CN109342834B - 一种终端天线的测试装置 - Google Patents

Abstract

本公开关于一种终端天线的测试装置，属于天线技术领域。该测试装置包括：屏蔽箱、至少两个天线、至少一个相位控制模块和测试模块；至少两个天线中的任意两个天线之间的工作频段存在部分重叠；至少两个天线和至少一个相位控制模块位于屏蔽箱内；测试模块位于屏蔽箱外，测试模块与至少两个天线连接；任意两个天线之间设置有一个相位控制模块。任意两个天线用于分别接收位于屏蔽箱内的任意位置的待测终端发射的第一信号；相位控制模块用于分别接收任意两个天线发送的第一信号，并进行天线波束合成操作得到待测终端的位置信息和第二信号；测试模块用于对待测终端在重叠的工作频段下进行天线性能测试。本公开实施例测试过程简捷方便、且测试精度高。

Description

一种终端天线的测试装置

技术领域

本公开涉及天线技术领域，尤其涉及一种终端天线的测试装置。

背景技术

随着社会的快速发展以及生活水平的提高，时下用户对终端的使用性能要求越来越高，而由于终端天线性能的优劣会直接影响终端的使用性能，因此目前通常采用测试装置来对终端天线在不同频段内的性能进行耦合测试。

相关技术常采用如图1所示的测试装置对终端天线进行耦合测试，该测试装置包括：屏蔽箱、一个工作在多个频段的天线和一个测试仪。其中，在利用该装置对待测终端的天线性能进行测试之前，还需要额外准备一个设备(称之为金机)，通过将金机放置在屏蔽箱中的不同位置进行天线测试，以在屏蔽箱中确定用于放置待测终端的最佳位置，以及确定该最佳位置处的线损和空间损耗。在利用该测试装置进行测试时，先将待测终端放置于上述最佳位置，之后分别对终端天线在不同频段内的性能进行测试，在完成测试后，再由天线将测试结果发送至测试仪，测试仪基于该测试结果、上述线损和空间损耗判断该终端天线的性能是否满足需求。

在确定最佳位置时，金机需要进行反复多次调试，过程繁琐且耗时较长；另外，在测试仪器的工作环境发生变化后，最佳位置随之会发生改变，若继续基于初始确定的最佳位置处的线损和空间损耗进行天线性能测试，会导致测试精度大幅降低。

发明内容

本公开提供了一种终端天线的测试装置，能够解决相关技术中存在的确定最佳位置时，金机需要进行反复多次调试，过程繁琐且耗时较长；另外，在测试仪器的工作环境发生变化后，最佳位置随之会发生改变，若继续基于初始确定的最佳位置处的线损和空间损耗进行天线性能测试，会导致测试精度大幅降低的问题。所述技术方案如下：

本公开提供了一种终端天线的测试装置，所述测试装置包括：屏蔽箱、至少两个天线、至少一个相位控制模块和测试模块；

所述至少两个天线中的任意两个天线之间的工作频段存在部分重叠；

所述至少两个天线和所述至少一个相位控制模块位于所述屏蔽箱内；

所述测试模块位于所述屏蔽箱外，所述测试模块与所述至少两个天线连接；

所述任意两个天线之间设置有一个所述相位控制模块，所述任意两个天线用于分别接收所述待测终端发射的第一信号，所述待测终端位于所述屏蔽箱内的任意位置，所述第一信号的频率位于所述任意两个天线之间重叠的工作频段；

所述相位控制模块用于分别接收所述任意两个天线发送的所述第一信号，以及对接收到的两个所述第一信号进行天线波束合成操作，得到所述待测终端的位置信息和第二信号；

所述测试模块用于接收所述相位控制模块发送的所述位置信息和所述第二信号，并根据所述位置信息和所述第二信号，对所述待测终端在所述重叠的工作频段下进行天线性能测试。

在另一个可能的实施方式中，所述至少两个天线的工作频段覆盖第二代移动通信技术2G频段、第三代移动通信技术3G频段、第四代移动通信技术4G频段以及第五代移动通信技术5G频段；

所述至少两个天线中的第一类型天线的工作频段包括第一2G频段和第一3G频段，第二类型天线的工作频段包括第二2G频段、第二3G频段和第一4G频段，第三类型天线的工作频段包括第三3G频段、第二4G频段和第一5G频段，第四类型天线的工作频段包括第三4G频段和第二5G频段；

其中，所述第一2G频段包括所述第二2G频段，所述第二3G频段包括所述第一3G频段和所述第三3G频段，所述第二4G频段包括所述第一4G频段和所述第三4G频段，所述第二5G频段包括所述第一5G频段。

在另一个可能的实施方式中，所述任意两个天线中的第一天线用于接收所述待测终端发射的第三信号，所述第三信号的频率位于所述第一天线的目标工作频段内，所述目标工作频段为所述第一天线与所述任意两个天线中的第二天线未重叠的工作频段；

所述测试模块还用于接收所述第一天线发送的第三信号，并基于所述位置信息和所述第三信号，对所述待测终端在所述目标工作频段下进行天线性能测试。

在另一个可能的实施方式中，所述至少一个相位控制模块包括第一相位控制模块、第二相位控制模块和第三相位控制模块；

所述第一相位控制模块分别与所述第一类型天线和所述第二类型天线连接，所述第二相位控制模块分别与所述第二类型天线和所述第三类型天线连接，所述第三相位控制模块分别与所述第三类型天线和所述第四类型天线连接。

在另一个可能的实施方式中，所述测试模块包括第一测试模块、第二测试模块、第三测试模块和第四测试模块；

所述第一测试模块与所述第一类型天线连接，所述第二测试模块与所述第二类型天线连接，所述第三测试模块和所述第三类型天线连接，所述第四测试模块和所述第四类型天线连接。

在另一个可能的实施方式中，所述测试模块还用于向所述待测终端发送控制信号，以使得所述待测终端在接收到所述控制信号后，发射所述第一信号。

在另一个可能的实施方式中，所述测试装置还包括存储模块；

所述存储模块与所述测试模块连接，所述存储模块用于接收所述测试模块发送的天线性能测试结果和所述位置信息，并存储所述天线性能测试结果和所述位置信息。

在另一个可能的实施方式中，所述至少两个天线与所述至少一个相位控制模块有线连接。

在另一个可能的实施方式中，所述测试模块与所述至少两个天线通过射频线缆连接。

本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：

本公开实施例提供的测试装置，在任意两个天线之间均设置了一个相位控制模块，且任意两个天线之间的工作频段存在部分重叠，这样，当待测终端发射的第一信号的频率位于某两个天线重叠的工作频段时，位于这两个天线之间的相位控制模块便会分别接收到该第一信号，并根据接收到的两个信号进行天线波束合成操作，进而得到第二信号以及待测终端的位置信息，实现了待测终端可以放置于屏蔽箱的任意位置，无需提前准备金机来确定最佳位置，操作简单、降低了测试时间；另外，测试模块在接收到第二信号以及该位置信息后，能够基于该位置信息对待测终端的天线进行线损和空间损耗补偿，并结合第二信号检测在该重叠的工作频段内待测终端的天线性能，实现了待测终端放置在屏蔽箱内的任意位置均可以完成精确的线损和空间损耗补偿，不受工作环境影响，测试精度高。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。

图1是相关技术示出的一种终端天线的测试装置的结构示意图。

图2是根据一示例性实施例示出的一种终端天线的测试装置的结构示意图。

图3是根据一示例性实施例示出的一种终端天线的测试装置的结构示意图。

图4是根据一示例性实施例示出的一种终端天线的结构示意图。

图5是根据一示例性实施例示出的另一种终端天线的测试装置的结构示意图。

具体实施方式

这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本公开相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本公开的一些方面相一致的装置和方法的例子。

图2是根据一示例性实施例示出的一种终端天线的测试装置的结构示意图。如图2所示，该测试装置包括：屏蔽箱1、至少两个天线2、至少一个相位控制模块3和测试模块4。其中，至少两个天线2中的任意两个天线2之间的工作频段存在部分重叠，至少两个天线2和至少一个相位控制模块3位于屏蔽箱1内，测试模块位于屏蔽箱1外，测试模块与至少两个天线2连接。

在需要对待测终端的天线进行性能测试时，将待测终端放置于屏蔽箱1内的任意位置后，再触发待测终端发射不同频率的信号，当待测终端发射的第一信号的频率位于任意两个天线重叠的工作频段时，则该第一信号会同时被这两个天线接收，而这两个天线会分别将该第一信号发送至相应的相位控制模块，其中，该相位控制模块具体为设置在这两个天线之间的相位控制模块；之后，由该相位控制模块对这两个天线分别发送的该第一信号进行天线波束合成操作，从而得到待测终端在屏蔽箱1内的位置信息以及第二信号；然后，该相位控制模块经由这两个天线中的一个天线将该位置信息以及第二信号发送至测试模块。

测试模块在接收到第二信号和待测终端的位置信息后，能够根据该位置信息对待测终端的天线进行相应的线损和空间损耗补偿，并结合第二信号检测在上述任意两个天线重叠的工作频段内待测终端的天线性能，以此判断待测终端的天线在此频段内是否合格。

本公开实施例提供的测试装置，在任意两个天线之间均设置了一个相位控制模块，且任意两个天线之间的工作频段存在部分重叠，这样，当待测终端发射的第一信号的频率位于某两个天线重叠的工作的频段时，位于这两个天线之间的相位控制模块便会分别接收到该第一信号，并根据接收到的两个信号进行天线波束合成操作，进而得到第二信号以及待测终端的位置信息，实现了待测终端可以放置于屏蔽箱1的任意位置，无需提前准备金机来确定最佳位置，操作简单、降低了测试时间；另外，测试模块4在接收到第二信号以及该位置信息后，能够基于该位置信息对待测终端的天线进行线损和空间损耗补偿，并结合第二信号检测在该重叠的工作频段内待测终端的天线性能，实现了待测终端放置在屏蔽箱内的任意位置均可以完成精确的线损和空间损耗补偿，不受工作环境影响，测试精度高。

需要说明的是，本公开实施例对相位控制模块得到待测终端的位置信息的方式不作具体限定。示例性地，相位控制模块接收到上述两个天线发送的第一信号的时间不同，进而相位控制模块依据接收到第一信号的时间间隔获取待测终端在屏蔽箱内的位置信息。

下面对至少两个天线2的工作频段进行说明。

其中，至少两个天线2的工作频段覆盖2G(2nd-Generation，第二代移动通信技术)频段、3G(3rd-Generation，第三代移动通信技术)频段、4G(4thGeneration，第四代移动通信技术)频段以及5G(5th Generation，第五代移动通信技术)频段。如图3所示，至少两个天线2中包括第一类型天线201、第二类型天线202、第三类型天线203以及第四类型天线204。

其中，如图4所示，第一类型天线201的工作频段包括第一2G频段和第一3G频段。详细来说，第一2G频段为完整的2G频段，第一3G频段为完整的3G频段中的一部分频段，示例性地，该部分频段为低频段。

第二类型天线202的工作频段包括第二2G频段、第二3G频段和第一4G频段，且第一2G频段包括第二2G频段，即第二2G频段为完整的2G频段中的一部分频段。其中，第二3G频段为完整的3G频段，第一4G频段为完整的4G频段中的一部分频段，示例性地，该部分频段为低频段。

第三类型天线203的工作频段包括第三3G频段、第二4G频段和第一5G频段，且第二3G频段包括第一3G频段和第三3G频段，即第三3G频段为完整的3G频段中的一部分频段，示例性地，该部分频段为高频段。其中，第二4G频段为完整的4G频段，第一5G频段为完整的5G频段中的一部分频段。

第四类型天线204的工作频段包括第三4G频段和第二5G频段，且第二4G频段包括第一4G频段和第三4G频段，第二5G频段包括第一5G频段。详细来说，第三4G频段为完整的4G频段中的一部分频段，示例性地该频段为高频段，第二5G频段为完整的5G频段。

其中，第二2G频段、第一3G频段、第三3G频段、第一4G频段、第三4G频段以及第一5G频段该均可由设计人员预先确定，本公开实施例对此不作具体限定。在本公开实施例中，第一3G频段和第三3G频段不能形成完整的3G频段，即第一3G频段和第三3G频段不等于第二3G频段；第一4G频段和第三4G频段不能形成完整的4G的频段，即第一4G频段和第三4G频段不等于第二4G频段。

在一种可能的实现方式中，本公开实施例提供的测试装置，也可以检测任意两个天线中未重叠的工作频段内待测终端的天线性能，详细过程为：

触发待测终端发射第三信号，且第三信号的频率位于第一天线的目标频段内，且该目标频段为第一天线与第二天线未重叠的工作频段。具体地，当该目标频段为完整的2G频段内除了第二2G频段以外的其他频段、完整的3G频段内除了第一3G频段和第三3G频段以外的其他频段、完整的4G频段内除了第一4G频段和第三4G频段以外的其他频段、以及完整的5G频段内除了第一5G频段之外的其他频段时，第三信号会被第一天线接收，并由第一天线将第三信号发送至测试模块4，测试模块4还可以基于待测终端的位置信息和第三信号，检测目标频段内待测终端的天线性能。

需要说明的是，在检测目标频段内待测终端的天线性能之前，还需先检测在这两个天线重叠的工作频段内待测终端的天线性能，从而获取到待测终端的位置信息。

即，在对待测终端的天线进行2G测试时，首先需要检测在第二2G频段内待测终端的天线性能，再检测在完整的2G频段内除了第二2G频段之外的其他频段内待测终端的天线性能；在对待测终端的天线进行3G测试时，首先需要检测在第一3G频段内待测终端的天线性能，或在第三3G频段内待测终端的天线性能，再检测完整的3G频段内除了第一3G频段和第三3G频段之外的其他频段内待测终端的天线性能；在对待测终端天线进行4G测试时，首先需要检测在在第一4G频段内待测终端的天线性能，或在第三4G频段内待测终端的天线性能，再检测完整的4G频段内除了第一4G频段和第三4G频段之外的其他频段内待测终端的天线性能；在对待测终端天线进行5G测试时，首先需要检测在第一5G频段内待测终端的天线性能，再检测在完整的5G频段内除了第一5G频段之外的其他频段内待测终端的天线性能。

需要说明的是，在对待测终端的天线进行2G、3G、4G、5G测试之前，待测终端需预先切换天线开关，以将待测终端的天线切换至相应的制式。

其中，在检测第二2G频段、第一3G频段、第三3G频段、第一4G频段、第三4G频段以及第一5G频段内待测终端的天线性能时，触发待测终端发射第一信号后，均会有两个天线接收到第一信号，并由这两个天线将接收到的第一信号分别发送至这两个天线之间的相位控制模块，即由于包括四种类型的天线，因此至少一个相位控制模块3中包括3个相位控制模块，在本文中分别以第一相位控制模块301、第二相位控制模块302和第三相位控制模块303进行区分。

其中，第一相位控制模块301分别与第一类型天线201和第二类型天线202连接。在检测在第二2G频段，或第一3G频段内待测终端的天线性能时，待测终端发送的第一信号分别被第一类型天线201和第二类型天线202接收，并发送至第一相位控制模块301进行天线波束合成操作。

第二相位控制模块302分别与第二类型天线202和第三类型天线203连接。在检测在第三3G频段，或第一4G频段内待测终端的天线性能时，待测终端发送的第一信号分别被第二类型天线202和第三类型天线203接收，并发送至第二相位控制模块302进行天线波束合成操作。

第三相位控制模块303分别与第三类型天线203和第四类型天线204连接。在检测在第三4G频段，或第一5G频段内待测终端的天线性能时，待测终端发送的第一信号分别被第三类型天线203和第四类型天线204接收，并发送至第三相位控制模块303进行天线波束合成操作。

其中，本公开实施例对相位控制模块与天线之间的连接方式不作具体限定，示例性地，相位控制模块与天线之间为有线连接。

另外，上述相位控制模块在经天线波束合成操作得到第二信号和待测终端的位置信息，以及天线在接收到待测终端发射的第三信号后，还需将第二信号、该位置信息以及第三信号发送至测试模块4中，以由测试模块4检测在对应频段内待测终端的天线性能。而为了减少测试时间，测试模块4还包括多个，测试模块的数量与天线的类型数量匹配。当包括四种类型的天线是，测试模块4也包括4个，在本文中分别以第一测试模块401、第二测试模块402、第三测试模块403和第四测试模块404进行区分。

第一测试模块401与第一类型天线201连接，第一类型天线201将接收到的待测终端发射的第三信号，或第一相位控制模块301发送的位于2G频段内的第二信号和待测终端的位置信息发送到第一测试模块401中，第一测试模块401检测在完整的2G频段内待测终端的的天线性能。

第二测试模块402与第二类型天线202连接，第二类型天线202将接收到的待测终端发射的第三信号，第一相位控制模块301发送的位于3G频段内的第二信号和待测终端的位置信息，或第二相位控制模块302发送的第二信号和待测终端的位置信息到第二测试模块402中，第二测试模块402检测在完整的3G频段内待测终端的天线性能。

第三测试模块403和第三类型天线203连接，第三类型天线203将接收到的待测终端发射的第三信号，第二相位控制模块302发送的位于4G频段内的第二信号和待测终端的位置信息，或第三相位控制模块303发送的第二信号和待测终端的位置信息发送到第三测试模块403中，第三测试模块403检测在完整的4G频段内待测终端的天线性能。

第四测试模块404和第四类型天线204连接。第四类型天线204将接收到的待测终端发射的第三信号，或第三相位控制模块303发送的位于5G频段内的第二信号和待测终端的位置信息发送到第四测试模块404中，第四测试模块404检测在完整的5G频段内待测终端的天线性能。

其中，第一测试模块401可为2G综合测试仪、第二测试模块402可为3G综合测试仪、第三测试模块403可为4G综合测试仪、第四测试模块404可为5G综合测试仪，本公开实施例对此不作具体限定。且，本公开实施例对测试模块与天线之间的连接方式不作具体限定，示例性地，测试模块与天线通过射频线缆连接。

在一种可能的实现方式中，该测试装置还包括存储模块，其中，存储模块与测试模块4连接。详细来说，存储模块与第一测试模块401、第二测试模块402、第三测试模块403和第四测试模块404均连接，即第一测试模块401、第二测试模块402、第三测试模块403和第四测试模块404均会将天线性能测试结果和待测终端的位置信息发送至存储模块中进行存储。其中，存储模块可以为电脑，本公开实施例对此不作具体限定。

在一种可能的实现方式中，测试模块4还用于向待测终端发送控制信号，以使得待测终端在接收到该控制信号后，进行信号发射，而发射的信号既包括前述的第一信号也包括前述的第三信号。比如，控制信号可控制待测终端发射第一信号，且第一信号的频率位于任意两个天线重叠的工作频段内；或者，控制信号还可控制待测终端发射第三信号，且第三信号的频率位于任意两个天线的非重叠的工作频段内。

为了进一步阐述本公开实施例提供的测试装置，现以待测终端为手机为例对测试过程进一步解释说明。

示例性地，本公开实施例提供的测试装置可以对手机天线进行2G、3G、4G和5G测试。

其中，当需要对手机天线进行2G测试时，将手机放置于屏蔽箱1内的任意位置，并保持手机天线与屏蔽箱1内的天线相对，再将手机与2G综合测试仪连接。首先，2G综合测试仪向手机发送控制信号，以使手机发射第一信号，且第一信号的频率位于第二2G频段内，发射的第一信号会被第一类型天线201和第二类型天线202接收并发送至第一相位控制模块301。

第一相位控制模块301会对接收到的两个第一信号进行天线波束合成操作，得到手机的位置信息和第二信号，并将该位置信息和第二信号经由第一类型天线201发送至2G综合测试仪。2G综合测试仪基于该位置信息对手机进行相应的线损和空间损耗补偿，并结合第二信号检测在第二2G频段内手机的天线性能，并将得到的天线性能测试结果和该位置信息发送至电脑存储。

之后，2G综合测试仪再次发送控制信号，以使手机发射第三信号，且第三信号的频率位于完整的2G频段内除了第二2G频段之外的其他频段内，发射的第三信号会被第一类型天线201接收并直接发送至2G综合测试仪，2G综合测试仪基于已经获取到的位置信息和第三信号，检测在上述其他频段内手机的天线性能，且将得到的天线性能测试结果再次发送至电脑存储。

同样的，当需要对手机天线进行3G测试时，通过天线开关进行3G天线切换，且将手机与3G综合测试仪连接。后续处理方式同上，此处不再赘述。

综上所述，利用该测试装置可检测在2G频段内、3G频段内、4G频段内和5G频段内手机的天线性能。

本公开实施例提供的测试装置设置有至少两个天线，且存在工作在5G频段的天线，另外，任意两个天线之间的工作频段还存在部分重叠，通过多个相位控制模块和多个测试模块可实现对待测终端的天线进行2G、3G、4G和5G性能测试，实现了包括5G在内的多个制式下的天线性能测试。

另外，在测试过程中，待测终端可放置在屏蔽箱内的任意位置，且在任意位置处均可以完成精确的线损和空间损耗补偿，不受工作环境影响，提高了测试的稳定性，测试精度高，保证了待出厂的终端的一致性。

另外，由于待测终端可放置在屏蔽箱内的任意位置，省略了金机定位校准补偿等操作，简化了测试流程。

另外，由于多个测试模块协同测试，在测试不同制式的终端天线之前，测试模块无需进行多次注网操作，降低了测试时间，提高了产能。

在另一个实施方式中，该测试装置还可为图5所示的结构。参见图5，该测试装置包括两个屏蔽箱，在本文中以屏蔽箱a和屏蔽箱b进行区分。其中，屏蔽箱a为2G、3G、4G屏蔽箱，屏蔽箱b为5G屏蔽箱；该测试装置还包括一个工作在多个频段的天线，示例性地，该天线可为涵盖2G、3G以及4G制式的宽带天线、一个工作在5G频段的天线、一个支持2G、3G以及4G的第一综合测试仪和一个支持5G的第二综合测试仪。

在对待测终端的天线进行2G、3G、4G测试时，首先利用金机确定在屏蔽箱a中放置待测终端的最佳位置，以及确定该最佳位置处的线损和空间损耗；然后，将待测终端放置于上述最佳位置，并控制待测终端发射信号，其中，信号的频率分别位于2G、3G和4G频段内；上述发射的信号会被宽带天线接收并发送至第一综合测试仪，由第一综合测试仪检测在2G、3G和4G频段内待测终端的天线性能。

同样的，在对待测终端的天线进行5G测试时，首先利用金机确定在屏蔽箱b中放置待测终端的最佳位置，以及确定该最佳位置处的线损和空间损耗；然后将待测终端放置于上述最佳位置，并控制待测终端发射信号，其中，信号的频率位于5G频段内；上述发射的信号会被5G天线接收并发送至第二综合测试仪，由第二综合测试仪检测在5G频段内待测终端的天线性能。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里的公开后，将容易想到本公开的其它实施方案。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由下面的权利要求指出。

应当理解的是，本公开并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本公开的范围仅由所附的权利要求来限制。

Claims (9)

1.一种终端天线的测试装置，其特征在于，所述测试装置包括：屏蔽箱、至少两个天线、至少一个相位控制模块和测试模块；

所述至少两个天线中的任意两个天线之间的工作频段存在部分重叠；

所述至少两个天线和所述至少一个相位控制模块位于所述屏蔽箱内；

所述测试模块位于所述屏蔽箱外，所述测试模块与所述至少两个天线连接；

所述任意两个天线之间设置有一个所述相位控制模块，所述任意两个天线用于分别接收待测终端发射的第一信号，所述待测终端位于所述屏蔽箱内的任意位置，所述第一信号的频率位于所述任意两个天线之间重叠的工作频段；

所述相位控制模块用于分别接收所述任意两个天线发送的所述第一信号，以及对接收到的两个所述第一信号进行天线波束合成操作，得到所述待测终端的位置信息和第二信号；

所述测试模块用于接收所述相位控制模块发送的所述位置信息和所述第二信号，并根据所述位置信息和所述第二信号，对所述待测终端在所述重叠的工作频段下进行天线性能测试。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述至少两个天线的工作频段覆盖第二代移动通信技术2G频段、第三代移动通信技术3G频段、第四代移动通信技术4G频段以及第五代移动通信技术5G频段；

所述至少两个天线中的第一类型天线的工作频段包括第一2G频段和第一3G频段，第二类型天线的工作频段包括第二2G频段、第二3G频段和第一4G频段，第三类型天线的工作频段包括第三3G频段、第二4G频段和第一5G频段，第四类型天线的工作频段包括第三4G频段和第二5G频段；

其中，所述第一2G频段包括所述第二2G频段，所述第二3G频段包括所述第一3G频段和所述第三3G频段，所述第二4G频段包括所述第一4G频段和所述第三4G频段，所述第二5G频段包括所述第一5G频段。

3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述任意两个天线中的第一天线用于接收所述待测终端发射的第三信号，所述第三信号的频率位于所述第一天线的目标工作频段内，所述目标工作频段为所述第一天线与所述任意两个天线中的第二天线未重叠的工作频段；

所述测试模块还用于接收所述第一天线发送的第三信号，并基于所述位置信息和所述第三信号，对所述待测终端在所述目标工作频段下进行天线性能测试。

4.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述至少一个相位控制模块包括第一相位控制模块、第二相位控制模块和第三相位控制模块；

所述第一相位控制模块分别与所述第一类型天线和所述第二类型天线连接，所述第二相位控制模块分别与所述第二类型天线和所述第三类型天线连接，所述第三相位控制模块分别与所述第三类型天线和所述第四类型天线连接。

5.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述测试模块包括第一测试模块、第二测试模块、第三测试模块和第四测试模块；

所述第一测试模块与所述第一类型天线连接，所述第二测试模块与所述第二类型天线连接，所述第三测试模块和所述第三类型天线连接，所述第四测试模块和所述第四类型天线连接。

6.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试模块还用于向所述待测终端发送控制信号，以使得所述待测终端在接收到所述控制信号后，发射所述第一信号。

7.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括存储模块；

所述存储模块与所述测试模块连接，所述存储模块用于接收所述测试模块发送的天线性能测试结果和所述位置信息，并存储所述天线性能测试结果和所述位置信息。

8.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述至少两个天线与所述至少一个相位控制模块有线连接。

9.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试模块与所述至少两个天线通过射频线缆连接。

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