CN202166399U - 一种垂直度测量治具 - Google Patents
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Abstract
一种垂直度测量治具,该治具包括:一固定待检测产品的标准块,该标准块具有一个安装待检测产品的表面、与表面平行的底面以及与表面、底面均垂直的垂直面;一标准平台,在标准平台上安装有一垂直杆,标准块位于标准平台上;一安装于垂直杆上的千分表一,该千分表检测触头竖直向下设置;一安装于垂直杆上的千分表二,该千分表检测触头与标准平台平面平行。与现有技术相比,本实用新型采用成本低、简洁并且易于操作的治具对产品的垂直度进行检测,检测效率得到了大大提高,更利于该类产品的快速、批量检测。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种检测治具,具体地说是一种垂直度测量治具。
背景技术
对于具有垂直度精度要求的产品而言,特别是大批量的小五金产品而言,对于该垂直度的检测成为影响生产效率和质量的瓶颈。而目前企业一般采用三次元检测仪来进行检验,由于三次元检测仪价格昂贵,一般企业难以购置多台仪器进行检验作业,同时采用三次元检测仪检测效率低,不能满足企业生产线高速生产对检验的高效的要求。
实用新型内容
有鉴于此,本实用新型要解决的技术问题是提供一种测量方便快速、检测成本低的垂直度测量治具。
由此,本实用新型采用如下方案实现:
一种垂直度测量治具,该治具包括:
一固定待检测产品的标准块,该标准块具有一个安装待检测产品的表面、与表面平行的底面以及与表面、底面均垂直的垂直面;
一标准平台,在标准平台上安装有一垂直杆,标准块位于标准平台上;
一安装于垂直杆上的千分表一,该千分表检测触头竖直向下设置;
一安装于垂直杆上的千分表二,该千分表检测触头与标准平台平面平行。
其中,在标准平台上设置有固定待检测产品的定位销。
与现有技术相比,本实用新型采用成本低、简洁并且易于操作的治具对产品的垂直度进行检测,检测效率得到了大大提高,更利于该类产品的快速、批量检测。
附图说明
图1为本实用新型实施例标准块结构示意图;
图2为本实施例标准平台、垂直杆以及千分表一安装结构示意图;
图3为本实施例千分表二测量产品时与标准块位置结构示意图。
具体实施方式
为便于本领域技术人员的理解,下面结合附图以及实施例对本实用新型作进一步详细描述。
本实施例揭示的垂直度测量治具可快速地测量产品的垂直度,甚至是产品多个位置的垂直度。
详细如附图1所示,该治具包括一用于固定待检测产品的标准块1,该标准块1为具有一表面11、底面12以及垂直面13的正六面体,其中表面11上固定两个定位销14,待检测产品通过定位销14完全定位于标准块1上。当然,根据产品的结构、形状不同,也可以采用其他结构形式实现定位,如磁铁吸附定位等。
再如附图2所示,该治具还包括一标准平台2,在标准平台3上安装有一垂直杆3,该标准平台3为具有标准平面的平台,垂直杆3与标准平台3相垂直,标准块2承载待检测产品位于标准平台3上。并且,在垂直杆3上安装有一的千分表一4,该千分表一4的检测触头竖直向下设置。
同时,该治具还配套有一千分表二5,该千分表二5同样安装于垂直杆3上,其检测触头与标准平台3平面平行。
下面接合具体产品对本实用新型检测原理进行描述。以如附图所示的待检测产品6为例,该产品6具有一个下底面61以及两个侧壁62,设计要求两个侧壁62相对于下底面61具有一定的垂直度。测量时,首先将待检测产品固定于标准块1上,并将标准块1放置于标准平台2上,首先调整千分表一4,使千分表一4的检测触头与下底面61接触,并移动标准块1,由此测量出该下底面61的平面度。再将标准块1转动90度、使其垂直面13贴于标准平台3上,该状态下待检测产品的侧壁62与标准平台3平行,然后调整千分表二5,使千分表二5的检测触头与侧壁62接触,移动标准块1,由此测量出该侧壁62的平面度。下底面61和侧壁62的平面度相加即可得出该两部分的垂直度。同样的方法也可以测算出下底面61与另一侧壁62的垂直度。
除此之外,具体实施时,为了节省该治具的制作成本,千分表二可直接利用现有的带有千分表的高度计代替,同样可以达到相同的目的。
上述实施例仅为本实用新型的较佳实施方式,需要说明的是,基于此构思下存在其他显而易见的变换形式,该类变换形式均为本实用新型的权利要求保护范围之内。
Claims (2)
1.一种垂直度测量治具,其特征在于,该治具包括:
一固定待检测产品的标准块(1),该标准块具有一个安装待检测产品的表面(11)、与表面平行的底面(12)以及与表面、底面均垂直的垂直面(13);
一标准平台(2),在标准平台上安装有一垂直杆(3),标准块位于标准平台上;
一安装于垂直杆上的千分表一(4),该千分表检测触头竖直向下设置;
一安装于垂直杆上的千分表二(5),该千分表检测触头与标准平台平面平行。
2.根据权利要求1所述的垂直度测量治具,其特征在于:在标准平台上设置有固定待检测产品的定位销(14)。
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CN104596410A (zh) * | 2015-01-13 | 2015-05-06 | 北京航天控制仪器研究所 | 一种六面体高精度形位测量装置及方法 |
CN113791134A (zh) * | 2021-07-23 | 2021-12-14 | 厦门市承谱科学仪器有限公司 | 基质辅助激光解析飞行时间质谱仪的靶面调平与校准方法 |
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GR01 | Patent grant | ||
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Granted publication date: 20120314 Termination date: 20190727 |