CN113791134A - 基质辅助激光解析飞行时间质谱仪的靶面调平与校准方法 - Google Patents

基质辅助激光解析飞行时间质谱仪的靶面调平与校准方法 Download PDF

Info

Publication number
CN113791134A
CN113791134A CN202110840233.2A CN202110840233A CN113791134A CN 113791134 A CN113791134 A CN 113791134A CN 202110840233 A CN202110840233 A CN 202110840233A CN 113791134 A CN113791134 A CN 113791134A
Authority
CN
China
Prior art keywords
target
leveling
standard
matrix
mass spectrometer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202110840233.2A
Other languages
English (en)
Inventor
黄昊
刘兰
廖若杭
张爱权
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Xiamen Chengdu Scientific Instruments Co ltd
Original Assignee
Xiamen Chengdu Scientific Instruments Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Xiamen Chengdu Scientific Instruments Co ltd filed Critical Xiamen Chengdu Scientific Instruments Co ltd
Priority to CN202110840233.2A priority Critical patent/CN113791134A/zh
Publication of CN113791134A publication Critical patent/CN113791134A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/62—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode
    • G01N27/64—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode using wave or particle radiation to ionise a gas, e.g. in an ionisation chamber
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B5/00—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/02—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring length, width or thickness
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
    • H01J49/34—Dynamic spectrometers
    • H01J49/40—Time-of-flight spectrometers

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Abstract

基质辅助激光解析飞行时间质谱仪的靶面调平与校准方法，包括以下步骤：1)将可调悬臂的一端可旋转地安装于调平基座上，可调悬臂的另一端与千分表连接，然后在标准平面上校准千分表读值；2)将标准靶板置于靶板平台上，调平基座轻放在调平基准面上，使千分表触碰标准靶板靶面；3)读取千分表数值并旋转靶板平台底部的调节螺钉，调整标准靶板靶面高度；4)重复步骤3)，调整底部的调节螺钉，使靶面达到标准高度且与调平基准面平行；5)通过上位机采集图谱数据与标准图谱数据进行对比，调节仪器电参数，校正靶面高度误差。该方法不但使样品靶的安装变得更加快捷，同时也减小后续频繁更换靶板带来的误差，保证仪器的分辨率和质量轴稳定性。

Description

基质辅助激光解析飞行时间质谱仪的靶面调平与校准方法
技术领域
本发明涉及质谱仪领域，尤其涉及基质辅助激光解析飞行时间质谱仪的靶面调平与校准方法。
背景技术
基质辅助激光解析飞行时间质谱仪(MALDI-TOFMS)是近年来发展起来的一种新型的软电离生物质谱，具有灵敏度高、准确度高和分辨率高等特点，为生命科学等领域提供了一种强有力的分析测试手段。MALDI-TOFMS主要由两部分组成：基质辅助激光解析离子源(MALDI)和飞行时间质量分析器(TOF)。基本原理是将样品分散在基质分子中并形成晶体。当用激光照射晶体时，基质从激光中吸收能量，样品解吸附，基质-样品之间发生电荷转移，导致样品被解析电离。电离的样品在电场作用下飞过真空的飞行管，根据到达检测器的飞行时间不同而被检测，即通过离子的质量电荷之比(M/Z)与离子的飞行时间成正比来分析离子，并测得样品分子的分子量。
基质辅助激光解析飞行时间质谱仪使用二维移动平台进行多次采样控制，具有速度快、高效率的特点，但也对靶板的安装、调平提出了要求。靶板倾斜或是未至标准高度，均会对检测结果产生干扰。
发明内容
本发明的目的在于解决现有技术中的上述问题，提供基质辅助激光解析飞行时间质谱仪的靶面调平与校准方法。
为达到上述目的，本发明采用如下技术方案：
基质辅助激光解析飞行时间质谱仪的靶面调平与校准方法，包括以下步骤：
1)将可调悬臂的一端可旋转地安装于调平基座上，可调悬臂的另一端与千分表连接，然后在标准平面上校准千分表读值；
2)将标准靶板置于靶板平台上，调平基座轻放在调平基准面上，使千分表触碰标准靶板靶面；
3)读取千分表数值并旋转靶板平台底部的调节螺钉，调整标准靶板靶面高度；
4)重复步骤3)，调整底部的调节螺钉，使靶面达到标准高度且与调平基准面平行。
5)使用基质辅助激光解析飞行时间质谱仪采集靶板上的标准样品图谱数据；
6)使用上位机将步骤5)所采集的图谱数据与标准图谱数据对比，调节仪器电参数，校正后续采集数据。
所述可调悬臂可在水平面150°扇形范围内自由旋转。
所述千分表可在低于调平基准面16mm至30mm范围内测量。
所述调节螺钉设有三个，均布于靶板平台的底部。
在步骤4)中，三个调节螺钉的高度极差不大于0.003mm。
在步骤5)中，需在标准靶板上中心对称地取四个采样点进行采样操作。
所述千分表采用高精度数显千分表。
相对于现有技术，本发明技术方案取得的有益效果是：
本发明使得基质辅助激光解析电离飞行时间质谱仪的靶板安装操作快捷、精确，解决后续换靶带来的误差，提高仪器的识别率。
附图说明
图1为本发明调平装置的结构示意图；
图2为靶面安装误差对基质辅助激光解析飞行时间质谱仪的影响示意图；
图3为进行数据校正的采样点选择示意图。
具体实施方式
为了使本发明所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚、明白，以下结合附图和实施例，对本发明做进一步详细说明。
如图1所示，本发明调平装置包括可调悬臂、调平基座和高精度数显千分表，将可调悬臂的一端可旋转地安装于调平基座上，可调悬臂的另一端与高精度数显千分表连接，调平装置即安装完成。本实施例中，所述可调悬臂可在水平面150°扇形范围内自由旋转；所述千分表可在低于调平基准面16mm至30mm范围内测量。
本发明基质辅助激光解析飞行时间质谱仪的靶面调平方法，包括以下步骤：
1、安装调平装置，然后在大理石测平板上校准千分表读值；
2、如图1所示，将标准靶板置于靶板平台上，调平基座轻放在调平基准面上，在标准靶板的靶面上选取与底部调节螺钉相适应的三个坐标点，并使高精度数显千分表测头分别触碰三点的靶面；
3、读取千分表数值并旋转靶板平台底部的调节螺钉，调整标准靶板的靶面高度；
4、重复步骤3，调整底部的三个调节螺钉，使得三个坐标点的高度达到标准且极差不大于0.003mm。
如图3所示，在靶板上中心对称地取四个采样点：C3、C10、F3、F10，使用基质辅助激光解析飞行时间质谱仪进行标准样品采样操作。
如图2所示，靶板安装倾斜或是未至标准高度，均会使离子到达检测器的时间发生变化，从而使检测结果产生干扰。故在上位机中将上述C3、C10、F3、F10四点采集的图谱数据分别与标准图谱数据对比，调节仪器电参数，从而改变离子飞行条件，校正后续采集数据，消除靶板安装误差带来的干扰。
本发明方法不但使样品靶的安装变得更加快捷，同时也减小后续频繁更换靶板带来的误差，保证仪器的分辨率和质量轴稳定性。

Claims (7)

1.基质辅助激光解析飞行时间质谱仪的靶面调平与校准方法，其特征在于包括以下步骤：
1)将可调悬臂的一端可旋转地安装于调平基座上，可调悬臂的另一端与千分表连接，然后在标准平面上校准千分表读值；
2)将标准靶板置于靶板平台上，调平基座轻放在调平基准面上，使千分表触碰标准靶板靶面；
3)读取千分表数值并旋转靶板平台底部的调节螺钉，调整标准靶板靶面高度；
4)重复步骤3)，调整底部的调节螺钉，使靶面达到标准高度且与调平基准面平行；
5)使用基质辅助激光解析飞行时间质谱仪采集靶板上的标准样品图谱数据；
6)使用上位机将步骤5)所采集的图谱数据与标准图谱数据对比，调节仪器电参数，校正后续采集数据。
2.如权利要求1所述的基质辅助激光解析飞行时间质谱仪的靶面调平与校准方法，其特征在于：所述可调悬臂可在水平面150°扇形范围内自由旋转。
3.如权利要求1所述的基质辅助激光解析飞行时间质谱仪的靶面调平与校准方法，其特征在于：所述千分表可在低于调平基准面16mm至30mm范围内测量。
4.如权利要求1所述的基质辅助激光解析飞行时间质谱仪的靶面调平与校准方法，其特征在于：所述调节螺钉设有三个，均布于靶板平台的底部。
5.如权利要求4所述的基质辅助激光解析飞行时间质谱仪的靶面调平与校准方法，其特征在于：在步骤4)中，三个调节螺钉的高度极差不大于0.003mm。
6.如权利要求1所述的基质辅助激光解析飞行时间质谱仪的靶面调平与校准方法，其特征在于：在步骤5)中，需在标准靶板上中心对称地取四个采样点进行采样操作。
7.如权利要求1所述的基质辅助激光解析飞行时间质谱仪的靶面调平与校准方法，其特征在于：所述千分表采用高精度数显千分表。
CN202110840233.2A 2021-07-23 2021-07-23 基质辅助激光解析飞行时间质谱仪的靶面调平与校准方法 Pending CN113791134A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202110840233.2A CN113791134A (zh) 2021-07-23 2021-07-23 基质辅助激光解析飞行时间质谱仪的靶面调平与校准方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202110840233.2A CN113791134A (zh) 2021-07-23 2021-07-23 基质辅助激光解析飞行时间质谱仪的靶面调平与校准方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN113791134A true CN113791134A (zh) 2021-12-14

Family

ID=79181215

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202110840233.2A Pending CN113791134A (zh) 2021-07-23 2021-07-23 基质辅助激光解析飞行时间质谱仪的靶面调平与校准方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN113791134A (zh)

Citations (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4320577A (en) * 1979-08-04 1982-03-23 The United States Of America As Represented By The Department Of Energy Automatic readout micrometer
JPH0972702A (ja) * 1995-09-07 1997-03-18 Sony Corp ターゲットの厚さ測定装置
GB9718623D0 (en) * 1996-09-03 1997-11-05 Bruker Franzen Analytik Gmbh Accurate mass determination with MALDI time-of-flight mass spectrometers using internal reference substances
JP2000258104A (ja) * 1999-03-08 2000-09-22 Toyota Auto Body Co Ltd 原点合せ治具
CN101334270A (zh) * 2008-07-25 2008-12-31 西安交通大学 激光线扫描测头几何变换标定与曲面插值修正方法及装置
CN202166399U (zh) * 2011-07-27 2012-03-14 精鑫电子科技(惠州)有限公司 一种垂直度测量治具
CN203940816U (zh) * 2014-07-03 2014-11-12 武汉钢铁(集团)公司 一种校准装置
US20150165550A1 (en) * 2007-09-14 2015-06-18 Robert C. Fry Analytical laser ablation of solid samples for ICP, ICP-MS, and FAG-MS analysis
CN205066663U (zh) * 2015-10-16 2016-03-02 重庆科技学院 磁性元件端面平行度检具
CN106895936A (zh) * 2017-04-11 2017-06-27 南京理工大学 一种精度可调的扭摆式微推力测试装置
CN206656679U (zh) * 2017-04-21 2017-11-21 浙江万里扬股份有限公司 一种检具
CN206919801U (zh) * 2017-06-29 2018-01-23 烟台大丰轴瓦有限责任公司 一种轴瓦厚度测量检测设备
CN207923068U (zh) * 2018-02-08 2018-09-28 中国铁路南宁局集团有限公司质量技术检测所 一种接触网参数测量仪检定校准装置
CN109712863A (zh) * 2019-02-26 2019-05-03 安图实验仪器(郑州)有限公司 适于激光解析电离飞行时间质谱仪的真空交互系统
CN209043216U (zh) * 2018-12-20 2019-06-28 盐城阿特斯协鑫阳光电力科技有限公司 一种水平校准装置
CN209086201U (zh) * 2018-10-30 2019-07-09 广西大学 质谱仪自动点靶装置
CN209374399U (zh) * 2019-04-04 2019-09-10 安图实验仪器(郑州)有限公司 用于基质辅助激光解析离子源型质谱仪的靶板定位机构
CN209832623U (zh) * 2019-02-15 2019-12-24 上海幂方电子科技有限公司 一种校准工作平台平面度的装置
CN212133529U (zh) * 2020-07-06 2020-12-11 浙江浩天铝业股份有限公司 一种摩托车发动机的箱体检具
CN212931278U (zh) * 2020-08-10 2021-04-09 浙江辛子精工机械股份有限公司 深沟球轴承检测仪器
CN113008113A (zh) * 2021-04-25 2021-06-22 无锡技师学院 一种垂直度测量仪
US20220042885A1 (en) * 2019-05-14 2022-02-10 Ventana Medical Systems, Inc. Assembly and system including a biological sample treatment chamber

Patent Citations (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4320577A (en) * 1979-08-04 1982-03-23 The United States Of America As Represented By The Department Of Energy Automatic readout micrometer
JPH0972702A (ja) * 1995-09-07 1997-03-18 Sony Corp ターゲットの厚さ測定装置
GB9718623D0 (en) * 1996-09-03 1997-11-05 Bruker Franzen Analytik Gmbh Accurate mass determination with MALDI time-of-flight mass spectrometers using internal reference substances
JP2000258104A (ja) * 1999-03-08 2000-09-22 Toyota Auto Body Co Ltd 原点合せ治具
US20150165550A1 (en) * 2007-09-14 2015-06-18 Robert C. Fry Analytical laser ablation of solid samples for ICP, ICP-MS, and FAG-MS analysis
CN101334270A (zh) * 2008-07-25 2008-12-31 西安交通大学 激光线扫描测头几何变换标定与曲面插值修正方法及装置
CN202166399U (zh) * 2011-07-27 2012-03-14 精鑫电子科技(惠州)有限公司 一种垂直度测量治具
CN203940816U (zh) * 2014-07-03 2014-11-12 武汉钢铁(集团)公司 一种校准装置
CN205066663U (zh) * 2015-10-16 2016-03-02 重庆科技学院 磁性元件端面平行度检具
CN106895936A (zh) * 2017-04-11 2017-06-27 南京理工大学 一种精度可调的扭摆式微推力测试装置
CN206656679U (zh) * 2017-04-21 2017-11-21 浙江万里扬股份有限公司 一种检具
CN206919801U (zh) * 2017-06-29 2018-01-23 烟台大丰轴瓦有限责任公司 一种轴瓦厚度测量检测设备
CN207923068U (zh) * 2018-02-08 2018-09-28 中国铁路南宁局集团有限公司质量技术检测所 一种接触网参数测量仪检定校准装置
CN209086201U (zh) * 2018-10-30 2019-07-09 广西大学 质谱仪自动点靶装置
CN209043216U (zh) * 2018-12-20 2019-06-28 盐城阿特斯协鑫阳光电力科技有限公司 一种水平校准装置
CN209832623U (zh) * 2019-02-15 2019-12-24 上海幂方电子科技有限公司 一种校准工作平台平面度的装置
CN109712863A (zh) * 2019-02-26 2019-05-03 安图实验仪器(郑州)有限公司 适于激光解析电离飞行时间质谱仪的真空交互系统
CN209374399U (zh) * 2019-04-04 2019-09-10 安图实验仪器(郑州)有限公司 用于基质辅助激光解析离子源型质谱仪的靶板定位机构
US20220042885A1 (en) * 2019-05-14 2022-02-10 Ventana Medical Systems, Inc. Assembly and system including a biological sample treatment chamber
CN212133529U (zh) * 2020-07-06 2020-12-11 浙江浩天铝业股份有限公司 一种摩托车发动机的箱体检具
CN212931278U (zh) * 2020-08-10 2021-04-09 浙江辛子精工机械股份有限公司 深沟球轴承检测仪器
CN113008113A (zh) * 2021-04-25 2021-06-22 无锡技师学院 一种垂直度测量仪

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5886345A (en) Accurate mass determination with maldi time-of-flight mass spectrometers using internal reference substances
US7391017B2 (en) Mass scale alignment of time-of-flight mass spectra
CN207528818U (zh) 一种电阻测试设备
CN103472315A (zh) 一种天线简易远场测试系统及其应用
US8558166B2 (en) Method for determining boron isotopic composition by PTIMS—static double collection
CN102779707A (zh) 一种四极杆质量分析器的装配方法
CN113791134A (zh) 基质辅助激光解析飞行时间质谱仪的靶面调平与校准方法
CN112630345B (zh) 检测氘标记化合物同位素分布与丰度的方法
JP6172003B2 (ja) 飛行時間型質量分析装置
CN112243495B (zh) 基于MeV的离子射束分析设备
Gilmore et al. Static TOF‐SIMS. A VAMAS interlaboratory study. Part II—accuracy of the mass scale and G‐SIMS compatibility
CN105783847A (zh) 一种角位移传感器校准装置
CN108645338B (zh) 基于psd的真空下信号器自标定方法及装置
JP4576775B2 (ja) 飛行時間型質量分析装置
CN109839400A (zh) 一种基于kb镜聚焦的同步辐射共聚焦荧光实验装置
CN102820190B (zh) 一种四极杆质量分析器的装配方法
CN107267592B (zh) 用于生物标志物检测的质谱基片靶托和仪器
CN102279236A (zh) 色谱质谱联用仪
Stoytschew et al. Influence of experimental parameters on secondary ion yield for MeV-SIMS
CN201773095U (zh) 色谱质谱联用仪
CN1030231C (zh) 一种二次离子质谱定量分析方法
Yu et al. Improvement of m/z accuracy for linear matrix‐assisted laser desorption/ionization time‐of‐flight mass spectrometer
CN2750312Y (zh) 里氏硬度测量装置
JP2007299658A (ja) 飛行時間型質量分析装置
Harvan et al. Exact mass measurements with a computer-controlled peak matching system

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination