CN107247192A - 一种移动终端天线测试系统及方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种移动终端天线测试系统，用于测试待测天线产品，包括：一测试治具，用于固定待测天线产品；一网络分析仪，与所述测试治具连接，用于对待测天线产品进行S11参数和阻抗参数测试。与现有技术相比，本发明有益效果在于：本发明通过对测试治具的改进，并结合网络分析仪，实现了一次作业即可完成天线S11参数和天线阻抗参数的测试，其有效提高了设备的利用率，降低了测试成本，减少测试工序，节约生产测试时间，提高测试效率。另外，本发明还提供了一种测试效率高、测试方式简单的移动终端天线测试方法。

Description

一种移动终端天线测试系统及方法

技术领域

本发明涉及天线，具体涉及的是一种移动终端天线测试系统及方法。

背景技术

随着现代社会的发展，电子设备不断的更新。人们对手机的外观功能要求新颖，同时对手机的通话质量提出了更高要求，手机天线的性能对人们的通话使用有着至关的作用。

天线生产商对天线的检测是不可忽视的重要步骤，生产对天线的性能检测直接影响用户的体验满意度，因此手机天线的生产性能检测尤为重要。天线制造商对检测天线的生产检测为S11(S11表示回波损耗特性，一般通过网络分析仪来看其损耗的dB值和阻抗特性，此参数表示天线的发射效率好不好，值越大，表示天线本身反射回来的能量越大，这样天线的效率就越差)的反射系数检测和阻抗测试。而目前对于天线的检测主要采用两种测试设备和两种测试治具，其极大降低了测试效率，浪费人力物力，降低了生产竞争力。

发明内容

为此，本发明的目的在于提供一种测试效率高、测试成本低的移动终端天线测试系统。

本发明的目的是通过以下技术方案实现的。

一种移动终端天线测试系统，用于测试待测天线产品，包括：

一测试治具，用于固定待测天线产品；

一网络分析仪，与所述测试治具连接，用于对待测天线产品进行S11参数和阻抗参数测试。

优选地，所述网络分析仪上设置有高频频段的第一接口和低频频段的第二接口。

优选地，所述测试治具包括底板、位于底板上方的上模板和位于底板侧面的侧压板；

所述底板上设置有一用于放置待测天线产品的凹槽，该凹槽底部设置有一测试端口，所述测试端口中设置有第一探针；

所述上模板与底板之间通过第一弹簧连接，且上模板通过气缸控制下压固定待测天线产品在凹槽中时，第一探针与待测天线产品的天线馈点对应接触，测试天线S11参数；

所述侧压板与底板之间通过第二弹簧连接，侧压板上设置有第二探针，且侧压板通过气缸控制推动接触底板侧面时，所述第二探针对应接触待测天线产品的天线首尾端测试天线阻抗参数。

优选地，所述第一接口通过一cable线连接第一探针，用于测试天线的S11参数；所述第二端口通过一同轴线连接第二探针，用于测试天线的阻抗参数。

优选地，所述网络分析仪的扫频范围为10khz～8.5Ghz。

另外，本发明的目的还在于提供一种测试效率高、测试方式简单的移动终端天线测试方法。

一种移动终端天线测试方法，包括：

步骤一、将网络分析仪的第一接口通过一cable线连接第一探针，第二端口通过一同轴线连接第二探针；

步骤二、通过气缸控制上模板下压，使第一探针与天线馈点接触，进行天线S11参数测试，测试完毕后，上模板在第一弹簧作用下复位；

步骤三、通过气缸控制侧压板靠近底板侧面，使第二探针与天线接触，进行天线阻抗参数测试，测试完毕后，侧压板在第二弹簧作用下复位。

与现有技术相比，本发明有益效果在于：本发明通过对测试治具的改进，并结合网络分析仪，实现了一次作业即可完成天线S11参数和天线阻抗参数的测试，其有效提高了设备的利用率，降低了测试成本，减少测试工序，节约生产测试时间，提高测试效率。

附图说明

图1为本发明将S11测试和阻抗测试结合测试的结构示意图；

图2为本发明测试治具的结构示意图一；

图3为本发明测试治具的结构示意图二。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

针对目前天线检测效率低，成本高的问题，本发明提供了一种移动终端天线测试系统。

请参阅图1所示，图1为本发明将S11测试和阻抗测试结合测试的结构示意图。本发明提供了一种移动终端天线测试系统，用于测试待测天线产品，包括：测试治具及网络分析仪。

其中，测试治具用于固定待测天线产品，以实现可以通过气缸控制完成天线S11参数和阻抗参数的测试。

网络分析仪，用于对待测天线产品进行S11参数和阻抗参数测试。网络分析仪时一种能在宽频带内进行扫描测量以确定网络参量的综合性微波测量仪器。全称是微波网络分析仪。网络分析仪是测量网络参数的一种新型仪器，可直接测量有源或无源、可逆或不可逆的双口和单口网络的复数散射参数，并以扫频方式给出各散射参数的幅度、相位频率特性。自动网络分析仪能对测量结果逐点进行误差修正，并换算出其他几十种网络参数，如输入反射系数、输出反射系数、电压驻波比、阻抗(或导纳)、衰减(或增益)、相移和群延时等传输参数以及隔离度和定向度等。

本实施例网络分析仪扫频范围为10khz～8.5Ghz，其设置有两个接口(第一接口和第二接口)，第一接口通过一根cable线连接测试治具，cable线一端为单口，另一端为两个测试卡口，其中单口连接网络分析仪的第一接口，两个测试卡口则连接到测试治具。

网络分析仪的第二接口通过一根同轴线连接测试治具，同轴线一端连接网络分析仪的第二接口，另一端对应连接测试治具。

如图2、图3所示，图2为本发明测试治具的结构示意图一；图3为本发明测试治具的结构示意图二。

本实施例中的测试治具包括底板13，底板13上设置有一个用于放置待测天线产品的凹槽，该凹槽的底部设置有一个测试端口7，所述测试端口7中设置有第一探针。

其中所述待测天线产品上形成有天线6。

底板13上方设置有上模板8，所述上模板8与底板13之间通过第一弹簧12连接，且上模板8通过气缸控制下压固定待测天线产品在凹槽中时，第一探针12可以与待测天线产品的天线馈点对应接触，测试天线S11参数。

底板13的侧面设置有侧压板9，所述侧压板9与底板13之间通过第二弹簧连接，侧压板上设置有第二探针(②’和③’)，且侧压板9通过气缸控制推动接触底板13侧面时，所述第二探针对应接触待测天线产品的天线首尾端(⑩和)测试天线阻抗参数。

其中第一接口通过cable线连接第一探针，用于测试天线的S11参数；所述第二端口通过同轴线连接第二探针，用于测试天线的阻抗参数。

针对目前天线检测效率低，测试繁琐的问题，本发明还提供了一种移动终端天线测试方法，其具体包括步骤：

步骤一、将网络分析仪的第一接口通过一cable线连接第一探针，第二端口通过一同轴线连接第二探针；

步骤二、启动网络分析仪和气缸，并通过气缸控制上模板下压，使第一探针与天线馈点接触，进行天线S11参数测试，测试完毕后，上模板在第一弹簧作用下复位；

步骤三、通过气缸控制侧压板靠近底板侧面，使第二探针与天线接触，进行天线阻抗参数测试，测试完毕后，侧压板在第二弹簧作用下复位。

综上所述，本发明一次作业即可完成对天线的S11测试和天线阻抗的测试，其通过将S11和阻抗测试结合用网络分析仪测试，不但提高设备利用率，降低测试成本；而且能够一次性测试S11和阻抗，减少测试工序，节约生产测试时间，提高测试效率；另外，通过将两种测试设备和测试治具合成一种，还能有效降低空间的占有，便于产品的运输。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种移动终端天线测试系统，用于测试待测天线产品，其特征在于，包括：

一测试治具，用于固定待测天线产品；

一网络分析仪，与所述测试治具连接，用于对待测天线产品进行S11参数和阻抗参数测试。

2.如权利要求1所述的移动终端天线测试系统，其特征在于，所述网络分析仪上设置有高频频段的第一接口和低频频段的第二接口。

3.如权利要求2所述的移动终端天线测试系统，其特征在于，所述测试治具包括底板、位于底板上方的上模板和位于底板侧面的侧压板；

所述底板上设置有一用于放置待测天线产品的凹槽，该凹槽底部设置有一测试端口，所述测试端口中设置有第一探针；

所述上模板与底板之间通过第一弹簧连接，且上模板通过气缸控制下压固定待测天线产品在凹槽中时，第一探针与待测天线产品的天线馈点对应接触，测试天线S11参数；

所述侧压板与底板之间通过第二弹簧连接，侧压板上设置有第二探针，且侧压板通过气缸控制推动接触底板侧面时，所述第二探针对应接触待测天线产品的天线首尾端测试天线阻抗参数。

4.如权利要求3所述的移动终端天线测试系统，其特征在于，所述第一接口通过一cable线连接第一探针，用于测试天线的S11参数；所述第二端口通过一同轴线连接第二探针，用于测试天线的阻抗参数。

5.如权利要求1所述的移动终端天线测试系统，其特征在于，所述网络分析仪的扫频范围为10khz～8.5Ghz。

6.一种移动终端天线测试方法，其特征在于，包括：

步骤一、将网络分析仪的第一接口通过一cable线连接第一探针，第二端口通过一同轴线连接第二探针；

步骤二、通过气缸控制上模板下压，使第一探针与天线馈点接触，进行天线S11参数测试，测试完毕后，上模板在第一弹簧作用下复位；

步骤三、通过气缸控制侧压板靠近底板侧面，使第二探针与天线接触，进行天线阻抗参数测试，测试完毕后，侧压板在第二弹簧作用下复位。