CN105872162B - 无线终端的测试系统和微波暗室 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种无线终端的测试系统和微波暗室，其中该系统包括：被测件，被测件为无线终端；微波暗室，被测件设置在微波暗室内，其中，微波暗室包括：屏蔽箱体；吸波材料，吸波材料铺设在屏蔽箱体的内壁上；多个测试天线，多个测试天线设置在屏蔽箱体的内部，多个测试天线与被测件的相互位置关系对应同一个球体，其中，被测件设置在球体的中心，多个测试天线分别设置在球体表面上的不同位置，多个测试天线用于接收被测件发送的无线信号；测量装置，测量装置通过射频电缆线与多个测试天线连接，测量装置用于对多个测试天线接收的无线信号进行测试。该系统提高了测试结果的一致性，提高了测量准确性，减少测试人员的反复测试，提高生产效率。

Description

无线终端的测试系统和微波暗室

技术领域

本发明涉及测试技术领域，尤其涉及一种无线终端的测试系统和微波暗室。

背景技术

无线终端(如手机)生产线对所生产的无线终端进行射频收发性能测试，以用来检查和判定所生产的无线终端是否合格。其中，测试项目包括辐射功率、辐射灵敏度测量，其分别反映手机的射频发射和接收性能。

相关技术中，在无线终端生产线上的射频收发性能的测试系统通常包括：如图1所示，金属屏蔽箱体，内壁铺设吸波材料；金属屏蔽箱体内有一个天线，天线通过电缆线连接到金属屏蔽箱体外部的测量仪器上，被测件放置在金属屏蔽箱体内。在测量时，测量仪器通过天线与被测件(如被测手机)建立通信链路，并对被测件进行射频收发性能的测试。

但是，由于现有的生成测试结果通常设置一个收发天线，或者虽然有两个天线但是放置的位置不正确，从而会导致存在以下问题：

1)测试结果重复性差，测量不准确。然而这样会给生产测试带来很大的困扰，如同一个手机多次反复测试，得到的结果离散性大，有的结果属于合格，有时又不合格，如此以来，只能放宽标准的阈值。由此带来的问题是品质性能不能很好的管控；

2)同时一个手机测试不能通过时，测试员可能会再次、多次测试，以确认是否真的不合格，这样的反复测试降低了生产测试的效率，生产测试成了生产效率的瓶颈，而增加测试装置的数量以解决这个瓶颈，又会增加生产成本；

3)同一个测试系统，对于不同型号的无线终端进行测试时，无线终端的摆放位置对于测试结果的影响很大，这是由于测试结果对于无线终端的摆放位置非常敏感。

发明内容

本发明的目的旨在至少在一定程度上解决上述的技术问题之一。

为此，本发明的第一个目的在于提出一种无线终端的测试系统。该系统通过使用多个测试接收天线进行测试避免了由于被测件摆放的细微偏差带来的测试偏差，提高了测试结果的一致性，提高了测量准确性，同时由于减少了测试人员的反复测试，从而提高了生产效率。

本发明的第二个目的在于提出一种微波暗室。

为了实现上述目的，本发明第一方面实施例的无线终端的测试系统，包括：被测件，所述被测件为无线终端；微波暗室，所述被测件设置在所述微波暗室内，其中，所述微波暗室包括：屏蔽箱体；吸波材料，所述吸波材料铺设在所述屏蔽箱体的内壁上；多个测试天线，所述多个测试天线设置在所述屏蔽箱体的内部，所述多个测试天线与所述被测件的相互位置关系对应同一个球体，其中，所述被测件设置在所述球体的中心，所述多个测试天线分别设置在所述球体表面上的不同位置，所述多个测试天线用于接收所述被测件发送的无线信号；测量装置，所述测量装置通过射频电缆线与所述多个测试天线连接，所述测量装置用于对所述多个测试天线接收的无线信号进行测试。

根据本发明实施例的无线终端的测试系统，使用了与现有测试系统完全不同的概念，即采用了多个(即至少两个)测试天线同时工作，其中被测件(DUT)位于测试空间中心，多个测试接收天线(ANT)分别位于不同的空间平面，从不同角度对被测件进行测试，以尽可能全面反映被测手机的性能，即通过使用多个测试接收天线进行测试避免了由于被测件摆放的细微偏差带来的测试偏差，提高了测试结果的一致性，提高了测量准确性，同时由于减少了测试人员的反复测试，从而提高了生产效率。

为了实现上述目的，本发明第二方面实施例的微波暗室，包括：屏蔽箱体；吸波材料，所述吸波材料铺设在所述屏蔽箱体的内壁上；多个测试天线，所述多个测试天线设置在所述屏蔽箱体的内部，所述多个测试天线与被测件的相互位置关系对应同一个球体，其中，所述被测件设置在所述球体的中心，所述多个测试天线分别设置在所述球体表面上的不同位置；其中，所述多个测试天线用于接收所述被测件发送的无线信号。

根据本发明实施例的微波暗室，采用了多个(即至少两个)测试天线同时工作，其中被测件(DUT)位于测试空间中心，多个测试接收天线(ANT)分别位于不同的空间平面，从不同角度对被测件进行测试，以尽可能全面反映被测手机的性能，即通过使用多个测试接收天线进行测试避免了由于被测件摆放的细微偏差带来的测试偏差，提高了测试结果的一致性，提高了测量准确性，同时由于减少了测试人员的反复测试，从而提高了生产效率。

本发明附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

本发明上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中，

图1是相关技术中的无线终端的测试系统的结构示意图；

图2是根据本发明一个实施例的无线终端的测试系统的结构示意图；

图3是根据本发明另一个实施例的无线终端的测试系统的结构示意图；

图4是根据本发明实施例的射频切换开关与测试装置和测试天线之间的连接的示例图；

图5是根据本发明一个实施例的3个测试天线的布局的示意图；

图6是根据本发明一个实施例的6个测试天线的布局的示意图；以及

图7是根据本发明一个实施例的微波暗室的结构示意图。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。

目前，在批量生产时将性能不良的无线终端(如手机、平板电脑等)筛选出来，并且测试速度快、测试设备成本低，对于世界上顶级的无线终端加工厂也是个挑战。之前仅仅进行功能测试，例如手机的无线通信功能、Wi-Fi(Wireless Fidelity，无线保真)功能、蓝牙、GPS(Global Positioning System，全球定位系统)功能是否工作，这些也是通过辐射测试来检验，由于功能测试要求不高，仅仅看看是否工作，对于性能是否合格不做要求。然而，现在仅仅进行功能测试已经不能满足产品质量的要求了，例如Wi-Fi天线连接不良，虽然也能够通信，功能测试能够通过，但是性能下降很多，这样的手机在开启Wi-Fi上网时会造成手机过度发热、电池电量消耗过快。但是，之前的产线测试设备由于误差太大、测试结果不稳定等问题，不能满足进行性能测试的要求。

为此，本发明提出了一种无线终端的测试系统和微波暗室。具体地，下面参考附图描述根据本发明实施例的无线终端的测试系统和微波暗室。

图2是根据本发明一个实施例的无线终端的测试系统的结构示意图。如图2所示，该无线终端的测试系统可以包括：被测件10、微波暗室20和测量装置30。其中，在本发明的实施例中，被测件10可为无线终端，无线终端可以是手机、平板电脑、个人数字助理等具有各种操作系统的硬件设备。

此外，如图2所示，被测件10设置在微波暗室20内，其中，微波暗室20可包括屏蔽箱体21、吸波材料22和多个测试天线23(如图2中示出了6个测试天线)。此外，在本发明的实施例中，屏蔽箱体21可以是金属屏蔽箱体，吸波材料22(如吸波棉等)铺设在屏蔽箱体21的内壁上，多个测试天线23设置在屏蔽箱体21的内部，多个测试天线23与被测件10的相互位置关系对应同一个球体，其中，被测件10设置在球体的中心，多个测试天线23分别设置在上述球体表面上的不同位置。此外，在本发明的实施例中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，也就是说，多个测试天线23的含义是至少两个测试天线23，例如两个测试天线23、三个测试天线23或者更多个测试天线，图2是以6个测试天线为例示出的。

需要说明的是，被测件10设置上述球体中心，多个测试天线23位于球面上的不同位置，这样可以使得每个测试天线23距离该被测件10的距离基本相等。由此，通过将被测件10放置在距离每个测试天线相同的位置上，使得测试结果能够更加的准确。

在本发明的实施例中，多个测试天线23可用于接收被测件10发送的无线信号。测量装置30可通过射频电缆线40与多个测试天线23连接，测量装置30可用于对多个测试天线23接收的无线信号进行测试。具体地，在测试时，测试员将被测件10放置在被测位置(即上述所描述的球体中心所对应的位置)上，测量装置分别测量并记录多个测试天线23的测试数据，并将这些测试数据进行比较，如果测试数据与预设的基准数据之间的差值超过了预设门限值(该门限值可以是预先设定的，可根据大量的实现实验数据得到的经验值)，则可判断该被测件10的无线性能不合格，否则可判断被测件10的无线性能合格。可以理解，上述的比较可理解为低频段、高频段可以选取不同的测试天线23用于判断，原则是选取该频段的主辐射方向。其中，在本发明的实施例中，预设的基准数据是通过在标定过程中得到的，即将合格的被测件放在相同的测试环境中所得到的测试数据。

进一步的，在本发明的一个实施例中，如图3所示，该无线终端的测试系统还可包括射频切换开关50，射频切换开关50的一端可通过射频电缆线40与多个测试天线23连接，射频切换开关50的另一端可通过射频电缆线40与测量装置30连接，射频切换开关50可用于将多个测试天线23接收的无线信号选择切换一路输出，以使测量装置30对输出的一路信号进行测试。其中，在本发明的实施例中，射频电缆线40可铺设在屏蔽箱体21的外部。具体地，图4是根据本发明实施例的射频切换开关50与测试装置30和测试天线23之间的连接的示例图，如图4所示，以6个测试天线为例，射频切换开关50的一端可通过6个端口与6个测试天线23连接，每个端口对应一个测试天线23，射频切换开关50的另一端可连接到测量装置30，由此，射频切换开关50可将多个测试天线23接收的无线信号选择切换一路输出至测量装置30。由此，无需外加切换开关，无需额外数据后处理，从而使得测试过程更加简洁、方便、可靠，加快了测试速度。

进一步的，在本发明的一个实施例中，多个测试天线23的排布位置、与被测件10的相互位置关系，以及多个测试天线23与被测件主平面设置在同一个平面上。由此，可以保证测试天线能够测试到被测件天线的主辐射方向、主要的极化分量。可以理解，被测件10通常具有显示屏，被测件10的厚度方向垂直于被测件10显示屏所在的平面，由于被测件10的厚度较薄(其相对于测试频段的波长而言)，所以可不再区分被测件10的平面所在平面、底壳所在平面了，而是将被测件10厚度的中间位置所在平面称为被测件主平面。

进一步的，在本发明的一个实施例中，多个测试天线23可为单极化天线，其中，多个测试天线23的极化方向与被测件主平面位于同一个平面。如图5所示，测试天线231、测试天线232、测试天线233均是单极化天线，且测试天线231、测试天线232、测试天线233的极化方向分别与被测件10主平面位于同一个平面。

其中，在本发明的一个实施例中，多个测试天线23为宽频带天线，其中，多个测试天线所覆盖的频率范围为600MHz～3000MHz。具体地，多个测试天线23可以使宽频带的，可覆盖各种无线终端(如手机)工作的频段，覆盖的频率范围可从600MHz～3000MHz，例如，包括GSM850、GSM900、GSM1800、GSM1900，3G手机的2.1GHz。可以理解，如果测试天线不是宽频带的天线，那么测试不同的无线终端时，就需要更换测试天线。由此，提高了系统应用的广泛性，换一种说法，在测试不同的无线终端时，减少了更换测试天线的次数。

为了使得本领域的技术人员能够更加清楚的了解多个测试天线的空间布局，下面将举例说明。以下是本发明无线终端的测试系统中多个测试天线空间布局的两种具体实施实例，其中图5和图6中所示的立体图形以及大小比例均为示意。

实施例1：3个测试天线的布局，如图5所示。如图5中的圆圈，用来表示测试天线231、测试天线232、测试天线233与被测件10的距离基本相等。测试天线231、测试天线232、测试天线233都是单极化天线，测试天线231、测试天线232、测试天线233与被测件10的主平面处于同一个平面上。被测件10可以是移动通信手机、或者平板电脑等，其工作频段可能包含低频段(824MHz～960MHz)、高频段(1710MHz～2170MHz)，测试天线231、测试天线233用来对被测件10中天线的较大辐射方向进行测量，测试天线232用来对被测件10中天线的低频段进行测量。这3个测试天线的排布位置、与被测件10的相互位置关系，以及将测试天线与被测件主平面放置在同一个平面上(即基本在同一个平面上)，这样主要的目的是保证测量天线能够测试到被测件天线的主辐射方向、主要的极化分量。

在测试的时候，首先在图5所示出的被测件10的位置放置合格的被测件，分别测试、并且记录3个测试天线的测试数据，作为基准数据，这个过程记为“标定”过程；然后，在批量测试中，将一个被测件10放置在同一被测位置上，分别测量并记录3个测试天线的测试数据，并将测试数据与上述基准数据进行比较，如果测试数据与基准数据相比超过预设的门限值，可以判定为“不合格”，否则判定为“合格”。这里所说的比较可为低频段、高频段可以选取不同的测试天线用于判断，原则是选取该频段的主辐射方向。

实施例2：6个测试天线的布局。如图6所示。如图6中的圆圈，用来表示测试天线231、测试天线232、测试天线233、测试天线234、测试天线235、测试天线236与被测件10的距离基本相等。上述6个测试天线都是单极化天线，且上述6个测试天线与被测件10的主平面处于同一个平面上。被测件10可以是移动通信手机、或者平板电脑，其工作频段可能包含低频段(824MHz～960MHz)、高频段(1710MHz～2170MHz)，测试天线231、232、234、235用来对被测件10中天线的较大辐射方向进行测量，测试天线233、236用来对被测件10中天线的低频段进行测量。这6个测试天线的排布位置、与被测件10的相互位置关系，以及将测试天线与被测件主平面放置在同一个平面上(即基本在同一个平面上)，这样主要的目的是保证测试天线能够测试到被测件天线的主辐射方向、主要的极化分量。可以看出，与三个测试天线的方案相比，六个测试天线更容易抓取到被测件10各个频段的主辐射方向。

在测试的时候，首先在图6所示出的被测件10的位置放置合格的被测件，分别测试、并且记录6个测试天线的测试数据，作为基准数据，这个过程记为“标定”过程；然后，在批量测试中，将一个被测件10放置在同一被测位置上，分别测量并记录6个测试天线的测试数据，将测试数据与上述基准数据进行比较，如果测试数据与基准数据相比超过预设的门限值，可以判定为“不合格”，否则判定为“合格”。这里所说的比可为低频段、高频段可以选取不同的测试天线用于判断，原则是选取该频段的主辐射方向。

根据本发明实施例的无线终端的测试系统，使用了与现有测试系统完全不同的概念，即采用了多个(即至少两个)测试天线同时工作，其中被测件(DUT)位于测试空间中心，多个测试接收天线(ANT)分别位于不同的空间平面，从不同角度对被测件进行测试，以尽可能全面反映被测手机的性能，即通过使用多个测试接收天线进行测试避免了由于被测件摆放的细微偏差带来的测试偏差，提高了测试结果的一致性，提高了测量准确性，同时由于减少了测试人员的反复测试，从而提高了生产效率。

为了实现上述实施例，本发明还提出了一种微波暗室。

图7是根据本发明一个实施例的微波暗室的结构示意图。如图7所示，该微波暗室可以包括：屏蔽箱体21、吸波材料22和多个测试天线23(如图7中示出了6个测试天线)。其中，在本发明的实施例中，屏蔽箱体21可以是金属屏蔽箱体，吸波材料22(如吸波棉等)铺设在屏蔽箱体21的内壁上。多个测试天线23可设置在屏蔽箱体21的内部，多个测试天线23与被测件(可为无线终端，无线终端可以是手机、平板电脑、个人数字助理等具有各种操作系统的硬件设备)的相互位置关系对应同一个球体，其中，被测件设置在上述球体的中心，多个测试天线23分别设置在上述球体表面上的不同位置。此外，在本发明的实施例中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，也就是说，多个测试天线23的含义是至少两个测试天线23，例如两个测试天线23、三个测试天线23或者更多个测试天线，图7是以6个测试天线为例示出的。

需要说明的是，被测件设置上述球体中心，多个测试天线23位于球面上的不同位置，这样可以使得每个测试天线23距离该被测件的距离基本相等。由此，通过将被测件放置在距离每个测试天线相同的位置上，使得测试结果能够更加的准确。

在本发明的实施例中，多个测试天线23可用于接收被测件发送的无线信号。具体地，假设本发明实施例的微波暗室可应用于无线终端的测试系统中，该测试系统还可包括测量装置，测量装置可与多个测试天线23连接，测量装置可对多个测试天线23接收的无线信号进行测试。具体地，在测试时，测试员将被测件放置在被测位置(即上述所描述的球体中心所对应的位置)，上，测量装置分别测量并记录多个测试天线23的测试数据，并将这些测试数据进行比较，如果测试数据与预设的基准数据之间的差值超过了预设门限值(该门限值可以是预先设定的，可根据大量的实现实验数据得到的经验值)，则可判断该被测件的无线性能不合格，否则可判断被测件的无线性能合格。可以理解，上述的比较可理解为低频段、高频段可以选取不同的测试天线23用于判断，原则是选取该频段的主辐射方向。其中，在本发明的实施例中，预设的基准数据是通过在标定过程中得到的，即将合格的被测件放在相同的测试环境中所得到的测试数据。

进一步的，在本发明的实施例中，多个测试天线23的排布位置、与被测件的相互位置关系，以及多个测试天线23与被测件主平面设置在同一个平面上。由此，可以保证测试天线能够测试到被测件天线的主辐射方向、主要的极化分量。可以理解，被测件通常具有显示屏，被测件的厚度方向垂直于被测件显示屏所在的平面，由于被测件的厚度较薄(其相对于测试频段的波长而言)，所以可不再区分被测件的平面所在平面、底壳所在平面了，而是将被测件厚度的中间位置所在平面称为被测件主平面。

进一步的，在本发明的实施例中，多个测试天线23可为单极化天线，其中，多个测试天线23的极化方向与被测件主平面位于同一个平面。如图5所示，测试天线231、测试天线232、测试天线233均是单极化天线，且测试天线231、测试天线232、测试天线233的极化方向分别与被测件主平面位于同一个平面。

其中，在本发明的实施例中，多个测试天线23可为宽频带天线，其中，多个测试天线23所覆盖的频率范围为824MHz～2179MHz。具体地，多个测试天线23可以使宽频带的，可覆盖各种无线终端(如手机)工作的频段，覆盖的频率范围可从600MHz～3000MHz，例如，包括GSM850、GSM900、GSM1800、GSM1900，3G手机的2.1GHz。可以理解，如果测试天线不是宽频带的天线，那么测试不同的无线终端时，就不需要更换测试天线。由此，提高了系统应用的广泛性，换一种说法，在测试不同的无线终端时，减少了更换测试天线的次数。

为了使得本领域的技术人员能够更加清楚的了解多个测试天线的空间布局，下面将举例说明。以下是本发明无线终端的测试系统中多个测试天线空间布局的两种具体实施实例，其中图5和图6中所示的立体图形以及大小比例均为示意。

实施例1：3个测试天线的布局，如图5所示。如图5中的圆圈，用来表示测试天线231、测试天线232、测试天线233与被测件的距离基本相等。测试天线231、测试天线232、测试天线233都是单极化天线，测试天线231、测试天线232、测试天线233与被测件的主平面处于同一个平面上。被测件可以是移动通信手机、或者平板电脑等，其工作频段可能包含低频段(824MHz～960MHz)、高频段(1710MHz～2170MHz)，测试天线231、测试天线233用来对被测件中天线的较大辐射方向进行测量，测试天线232用来对被测件中天线的低频段进行测量。这3个测试天线的排布位置、与被测件的相互位置关系，以及将测试天线与被测件主平面放置在同一个平面上(即基本在同一个平面上)，这样主要的目的是保证测量天线能够测试到被测件天线的主辐射方向、主要的极化分量。

实施例2：6个测试天线的布局。如图6所示。如图6中的圆圈，用来表示测试天线231、测试天线232、测试天线233、测试天线234、测试天线235、测试天线236与被测件的距离基本相等。上述6个测试天线都是单极化天线，且上述6个测试天线与被测件的主平面处于同一个平面上。被测件可以是移动通信手机、或者平板电脑，其工作频段可能包含低频段(824MHz～960MHz)、高频段(1710MHz～2170MHz)，测试天线231、232、234、235用来对被测件中天线的较大辐射方向进行测量，测试天线233、236用来对被测件中天线的低频段进行测量。这6个测试天线的排布位置、与被测件的相互位置关系，以及将测试天线与被测件主平面放置在同一个平面上(即基本在同一个平面上)，这样主要的目的是保证测试天线能够测试到被测件天线的主辐射方向、主要的极化分量。可以看出，与三个测试天线的方案相比，六个测试天线更容易抓取到被测件各个频段的主辐射方向。

根据本发明实施例的微波暗室，采用了多个(即至少两个)测试天线同时工作，其中被测件(DUT)位于测试空间中心，多个测试接收天线(ANT)分别位于不同的空间平面，从不同角度对被测件进行测试，以尽可能全面反映被测手机的性能，即通过使用多个测试接收天线进行测试避免了由于被测件摆放的细微偏差带来的测试偏差，提高了测试结果的一致性，提高了测量准确性，同时由于减少了测试人员的反复测试，从而提高了生产效率。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。

尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

Claims (8)

1.一种无线终端的测试系统，其特征在于，包括：

被测件，所述被测件为无线终端；

微波暗室，所述被测件设置在所述微波暗室内，其中，所述微波暗室包括：

屏蔽箱体；

吸波材料，所述吸波材料铺设在所述屏蔽箱体的内壁上；

多个测试天线，所述多个测试天线设置在所述屏蔽箱体的内部，所述多个测试天线与所述被测件的相互位置关系对应同一个球体，其中，所述被测件设置在所述球体的中心，所述多个测试天线分别设置在所述球体表面上的不同位置以使得多个测试天线距离所述被测件的距离相等，所述多个测试天线的排布位置、与所述被测件的相互位置关系，以及所述多个测试天线与被测件主平面设置在同一个平面上，所述多个测试天线用于接收所述被测件发送的无线信号；

测量装置，所述测量装置通过射频电缆线与所述多个测试天线连接，所述测量装置用于对所述多个测试天线接收的无线信号进行测试。

2.如权利要求1所述的无线终端的测试系统，其特征在于，还包括：

射频切换开关，所述射频切换开关的一端通过所述射频电缆线与所述多个测试天线连接，所述射频切换开关的另一端通过所述射频电缆线与所述测量装置连接，所述射频切换开关用于将所述多个测试天线接收的无线信号选择切换一路输出，以使所述测量装置对所述输出的一路信号进行测试。

3.如权利要求1所述的无线终端的测试系统，其特征在于，所述射频电缆线铺设在所述屏蔽箱体的外部。

4.如权利要求1所述的无线终端的测试系统，其特征在于，所述多个测试天线为单极化天线，其中，所述多个测试天线的极化方向与所述被测件主平面位于同一个平面。

5.如权利要求1所述的无线终端的测试系统，其特征在于，所述多个测试天线为宽频带天线，其中，所述多个测试天线所覆盖的频率范围为600MHz～3000MHz。

6.一种微波暗室，其特征在于，包括：

屏蔽箱体；

吸波材料，所述吸波材料铺设在所述屏蔽箱体的内壁上；

多个测试天线，所述多个测试天线设置在所述屏蔽箱体的内部，所述多个测试天线与被测件的相互位置关系对应同一个球体，其中，所述被测件设置在所述球体的中心，所述多个测试天线分别设置在所述球体表面上的不同位置以使得多个测试天线距离所述被测件的距离相等，所述多个测试天线的排布位置、与所述被测件的相互位置关系，以及所述多个测试天线与被测件主平面设置在同一个平面上；

其中，所述多个测试天线用于接收所述被测件发送的无线信号。

7.如权利要求6所述的微波暗室，其特征在于，所述多个测试天线为单极化天线，其中，所述多个测试天线的极化方向与所述被测件主平面位于同一个平面。

8.如权利要求6所述的微波暗室，其特征在于，所述多个测试天线为宽频带天线，其中，所述多个测试天线所覆盖的频率范围为600MHz～3000MHz。