CN207301269U - 一种rfid标签测试箱 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种RFID标签测试箱，包括箱体和多个RFID读写装置，所述箱体包括上端开口的矩形箱和盖板，盖板设置在矩形箱上端开口处，所述盖板与矩形箱铰接，所述盖板预留有多个RFID读写装置安装孔，矩形箱的两个相互平行的第一侧板和第二侧板上预留有多个RFID读写装置安装孔，所述矩形箱内部的底板上放置有第一实验台，第一实验台用于放置待测RFID标签且第一实验台外侧包裹有一层吸波材料。本实用新型测试箱的体积远远小于传统微波暗室的体积，同时具有更高的准确性和可比较性，价格低廉，可操作性强。可以根据需要选择安装不同位置的RFID读写装置，分别安装各个部位的读写器以及天线可以得到RFID标签的不同性能参数。
Description
技术领域
本实用新型涉及射频识别领域，具体涉及一种RFID标签测试箱。
背景技术
相比于早期直接测试移动标签下RFID性能，传送带的电磁辐射会造成干扰影响阅读器天线的工作，因此，现在经常采用测量其读写电场强度值的方法来检测标签性能，进而获得相对准确的测试结果。RFID标签性能测试主要在自由空间或者微波暗室中进行。微波暗室造价昂贵，成本过高；自由空间下干扰较多，极易对标签性能测试造成干扰。因此需要一种相对简单，廉价，测试精度相对较高的测试设备，
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是提供一种操作简单，成本低廉的RFID标签测试箱。
本实用新型解决上述技术问题的技术方案如下：
一种RFID标签测试箱，包括箱体和多个RFID读写装置，所述箱体包括上端开口的矩形箱和盖板，盖板设置在矩形箱上端开口处，所述盖板与矩形箱铰接，且用于打开或关闭矩形箱的上端开口，所述矩形箱的第三侧面的竖直中心线上还设置有电场强度测试仪，所述电场强度测试仪用于测试矩形箱内的电场强度，所述矩形箱的底板上放置有第一实验台，所述第一实验台用于放置待测RFID标签，所述第一实验台放置在电场强度测试仪的正前方，所述盖板上设置有第一RFID读写装置，所述第一RFID读写装置位于第一实验台正上方，所述第三侧面两侧的第一侧板和第二侧板上分别设置有第二RFID读写装置和第三RFID读写装置，所述第二RFID读写装置和第三RFID读写装置相对于第一实验台对称设置，且与第一实验台位于同一水平线上。
进一步的，第一侧板和第二侧板还分别设置有第四RFID读写装置和第五RFID读写装置，所述第四RFID读写装置和第五RFID读写装置相对于矩形箱对称设置，所述矩形箱的底板上还放置有第二实验台。
进一步的，所述底板上设置有坐标纸，第一实验台和第二实验台放置在坐标纸上，所述坐标纸用于显示第一实验台和第二实验台的坐标位置。
进一步的，所述第一实验台和第二实验台外表面包裹有一层吸波材料。
进一步的，所述盖板上还设置有多个RFID读写装置。
进一步的，所有RFID读写装置均安装在箱体的安装孔上，所有RFID读写装置均包括RFID读写器和天线，所有天线均设置在箱体内侧，所有RFID读写器均设置在箱体外侧，且所有RFID读写装置与箱体之间均为可拆卸连接。
进一步的，所有安装孔均设置有配套的封闭塞，所有封闭塞外表面均包裹有一层吸波材料。
进一步的，所述箱体内侧和外侧均贴有吸波材料。
本实用新型的有益效果为：本实用新型测试箱的体积远远小于传统微波暗室的体积，价格低廉，可操作性强。箱体内侧和外侧均贴有吸波材料，可以减少外部电磁干扰以及内部电磁折射，进而避免影响RFID标签性能的测试结果，得到的测试结果具有更高的准确性和可比较性。箱体中还放置有第二实验台，第二实验台中可放置另一个RFID标签，可用于测量两组标签耦合情况下标签性能参数。本实用新型的RFID读写装置与矩形箱之间均为可拆卸连接，因此可以根据需要选择安装不同位置的RFID读写装置，分别安装各个部位的读写器以及天线可以得到两组标签耦合情况下标签性能参数，进而可以用于测定多组标签间距离和角度对RFID标签性能影响。箱体的各个安装孔均配有配套的封闭塞，可以在不安装RFID读写装置时利用封闭塞封闭安装孔，确保箱体的密封性和检测结果的准确性。
附图说明
图1为本实用新型的立体结构示意图；
图2为本实用新型的俯视结构示意图；
图3为箱体立体结构示意图。
附图中，各标号所代表的部件列表如下：
1、矩形箱；2、盖板；3、第一实验台；4、坐标纸；5、电场强度测试仪；6、第二实验台；11、第一侧板；12、第二侧板；13、底板；14、第三侧板；21、第一RFID读写装置；22、第二RFID读写装置；23、第三RFID读写装置；24、第四RFID读写装置；25、第五RFID读写装置
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型的原理和特征进行描述，所举实例只用于解释本实用新型，并非用于限定本实用新型的范围。
如图1-图3所示，一种RFID标签测试箱，包括箱体和多个RFID读写装置，所述箱体包括上端开口的矩形箱1和盖板2，盖板2设置在矩形箱1上端开口处，所述盖板2与矩形箱1铰接，且用于打开或关闭矩形箱1的上端开口，所述矩形箱1的第三侧面14的竖直中心线上还设置有电场强度测试仪5，所述电场强度测试仪5用于测试矩形箱1内的电场强度，所述矩形箱1的底板13上放置有第一实验台3，所述第一实验台3用于放置待测RFID标签，所述第一实验台3放置在电场强度测试仪5的正前方，所述盖板2上设置有第一RFID读写装置21，所述第一RFID读写装置21位于第一实验台3正上方，所述第三侧面14两侧的第一侧板11和第二侧板12上分别设置有第二RFID读写装置22和第三RFID读写装置23，所述第二RFID读写装置22和第三RFID读写装置23相对于第一实验台3对称设置，且与第一实验台位于同一水平线上。
第一侧板11和第二侧板12还分别设置有第四RFID读写装置24和第五RFID读写装置25，所述第四RFID读写装置24和第五RFID读写装置25相对于矩形箱1对称设置，所述矩形箱1的底板13上还放置有第二实验台6。
所述底板13上设置有坐标纸4，第一实验台3和第二实验台6放置在坐标纸4上，所述坐标纸4用于显示第一实验台3和第二实验台6的坐标位置。
所述第一实验台3和第二实验台6外表面均包裹有一层吸波材料。
所述盖板2上还设置有多个RFID读写装置。
所有RFID读写装置均安装在箱体的安装孔上，所有RFID读写装置均包括RFID读写器和天线，所有天线均设置在箱体内侧，所有RFID读写器均设置在箱体外侧，且所有RFID读写装置与箱体之间均为可拆卸连接。
所有安装孔均设置有配套的封闭塞，所有封闭塞外表面均包裹有一层吸波材料。
所述箱体内侧和外侧均贴有吸波材料。
第一侧板11和第二侧板12还分别设置有第四RFID读写装置24和第五RFID读写装置25，所述第四RFID读写装置24和第五RFID读写装置25相对于矩形箱1对称设置，所述矩形箱1的底板13上还放置有第二实验台6。
所述底板13上设置有坐标纸4，第一实验台3和第二实验台6放置在坐标纸4上，所述坐标纸4用于显示第一实验台3和第二实验台6的坐标位置。
所述第一实验台3和第二实验台6外表面均包裹有一层吸波材料。
所述盖板2上还设置有多个RFID读写装置，所有RFID读写装置均安装在箱体的安装孔上，所有RFID读写装置均包括RFID读写器和天线，所有天线均设置在箱体内侧，所有RFID读写器均设置在箱体外侧，且所有RFID读写装置与箱体之间均为可拆卸连接。
所有安装孔均设置有配套的封闭塞，所有封闭塞外表面均包裹有一层吸波材料。所述箱体内侧和外侧均贴有吸波材料。
本实施例中，箱体和封闭塞均为为亚克力材料制成，箱体的尺寸为400mm×400mm×400mm，本实用新型测试箱的体积远远小于传统微波暗室的体积，价格低廉，可操作性强。箱体内侧和外侧均贴有吸波材料，所有封闭塞外表面均包裹有一层吸波材料，本实施例中，吸波材料为软性电磁波吸收膜，吸波材料可以减少外部电磁干扰以及内部电磁折射，进而避免影响RFID标签性能的测试结果，测试结果具有更高的准确性和可比较性。
本实施例中，本实施例在箱体的第一侧板和第二侧板上预留了两组安装孔，其中一组孔位用于安装第二RFID读写装置和第三RFID读写装置，另一组孔位用于安装第四RFID读写装置和第五RFID读写装置。
箱体顶部的盖板上预留了4个安装孔，每个安装孔均可安装一个RFID读写装置，安装时，每个RFID读写装置的天线均安装在箱体内侧，RFID读写器均安装在箱体外侧。
对待测RFID标签测试时，首先将待测RFID标签放至第一实验台内，安装盖板上的第一RFID读写装置，合上盖板，利用上位机对RFID读写器进行读操作或者写操作，在利用电场强度测试仪测试待测RFID标签的读标签最小电场强度值、写标签最小电场强度值、最大操作电场强度值和存活电场强度值，之后取下第一RFID读写装置，利用封闭塞封闭第一RFID读写装置的安装孔，安装第一侧板和第二侧板上的第二RFID读写装置和第三RFID读写装置，利用电场强度测试仪测试待测RFID标签的抗干扰能力。
然后在第二实验台内放入干扰RFID标签，测量两组标签耦合情况下标签性能参数，先将第二实验台放入底板上的坐标纸上的某一位置，利用坐标纸确定待测RFID标签和干扰RFID标签之间的距离和角度，分别安装箱体上的RFID读写装置，通过侧板以及盖板上不同位置的RFID读写器发射功率传输给RFID标签，可通过上位机获取不同方位的RFID读写器对应的最小读写功率值。再移动第二实验台，改变干扰RFID标签和待测RFID标签之间的相对距离以及角度，重复上述步骤，可得到同一RFID读写器对应的待测RFID标签和干扰RFID标签的不同间距和角度下的最小读写功率值，以及不同方位的RFID读写器对应的待测RFID标签和干扰RFID标签在相同角度和间距下的最小读写功率值。
本实用新型测试箱的体积远远小于传统微波暗室的体积，价格低廉，可操作性强。箱体内侧和外侧均贴有吸波材料，可以减少外部电磁干扰以及内部电磁折射，进而避免影响RFID标签性能的测试结果，得到的测试结果具有更高的准确性和可比较性。箱体中还放置有第二实验台，第二实验台中可放置另一个RFID标签，可用于测量两组标签耦合情况下标签性能参数。本实用新型的RFID读写装置与矩形箱之间均为可拆卸连接，因此可以根据需要选择安装不同位置的RFID读写装置，分别安装各个部位的读写器以及天线可测试两组标签耦合情况下标签性能参数，进而可以用于测定多组标签间距离和角度对RFID标签性能影响。箱体的各个安装孔均配有配套的封闭塞，可以在不安装RFID读写装置时利用封闭塞封闭安装孔，确保箱体的密封性和检测结果的准确性。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种RFID标签测试箱，其特征在于，包括箱体和多个RFID读写装置，所述箱体包括上端开口的矩形箱(1)和盖板(2)，盖板(2)设置在矩形箱(1)上端开口处，所述盖板(2)与矩形箱(1)铰接，且用于打开或关闭矩形箱(1)的上端开口，所述矩形箱(1)的第三侧面(14)的竖直中心线上还设置有电场强度测试仪(5)，所述电场强度测试仪(5)用于测试矩形箱(1)内的电场强度，所述矩形箱(1)的底板(13)上放置有第一实验台(3)，所述第一实验台(3)用于放置待测RFID标签，所述第一实验台(3)放置在电场强度测试仪(5)的正前方，所述盖板(2)上设置有第一RFID读写装置(21)，所述第一RFID读写装置(21)位于第一实验台(3)正上方，所述第三侧面(14)两侧的第一侧板(11)和第二侧板(12)上分别设置有第二RFID读写装置(22)和第三RFID读写装置(23)，所述第二RFID读写装置(22)和第三RFID读写装置(23)相对于第一实验台(3)对称设置，且与第一实验台位于同一水平线上。
2.根据权利要求1所述的RFID标签测试箱，其特征在于，第一侧板(11)和第二侧板(12)还分别设置有第四RFID读写装置(24)和第五RFID读写装置(25)，所述第四RFID读写装置(24)和第五RFID读写装置(25)相对于矩形箱(1)对称设置，所述矩形箱(1)的底板(13)上还放置有第二实验台(6)。
3.根据权利要求2所述的RFID标签测试箱，其特征在于，所述底板(13)上设置有坐标纸(4)，第一实验台(3)和第二实验台(6)放置在坐标纸(4)上，所述坐标纸(4)用于显示第一实验台(3)和第二实验台(6)的坐标位置。
4.根据权利要求1所述的RFID标签测试箱，其特征在于，所述第一实验台(3)和第二实验台(6)外表面均包裹有一层吸波材料。
5.根据权利要求1所述的RFID标签测试箱，其特征在于，所述盖板(2)上还设置有多个RFID读写装置。
6.根据权利要求1-5中任一项所述的RFID标签测试箱，其特征在于，所有RFID读写装置均安装在箱体的安装孔上，所有RFID读写装置均包括RFID读写器和天线，所有天线均设置在箱体内侧，所有RFID读写器均设置在箱体外侧，且所有RFID读写装置与箱体之间均为可拆卸连接。
7.根据权利要求6所述的RFID标签测试箱，其特征在于，所有安装孔均设置有配套的封闭塞，所有封闭塞外表面均包裹有一层吸波材料。
8.根据权利要求1所述的RFID标签测试箱，其特征在于，所述箱体内侧和外侧均贴有吸波材料。
Priority Applications (1)
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| CN201721350130.3U CN207301269U (zh) | 2017-10-18 | 2017-10-18 | 一种rfid标签测试箱 |
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| CN108828430B (zh) * | 2018-06-01 | 2020-09-11 | 北京智芯微电子科技有限公司 | 超高频rfid标签芯片的多同测可靠性的测试系统及方法 |
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