CN107733537A - 一种用于射频性能测试的类暗室耦合测试方法和测试设备 - Google Patents
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Abstract
本发明适用于移动通信终端射频性能测试技术领域，公开了一种用于射频性能测试的类暗室耦合测试方法和测试设备。类暗室耦合测试方法包括以下步骤：将无线通信设备通过夹具固定；将无线通信设备的天线和测试天线辐射方向相向；调整无线通信设备和测试天线的位置，使无线通信设备的耦合辐射功率达到最大值，用坏机校验后进行测试。类暗室耦合测试设备，包括屏蔽箱、设置于屏蔽箱内且用于夹持无线通信设备的夹具、设置于屏蔽箱内且与夹具相向间距设置的测试天线和用于监测测试天线和无线通信设备之耦合辐射功率的耦合辐射功率检测装置。本发明所提供的一种用于射频性能测试的类暗室耦合测试方法和测试设备，可以有效拦截坏机，测试可靠性佳。
Description
技术领域
本发明属于移动通信终端射频性能测试技术领域，尤其涉及一种用于射频性能测试的类暗室耦合测试方法和测试设备。
背景技术
当前，手机等无线通信产品(移动通信终端)的射频性能耦合测试(2G/3G/4G/WIFI/BT/GPS)的方法都是通过把被测产品直接放在测试天线上或者靠近测试天线去测试，一般没有考虑到被测产品的天线辐射区与测试天线辐射区的充分耦合，同时测试夹具的材质对无线信号的影响也没有考虑进来，这样的测试方法造成了有功率偏低的坏机，测试结果却是正常的，不能达到有效拦截不良坏机的目的，测试可靠性欠佳。
发明内容
本发明的目的在于克服上述现有技术的不足，提供了一种用于射频性能测试的类暗室耦合测试方法和测试设备，其测试可靠性佳。
本发明的技术方案是：一种用于射频性能测试的类暗室耦合测试方法，包括以下步骤：
将无线通信设备通过夹具固定；
将固定有无线通信设备的夹具放置于屏蔽箱内，使所述无线通信设备悬空，且无线通信设备的天线和测试天线辐射方向相向；
调整无线通信设备和测试天线的位置，使无线通信设备的耦合辐射功率达到最大值，记录或固定测试天线和无线通信设备的耦合辐射功率达到最大值的位置；
将所述无线通信设备替换为功率低于设定值的坏机，检验测试结果，若测试结果显示检测结果为坏机，则直接采用另一待测无线通信设备继续测试，若测试结果未能显示为坏机，则微调坏机和测试天线的相对位置至测试结果检测出坏机后采用另一待测无线通信设备继续测试。
可选地，测试前，对所述测试天线和无线通信设备中天线的有效辐射区域进行净空处理。
可选地，所述夹具夹于所述无线通信设备的两侧。
可选地，所述无线通信设备距离所述测试天线的距离为2至12厘米。
可选地，所述无线通信设备距离所述测试天线的距离为4至6厘米。
本发明还提供了一种用于射频性能测试的类暗室耦合测试设备，包括屏蔽箱、设置于所述屏蔽箱内且用于夹持无线通信设备的夹具、设置于所述屏蔽箱内且与夹具相向间距设置的测试天线和用于监测所述测试天线和无线通信设备之耦合辐射功率的耦合辐射功率检测装置。
可选地，所述夹具连接有夹持于无线通信设备两侧的夹具支架。
可选地，所述夹具或/和所述夹具支架采用绝缘且防静电的材质。
可选地，所述测试天线为定向辐射天线。
可选地，所述测试天线通过方位调节部件连接于所述夹具或屏蔽箱。
本发明所提供的一种用于射频性能测试的类暗室耦合测试方法和测试设备，在屏蔽箱内，可以通过夹具把被测的无线通信设备悬空支撑起来，使无线通信设备与测试天线之间有一定空间，无线通信设备的天线和测试天线辐射方向面对面放置，辐射区域周围净空处理，以达到最佳的耦合效果，准确模拟OTA暗室实验室的耦合测试环境，可以有效拦截坏机，测试可靠性佳。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例提供的一种用于射频性能测试的类暗室耦合测试设备的主视图；
图2是本发明实施例提供的一种用于射频性能测试的类暗室耦合测试设备的俯视图；
图3是本发明实施例提供的一种用于射频性能测试的类暗室耦合测试设备的左视图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者可能同时存在居中元件。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。
还需要说明的是，本发明实施例中的左、右、上、下等方位用语，仅是互为相对概念或是以产品的正常使用状态为参考的，而不应该认为是具有限制性的。
如图1至图3所示，本发明实施例提供的一种用于射频性能测试的类暗室耦合测试方法，可以用于测试无线通信终端(手机、平板电脑)射频性能耦合测试(2G/3G/4G/WIFI/BT/GPS)，本实施例中，以手机为例，包括以下步骤：
将无线通信设备1通过夹具2固定；
将固定有无线通信设备1的夹具2放置于屏蔽箱(图中未示出)内，使无线通信设备1悬空，且无线通信设备1的天线和屏蔽箱内的测试天线3辐射方向相向，即无线通信设备1与测试天线3之间镂空无遮挡，且无线通信设备1中需要测试的天线朝向于测试天线3，测试天线3通过射频线连接于耦合辐射功率检测装置；
调整无线通信设备1和测试天线3之间的相对位置，使无线通信设备1的耦合辐射功率达到最大值，记录或固定测试天线3和无线通信设备1的耦合辐射功率达到最大值的位置；
将无线通信设备1替换为功率低于设定值的坏机，检验测试结果，若测试结果显示检测结果为坏机，则直接采用另一待测无线通信设备1继续测试，若测试结果未能显示为坏机，则微调坏机和测试天线3的相对位置至测试结果检测出坏机后采用另一待测无线通信设备1继续测试，这样，可以解决传统耦合测试过程中不能有效拦截坏机的问题，准确模拟OTA暗室实验室的耦合测试环境，测试可靠性佳。
可选地，测试前，对测试天线3和无线通信设备1中天线的有效辐射区域进行净空处理，以达到最佳的耦合效果。
可选地，夹具2夹于无线通信设备1的两侧。无线通信设备1(手机)天线位于底壳两端，分为主天线11和副天线，主天线11负责发射和接收，副天线主要用来接收，图示中天线属于主天线，具有发射和接收的功能,辐射方向朝向底壳下面。
可选地，无线通信设备1距离测试天线3的距离为2至12厘米，例如3至9厘米。
本实施例中，无线通信设备1距离测试天线3的距离为4至6厘米，例如5厘米。
具体地，坏机可以为功率偏低4dbm的同款移动通信终端，放到夹具固定的位置上去检验测试系统能否有效测出坏机，用坏机校验后进行测试，测试可选性高。
本发明实施例还提供了一种用于射频性能测试的类暗室耦合测试设备，包括屏蔽箱(图中未示出)、设置于屏蔽箱内且用于夹持无线通信设备1的夹具2、设置于屏蔽箱内且与夹具2相向间距设置的测试天线3和用于监测测试天线3和无线通信设备1之耦合辐射功率的耦合辐射功率检测装置(图中未示出)，耦合辐射功率检测装置可以设置于屏蔽箱外，且耦合辐射功率检测装置通过射频线连接于测试天线3。
可选地，夹具2连接有夹持于无线通信设备1两侧的夹具支架21，夹具支架21主要起到支撑手机的作用，支架不能把手机天线遮挡，尽可能减少支架面积，以减少信号被影响。夹具支架21可以与无线通信设备1点接触，其利用摩擦力夹紧无线通信设备1。
可选地，夹具2或/和夹具支架21采用绝缘且防静电的材质。夹具2选用绝缘、防静电的材质，很多材质对无线信号都有反射作用，所以测试天线3和手机天线有效辐射区域需做净空处理，以减少信号衰减和反射干扰,本实施例中，夹具2或/和夹具支架21可选用海绵泡沫、泡沫橡胶等材质。
可选地，夹具2或/和夹具支架21的表面可以涂设有防静电涂层或防干扰涂层(例如超材料涂层、吸波蜂窝涂层)等。
可选地，测试天线3为定向辐射天线，测试天线3辐射方向朝上(朝向于无线通信设备1)，无线通信设备1的天线朝下(朝向于测试天线3)。
可选地，测试天线3通过方位调节部件连接于夹具2或屏蔽箱，方位调节部件可为多轴调节部件，其可以沿X、Y、Z三个方向调节方向。当然，可以理解地，夹具支架21也可以通过另一方位调节部件连接于夹具2，也可以沿X、Y、Z三个方向调节方向，从而易于调节测试天线3和无线通信设备1的相对位置。方位调节部件可为滑杆组件(多向滑台)或塑性调节组件等。
本发明实施例所提供的一种用于射频性能测试的类暗室耦合测试方法和测试设备，在屏蔽箱内，可以通过夹具2把被测的无线通信设备1悬空支撑起来，使无线通信设备1与测试天线3之间有一定空间，无线通信设备1的天线和测试天线3辐射方向面对面放置，辐射区域周围净空处理，以达到最佳的耦合效果，准确模拟OTA暗室实验室的耦合测试环境，可以有效拦截坏机，测试可靠性佳。
以上仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换或改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种用于射频性能测试的类暗室耦合测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
将无线通信设备通过夹具固定；
将固定有无线通信设备的夹具放置于屏蔽箱内，使所述无线通信设备悬空，且无线通信设备的天线和测试天线辐射方向相向；
调整无线通信设备和测试天线的位置，使无线通信设备的耦合辐射功率达到最大值，记录或固定测试天线和无线通信设备的耦合辐射功率达到最大值的位置；
将所述无线通信设备替换为功率低于设定值的坏机，检验测试结果，若测试结果显示检测结果为坏机，则直接采用另一待测无线通信设备继续测试，若测试结果未能显示为坏机，则微调坏机和测试天线的相对位置至测试结果检测出坏机后采用另一待测无线通信设备继续测试。
2.如权利要求1所述的类暗室耦合测试方法，其特征在于，测试前，对所述测试天线和无线通信设备中天线的有效辐射区域进行净空处理。
3.如权利要求1所述的类暗室耦合测试方法，其特征在于，所述夹具夹于所述无线通信设备的两侧。
4.如权利要求1所述的类暗室耦合测试方法，其特征在于，所述无线通信设备距离所述测试天线的距离为2至12厘米。
5.如权利要求4所述的类暗室耦合测试方法，其特征在于，所述无线通信设备距离所述测试天线的距离为4至6厘米。
6.一种用于射频性能测试的类暗室耦合测试设备，其特征在于，包括屏蔽箱、设置于所述屏蔽箱内且用于夹持无线通信设备的夹具、设置于所述屏蔽箱内且与夹具相向间距设置的测试天线和用于监测所述测试天线和无线通信设备之耦合辐射功率的耦合辐射功率检测装置。
7.如权利要求6所述的类暗室耦合测试设备，其特征在于，所述夹具连接有夹持于无线通信设备两侧的夹具支架。
8.如权利要求7所述的类暗室耦合测试设备，其特征在于，所述夹具或/和所述夹具支架采用绝缘且防静电的材质。
9.如权利要求6所述的类暗室耦合测试设备，其特征在于，所述测试天线为定向辐射天线。
10.如权利要求6所述的类暗室耦合测试设备，其特征在于，所述测试天线通过方位调节部件连接于所述夹具或屏蔽箱。
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