JP6172003B2 - 飛行時間型質量分析装置 - Google Patents
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Description
a)所定の測定条件の下でサンプルプレート上に用意された標準試料に対する質量分析を実施して得られた所定成分に対する質量電荷比値と同測定条件の下で当該装置による質量分析が可能である基準位置に用意された標準試料に対する質量分析を実施して得られた所定成分に対する基準質量電荷比値との差と、サンプルプレートからイオンを引き出すとともに加速する電圧又はサンプルプレートから引き出されたイオンを加速する電圧である加速条件の質量分解能に関する最適値と、の対応関係を示す情報を記憶しておく参照情報記憶部と、
b)測定対象である目的試料が付着された目的サンプルプレートについて、該目的サンプルプレート上で目的試料と異なる位置に用意された標準試料に対する質量分析を実施するとともに、そのときの前記基準位置に用意された標準試料に対する質量分析を実施するべく各部を制御する予備測定制御部と、
c)前記予備測定制御部による制御の下で得られた、前記目的サンプルプレート上の標準試料と前記基準位置にある標準試料とに対する所定成分の質量電荷比値の差を求め、前記参照情報記憶部に格納されている情報を参照して、その質量電荷比値差に対応する加速条件の最適値を取得する最適条件決定部と、
d)前記目的サンプルプレート上に用意されている目的試料に対する質量分析の際の加速条件を、前記最適条件決定部により得られた加速条件の最適値に基づいて決める目的試料測定制御部と、
を備えることを特徴としている。
そこで、本発明に係る飛行時間型質量分析装置では、上記サンプルプレートは、目的試料を付着させるための複数のサンプルウェルと、該サンプルプレート上で一定の二次元範囲内の複数のサンプルウェルを含むように区画された区画毎に、その中心に配置された標準試料を付着させるためのキャリブラントウェルと、を有し、
上記最適条件決定部は、上記目的サンプルプレート上のキャリブラントウェル毎に加速条件の最適値を求め、
上記目的試料測定制御部は、上記目的サンプルプレートの任意のサンプルウェルに用意されている目的試料に対する質量分析を行う際に、上記最適条件決定部により、該サンプルプレート上でそのサンプルウェルが含まれる区画に配置されているキャリブラントウェルに対して得られた加速条件の最適値を、そのサンプルウェル上の目的試料に対する加速条件の最適値として決定する構成とすることができる。
e)サンプルプレート上の異なる位置に用意された複数の標準試料に対して、それぞれ、上記加速部の加速条件を変化させつつ質量分析を実施し、その質量分析結果に基づいて、標準試料毎に加速条件の最適値を求める最適加速条件探索部と、
f)サンプルプレート上の異なる位置に用意された複数の標準試料に対して、それぞれ、上記加速部の加速条件を一定として質量分析を実施するとともに、同一加速条件の下で上記基準位置に用意された標準試料に対する質量分析を実施し、それら質量分析結果からサンプルプレート上の標準試料毎に基準質量電荷比値との質量電荷比値差を求める質量電荷比値差調査部と、
g)上記最適加速条件探索部により得られた標準試料毎の加速条件の最適値と上記質量電荷比値差調査部により得られた標準試料毎の質量電荷比値差とから、その対応関係を示す情報を求める参照情報作成部と、
を備えるようにするとよい。
この実測の条件は以下の通りである。
(1)質量分析装置:MALDIデジタルイオントラップ飛行時間型質量分析計(島津製作所製)、リニアモード(ポジティブイオンモード)による測定。
(2)サンプルプレート:ステンレス製384ウェルプレート(2mm厚)。
(3)サンプル:ペプチド混合物(図17に示す6種のペプチドを含有)。
(4)マトリクス:α-Cyano-4-hydroxycinnamic acid(CHCA)。
(5)サンプル調製方法:ペプチド混合物とCHCAマトリクスとの混合溶液をサンプルプレート7上のキャリブラントウェル7a及びサンプルプレートホルダ5上のキャリブラントウェル5aにそれぞれ滴下して乾固することで調製。
分析者は、測定対象であるサンプルプレート7をサンプルプレートホルダ5に装着し、ステージ4上の所定位置にセットし、所定の操作を操作部40で行う。この操作を受けて、制御部30の最適電圧決定制御部32は、サンプルプレート7の全てのキャリブラントウェル7a上の標準試料8に対する最適電圧を探索する測定を実施するように各部を制御する。
したがって、多数の目的試料についてそれぞれ最適電圧を探索する必要はなくなり、分析者による測定の手間は軽減される。また、そうした事前の制御パラメータ設定のための測定の回数が大幅に減るために、分析のスループットが向上する。
2…集光レンズ
3…反射鏡
4…ステージ
5…サンプルプレートホルダ
5a、7a…キャリブラントウェル
6、8…標準試料
7…サンプルプレート
7b…サンプルウェル
9…目的試料
10…ステージ駆動部
11…引出し電極
12…加速電極
13…加速電圧発生部
14…フライトチューブ
15…飛行空間
16…検出器
17…アナログ-デジタル変換器(ADC)
20…データ処理部
21…m/z差-最適電圧対応情報作成部
22…m/z差-最適電圧対応情報記憶部
23…キャリブラントウェル対応最適電圧決定部
30…制御部
31…m/z差-最適電圧対応情報取得制御部
32…最適電圧決定制御部
33…キャリブラント対応最適電圧記憶部
40…操作部
50…表示部
60…試料設置台
Claims (3)
- プレート保持部により保持されるサンプルプレート上に用意された試料からイオンを生成するイオン源と、該イオン源で生成されたイオンに対して一定のエネルギを付与して加速する加速部と、加速されたイオンを飛行させ、その飛行中にイオンを質量電荷比に応じて分離する飛行時間型質量分離部と、その分離されたイオンを検出する検出部と、を具備する飛行時間型質量分析装置において、
a)所定の測定条件の下でサンプルプレート上に用意された標準試料に対する質量分析を実施して得られた所定成分に対する質量電荷比値と同測定条件の下で当該装置による質量分析が可能である基準位置に用意された標準試料に対する質量分析を実施して得られた所定成分に対する基準質量電荷比値との差と、サンプルプレートからイオンを引き出すとともに加速する電圧又はサンプルプレートから引き出されたイオンを加速する電圧である加速条件の質量分解能に関する最適値と、の対応関係を示す情報を記憶しておく参照情報記憶部と、
b)測定対象である目的試料が付着された目的サンプルプレートについて、該目的サンプルプレート上で目的試料と異なる位置に用意された標準試料に対する質量分析を実施するとともに、そのときの前記基準位置に用意された標準試料に対する質量分析を実施するべく各部を制御する予備測定制御部と、
c)前記予備測定制御部による制御の下で得られた、前記目的サンプルプレート上の標準試料と前記基準位置にある標準試料とに対する所定成分の質量電荷比値の差を求め、前記参照情報記憶部に格納されている情報を参照して、その質量電荷比値差に対応する加速条件の最適値を取得する最適条件決定部と、
d)前記目的サンプルプレート上に用意されている目的試料に対する質量分析の際の加速条件を、前記最適条件決定部により得られた加速条件の最適値に基づいて決める目的試料測定制御部と、
を備えることを特徴とする飛行時間型質量分析装置。
- 請求項1に記載の飛行時間型質量分析装置であって、
前記サンプルプレートは、目的試料を付着させるための複数のサンプルウェルと、該サンプルプレート上で一定の二次元範囲内の複数のサンプルウェルを含むように区画された区画毎に、その中心に配置された標準試料を付着させるためのキャリブラントウェルと、を有し、
前記最適条件決定部は、前記目的サンプルプレート上のキャリブラントウェル毎に加速条件の最適値を求め、
前記目的試料測定制御部は、前記目的サンプルプレートの任意のサンプルウェルに用意されている目的試料に対する質量分析を行う際に、前記最適条件決定部により、該サンプルプレート上でそのサンプルウェルが含まれる区画に配置されているキャリブラントウェルに対して得られた加速条件の最適値を、そのサンプルウェル上の目的試料に対する加速条件の最適値として決定することを特徴とする飛行時間型質量分析装置。 - 請求項1又は2に記載の飛行時間型質量分析装置であって、
前記参照情報記憶部に格納する情報を作成するために、
e)サンプルプレート上の異なる位置に用意された複数の標準試料に対して、それぞれ、前記加速部の加速条件を変化させつつ質量分析を実施し、その質量分析結果に基づいて、標準試料毎に加速条件の最適値を求める最適加速条件探索部と、
f)サンプルプレート上の異なる位置に用意された複数の標準試料に対して、それぞれ、前記加速部の加速条件を一定として質量分析を実施するとともに、同一加速条件の下で前記基準位置に用意された標準試料に対する質量分析を実施し、それら質量分析結果からサンプルプレート上の標準試料毎に基準質量電荷比値との質量電荷比値差を求める質量電荷比値差調査部と、
g)前記最適加速条件探索部により得られた標準試料毎の加速条件の最適値と前記質量電荷比値差調査部により得られた標準試料毎の質量電荷比値差とから、その対応関係を示す情報を求める参照情報作成部と、
を備えることを特徴とする飛行時間型質量分析装置。
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