TWI675297B

TWI675297B - 測試方法、測試系統以及電子裝置

Info

Publication number: TWI675297B
Application number: TW107129455A
Authority: TW
Inventors: 簡青峰
Original assignee: 和碩聯合科技股份有限公司
Priority date: 2018-08-23
Filing date: 2018-08-23
Publication date: 2019-10-21
Also published as: CN110858782A; TW202009707A

Abstract

一種測試方法、測試系統及電子裝置。測試系統包括待測裝置、電子裝置以及微控制器。待測裝置包括發光模組。微控制器耦接至電子裝置。待測裝置讀入待測端測試腳本，並且電子裝置讀入主控端測試腳本。於待測裝置中，執行前導程序，藉以控制發光模組進行指定次數的開閉，並且在執行完前導程序之後，依序執行各設定程序。於電子裝置中，基於自微控制器所讀取該發光模組的亮度值來判斷待測裝置是否已執行完前導程序，並且如判定待測裝置已執行完前導程序，執行對應於待測裝置所執行的其中一個設定程序的該測試項程序，以自射頻裝置讀取待測裝置所發送的射頻訊號的量測值。

Description

測試方法、測試系統以及電子裝置

本發明是有關於一種測試機制，且特別是有關於一種測試方法、測試系統以及電子裝置。

傳統在非信令傳輸接收標準測試（Non-Signaling Over The Air test）中，使用通用序列匯流排（Universal Serial Bus，USB）或其它可連接待測裝置（Device Under Test，DUT）的連接線材，透過連接線材來對待測裝置發送相關測試命令，並進行射頻（Radio Frequency，RF）訊號的量測。然，使用USB或其它可連接待測裝置的連接線材，而經由連接線材對待測裝置發送相關測試命令，會因為連接線材而帶來訊號干擾，造成RF訊號量測的測試數據不正確的問題。

本發明提供一種測試方法、測試系統以及電子裝置，可避免因連接線材造成的訊號干擾。

本發明的用於測試系統的測試方法，其中測試系統包括待測裝置、電子裝置以及微控制器，待測裝置包括發光模組，微控制器耦接至電子裝置。測試方法包括下述步驟。待測裝置讀入待測端測試腳本，並且電子裝置讀入主控端測試腳本。待測端測試腳本包括前導程序以及一或多個設定程序。主控端測試腳本包括對應於各設定程序的測試項程序。待測裝置執行前導程序，藉以控制發光模組進行指定次數的開閉。待測裝置在執行完前導程序之後，依序執行各設定程序。電子裝置基於自微控制器所讀取發光模組的亮度值來判斷待測裝置是否已執行前導程序。如判定待測裝置已執行前導程序，電子裝置執行對應於待測裝置所執行的其中一個設定程序的測試項程序，以自射頻裝置讀取待測裝置所發送的射頻訊號的量測值。

在本發明的一實施例中，所述前導程序包括下述步驟：致能發光模組；等待第一間隔時間；禁能發光模組；累計執行次數；以及等待第二間隔時間；並且重複執行上述步驟，直到執行次數等於指定次數。

在本發明的一實施例中，設定程序包括下述步驟：設定多個測試參數；依據這些測試參數，發出射頻訊號；致能發光模組；以及在經過延遲時間之後，禁能發光模組並且停止發送射頻訊號。

在本發明的一實施例中，電子裝置基於自微控制器所讀取的亮度值來判斷待測裝置是否已執行前導程序的步驟包括：在等待時間內，持續自微控制器讀取亮度值；基於自微控制器所讀取的亮度值，判斷在等待時間內發光模組是否進行了指定次數的開閉；以及在等待時間內發光模組進行指定次數的開閉時，判斷待測裝置已執行前導程序。

在本發明的一實施例中，測試項程序包括：依據自微控制器所讀取的亮度值以及閾值，判定發光模組是否被致能；在自微控制器所讀取的亮度值大於閾值而判定發光模組被致能時，讀取射頻訊號的量測值；以及在自微控制器所讀取的亮度值小於或等於閾值而判定發光模組被禁能時，停止讀取量測值。

在本發明的一實施例中，測試項程序更包括：在判定發光模組被致能之後，在偵測時間內持續自微控制器讀取亮度值，並判斷亮度值是否小於或等於閾值，其中偵測時間大於延遲時間；以及倘若在偵測時間內自微控制器所讀取到的亮度值皆未小於或等於閾值，停止執行測試項程序。

在本發明的一實施例中，微控制器包括光感應器，光感應器偵測發光模組的輸出以產生亮度值。

本發明的用於電子裝置的測試方法，包括：讀入主控端測試腳本，電子裝置耦接至設置於屏蔽箱內的微控制器，屏蔽箱內更設置有包括發光模組的待測裝置，主控端測試腳本包括對應於待測裝置中所讀入的待測端測試腳本的各設定程序的測試項程序；基於自微控制器所讀取的亮度值來判斷發光模組是否進行了指定次數的開閉；以及在判定發光模組進行了指定次數的開閉之後，對應於待測裝置所執行的其中一個設定程序，依序執行各測試項程序，以讀取待測裝置所發送的射頻訊號的量測值。

本發明的測試系統，包括：待測裝置，包括發光模組，發光模組可進行一指定次數的開閉，待測裝置能夠讀入待測端測試腳本，待測端測試腳本包括前導程序以及一或多個設定程序，待測裝置在執行完前導程序之後，依序執行各設定程序；微控制器，用以偵測發光模組的輸出，從而產生對應的亮度值；射頻裝置，用以量測待測裝置所發送的射頻訊號取得量測值；電子裝置，耦接至微控制器，電子裝置能夠讀入主控端測試腳本，主控端測試腳本包括對應於各設定程序的測試項程序，電子裝置能夠基於自微控制器所讀取的亮度值來判斷待測裝置是否已執行完前導程序，如電子裝置判定待測裝置已執行完前導程序，電子裝置對應於待測裝置所執行的其中一個設定程序，依序執行各測試項程序，以自射頻裝置讀取量測射頻訊號所獲得的量測值；以及屏蔽箱，設置有待測裝置以及微控制器。

本發明的電子裝置，包括：連接設備，耦接至設置於屏蔽箱內的微控制器，其中屏蔽箱內更設置有包括發光模組的待測裝置；儲存設備，包括主控端測試腳本，主控端測試腳本包括對應於待測裝置中所讀入的待測端測試腳本的各設定程序的測試項程序；處理器，耦接至連接設備與儲存設備，並執行主控端測試腳本。處理器基於自微控制器所讀取的亮度值來判斷發光模組是否進行了指定次數的開閉；並且，在判定發光模組進行了指定次數的開閉之後，處理器執行對應於待測裝置所執行的其中一個設定程序的測試項程序，以讀取待測裝置所發送的射頻訊號的量測值。

基於上述，本發明在屏蔽箱（Shielding box）內加入微控制器，以接收待測裝置的發光模組的閃爍資料，利用光源閃爍的方式來取代傳統使用連接線材作為傳輸測試命令的方法，避免因為接線材造成的訊號干擾。

為讓本發明的上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如連下。

圖1是依照本發明一實施例的測試系統的方塊圖。請參照圖1，測試系統100包括屏蔽箱110、電子裝置120以及射頻裝置130。射頻裝置130可透過射頻（radio frequency，RF）纜線與屏蔽箱110連接，並且射頻裝置130可透過通用界面匯流排（General Purpose Interface Bus，GPIB）耦接至電子裝置120。

屏蔽箱110內設置有待測裝置（Device Under Test，DUT）111以及微控制器113。待測裝置111包括發光模組112，並且待測裝置111還進一步包括中央處理單元（Central Processing Unit，CPU）、儲存設備及各種輸入輸出介面等構件（未示於圖1中）。在待測裝置111中設置有待測端測試腳本B。發光模組112例如為發光二極體（Light-emitting diode，LED）。

微控制器113設置在屏蔽箱110的內側壁。微控制器113可以是單晶片微電腦（single-chip microcomputer），其是將中央處理單元、記憶體、定時/計數器（timer/counter）、各種輸入輸出介面等都整合在一塊積體電路晶片上。而在微控制器113上進一步設置有未繪示的光感應器，利用光感應器來偵測發光模組112的輸出，從而產生對應的亮度值。

電子裝置120包括處理器121、儲存設備122以及連接設備123。連接設備123可採用通用序列匯流排（Universal Serial Bus，USB）等連接線材來實現。電子裝置120於屏蔽箱110的外部透過連接設備123耦接至設置於屏蔽箱110內側壁的微控制器113，據此可避免連接線材延伸進入屏蔽箱110內部，而造成干擾。

處理器121可採用中央處理單元（Central Processing Unit，CPU）、圖像處理單元（Graphic Processing Unit，GPU）、物理處理單元（Physics Processing Unit，PPU）、可程式化之微處理器（Microprocessor）、嵌入式控制晶片、數位訊號處理器（Digital Signal Processor，DSP）、特殊應用積體電路（Application Specific Integrated Circuits，ASIC）或其他類似裝置來實現。

儲存設備122可採用任意型式的固定式或可移動式隨機存取記憶體（Random Access Memory，RAM）、唯讀記憶體（Read-Only Memory，ROM）、快閃記憶體（Flash memory）、安全數位卡（Secure Digital Memory Card，SD）、硬碟或其他類似裝置或這些裝置的組合來實現。在儲存設備122中包括主控端測試腳本A。

待測端測試腳本B包括前導程序以及一或多個設定程序。而主控端測試腳本A包括對應於待測端測試腳本B的各設定程序的測試項程序。在待測裝置111中設置待測端測試腳本B，可由待測裝置111直接對其自身下達測試指令。底下即搭配上述測試系統100來說明測試方法各步驟。

圖2A與圖2B是依照本發明一實施例的測試方法的流程圖。圖2A所示為由待測裝置111所執行的各步驟，圖2B所示為由電子裝置120所執行的各步驟。

參照圖2A，在步驟S201中，待測裝置111讀入待測端測試腳本B。接著，在步驟S203中，待測裝置111執行前導程序，藉以控制發光模組112進行指定次數的開閉。具體而言，待測裝置111透過未繪示的處理器來執行待測端測試腳本B。

圖3是依照本發明一實施例的執行前導程序的流程圖。請參照圖3，在步驟S301中，待測裝置111致能發光模組112（發光模組112點亮）。接著，在步驟S303中，待測裝置111等待第一間隔時間。之後，在步驟S305中，禁能發光模組112（發光模組112熄滅）。並且，在步驟S307中，待測裝置111累計執行次數。在此，執行次數的初始值為0。接著，在步驟S309中，待測裝置111等待第二間隔時間。在步驟S311中，待測裝置111判斷執行次數是否等於指定次數。在執行次數尚未達到指定次數時，待測裝置111重複步驟S301～步驟S309，直到執行次數等於指定次數為止。透過上述步驟S301～S311，可使發光模組112在指定時間內進行指定次數的閃爍。需注意的是，步驟S307以及步驟S309的順序不以上述為限，亦可先執行步驟S309再執行步驟307。

假設前導程序所設定的指定次數為3次、第一間隔時間為300 ms以及第二間隔時間為200 ms。待測裝置111致能發光模組112，使得發光模組112持續發光300 ms，之後禁能發光模組112。而在經過200 ms之後，2度致能發光模組112，使得發光模組112持續發光300 ms，然後再次禁能發光模組112。於等待200 ms之後，3度致能發光模組112，使得發光模組112持續發光300 ms。之後，等待200 ms，開始依序執行各設定程序。

在執行完前導程序之後，在步驟S205中，待測裝置111依序執行各設定程序。底下舉例來說明設定程序的流程。

圖4是依照本發明一實施例的執行設定程序的流程圖。請參照圖4，在步驟S401中，待測裝置111設定多個測試參數。即，待測裝置111會自行設定好所需的測試環境。接著，在步驟S403中，待測裝置111依據測試參數，發出射頻訊號。並且，在步驟S405中，待測裝置111致能發光模組112。此時，待測裝置111透過發光模組112發出亮光來通知電子裝置120已開始進行測試。同時，待測裝置111亦會驅動其內建的射頻模組來發出射頻訊號。之後，在步驟S407中，在經過延遲時間之後，禁能發光模組112並且停止發送射頻訊號。在經過目前執行中的設定程序所對應的延遲時間之後，待測裝置111禁能發光模組112（發光模組112熄滅）並且停止發送射頻訊號。

在此，待測端測試腳本B的每一個設定程序所設定的延遲時間可以相同，也可以不同，在此並不限制。而相應於待測端測試腳本B的設定程序的延遲時間，在主控端測試腳本A的每一個測試項程序中會設定有對應的偵測時間。在此，偵測時間大於延遲時間。

接著，再次參照圖2B，在步驟S211中，電子裝置120讀入主控端測試腳本A。接著，在步驟S213中，電子裝置120判斷待測裝置111是否已執行完前導程序。在此，電子裝置120的處理器121經由連接設備123而自微控制器113讀取亮度值，並基於亮度值來判斷待測裝置111是否已執行完前導程序。

圖5是依照本發明一實施例的電子裝置判斷是否已執行完前導程序的流程圖。請參照圖5，在步驟S501中，電子裝置120的處理器121自微控制器113讀取亮度值。接著，在步驟S503中，基於自微控制器113所讀取的亮度值，判斷在等待時間內發光模組112是否進行了指定次數的開閉。

具體而言，在電子裝置120中撰寫執行緒（thread）而透過USB等傳輸線來持續讀取微控制器113上的亮度值，並且設定閾值用來判斷待測裝置111是否致能發光模組112，即判斷發光模組112是否發光。當自微控制器113讀取到的亮度值大於閾值時，表示此時待測裝置111致能發光模組112，使得發光模組112發光；反之，當自微控制器113讀取到的亮度值未大於閾值時，表示此時待測裝置111禁能發光模組112。

在步驟S505中，判斷是否經過等待時間。在未經過等待時間時，持續執行步驟S501以及步驟S503。在等待時間內判定發光模組112進行了指定次數的開閉時，在步驟S507中，判定待測裝置111已執行完前導程序。另一方面，倘若在等待時間內未偵測到發光模組112進行了指定次數的開閉，則電子裝置120停止主控端測試腳本A的執行。在其他實施例中，電子裝置120還可進一步提醒使用者測試過程中發生異常，好讓使用者控制待測裝置111停止執行待測端測試腳本B。

返回圖2B，在判定待測裝置111已執行完前導程序之後，在步驟S215中，電子裝置120依序執行各測試項程序，以讀取待測裝置111所發送的射頻訊號的量測值。

具體而言，主控端測試腳本A中的測試項程序與待測端測試腳本B的設定程序相對應。待測裝置111會先執行前導程序，以通知電子裝置120接下來將要開始依序執行設定程序。因此，當電子裝置120判定待測裝置111已執行完前導程序之後，電子裝置120便可開始依序執行各測試項程序。

在每個測試項程序進行測試的期間，待測裝置111會控制發光模組112持續發光，直到設定程序執行結束。而電子裝置120在每個測試項程序開始前，會先確認微控制器113所偵測到的亮度值是否超過閾值，以在亮度值超過閾值時，電子裝置120去讀取待測裝置111所發送的射頻訊號的量測值。例如，射頻裝置130會去量測待測裝置111所發送的射頻訊號的量測值，而電子裝置120透過GPIB等自射頻裝置130來讀取待測裝置111所發送的射頻訊號的量測值。

圖6是依照本發明一實施例的由電子裝置執行測試項程序的流程圖。請參照圖6，在步驟S601中，電子裝置120的處理器121自微控制器113讀取亮度值。接著，在步驟S603中，判斷亮度值是否大於閾值，藉此來判斷發光模組112是否被致能。倘若判定亮度值未大於閾值，在步驟S605中，判斷是否經過逾時時間。倘若未超過逾時時間，則執行步驟S601，以持續自微控制器讀取亮度值。倘若在經過逾時時間所讀取到的亮度值仍舊未大於閾值，則電子裝置120停止主控端測試腳本A的執行。

而在逾時時間內判定亮度值大於閾值（步驟S603的是）時，在步驟S607中，電子裝置120讀取射頻訊號的量測值。接著，在步驟S608中，判斷目前所讀取到的亮度值是否小於或等於閾值，藉此來判斷發光模組112是否被禁能。而在自微控制器113所讀取的亮度值小於或等於閾值而判定發光模組112被禁能時，停止讀取量測值，結束本次的測試項程序。

圖7是依照本發明一實施例的於測試過程中所讀取到的亮度值一例的圖表。在時間T1至時間T2間的點亮區段71、時間T3至時間T4間的點亮區段72、時間T5至時間T6間的點亮區段73代表透過前導程序控制發光模組112進行3次的開閉（閃爍3次）。時間T7至時間T8間的點亮區段74代表第1個設定程序中所設定的延遲時間，時間T9至時間T10間的點亮區段75代表第2個設定程序中所設定的延遲時間。

底下再舉實施例來說明主控端測試腳本A與待測端測試腳本B。圖8是依照本發明一實施例的主控端測試腳本的示意圖。圖9A～圖9C是依照本發明一實施例的待測端測試腳本的示意圖。為了便於說明，在此僅以一項測試項程序進行說明，並且僅列出相關指令而省略其他指令。

在圖8所示的測試指令中，指令“CHECK_LEADING 5”為設定等待前導程序完成的等待時間（作為逾時的判斷）為5秒。指令“TX_TEST 1,7,13,4”為測試項目，其設定為：通道（channel）為1、資料速率（data rate）為7 Mb、功率等級（power level）為13、第二偵測時間為4秒。

圖9A所示為待測端測試腳本B中的前導程序B1。圖9B及圖9C所示為待測端測試腳本B中的設定程序B2，圖9C所示的設定程序B2接續在圖9B所示的設定程序B2之後。

在圖9A中，前導程序B1包括程式碼901～903。在程式碼901中，先取得視窗管理規範（Windows Management Instrumentation，WMI）的控制權；接著，取得電源控制權；之後對發光模組112進行充電（致能發光模組112），使得發光模組112發光；然後，釋放WMI的控制權。在程式碼903中，等待200 ms。在程式碼905中，先取得WMI的控制權；接著，取得電源控制權；之後取消對發光模組112的充電，即，禁能發光模組112；然後，釋放WMI的控制權。並且，利用for迴圈來決定前導程序B1中發光模組112的發光循環次數。在此設定為3次。

在圖9B與圖9C中，設定程序B2包括程式碼907～919。程式碼907、909是用來設定多個測試參數。例如，設定Wi-Fi支援所有國別、設定Wi-Fi初始化、設定無訊號干擾、不開啟監視功能、停止Wi-Fi的加密設定、設定Wi-Fi測試為2G、設定頻道為1、頻帶（band）為2GHz、頻寬（bandwidth）為20MHz、設定資料速率為7 Mb、設定功率等級為13、設定接收天線與傳送天線等等。

程式碼911是用來開啟射頻傳輸模組，以發送射頻訊號。程式碼913為用來致能發光模組112。程式碼915是用來等待延遲時間2秒。程式碼917是用來禁能發光模組112。程式碼919是用來關閉射頻傳輸模組。

綜上所述，本發明在屏蔽箱內加入微控制器，並在微控制器上增加光感應器以偵測待測裝置的發光模組是否發光，以及在待測裝置中設置待測端測試腳本，由待測裝置自行對自己下達命令，據此，待測裝置會在測試過程中，控制發光模組112發光，以通知電子裝置120去讀取射頻訊號的量測值。利用光源閃爍的方式來取代傳統使用連接線材作為傳輸測試命令的方法，避免因為接線材造成的訊號干擾。

雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明的精神和範圍內，當可作些許的更動與潤飾，故本發明的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。

100‧‧‧測試系統

110‧‧‧屏蔽箱

111‧‧‧待測裝置

112‧‧‧發光模組

113‧‧‧微控制器

120‧‧‧電子裝置

121‧‧‧處理器

122‧‧‧儲存設備

123‧‧‧連接設備

130‧‧‧射頻裝置

71～75‧‧‧點亮區段

901～919‧‧‧程式碼

A‧‧‧主控端測試腳本

B‧‧‧待測端測試腳本

B1‧‧‧前導程序

B2‧‧‧設定程序

T1～T10‧‧‧時間

S201～S205、S211～S215‧‧‧測試方法各步驟

S301～S311‧‧‧執行前導程序的各步驟

S401～S407‧‧‧執行設定程序的各步驟

S501～S507‧‧‧電子裝置判斷是否已執行完前導程序的各步驟

S601～S609‧‧‧電子裝置執行測試項程序的各步驟

圖1是依照本發明一實施例的測試系統的方塊圖。圖2A與圖2B是依照本發明一實施例的測試方法的流程圖。圖3是依照本發明一實施例的執行前導程序的流程圖。圖4是依照本發明一實施例的執行設定程序的流程圖。圖5是依照本發明一實施例的電子裝置判斷是否已執行完前導程序的流程圖。圖6是依照本發明一實施例的由電子裝置執行測試項程序的流程圖。圖7是依照本發明一實施例的於測試過程中所讀取到的亮度值一例的圖表。圖8是依照本發明一實施例的主控端測試腳本的示意圖。圖9A～圖9C是依照本發明一實施例的待測端測試腳本的示意圖。

Claims

一種用於測試系統的測試方法，該測試系統包括一待測裝置、一電子裝置以及一微控制器，該待測裝置包括一發光模組，該微控制器耦接至該電子裝置，該測試方法包括：該待測裝置讀入一待測端測試腳本，並且該電子裝置讀入一主控端測試腳本，該待測端測試腳本包括一前導程序以及一或多個設定程序，該主控端測試腳本包括對應於各該設定程序的測試項程序；該待測裝置執行該前導程序，藉以控制該發光模組進行一指定次數的開閉；該待測裝置在執行完該前導程序之後，依序執行各該設定程序；該電子裝置基於自該微控制器所讀取該發光模組的亮度值來判斷該待測裝置是否已執行完該前導程序；以及如該電子裝置判定該待測裝置已執行完該前導程序，該電子裝置執行對應於該待測裝置所執行的其中一個該設定程序的該測試項程序，以自一射頻裝置讀取該待測裝置所發送的一射頻訊號的一量測值。
如申請專利範圍第1項所述的測試方法，其中該前導程序包括下述步驟：致能該發光模組；等待一第一間隔時間；禁能該發光模組；累計一執行次數；以及等待一第二間隔時間；重複執行上述步驟，直到該執行次數等於該指定次數。
如申請專利範圍第1項所述的測試方法，其中各該設定程序包括下述步驟：設定多個測試參數；依據該些測試參數，發出該射頻訊號；致能該發光模組；以及在經過一延遲時間之後，禁能該發光模組並且停止發送該射頻訊號。
如申請專利範圍第1項所述的測試方法，其中該電子裝置基於自該微控制器所讀取的亮度值來判斷該待測裝置是否已執行完該前導程序的步驟包括：在一等待時間內，持續自該微控制器讀取該亮度值；基於自該微控制器所讀取的亮度值，判斷在該等待時間內該發光模組是否進行了該指定次數的開閉；以及在該等待時間內該發光模組進行該指定次數的開閉時，判斷該待測裝置已執行完該前導程序。
如申請專利範圍第3項所述的測試方法，其中各該測試項程序包括：依據自該微控制器所讀取的亮度值以及一閾值，判定該發光模組是否被致能；在自該微控制器所讀取的亮度值大於該閾值而判定該發光模組被致能時，讀取該射頻訊號的該量測值；以及在自該微控制器所讀取的亮度值小於或等於該閾值而判定該發光模組被禁能時，停止讀取該量測值。
如申請專利範圍第5項所述的測試方法，其中各該測試項程序更包括：在判定該發光模組被致能之後，在一偵測時間內持續自該微控制器讀取該亮度值，並判斷該亮度值是否小於或等於該閾值，其中該偵測時間大於該延遲時間；以及倘若在該偵測時間內自該微控制器所讀取到的該亮度值皆未小於或等於該閾值，停止執行該測試項程序。
如申請專利範圍第1項所述的測試方法，其中該微控制器包括一光感應器，該光感應器偵測該發光模組的輸出以產生該亮度值。
一種用於電子裝置的測試方法，包括：讀入一主控端測試腳本，該電子裝置耦接至設置於一屏蔽箱內的一微控制器，該屏蔽箱內更設置有包括一發光模組的一待測裝置，該主控端測試腳本包括對應於該待測裝置中所讀入的一待測端測試腳本的各設定程序的測試項程序；基於自該微控制器所讀取的亮度值來判斷該發光模組是否進行了一指定次數的開閉；以及在判定該發光模組進行了該指定次數的開閉之後，執行對應於該待測裝置所執行的其中一個該設定程序的該測試項程序，以讀取該待測裝置所發送的一射頻訊號的一量測值。
如申請專利範圍第8項所述的測試方法，更包括：在一等待時間內，持續自該微控制器讀取該亮度值；基於自該微控制器所讀取的亮度值，判斷在該等待時間內該發光模組是否進行了該指定次數的開閉。
如申請專利範圍第8項所述的測試方法，其中各該測試項程序包括：依據自該微控制器所讀取的亮度值以及一閾值，判定該發光模組是否被致能；在自該微控制器所讀取的亮度值大於該閾值而判定該發光模組被致能時，讀取該射頻訊號的該量測值；以及在自該微控制器所讀取的亮度值小於或等於該閾值而判定該發光模組被禁能時，停止讀取該量測值。
如申請專利範圍第10項所述的測試方法，其中各該測試項程序更包括：在判定該發光模組被致能之後，在一偵測時間內持續自該微控制器讀取該亮度值，並判斷該亮度值是否小於或等於該閾值；以及倘若在該偵測時間內自該微控制器所讀取到的該亮度值皆未小於或等於該閾值，停止執行該測試項程序。
一種測試系統，包括：一待測裝置，包括一發光模組，該發光模組可進行一指定次數的開閉，該待測裝置能夠讀入一待測端測試腳本，該待測端測試腳本包括一前導程序以及一或多個設定程序，該待測裝置在執行完該前導程序之後，依序執行各該設定程序；一微控制器，用以偵測該發光模組的輸出，從而產生對應的亮度值；一射頻裝置，用以量測該待測裝置所發送的一射頻訊號取得一量測值；一電子裝置，耦接至該微控制器，該電子裝置能夠讀入一主控端測試腳本，該主控端測試腳本包括對應於各該設定程序的測試項程序，該電子裝置能夠基於自該微控制器所讀取的該亮度值來判斷該待測裝置是否已執行完該前導程序，如該電子裝置判定該待測裝置已執行完該前導程序，該電子裝置對應於該待測裝置所執行的其中一個該設定程序，依序執行各該測試項程序，以自該射頻裝置讀取量測該射頻訊號所取得的該量測值；以及一屏蔽箱，設置有該待測裝置以及該微控制器。
如申請專利範圍第12項所述的測試系統，其中該待測裝置執行該前導程序包括：致能該發光模組；等待一第一間隔時間；禁能該發光模組；累計一執行次數；以及等待一第二間隔時間；重複執行上述步驟，直到該執行次數等於該指定次數。
如申請專利範圍第12項所述的測試系統，其中該待測裝置在執行各該設定程序中，包括：設定多個測試參數；依據該些測試參數，發出該射頻訊號；致能該發光模組；以及在經過一延遲時間之後，禁能該發光模組並且停止發送該射頻訊號。
如申請專利範圍第12項所述的測試系統，其中該電子裝置在一等待時間內，持續自該微控制器讀取該亮度值，並且基於自該微控制器所讀取的亮度值，判斷在該等待時間內該發光模組是否進行了該指定次數的開閉；以及在該等待時間內該發光模組進行該指定次數的開閉時，判斷該待測裝置已執行完該前導程序。
如申請專利範圍第14項所述的測試系統，其中該電子裝置依據自該微控制器所讀取的亮度值以及一閾值，判定該發光模組是否被致能；在自該微控制器所讀取的亮度值大於一閾值而判定該發光模組被致能時，自該射頻裝置讀取量測該射頻訊號所獲得的該量測值；以及在自該微控制器所讀取的亮度值小於或等於該閾值而判定該發光模組被禁能時，停止自該射頻裝置讀取該量測值。
如申請專利範圍第16項所述的測試系統，其中該電子裝置在判定該發光模組被致能之後，在一偵測時間內持續自該微控制器讀取該亮度值，並判斷該亮度值是否小於或等於該閾值；倘若在該偵測時間內自該微控制器所讀取到的該亮度值皆未小於或等於該閾值，該電子裝置停止執行該測試項程序，其中該偵測時間大於該延遲時間。
如申請專利範圍第12項所述的測試系統，其中該微控制器包括一光感應器，該光感應器偵測該發光模組的輸出以產生該亮度值。
一種電子裝置，包括：一連接設備，耦接至設置於一屏蔽箱內的一微控制器，其中該屏蔽箱內更設置有包括一發光模組的一待測裝置；一儲存設備，包括一主控端測試腳本，該主控端測試腳本包括對應於該待測裝置中所讀入的一待測端測試腳本的各設定程序的測試項程序；一處理器，耦接至該連接設備與該儲存設備，並執行該主控端測試腳本，該處理器基於自該微控制器所讀取的亮度值來判斷該發光模組是否進行了一指定次數的開閉；並且，在判定該發光模組進行了該指定次數的開閉之後，該處理器對應於該待測裝置所執行的其中一個該設定程序，依序執行各該測試項程序，以讀取該待測裝置所發送的一射頻訊號的一量測值。
如申請專利範圍第19項所述的電子裝置，其中該處理器在一等待時間內，持續自該微控制器讀取該亮度值，並且基於自該微控制器所讀取的亮度值，判斷在該等待時間內該發光模組是否進行了該指定次數的開閉。
如申請專利範圍第19項所述的電子裝置，其中該處理器依據自該微控制器所讀取的亮度值以及一閾值，判定該發光模組是否被致能；在自該微控制器所讀取的亮度值大於該閾值而判定該發光模組被致能時，讀取該射頻訊號的該量測值；並且，該處理器在自該微控制器所讀取的亮度值小於或等於該閾值而判定該發光模組被禁能時，停止讀取該量測值。
如申請專利範圍第19項所述的電子裝置，其中該處理器在判定該發光模組被致能之後，在一偵測時間內持續自該微控制器讀取該亮度值，並判斷該亮度值是否小於或等於該閾值；並且，倘若在該偵測時間內自該微控制器所讀取到的該亮度值皆未小於或等於該閾值，該處理器停止執行該測試項程序。