CN109327594A - 一种ota测试暗室 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种OTA测试暗室，包括暗室本体、天线和转台，天线和转台均设置在暗室本体的内部，天线与转台相对设置，还包括用于固定天线的调节组和用于固定待测物的夹持组，调节组固定在暗室本体内部的下壁，调节组位于暗室本体内部的左侧，夹持组固定在转台上，夹持组位于暗室本体内部的右侧。本发明的OTA测试暗室能够平稳调节天线与转台上的待测物之间的距离，并且对不同规格的待测物进行夹持，能满足对不同频段的手机进行测量。

Description

一种OTA测试暗室

技术领域

本发明涉及一种测试暗室，尤其涉及一种OTA测试暗室。

背景技术

当前在手机射频性能测试中越来越关注整机辐射性能的测试，这种辐射性能反映了手机的最终发射和接收性能。目前主要有两种方法对手机的辐射性能进行考察：一种是从天线的辐射性能进行判定，是目前较为传统的天线测试方法，称为无源测试；另一种是在特定微波暗室内，测试手机的辐射功率和接收灵敏度，称为有源测试。无源测试侧重从手机天线的增益、效率、方向图等天线的辐射参数方面考察。

目前的手机样式越来越多样化，规格大小也各不相同，需要能适应不同规格大小的夹持结构，并且OTA测试暗室支持的工作频段和暗室的损耗和测量距离密切相关，测量距离为放置待测物的测量转台和暗室测量天线之间的距离，随着目前终端的支持通信制式越来越多，频率范围越来越宽，需要测量的频段越来越宽，然而现有的OTA测试暗室中的测量天线是固定的，所以暗室建设完毕后放置待测物的测量转台和暗室的测量天线之间的距离就固定了，不能满足对不同频段的手机进行测量。

发明内容

本发明的目的在于提供一种OTA测试暗室，为了实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种OTA测试暗室，包括暗室本体、天线和转台，天线和转台均设置在暗室本体的内部，天线与转台相对设置，还包括用于固定天线的调节组和用于固定待测物的夹持组，调节组固定在暗室本体内部的下壁，调节组位于暗室本体内部的左侧，夹持组固定在转台上，夹持组位于暗室本体内部的右侧。

优选地，调节组包括直线滑轨、第一滑块、连接件和调节件，第一滑块的下部位于直线滑轨内，第一滑块与直线滑轨滑动配合，连接件的底部固定在第一滑块的顶部，调节件固定在直线滑轨顶部的左侧，调节件的一部分与第一滑块的左侧壁固定连接。

优选地，调节件包括第一轴承座、第二轴承座、蜗杆、蜗轮、转轴、齿轮和齿条，第一轴承座和第二轴承座均固定在直线滑轨顶部的左侧，第二轴承座位于第一轴承座的右侧，且第二轴承座位于第一滑块的后侧，第一轴承座位于第一滑块的前侧，蜗杆的底端插在第一轴承座的内部，蜗杆与第一轴承座转动配合，转轴的后端插在第二轴承座的内部，转轴与第二轴承座转动配合，齿轮和蜗轮均固定套设在转轴上，齿轮位于蜗轮的后侧，蜗轮与蜗杆啮合，齿条的右端固定在第一滑块的左侧壁上，齿条与齿轮啮合。

优选地，还包括第二滑块，第二滑块的下部位于直线滑轨内，第二滑块与直线滑轨滑动配合，第二滑块的顶部与齿条的顶部固定连接。

优选地，连接件包括连接板和伸缩架，连接板的下表面与第一滑块的顶部固定连接，伸缩架的底部固定在连接板的上表面，天线固定在伸缩架的顶部。

优选地，夹持组包括放置台、两块夹持板和用于推动夹持板同时相互靠近或同时相互远离的推动件，放置台的内部挖空，放置台的顶部开设有移动槽，推动件的一部分位于放置台的内部，推动件的另一部分穿过放置台的前侧壁延伸至放置台外，两块夹持板分别位于放置台的前后两侧，且两块夹持板均穿过移动槽与推动件固定连接。

优选地，推动件包括导向杆、第三轴承座、双头螺纹柱、两个螺母、两个导向套和两块连接块，导向杆的前端固定在放置台内部的前侧壁上，两个导向套均套设在导向杆上，导向套与导向杆滑动配合，第三轴承座固定在放置台内部的前侧壁上，第三轴承座位于导杆的左侧，双头螺纹柱的前端穿过第三轴承座和放置台，并延伸至放置台外，双头螺纹柱的两段外螺纹的螺纹方向相反，两个螺母分别螺接在双头螺纹柱的两端外螺纹上，螺母的右侧与导向套的左侧固定连接，连接块固定在螺母的左侧，夹持板的底端穿过移动槽与连接块的顶部固定连接。

优选地，转台包括转盘、支撑件和伸缩件，转盘的底部与支撑件的顶部固定连接，转盘的顶部与伸缩件的底部固定连接，伸缩件的顶端与放置台的顶部固定连接。

优选地，支撑件包括环形滑轨和两个第三滑块，两个第三滑块的下部均位于环形滑轨内，两个第三滑块均与环形滑轨滑动配合，两个第三滑块相对设置，两个第三滑块的顶端均固定在转盘的底部。

优选地，暗室本体的内侧壁上固定有SA型泡沫角锥吸波材料。

本发明的OTA测试暗室通过蜗轮蜗杆转动的方式结合齿条齿轮实现对天线位置的调节，更加平缓，使得位置调节更加精准。通过夹持组达到能根据不同规格大小的待测物进行夹持的效果，而且在调节过程中只需要转动双头螺纹柱即可，更加方便，且推动件设于放置台内，减少空间的占用，并且避免过多的结构位于放置台上对待测物的测量造成的影响。并且根据不同的待测物的测量需求，可以调节伸缩架的高度，以使得天线能达到最好的测量效果，通过伸缩件可以调节待测物与天线之间的相对位置，以便于满足不同的测试需求。通过第三滑块对转盘的支撑，并结合环形滑轨使得第三滑块能跟随转盘转动而平稳转动。采用SA型泡沫角锥吸波材料能在较宽频率范围内具有良好的垂直入射、斜入射、散射和透射衰减性能。

附图说明

图1为本发明的主视结构示意图。

图2为本发明调节组的主视结构示意图。

图3为本发明夹持组的俯视结构示意图。

图4为本发明支撑件的剖视结构示意图。

附图中的标记为：1-暗室本体，2-天线，3-转台，31-转盘，32-支撑件，321-环形滑轨，322-第三滑块，33-伸缩件，4-调节组，41-直线滑轨，42-第一滑块，43-连接件，431-连接板，432-伸缩架，44-调节件，441-第一轴承座，442-第二轴承座，443-蜗杆，444-蜗轮，445-转轴，446-齿轮，447-齿条，5-夹持组，51-放置台，52-夹持板，53-推动件，531-导向杆，532-第三轴承座，533-双头螺纹柱，534-螺母，535-导向套，536-连接块，537-移动槽，6-第二滑块，7-SA型泡沫角锥吸波材料。

具体实施方式

现结合附图和具体实施方式对本发明进一步说明。

本说明书中未作详细描述的内容属于本领域专业技术人员公知的现有技术。在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图1所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

如图1至图4所示，本实施例中提供的一种OTA测试暗室，包括暗室本体1、天线2和转台3，天线2和转台3均设置在暗室本体1的内部，天线2与转台3相对设置，还包括用于固定天线2的调节组4和用于固定待测物的夹持组5，调节组4固定在暗室本体1内部的下壁，调节组4位于暗室本体1内部的左侧，夹持组5固定在转台3上，夹持组5位于暗室本体1内部的右侧，具体的，调节组4包括直线滑轨41、第一滑块42、连接件43和调节件44，第一滑块42的下部位于直线滑轨41内，第一滑块42与直线滑轨41滑动配合，连接件43的底部固定在第一滑块42的顶部，调节件44固定在直线滑轨41顶部的左侧，调节件44的一部分与第一滑块42的左侧壁固定连接，其中，调节件44包括第一轴承座441、第二轴承座442、蜗杆443、蜗轮444、转轴445、齿轮446和齿条447，第一轴承座441和第二轴承座442均固定在直线滑轨41顶部的左侧，第二轴承座442位于第一轴承座441的右侧，且第二轴承座442位于第一滑块42的后侧，第一轴承座441位于第一滑块42的前侧，蜗杆443的底端插在第一轴承座441的内部，蜗杆443与第一轴承座441转动配合，转轴445的后端插在第二轴承座442的内部，转轴445与第二轴承座442转动配合，齿轮446和蜗轮444均固定套设在转轴445上，齿轮446位于蜗轮444的后侧，蜗轮444与蜗杆443啮合，齿条447的右端固定在第一滑块42的左侧壁上，齿条447与齿轮446啮合，当需要调节天线2与转台3上的待测物之间的距离时，转动蜗杆443，带动蜗轮444转动，进而带动转轴445转动，从而带动齿轮446转动，使得齿条447左右运动，带动第一滑块42左右运动，进而带动连接件43及其上天线2左右运动，调节天线2与待测物之间的距离，通过蜗轮444蜗杆443转动的方式结合齿条447齿轮446实现对天线2位置的调节，更加平缓，使得位置调节更加精准。

本实施例中，还包括第二滑块6，第二滑块6的下部位于直线滑轨41内，第二滑块6与直线滑轨41滑动配合，第二滑块6的顶部与齿条447的顶部固定连接，通过第二滑块6的设置进一步提高齿条447在运动过程中的稳定性。

本实施例中，连接件43包括连接板431和伸缩架432，连接板431的下表面与第一滑块42的顶部固定连接，伸缩架432的底部固定在连接板431的上表面，天线2固定在伸缩架432的顶部，根据不同的待测物的测量需求，可以调节伸缩架432的高度，以使得天线2能达到最好的测量效果。

本实施例中，夹持组5包括放置台51、两块夹持板52和用于推动夹持板52同时相互靠近或同时相互远离的推动件53，放置台51的内部挖空，放置台51的顶部开设有移动槽537，推动件53的一部分位于放置台51的内部，推动件53的另一部分穿过放置台51的前侧壁延伸至放置台51外，两块夹持板52分别位于放置台51的前后两侧，且两块夹持板52均穿过移动槽537与推动件53固定连接，具体的，推动件53包括导向杆531、第三轴承座532、双头螺纹柱533、两个螺母534、两个导向套535和两块连接块536，导向杆531的前端固定在放置台51内部的前侧壁上，两个导向套535均套设在导向杆531上，导向套535与导向杆531滑动配合，第三轴承座532固定在放置台51内部的前侧壁上，第三轴承座532位于导杆的左侧，双头螺纹柱533的前端穿过第三轴承座532和放置台51，并延伸至放置台51外，双头螺纹柱533的两段外螺纹的螺纹方向相反，两个螺母534分别螺接在双头螺纹柱533的两端外螺纹上，螺母534的右侧与导向套535的左侧固定连接，连接块536固定在螺母534的左侧，夹持板52的底端穿过移动槽537与连接块536的顶部固定连接，根据不同的待测物调节前后两个夹持板52之间的距离，通过摇动双头螺纹柱533使其上的两端外螺纹同时转动，由于两端外螺纹的螺纹方向相反，使得前后两个螺母534同时相互靠近或相互远离，通过导向套535对螺母534的限制作用，使得螺母534只能做轴向运动而不会转动，两个螺母534带动两个连接块536同时相互靠近或相互远离，进而带动两个夹持板52相互靠近或相互远离，进而达到能根据不同规格大小的待测物进行夹持的效果，而且在调节过程中只需要转动双头螺纹柱533即可，更加方便，且推动件53设于放置台51内，减少空间的占用，并且避免过多的结构位于放置台51上对待测物的测量造成的影响。

本实施例中，转台3包括转盘31、支撑件32和伸缩件33，转盘31的底部与支撑件32的顶部固定连接，转盘31的顶部与伸缩件33的底部固定连接，伸缩件33可以为气缸，伸缩件33的顶端与放置台51的顶部固定连接，通过支撑件32可对转盘31进行支撑，提高转盘31转动过程中的平稳性，进而提高测试数据的准确性，并且通过伸缩件33可以调节待测物与天线2之间的相对位置，以便于满足不同的测试需求。

本实施例中，支撑件32包括环形滑轨321和两个第三滑块322，两个第三滑块322的下部均位于环形滑轨321内，两个第三滑块322均与环形滑轨321滑动配合，两个第三滑块322相对设置，两个第三滑块322的顶端均固定在转盘31的底部，通过第三滑块322对转盘31的支撑，并结合环形滑轨321使得第三滑块322能跟随转盘31转动而平稳转动。

本实施例中，暗室本体1的内侧壁上固定有SA型泡沫角锥吸波材料7，SA型泡沫角锥吸波材料7由聚氨酯软泡沫浸渍碳黑制成，在较宽频率范围内具有良好的垂直入射、斜入射、散射和透射衰减性能。

以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解；其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种OTA测试暗室，包括暗室本体、天线和转台，所述天线和所述转台均设置在所述暗室本体的内部，所述天线与所述转台相对设置，其特征在于：

还包括用于固定天线的调节组和用于固定待测物的夹持组；

所述调节组固定在所述暗室本体内部的下壁，所述调节组位于所述暗室本体内部的左侧；

所述夹持组固定在所述转台上，所述夹持组位于所述暗室本体内部的右侧。

2.根据权利要求1所述的OTA测试暗室，其特征在于：

所述调节组包括直线滑轨、第一滑块、连接件和调节件；

所述第一滑块的下部位于所述直线滑轨内，所述第一滑块与所述直线滑轨滑动配合；

所述连接件的底部固定在所述第一滑块的顶部；

所述调节件固定在所述直线滑轨顶部的左侧，所述调节件的一部分与所述第一滑块的左侧壁固定连接。

3.根据权利要求2所述的OTA测试暗室，其特征在于：

所述调节件包括第一轴承座、第二轴承座、蜗杆、蜗轮、转轴、齿轮和齿条；

所述第一轴承座和所述第二轴承座均固定在所述直线滑轨顶部的左侧，所述第二轴承座位于所述第一轴承座的右侧，且所述第二轴承座位于所述第一滑块的后侧，所述第一轴承座位于所述第一滑块的前侧；

所述蜗杆的底端插在所述第一轴承座的内部，所述蜗杆与所述第一轴承座转动配合；

所述转轴的后端插在所述第二轴承座的内部，所述转轴与所述第二轴承座转动配合；

所述齿轮和所述蜗轮均固定套设在所述转轴上，所述齿轮位于所述蜗轮的后侧；

所述蜗轮与所述蜗杆啮合；

所述齿条的右端固定在所述第一滑块的左侧壁上，所述齿条与所述齿轮啮合。

4.根据权利要求3所述的OTA测试暗室，其特征在于：

还包括第二滑块；

所述第二滑块的下部位于所述直线滑轨内，所述第二滑块与所述直线滑轨滑动配合；

所述第二滑块的顶部与所述齿条的顶部固定连接。

5.根据权利要求2所述的OTA测试暗室，其特征在于：

所述连接件包括连接板和伸缩架；

所述连接板的下表面与所述第一滑块的顶部固定连接；

所述伸缩架的底部固定在所述连接板的上表面；

所述天线固定在所述伸缩架的顶部。

6.根据权利要求1所述的OTA测试暗室，其特征在于：

所述夹持组包括放置台、两块夹持板和用于推动所述夹持板同时相互靠近或同时相互远离的推动件；

所述放置台的内部挖空，所述放置台的顶部开设有移动槽；

所述推动件的一部分位于所述放置台的内部，所述推动件的另一部分穿过所述放置台的前侧壁延伸至所述放置台外；

两块所述夹持板分别位于所述放置台的前后两侧，且两块所述夹持板均穿过所述移动槽与所述推动件固定连接。

7.根据权利要求6所述的OTA测试暗室，其特征在于：

所述推动件包括导向杆、第三轴承座、双头螺纹柱、两个螺母、两个导向套和两块连接块；

所述导向杆的前端固定在所述放置台内部的前侧壁上，两个所述导向套均套设在所述导向杆上，所述导向套与所述导向杆滑动配合；

所述第三轴承座固定在所述放置台内部的前侧壁上，所述第三轴承座位于所述导杆的左侧，所述双头螺纹柱的前端穿过所述第三轴承座和所述放置台，并延伸至所述放置台外，所述双头螺纹柱的两段外螺纹的螺纹方向相反；

两个所述螺母分别螺接在所述双头螺纹柱的两端外螺纹上，所述螺母的右侧与所述导向套的左侧固定连接，所述连接块固定在所述螺母的左侧，所述夹持板的底端穿过所述移动槽与所述连接块的顶部固定连接。

8.根据权利要求6所述的OTA测试暗室，其特征在于：

所述转台包括转盘、支撑件和伸缩件；

所述转盘的底部与所述支撑件的顶部固定连接，所述转盘的顶部与所述伸缩件的底部固定连接，所述伸缩件的顶端与所述放置台的顶部固定连接。

9.根据权利要求8所述的OTA测试暗室，其特征在于：

所述支撑件包括环形滑轨和两个第三滑块；

两个所述第三滑块的下部均位于所述环形滑轨内，两个所述第三滑块均与所述环形滑轨滑动配合，两个所述第三滑块相对设置；

两个所述第三滑块的顶端均固定在所述转盘的底部。

10.根据权利要求1所述的OTA测试暗室，其特征在于：

所述暗室本体的内侧壁上固定有SA型泡沫角锥吸波材料。