/断开射频测试线缆与第一测试装置和第二测试装置。其中，所述连接装置包括：金属片；设置在所述金属片下侧两端的第一接触点和第二接触点。所述第一弹性装置与所述连接装置的第一接触点弹性连接，所述第二弹性装置与所述连接装置的第二接触点弹性连接。
图6显示了本发明提供的一种射频测试线缆的示意图，如图6所示，包括：固定在射频测试线末端的射频测试插头，用于与所述射频测试座的连接装置相连接；安装在所述射频测试插头一侧并长于所述射频测试插头的绝缘顶针装置，用于顶压所述射频测试座中的第一弹性装置或第二弹性装置。
图7显示了本发明实施例提供的一种手机射频测试的装置示意图，如图7所示，包括：权利要求1-3所述的射频测试座701；权利要求4-6所述的射频测试线缆702；测试模块703，用于分别通过射频测试座中的第一弹性装置和第二弹性装置连接的第一测试装置和第二测试装置，利用所述射频测试线缆和所述射频测试座分别进行测试。具体地说，所述测试模块703包括：第一测试子模块，用于利用所述顶针装置顶压所述第二弹性装置，断开所述射频测试线缆与所述第二测试装置的连接，同时利用所述射频测试插头与所述连接装置相连接，以便经由所述第一弹性装置连接的所述第一测试装置进行测试；具体地说，所述绝缘顶针装置顶压所述第二弹性装置时，断开所述第二弹性装置与所述连接装置的第二接触点弹性连接，使得所述射频测试线缆与所述第一测试装置断开。第二测试子模块，用于利用所述顶针装置顶压所述第一弹性装置，断开所述射频测试线缆与所述第一测试装置的连接，同时利用所述射频测试插头与所述连接装置相连接，以便经由所述第二弹性装置连接的所述第二测试装置进行测试，具体地说，所述绝缘顶针装置顶压所述第一弹性装置时，断开所述第一弹性装置与所述连接装置的第一接触点弹性连接，使得所述射频测试线缆与所述第二测试装置断开。
图8显示了本发明实施例提供的一种手机射频测试的方法流程图，如图8所示，包括以下步骤：
步骤S801：第一测试装置与第二测试装置通过射频测试座中的连接第一测试装置的第一弹性装置和连接第二测试装置的第二弹性装置进行连接；
步骤S802：射频测试线缆的绝缘顶针装置通过顶压所述第二弹性装置，断开射频测试座与第二测试装置连接，以便经由所述射频测试头和所述第一弹性装置对第一测试装置进行测试；
步骤S803：射频测试线缆的绝缘顶针装置通过顶压所述第一弹性装置，断开射频测试座与第一测试装置连接，以便经由所述射频测试头和所述第二弹性装置对第二测试装置进行测试。
图9显示了本发明实施例提供的射频测试座进行测试的示意图，如图9所示，当一边簧片收到硬塑料顶针挤压时，就和中间金属片断开，这路的信号就断开了，另外一路的信号与射频测试线缆导通。
图10显示了本发明实施例提供的测试射频线缆功率和灵敏度的示意图，如图10所示，按照第一方向，将射频测试线缆插入到射频测试座中，使得所述射频测试线缆的射频测试插头与所述射频测试座的金属片相接触，并使所述射频测试线缆的绝缘顶针向下顶压所述射频测试座的第二簧片；利用所述射频测试插头与所述金属片相接触，以及所述绝缘顶针向下顶压所述第二簧片，断开所述射频测试座与所述手机天线的连接，并使所述射频测试线缆经由所述第一簧片连接所述射频无线电收发机，以便对所述射频无线电收发机进行测试。也就是说，连接手机天线这一路的射频测试座中的第二簧片被挤压，所述第二簧片与射频测试座中的金属片断开，使得所述射频测试线缆经由所述第一簧片连接所述射频无线电收发机，以便对所述射频无线电收发机进行测试。
图11显示了本发明实施例提供的测试手机天线的无源波形的示意图，如图11所示，按照第二方向，将射频测试线缆插入到射频测试座中，使得所述射频测试线缆的射频测试插头与所述射频测试座的金属片相接触，并使所述射频测试线缆的绝缘顶针向下顶压所述射频测试座的第一簧片；利用所述射频测试插头与所述金属片相接触，以及所述绝缘顶针向下顶压所述第一簧片，断开所述射频测试座与所述射频无线电收发机的连接，并使所述射频测试线缆经由所述第二簧片连接所述手机天线，以便对所述手机天线进行测试。也就是说，连接所述射频无线电收发机这一路的射频测试座中的第一簧片被挤压，所述第一簧片与射频测试座中的金属片断开，使所述射频测试线缆经由所述第二簧片连接所述手机天线，以便对所述手机天线的S11和Smith圆图进行测试。
此外，本发明只需要把射频测试线转一个方向，就可以实现图10和图11的两种状态了。
综上所述，本发明具有以下技术效果：
本发明通过新型的射频测试座和与之配套的射频测试线缆，使天线无源板和射频有源板可以统一起来，不需要破坏主板来制作天线治具。
尽管上文对本发明进行了详细说明，但是本发明不限于此，本技术领域技术人员可以根据本发明的原理进行各种修改。因此，凡按照本发明原理所作的修改，都应当理解为落入本发明的保护范围。

Claims (8)

1.一种射频测试座，其特征在于，所述射频测试座与射频测试线缆配套使用，所述射频测试线缆包括射频测试插头和安装在所述射频测试插头一侧并长于所述射频测试插头的绝缘顶针装置，所述射频测试座包括：
射频测试机座；
固定在所述射频测试机座内的连接装置，包括在测试时与所述射频测试插头连接的固定在所述射频测试机座内的金属片及设置在所述金属片下侧两端的第一接触点和第二接触点；
固定在所述射频测试机座内的连接第一测试装置的第一弹性装置和连接第二测试装置的第二弹性装置，分别与所述连接装置的所述第一接触点和所述第二接触点弹性连接，在测试时，所述第一弹性装置或所述第二弹性装置受所述绝缘顶针装置顶压，实现对所述第二测试装置或所述第一测试装置的测试。
2.一种射频测试线缆，其特征在于，所述射频测试线缆与射频测试座配套使用，所述射频测试座包括连接第一测试装置的第一弹性装置、连接第二测试装置的第二弹性装置、固定在射频测试机座内的弹性连接所述第一弹性装置和所述第二弹性装置的连接装置，所述射频测试线缆包括：
固定在射频测试线末端的射频测试插头，在测试时，与所述连接装置连接；
安装在所述射频测试插头一侧并长于所述射频测试插头的绝缘顶针装置，在测试时，顶压所述第一弹性装置或所述第二弹性装置，实现对所述第二测试装置或所述第一测试装置的测试。
3.一种手机射频测试设备，其特征在于，包括：
权利要求1所述的射频测试座；
权利要求2所述的射频测试线缆；
测试模块，用于分别通过射频测试座中的第一弹性装置和第二弹性装置连接的第一测试装置和第二测试装置，利用所述射频测试线缆和所述射频测试座分别实现对所述第一测试装置和所述第二测试装置进行测试。
4.根据权利要求3所述的设备，其特征在于，所述测试模块包括：
第一测试子模块，用于利用所述绝缘顶针装置顶压所述第二弹性装置，断开所述射频测试线缆与所述第二测试装置的连接，同时利用所述射频测试插头与所述连接装置相连接，以便经由所述第一弹性装置连接的所述第一测试装置进行测试。
5.根据权利要求4所述的设备，其特征在于，所述测试模块还包括：
第二测试子模块，用于利用所述绝缘顶针装置顶压所述第一弹性装置，断开所述射频测试线缆与所述第一测试装置的连接，同时利用所述射频测试插头与所述连接装置相连接，以便经由所述第二弹性装置连接的所述第二测试装置进行测试。
6.根据权利要求5所述的设备，其特征在于，所述绝缘顶针装置顶压所述第二弹性装置时，断开所述第二弹性装置与所述连接装置的第二接触点弹性连接，使得所述射频测试线缆与所述第一测试装置断开。
7.根据权利要求5所述的设备，其特征在于，所述绝缘顶针装置顶压所述第一弹性装置时，断开所述第一弹性装置与所述连接装置的第一接触点弹性连接，使得所述射频测试线缆与所述第二测试装置断开。
8.一种手机射频测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
第一测试装置与第二测试装置分别通过射频测试座中的连接第一测试装置的第一弹性装置和连接第二测试装置的第二弹性装置进行连接；
射频测试线缆的绝缘顶针装置通过顶压所述第二弹性装置，断开射频测试线缆与第二测试装置连接，以便经由所述射频测试插头和所述第一弹性装置对第一测试装置进行测试；
射频测试线缆的绝缘顶针装置通过顶压所述第一弹性装置，断开所述射频测试线缆与第一测试装置连接，以便经由所述射频测试插头和所述第二弹性装置对第二测试装置进行测试；
其中，所述绝缘顶针装置安装在所述射频测试插头一侧并长于所述射频测试插头。
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