CN105162929A

CN105162929A - 一种测试系统及其应用的测试装置

Info

Publication number: CN105162929A
Application number: CN201510548265.XA
Authority: CN
Inventors: 邓浩浩
Original assignee: Shanghai Feixun Data Communication Technology Co Ltd
Current assignee: Shanghai Feixun Data Communication Technology Co Ltd
Priority date: 2015-08-31
Filing date: 2015-08-31
Publication date: 2015-12-16

Abstract

本发明的一种测试系统及其应用的测试装置，用于对电子设备进行测试的测试系统中，所述测试装置包括：屏蔽盒，以为待测电子设备的测试提供屏蔽的环境；天线，设置于所述屏蔽盒内，用以接收发送给所述待测电子设备的外部测试信号或发射所述待测电子设备的反馈信号；支架，用以支撑待测电子设备，其中，所述支架可调整为令所述待测电子设备处于多个角度的设置。所述支架可根据不同的测试频段而调整为令待测电子设备更好的接收相应测试频段测试信号的方向，同时，天线与支架达到最合理的耦合。

Description

一种测试系统及其应用的测试装置

技术领域

本发明涉及测试领域，特别是涉及一种测试系统及其应用的测试装置。

背景技术

目前的终端频段和制式非常多，生产线需要做天线耦合测试，已确保终端和天线的性能和一致性。由于空间环境和成本的限制，当前耦合测试一般均是采用在屏蔽盒中测试。但是屏蔽盒存在以下问题：

1、由于产线耦合测试属于电磁波的近场测试，不同频段，不同的天线方向性不同，这样就导致在同一位置，不同的终端，不同的频段无法同时满足能判定天线的发射和接收的标准。

2、产线对于不同的终端，不同的天线会制作特殊的耦合箱，特殊的位置，这样就导致耦合测试无法通用的问题。

耦合测试的根本问题是量产的终端不可能每一台均做完整的天线TRP和TIS，只能采用简易耦合屏蔽箱的测试方法，而耦合测试由于属于近场测试，不同的终端，不同的厂家天线又有不同的方向性，无法达到统一。

且现有的近场耦合测试均是针对特殊终端制作特殊的耦合屏蔽箱，对不同的频段不同的制式有一个特殊的位置，换一个项目终端很可能就无法进行耦合测试了。而且在耦合测试时大多只能一个频段一个工位的测试，无法同一个工位完成全频段任意测试。比如5模17频段终端GSM、WCDMA、TDSCDMA、CDMA、LTE需要至少3个测试位完成高中低三个频段的测试，这会增加测试的成本以及降低测试的效率。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种供电装置，用于解决现有技术中不能快速准确的找出导致服务器掉电的供电单元的问题。

为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种测试装置，用于对电子设备进行测试的测试系统中，包括：屏蔽盒，以为待测电子设备的测试提供屏蔽的环境；天线，设置于所述屏蔽盒内，用以接收发送给所述待测电子设备的外部测试信号或发射所述待测电子设备的反馈信号；支架，用以支撑待测电子设备，其中，所述支架可调整为令所述待测电子设备处于多个角度的设置。

可选的，所述天线为全频段天线。

可选的，所述天线为平板天线。

可选的，所述支架可根据测试的频段调整所述电子设备处于相应的角度设置。

可选的，所述支架为可360度旋转以及可上下调整的活动结构。

可选的，所述测试系统为近场耦合测试系统。

可选的，所述天线通过一射频线缆与一综测设备电连接。

可选的，所述待测电子设备为智能手机或平板电脑。

为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种测试系统，包括如上任一项所述的测试装置，以及一与所述天线电连接的综测设备，用以对设置于所述屏蔽盒的支架上的待测电子设备进行测试。

如上所述，本发明的测试系统及其应用的测试装置，用于对电子设备进行测试的测试系统中，所述测试装置包括：屏蔽盒，以为待测电子设备的测试提供屏蔽的环境；天线，设置于所述屏蔽盒内，用以接收发送给所述待测电子设备的外部测试信号或发射所述待测电子设备的反馈信号；支架，用以支撑待测电子设备，其中，所述支架可调整为令所述待测电子设备处于多个角度的设置。所述支架可根据不同的测试频段而调整为令待测电子设备更好的接收相应测试频段测试信号的方向，同时，天线与支架达到最合理的耦合。

附图说明

图1显示为本发明的测试装置在一具体实施例中的结构示意图。

图2显示为本发明的测试系统在一具体实施例中的结构示意图。

元件标号说明

1、21测试装置

11屏蔽盒

12天线

13支架

2测试系统

21综测设备

具体实施方式

以下通过特定的具体实例说明本发明的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本发明的其他优点与功效。本发明还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本发明的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是，在不冲突的情况下，以下实施例及实施例中的特征可以相互组合。

需要说明的是，以下实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本发明的基本构想，遂图示中仅显示与本发明中有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、形状及尺寸绘制，其实际实施时各组件的型态、数量及比例可为一种随意的改变，且其组件布局型态也可能更为复杂。

请参阅图1，显示为本发明的一种测试装置在一具体实施例中的结构示意图。

所述测试装置1应用于对电子设备进行测试的测试系统中，其中，所述测试系统为近场耦合测试系统，所述电子设备例如为智能手机、平板电脑等，所述测试装置1包括屏蔽盒11、天线12、以及支架。

所述屏蔽盒11以为待测电子设备的测试提供屏蔽的环境。

所述天线12设置于所述屏蔽盒11内，用以接收发送给所述待测电子设备的外部测试信号或发射所述待测电子设备的反馈信号；优选的，所述天线12为全频段天线可选的，且更优选的，于本实施例中，所述天线12为平板天线。

所述支架13用以支撑待测电子设备，由于产线耦合测试属于电磁波的近场测试，不同频段，不同的天线方向性不同，这样就导致在同一位置，不同的终端，不同的频段无法同时满足能判定天线的发射和接收的标准。所以，本实施例中，所述支架13可调整为令所述待测电子设备处于多个角度的设置。优选的，所述支架13可根据测试的频段调整所述电子设备处于相应的角度设置，例如所述支架为可360度旋转以及可上下调整的活动结构，以满足全频段的耦合测试。

请参阅图2，显示为本发明的一种测系统在一具体实施例中的结构示意图。

所述测试系统2包括一测试装置21以及一综测设备22，其中所述测试装置21的结构以及应用原理与图1所述实施例中的测试装置1相同，其中，于本实施例中，所述测试装置21中的天线与所述综测设备22通过一射频线缆通信，用以对设置于所述屏蔽盒内的支架上的待测电子设备进行测试，即实现同一个耦合箱，同一个工位能够同时完成任何频段耦合测试。

综上所述，本发明的测试系统及其应用的测试装置，用于对电子设备进行测试的测试系统中，所述测试装置包括：屏蔽盒，以为待测电子设备的测试提供屏蔽的环境；天线，设置于所述屏蔽盒内，用以接收发送给所述待测电子设备的外部测试信号或发射所述待测电子设备的反馈信号；支架，用以支撑待测电子设备，其中，所述支架可调整为令所述待测电子设备处于多个角度的设置。所述支架可根据不同的测试频段而调整为令待测电子设备更好的接收相应测试频段测试信号的方向，同时，天线与支架达到最合理的耦合。所以，本发明有效克服了现有技术中的种种缺点而具高度产业利用价值。

上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效，而非用于限制本发明。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本发明的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰或改变。因此，举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本发明所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变，仍应由本发明的权利要求所涵盖。

Claims

1.一种测试装置，其特征在于，用于对电子设备进行测试的测试系统中，包括：

屏蔽盒，用以为待测电子设备的测试提供屏蔽的环境；

天线，设置于所述屏蔽盒内，用以接收发送给所述待测电子设备的外部测试信号或发射所述待测电子设备的反馈信号；

支架，用以支撑待测电子设备，其中，所述支架可调整为令所述待测电子设备处于多个角度的设置。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述天线为全频段天线。

3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述天线为平板天线。

4.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述支架根据测试的频段调整所述电子设备处于相应的角度设置。

5.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述支架为可360度旋转以及可上下调整的活动结构。

6.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试系统为近场耦合测试系统。

7.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述天线通过一射频线缆与一综测设备电连接。

8.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述待测电子设备为智能手机或平板电脑。

9.一种测试系统，其特征在于，包括如权利要求1～8中任一项所述的测试装置，以及一与所述天线电连接的综测设备，用以对设置于所述屏蔽盒内的支架上的待测电子设备进行测试。