CN103051390A

CN103051390A - 用于减小路径损耗的方法和设备

Info

Publication number: CN103051390A
Application number: CN2012103671615A
Authority: CN
Inventors: J·G·尼科尔; M·帕斯科林尼; 申志一
Original assignee: Apple Computer Inc
Current assignee: Apple Inc
Priority date: 2011-10-12
Filing date: 2012-09-28
Publication date: 2013-04-17
Anticipated expiration: 2032-09-28
Also published as: US20130093447A1; CN103051390B; US9319908B2; WO2013055456A1

Abstract

本发明公开了用于减小路径损耗的方法和设备。测试站可以包括测试主机、测试单元和测试外壳。在产品测试期间，可以将至少具有第一天线和第二天线的被测设备（DUT）放置在测试外壳中。可以使用测试外壳内的测试天线来从测试单元向DUT传送射频测试信号。在测试第一天线的性能的第一时段中，可以将DUT定向在第一位置，使得第一天线与测试天线之间的路径损耗最小化。在测试第二天线的性能的第二时段中，可以将DUT定向在第二位置，使得第二天线与测试天线之间的路径损耗最小化。如果所收集的测试数据是令人满意的，则将DUT标记为通过的DUT。

Description

用于减小路径损耗的方法和设备

背景技术

本申请一般涉及测试电子设备，并且更具体地，涉及测试包括多个天线的电子设备。

电子设备通常包含无线通信电路。例如，设备可以使用2.4GHz和5.0GHz的

（IEEE 802.11）频带进行通信。在蜂窝电话电信频带和其它射频频带中，无线通信也是可能的。在诸如天线分集方案之类的方案中，电子设备可以使用具有多个天线的阵列来处理无线通信。

当大量制造这样类型的多天线无线设备时，可以使用射频测试站来评估每个设备上的无线通信电路的性能，以确保每个设备满足设计准则。射频测试站通常包括测试主机、测试器（例如，信号生成器）以及具有测试天线的电磁屏蔽测试外壳。信号生成器连接到测试主机。以这种方式进行布置，在产品测试期间，测试主机将信号生成器配置成经由电磁屏蔽测试外壳的测试天线向相应的被测电子设备（DUT）发送射频信号。

在传统的射频测试布置中，将只具有一个天线的无线DUT放置在电磁屏蔽测试外壳中。测试主机指导信号生成器向DUT广播下行链路测试信号（即，信号生成器使用屏蔽测试外壳中的测试天线向DUT辐射测试信号）。DUT可以使用其天线来接收下行链路测试信号。

DUT可以被配置成分析所接收到的下行链路测试信号，并确定其无线通信电路是否满足性能准则。例如，DUT可以基于所接收到的下行链路信号来计算接收功率电平。如果接收功率电平小于预定阈值，则将DUT标记为通过的DUT。如果接收功率电平大于预定阈值，则将DUT标记为失败的DUT。

以这种方式测试多天线设备可能不适合测试至少包含第一天线和第二天线的DTU，并且可能产生不正确的结果，这是因为传统的测试方法将DUT固定在电磁屏蔽测试外壳内的固定位置。如果在该固定位置中，将第一天线放置得更接近测试天线，那么测量结果可能偏向第一天线（即，测试结果对于第一天线可能更正确，但是对于第二天线可能不太正确）。如果在该固定位置中，将第二天线放置得更接近测试天线，那么测量结果可能偏向第二天线（即，测试结果对于第二天线可能更正确，而对于第一天线可能不太正确）。

还存在以下情况：至少两个天线与测试天线的距离相同，但是由于极化，与另一天线相比，设备的朝向有利于一个天线。

因此，可能希望提供用于在生产环境中测试具有多个天线的电子设备的改善方式。

发明内容

可以使用射频测试系统中的测试站来对均至少具有第一天线结构和第二天线结构的被测无线设备（DUT）执行射频测试。每个测试站可以包括测试主机、测试单元（例如，频谱分析器、向量网络分析器、信号生成器等）以及测试外壳（例如，横电磁室）。可以将诸如电感耦合器之类的测试天线放置在测试外壳内，用以使用近场通信机制向DUT辐射射频测试信号以及从DUT接收射频测试信号。

在测试之前，可以对参考DUT进行校准以确定在测试外壳内的最佳DUT朝向。例如，可以在使得第一天线结构与测试天线之间的射频信号路径损耗最小化的校准操作期间确定第一DUT朝向（例如，将与第一天线结构相关联的主要电场极化和磁场同与测试天线相关联的主要电场极化对齐的第一DUT朝向）。可以在使得第二天线结构与测试天线之间的路径损耗最小化的校准操作期间确定第二DUT朝向（例如，将与第二天线结构相关联的主要电场极化同与测试天线相关联的主要电场极化对齐的第二DUT朝向）。

一旦确定了第一和第二朝向，就可以将产品DUT放置在相应的测试固定装置中，并将其插入到测试外壳（例如，诸如横电磁室、测试箱等之类的屏蔽外壳）中。测试固定装置可以由诸如DUT旋转器之类的定位器支撑。DUT旋转器可以用于使DUT围绕期望轴旋转/倾斜/转动，或者可以用于垂直地/水平地移动DUT，以将DUT放置在测试外壳内的不同朝向。

例如，在测试第一天线结构的性能时，DUT旋转器可以将DUT定位在使第一天线结构与测试天线之间的路径损耗最小化的第一DUT朝向。当正在测试第一天线结构时，第二天线结构可以被切出使用。随后在测试第二天线结构的性能时，DUT旋转器可以将DUT定位在使第二天线结构与测试天线之间的路径损耗最小化的第二DUT朝向。当正在测试第二天线结构时，第一天线结构可以被切出使用。当测试单元向DUT主动地辐射射频测试信号并对从DUT接收到的相应信号执行测量时，可以固定DUT的位置。

根据使用测试单元收集的测试结果，可以将DUT标记为通过的DUT或失败的DUT。例如，如果第一和第二天线结构的测试数据都是令人满意的，那么可以将DUT标记为通过的DUT。如果第一和第二天线结构中的至少一个的测试数据不能满足设计准则，则可以将DUT标记为失败的DUT。失败的DUT可以返回重做，或者可以废弃。

根据附图和以下详细描述，本发明的其它特征、其特性和各种优点将更加明显。

附图说明

图1是根据本发明实施例的包括可以被测试的多个天线的类型的示例性电子设备的透视图。

图2是根据本发明实施例的在图1中所示的类型的示例性电子设备的俯视图。

图3是根据本发明实施例的包括被测设备旋转器的示例性测试站的图。

图4A和4B是示出了根据本发明实施例可以如何使被测设备围绕与测试室的底座垂直的轴旋转的侧视图，其中在测试室中正在测试该被测设备。

图5和图6是示出了根据本发明实施例可以如何使被测设备围绕平行于测试室的底座的轴旋转的侧视图，其中在测试室中正在测试该被测设备。

图7是根据本发明实施例使用结合图3所示的类型的测试站来测试被测设备所涉及的示例性步骤的流程图。

具体实施方式

可以给电子设备提供无线通信电路。无线通信电路可以用于支持多个无线通信频带中的无线通信。无线通信电路可以包括被布置成实现天线分集系统的多个天线。

天线可以包括环形天线、倒F天线、带状天线、平面倒F天线、槽孔天线、包括多于一个类型的天线结构的混合天线、或者其它适当的天线。天线的导电结构可以由导电电子设备结构形成，例如导电壳体结构，衬底上的迹线（诸如塑料、玻璃或陶瓷衬底上的迹线、柔性印刷电路板（“柔性电路”）上的迹线、刚性印刷电路板（例如，填充玻璃纤维的环氧板）上的迹线），被图形化的金属箔的多个部分、导线、导体带、其它导电结构、或者由这些结构的组合形成的导电结构。

在图1中示出了可以被提供一个或多个天线的类型的示例性电子设备。电子设备10可以是便携式电子设备或其它适当的电子设备。例如，电子设备10可以是膝上型计算机，平板计算机，诸如腕表设备、吊坠设备、耳机设备、听筒设备或其它可佩戴或小型设备之类的稍微较小的设备，蜂窝电话、媒体播放器等。

设备10可以包括诸如壳体12之类的壳体。壳体12有时可以称为箱体，可以由塑料、玻璃、陶瓷、纤维组合物、金属（例如不锈钢、铝等）、其它适当材料或这些材料的组合来形成。在一些情况中，壳体12的多个部分可以由电介质或其它低导电性材料形成。在其它情况中，壳体12或者组成壳体12的结构中的至少一些可以由金属元素形成。

如果希望的话，设备10可以具有诸如显示器14之类的显示器。显示器14可以例如是包含电容式触摸电极的触摸屏。显示器14可以包括由发光二极管（LED）、有机LED（OLED）、等离子光电元件、电子墨水元件、液晶显示（LCD）组件或其它适当的图像像素结构形成的图像像素。盖玻片层可以覆盖显示器14的表面。显示器14的多个部分，例如外围区域20I，可以是不活动的，并且可以不具有图像像素结构。显示器14的多个部分，例如矩形中心部分20A（以虚线20为边界），可以与显示器14的活动部分相对应。在活动的显示区域20A中，可以使用图像像素阵列来为用户显示图像。

覆盖显示器14的盖玻片层可以具有诸如用于按钮16的圆形开口之类的开口以及诸如扬声器端口开口18（例如，用于用户的耳机扬声器）之类的扬声器端口开口。设备10还可以具有其它开口（例如，显示器14和/或壳体12中的用于容纳音量按钮、振铃按钮、休眠按钮和其它按钮的开口，用于音频插座、数据端口连接器、可移除介质插槽的开口，等等）

壳体12可以包括外围导电元件，例如围绕显示器14和设备10的矩形轮廓延伸的金属框或带（作为例子）。

天线可以作为延伸元件或可附接结构而沿着设备10的边缘、在设备10的后部或前部上进行设置，或者设置在设备10中的其它地方。使用一个适当的布置（其在本文中有时被描述成例子），可以在壳体12的下端24向设备10提供一个或多个天线，并且在壳体12的上端22向设备10提供一个或多个天线。在设备10的相对端（即，当设备10具有图1中所示的类型的细长矩形形状时，显示器14和设备10的较窄端的区域）设置天线可以允许这些天线形成在离地结构的适当距离处，其中地结构与显示器14的导电部分（例如，显示器14的活动区域20A中的像素阵列和驱动器电路）相关联。

如果希望的话，可以将第一蜂窝电话天线设置在区域24中，并且可以将第二蜂窝电话天线设置在区域22中。还可以在区域22和/或24中提供用于处理诸如全球定位系统信号之类的卫星导航信号或者诸如IEEE 802.11信号或信号之类的无线局域网信号的天线结构（以作为独立的额外天线或作为第一和第二蜂窝电话天线的多个部分）。

在区域22和20中，可以在导电壳体结构与印刷电路板和组成设备10的其它导电电组件之间形成开口。这些开口可以填充有空气、塑料或其它电介质。导电壳体结构和其它导电结构可以用作设备10中的天线的接地层。区域20和22中的开口可以用作开放或封闭槽孔天线中的插槽，可以用作环形天线中的被材料的导电路径包围的中心电介质区域，可以用作将天线共振元件（例如带状天线共振元件或倒F天线共振元件，例如由设备10中的导电外围壳体结构的一部分形成的倒F天线共振元件）与接地层间隔开的空间，或者可以用作在区域20和22中形成的天线结构的一部分。

可以在区域22和24中形成相同的天线（即，可以在区域22和24中形成均覆盖相同一组覆盖蜂窝电话频带或其它关注的通信频带的天线）。由于布局约束或其它设计约束，可能不希望使用相同的天线。相反，可能希望使用不同的设计来实现区域22和24中的天线。例如，区域24中的第一天线可以覆盖全部关注的蜂窝电话频带（例如，四或五个频带），而区域22中的第二天线可以覆盖第一天线所处理的这四个或五个频带的一个子集。还可以使用区域24中的天线处理区域22中的天线所处理的频带的一个子集（或者反之）的布置。

在区域22和24中的天线不相同的配置中，使用一个天线用可能比另一个天线有利。例如，由于诸如优异的效率、优异的频带覆盖、优异的辐射模式等之类的考虑，可能优选地使用区域24中的天线，而不是区域22中的天线。在诸如相对于第二天线（例如，区域22中的蜂窝天线）而优选使用第一天线（例如，区域24中的蜂窝天线）的配置之类的配置中，第一天线可以被称为设备10的主天线，而第二天线可以称为设备10的辅天线。设备10可以尽可能地尝试使用主天线（由于诸如优异的效率、频带覆盖或辐射模式之类的因素），但是当主天线的操作被中断时可以切换到使用辅天线。当设备10中的天线被诸如用户的手之类的外部对象遮挡时，当设备10被放置在干扰适当的天线操作的对象附近时，或者由于其它因素（例如，设备相对于其环境的朝向等），天线操作可能被中断。如果希望的话，（例如，当接收信号时）可以同时使用主天线和辅天线。可以使用这种类型的布置，例如以通过将使用主天线接收到的信号与使用辅天线接收到的信号进行组合来改善接收质量。

在本文中有时将设备10具有主天线和辅天线的天线分集系统作为例子进行描述。然而，这仅仅是示例性的。设备10可以使用基于三个或更多个天线的天线分集布置，可以使用（例如，在频带覆盖方面，在效率方面等）基本上相同的天线，或者可以使用其它类型的天线配置。

在图2中示出了电子设备10的示意图。如图2中所示的，电子设备10可以包括控制电路，例如存储和处理电路28。存储和处理电路28可以包括存储设备，例如硬盘驱动存储设备、非易失性存储器（例如，闪存或其它被配置成形成固态驱动器的其它电可编程只读存储器）、易失性存储器（例如，静态或动态随机存取存储器）等。存储和处理电路28中的处理电路以及其它控制电路（例如，无线通信电路34中的控制电路）可以用于控制设备10的操作。这种处理电路可以基于一个或多个微处理器、微控制器、数字信号处理器、基带处理器、功率管理单元、音频编解码芯片、专用集成电路等。

存储和处理电路28可以用于运行设备10上的软件，例如互联网浏览应用、互联网语音协议（VOIP）电话呼叫应用、电子邮件应用、媒体播放应用、操作系统功能等。为了支持与外部设备的交互，存储和处理电路28可以用于实现通信协议。可以使用存储和处理电路28实现的通信协议包括互联网协议、无线局域网协议（例如，IEEE 802.11协议——有时称为

）、用于其它短距离无线通信链路的协议（例如，蓝牙

）、蜂窝电话协议等。

电路28可以被配置成实现对设备10中的天线的使用进行控制的控制算法。例如，为了支持天线分集方案以及MMO方案或其它多天线方案，电路28可以执行发送和接收信号监测操作、传感器监测操作以及其它数据收集操作，并且可以响应于所收集的数据而对使用设备10中的哪些天线结构来接收和处理数据进行控制。作为例子，电路28可以对使用两个或更多个天线中的哪个天线来接收进入的射频信号进行控制，可以对使用两个或更多个天线中的哪个天线来发送射频信号进行控制，可以对在设备10中的两个或更多个天线上并行地路由数据流的过程进行控制，等等。电路28还可以激活以及解激活收发机电路以提供期望级别的信号监测，同时节省功率。在执行这些控制操作的过程中，电路28可以断开以及闭合开关，可以开启以及关闭接收机和发射机，可以调整阻抗匹配电路，可以对介于射频收发机电路与天线结构之间的前端模块（FEM）射频电路（例如，用于阻抗匹配和信号路由的滤波和切换电路）中的开关进行配置，以及可以以其它方式控制和调整设备10中的组件。可以将控制算法数据（例如，预定阈值的设置以及其它控制设置）存储在电路28中的存储设备中。

可以使用输入输出电路30来允许向设备10供应数据，并允许从设备10向外部设备提供数据。输入输出电路30可以包括输入输出设备32。输入输出设备32可以包括触摸屏、按钮、操纵杆、点击轮、滚轮、触摸板、小键盘、键盘、麦克风、扬声器、音调生成器、振动器、照相机、传感器、发光二极管和其它状态指示器、数据端口等。用户可以通过经由输入输出设备32供应命令来控制设备10的操作，并可以使用输入输出设备32的输出资源来从设备10接收状态信息和其它输出。

无线通信电路34可以包括射频（RF）收发机电路，其由一个或多个集成电路、功率放大器电路、低噪声输入放大器、被动RF组件、一个或多个天线以及用于处理RF无线信号的其它电路形成。

无线通信电路34可以包括卫星导航系统接收机电路，例如全球定位系统（GPS）接收机电路35（例如，用于接收1575MHz的卫星定位信号）。收发机电路36可以处理用于（IEEE 802.11）通信的2.4GHz和5GHz频带，并且可以处理2.4GHz的

通信频带。电路34可以使用蜂窝电话收发机电路38来处理蜂窝电话频带（例如，850MHz、900MHz、1800MHz、1900MHz和2100MHz的频带或其它关注的蜂窝电话频带）中的无线通信。如果希望的话，无线通信电路34可以包括用于其它短距离和长距离无线链路的电路。例如，无线通信电路34可以包括用于接收无线电和电视信号的无线电路、寻呼电路等。在

和链路以及其它短距离无线链路中，通常使用无线信号来在几十或几百英尺的距离上传送数据。在蜂窝电话链路和其它长距离链路中，通常使用无线信号来在几千英尺或英里的距离上传送数据。

无线通信电路34可以包括天线40。可以使用任何适当的天线类型形成天线40。例如，天线40可以包括具有共振元件的天线，其中，共振元件是由环形天线结构、微带天线结构、倒F天线结构、封闭和开口槽孔天线结构、平面倒F天线结构、螺旋形天线结构、带状天线、单极天线、偶极天线、这些设计的混合等形成的。不同类型的天线可以用于不同的频带以及频带组合。例如，一种类型的天线可以用于形成本地无线链路天线，而另一类型的天线可以用于形成远程无线链路天线。如结合图1中所描述的，在设备10中可能存在多个蜂窝电话天线。例如，可能存在设备10的区域24中的主蜂窝电话天线以及设备10的区域22中的辅蜂窝电话天线。这些天线可以是固定的，或者可以是可调谐的。

在测试期间，可以在测试系统（例如图3的测试系统11）中测试许多无线设备（例如，几十个、几百个、几千个或更多的设备10）。正在测试系统11中测试的电子设备有时可以被称为被测设备（DUT）。测试系统11可以包括测试附件、计算机、网络设备、测试器控制箱、线缆、测试外壳以及用于生成并接收射频测试信号以及收集测试结果的其它测试设备。测试系统11可以包括多个测试站，例如测试站13。例如，在给定的测试站点可以存在八十个测试站13。测试系统11可以包括任何期望数量的测试站以实现期望的测试吞吐量。

每个测试站13可以包括诸如测试主机100之类的测试主机、诸如测试单元102之类的测试器以及诸如测试外壳108之类的测试外壳。例如，测试主机100可以是个人计算机或其它类型的计算设备。测试单元102可以是信号生成器、频谱分析器、向量网络分析器以及适合于生成射频测试信号以及适合于对从DUT 10接收到的信号执行射频测量的其它测试器。在其它适当的布置中，测试单元102可以是有时被称为电话亭或基站仿真器的类型的无线电通信测试器。例如，测试单元102可以是可从Rohde&Schwarz获得的CMU300通用无线电通信测试器。测试单元102可以用于对网络接入点的行为进行仿真以测试收发机36支持

通信协议、

通信协议或其它通信标准的能力。如果希望的话，测试单元102可以被配置成对在与蜂窝电话收发机电路38进行电话呼叫期间基站收发机的行为进行仿真。

可以直接或经由计算机控制（例如，当测试单元102从测试主机100接收命令时）来操作测试单元102。当直接操作时，用户可以通过使用测试单元102的用户输入接口直接向信号生成器供应命令来控制测试单元102。例如，用户可以在查看显示在测试单元102中的显示器上的信息时按压信号生成器上的控制面板中的按钮。在计算机控制的配置中，测试主机100（例如，在计算机上自主或半自主运行的软件）可以通过在计算机与信号生成器之间的有线路径104或无线路径上发送和接收数据来与测试单元102进行通信（作为例子）。

在无线测试期间，可以将至少一个DUT 10放置在测试外壳108内。DUT 10均可以经由控制线路116耦合到测试主机100。由线路116表示的连接可以是基于通用串行总线（USB）的连接、基于通用异步接收机/发射机（UART）的连接或者其它适当类型的连接。在测试期间，测试主机100可以经由连接116向DUT 10发送控制信号，并且可以从DUT 10获取测试数据。DUT 10不需要电连接到测试主机100。

测试外壳108可以是屏蔽外壳，其中屏蔽外壳可以用于在执行电磁兼容性（EMC）辐射测试时提供射频隔离，而不会遭受来自外部环境的干扰。测试外壳108的内部可以镶有被配置为使无线信号的反射最小化的射频吸收材料，例如橡胶发泡。测试外壳108可以在其内部包括用于使用近场电磁耦合而在短距离上（例如，十厘米或更小）进行通信的无线结构110。测试外壳108中的无线结构110可以包括用于向DUT 10辐射（发送）相应近场电磁信号的电感器或其它近场通信元件（有时被称为近场通信测试天线或近场通信耦合器）。测试天线110可以经由射频线缆1106（例如，同轴电缆）耦合到测试单元106。在产品测试过程期间，可以使用测试天线110来对DUT 10执行空中测试（例如，使得可以经由耦合器110在测试单元102与DUT 10之间传送射频测试信号）。作为例子，测试天线110可以是微带天线，例如微带贴片天线。

在测试期间，可以在箭头109的方向上从测试天线110向DUT传送下行链路测试信号，而可以在箭头111的方向上从DUT 10向测试天线110传送上行链路测试信号。可以在非协议依从的通信路径（例如，未认证的无线通信数据链路）或者协议依从的通信链路（例如认证的无线通信链路）上在测试单元102与DUT 10之间传送测试射频信号。

DUT 10可以加载有测试操作系统（例如，缺少全互联网协议（IP）栈实现的简化操作系统）或标准用户操作系统（例如，包括全互联网协议（IP）栈实现的操作系统）。DUT 10可以包括能够对接收到的测试信号进行分析的无线性能测量电路。

在测试期间，可以将DUT 10安装在诸如测试固定装置（有时称为DUT固定器）112之类的测试固定装置中。测试固定装置112可以包含容纳DUT 10的腔体。如果希望的话，测试固定装置112可以由诸如塑料之类的电介质材料形成，以避免与射频测试测量的干扰。DUT 10相对于测试天线110的相对位置/朝向可以由测试系统11的操作员手工地控制，或者可以使用计算机控制或手工控制的定位设备（例如定位器114）来调整。定位器114可以包括用于控制DUT 10的横向和/或旋转移动的制动器，并且因此在本文中有时称为DUT旋转器。可以使用测试主机100所生成的在路径116上路由的控制信号来控制DUT旋转器114。

在产品测试期间，可以测试主天线（例如，DUT 10的区域24中的天线ANT1）和辅天线（例如，DUT 10的区域22中的天线ANT2）的性能。可能希望相对于测试天线110适当地定位DUT10，使得（当测试主天线时）主天线与测试单元102之间的射频信号路径损耗最小化，以及（当测试辅天线时）使得辅天线与测试单元102之间的路径损耗最小化。

射频信号路径损耗可以被定义为在电信号穿过特定介质时的功率衰减。对DUT 10与测试单元102之间的路径损耗有贡献的源可以包括OTA路径损耗（例如，射频信号在空气中传播时与该射频信号传播相关联的路径损耗）、在实际无线传输期间与测试天线110相关联的路径损耗、射频线缆路径损耗（例如，与线缆106相关联的路径损耗）等等。

放置在测试外壳108内的DUT 10中的每个天线的路径损耗对于DUT 10相对于测试天线110的朝向可能是敏感的。例如，考虑DUT10被定位成使得ANT1比ANT2更靠近测试天线110的情形。在这种情形中，ANT1与测试天线110之间的路径损耗可能小于ANT2与测试天线110之间的路径损耗。过量的路径损耗也可能负面地影响测试结果。

为了能够对为DUT 10内的多个天线中的每个天线收集的测试数据进行比较，可能希望在测试多个天线中的每个天线的性能时，使用DUT旋转器114将DUT 10定位在不同的布置中。例如，在测试ANT1的第一时段中，DUT旋转器114可以被配置成将DUT 10定向在使ANT1与测试天线110之间的路径损耗最小化的第一位置（例如，可以定向DUT 10，使得与ANT1相关联的主要电场极化与测试耦合器110的主要电场极化对齐）。在测试ANT2的第二时段中，DUT旋转器114可以被配置成将DUT 10定向在使ANT2与测试天线110之间的路径损耗最小化的第二位置（例如，可以定向DUT10，使得与ANT2相关联的主要电场极化与测试耦合器110的主要电场极化对齐）。

如图3中所示的，每个测试站13可以通过线路122连接到计算设备118。计算设备118可以包括存储设备，在存储设备上存储有数据库120。在已经从DUT 10中的多个天线中的每个天线收集了希望的射频测量之后，可以从测试外壳108移除DUT 10。然后，可以将测试数据加载到相关联的测试主机100上。在不同的测试站13收集的测试数据可以集中地存储在数据库40中。

在本发明的一个适当布置中，测试外壳108可以是锥形的横电磁（TEM）室（参见，例如图4A和4B）。本文中示出的测试外壳108的形状仅仅是示例性的，并且并不是要限制本发明的范围。如果希望的话，外壳108可以具有立方体结构（六个平面壁）、类长方柱结构（六个矩形壁）、或其它适当的结构。

如图4A中所示的，可以沿着TEM室108的至少一个内表面形成测试天线110。作为例子，测试天线110可以包括在电介质材料134中形成的电感元件132。电感元件可以经由导电路径136耦合到线缆106中的信号导线。

可以通过入口136将测试固定装置112插入到测试外壳108中。为了测试给定的DUT，可以从测试外壳108的内部移除测试固定装置112，并且测试操作员可以将给定的DUT放置在测试固定装置112中的相应腔体内（在入口136打开时）。随后可以将测试固定装置和DUT组装插入到测试外壳108中，并关闭入口136。在测试操作期间，不应当打开入口136。

在测试ANT1时，DUT旋转器114可以定位DUT 10，使得减小ANT1与测试天线110之间的路径损耗（例如，参见图4A中所示的DUT朝向）。在测试ANT1时可以禁止辅天线ANT2。当已经为ANT1收集了足够的测试数据时，DUT旋转器114可以被配置成通过围绕轴140在箭头142的方向上旋转支撑结构138（例如，将测试固定装置112连接到DUT旋转器114的支撑元件）来旋转测试固定装置112。轴140可以与参考X轴平行，参考X轴与测试外壳108的平面底座表面（例如，在平台上支撑测试外壳108的底座）垂直。

例如，在测试ANT2时，DUT旋转器114可以将DUT 10旋转到新位置，使得减小ANT2与测试天线110之间的路径损耗（例如，参见图4B中所示的DUT朝向）。在测试ANT1的第一时段期间，DUT 10的位置可以是固定的。在测试ANT2的第二时段期间，DUT 10的位置可以是固定的。在ANT1的测试与ANT2的测试之间的过渡时段期间，可以改变DUT 10的位置（例如，可以只在该过渡时段期间旋转DUT 10）。

在本发明的另一适当实施例中，DUT旋转器114可以被配置成围绕轴150在箭头152的方向上旋转DUT 10（例如，参见图5）。轴150可以与参考Y轴平行，参考Y轴与测试外壳108的底座平行。如果希望的话，可以在ANT1的测试与ANT2的测试之间的过渡时段期间围绕轴150旋转DUT 10，或者可以在DUT 10与测试单元102之间传送测试信号的第一和第二时段期间旋转DUT 10。如果希望的话，DUT旋转器114还可以用于在箭头156的方向上（沿着X轴）垂直地向上/向下移动DUT 10，或者可以用于在箭头154的方向上水平地向内/向外移动DUT 10，以将DUT 10放置在相应的位置，使得测试耦合器10与DUT 10中的相应第一和第二天线之间的路径损耗最小化。

在本发明的另一适当实施例中，DUT旋转器114还可以被配置成围绕轴160在箭头162的方向上旋转DUT 10（例如，参见图6）。轴150可以与参考Z轴平行，参考Z轴与测试外壳108的底座平行，并与X轴和Y轴垂直。如图6中所示的，可以将DUT 10旋转到新位置164，使得ANT1和ANT2与测试天线110的距离相等，或者将DUT 10旋转到新位置164，使得DUT 10与测试外壳108的底座垂直。如果希望的话，可以在ANT1的测试与ANT2的测试之间的过渡时段期间围绕轴160旋转DUT 10，或者可以在DUT 10与测试单元102之间传送测试信号的第一和第二时段期间旋转DUT10。

图7示出了使用测试站13来测试DUT 10所涉及的示例性步骤。在步骤200，可以校准参考DUT以确定使测试天线110与主天线之间的路径损耗最小化的第一DUT朝向以及确定使测试天线110与辅天线之间的路径损耗最小化的第二DUT朝向。

在步骤202，可以将产品DUT 10放置在TEM室108中。在步骤204，DUT旋转器114可以被配置成（例如，使用结合图4A、4B、5和6描述的旋转方案的任意组合）将DUT 10定位在使测试天线110与主天线之间的路径损耗最小化的第一DUT朝向上。在步骤206，测试主机100可以指导测试单元102经由DUT 10的主天线与DUT 10进行通信（例如，可以在DUT 10的主天线与测试单元102之间传送射频测试信号，同时关闭DUT的辅天线）。作为例子，测试单元102可以被配置成向DUT发送射频下行链路测试信号。响应于接收到下行链路测试信号，DUT可以向测试单元102发回上行链路信号。

在步骤208，测试单元102可以对上行链路测试信号执行期望的射频测量。例如，测试单元102可以被配置成测量DUT的发送功率、下行链路灵敏度、误差向量大小（EVM）、相邻信道泄露比、功率谱密度等。如果希望的话，DUT 10还可以被配置成分析下行链路测试信号以计算下行链路射频度量，例如接收信号强度指示（RSSI）信息、比特错误率、分组错误率、帧错误率等。DUT所计算出的测试数据可以被内部地存储在存储和处理电路28上。在已经为DUT 10的第一天线收集了足够的数据之后，可以禁止第一天线。

在步骤210，DUT旋转器114可以用于（例如，使用结合图4A、4B、5和6描述的旋转方案的任意组合）将DUT 10定位在使测试天线110与辅天线之间的路径损耗最小化的第二DUT朝向。在步骤212，测试主机100可以指导测试单元102经由DUT 10的辅天线与DUT 10进行通信（例如，可以在辅天线与测试单元102之间传送射频测试信号，同时关闭主天线）。

在步骤214，测试单元102可以用于对辅天线所发送的上行链路测试信号执行期望的射频测量。DUT 10还可以被配置成对使用辅天线接收的下行链路测试信号进行分析，以计算接收射频性能度量。在这种时间期间由DUT 10计算出的测试数据还可以被内部地存储在存储和处理电路28上。如果要测试另外的被测设备，则处理循环回到步骤216，如由路径216指示的。

结合图3-7描述的实施例仅仅是示例性的，并且并不用于限制本发明的范围。如果希望的话，可以将图7的步骤以及图4A、4B、5和6中所示的定向DUT 10的不同方式扩展成测试具有任意合适数量的天线的无线设备。

根据一个实施例，提供了用于使用测试站来测试被测产品设备的方法，其中被测产品设备至少包括第一天线结构和第二天线结构，其中，测试站包括测试外壳，并且其中，该方法包括：将被测产品设备耦合到测试外壳内的测试固定装置；在被测产品设备耦合到测试固定装置时收集关于第一天线结构的测试测量以确定第一天线结构是否满足与第一天线结构相关联的预定性能准则；以及在收集关于第一天线结构的测试测量之后并且在被测产品设备仍然耦合到测试固定装置时，收集关于第二天线结构的测试测量以确定第二天线结构是否满足与第二天线结构相关联的预定性能准则。

根据另一实施例，该方法还包括：在收集关于第一天线结构的测试测量之前，将被测产品设备定位在第一朝向；以及在收集关于第一天线结构的测试测量之后并且在收集关于第二天线结构的测试测量之前，将被测产品设备定位在与第一朝向不同的第二朝向。

根据另一实施例，其中，将被测产品设备从第一朝向定位到第二朝向包括围绕旋转轴来旋转被测产品设备。

根据另一实施例，其中，将被测产品设备从第一朝向定位到第二朝向包括围绕与测试外壳的平面底座表面垂直的旋转轴来旋转被测产品设备。

根据另一实施例，其中，将被测产品设备从第一朝向定位到第二朝向包括沿着与测试外壳的平面底座表面垂直的轴垂直地移动被测产品设备。

根据另一实施例，其中，将被测产品设备从第一朝向定位到第二朝向包括沿着与测试外壳的平面底座表面平行的轴水平地移动被测产品设备。

根据另一实施例，测试外壳包括测试天线，其中，将被测产品设备定位在第一朝向包括定位被测产品设备，使得测试天线与第一天线结构之间的射频信号路径损耗最小化。

根据另一实施例，其中，将被测产品设备定位在第二朝向包括定位被测产品设备，使得测试天线与第二天线结构之间的射频信号路径损耗最小化。

根据另一实施例，该方法还包括：响应于确定第一天线结构和第二天线结构中的至少一个未能满足预定性能准则，将被测设备标记为需要重做的失败的设备。

根据另一实施例，该方法包括：响应于确定第一天线结构和第二天线结构满足预定性能准则，将被测设备标记为通过的设备，并将通过的设备封装成全新的产品。

根据一个实施例，提供了一种用于使用测试站来测试被测设备的方法，其中，被测设备至少包括第一天线结构和第二天线天线结构，其中测试站包括测试外壳和测试外壳内的测试天线，该方法包括：在被测设备与测试外壳内的测试固定装置配合时，将被测设备定位在使在测试天线与第一天线结构之间传播的射频信号的射频信号损耗最小化的第一朝向；在被测设备处于第一朝向时，对第一天线结构执行射频测量；在被测设备与测试固定装置配合时，将被测设备定位在使在测试天线与第二天线结构之间传播的射频信号的射频信号路径损耗最小化的第二朝向；以及在被测设备处于第二朝向时，对第二天线结构执行射频测量。

根据另一实施例，测试外壳包括横电磁室。

根据另一实施例，该方法还包括：在被测设备处于第一朝向时并且在第二天线结构被切出使用时，使用测试天线向第一天线结构发送射频测试信号并从第一天线结构接收射频测试信号。

根据另一实施例，该方法还包括：在被测设备处于第二朝向时并且在第一天线结构被切出使用时，使用测试天线向第二天线结构发送射频测试信号并从第二天线结构接收射频测试信号。

根据另一实施例，其中，将被测设备从第一朝向定位到第二朝向包括围绕旋转轴来旋转被测设备。

根据另一实施例，其中，将被测设备从第一朝向定位到第二朝向包括沿着轴移动被测设备。

根据另一实施例，测试天线包括近场通信元件，其适合于使用近场电磁耦合机制向被测设备发送射频信号以及从被测设备接收射频信号。

根据另一实施例，该方法还包括使用测试天线来校准参考被测设备，以确定在测试被测设备时使用的第一朝向和第二朝向。

根据一个实施例，提供了一种使用测试站来测试被测设备的方法，其中，被测设备至少包括第一天线结构和第二天线结构，其中，测试站包括测试外壳以及测试外壳内的近场通信元件，并且其中，该方法包括：将被测设备定位在第一朝向；在被测设备处于第一朝向时，利用近场通信元件使用近场电磁耦合来从被测设备接收射频信号；将被测设备定位在与第一朝向不同的第二朝向；以及在被测设备处于第二朝向时，利用近场通信元件使用近场电磁耦合来从被测设备接收射频信号。

根据另一实施例，测试外壳包括横电磁室。

根据另一实施例，测试站还包括定位设备，并且其中，将被测设备从第一朝向定位到第二朝向包括利用定位设备围绕至少一个旋转轴来旋转被测设备。

根据一个实施例，提供一种用于使用测试站来测试被测产品设备的设备，所述被测产品设备至少包括第一天线结构和第二天线结构，其中，所述测试站包括测试外壳，所述设备包括：用于将所述被测产品设备耦合到所述测试外壳内的测试固定装置的装置；用于在所述被测产品设备耦合到所述测试固定装置时，收集关于所述第一天线结构的测试测量，以确定所述第一天线结构是否满足与所述第一天线结构相关联的预定性能准则的装置；以及用于在收集关于所述第一天线结构的测试测量之后并且在所述被测产品设备仍然耦合到所述测试固定装置时，收集关于第二天线结构的测试测量，以确定所述第二天线结构是否满足与所述第二天线结构相关联的预定性能准则的装置。

根据另一实施例，该设备还包括：用于在收集关于所述第一天线结构的测试测量之前，将所述被测产品设备定位在第一朝向的装置；以及用于在收集关于所述第一天线结构的测试测量之后并且在收集关于所述第二天线结构的测试测量之前，将所述被测产品设备定位在与所述第一朝向不同的第二朝向的装置。

根据另一实施例，用于将所述被测产品设备从所述第一朝向定位到所述第二朝向的装置包括：用于围绕旋转轴来旋转所述被测产品设备的装置。

根据另一实施例，用于将所述被测产品设备从所述第一朝向定位到所述第二朝向的装置包括：用于围绕与所述测试外壳的平面底座表面垂直的旋转轴来旋转所述被测产品设备的装置。

根据另一实施例，用于将所述被测产品设备从所述第一朝向定位到所述第二朝向的装置包括：用于沿着与所述测试外壳的平面底座表面垂直的轴垂直地移动所述被测产品设备的装置。

根据另一实施例，用于将所述被测产品设备从所述第一朝向定位到所述第二朝向的装置包括：用于沿着与所述测试外壳的平面底座表面平行的轴水平移动所述被测产品设备的装置。

根据另一实施例，所述测试外壳包括测试天线，并且其中，用于将所述被测产品设备定位在所述第一朝向的装置包括：用于定位所述被测产品设备，使得所述测试天线与所述第一天线结构之间的射频信号路径损耗被最小化的装置。

根据另一实施例，用于将所述被测产品设备定位在所述第二朝向的装置包括：用于定位所述被测产品设备，使得所述测试天线与所述第二天线结构之间的射频信号路径损耗被最小化的装置。

根据另一实施例，该设备还包括：用于响应于确定所述第一天线结构和所述第二天线结构中的至少一个未能满足预定性能准则，将所述被测产品设备标记为需要重做的失败的设备的装置。

根据另一实施例，该设备还包括：用于响应于确定所述第一天线结构和所述第二天线结构满足预定性能准则，将所述被测设备标记为通过的设备，并且将所述通过的设备封装成全新的产品的装置。

根据一个实施例，提供一种用于使用测试站来测试被测设备的设备，所述被测设备至少包括第一天线结构和第二天线结构，其中，所述测试站包括测试外壳和所述测试外壳内的测试天线，所述设备包括：用于在所述被测设备与所述外壳内的测试固定装置配合时，将所述被测设备定位在使在所述测试天线与所述第一天线结构之间传播的射频信号的射频信号路径损耗最小化的第一朝向的装置；用于在所述被测设备处于所述第一朝向时，对所述第一天线结构执行射频测量的装置；用于在所述被测设备与所述测试固定装置配合时，将所述被测设备定位在使在所述测试天线与所述第二天线结构之间传播的射频信号的射频信号路径损耗最小化的第二朝向的装置；以及用于在所述被测设备处于所述第二朝向时，对所述第二天线结构执行射频测量的装置。

根据另一实施例，所述测试外壳包括横电磁室。

根据另一实施例，该设备还包括：用于在所述被测设备处于所述第一朝向时并且在所述第二天线结构被切出使用时，利用所述测试天线向所述第一天线结构发送射频测试信号，并从所述第一天线结构结接收射频测试信号的装置。

根据另一实施例，该设备还包括：用于在所述被测设备处于所述第二朝向时并且在所述第一天线结构被切出使用时，利用所述测试天线向所述第二天线结构发送射频测试信号并从所述第二天线结构接收射频测试信号的装置。

根据另一实施例，用于将所述被测设备从所述第一朝向定位到所述第二朝向的装置包括：用于围绕旋转轴来旋转所述被测设备的装置。

根据另一实施例，用于将所述被测设备从所述第一朝向定位到所述第二朝向的装置包括：用于沿着轴移动所述被测设备的装置。

根据另一实施例，所述测试天线包括近场通信元件，所述近场通信元件适合用于使用近场电磁耦合机制向所述被测设备发送射频信号，并从所述被测设备接收射频信号。

根据另一实施例，该设备还包括：用于使用所述测试站来校准参考被测设备，以确定在测试所述被测设备时使用的所述第一朝向和所述第二朝向的装置。

根据一个实施例，提供一种用于使用测试站来测试被测设备的设备，所述被测设备至少包括第一天线结构和第二天线结构，其中，所述测试站包括测试外壳和所述测试外壳内的近场通信元件，所述设备包括：用于将所述被测设备定位在第一朝向的装置；用于在所述被测设备处于所述第一朝向时，利用所述近场通信元件使用近场电磁耦合来从所述被测设备接收射频信号的装置；用于将所述被测设备定位在与所述第一朝向不同的第二朝向的装置；以及用于在所述被测设备处于所述第二朝向时，利用所述近场通信元件使用近场电磁耦合来从所述被测设备接收射频信号的装置。

根据另一实施例，所述测试外壳包括横电磁室。

根据另一实施例，所述测试站还包括定位设备，并且其中，用于将所述被测设备从所述第一朝向定位到所述第二朝向的装置包括：用于利用所述定位设备围绕至少一个旋转轴来旋转所述被测设备的装置。

以上仅仅是示出了本发明的原理，并且本领域技术人员可以在不脱离本发明范围和精神的情况下做出各种修改。可以单独地或以任意组合来实现以上实施例。

本申请要求享有于2011年10月12日提交的美国专利申请No.13/272,067的优先权，该美国申请通过引用方式全部并入本文。

Claims

1.一种用于使用测试站来测试被测产品设备的方法，所述被测产品设备至少包括第一天线结构和第二天线结构，其中，所述测试站包括测试外壳，所述方法包括：

将所述被测产品设备耦合到所述测试外壳内的测试固定装置；

在所述被测产品设备耦合到所述测试固定装置时，收集关于所述第一天线结构的测试测量，以确定所述第一天线结构是否满足与所述第一天线结构相关联的预定性能准则；以及

在收集关于所述第一天线结构的测试测量之后并且在所述被测产品设备仍然耦合到所述测试固定装置时，收集关于第二天线结构的测试测量，以确定所述第二天线结构是否满足与所述第二天线结构相关联的预定性能准则。

2.如权利要求1所述的方法，还包括：

在收集关于所述第一天线结构的测试测量之前，将所述被测产品设备定位在第一朝向；以及

在收集关于所述第一天线结构的测试测量之后并且在收集关于所述第二天线结构的测试测量之前，将所述被测产品设备定位在与所述第一朝向不同的第二朝向。

3.如权利要求2所述的方法，其中，将所述被测产品设备从所述第一朝向定位到所述第二朝向包括：围绕旋转轴来旋转所述被测产品设备。

4.如权利要求2所述的方法，其中，将所述被测产品设备从所述第一朝向定位到所述第二朝向包括：围绕与所述测试外壳的平面底座表面垂直的旋转轴来旋转所述被测产品设备。

5.如权利要求2所述的方法，其中，将所述被测产品设备从所述第一朝向定位到所述第二朝向包括：沿着与所述测试外壳的平面底座表面垂直的轴垂直地移动所述被测产品设备。

6.如权利要求2所述的方法，其中，将所述被测产品设备从所述第一朝向定位到所述第二朝向包括：沿着与所述测试外壳的平面底座表面平行的轴水平移动所述被测产品设备。

7.如权利要求2所述的方法，其中，所述测试外壳包括测试天线，并且其中，将所述被测产品设备定位在所述第一朝向包括：定位所述被测产品设备，使得所述测试天线与所述第一天线结构之间的射频信号路径损耗被最小化。

8.如权利要求7所述的方法，其中，将所述被测产品设备定位在所述第二朝向包括：定位所述被测产品设备，使得所述测试天线与所述第二天线结构之间的射频信号路径损耗被最小化。

9.如权利要求1所述的方法，还包括：

响应于确定所述第一天线结构和所述第二天线结构中的至少一个未能满足预定性能准则，将所述被测产品设备标记为需要重做的失败的设备。

10.如权利要求1所述的方法，还包括：

响应于确定所述第一天线结构和所述第二天线结构满足预定性能准则，将所述被测设备标记为通过的设备，并且将所述通过的设备封装成全新的产品。

11.一种用于使用测试站来测试被测设备的方法，所述被测设备至少包括第一天线结构和第二天线结构，其中，所述测试站包括测试外壳和所述测试外壳内的测试天线，所述方法包括：

在所述被测设备与所述外壳内的测试固定装置配合时，将所述被测设备定位在使在所述测试天线与所述第一天线结构之间传播的射频信号的射频信号路径损耗最小化的第一朝向；

在所述被测设备处于所述第一朝向时，对所述第一天线结构执行射频测量；

在所述被测设备与所述测试固定装置配合时，将所述被测设备定位在使在所述测试天线与所述第二天线结构之间传播的射频信号的射频信号路径损耗最小化的第二朝向；以及

在所述被测设备处于所述第二朝向时，对所述第二天线结构执行射频测量。

12.如权利要求11所述的方法，其中，所述测试外壳包括横电磁室。

13.如权利要求11所述的方法，还包括：

在所述被测设备处于所述第一朝向时并且在所述第二天线结构被切出使用时，利用所述测试天线向所述第一天线结构发送射频测试信号，并从所述第一天线结构结接收射频测试信号。

14.如权利要求13所述的方法，还包括：

在所述被测设备处于所述第二朝向时并且在所述第一天线结构被切出使用时，利用所述测试天线向所述第二天线结构发送射频测试信号并从所述第二天线结构接收射频测试信号。

15.如权利要求11所述的方法，其中，将所述被测设备从所述第一朝向定位到所述第二朝向包括：围绕旋转轴来旋转所述被测设备。

16.如权利要求11所述的方法，其中，将所述被测设备从所述第一朝向定位到所述第二朝向包括：沿着轴移动所述被测设备。

17.如权利要求11所述的方法，其中，所述测试天线包括近场通信元件，所述近场通信元件适合用于使用近场电磁耦合机制向所述被测设备发送射频信号，并从所述被测设备接收射频信号。

18.如权利要求11所述的方法，还包括：

使用所述测试站来校准参考被测设备，以确定在测试所述被测设备时使用的所述第一朝向和所述第二朝向。

19.一种用于使用测试站来测试被测设备的方法，所述被测设备至少包括第一天线结构和第二天线结构，其中，所述测试站包括测试外壳和所述测试外壳内的近场通信元件，所述方法包括：

将所述被测设备定位在第一朝向；

在所述被测设备处于所述第一朝向时，利用所述近场通信元件使用近场电磁耦合来从所述被测设备接收射频信号；

将所述被测设备定位在与所述第一朝向不同的第二朝向；以及

在所述被测设备处于所述第二朝向时，利用所述近场通信元件使用近场电磁耦合来从所述被测设备接收射频信号。

20.如权利要求19所述的方法，其中，所述测试外壳包括横电磁室。

21.如权利要求19所述的方法，其中，所述测试站还包括定位设备，并且其中，将所述被测设备从所述第一朝向定位到所述第二朝向包括：

利用所述定位设备围绕至少一个旋转轴来旋转所述被测设备。

22.一种用于使用测试站来测试被测产品设备的设备，所述被测产品设备至少包括第一天线结构和第二天线结构，其中，所述测试站包括测试外壳，所述用于使用测试站来测试被测产品设备的设备包括：

用于将所述被测产品设备耦合到所述测试外壳内的测试固定装置的装置；

用于在所述被测产品设备耦合到所述测试固定装置时，收集关于所述第一天线结构的测试测量，以确定所述第一天线结构是否满足与所述第一天线结构相关联的预定性能准则的装置；以及

用于在收集关于所述第一天线结构的测试测量之后并且在所述被测产品设备仍然耦合到所述测试固定装置时，收集关于第二天线结构的测试测量，以确定所述第二天线结构是否满足与所述第二天线结构相关联的预定性能准则的装置。

23.如权利要求22所述的设备，还包括：

用于在收集关于所述第一天线结构的测试测量之前，将所述被测产品设备定位在第一朝向的装置；以及

用于在收集关于所述第一天线结构的测试测量之后并且在收集关于所述第二天线结构的测试测量之前，将所述被测产品设备定位在与所述第一朝向不同的第二朝向的装置。

24.如权利要求23所述的设备，其中，用于将所述被测产品设备从所述第一朝向定位到所述第二朝向的装置包括：用于围绕旋转轴来旋转所述被测产品设备的装置。

25.如权利要求23所述的设备，其中，用于将所述被测产品设备从所述第一朝向定位到所述第二朝向的装置包括：用于围绕与所述测试外壳的平面底座表面垂直的旋转轴来旋转所述被测产品设备的装置。

26.如权利要求23所述的设备，其中，用于将所述被测产品设备从所述第一朝向定位到所述第二朝向的装置包括：用于沿着与所述测试外壳的平面底座表面垂直的轴垂直地移动所述被测产品设备的装置。

27.如权利要求23所述的设备，其中，用于将所述被测产品设备从所述第一朝向定位到所述第二朝向的装置包括：用于沿着与所述测试外壳的平面底座表面平行的轴水平移动所述被测产品设备的装置。

28.如权利要求23所述的设备，其中，所述测试外壳包括测试天线，并且其中，用于将所述被测产品设备定位在所述第一朝向的装置包括：用于定位所述被测产品设备，使得所述测试天线与所述第一天线结构之间的射频信号路径损耗被最小化的装置。

29.如权利要求28所述的设备，其中，用于将所述被测产品设备定位在所述第二朝向的装置包括：用于定位所述被测产品设备，使得所述测试天线与所述第二天线结构之间的射频信号路径损耗被最小化的装置。

30.如权利要求22所述的设备，还包括：

用于响应于确定所述第一天线结构和所述第二天线结构中的至少一个未能满足预定性能准则，将所述被测产品设备标记为需要重做的失败的设备的装置。

31.如权利要求22所述的设备，还包括：

用于响应于确定所述第一天线结构和所述第二天线结构满足预定性能准则，将所述被测设备标记为通过的设备，并且将所述通过的设备封装成全新的产品的装置。

32.一种用于使用测试站来测试被测设备的设备，所述被测设备至少包括第一天线结构和第二天线结构，其中，所述测试站包括测试外壳和所述测试外壳内的测试天线，所述设备包括：

用于在所述被测设备与所述外壳内的测试固定装置配合时，将所述被测设备定位在使在所述测试天线与所述第一天线结构之间传播的射频信号的射频信号路径损耗最小化的第一朝向的装置；

用于在所述被测设备处于所述第一朝向时，对所述第一天线结构执行射频测量的装置；

用于在所述被测设备与所述测试固定装置配合时，将所述被测设备定位在使在所述测试天线与所述第二天线结构之间传播的射频信号的射频信号路径损耗最小化的第二朝向的装置；以及

用于在所述被测设备处于所述第二朝向时，对所述第二天线结构执行射频测量的装置。

33.如权利要求32所述的设备，其中，所述测试外壳包括横电磁室。

34.如权利要求32所述的设备，还包括：

用于在所述被测设备处于所述第一朝向时并且在所述第二天线结构被切出使用时，利用所述测试天线向所述第一天线结构发送射频测试信号，并从所述第一天线结构结接收射频测试信号的装置。

35.如权利要求34所述的设备，还包括：

用于在所述被测设备处于所述第二朝向时并且在所述第一天线结构被切出使用时，利用所述测试天线向所述第二天线结构发送射频测试信号并从所述第二天线结构接收射频测试信号的装置。

36.如权利要求32所述的设备，其中，用于将所述被测设备从所述第一朝向定位到所述第二朝向的装置包括：用于围绕旋转轴来旋转所述被测设备的装置。

37.如权利要求32所述的设备，其中，用于将所述被测设备从所述第一朝向定位到所述第二朝向的装置包括：用于沿着轴移动所述被测设备的装置。

38.如权利要求32所述的设备，其中，所述测试天线包括近场通信元件，所述近场通信元件适合用于使用近场电磁耦合机制向所述被测设备发送射频信号，并从所述被测设备接收射频信号。

39.如权利要求32所述的设备，还包括：

用于使用所述测试站来校准参考被测设备，以确定在测试所述被测设备时使用的所述第一朝向和所述第二朝向的装置。

40.一种用于使用测试站来测试被测设备的设备，所述被测设备至少包括第一天线结构和第二天线结构，其中，所述测试站包括测试外壳和所述测试外壳内的近场通信元件，所述设备包括：

用于将所述被测设备定位在第一朝向的装置；

用于在所述被测设备处于所述第一朝向时，利用所述近场通信元件使用近场电磁耦合来从所述被测设备接收射频信号的装置；

用于将所述被测设备定位在与所述第一朝向不同的第二朝向的装置；以及

用于在所述被测设备处于所述第二朝向时，利用所述近场通信元件使用近场电磁耦合来从所述被测设备接收射频信号的装置。

41.如权利要求40所述的设备，其中，所述测试外壳包括横电磁室。

42.如权利要求40所述的设备，其中，所述测试站还包括定位设备，并且其中，用于将所述被测设备从所述第一朝向定位到所述第二朝向的装置包括：

用于利用所述定位设备围绕至少一个旋转轴来旋转所述被测设备的装置。