CN101097235A

CN101097235A - 具定位装置的测试室

Info

Publication number: CN101097235A
Application number: CNA2006100363087A
Authority: CN
Inventors: 杨华青
Original assignee: Mitac Computer Shunde Ltd; Mitac International Corp
Current assignee: Mitac Computer Shunde Ltd; Shunda Computer Factory Co Ltd; Mitac International Corp
Priority date: 2006-06-30
Filing date: 2006-06-30
Publication date: 2008-01-02

Abstract

一种具定位装置的测试室，用以进行一电子装置的电磁波相关测试，包括：一隔离室、一测试桌、一测试天线、一定位装置以及数个吸波材料，其中此定位装置具有一个以上的定位器，可借由定位器来决定电子装置或测试天线的摆放位置和方向，以减少因摆放位置不同而产生的测试结果的差异。

Description

具定位装置的测试室

【技术领域】

本发明关于一种用以进行电磁波相关测试的测试室，特别是一种具定位装置的测试室。

【背景技术】

随着科技的进步，各式各样地计算机(Computer)、通讯(Communication)和消费性电子(Customer Electronic)的整合系统设备快速发展，以带给人们更方便的生活。然而，随着电子电机设备的相关产品的广泛使用相对造成复杂电磁噪声环境。

因此，所有电子电机设备的相关产品都符合相关的电磁兼容性(Electromagnetic Compatibility；EMC)标准和规范，才能进行销售。电磁兼容测试分为电磁干扰及电磁耐受度测试，于是在产品的整个研发过程中，就必须反复进行电磁干扰及电磁耐受度测试，以验证其是否符合相关的EMC标准和规范，进而找出产品设计及生产过程中EMC上的盲点，以使生产的电子电机设备的相关产品都符合相关的EMC标准和规范。

此外，随着无线电信通讯技术与无线数据通讯技术，许多产品都还具备无线传输功能，例如：手机、无线网络卡、蓝芽、无线鼠标、无线键盘、桥接器、路由器及其它无线产品等，此些产品除了需进行EMC测试还需进行射频(radio-frequency；RF)测试，以测试其电磁波的收发功能是否正常。由于架构一间测试室所需费用相当庞大，因此为节省生产成本，大部分的测试室多是EMC测试和RF测试共享。

请照图1，图1为现有的测试室，主要包括一隔离室110、一测试桌120、一测试天线130和数个吸波材料(Absorber)140。测试天线130朝向测试桌120且相距一既定距离而摆置在隔离室110中，并且在隔离室110的内侧壁面上覆盖吸波材料140。此隔离室110具有提供屏蔽效果，可降低外界的电磁干扰。测试桌120用以摆置待测的电子装置102。测试天线130可发射测试讯号，以进行测试。而吸波材料140可吸收射向隔离室110的内侧壁面的测试讯号，以防止四周壁面反射测试讯号而造成干扰。在测试时，测试人员将待测的电子装置102摆置在测试桌120上，然后，根据欲测试的电磁波相关测试种类而摆置测试天线130，即是当欲进行EMC测试时，则设置EMC测试用的测试天线130，而当欲进行RF测试时，则设置RF测试用的测试天线130。然后再借由测试天线130进行此待测的电子装置102的EMC测试或RF测试。

也就是说，在现有的测试室中，测试人员会在测试时更换测试天线以进行EMC测试或RF测试，并且在摆放待测的电子装置或更换测试天线时，多以目测或拉线的方式来确认电子装置或测试天线的摆放位置。然而，以目测方式来确认时，容易造成不同测试人员所摆放的位置会有所差异，进而使测试结果产生人为误差。虽然，借由拉线的方式可较目测准确，由于此方法需在每次测试都需拉一次线因此相当麻烦，并且在反复拉线的过程中也容易发生人为疏失。因此，此些方式不是易使测试结果产生人为误差就是相当麻烦，进而造成测试结果受到质疑或是耗费许多时间在测试上等问题产生。

【发明内容】

鉴于以上的问题，本发明的主要目的在于提供一种具定位装置的测试室，可以大体上解决先前技术所存在的问题。

本发明所揭露的具定位装置的测试室，可定位待测的电子装置的摆放位置。

本发明所揭露的具定位装置的测试室，可定位测试天线的摆放位置。

本发明所揭露的具定位装置的测试室，可减少因摆放位置不同而产生的测试结果的差异。

因此，为达上述目的，本发明所揭露的具定位装置的测试室，用以进行一电子装置的电磁波相关测试，包括：一隔离室、一测试桌、一测试天线、一定位装置和数个吸波材料。

因此，隔离室具有屏蔽效果，且测试桌、测试天线、定位装置和吸波材料均设置在此隔离室内。其中，测试天线与测试桌相距一既定距离，且用以执行电子装置的电磁波相关测试。而定位装置可用以决定电子装置的摆放位置和方向以及在更换测试天线时决定测试天线的摆放位置和方向。并且，再进行电子装置的电磁波相关测试时，设置在隔离室的内侧壁面上的吸波材料可吸收射向隔离室的壁面的电磁波，以避免产生反射。

因此，此定位装置可具有一个以上的定位器。

当定位装置具有一定位器时，此定位器可设置在相对测试桌中心的隔离室的内侧上壁面，以决定电子装置的摆放位置和方向。

当定位装置具有二定位器时，此些定位器可分别设置在相对测试桌中心的隔离室的内侧上壁面，以及设置在测试桌相对测试天线的另一侧的隔离室的内侧壁面，以决定电子装置的摆放位置和方向和测试天线的摆放位置和方向。

而当定位装置具有三定位器时，此些定位器则分别设置在相对测试桌中心的隔离室的内侧上壁面、设置在测试桌相对测试天线的另一侧的隔离室的内侧壁面，以及设置在相对测试天线的隔离室的内侧上壁面，以决定电子装置的摆放位置和方向和测试天线的摆放位置和方向。

有关本发明的特征与实作，兹配合图示作最佳实施例详细说明如下。

【附图说明】

图1为说明现有的测试室的概要架构图。

图2为说明根据本发明的第一实施例的具定位装置的测试室的概要架构图。

图3为说明根据本发明的第二实施例的具定位装置的测试室的概要架构图。

图4为说明根据本发明的第三实施例的具定位装置的测试室的概要架构图。

【具体实施方式】

以下举出具体实施例以详细说明本发明的内容，并以图示作为辅助说明。说明中提及的符号参照图式符号。

请参照图2、图3、图4，为根据本发明一实施例的具定位装置的测试室，用以进行一电子装置的电磁波相关测试，主要包括一隔离室210、一测试桌220、一测试天线230、数个吸波材料(Absorber)240和一定位装置。测试桌120和测试天线230设置在隔离室210内，且彼此相距一既定距离D，其中此既定距离D由进行测试的电磁波相关测试类别的相关标准和规范所决定。在隔离室210的内侧壁面上设置吸波材料240。待测的电子装置202根据定位装置而摆置在测试桌220上，以借由测试天线230来进行待测的电子装置202的电磁波相关测试。此隔离室210具有屏蔽效果，可降低外界的电磁干扰，且吸波材料240可吸收射向隔离室210的内侧壁面的测试讯号，以防止四周壁面反射测试讯号而造成干扰。

其中，此定位装置可为一定位器250，设置相对于测试桌220的中心的隔离室210的内侧上壁面，而覆盖在壁面上的吸波材料240会避开此定位器250而摆设，如图2所示。此定位器250可用以决定待测的电子装置202的摆放位置与方向。

此外，此定位装置可为二定位器250、252，其中的一定位器250设置相对于测试桌220的中心的隔离室210的内侧上壁面，而另一定位器252设置在测试桌220相对于测试天线230的一侧的隔离室210的内侧壁面上，同样地覆盖在壁面上的吸波材料240会避开此二定位器250、252而设置，如图3所示。因此，定位器250、252可用以决定待测的电子装置202的摆放位置与方向，而定位器252则可在更换待测天线230时用以决定待测天线230的摆放位置与方向。

另外，此定位装置可为三定位器250、252、254，其中定位器250设置相对于测试桌220的中心的隔离室210的内侧上壁面，定位器252设置在测试桌220相对于测试天线230的一侧的隔离室210的内侧壁面上，而定位器254设置相对于测试天线230的支撑架的隔离室210的内侧上壁面，并且覆盖在壁面上的吸波材料240会避开此些定位器250、252、254而设置，如图4所示。因此，定位器250、252可用以决定待测的电子装置202的摆放位置与方向，而定位器252、254则可在更换待测天线230时用以决定待测天线230的摆放位置与方向。

因此，定位器250、252、254可为雷射光源，用以发出点状或线状的一雷射光线。在测试时，将此些定位器250、252、254所发出的雷射光线作为基准线，而在摆放待测的电子装置202或更换待测天线230时可参考此些基准线来确认摆放位置与方向。

因此，测试天线230可为一射频(radio-frequency；RF)测试天线，或者为一电磁兼容性(Electromagnetic Compatibility；EMC)测试天线，以进行待测的电子装置的RF测试或EMC测试。

此外，此测试桌220可借由一转动装置而转动，因此当进行测试时不需移动摆置在测试桌220的待测的电子装置202即可借由测试桌220转动待测的电子装置202而改变待测的电子装置202的方向以进行各个方向的待测的电子装置202的测试。

另外，在测试天线230的底座上可利用L形支撑铁片来加强其支撑强度。

举例来说，假设定位装置包括二定位器。当欲进行一电子装置的RF测试时，测试人员会将RF测试天线根据定位装置摆放在隔离室内，同时根据定位装置将待测试的电子装置摆置在测试桌上，即可进行电子装置的RF测试。而当欲进行一电子产品的EMC测试时，测试人员会将EMC测试天线根据定位装置摆放在隔离室内，同时根据定位装置将待测试的电子装置摆置在测试桌上，即可进行电子装置的EMC测试。

Claims

1、一种具定位装置的测试室，用以进行一电子装置的电磁波相关测试，其特征在于其包括：

一隔离室，具有屏蔽效果；

一测试桌，设置在该隔离室内，用以摆置该电子装置；

一测试天线，设置在该隔离室内且与该测试桌相距一第一既定距离，用以执行该电子装置的电磁波相关测试；

一定位装置，具有一个以上的定位器，设置在该隔离室的内侧壁面上，用以决定该电子装置的摆放位置和方向以及选择性决定该测试天线的摆放位置和方向；

数个吸波材料，设置在该隔离室的内侧壁面，用以避免该隔离室的内侧壁面反射测试用的电磁波。

2、根据权利要求1所述的具定位装置的测试室，其特征在于：当该定位器为一定位器，该定位器设置在相对该测试桌中心的该隔离室的内侧上壁面，以决定该电子装置的摆放位置和方向。

3、根据权利要求2所述的具定位装置的测试室，其特征在于：该定位器为一雷射光源，以产生一雷射光线。

4、根据权利要求3所述的具定位装置的测试室，其特征在于：该雷射光线为点状。

5、根据权利要求3所述的具定位装置的测试室，其特征在于：该雷射光线为线状。

6、根据权利要求1所述的具定位装置的测试室，其特征在于：当该定位器为二定位器，该定位器分别设置在相对该测试桌中心的该隔离室的内侧上壁面，以及设置在该测试桌相对该测试天线的另一侧的该隔离室的内侧壁面，以决定该电子装置的摆放位置和方向和该测试天线的摆放位置和方向。

7、根据权利要求6所述的具定位装置的测试室，其特征在于：该定位器为一雷射光源，以产生一雷射光线。

8、根据权利要求7所述的具定位装置的测试室，其特征在于：该雷射光线为点状。

9、根据权利要求7所述的具定位装置的测试室，其特征在于：该雷射光线为线状。

10、根据权利要求1所述的具定位装置的测试室，其特征在于：当该定位器为三定位器，该定位器分别设置在相对该测试桌中心的该隔离室的内侧上壁面、设置在该测试桌相对该测试天线的另一侧的该隔离室的内侧壁面，以及设置在相对该测试天线的该隔离室的内侧上壁面，以决定该电子装置的摆放位置和方向和该测试天线的摆放位置和方向。

11、根据权利要求10所述的具定位装置的测试室，其特征在于：该定位器分别为一雷射光源，以产生一雷射光线。

12、根据权利要求11所述的具定位装置的测试室，其特征在于：该雷射光线为点状。

13、根据权利要求11所述的具定位装置的测试室，其特征在于：该雷射光线为线状。

14、根据权利要求1所述的具定位装置的测试室，其特征在于：该测试桌具有一转动装置，以转动该测试桌。

15、根据权利要求1所述的具定位装置的测试室，其特征在于：该测试天线的底座上具有数个L形铁片，以强化该测试天线，并且在该测试天线和该天线架的底座上设置该吸波材料。

16、根据权利要求1所述的具定位装置的测试室，其特征在于：该既定距离由进行的电磁波相关测试的相关标准和规范所决定。

17、根据权利要求1所述的具定位装置的测试室，其特征在于：该测试天线为一射频测试天线。

18、根据权利要求1所述的具定位装置的测试室，其特征在于：该测试天线为一电磁兼容性测试天线。