CN116225807A - 嵌入式设备的测试方法、系统、装置、设备及存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请涉及嵌入式设备测试技术领域，具体公开了一种嵌入式设备的测试方法、系统、装置、设备及存储介质，基于串口测试系统实现，该串口测试系统搭载微处理器，该微处理器通过预先部署与被测嵌入式设备的通信协议以及对被测嵌入式设备的测试脚本，从而在基于第一串口连接被测嵌入式设备后，调用测试脚本对被测嵌入式设备进行测试，并在测试中，获取对被测嵌入式设备的测试日志，提供了一种小型化便携化的嵌入式设备测试方案，从而相较于测试主机的测试方案能够适用于更多的测试环境，且便于执行长期测试。

Description

嵌入式设备的测试方法、系统、装置、设备及存储介质

技术领域

本申请涉及嵌入式设备测试技术领域，特别是涉及一种嵌入式设备的测试方法、系统、装置、设备及存储介质。

背景技术

嵌入式设备由硬件和软件组成.是能够独立进行运作的器件。在进行如固态硬盘(SSD)等嵌入式设备的开发时，需要对其进行大量的测试。传统测试方案均为将被测嵌入式设备连接在测试主机上进行测试，测试主机通常为一台个人计算机(PC)，以便测试人员查看与控制测试进度。

具体来说，嵌入式设备一般都会在开发阶段预留串口以供日志记录和功能测试。在开发测试过程中，需要通过串口持续记录运行日志，以便分析分析、故障定位等；同时需要下发命令来实现一些测试动作。在这种测试场景下，需要在测试主机上连接一个通用串行总线(Universal Serial Bus，USB)接口转串口设备，然后将通用串行总线接口转串口设备的串口连接到被测嵌入式设备的串口上。

然而，在现今嵌入式设备的测试场景中，很多时候需要将被测嵌入式设备安装于运行环境中，如固态硬盘需要安装在服务器中运行才能够进行开发测试，此种环境下，可能无法将被测嵌入式设备连接测试主机；或运行环境处于机房等无法长期居留监控的位置，也不方便留下测试主机进行测试。同时，由于开发测试通常需要对一类产品进行批量测试，且需要一定的测试时间，采用测试主机对嵌入式设备进行测试也是不现实的。

提供一种便于进行嵌入式设备在测试环境下运行的需要持续一定测试时间的测试方案，是本领域技术人员需要解决的技术问题。

发明内容

本申请的目的是提供一种嵌入式设备的测试方法、系统、装置、设备及存储介质，用于解决嵌入式设备开发测试时无法适应测试环境或无法实现长期测试的问题。

为解决上述技术问题，本申请提供一种嵌入式设备的测试方法，基于串口测试系统的微处理器，包括：

预先部署与被测嵌入式设备的通信协议以及对所述被测嵌入式设备的测试脚本；

基于第一串口连接所述被测嵌入式设备后，调用所述测试脚本对所述被测嵌入式设备进行测试；

在测试中，获取对所述被测嵌入式设备的测试日志。

可选的，所述在测试中，获取对所述被测嵌入式设备的测试日志，具体包括：

执行所述测试脚本提供的命令序列，以监控所述被测嵌入式设备的运行状态并获取所述被测嵌入式设备的运行日志；

根据所述被测嵌入式设备的运行状态和所述被测嵌入式设备的运行日志检验所述被测嵌入式设备的功能；

根据所述被测嵌入式设备的功能检出情况生成所述测试日志。

可选的，所述根据所述被测嵌入式设备的运行状态和所述被测嵌入式设备的运行日志检验所述被测嵌入式设备的功能，具体包括：

若所述被测嵌入式设备的运行状态与所述被测嵌入式设备的运行日志相符，则确定所述被测嵌入式设备的功能正常；

若所述被测嵌入式设备的运行状态与所述被测嵌入式设备的运行日志不符，则确定所述被测嵌入式设备的功能异常。

可选的，所述串口测试系统还包括第一存储器；

所述嵌入式设备的测试方法还包括：

将所述测试日志存入所述第一存储器。

可选的，所述串口测试系统还包括串口转通用串行总线的第一转换器，所述第一转换器与所述微处理器的第二串口连接；

所述嵌入式设备的测试方法还包括：

当识别到所述第二串口通过所述第一转换器连接上位机并接收到所述上位机的日志读取命令时，通过所述第二串口以及所述第一转换器将所述测试日志发送至所述上位机。

可选的，所述串口测试系统还包括与所述微处理器连接的无线通信器；

所述嵌入式设备的测试方法还包括：

通过所述无线通信器将所述测试日志发送至指定地址。

可选的，还包括：

基于自所述无线通信器接收的控制信号配置本地的测试参数。

可选的，所述串口测试系统还包括与所述微处理器连接的指示器；

所述嵌入式设备的测试方法还包括：

在测试中，根据所述被测嵌入式设备的测试状态切换至对应的指示器控制模式；

根据所述指示器控制模式控制所述指示器发出指示信号。

为解决上述技术问题，本申请还提供一种嵌入式设备的测试系统，包括：微处理器、存储器、电源和用于搭载所述微处理器、所述存储器和所述电源的印制电路板；

其中，所述微处理器的第一存储端口与所述存储器连接，所述微处理器用于将自调试接口接收的被测嵌入式设备的通信协议以及对所述被测嵌入式设备的测试脚本存储于所述存储器，在基于第一串口连接所述被测嵌入式设备后，调用所述测试脚本对所述被测嵌入式设备进行测试；在测试中，获取对所述被测嵌入式设备的测试日志；

所述电源的输出端分别连接所述微处理器和所述存储器。

为解决上述技术问题，本申请还提供一种嵌入式设备的测试装置，基于串口测试系统的微处理器，包括：

部署单元，用于预先部署与被测嵌入式设备的通信协议以及对所述被测嵌入式设备的测试脚本；

调用单元，用于基于第一串口连接所述被测嵌入式设备后，调用所述测试脚本对所述被测嵌入式设备进行测试；

测试单元，用于在测试中，获取对所述被测嵌入式设备的测试日志。

为解决上述技术问题，本申请还提供一种嵌入式设备的测试设备，包括：

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现如上述任意一项所述嵌入式设备的测试方法的步骤。

为解决上述技术问题，本申请还提供一种存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述任意一项所述嵌入式设备的测试方法的步骤。

本申请所提供的嵌入式设备的测试方法，基于串口测试系统实现，该串口测试系统搭载微处理器，该微处理器通过预先部署与被测嵌入式设备的通信协议以及对被测嵌入式设备的测试脚本，从而在基于第一串口连接被测嵌入式设备后，调用测试脚本对被测嵌入式设备进行测试，并在测试中，获取对被测嵌入式设备的测试日志，提供了一种小型化便携化的嵌入式设备测试方案，从而相较于测试主机的测试方案能够适用于更多的测试环境，且便于执行长期测试。

本申请还提供一种嵌入式设备的测试系统、装置、设备及存储介质，具有上述有益效果，在此不再赘述。

附图说明

为了更清楚的说明本申请实施例或现有技术的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例提供的一种嵌入式设备的测试系统的结构示意图；

图2为本申请实施例提供的一种嵌入式设备的测试方法的流程图；

图3为本申请实施例提供的一种嵌入式设备的测试装置的结构示意图；

图4为本申请实施例提供的一种嵌入式设备的测试设备的结构示意图。

具体实施方式

本申请的核心是提供一种嵌入式设备的测试方法、系统、装置、设备及存储介质，用于解决嵌入式设备开发测试时无法适应测试环境或无法实现长期测试的问题。

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

实施例一

图1为本申请实施例提供的一种嵌入式设备的测试系统的结构示意图。

为便于理解，首先对本申请提供的嵌入式设备的测试系统进行介绍。

如图1所示，本申请实施例提供的嵌入式设备的测试系统包括：

微处理器101、存储器102、电源103和用于搭载微处理器101、存储器102和电源103的印制电路板104；

其中，微处理器101的第一存储端口与存储器102连接，微处理器101用于将自调试接口接收的被测嵌入式设备的通信协议以及对被测嵌入式设备的测试脚本存储于存储器102，在基于第一串口连接被测嵌入式设备后，调用测试脚本对被测嵌入式设备进行测试；在测试中，获取对被测嵌入式设备的测试日志；

电源103的输出端分别连接微处理器101和存储器102。

需要说明的是，本申请实施例提供的嵌入式设备的测试系统目的在于对被测嵌入式设备的底层功能进行测试，即区别于被测嵌入式设备在其运行环境中能够被监测到的参数，本申请实施例提供的嵌入式设备的测试系统所要测试参数不仅包括被测嵌入式设备呈现给用户的最终参数，更重要的是测试被测嵌入式设备已被封装的底层运行参数，这些底层运行参数不会呈现给用户设备(如固态硬盘所处的主机或服务器)，只可以在开发测试阶段通过串口读出。

在具体实施中，微处理器101可以采用GD32 MCU，存储器102可以采用非易失闪存(NOR Flash)和/或安全数码卡(Secure Digital Memory Card/SD card，又称SD卡)，使用较高精度的实时时钟模块。电源103可以为内置电源103，如一次性电池或可充电电池(如锂电池)，也可以采用外接电源103，此时电源103为外接电源103转换器。电源103具体输出3.3V电压给微处理器101供电。

具体地，微处理器101通过串行外设接口(Serial Peripheral Interface，SPI)与非易失闪存(NOR Flash)连接，通过输入/输出(Input/Output，IO)端口与SD卡的扩展插槽(SD SLOT)连接。

微处理器101通常有五个串口，通常为通用异步收发器(Universal AsynchronousReceiver/Transmitter，UART)，即可以连接5个有线通信信号。则可以以其中1路作为连接上位机用的调试接口，该调试接口可以定义为第二串口，另外4路可以同时进行四个被测嵌入式设备的测试，即第一串口。

具体来说，用于连接上位机的调试接口可以通过串口转通用串行总线的第一转换器连接上位机，用于接收被测嵌入式设备的通信协议以及对被测嵌入式设备的测试脚本，以及输出测试日志。串口转通用串行总线的第一转换器可以采用CP2303。

本申请实施例提供的嵌入式设备的测试系统还可以包括与微处理器101连接的第一存储器，以用于存储对被测嵌入式设备的测试日志。第一存储器可以采用上文所述的用于存储通信协议和测试脚本的存储器102，也可以另行设置存储器。

进一步的，本申请实施例提供的嵌入式设备的测试系统还可以包括与微处理器101连接的无线通信器；

微处理器101还用于通过无线通信器将测试日志发送至指定地址，以及基于自无线通信器接收的控制信号配置本地的测试参数。

无线通信器具体可以采用Wi-Fi通信器、GPRS通信器等。基于无线通信器，可以更方便的实现在如机房等不方便长期驻留的测试环境下的嵌入式设备的测试，且能够远程实时监控各被测嵌入式设备的测试情况。

此外，本申请实施例提供的嵌入式设备的测试系统还可以包括与微处理器101连接的指示器；

微处理器101还用于在测试中，根据被测嵌入式设备的测试状态切换至对应的指示器控制模式，并根据指示器控制模式控制指示器发出指示信号。

指示器具体可以采用指示灯、蜂鸣器、语音指示器或声光指示器等，用于指示被测嵌入式设备的测试状态。以采用指示灯为例，指示灯具体可以采用LED灯。可以设置与微处理器101的每个串口对应一个LED指示灯，用于指示该串口的工作状态。例如在记录测试日志时保持常亮，在没有进行测试日志的记录时则熄灭。在触发对被测嵌入式系统的命令序列时可以持续快速频闪预设时长。即通过指示灯的设置，以使现场人员无需上位机即可观测到被测嵌入式设备的测试状态。

此外，在电源103采用内置电源103的情况下，还可以设置用于指示电源103电量的指示器，如采用LED灯，具体可以在充电时呈现呼吸灯状态，在充满时常亮，在低电量时处于频闪状态。

若指示器采用蜂鸣器，则可以在开始记录测试日志时发出第一次短促响声，在结束记录测试日志时发出第二次短促响声，以提示对被测嵌入式设备的测试过程中的关键节点。若采用蜂鸣器作为电源103电量的指示器，则可以在电源103电量低时控制蜂鸣器周期性发出报警蜂鸣声。

若指示器采用语音指示器，则可以预先录入要提示的语音，例如在开始记录测试日志时发出“开始记录测试日志”的语音提示，在结束记录测试日志时发出“结束记录测试日志”的语音提示，以提示对被测嵌入式设备的测试过程中的关键节点。若采用语音指示器作为电源103电量的指示器，则可以在电源103电量低时控制语音指示器周期性发出“电量低”的提示语音。

除了上述举例外，指示器采用声光指示器或其他类型指示器时，根据该指示器的工作状态以及所要指示的项目，设计对应的指示器控制方案。

在本申请实施例提供的嵌入式设备的测试系统中，可以采用不同类型的指示器，指示不同的测试状态或不同的测试系统的状态信息。各指示器由微处理器101控制，即微处理器101根据各指示器的指示对象，在监控测试系统的状态或被测嵌入式设备的测试状态处于预设状态时，控制对应的指示器以对应的模式发出指示信号。

上述本申请实施例提供的嵌入式设备的测试系统提供的组件，除印制电路板104之外均可以搭载于印制电路板104上，并可以通过可拆卸外壳封装，仅将指示灯安装于可拆卸外壳外部。

应用本申请实施例提供的嵌入式设备的测试系统，在进行对被测嵌入式设备的测试时，预先通过第二串口连接上位机，来通过上位机配置各用于连接被测嵌入式设备的串口的通信协议以及对被测嵌入式设备的测试脚本。这里的测试脚本具体可以包括命令序列，命令序列是一系列的串口命令，具体根据被测嵌入式设备已实现的功能编写。

测试人员根据被测嵌入式设备的开发测试需求将被测嵌入式设备安装部署于测试环境中(例如将固态硬盘连接在机房的服务器的背板上)后，将本申请实施例提供的嵌入式设备的测试系统中微处理器101的第一串口连接到对应的被测嵌入式设备上预留的用于开发测试的接口上，在保证嵌入式设备的测试系统处于工作状态后，即可离开测试环境，由测试系统对被测嵌入式设备执行开发过程中的测试乃至于长期测试。

在测试过程中，微处理器101获取对被测嵌入式设备的测试日志，具体根据测试脚本的配置获取被测嵌入式设备的运行日志作为测试日志，或根据被测嵌入式设备的运行状态和被测嵌入式设备的运行日志自行生成测试日志。

则微处理器101获取对被测嵌入式设备的测试日志，具体可以包括：执行测试脚本提供的命令序列，以监控被测嵌入式设备的运行状态并获取被测嵌入式设备的运行日志；根据被测嵌入式设备的运行状态和被测嵌入式设备的运行日志检验被测嵌入式设备的功能；根据被测嵌入式设备的功能检出情况生成测试日志。

具体的，微处理器101根据测试脚本中配置的命令序列的触发方式实现测试过程中触发对应的命令序列，例如定时单次执行或周期性触发，或根据被测嵌入式设备的运行日志中的特定信息触发。

其中，根据被测嵌入式设备的运行日志中的特定信息触发具体可以为预先在测试脚本中配置有需要监测的特定信息，例如被测嵌入式设备自身的监控功能所实现的异常日志记录中所记录的异常监控参数，此时即触发对应的串口命令。对应的串口命令具体可以为通过获取被测嵌入式设备的自检信息确定该异常监控参数是否确实存在异常，如存在异常，则说明被测嵌入式设备能够正常的实现该项监控参数的监控，如果不存在异常，则说明被测嵌入式设备对该项监控参数的监控功能存在问题，此时可以将被测嵌入式设备能否实现该项监控参数的检出情况记录在测试日志中。反之，还可以定时监控被测嵌入式设备的运行参数，若监控到异常运行参数，但被测嵌入式设备未能自检出该异常运行参数，则也可以说明被测嵌入式设备对该项监控参数的监控功能存在问题，此时将该问题记录在测试日志中。

对应的串口命令还可以为持续地获取被测嵌入式设备的自检信息，以确定被测嵌入式设备能否将能否对该异常监测异常监控参数进行自我修复，如果被测嵌入式设备能够在预定时间内完成对该异常监控参数的自我修复，则说明被测嵌入式设备具有对该异常监控参数的自我修复能力，否则说明被测嵌入式设备不具有对该项异常监控参数的自我修复能力，此时将被测嵌入式设备对该项异常监控参数的自我修复功能实现情况记录在测试日志中。

在实际应用中，例如对被测嵌入式设备的散热能力进行监控，则对应的串口命令可以包括：定时触发读取被测嵌入式设备的温度的串口命令，并检测被测嵌入式设备的温度是否超出正常范围。若超出正常范围，则在测试日志中记录被测嵌入式设备发生过温事件。进一步的，可以读取被测嵌入式设备的运行日志以检查被测嵌入式设备是否自行记录了过温事件。如果被测嵌入式设备的运行日志中如实记录了过温事件，则确定被测嵌入式设备的温度监测能力正常；如果被测嵌入式设备的运行日志未记录有过温事件，则确定被测嵌入式设备的温度监测能力异常，此时将被测嵌入式设备的温度监测能力测试结果记录在测试日志中。

定时触发对应的串口命令还可以包括时触发读取被测嵌入式设备的运行日志的串口命令，并从中识别得到温度监测参数。若该温度监测参数显示被测嵌入式设备处于过温状态，则获取被测嵌入式设备的实时温度。若被测嵌入式设备的实时温度与被测嵌入式设备的运行日志记录的温度监测参数一致，则确定被测嵌入式设备能够如实记录过温事件；如果被测嵌入式设备的实时温度与被测嵌入式设备的运行日志记录的温度监测参数不一致，则确定被测嵌入式设备的温度监测能力发生了异常，此时将被测嵌入式设备的过温监测能力测试结果记录在测试日志中。若被测嵌入式设备能够如实记录过温事件，此时再持续获取被测嵌入式设备的温度，以确定被测嵌入式设备能否自行对温度进行调节，并将被测嵌入式设备的温度调节能力测试结果记录在测试日志中。

除了测试被测嵌入式设备的温度监测能力或散热能力之外，还可以根据被测嵌入式设备的其他已实现的功能测试对应的能力。

对于生成的测试日志，微处理器101可以根据测试脚本中配置的记录方式和保存位置，实现对被测嵌入式设备的测试日志的(定时或持续的)记录以及存储，具体可以存储于微处理器101的内部闪存或者外部SD卡。

采用上文所述的本申请实施例提供的嵌入式设备的测试系统还包括无线通信器的方案，则测试系统在运行在长期测试环境可以通过无线通信器远程接受上位机的调控，以触发测试脚本中未记载的串口命令，或进行测试系统运行参数的配置。

微处理器101还可以在运行过程中定时通过无线通信器将测试日志发送至指定地址，如发送至上位机，发送之后可以删除第一存储器中对应的测试日志，以节约本地存储资源。

此外，微处理器101在测试过程中根据测试状态，如处于获取被测嵌入式设备的运行日志的状态、处于生成测试日志的状态处于未记录测试日志的状态、处于无线通信中的状态，来控制对应的指示器发出相应的指示信号。同时微处理器101在测试系统本地的电源103电量低于预设电量阈值时，控制对应的指示器发出电量低的指示信号。

实施例二

在上述嵌入式设备的测试系统的基础上，下面结合附图对本申请实施例提供的嵌入式设备的测试方法进行说明。

图2为本申请实施例提供的一种嵌入式设备的测试方法的流程图。

如图2所示，基于串口测试系统的微处理器，本申请实施例提供的嵌入式设备的测试方法包括：

S201：预先部署与被测嵌入式设备的通信协议以及对被测嵌入式设备的测试脚本。

S202：基于第一串口连接被测嵌入式设备后，调用测试脚本对被测嵌入式设备进行测试。

S203：在测试中，获取对被测嵌入式设备的测试日志。

需要说明的是，本申请实施例中的串口测试系统，可以指本申请实施例一提供的任意一种嵌入式设备的测试系统。

在具体实施中，对于S201来说，为进行对被测嵌入式设备的测试，除了需要将被测嵌入式设备安装部署于其所工作的运行环境中，还需要预先部署与被测嵌入式设备的通信协议以及对被测嵌入式设备的测试脚本。具体可以通过微处理器的第二串口连接上位机来接收被测嵌入式设备的通信协议以及对被测嵌入式设备的测试脚本。通常微处理器通常有五个串口。在本申请实施例提供的嵌入式设备的测试方法中，可以采用微处理器的第二串口作为与上位机通信的串口，采用微处理器的第一串口作为与被测嵌入式设备通信的接口。则预先部署的与被测嵌入式设备的通信协议，具体可以为各第一串口的串口参数包括但不限于波特率，数据位，停止位等参数。

对于S202来说，对已经安装部署于运行环境中的被测嵌入式设备，将串口测试系统的微处理器的第一串口连接到被测嵌入式设备为开发测试预留的接口上，通过预先为该第一串口配置的通信协议与被测嵌入式设备实现通信交互后，调用测试脚本开始对被测嵌入式设备进行测试。

对于S203来说，在对被测嵌入式设备的测试过程中，根据被测嵌入式设备的运行状态、被测嵌入式设备的运行日志等生成对被测嵌入式设备的测试日志，具体可以采用测试脚本中提供的测试日志模版，基于所要测试的项目以及参数类型生成测试日志。在同时对多个被测嵌入式设备进行测试时，则可以根据串口号分别对各被测嵌入式设备的测试日志进行编号。

由于对许多被测嵌入式设备的测试是一个长期的过程，可能会持续几天乃至一个多月，生成的测试日志以及其他需要保存的内容会占用大量存储空间。故串口测试系统还可以包括用于存储测试日志等信息的第一存储器。相应的，本申请实施例提供的嵌入式设备的测试方法还包括：将测试日志存入第一存储器。

为方便对测试日志的读取分析，在本申请实施例中，串口测试系统还可以包括串口转通用串行总线的第一转换器，第一转换器与微处理器的第二串口连接。相应的，本申请实施例提供的嵌入式设备的测试方法还包括：当识别到第二串口通过第一转换器连接上位机并接收到上位机的日志读取命令时，通过第二串口以及第一转换器将测试日志发送至上位机。

在完成对被测嵌入式设备的测试后，测试人员可以回收串口测试系统，将上位机的通用串行总线接口通过第一转换器连接到微处理器的第二串口上并通过上位机发送日志读取命令。微处理器在接收到上位机的日志读取命令后，到第一存储器中调取测试日志以及其他日志读取命令中所需的信息，通过第二串口以及第一转换器反馈给上位机。

此外，为了避免占用大量的本次存储空间，还可以随着测试日志的生成阶段性将测试日志发送到另外的位置。则在本申请实施例中，串口测试系统还可以包括与微处理器连接的无线通信器。相应的，本申请实施例提供的嵌入式设备的测试方法还包括：通过无线通信器将测试日志发送至指定地址。

微处理器通过无线通信器可以将测试过程生成的测试日志以及其他信息发送至指定地址，该指定地址可以为上位机的接收地址，也可以为其他的测试监控设备的接收地址。应用本申请实施力提供的该方案，可以基于远程设备实现对多个串口测试系统的测试信息的接收，以及对测试过程进行实时监控。例如微处理器除了上传测试日志之外，还可以上传串口测试系统的运行状态，或者接收控制信号。上传的串口测试系统的运行状态可以包括但不限于：串口测试系统的电源电量、串口测试系统处于与被测嵌入式设备通信的状态、串口测试系统处于存储被测嵌入式设备的运行日志的状态、串口测试系统处于正在生成测日志的状态等。

则本申请实施例提供的嵌入式设备的测试方法还可以包括：基于自无线通信器接收的控制信号配置本地的测试参数。

本申请实施例提供的嵌入式设备的测试方法，基于串口测试系统实现，该串口测试系统搭载微处理器，该微处理器通过预先部署与被测嵌入式设备的通信协议以及对被测嵌入式设备的测试脚本，从而在基于第一串口连接被测嵌入式设备后，调用测试脚本对被测嵌入式设备进行测试，并在测试中，获取对被测嵌入式设备的测试日志，提供了一种小型化便携化的嵌入式设备测试方案，从而相较于测试主机的测试方案能够适用于更多的测试环境，且便于执行长期测试。

实施例三

在上述实施例的基础上，本申请实施例进一步对生成测试日志的具体方案进行说明。

由于本申请实施例提供的嵌入式设备的测试方法的测试目的为在嵌入式设备开发过程中对嵌入式设备实现功能的情况进行验证，在S201中部署的测试脚本中，根据被测嵌入式设备的功能设计对应的串口命令，形成一系列的命令序列。在对被测嵌入式设备的测试过程中，根据测试脚本所配置的命令序列执行办法，进行定时单次、周期触发或根据被测嵌入式设备的运行日志中的特定信息触发的方式触发各命令序列，执行串口命令，具体为与被测嵌入式设备进行交互，以控制被测嵌入式设备执行对应动作或自被测嵌入式设备获取对应的运行状态或运行日志。

若只需对被测嵌入式设备能够自行记录运行日志的功能进行测试时，测试日志可以直接采用被测嵌入式设备的运行日志。即在测试过程中触发命令序列以控制被测嵌入式设备执行对应的操作并读取被测嵌入式设备的运行日志存储于第一存储器或通过无线通信器发送至指定地址。

对于被测嵌入式设备没有对应的日志记录机制的测试项目，则可以直接读取被测嵌入式设备的运行状态参数进行记录即可。

此外，还可以在微处理器上直接执行对被测嵌入式设备的日志记录功能的测试处理。则在本申请实施例提供的嵌入式设备的测试方法中，S203：在测试中，获取对被测嵌入式设备的测试日志，具体可以包括：

执行测试脚本提供的命令序列，以监控被测嵌入式设备的运行状态并获取被测嵌入式设备的运行日志；

根据被测嵌入式设备的运行状态和被测嵌入式设备的运行日志检验被测嵌入式设备的功能；

根据被测嵌入式设备的功能检出情况生成测试日志。

在具体实施中，执行测试脚本提供的命令序列，以监控被测嵌入式设备的运行状态并获取被测嵌入式设备的运行日志中，对于未有运行日志记录的运行状态可以直接进行记录，实现对被测嵌入式设备能否正常运行的情况进行记录。对于有运行日志记录的运行状态可以与运行日志同步或先后记录。对于有运行日志记录的运行状态，可以根据运行日志中的特定信息触发对运行状态的获取和记录，并根据串口测试系统获取的运行状态与被测嵌入式设备自行记录的运行日志进行对比确定被测嵌入式设备的测试结果，实现对被测嵌入式设备能否正常运行的情况进行记录以及进行能够正常记录日志的功能进行测试。

则根据被测嵌入式设备的运行状态和被测嵌入式设备的运行日志检验被测嵌入式设备的功能，具体可以包括：

若被测嵌入式设备的运行状态与被测嵌入式设备的运行日志相符，则确定被测嵌入式设备的功能正常；

若被测嵌入式设备的运行状态与被测嵌入式设备的运行日志不符，则确定被测嵌入式设备的功能异常。

例如被测嵌入式设备自身的监控功能所实现的异常日志记录中所记录的异常监控参数，此时即触发对应的串口命令。对应的串口命令具体可以为通过获取被测嵌入式设备的自检信息确定该异常监控参数是否确实存在异常，如存在异常，则说明被测嵌入式设备能够正常的实现该项监控参数的监控，如果不存在异常，则说明被测嵌入式设备对该项监控参数的监控功能存在问题，此时可以将被测嵌入式设备能否实现该项监控参数的检出情况记录在测试日志中。反之，还可以定时监控被测嵌入式设备的运行参数，若监控到异常运行参数，但被测嵌入式设备未能自检出该异常运行参数，则也可以说明被测嵌入式设备对该项监控参数的监控功能存在问题，此时将该问题记录在测试日志中。

对应的串口命令还可以为持续地获取被测嵌入式设备的自检信息，以确定被测嵌入式设备能否将能否对该异常监测异常监控参数进行自我修复，如果被测嵌入式设备能够在预定时间内完成对该异常监控参数的自我修复，则说明被测嵌入式设备具有对该异常监控参数的自我修复能力，否则说明被测嵌入式设备不具有对该项异常监控参数的自我修复能力，此时将被测嵌入式设备对该项异常监控参数的自我修复功能实现情况记录在测试日志中。

在实际应用中，例如对被测嵌入式设备的散热能力进行监控，则对应的串口命令可以包括：定时触发读取被测嵌入式设备的温度的串口命令，并检测被测嵌入式设备的温度是否超出正常范围。若超出正常范围，则在测试日志中记录被测嵌入式设备发生过温事件。进一步的，可以读取被测嵌入式设备的运行日志以检查被测嵌入式设备是否自行记录了过温事件。如果被测嵌入式设备的运行日志中如实记录了过温事件，则确定被测嵌入式设备的温度监测能力正常；如果被测嵌入式设备的运行日志未记录有过温事件，则确定被测嵌入式设备的温度监测能力异常，此时将被测嵌入式设备的温度监测能力测试结果记录在测试日志中。

定时触发对应的串口命令还可以包括时触发读取被测嵌入式设备的运行日志的串口命令，并从中识别得到温度监测参数。若该温度监测参数显示被测嵌入式设备处于过温状态，则获取被测嵌入式设备的实时温度。若被测嵌入式设备的实时温度与被测嵌入式设备的运行日志记录的温度监测参数一致，则确定被测嵌入式设备能够如实记录过温事件；如果被测嵌入式设备的实时温度与被测嵌入式设备的运行日志记录的温度监测参数不一致，则确定被测嵌入式设备的温度监测能力发生了异常，此时将被测嵌入式设备的过温监测能力测试结果记录在测试日志中。若被测嵌入式设备能够如实记录过温事件，此时再持续获取被测嵌入式设备的温度，以确定被测嵌入式设备能否自行对温度进行调节，并将被测嵌入式设备的温度调节能力测试结果记录在测试日志中。

除了测试被测嵌入式设备的温度监测能力或散热能力之外，还可以根据被测嵌入式设备的其他已实现的功能测试对应的能力。

实施例四

在上述实施例的基础上，在本申请实施例提供的嵌入式设备的测试方法中，串口测试系统还可以包括与微处理器连接的指示器。相应的，本申请实施例提供的嵌入式设备的测试方法还包括：

在测试中，根据被测嵌入式设备的测试状态切换至对应的指示器控制模式；

根据指示器控制模式控制指示器发出指示信号。

在具体实施中，可以通过测试脚本部署各指示器的指示对象以及对指示对象的指示状态对应的指示信号。指示器的实现方式可以参考本申请实施例一的描述，在此不再赘述。

上文详述了嵌入式设备的测试系统以及嵌入式设备的测试方法对应的各个实施例，在此基础上，本申请还公开了与上述系统、方法对应的嵌入式设备的测试装置、设备及存储介质。

实施例五

图3为本申请实施例提供的一种嵌入式设备的测试装置的结构示意图。

需要说明的是，本申请实施例中的串口测试系统，可以指本申请实施例一提供的任意一种嵌入式设备的测试系统。

如图3所示，基于串口测试系统的微处理器，本申请实施例提供的嵌入式设备的测试装置包括：

部署单元301，用于预先部署与被测嵌入式设备的通信协议以及对被测嵌入式设备的测试脚本；

调用单元302，用于基于第一串口连接被测嵌入式设备后，调用测试脚本对被测嵌入式设备进行测试；

测试单元303，用于在测试中，获取对被测嵌入式设备的测试日志。

进一步的，测试单元303具体可以包括：

执行子单元，用于执行测试脚本提供的命令序列，以监控被测嵌入式设备的运行状态并获取被测嵌入式设备的运行日志；

检测子单元，用于根据被测嵌入式设备的运行状态和被测嵌入式设备的运行日志检验被测嵌入式设备的功能；

生成子单元，用于根据被测嵌入式设备的功能检出情况生成测试日志。

进一步的，检测子单元根据被测嵌入式设备的运行状态和被测嵌入式设备的运行日志检验被测嵌入式设备的功能，具体可以包括：

若被测嵌入式设备的运行状态与被测嵌入式设备的运行日志相符，则确定被测嵌入式设备的功能正常；

若被测嵌入式设备的运行状态与被测嵌入式设备的运行日志不符，则确定被测嵌入式设备的功能异常。

进一步的，串口测试系统还包括第一存储器，则本申请实施例提供的嵌入式设备的测试装置还可以包括：

存储单元，用于将测试日志存入第一存储器。

进一步的，串口测试系统还包括串口转通用串行总线的第一转换器，第一转换器与微处理器的第二串口连接，则本申请实施例提供的嵌入式设备的测试装置还可以包括：

第一发送单元，用于当识别到第二串口通过第一转换器连接上位机并接收到上位机的日志读取命令时，通过第二串口以及第一转换器将测试日志发送至上位机。

进一步的，串口测试系统还包括与微处理器连接的无线通信器；则本申请实施例提供的嵌入式设备的测试装置还可以包括：

第二发送单元，用于通过无线通信器将测试日志发送至指定地址。

进一步的，本申请实施例提供的嵌入式设备的测试装置还可以包括：

配置单元，用于基于自无线通信器接收的控制信号配置本地的测试参数。

进一步的，串口测试系统还包括与微处理器连接的指示器；则本申请实施例提供的嵌入式设备的测试装置还可以包括：

切换单元，用于在测试中，根据被测嵌入式设备的测试状态切换至对应的指示器控制模式；

指示单元，用于根据指示器控制模式控制指示器发出指示信号。

由于装置部分的实施例与方法部分的实施例相互对应，因此装置部分的实施例请参见方法部分的实施例的描述，这里暂不赘述。

实施例六

图4为本申请实施例提供的一种嵌入式设备的测试设备的结构示意图。

如图4所示，本申请实施例提供的嵌入式设备的测试设备包括：

存储器410，用于存储计算机程序411；

处理器420，用于执行计算机程序411，该计算机程序411被处理器420执行时实现如上述任意一项实施例所述嵌入式设备的测试方法的步骤。

其中，处理器420可以包括一个或多个处理核心，比如3核心处理器、8核心处理器等。处理器420可以采用数字信号处理DSP(Digital Signal Processing)、现场可编程门阵列FPGA(Field－Programmable Gate Array)、可编程逻辑阵列PLA(Programmable LogicArray)中的至少一种硬件形式来实现。处理器420也可以包括主处理器和协处理器，主处理器是用于对在唤醒状态下的数据进行处理的处理器，也称中央处理器CPU(CentralProcessing Unit)；协处理器是用于对在待机状态下的数据进行处理的低功耗处理器。在一些实施例中，处理器420可以集成有图像处理器GPU(Graphics Processing Unit)，GPU用于负责显示屏所需要显示的内容的渲染和绘制。一些实施例中，处理器420还可以包括人工智能AI(Artificial Intelligence)处理器，该AI处理器用于处理有关机器学习的计算操作。

存储器410可以包括一个或多个存储介质，该存储介质可以是非暂态的。存储器410还可包括高速随机存取存储器，以及非易失性存储器，比如一个或多个磁盘存储设备、闪存存储设备。本实施例中，存储器410至少用于存储以下计算机程序411，其中，该计算机程序411被处理器420加载并执行之后，能够实现前述任一实施例公开的嵌入式设备的测试方法中的相关步骤。另外，存储器410所存储的资源还可以包括操作系统412和数据413等，存储方式可以是短暂存储或者永久存储。其中，操作系统412可以为Windows。数据413可以包括但不限于上述方法所涉及到的数据。

在一些实施例中，嵌入式设备的测试设备还可包括有显示屏430、电源440、通信接口450、输入输出接口460、传感器470以及通信总线480。

本领域技术人员可以理解，图4中示出的结构并不构成对嵌入式设备的测试设备的限定，可以包括比图示更多或更少的组件。

本申请实施例提供的嵌入式设备的测试设备，包括存储器和处理器，处理器在执行存储器存储的程序时，能够实现如上所述的嵌入式设备的测试方法，即基于串口测试系统的微处理器，通过预先部署与被测嵌入式设备的通信协议以及对被测嵌入式设备的测试脚本，从而在基于第一串口连接被测嵌入式设备后，调用测试脚本对被测嵌入式设备进行测试，并在测试中，获取对被测嵌入式设备的测试日志，提供了一种小型化便携化的嵌入式设备测试方案，从而相较于测试主机的测试方案能够适用于更多的测试环境，且便于执行长期测试。

实施例七

需要说明的是，以上所描述的装置、设备实施例仅仅是示意性的，例如，模块的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个模块或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或模块的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。作为分离部件说明的模块可以是或者也可以不是物理上分开的，作为模块显示的部件可以是或者也可以不是物理模块，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络模块上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。

另外，在本申请各个实施例中的各功能模块可以集成在一个处理模块中，也可以是各个模块单独物理存在，也可以两个或两个以上模块集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。

集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。

为此，本申请实施例还提供一种存储介质，该存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现如嵌入式设备的测试方法的步骤。

该存储介质可以包括：U盘、移动硬盘、只读存储器ROM(Read-Only Memory)、随机存取存储器RAM(Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

本实施例中提供的存储介质所包含的计算机程序在被处理器执行时，提供一种基于串口测试系统的微处理器的嵌入式设备测试方案，通过预先部署与被测嵌入式设备的通信协议以及对被测嵌入式设备的测试脚本，从而在基于第一串口连接被测嵌入式设备后，调用测试脚本对被测嵌入式设备进行测试，并在测试中，获取对被测嵌入式设备的测试日志，提供了一种小型化便携化的嵌入式设备测试方案，从而相较于测试主机的测试方案能够适用于更多的测试环境，且便于执行长期测试。

以上对本申请所提供的一种嵌入式设备的测试方法、系统、装置、设备及存储介质进行了详细介绍。说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置、设备及存储介质而言，由于其与实施例公开的系统、方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请原理的前提下，还可以对本申请进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本申请权利要求的保护范围内。

还需要说明的是，在本说明书中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

Claims (12)

1.一种嵌入式设备的测试方法，其特征在于，基于串口测试系统的微处理器，包括：

预先部署与被测嵌入式设备的通信协议以及对所述被测嵌入式设备的测试脚本；

基于第一串口连接所述被测嵌入式设备后，调用所述测试脚本对所述被测嵌入式设备进行测试；

在测试中，获取对所述被测嵌入式设备的测试日志。

2.根据权利要求1所述的嵌入式设备的测试方法，其特征在于，所述在测试中，获取对所述被测嵌入式设备的测试日志，具体包括：

执行所述测试脚本提供的命令序列，以监控所述被测嵌入式设备的运行状态并获取所述被测嵌入式设备的运行日志；

根据所述被测嵌入式设备的运行状态和所述被测嵌入式设备的运行日志检验所述被测嵌入式设备的功能；

根据所述被测嵌入式设备的功能检出情况生成所述测试日志。

3.根据权利要求2所述的嵌入式设备的测试方法，其特征在于，所述根据所述被测嵌入式设备的运行状态和所述被测嵌入式设备的运行日志检验所述被测嵌入式设备的功能，具体包括：

若所述被测嵌入式设备的运行状态与所述被测嵌入式设备的运行日志相符，则确定所述被测嵌入式设备的功能正常；

若所述被测嵌入式设备的运行状态与所述被测嵌入式设备的运行日志不符，则确定所述被测嵌入式设备的功能异常。

4.根据权利要求1所述的嵌入式设备的测试方法，其特征在于，所述串口测试系统还包括第一存储器；

所述嵌入式设备的测试方法还包括：

将所述测试日志存入所述第一存储器。

5.根据权利要求1所述的嵌入式设备的测试方法，其特征在于，所述串口测试系统还包括串口转通用串行总线的第一转换器，所述第一转换器与所述微处理器的第二串口连接；

所述嵌入式设备的测试方法还包括：

当识别到所述第二串口通过所述第一转换器连接上位机并接收到所述上位机的日志读取命令时，通过所述第二串口以及所述第一转换器将所述测试日志发送至所述上位机。

6.根据权利要求1所述的嵌入式设备的测试方法，其特征在于，所述串口测试系统还包括与所述微处理器连接的无线通信器；

所述嵌入式设备的测试方法还包括：

通过所述无线通信器将所述测试日志发送至指定地址。

7.根据权利要求6所述的嵌入式设备的测试方法，其特征在于，还包括：

基于自所述无线通信器接收的控制信号配置本地的测试参数。

8.根据权利要求1所述的嵌入式设备的测试方法，其特征在于，所述串口测试系统还包括与所述微处理器连接的指示器；

所述嵌入式设备的测试方法还包括：

在测试中，根据所述被测嵌入式设备的测试状态切换至对应的指示器控制模式；

根据所述指示器控制模式控制所述指示器发出指示信号。

9.一种嵌入式设备的测试系统，其特征在于，包括：微处理器、存储器、电源和用于搭载所述微处理器、所述存储器和所述电源的印制电路板；

其中，所述微处理器的第一存储端口与所述存储器连接，所述微处理器用于将自调试接口接收的被测嵌入式设备的通信协议以及对所述被测嵌入式设备的测试脚本存储于所述存储器，在基于第一串口连接所述被测嵌入式设备后，调用所述测试脚本对所述被测嵌入式设备进行测试；在测试中，获取对所述被测嵌入式设备的测试日志；

所述电源的输出端分别连接所述微处理器和所述存储器。

10.一种嵌入式设备的测试装置，其特征在于，基于串口测试系统的微处理器，包括：

部署单元，用于预先部署与被测嵌入式设备的通信协议以及对所述被测嵌入式设备的测试脚本；

调用单元，用于基于第一串口连接所述被测嵌入式设备后，调用所述测试脚本对所述被测嵌入式设备进行测试；

测试单元，用于在测试中，获取对所述被测嵌入式设备的测试日志。

11.一种嵌入式设备的测试设备，其特征在于，包括：

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至8任意一项所述嵌入式设备的测试方法的步骤。

12.一种存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至8任意一项所述嵌入式设备的测试方法的步骤。

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