CN101097234A

CN101097234A - 双测试天线的测试室

Info

Publication number: CN101097234A
Application number: CNA2006100363053A
Authority: CN
Inventors: 杨华青
Original assignee: Mitac Computer Shunde Ltd; Mitac International Corp
Current assignee: Mitac Computer Shunde Ltd; Shunda Computer Factory Co Ltd; Mitac International Corp
Priority date: 2006-06-30
Filing date: 2006-06-30
Publication date: 2008-01-02

Abstract

一种双测试天线的测试室，用以进行一电子装置的电磁波相关测试，主要具有一天线架可选择性装设一测试天线，使电子装置的二电磁波相关测试可共享一测试室，并且能减少搬动测试天线所产生的测试误差。

Description

双测试天线的测试室

【技术领域】

本发明关于一种用以进行电磁波相关测试的测试室，特别是一种双测试天线的测试室。

【背景技术】

随着科技的进步，各式各样地计算机(Computer)、通讯(Communication)和消费性电子(Customer Electronic)的整合系统设备快速发展，以带给人们更方便的生活。然而，随着电子电机设备的相关产品的广泛使用相对造成复杂电磁噪声环境。

因此，所有电子电机设备的相关产品都符合相关的电磁兼容性(Electromagnetic Compatibility；EMC)标准和规范，才能进行销售。电磁兼容测试分为电磁干扰及电磁耐受度测试，于是在产品的整个研发过程中，就必须反复进行电磁干扰及电磁耐受度测试，以验证其是否符合相关的EMC标准和规范，进而找出产品设计及生产过程中EMC上的盲点，以使生产的电子电机设备的相关产品都符合相关的EMC标准和规范。

故促使EMC测试场地的快速成长，目前，在较大规模的信息厂都趋向自行筹建EMC测试室(chamber)，以节省成品并加速产生研发。

此外，随着无线电信通讯技术与无线数据通讯技术，许多产品都还具备无线传输功能，例如：手机、无线网络卡、蓝芽、无线鼠标、无线键盘、桥接器、路由器及其它无线产品等，此些产品除了需进行EMC测试还需进行射频(radio-frequency；RF)测试，以测试其电磁波的收发功能是否正常。由于架构一间测试室所需非用相当庞大，因此为节省生产成本，大部分的测试室多是EMC测试和RF测试共享。

请参照图1，图1为现有的测试室，主要包括一隔离室110、一测试桌120、一测试天线130和数个吸波材料(Absorber)140。测试天线130朝向测试桌120且相距一既定距离而摆置在隔离室110中，并且在隔离室110的内侧壁面上覆盖吸波材料140。此隔离室110具有提供屏蔽效果，可降低外界的电磁干扰。测试桌120用以摆置待测的电子装置102。测试天线130可发射测试讯号，以进行测试。而吸波材料140可吸收射向隔离室110的内侧壁面的测试讯号，以防止四周壁面反射测试讯号而造成干扰。在测试时，测试人员将待测的电子装置102摆置在测试桌120上，然后，根据欲测试的电磁波相关测试种类而摆置测试天线130，即是当欲进行EMC测试时则设置EMC测试用的测试天线130，而当欲进行RF测试时则设置RF测试用的测试天线130。然后再借由测试天线130进行此待测的电子装置102的EMC测试或RF测试。

也就是说，在现有的测试室中，测试人员会在测试时更换测试天线以进行EMC测试或RF测试，然而RF测试的灵敏度相当高，即使是些许移动亦会对测试结果造成相当大的差异，因此所得到的测试结果易被质疑其准确性。

【发明内容】

鉴于以上的问题，本发明的主要目的在于提供一种双测试天线的测试室，借以大体上解决先前技术所存在的问题。

本发明所揭露的双测试天线的测试室，可减少搬动测试天线所产生的测试误差。

本发明所揭露的双测试天线的测试室，可使射频测试和电磁兼容性测试共享一测试室。

本发明所揭露的双测试天线的测试室，可降低研发及生产成本。

因此，为达上述目的，本发明所揭露的双测试天线的测试室，用以进行一电子装置的电磁波相关测试，其包括：一隔离室、一测试桌、一第一测试天线、一天线架和数个吸波材料。

因此测试桌、第一测试天线、天线架和吸波材料均设置在隔离室内，且此隔离室具有屏蔽效果，可降低外界的电磁干扰。其中，测试桌、天线架和第一测试天线依序设置在隔离室内，且第一测试天线与测试桌之间以及天线架与测试桌之间分别相距第一和第二既定距离，而此第一和第二既定距离由进行测试的电磁波相关测试类别的相关标准和规范所定义。因此，天线架可用以选择性装设一第二测试天线。

当天线架未装设第二测试天线时，摆置在测试桌上的电子装置借由第一测试天线进行电磁波相关测试；反之，当天线架有装设第二测试天线时，摆置在测试桌上的电子装置则借由第二测试天线进行电磁波相关测试。且吸波材料会设置在隔离室的内侧壁面，以避免隔离室的内侧壁面反射测试用的电磁波。

因此，第一测试天线和天线架固定在隔离室的内侧底面上，并且在第一测试天线和天线架的底座上设置吸波材料。

其中，天线架的顶部具有一凹槽并且在第二测试天线的底部具有可与凹槽密合的一插栓，因此可将插栓插入凹槽中以稳固地装设第二测试天线。或者是，在第二测试天线的底部亦具有一凹槽，而天线架则借由一插栓来装设第二测试天线，并且此插栓的两端分别与天线架和第二测试天线上的凹槽密合的。

另外，测试桌具有一转动装置，以转动测试桌来进行电子装置个方向的测试。

有关本发明的特征与实作，兹配合图示作最佳实施例详细说明如下。

【附图说明】

图1为说明现有的测试室的概要架构图。

图2为说明根据本发明的第一实施例的双测试天线的测试室的概要架构图。

图3为说明图2中的天线架装设一实施例的第二测试天线的示意图。

图4为说明图2中的天线架装设另一实施例的第二测试天线的示意图。

图5为说明根据本发明的第二实施例的双测试天线的测试室的概要架构图。

图6为说明根据本发明的第三实施例的双测试天线的测试室的概要架构图。

【具体实施方式】

以下举出具体实施例以详细说明本发明的内容，并以图示作为辅助说明。说明中提及的符号参照图式符号。

请参照图2，为根据本发明一实施例的双测试天线的测试室，用以进行一电子装置的电磁波相关测试，主要包括一隔离室210、一测试桌220、一第一测试天线230、数个吸波材料(Absorber)240和一天线架250。测试桌120、天线架250和第一测试天线230依序设置在隔离室210中。其中，第一测试天线230与测试桌120相距一第一既定距离D1，且天线架250亦与测试桌120相距一第二既定距离D2，其中此第一和第二既定距离D1、D2由进行测试的电磁波相关测试类别的相关标准和规范所定义。并且在隔离室210的内侧壁面上设置吸波材料240。此隔离室210具有屏蔽效果，可降低外界的电磁干扰。测试桌220用以摆置待测的电子装置202。第一测试天线230可发射第一测试讯号，借以进行待测的电子装置202的测试。而吸波材料240可吸收射向隔离室210的内侧壁面的测试讯号，以防止四周壁面反射测试讯号而造成干扰。其中，第一测试天线230和天线架250可借由各种固定装置来固定于隔离室210的地面，以避免位置偏移而影响到测试结果，并且在其底座上亦设置吸波材料240以避免固定装置反射测试讯号而造成干扰。天线架250可用以架设第二测试天线，并在未架设第二测试天线可以吸波材料240覆盖。并且，天线架250的高度低在地面上的吸波材料240的高度。

另外，可在第一测试天线230和天线架250的底座上可利用L形支撑铁片来加强其支撑强度。

第一测试天线230可为灵敏性高的测试天线，如，射频(radio-frequency；RF)测试天线。而利用天线架250架设的第二测试天线可为一电磁兼容性(Electromagnetic Compatibility；EMC)测试天线。

此外，此测试桌220可借由一转动装置而转动，因此当进行测试时不需移动摆置在测试桌220的待测的电子装置202即可借由测试桌220转动待测的电子装置202而改变待测的电子装置202的方向以进行各个方向的待测的电子装置202的测试。

其中，在天线架250的顶部具有一凹槽252，且此凹槽252具有一定的深度。而在第二测试天线260的底部可为一插栓262，且此插栓262可插入凹槽252内并与凹槽252密合，借以稳固地架设第二测试天线260，如图3所示。

或者是，在天线架250的顶部和第二测试天线260的底部分别具有一凹槽252、264，且此二凹槽252、264均具有一定的深度。可借由一插栓254两端分别插入二凹槽252、264内并与二凹槽252、264密合，借以稳固地架设第二测试天线260，如图4所示。

举例来说，假设第一测试天线为一RF测试天线，而第二天线为一EMC测试天线。当欲进行一电子装置的RF测试时，测试人员会先确认天线架是否有装设EMC测试天线，当有架设时则将EMC测试天线取下并取出测试室，并将天线架以吸波材料覆盖，接着再将待测试的电子装置摆置在测试桌上，即可借由RF测试天线进行此电子装置的RF测试。而当欲进行一电子产品的EMC测试时，测试人员会先确认天线架是否有装设EMC测试天线，当未架设时则将EMC测试天线架设在天线架上，接着再将待测试的电子产品摆置在测试桌上，即可借由EMC测试天线进行此电子装置的EMC测试。

另外，此测试室以可具有一第一定位器270，设置相对于测试桌220的中心的隔离室210的内侧上壁面，而覆盖在壁面上的吸波材料240会避开此定位器270而摆设，如图5所示。此第一定位器可用以确认待测的电子装置202摆放在测试桌220上的位置。

除此之外，测试桌220相对于第一测试天线230的一侧的隔离室210的内侧壁面上可再设置一第二定位器272，同样地覆盖在壁面上的吸波材料240会避开此第二定位器272而摆设，如图6所示。借由二定位器270、272的搭配使用可更加确定待测的电子装置202摆放在测试桌220上的位置及方向。

此二定位器270、272可为一雷射光源，用以发出点状或线状的一雷射光线。在测试时，以此二定位器270、272所发出的雷射光线作为二基准线，因而在摆放待测的电子装置202时可参考此二基准线来确认待测的电子装置202的摆放位置与方向。

Claims

1、一种双测试天线的测试室，用以进行一电子装置的电磁波相关测试，其特征在于其包括：

一隔离室，具有屏蔽效果；

一测试桌，设置在该隔离室内，用以摆置该电子装置；

一第一测试天线，设置在该隔离室内且与该测试桌相距一第一既定距离；

一天线架，设置在该测试桌和该第一测试天线之间且与该测试桌相距一第二既定距离，用以选择性装设一第二测试天线，其中，当该天线架未装设该第二测试天线时，该电子装置借由该第一测试天线进行电磁波相关测试；以及当该天线架装设该第二测试天线时，该电子装置借由该第二测试天线进行电磁波相关测试；

数个吸波材料，设置在该隔离室的内侧壁面，用以避免该隔离室的内侧壁面反射测试用的电磁波。

2、根据权利要求1所述的双测试天线的测试室，其特征在于：该天线架的顶部具有一凹槽，且在该第二测试天线的底部具有可与该凹槽密合的一插栓。

3、根据权利要求1所述的双测试天线的测试室，其特征在于：该天线架的顶部和该第二测试天线的底部分别具有一凹槽，并且该天线架可借由两端分别与该凹槽密合的一插栓来装设该第二测试天线。

4、根据权利要求1所述的双测试天线的测试室，其特征在于：该测试桌具有一转动装置，以转动该测试桌。

5、根据权利要求1所述的双测试天线的测试室，其特征在于：该第一测试天线和该天线架固定在该隔离室的内侧底面上，并且在该第一测试天线和该天线架的底座上设置该吸波材料。

6、根据权利要求1所述的双测试天线的测试室，其特征在于：该第一测试天线为一射频测试天线。

7、根据权利要求1所述的双测试天线的测试室，其特征在于：该第二测试天线为一电磁兼容性测试天线。

8、根据权利要求1所述的双测试天线的测试室，其特征在于：该第一测试天线和该天线架的底座上具有数个L形铁片，以强化该第一测试天线和该天线，并且在该第一测试天线和该天线架的底座上设置该吸波材料。

9、根据权利要求1所述的双测试天线的测试室，其特征在于：该第一和第二既定距离由进行的电磁波相关测试的相关标准和规范所定义。

10、根据权利要求1所述的双测试天线的测试室，其特征在于：其还包括：

一第一定位器，设置在相对该测试桌中心的该隔离室的内侧上壁面，借以确定该电子装置在该测试桌的摆放位置。

11、根据权利要求1所述的双测试天线的测试室，其特征在于：其还包括：

一第一定位器，设置在相对该测试桌中心的该隔离室的内侧上壁面，借以确定该电子装置在该测试桌的摆放位置；以及

一第二定位器，设置在该测试桌相对该第一测试天线的另一侧的该隔离室的内侧壁面，借以确定该电子装置在该测试桌的摆放位置及方向。