CN104215855A - 可调测量距离的ota测试暗室 - Google Patents

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Abstract

一种可调测量距离的OTA测试暗室,它属于手机的天线OTA,既空中传输的测试装置技术领域。它包括测试暗室本体和设置在暗室本体中的测量转台以及暗室通信天线,其特征在于在所述的测试本体中设置有可变换位置的测量天线,所述的测量天线设置在一测量天线支架上。所述的测量天线支架包括支脚,支撑杆,天线固定装置;所述的支脚位于支撑杆下端,所述的天线固定装置设置在支撑杆上。本发明克服了现有技术的OTA测试暗室中的测量转台对应于测量天线的位置固定不变的缺陷,实现了测量天线的位置再测试暗室中的位置移动,为每种工作频段和通信制式提供最为合适的测量距离,以确保测试的顺利进行并提供最稳定可靠的测试。

Description

可调测量距离的OTA测试暗室
技术领域:
本发明涉及一种可调测量距离的OTA测试暗室,它属于手机的天线OTA,既空中传输的测试装置技术领域。
背景技术:
OTA测试暗室是为了进行手机天线的空中传输参数测试而专门设计的装置。现有的OTA测试暗室,其测量天线为固定位置的。一旦天线暗室建设完毕,放置待测终端的测量转台和暗室的测量天线之间的距离就固定了。
但是今天的终端的支持通信制式越来越多,频率范围越来越宽,需要测量的频段越来越宽。举例来说,4G LTE(Long Term Evolution)的工作频段从700MHz到2.6GHz,WIFI有2.4GHz/5GHz工作频段,GPS是1.575GHz。因此,暗室需要具备从700MHz到5GHz的工作范围。而暗室支持的工作频段和暗室的损耗和测量距离(放置待测终端的测量转台和暗室测量天线之间的距离)密切相关。
例如:
700MHz的低频段,波长较长,需要的测量距离大,相同距离空间损耗小。
5GHz的高频段,波长较短,需要的测量距离小,相同距离的空间损耗大。
现有的OTA测试暗室,由于测量天线位置固定,为了工作频段能够覆盖所有需要的频段,暗室的测量距离必须按照暗室支持的最低频段来设定(即测量距离最长)。大的测量距离,带来的是大的path loss暗室空间损耗,尤其是工作在高频段的通信制式。在这些制式中,WIFI(5G)/LTE 2.6GHz的系统传导灵敏度本来就不高。WIFI在-75dBm左右,LTE 2.6GHz(50RB)在-99dBm左右。在这些高频段的测量中,空间损耗很大,而终端本身的传导灵敏度不高,而高频天线的方向性有很强(有些角度天线增益很好,另一些和角度天线增益很差),因此在测试过程中,当暗室的测量转台转到待测终端天线增益很差的那些位置时候,测量很容易掉线。测量系统的效率和稳定性都降低。
发明内容:
本发明的目的在于提供一种结构简单,可以实现测试天线相对应于测试转台可以变换测试距离的可调测量距离的OTA测试暗室。
本发明的目的是这样实现的:
一种可调测量距离的OTA测试暗室,它包括测试暗室本体和设置在暗室本体中的测量转台以及暗室通信天线,其特征在于在所述的测试本体中设置有可变换位置的测量天线,所述的测量天线设置在一测量天线支架上。
所述的测量天线支架包括支脚,支撑杆,天线固定装置;所述的支脚位于支撑杆下端,所述的天线固定装置设置在支撑杆上。
在所述的支撑杆设置有多个天线固定装置固定孔位,所述的固定孔位分部在支撑杆上。
在所述的测试暗室本体中设置滑轨,所述的测量天线支架通过支脚支撑于滑轨之上。
在所述的测试暗室本体所设置的滑轨为燕尾槽结构的滑轨,所述的测量天线支架的支脚为与燕尾槽滑轨相嵌合的燕尾结构支脚。
在所述的测量暗室本体中设置有多个测量天线支架,所述的多个测量天线支架分别固定在对应测量转台的多个距离点上。
在所述的测量暗室本体中设置有1-20个测量天线支架,分别固定在对应于测量转台1-10米的距离点上。
本发明克服了现有技术的OTA测试暗室中的测量转台对应于测量天线的位置固定不变的缺陷,实现了测量天线的位置再测试暗室中的位置移动。因此,对于频段工作频率低,波长长,需要测量距离远的测量应用,可选择将测量天线移动测量距离比较大的位置。本发明可以动态的适应不同的工作频段对测量距离和空间损耗的要求,为每种工作频段和通信制式提供最为合适的测量距离,以确保测试的顺利进行并提供最稳定可靠的测试。
附图说明:
图1为本发明的结构示意图
图2为本发明实施例2的结构示意图
图3为本发明在完整的OTA测试系统中的应用示意图
图4为本发明的天线支架的结构示意图
具体实施方式:
下面结合附图1、图2、图3和图4,对本发明进行进一步的说明。
实施例1,如图1、图3和图4所示:
本发明是应用于手机天线OTA测试的测试暗室。
为了克服现有技术存在的问题,在本实施例中,本发明它包括测试暗室本体1和设置在暗室本体中的测量转台6以及暗室通信天线8,在所述的测试本体1中设置有可变换位置的测量天线2。本发明中的试暗室本体1和设置在暗室本体中的测量转台6以及暗室通信天线8均的结构、安装方式位置均与现有技术的相同。
为了实现本发明测试天线位置可以进行调整的目的,在本实施例中将测量天线2设置在一测量天线支架3上。所述的测量天线支架3包括支脚5,支撑杆31,天线固定装置33;所述的支脚5位于支撑杆31下端,所述的天线固定装置33设置在支撑杆31上。所述的支脚5也可以是多叉式结构。在所述的支撑杆31设置有多个天线固定装置33固定孔位32,所述的固定孔位分部在支撑杆31上;而且可以使用螺丝将天线固定装置33利用不透光高度的固定孔位固定在支撑杆的不同高度位置。以便调整天线。
暗室测量天线可使用螺丝固定在天线固定装置上。
并且在所述的测试暗室本体1中设置滑轨4,所述的测量天线支架3设置有与滑轨相嵌合的支脚5,通过支脚5将所述的测量天线支架3装配在滑轨之上。在所述的测试暗室本体1中所设置的滑轨4可采用简单的燕尾槽结构的滑轨,既具有稳定性,也具有良好的滑动功能。在本实施例中,配合滑轨的结构,所述的测量天线支架3的支脚5为与燕尾槽滑轨相嵌合的燕尾结构支脚,如图4中所示。
如图3中所示,将本发明应用在OTA测试系统中,由于本发明的暗室的测量损耗可以动态控制,以应对不同的应用。对于频段工作频率低,波长长,需要测量距离远的测量应用,可选择将测量天线移动测量距离比较大的位置。而对于频段高,波长小而空间损耗大的通信制式,可以将测量天线移动到测量距离比较短的位置。
本发明的工作流程:
依据图3的示意图,搭建本发明的测试暗室本体1,并与测试系统中的主控计算机,基站仿真器,GPS卫星信号发生器,频谱分析仪,通讯控制接口总线GPIB-Bus等设备安装连接,依照现有技术中的常规方法调试测试系统。
测试系统开始运行,在每次测量之前,先确定暗室的测量天线是否需要移动。例如当前暗室天线处于离待测终端比较远的位置,但是即将测试的工作频段比较高,那么需要移动暗室测量天线到离待测终端比较近的位置。
本实施例中由于采用了滑轨的结构,因此,需要不同测试距离时,直接移动设置在滑轨上的测试天线支架即可。
如果暗室测量天线移动过,那么检查该位置上暗室的空间损耗是否已经校准并保存过。如果是,那么调用保存的空间损耗数据。如果没有校准过或者没有保存过暗室损耗数据,那么开始对暗室的空间损耗进行校准。
校准即对暗室工作频段内的每一个频点的空间损耗进行测量,并将结果保存在暗室损耗校准文件中。校准数据可以保存,以便再次用到该位置可以不再校准,直接调用本次校准结果。
开始测量,每次测量结束,测试系统将会得到每一个角度的相对功率(ERP)或者相对灵敏度(EIS)数值
根据测量所在的频点,从暗室损耗校准文件中读取该频点的空间损耗数值。将每个角度获得的ERP或者EIS值加上空间损耗,即可获得每个角度绝对的ERP或者EIS。
将所有的绝对ERP或者EIS加权积分以后,即可获得最后的OTA数值。
有本实施例可以看出,本发明提出的测试OTA测试暗室和系统运行方案,可以动态的适应不同的工作频段对测量距离和空间损耗的要求,为每种工作频段和通信制式提供最为合适的测量距离,以确保测试的顺利进行并提供最稳定可靠的测试。
实施例2,图2所示:
在本实施例中,采用在暗室中设置多个测试点对应于测试转台的技术方案,来满足不同测试距离。
在所述的测量暗室本体1中设置有多个测量天线支架3,所述的多个测量天线支架3分别固定在对应测量转台6的多个距离点上。所述的距离点9是指测试天线相对应于测试转台的一个具体位置。通俗的讲,就是在测量暗室本体1中的多个位置上都固定有测量天线支架3,这样由于每个距离点距离测试转台的距离都不相同,所以就可以满足不同频率范围的测试要求。
在所述的测量暗室本体1中设置有1-20个测量天线支架3,分别固定在对应于测量转台1-10米的距离点9上。
本实施例的其他部分与实施例1完全相同。

Claims (7)

1.一种可调测量距离的OTA测试暗室,它包括测试暗室本体(1)和设置在暗室本体中的测量转台(6)以及暗室通信天线(8),其特征在于在所述的测试本体(1)中设置有可变换位置的测量天线(2),所述的测量天线(2)设置在一测量天线支架(3)上。
2.如权利要求1中所述的可调测量距离的OTA测试暗室,其特征在于所述的测量天线支架(3)包括支脚(5),支撑杆(31),天线固定装置(33);所述的支脚(5)位于支撑杆(31)下端,所述的天线固定装置(33)固定在支撑杆(31)上。
3.如权利要求2中所述的可调测量距离的OTA测试暗室,其特征在于在所述的支撑杆(31)设置有多个天线固定装置(33)固定孔位(32),所述的固定孔位分部在支撑杆(31)上。
4.如权利要求1或2或3中所述的可调测量距离的OTA测试暗室,其特征在于在所述的测试暗室本体(1)中设置滑轨(4),所述的测量天线支架(3)通过支脚(5)支撑于滑轨(4)之上。
5.如权利要求4中所述的可调测量距离的OTA测试暗室,其特征在于在所述的测试暗室本体(1)所设置的滑轨(4)为燕尾槽结构的滑轨,所述的测量天线支架(3)的支脚(5)为与燕尾槽滑轨相嵌合的燕尾结构支脚。
6.如权利要求1中所述的可调测量距离的OTA测试暗室,其特征在于在所述的测量暗室本体(1)中设置有多个测量天线支架(3),所述的多个测量天线支架(3)分别固定在对应测量转台(6)的多个距离点上。
7.如权利要求6中所述的可调测量距离的OTA测试暗室,其特征在于在所述的测量暗室本体(1)中设置有1-20个测量天线支架(3),分别固定在对应于测量转台(6)1-10米的距离点(9)上。
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