CN205749844U - 一种电源纹波测试装置及系统 - Google Patents
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Abstract
本实用新型实施例提供了一种电源纹波测试装置及系统，所述装置包括：同轴线、射频探头、第一引线和第二引线，其中，所述同轴线的一端设有同轴线转接头，另一端连接所述射频探头，通过所述同轴线转接头将所述同轴线的信号线与所述第一引线的第一端连接和所述同轴线的地线与所述第二引线的第一端连接。通过本实用新型实施例可提高电源纹波的测试精度。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子技术领域，具体涉及一种电源纹波测试装置及系统。
背景技术
在硬件开发过程中，电源的纹波是研发过程中要重点测试和解决的问题，如何获得准确的电源纹波将会极大影响到电源问题的定位、调试等，例如，很多模拟电源都需要极低的纹波幅度，以满足电源的要求。目前，主要采用普通示波器加近地探头来测试电源的纹波，但是，该方法不能测试精度比较高的纹波，比如10mV以下的纹波。
实用新型内容
本实用新型实施例提供了一种电源纹波测试装置及系统，可以提高电源纹波的测试精度。
本实用新型实施例第一方面提供了一种电源纹波测试装置，包括：
同轴线，射频探头，第一引线和第二引线，其中，所述同轴线的一端设有同轴线转接头，另一端连接所述射频探头，通过所述同轴线转接头将所述同轴线的信号线与所述第一引线的第一端连接和所述同轴线的地线与所述第二引线的第一端连接。
本实用新型实施例第二方面提供了一种电源纹波测试系统，包括：电源纹波测试装置、示波器和被测电源，其中，所述电源纹波测试装置包括同轴线、射频探头、第一引线和第二引线，所述同轴线的一端设有同轴线转接头，另一端连接所述射频探头，所述射频探头连接所述示波器的任一接口，通过所述同轴线转接头将所述同轴线的信号线与所述第一引线的第一端连接和所述同轴线的地线与所述第二引线的第一端连接，所述第一引线的第二端与所述被测电源的被测点的正极，所述第二引线的第二端连接所述被测点的负极。
实施本实用新型实施例，具有如下有益效果：
通过本实用新型实施例，电源纹波测试装置由同轴线、射频探头、第一引线和第二引线，其中，所述同轴线的一端设有同轴线转接头，另一端连接所述射频探头，通过所述同轴线转接头将所述同轴线的信号线与所述第一引线的第一端连接和所述同轴线的地线与所述第二引线的第一端连接。从而，在测量过程中，该装置的射频探头与示波器接口进行连接，而第一引线接被测电源的被测点的正极和第二引线接被测量电源的负极，可提高电源纹波的测试精度。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本实用新型实施例提供的一种电源纹波测试装置的实施例结构示意图；
图1a是本实用新型实施例提供的一种电源纹波测试装置测量电源纹波的结构示意图；
图2是本实用新型实施例提供的一种种电源纹波测试系统的实施例结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1，为本实用新型实施例提供的一种电源纹波测试装置的实施例流程示意图。本实施例中所描述的电源纹波测试装置，包括：
同轴线101，射频探头102，第一引线104和第二引线105，其中，所述同轴线101的一端设有同轴线转接头103，另一端连接所述射频探头102，通过所述同轴线转接头103将所述同轴线101的信号线与所述第一引线104的第一端 连接和所述同轴线101的地线与所述第二引线105的第一端连接。
具体地，本实用新型中所描述的电源纹波测试装置主要可包括同轴线101，射频探头102，第一引线104和第二引线105。其中，同轴线101的一端设有同轴线转接头103，另一端连接射频探头102。由现有技术可知，同轴线通常包含信号线和地线，而同轴线的一端通常与同轴线转接头连接，利用该同轴线转接头引出同轴线的信号线和地线。因此，本实用新型中，同轴线转接头103可用于引出同轴线101的信号线和地线，从而，通过该同轴线转接头103将该同轴线101的信号线与第一引线104的第一端连接和同轴线101的地线与第二引线105的第一端连接。
进一步地，在该电源纹波测试装置在对被测电源进行测量的过程中，如图1a所示，还需要用到示波器和被测电源。其中，被测电源包含被测点，优选地，被测点为距离被测电源的正极最近的电容，由此，被测点可包含正极和负极。射频探头102可用于连接示波器的任一接口，第一引线104的第二端与被测点的正极，第二引线105的第二端连接被测点的负极，从而，形成一个完整的电源纹波测量电路。在电源纹波测量电路上电后，用户可把示波器通道的带宽限制打开，调整至AC耦合档位，打开示波器的余晖模式，调整幅度至用户需要的精度即可测试到更加准确更加小的纹波。
优选地，第一引线104的长度不大于30厘米，和/或，第二引线105的长度不大于30厘米。第一引线104的宽度不小于0.2毫米，和/或，第二引线的宽度不小于0.2毫米。即实际测量中第一引线104和第二引线105的长度越短越好，且第一引线104和第二引线105的宽度越宽越好，如此，可降低因为引线引入电阻，给电源纹波测量带来误差。其中，引线具体的长度和宽度可根据实际情况进行确定。在第一引线104和第二引线105为同一种材料的情况下，第一引线104与第二引线105长度差小于预设阈值。该预设阈值可为0～1厘米，或者，2～5厘米，0.02厘米～1厘米等等。即在第一引线104和第二引线105为同一种材料的情况下，第一引线104和第二引线105的长度在相同的情况下，可避免由于导线长度不一，带来的测量误差。
在不需要明确追求测量精度的情况下，第一引线104或者第二引线105的长度也可以大于30厘米。第一引线104和第二引线105的宽度也可以小于0.2毫米。
特殊地，若第一引线104和第二引线105由超导材料制作而成，那么，导线的长度与宽度可不受限制。
需要说明的是，实际应用中，射频探头具有本底噪声，因而，与原有示波器的近地探头相比，具有更地的本底噪声。而同轴线是常见的信号传输线，中心的铜芯是传送高电平的，被绝缘材料包覆；绝缘材料外面是与铜芯共轴的筒状金属薄层，传输低电平，同时起到屏蔽作用。可减小信号在传输过程中带来的干扰。
通过本实用新型实施例，电源纹波测试装置由同轴线、射频探头、第一引线和第二引线，其中，所述同轴线的一端设有同轴线转接头，另一端连接所述射频探头，通过所述同轴线转接头将所述同轴线的信号线与所述第一引线的第一端连接和所述同轴线的地线与所述第二引线的第一端连接。从而，在测量过程中，该装置的射频探头与示波器接口进行连接，而第一引线接被测电源的被测点的正极和第二引线接被测量电源的负极，可提高电源纹波的测试精度。
请参阅图2，为本实用新型实施例提供的一种电源纹波测试系统的实施例结构示意图。本实施例中所描述的电源纹波测试系统，包括：
电源纹波测试装置201、示波器202和被测电源203，其中，所述电源纹波测试装置201包括同轴线101、射频探头102、第一引线104和第二引线105，所述同轴线101的一端设有同轴线转接头103，另一端连接所述射频探头102，所述射频探头102连接所述示波器202的任一接口，通过所述同轴线转接头103将所述同轴线101的信号线与所述第一引线104的第一端连接和所述同轴线101的地线与所述第二引线105的第一端连接，所述第一引线104的第二端与所述被测电源203的被测点的正极，所述第二引线105的第二端连接所述被测点的负极。
具体地，该电源纹波测试系统中，被测电源203包含被测点，优选地，被测点为距离被测电源的正极最近的电容，由此，被测点可包含正极和负极。电源纹波测试装置201通过射频探头102连接示波器202的任一接口，电源纹波测试装置201的第一引线104的第二端与被测点的正极，第二引线105的第二端连接被测点的负极，从而，形成一个完整的电源纹波测量电路。在电源纹波测量电路上电后，用户可把示波器通道的带宽限制打开，调整至AC耦合档位，打开示波器的余晖模式，调整幅度至用户需要的精度即可测试到更加准确更加 小的纹波。
优选地，第一引线104的长度不大于30厘米，和/或，第二引线105的长度不大于30厘米。第一引线104的宽度不小于0.2毫米，和/或，第二引线的宽度不小于0.2毫米。即实际测量中第一引线104和第二引线105的长度越短越好，且第一引线104和第二引线105的宽度越宽越好，如此，可降低因为引线引入电阻，给电源纹波测量带来误差。其中，引线具体的长度和宽度可根据实际情况进行确定。在第一引线104和第二引线105为同一种材料的情况下，第一引线104与第二引线105长度差小于预设阈值。该预设阈值可为0～1厘米，或者，2～5厘米，0.02厘米～1厘米等等。即在第一引线104和第二引线105为同一种材料的情况下，第一引线104和第二引线105的长度在相同的情况下，可避免由于导线长度不一，带来的测量误差。
在不需要明确追求测量精度的情况下，第一引线104或者第二引线105的长度也可以大于30厘米。第一引线104和第二引线105的宽度也可以小于0.2毫米。
特殊地，若第一引线104和第二引线105由超导材料制作而成，那么，导线的长度与宽度可不受限制。
需要说明的是，实际应用中，射频探头具有本底噪声，因而，与原有示波器的近地探头相比，具有更地的本底噪声。而同轴线是常见的信号传输线，中心的铜芯是传送高电平的，被绝缘材料包覆；绝缘材料外面是与铜芯共轴的筒状金属薄层，传输低电平，同时起到屏蔽作用。可减小信号在传输过程中带来的干扰。
通过本实用新型实施例，由电源纹波测试装置、示波器和被测电源组成的电源纹波测试系统中的电源纹波测试装置由同轴线、射频探头、第一引线和第二引线，其中，所述同轴线的一端设有同轴线转接头，另一端连接所述射频探头，通过所述同轴线转接头将所述同轴线的信号线与所述第一引线的第一端连接和所述同轴线的地线与所述第二引线的第一端连接。从而，在测量过程中，该装置的射频探头与示波器接口进行连接，而第一引线接被测电源的被测点的正极和第二引线接被测量电源的负极，可提高电源纹波的测试精度。
以上所揭露的仅为本实用新型较佳实施例而已，当然不能以此来限定本实用新型之权利范围，因此依本实用新型权利要求所作的等同变化，仍属本实用 新型所涵盖的范围。
Claims (10)
1.一种电源纹波测试装置，其特征在于，包括：同轴线、射频探头、第一引线和第二引线，其中，所述同轴线的一端设有同轴线转接头，另一端连接所述射频探头，通过所述同轴线转接头将所述同轴线的信号线与所述第一引线的第一端连接和所述同轴线的地线与所述第二引线的第一端连接。
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述射频探头连接示波器的任一接口。
3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述第一引线的第二端与被测点的正极，所述第二引线的第二端连接所述被测点的负极。
4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述被测点为距离被测电源的正极最近的电容。
5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述第一引线的长度不大于30厘米和/或所述第二引线的长度不大于30厘米。
6.根据权利要求1至5任一项所述的装置，其特征在于，所述第一引线与所述第二引线长度差小于预设阈值。
7.一种电源纹波测试系统，其特征在于，包括：电源纹波测试装置、示波器和被测电源，其中，所述电源纹波测试装置包括同轴线、射频探头、第一引线和第二引线，所述同轴线的一端设有同轴线转接头，另一端连接所述射频探头，所述射频探头连接所述示波器的任一接口，通过所述同轴线转接头将所述同轴线的信号线与所述第一引线的第一端连接和所述同轴线的地线与所述第二引线的第一端连接，所述第一引线的第二端与所述被测电源的被测点的正极，所述第二引线的第二端连接所述被测点的负极。
8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述被测点为距离所述被测电源的正极最近的电容。
9.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述第一引线的长度不大于30厘米和/或所述第二引线的长度不大于30厘米。
10.根据权利要求7至9任一项所述的系统，其特征在于，所述第一引线与所述第二引线长度差小于预设阈值。
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