CN111726177B

CN111726177B - 无线设备的无线性能测试方法、装置、系统、设备及存储介质

Info

Publication number: CN111726177B
Application number: CN202010776970.6A
Authority: CN
Inventors: 于伟; 漆一宏; 张辉彬; 李俊; 沈鹏辉; 迟礼东
Original assignee: GENERAL TEST SYSTEMS Inc
Current assignee: GENERAL TEST SYSTEMS Inc
Priority date: 2019-11-01
Filing date: 2020-08-05
Publication date: 2022-09-13
Anticipated expiration: 2040-08-05
Also published as: CN111726176A; CN111726177A

Abstract

本公开提供一种无线设备的无线性能测试方法、装置、系统、设备和存储介质，其中测试方法包括：多个测试天线与多个无线设备在预设的测试位置进行近场能量传输，获得所述无线设备的测试结果；其中，测试天线与无线设备的数量和位置一一对应，测试位置位于无线设备的近场辐射距离内，至少相邻的测试天线在不同的测试频率进行测试。本公开能够对无线设备的无线性能进行快速准确的评估。

Description

无线设备的无线性能测试方法、装置、系统、设备及存储介质

技术领域

本发明涉及通信技术领域，尤其涉及一种无线设备的性能测试方法、装置、系统、设备及存储介质。

背景技术

随着通信技术的发展，各种无线设备逐渐成为人们工作和生活中必不可少的工具。无线设备在研发、测试、生产等阶段，需要对其无线性能进行测试。随着无线设备待测频段与天线数量的增多，测试所需时间也更长，因而测试效率成为制约生产效率及成本的瓶颈。

发明内容

本公开描述了一种无线设备的无线性能测试方法、装置、系统、设备及存储介质，可以实现高效地对无线设备进行无线收发性能的测试。

根据本公开的实施例的第一方面，提供一种无线设备的无线性能测试方法，包括：多个测试天线与多个无线设备在预设的测试位置进行近场能量传输，获得无线设备的测试结果；其中，测试天线与无线设备的数量和位置一一对应，测试位置位于无线设备的近场辐射距离内，至少相邻的测试天线在不同的测试频率进行测试。

根据测试方法的一个实施例，预设的测试位置通过以下方法获得：测试天线对参考设备在预设的扫描面进行扫描，获得扫描结果，其中，参考设备为无线性能符合预设要求的无线设备，扫描面位于参考设备的近场辐射距离内；根据扫描结果确定参考设备的参考测试位置；将与无线设备相同的参考设备的参考测试位置确定为无线设备的测试位置。

根据测试方法的一个实施例，根据扫描结果确定参考设备的参考测试位置的步骤包括：获得扫描结果中满足以下条件的合格扫描点：扫描值大于第一预设值，或者，扫描值为扫描结果中的最大值；根据合格扫描点的位置确定参考测试位置。

根据测试方法的一个实施例，还包括：将参考测试位置的扫描值确定为参考测试结果；将无线设备的测试结果和与无线设备相同的参考设备的参考测试结果进行比较，当两者的差值小于第二预设值时判定为合格，当两者的差值大于第二预设值时判定为不合格。

根据测试方法的一个实施例，在单次测试中，多个无线设备为相同的无线设备，每个测试天线位于无线设备的同一个测试位置。

根据测试方法的一个实施例，近场辐射距离根据以下公式获得：

，或者

，

其中，R表示近场辐射距离，D表示无线设备的最大物理尺寸，λ表示无线设备发射或接收的信号的波长。

根据测试方法的一个实施例，近场辐射距离为5mm至30mm。

根据本公开的实施例的第二方面，提供一种无线设备的无线性能测试装置，包括：测试模块，用于控制多个测试天线与多个无线设备在预设的测试位置进行近场能量传输，获得无线设备的测试结果；其中，测试天线与无线设备的数量和位置一一对应，测试位置位于无线设备的近场辐射距离内，至少相邻的测试天线在不同的测试频率进行测试。

根据测试装置的一个实施例，还包括：扫描模块，用于控制测试天线对参考设备在预设的扫描面进行扫描，获得扫描结果，其中，参考设备为无线性能符合预设要求的无线设备，扫描面位于参考设备的近场辐射距离内；参考测试位置获取模块，用于根据扫描结果确定参考设备的参考测试位置；测试位置获取模块，用于将与无线设备相同的参考设备的参考测试位置确定为无线设备的测试位置。

根据测试装置的一个实施例，参考测试位置获取模块包括：合格扫描点获取单元，用于获得扫描结果中满足以下条件的扫描点：扫描值大于第一预设值，或者，扫描值为扫描结果中的最大值；参考测试位置获取单元，用于根据合格扫描点的位置确定测试位置。

根据测试装置的一个实施例，还包括判定模块，包括：参考结果获取单元，用于将参考测试位置的扫描值确定为参考测试结果；判定单元，用于将无线设备的测试结果和与无线设备相同的参考设备的参考测试结果进行比较，当两者的差值小于第二预设值时判定为合格，当两者的差值大于第二预设值时判定为不合格。

根据测试装置的一个实施例，在单次测试中，多个无线设备为相同的无线设备，每个测试天线位于无线设备的同一个测试位置。

根据本公开的实施例的第三方面，提供一种无线设备的无线性能测试系统，包括：放置组件，用于放置多个无线设备；多个测试天线，测试天线与无线设备的数量和位置一一对应；移动组件，与放置组件和测试天线中至少之一相连，用于改变无线设备和测试天线的相对位置；以及前述无线设备的无线性能测试装置。

根据测试系统的一个实施例，还包括定位器，用于获取测试天线与无线设备的相对位置信息。

根据测试系统的一个实施例，还包括吸波材料，设置于以下位置中的至少一处：相邻无线设备之间；相邻测试天线之间；测试天线远离无线设备的后方；无线设备远离测试天线的后方。

根据测试系统的一个实施例，测试天线除辐射口径之外的部分覆盖有吸波材料。

根据测试系统的一个实施例，还包括屏蔽箱，用于至少容纳无线设备和测试天线。

根据测试系统的一个实施例，还包括与测试天线相连的测试仪表。

根据本公开的实施例的第四方面，提供一种电子设备，包括：处理器；存储器，用于存储可由处理器执行的计算机程序；其中，处理器执行计算机程序时实现前述的无线设备的无线性能测试方法。

根据本公开的实施例的第五方面，提供一种非暂时性计算机可读存储介质，存储介质上存储有计算机程序，当计算机程序被处理器执行时，实现前述的无线设备的无线性能测试方法。

本公开的实施例通过多个测试天线对多个无线设备在近场辐射距离进行一一对应的测试，在至少相邻的测试天线采用不同的测试频率，以在批量快速测试中确保了相邻测试的隔离度，从而保证测试的准确性。

附图说明

图1是本公开根据一个实施例示出的无线设备的性能测试方法的流程图。

图2是本公开根据一个实施例示出的无线设备的性能测试方法的流程图。

图3是本公开根据一个实施例示出的无线设备的性能测试方法的流程图。

图4是本公开根据一个实施例示出的无线设备的性能测试方法的流程图。

图5是本公开根据一个实施例示出的无线设备的性能测试装置的结构框图。

图6是本公开根据一个实施例示出的无线设备的性能测试装置的结构框图。

图7是本公开根据一个实施例示出的无线设备的性能测试装置的结构框图。

图8是本公开根据一个实施例示出的无线设备的性能测试装置的结构框图。

图9是本公开根据一个实施例示出的无线设备的性能测试系统的示意图。

图10是本公开根据一个实施例示出的无线设备的性能测试系统的示意图。

图11本公开根据一个实施例示出的电子设备的结构框图。

具体实施方式

以下参照附图描述本公开的实施例。应当理解，附图不是必须为等比例的。描述的实施例是示例性的，而非旨在限制本公开，可以以相同方式或类似方式与实施例的特征组合或替代这些特征。在本公开和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。还应当理解，本文中使用的术语“和/或”是指并包含一个或多个相关联的列出项目的任何或所有可能组合。

本公开的一方面实施例为无线设备的性能测试方法。无线设备指可以进行无线通信的设备，例如可以为无线终端，包括固定无线终端或移动无线终端，具体而言可以为电脑、手机、平板、可穿戴智能设备、无线路由器等。无线设备的性能指无线设备的天线的无线信号传输能力，包括发射性能或/和接收性能。

如图1所示，根据测试方法的一个实施例，包括：

步骤S21，多个测试天线与多个无线设备在预设的测试位置进行近场能量传输，获得无线设备的测试结果。其中，测试天线与无线设备的数量和位置一一对应，测试位置位于无线设备的近场辐射距离内，至少相邻的测试天线在不同的测试频率进行测试。

相关技术中，无线设备的OTA（Over-the-air）测试方式通常为单设备测试，即在一次测试中，仅对一台设备进行测试。随着无线设备的天线数量与待测频段的增多，例如MIMO无线设备中，用于通信的天线有多个，每个天线都有一定的待测频段，测试更加复杂，导致测试一台无线设备所需时间更长，如采用单设备测试的方式，工作效率较低。此外，对于产线上大批量的无线设备，单设备测试的方式不仅效率低，并且成本高，难以满足测试需求。本实施例采用多设备并行测试的方式，同时采用多个测试天线对多个无线设备进行一一对应的测试，至少相邻的测试天线的测试频率不同，以提高相邻的测试之间的隔离度，减少相邻测试回路之间的干扰，在批量快速测试中，在提高测试效率的同时保证了测试的精度。此外，近场能量传输具有较小的测试路损，因而测试具有较大的动态。

如图2所示，根据测试方法的一些实施例，还包括：

步骤S11，测试天线对参考设备在预设的扫描面进行扫描，获得扫描结果，其中，参考设备为无线性能符合预设要求的无线设备，扫描面位于参考设备的近场辐射距离内；

步骤S12，根据扫描结果确定参考设备的参考测试位置；

步骤S13，将与无线设备相同的参考设备的参考测试位置确定为无线设备的测试位置。

本实施例的测试方法通过在近场辐射距离扫描，选取测试位置，以实现在测试时，测试天线和无线设备在进行近场能量传输时，接收的一方能够在该测试位置获取较大的辐射能量，从而准确地进行测试。

本实施例中，参考设备为性能符合预设要求的无线设备，例如，采用CTIA标准规定的测试方法进行测试，测试结果符合预设要求的无线设备。“与无线设备相同的参考设备”，意思是无线设备与参考设备均采用相同的天线设计与布局，且两者的外观尺寸相同或近似。本实施例中，通过参考设备确定了测试位置之后，对于与之相同的无线设备，直接将参考测试位置确定为无线设备的测试位置，可以快速获得无线设备的测试位置，避免对每个无线设备进行扫描，提高测试效率。

需要说明的是，对于单天线无线设备而言，只需要对一个天线进行扫描和测试。对于多天线无线设备而言，根据测试需求，可能需要对多个天线进行扫描和测试。例如，当需要对多天线无线设备的多个天线分别进行测试时，则需要对每个待测天线进行扫描选取测试位置。此外，根据测试需要，同一个待测天线可能需要在不同的频率进行扫描，例如，当需要测试一定频段的性能时，可以选取其中的一个或多个频率，在各频率下分别进行扫描。扫描面的形状可以为平面或球面等，本实施例中不做限定。对于辐射方向未知的无线设备，预设的扫描面可以包括无线设备的各个方向；而对于辐射方向或设计辐射方向已知的无线设备，预设的扫描面可以位于无线设备的主要辐射方向上。

如图3所示，根据测试方法的一些实施例，步骤S12包括：

步骤S121，获得扫描结果中满足以下条件的合格扫描点：扫描值大于第一预设值，或者，扫描值为扫描结果中的最大值；

步骤S122，根据合格扫描点的位置确定参考测试位置。

本实施例步骤S121~S122中，可以将最大的扫描值对应的合格扫描点的位置确定为测试位置，也可以在扫描值大于第一预设值的合格扫描点中选取一个或多个点，将其位置确定为测试位置。对于大部分无线设备而言，需要注意避开“坏点”，即该点的扫描值相较于周围的点的扫描值存在不合理地突变。作为一个示例，在无线设备的一个待测天线中，通过如下步骤确定测试位置：

步骤S1211，对于在频率f₁，f₂，……，f₁₀下进行扫描获得的扫描结果，分别获得扫描结果中大于各频率对应的第一预设值的合格扫描点。具体而言，选取频率f₁的扫描结果中大于预设值P₁的合格扫描点T₁₁，T₁₂，……，T_1m，选取频率f₂的扫描结果中大于预设值P₂的合格扫描点T₂₁，T₂₂，……，T_2n，其他频率的扫描结果同样处理；

步骤S1221，将上述合格扫描点中位置相同或相近的合格扫描点合并处理，获得每个频率对应的至少一个测试位置。具体而言，例如，选取频率f₁，f₂，f₃中位置相同或相近（小于某个预设值）的合格扫描点T_i，确定为频率f₁，f₂，f₃的测试位置。其他频率的合格扫描点同样处理，直至确定所有频率的测试位置。

本实施例可以在保证测试精度的前提下，减少测试位置，这意味着减少了在不同测试位置之间移动的时间，从而提高了测试效率。

如图4所示，根据测试方法的一些实施例，还包括：

步骤S31，将参考测试位置的扫描值确定为参考测试结果；

步骤S32，将无线设备的测试结果和与无线设备相同的参考设备的参考测试结果进行比较，当两者的差值小于第二预设值时判定为合格，当两者的差值大于第二预设值时判定为不合格。

根据测试方法的一些实施例，在单次测试中，多个无线设备为相同的无线设备，每个测试天线位于无线设备的同一个测试位置。这一设置可以使得多个无线设备或/测试天线在以联动的方式移动以到达测试位置，简化机械结构。

根据测试方法的一些实施例，近场辐射距离根据以下公式获得：

，或者

，

下面对近场辐射距离进行详细描述，具体地，对于电小天线（最大物理尺寸小于工作波长的一半）而言，不同的辐射范围L的定义为：

当

，为反应近场区；

当

，为辐射近场区；

当

，为传输近场区；

当

，为辐射远场区；

当无线设备的待测天线为电小天线时，近场辐射距离R位于反应近场区或辐射近场区。

对于电大天线（最大物理尺寸大于或等于工作波长的一半）而言，不同的辐射范围L的定义为：

当

，为辐射近场区；

当

，为菲涅尔区；

当

，为辐射远场区。

当无线设备的待测天线为电大天线时，近场辐射距离R位于辐射近场区。

需要注意的是，不同的天线理论中对电小天线及电大天线的定义有所不同，对辐射场区的分类与定义亦有所不同，上述说明仅为示例性说明。

根据测试方法的一个实施例，近场辐射距离为5mm至30mm，这个距离适用于电小天线的无线设备，例如手机，平板等。当扫描距离过近时，无线设备可能会对测试天线造成加载，导致扫描/测试结果不准确；当扫描距离过远时，测试天线可能无法获取能准备反映无线设备性能的测试位置。

与前述无线设备的性能测试方法的实施例对应，如图5所示，图5是本公开根据另一方面实施例的无线设备的性能测试装置的结构框图，包括：

测试模块61，用于控制多个测试天线与多个无线设备在预设的测试位置进行近场能量传输，获得无线设备的测试结果；其中，测试天线与无线设备的数量和位置一一对应，测试位置位于无线设备的近场辐射距离内，至少相邻的测试天线在不同的测试频率进行测试。

根据测试装置的一个实施例，如图6所示，还包括：

扫描模块51，用于控制测试天线对参考设备在预设的扫描面进行扫描，获得扫描结果，其中，参考设备为无线性能符合预设要求的无线设备，扫描面位于参考设备的近场辐射距离内；

参考测试位置获取模块52，用于根据扫描结果确定参考设备的参考测试位置；

测试位置获取模块53，用于将与无线设备相同的参考设备的参考测试位置确定为无线设备的测试位置。

根据测试装置的一个实施例，如图7所示，参考测试位置获取模块52包括：

合格扫描点获取单元521，用于获得扫描结果中满足以下条件的合格扫描点：扫描值大于第一预设值，或者，扫描值为扫描结果中的最大值；

参考测试位置获取单元522，用于根据合格扫描点的位置确定参考测试位置。

根据测试装置的一个实施例，如图8所示，还包括：判定模块71，包括：

参考结果获取单元711，用于将参考测试位置的扫描值确定为参考测试结果；

判定单元712，用于将无线设备的测试结果和与无线设备相同的参考设备的参考测试结果进行比较，当两者的差值小于第二预设值时判定为合格，当两者的差值大于第二预设值时判定为不合格。

根据测试装置的一个实施例，近场辐射距离根据以下公式获得：

，或者

，

其中，R表示近场辐射距离，D表示无线设备的最大物理尺寸，λ表示无线设备发射或接收的无线信号的波长。

根据测试装置的一个实施例，近场辐射距离为5mm至30mm，这个距离适用于电小天线的无线设备，例如手机，平板等。

与前述无线设备的性能测试方法的实施例对应，本公开的另一方面实施例为一种无线设备的性能测试系统，包括：

放置组件，用于放置多个无线设备；

多个测试天线，测试天线与无线设备的数量和位置一一对应；

移动组件，与放置组件和测试天线中至少之一相连，用于改变无线设备和测试天线的相对位置；

以及前述无线设备的性能测试装置。

本实施例中，放置组件例如可以为设置有夹具的放置台，从而将无线设备放置于放置组件上，便于对无线设备进行测试。测试天线例如可以采用覆盖所有测试频段的宽带测试天线，在测试过程中不需切换测试天线，减少测试时间，提高测试效率。移动组件例如可以与放置组件相连，通过调整无线设备位置从而改变无线设备和测试天线的相对位置（包括水平位置、竖直位置及角度等），当放置组件适于放置多个无线设备时，根据需要，移动组件可以设置为控制单个无线设备移动或控制多个无线设备联动，移动组件的具体形式例如可以为两轴移动台、三轴移动台、旋转台或以上的组合，或相关技术中能够实现上述功能的其他结构；移动组件还可以以前述方式与测试天线相连，实现同样的功能，在此不再赘述。可以理解的是，移动组件可以人为控制也可以通过预设程序自动控制，例如根据测试需求自动将待测的无线设备放置于放置组件上，并移动至测试位置或测试位置附近，以满足测试需求。当应用于产线时，自动化控制可以极大地提高测试效率。

图9是本公开根据测试系统的一个实施例的无线设备的性能测试系统的示意图。如图9所示，测试系统80包括：

放置组件801，用于放置多个无线设备900；

多个测试天线802，测试天线802与无线设备900的数量和位置一一对应；

第一移动组件8031，与放置组件801相连，用于改变无线设备900的位置；

第二移动组件8032，与测试天线802相连，用于改变测试天线802的位置；

定位器组件804，分别设置于第一移动组件8031与第二移动组件8032上，用于获取测试天线802与无线设备900的相对位置信息，具体地，定位器组件例如可以为激光定位器、激光测距仪、视觉定位仪等；

以及前述无线设备的性能测试装置（图中未示出）。

根据测试系统的一个实施例，在单次测试中，多个无线设备为相同的无线设备，测试装置控制各个测试天线位于其对应的无线设备的同一个测试位置。此实施例的设置可以使无线设备和/或测试天线在移动时采用联动的方式，从而简化移动组件。具体而言，例如，无线设备放置于放置组件时，无线设备之间以一定的相对位置固定放置，测试天线的初始位置与该相对位置相对应，即每个测试天线与其对应的无线设备的相对位置，和其他测试天线与其对应的无线设备的相对位置都相同。当移动组件控制放置组件和/或测试天线移动时，当其中一个测试天线到达对应的测试位置时，所有的测试天线都到达其对应的测试位置。

根据测试系统的一个实施例，如图10所示，还包括：吸波材料805，设置于以下位置：相邻无线设备900之间；相邻测试天线802之间；测试天线802远离无线设备900的后方；无线设备900远离测试天线802的后方；测试天线802除辐射口径之外的部分。

吸波材料的设置可以进一步提高相邻的测试天线/无线设备之间的隔离度，减少相邻测试回路之间的干扰，保证测试精度。本公开对吸波材料的形状和规格不做具体限制。其中，对于测试天线而言，测试天线仅保留有效收发的口径区域用于与无线设备进行能量传输，其余部分覆盖吸波材料以减少对邻近测试的干扰，以及减少来自邻近测试的干扰。这里“覆盖吸波材料”的具体形式可以为吸波材料紧密贴合固定在天线的表面，或者吸波材料通过其他方式设置在天线周围，距离天线表面存在一定距离。需要说明的是，当相邻的测试天线/无线设备距离足够大时，无须在不同的频率进行测试也无需设置用于隔离的吸波材料即可实现较高的隔离度，但这会增大测试系统的体积，并增加成本，而上述实施例可以实现在较为紧凑的测试空间中高效准确地获得测试结果。

根据测试系统的一个实施例，还包括屏蔽箱，用于至少容纳无线设备和测试天线。需要说明的是，是否设置屏蔽箱可以基于测试环境中电磁干扰情况以及对测试精度的要求进行考虑。本公开中在无线设备的近场辐射距离内进行扫描或测试，是大信号能量传输，而一般的室内环境中没有发射源，无线电信号主要来源于基站，但一般情况该信号的强度在-60dBm以下，具体数值可以使用频谱仪对环境中的场强进行评估获得。在进行无线设备的发射性能测试时，测试天线在测试位置接收到的信号强度至少在-30dBm以上。在进行无线设备的接收性能测试时，测试信号的强度可以调节，可以调节使无线设备接收的信号至少在-50dBm。以上两种情况下，外界干扰都不会对测试精度造成显著影响。当需要更高的测试精度，或需要以较低的接收信号进行测试时，可以在测试环境中设置如前所述的吸波材料，测试区域的外界干扰信号强度至少可降低至-90dBm/比接收信号低20dB以上，以满足测试需求。当对精度要求极高，或测试环境存在较强的干扰时，可以设置屏蔽箱。

根据测试系统的一个实施例，还包括与测试天线相连的测试仪表。测试仪表用于产生测试信号发送至测试天线，或/和接收来自无线设备的信号以获得测试数据。测试仪表可以具有与测试天线的数量相对应的测试通道，测试仪表可以为一个或多个。

根据测试系统的一个实施例，近场辐射距离根据以下公式获得：

，或者

，

根据测试系统的一个实施例，近场辐射距离为5mm至30mm，这个距离适用于电小天线的无线设备，例如手机，平板等。

与前述无线设备的性能测试方法的实施例对应，本公开的另一方面实施例为一种电子设备，包括：处理器；存储器，用于存储可由处理器执行的计算机程序；其中，处理器执行计算机程序时实现前述的无线设备的性能测试方法，在此不再赘述。根据电子设备的一个实施例，图11示出了本实施例的结构框图。电子设备可以是计算机，移动电话，平板设备，消息收发设备等终端设备。电子设备可以包括存储器1001、处理器1002及存储在存储器1001上并可在处理器1002上执行的计算机程序。处理器1002执行计算机程序时实现上述实施例中提供的无线设备性能测试的方法。

可选地，本实施例的电子设备还包括：通信接口1003，用于存储器1001和处理器1002之间的通信。存储器1001可能包含高速RAM存储器，也可能还包括非易失性存储器（non-volatile memory），例如至少一个磁盘存储器。如果存储器1001、处理器1002和通信接口1003独立实现，则通信接口1003、存储器1001和处理器1002可以通过总线相互连接并完成相互间的通信。所述总线可以是工业标准体系结构（Industry StandardArchitecture，简称为ISA）总线、外部设备互连（Peripheral Component，简称为PCI）总线或扩展工业标准体系结构（Extended Industry Standard Architecture，简称为EISA）总线等。所述总线可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。为便于表示，图11中仅用一条粗线表示，但并不表示仅有一根总线或一种类型的总线。

可选的，在具体实现上，如果存储器1001、处理器1002及通信接口1003，集成在一块芯片上实现，则存储器1001、处理器1002及通信接口1003可以通过内部接口完成相互间的通信。

处理器1002可能是一个中央处理器（Central Processing Unit，简称为CPU），或者是特定集成电路（Application Specific Integrated Circuit，简称为ASIC），或者是被配置成实施本公开实施例的一个或多个集成电路。

与前述无线设备的性能测试方法的实施例对应，本公开的另一方面实施例为一种非暂时性计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，当计算机程序被处理器执行时，实现前述的无线设备的性能测试方法，在此不再赘述。

以上描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、 “示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本公开的至少一个实施方式或示例中。在本公开中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施方式或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施方式或示例中以合适的方式结合。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本公开的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

流程图中或在此以其他方式描述的任何过程或方法描述可以被理解为，表示包括一个或更多个用于实现定制逻辑功能或过程的步骤的可执行指令的代码的模块、片段或部分，并且本公开的可选实施方式的范围包括另外的实现，其中可以不按所示出或讨论的顺序，包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序，来执行功能，这应被本公开的实施例所属技术领域的技术人员所理解。

在流程图中表示或在此以其他方式描述的逻辑和/或步骤，例如，可以被认为是用于实现逻辑功能的可执行指令的定序列表，可以具体实现在任何计算机可读介质中，以供指令执行系统、装置或设备（如基于计算机的系统、包括处理器的系统或其他可以从指令执行系统、装置或设备取指令并执行指令的系统）使用，或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用。就本公开而言，"计算机可读介质"可以是任何可以包含、存储、通信、传播或传输程序以供指令执行系统、装置或设备或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用的装置。计算机可读介质的更具体的示例（非穷尽性列表）包括以下：具有一个或多个布线的电连接部（电子装置），便携式计算机盘盒（磁装置），随机存取存储器（RAM），只读存储器（ROM），可擦除可编辑只读存储器（EPROM或闪速存储器），光纤装置，以及便携式光盘只读存储器（CDROM）。另外，计算机可读介质甚至可以是可在其上打印所述程序的纸或其他合适的介质，因为可以例如通过对纸或其他介质进行光学扫描，接着进行编辑、解译或必要时以其他合适方式进行处理来以电子方式获得所述程序，然后将其存储在计算机存储器中。

应当理解，本公开的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中，多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。如，如果用硬件来实现和在另一实施方式中一样，可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现：具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路，具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路，可编程门阵列（PGA），现场可编程门阵列（FPGA）等。

本技术领域的普通技术人员可以理解实现上述实施例方法携带的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，该程序在执行时，包括方法实施例的步骤之一或其组合。

此外，在本公开各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理模块中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。

上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。尽管上面已经示出和描述了本公开的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本公开的限制，本领域的普通技术人员在本公开的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

Claims

1.无线设备的无线性能测试方法，其特征在于，包括：

多个测试天线与多个所述无线设备在预设的测试位置进行近场能量传输，获得所述无线设备的测试结果；其中，所述测试天线与所述无线设备的数量和位置一一对应，所述测试位置位于所述无线设备的近场辐射距离内，至少相邻的所述测试天线在不同的测试频率进行测试；

所述预设的测试位置通过以下方法获得：所述测试天线对参考设备在预设的扫描面进行扫描，获得扫描结果，其中，所述参考设备为无线性能符合预设要求的无线设备，所述扫描面位于所述参考设备的近场辐射距离内；根据所述扫描结果确定所述参考设备的参考测试位置；将与所述无线设备相同的所述参考设备的所述参考测试位置确定为所述无线设备的所述测试位置；

所述根据所述扫描结果确定所述参考设备的参考测试位置的步骤包括：获得所述扫描结果中满足以下条件的合格扫描点：扫描值大于第一预设值，或者，扫描值为所述扫描结果中的最大值；在所述合格扫描点中选取一个或多个点，将其位置确定为所述参考测试位置；

将所述参考测试位置的所述扫描值确定为参考测试结果；以及

将所述无线设备的测试结果和与所述无线设备相同的所述参考设备的所述参考测试结果进行比较，当两者的差值小于第二预设值时判定为合格，当两者的差值大于第二预设值时判定为不合格。

2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，在单次测试中，所述多个无线设备为相同的无线设备，每个所述测试天线位于所述无线设备的同一个所述测试位置。

3.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述近场辐射距离根据以下公式获得：

0<R≤λ，或者

其中，R表示所述近场辐射距离，D表示所述无线设备的最大物理尺寸，λ表示所述无线设备发射或接收的信号的波长。

4.根据权利要求3所述的测试方法，其特征在于，所述近场辐射距离为5mm至30mm。

5.无线设备的无线性能测试装置，其特征在于，包括：

测试模块，用于控制多个测试天线与多个所述无线设备在预设的测试位置进行近场能量传输，获得所述无线设备的测试结果；其中，所述测试天线与所述无线设备的数量和位置一一对应，所述测试位置位于所述无线设备的近场辐射距离内，至少相邻的所述测试天线在不同的测试频率进行测试；

扫描模块，用于控制所述测试天线对参考设备在预设的扫描面进行扫描，获得扫描结果，其中，所述参考设备为无线性能符合预设要求的无线设备，所述扫描面位于所述参考设备的近场辐射距离内；

参考测试位置获取模块，用于根据所述扫描结果确定所述参考设备的参考测试位置；

测试位置获取模块，用于将与所述无线设备相同的所述参考设备的参考测试位置确定为所述无线设备的所述测试位置，所述参考测试位置获取模块包括：

合格扫描点获取单元，用于获得所述扫描结果中满足以下条件的合格扫描点：扫描值大于第一预设值，或者，扫描值为所述扫描结果中的最大值；以及

参考测试位置获取单元，用于在所述合格扫描点中选取一个或多个点，将其位置确定为所述参考测试位置；

判定模块，所述判定模块包括：

参考结果获取单元，用于将所述参考测试位置的所述扫描值确定为参考测试结果；以及

判定单元，用于将所述无线设备的测试结果和与所述无线设备相同的所述参考设备的所述参考测试结果进行比较，当两者的差值小于第二预设值时判定为合格，当两者的差值大于第二预设值时判定为不合格。

6.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，在单次测试中，所述多个无线设备为相同的无线设备，每个所述测试天线位于所述无线设备的同一个所述测试位置。

7.无线设备的无线性能测试系统，其特征在于，包括：

放置组件，用于放置多个所述无线设备；

多个测试天线，所述测试天线与所述无线设备的数量和位置一一对应；

移动组件，与所述放置组件和所述测试天线中至少之一相连，用于改变所述无线设备和所述测试天线的相对位置；以及

根据权利要求5-6中任一所述的测试装置。

8.根据权利要求7所述的测试系统，其特征在于，还包括定位器，用于获取所述测试天线与所述无线设备的相对位置信息。

9.根据权利要求7所述的测试系统，其特征在于，还包括吸波材料，设置于以下位置中的至少一处：相邻所述无线设备之间；相邻所述测试天线之间；所述测试天线远离所述无线设备的后方；所述无线设备远离所述测试天线的后方。

10.根据权利要求7所述的测试系统，其特征在于，所述测试天线除辐射口径之外的部分覆盖有吸波材料。

11.根据权利要求7所述的测试系统，其特征在于，还包括屏蔽箱，用于至少容纳所述无线设备和所述测试天线。

12.根据权利要求7-11中任一所述的测试系统，其特征在于，还包括与所述测试天线相连的测试仪表。

13.电子设备，其特征在于，包括：

处理器；

存储器，用于存储可由处理器执行的计算机程序；

其中，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-4中任一所述的测试方法。

14.非暂时性计算机可读存储介质，所述存储介质上存储有计算机程序，其特征在于，当所述计算机程序被处理器执行时，实现如权利要求1-4中任一所述的测试方法。