CN104935386B - 终端天线耦合测试系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种终端天线耦合测试系统，包括用于放置待测终端的屏蔽箱、位于屏蔽箱腔室中的可调天线装置，以及用于在指定的天线测试频段获取待测终端的天线性能的综合测试仪，其中，可调天线装置设有与综合测试仪电连接的耦合天线，可调天线装置用于根据待测终端的天线测试频段调整与综合测试仪连接的耦合天线。本发明提出的终端天线耦合测试系统，可避免人工繁琐地逐一调整耦合天线的位置以测量待测终端的天线性能。本终端天线耦合测试系统可大大提高多频段待测终端的天线性能测试过程，同时本终端天线耦合测试系统结构简单、容易实现。

Description

终端天线耦合测试系统

技术领域

本发明涉及测试设备结构技术领域，尤其涉及一种终端天线耦合测试系统。

背景技术

近几十年来，全球通信技术发展日新月异，尤其是近两三年，无线通信技术的发展速度与应用领域已经超过了固定通信技术，呈现出如火如荼的发展态势。其中最具有代表性的有蜂窝移动通信、宽带无线接入，也包括集群通信、卫星通信，以及手机视频业务与技术，这些技术使得无线通讯的产品范畴由移动电话、无线局域网路由器、手提电脑扩展到手机电视、数字相机、无线电视游戏机、GPS（Global Position System，全球定位系统）导航仪和RFID（Radio Frequency Identification Device，无线射频识别）标签等领域。而这些技术中最离不开的就是内置小型化天线。天线在这些产品中发挥着日益重要的作用，天线的质量也决定了这些产品的性能。目前，从生产线上生产出来的产品只有对其天线性能进行更完善地检测，才能保证产品天线的优越性能。

目前，生产时主要通过采用单一宽带平板天线加耦合屏蔽箱进行耦合测试，以检验终端天线的装配及性能。检测产品天线性能的具体方法是：在耦合屏蔽箱里放置一个单一平板天线，然后把终端固定在平板天线的某一位置进行某一频段的耦合测试。

但是，这种检测方法存在以下问题：每一次只能检测某一频段的天线性能，并不能够检验其它频段的天线性能。如果更改成耦合测试所有频段，由于单一平板天线是固定不动的，为了达到良好的耦合效果，必须针对每一个频段调试出一个良好的位置，因此需要终端相对于天线的位置，再进行耦合测试。理论可行的，但是在生产时候可操作性比较差，每测试一频段需调整一次终端位置，测量所有频段需调整多次，因此调试耗时长，产线的测试产能低下。

上述内容仅用于辅助理解本发明的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种终端天线耦合测试系统，旨在提高多频段终端天线耦合测试效率。

为实现上述目的，本发明提供一种终端天线耦合测试系统，包括用于放置待测终端的屏蔽箱、位于所述屏蔽箱腔室中的可调天线装置，以及用于在指定的天线测试频段获取所述待测终端的天线性能的综合测试仪，其中，所述可调天线装置设有与所述综合测试仪电连接的耦合天线，所述可调天线装置用于根据所述待测终端的天线测试频段调整与所述综合测试仪连接的耦合天线。

优选地，所述终端天线耦合测试系统还包括用于根据所述待测终端的天线测试频段的更换、调整所述耦合天线的控制终端，该控制终端与所述可调天线装置电连接。

优选地，所述可调天线装置内设多个与所述待测终端的各个天线测试频段一一对应的耦合天线，所述控制终端控制与所述综合测试仪电连接的耦合天线的切换。

优选地，所述可调天线装置设有与所述控制终端电连接的切换电路，当所述切换电路接收到所述控制终端发送的切换指令时，控制与当前天线测试频段对应的所述耦合天线与所述综合测试仪电连接。

优选地，所述可调天线装置内设有长度可调节的耦合天线，所述控制终端控制所述耦合天线的长度调节。

优选地，所述可调天线装置设有与用于调整所述耦合天线长度的驱动机构，该驱动机构与所述控制终端电连接，当所述驱动机构在接收到所述控制终端发送的切换指令时，控制所述耦合天线长度调整为与当前天线测试频段对应的长度。

优选地，所述可调天线装置上设有用于固定所述待测终端的固定装置。

优选地，所述固定装置与所述待测终端为卡合连接。

优选地，所述控制终端还与所述综合测试仪电连接，所述控制终端还用于控制所述综合测试仪的天线测试频段切换、并相应控制所述耦合天线的切换。

优选地，所述控制终端包括用于存储天线测试频段以及与其对应的所述待测终端的天线性能数据的存储装置。

本发明提出的终端天线耦合测试系统，通过使用可调天线装置，可调天线装置可根据待测终端的天线测试频段调整与综合测试仪连接的耦合天线，从而避免人工繁琐地逐一调整耦合天线的位置以测量待测终端的天线性能，从而可提高产线的天线性能测试产能。本终端天线耦合测试系统可大大提高多频段待测终端的天线性能测试过程，同时本终端天线耦合测试系统结构简单、容易实现。

附图说明

图1为本发明终端天线耦合测试系统第一实施例的结构示意图；

图2为本发明终端天线耦合测试系统第二实施例的结构示意图。

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

参照图1，图1为本发明终端天线耦合测试系统第一实施例的结构示意图。

本发明提出终端天线耦合测试系统的第一实施例。本实施例中，终端天线耦合测试装置包括用于放置待测终端40的屏蔽箱10、位于屏蔽箱10腔室中的可调天线装置20，以及用于在指定的天线测试频段获取待测终端40的天线性能的综合测试仪30，其中，可调天线装置20设有与综合测试仪30电连接的耦合天线21，可调天线装置20用于根据待测终端40的天线测试频段调整与综合测试仪30连接的耦合天线21。

本实施例中，使用射频线连接屏蔽箱10与综合测试仪30，再通过屏蔽箱10内部设置的端子使屏蔽箱10与耦合天线21电连接，从而实现耦合天线21与综合测试仪30电连接。综合测试仪30位于屏蔽箱10的外侧。屏蔽箱10用于屏蔽外部信号，防止外部信号影响测试待测终端40内天线性能，从而提高本终端天线耦合测试系统测得天线性能的精确度。

本实施例中，终端天线耦合测试系统还包括用于根据待测终端40的天线测试频段的更换、调整耦合天线21的控制终端50，该控制终端50与可调天线装置20电连接。通过设置控制终端50从而利于实现终端天线耦合测试系统的自动控制，避免人工手动调节耦合天线21的过程。

具体地，可调天线装置20可以有多种实施方式，本实施例中给出一种具体结构，可调天线装置20内设多个与待测终端40的各个天线测试频段一一对应的耦合天线21，控制终端50控制与综合测试仪30电连接的耦合天线21的切换。每一耦合天线21对应一天线测试频段。每一耦合天线21的位置提前设定。控制终端50可以为电脑等，本发明对此不作限定。电脑可通过USB与可调天线装置20连接。在测量待测终端40的天线效率时，待测终端40辐射测试信号，通过耦合天线21接收，耦合天线21接收后将耦合信号通过射频线将传递至综合测试仪30，综合测试仪30对耦合信号处理得到待测终端40的天线效率。

如以测量处于800MHz、1800MHz、2600MHz频率下待测终端40的天线效率为例具体说明。此时，可调天线装置20内设有三条耦合天线21，分别对应于天线测试频率为800MHz、1800MHz、2600MHz。而传统的终端天线耦合测试系统，在利用某一类型的单一平板天线进行耦合测试时，在频率800MHz、1800MHz、2600MHz处待测终端的天线效率分别为41%、43%、42%。而使用本终端天线耦合测试系统，当综合测试仪30与1800MHz对应的天线连接时，综合测试仪30测得在天线测试频率在800MHz、1800MHz、2600MHz时，待测终端40的天线效率分别为42%、45%、41%。当综合测试仪30与2600MHz对应的天线连接时，当天线测试频率800MHz、1800MHz、2600MHz时，待测终端40天线效率分别为40%、42%、44%。因此，通过对比可以得出：在使用本终端天线耦合测试系统进行耦合测试，能更准确地测试出天线效率，尤其对于检验多频段终端的天线性能更为有效。

本实施例提出的终端天线耦合测试系统，通过使用可调天线装置20，可调天线装置20可根据待测终端40的天线测试频段调整与综合测试仪30连接的耦合天线21，从而避免人工繁琐地逐一调整耦合天线21的位置以测量待测终端40的天线性能，从而可提高产线的天线性能测试产能。本终端天线耦合测试系统可大大提高多频段待测终端40的天线性能测试过程，同时本终端天线耦合测试系统结构简单、容易实现。

具体地，可调天线装置20设有与控制终端50电连接的切换电路，当切换电路接收到控制终端50发送的切换指令时，控制与当前天线测试频段对应的耦合天线21与综合测试仪30电连接。

如当前需要测量频率1800MHz下对应的天线效率，则切换电路控制综合测试仪30与1800MHz对应的耦合天线21连接。如要切换至另一频率测试，则切换电路耦合天线21进行切换。

进一步地，可调天线装置20上设有用于固定待测终端40的固定装置60。

在测试待测终端40时，首先将待测终端40放入屏蔽箱10中，然后，使用固定装置60将待测终端40固定于可调天线装置20上，然后再进行后续的天线性能测试。

本实施例中，通过设置固定装置60将待测终端40固定，从而避免因待测终端40相对于耦合天线21发生相对移动时，而影响待测终端40的天线效率测试精确度。

进一步地，固定装置60与待测终端40为卡合连接。本实施例中，固定装置60为两固定夹，分别用于夹住待测终端40的首端和末段。

本实施例中，设置固定装置60与待测终端40为卡合连接，从而方便待测终端40的安装与拆卸。

进一步地，控制终端50还与综合测试仪30电连接，控制终端50还用于控制综合测试仪30的天线测试频段切换、并相应控制耦合天线21的切换。

本实施例中，控制终端50控制综合测试仪30的天线测试频段切换后，然后再控制连接的耦合天线21切换至对应天线测试频段。如测试800MHz频率时，则控制800MHz频率对应的耦合天线21与综合测试仪30电连接。

本实施例中，控制终端50还与综合测试仪30电连接，从而进一步提高本终端天线耦合测试系统的自动化程度。具体地，本实施例中，控制终端50通过GPIB（General-PurposeInterface Bus，通用接口总线）线与综合测试仪30连接。

进一步地，控制终端50包括用于存储天线测试频段以及与其对应的待测终端40的天线性能数据的存储装置（图中未示出）。

存储装置可将每一天线测试频段对应测试得到的天线性能数据存储，从而方便用户后续查询使用。

参照图2，图2为本发明终端天线耦合测试系统第二实施例的结构示意图。

基于上述第一实施例，提出终端天线耦合测试系统的第二实施例。本实施例与上述实施例不同的是，本实施例中，可调天线装置20内设有长度可调节的耦合天线21，控制终端50控制耦合天线21的长度调节。即通过调整耦合天线21的长度以对应不同的天线测试频段。

每调整一次天线测试频段时，则相应调整耦合天线21的长度调节。如测试800MHz频率下天线效率时，将耦合天线21的长度调整为a；测试1800MHz频率下天线效率时，将耦合天线21的长度调整为b；测试2600MHz频率下天线效率时，将耦合天线21的长度调整为c。

本实施例中，当耦合天线21切换到1800MHz对应的天线长度上时，在频率800MHz、1800MHz、2600MHz时待测终端40的天线效率分别为42%、45%、42%。当耦合天线21切换到2600MHz对应的天线长度上时，在频率800MHz、1800MHz、2600MHz时待测终端40的天线效率分别为42%、42%、46%。而在利用某一类型的单一平板天线进行耦合测试时，在频率800MHz、1800MHz、2600MHz处待测终端40的天线效率分别为41%、43%、42%。因此，对比可知，使用本发明提出的终端天线耦合测试系统进行耦合测试，明显能更准确地测试出天线效率，尤其对于检验多频段终端的天线性能更有效。

具体地，本实施例中，可调天线装置20设有与用于调整耦合天线21长度的驱动机构，该驱动机构与控制终端50电连接，当驱动机构在接收到控制终端50发送的切换指令时，控制耦合天线21长度调整为与当前天线测试频段对应的长度。

当然，在其它变形实施例中，可调天线装置20也可通过其它机构来调整耦合天线21的长度，本发明对此不作限定。

以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (5)

1.一种终端天线耦合测试系统，其特征在于，包括用于放置待测终端的屏蔽箱、位于所述屏蔽箱腔室中的可调天线装置，以及用于在指定的天线测试频段获取所述待测终端的天线性能的综合测试仪，其中，所述可调天线装置设有与所述综合测试仪电连接的耦合天线，所述可调天线装置用于根据所述待测终端的天线测试频段调整与所述综合测试仪连接的耦合天线；所述终端天线耦合测试系统还包括用于根据所述待测终端的天线测试频段的更换、调整所述耦合天线的控制终端，该控制终端与所述可调天线装置电连接；

其中，所述可调天线装置内设有长度可调节的耦合天线和用于调整所述耦合天线长度的驱动机构，所述控制终端控制所述耦合天线的长度调节，该驱动机构与所述控制终端电连接，当所述驱动机构在接收到所述控制终端发送的切换指令时，控制所述耦合天线长度调整为与当前天线测试频段对应的长度。

2.如权利要求1所述的终端天线耦合测试系统，其特征在于，所述可调天线装置上设有用于固定所述待测终端的固定装置。

3.如权利要求2所述的终端天线耦合测试系统，其特征在于，所述固定装置与所述待测终端为卡合连接。

4.如权利要求1所述的终端天线耦合测试系统，其特征在于，所述控制终端还与所述综合测试仪电连接，所述控制终端还用于控制所述综合测试仪的天线测试频段切换、并相应控制所述耦合天线的切换。

5.如权利要求1所述的终端天线耦合测试系统，其特征在于，所述控制终端包括用于存储天线测试频段以及与其对应的所述待测终端的天线性能数据的存储装置。