CN110297131A - 射频测试探头、射频测试系统及方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种射频测试探头、射频测试系统及方法，其中，射频测试探头包括壳体，所述壳体内设置有屏蔽腔室，所述屏蔽腔室可容纳至少部分的所述待检测元件；射频触发端口，用于在至少部分的所述待检测元件位于所述屏蔽腔室内部时，向所述待检测元件发送射频触发信号；信号接收装置，设置在所述屏蔽腔室内部，用于接收所述屏蔽腔室内部的辐射信号，并将接收到的辐射信号发送至所述屏蔽腔室外部。本发明中的技术方案可以解决相关技术中无法对于待检测元件的射频屏蔽性能进行测试的问题，以达到针对待检测元件的射频屏蔽性能进行精确测试的效果。

Description

射频测试探头、射频测试系统及方法

技术领域

本发明涉及射频测试技术领域，具体而言，涉及一种射频测试探头、射频测试系统及方法。

背景技术

滤波器是RRU(射频拉远单元，Radio Remote Unit)重要组成部分，在RRU系统中，滤波器可使带内信号通过，带外信号反射。滤波器在实际使用过程中，普遍采用N型或者DIN型射频连接器与相关设备连接以接入射频触发信号，图1是相关技术中滤波器的结构示意图，如图1所示，射频连接器102通过法兰盘104与紧固螺钉与滤波器100连接。如果滤波器与法兰盘之间存在连接不良而出现缝隙的现象，射频干扰信号则无法完全屏蔽，并通过法兰盘与滤波器壳体之间形成的缝隙天线耦合到RRU的接收通道之中，进而导致RRU接收通道底噪被抬高，接收信号被干扰，无法解调实际的接收信号，RRU接收通道误码以及RRU整机灵敏度测试不过等一系列问题。

目前，相关技术中对于上述滤波器与法兰盘之间存在连接不良而导致射频干扰信号屏蔽效果不佳的问题尚无针对性的检测方法，多数情况下仅能在RRU整机测试阶段检测至RRU整机灵敏度测试不过时，才能够去反复查验产生原因。并且，由于环境干扰的不确定性，上述通过对RRU整机的检测方法在射频干扰信号强度较小的情况下，存在将故障泄露到外场的风险，进而严重影响整机的生产测试及外场使用。相关技术中，包括上述滤波器与射频连接器之间连接用法兰盘在内的射频相关元件的射频屏蔽性能均无法得到有效的测试。

针对相关技术中，无法对于待检测元件的射频屏蔽性能进行测试的问题，相关技术中尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本发明实施例提供了一种射频测试探头、射频测试系统及方法以至少解决相关技术中无法对于待检测元件的射频屏蔽性能进行测试的问题。

根据本发明的一个实施例，提供了一种射频测试探头，用于对待检测元件的射频屏蔽性能进行检测，所述射频测试探头包括：

壳体，所述壳体内设置有屏蔽腔室，所述屏蔽腔室可容纳至少部分的所述待检测元件；

射频触发端口，用于在至少部分的所述待检测元件位于所述屏蔽腔室内部时，向所述待检测元件发送射频触发信号；

信号接收装置，设置在所述屏蔽腔室内部，用于接收所述屏蔽腔室内部的辐射信号，并将接收到的辐射信号发送至所述屏蔽腔室外部。

可选地，所述射频测试探头还包括测试端口，用于将至少部分的所述待检测元件容纳至所述屏蔽腔室内部。

可选地，所述射频触发端口之中设置有射频插件，用于插入至少部分的所述待检测元件内部并向所述待检测元件发送射频触发信号。

可选地，所述射频插件可在所述射频触发端口内部沿所述射频触发端口的轴向进行位移。

可选地，所述射频触发端口包括有第一端口与第二端口，所述射频触发端口的第一端口延伸至所述屏蔽腔室之中，所述射频触发端口的第二端口延伸至所述壳体外部，所述第一端口的内壁用于与至少部分的所述待检测元件的侧端面相贴合，所述第二端口的内壁用于与所述射频插件的侧端面相贴合；

所述第一端口的内径小于所述第二端口的内径。

可选地，所述射频测试探头还包括：

紧固装置，用于使得所述壳体贴合在至少部分的所述待检测元件之上。

可选地，所述紧固装置包括有支撑端体，所述支撑端体固定设置在所述射频插件之上，所述支撑端体位于所述壳体的外部；

所述支撑端体与所述壳体之间设置有支撑弹簧，所述支撑弹簧的两端分别连接在所述支撑端体与所述壳体之上。

可选地，所述支撑端体与所述壳体之间设置有多个支撑弹簧。

可选地，所述支撑端体与所述壳体之间设置有多个紧固螺栓，所述紧固螺栓用于所述支撑端体与所述壳体之间进行螺栓连接。

可选地，所述射频测试探头还包括：

紧固装置，用于使得所述壳体贴合在至少部分的所述待检测元件之上。

可选地，所述信号接收装置包括耦合天线，所述耦合天线设置在所述屏蔽腔室的内壁之上，所述耦合天线沿所述射频触发端口与所述屏蔽腔室的连接位置呈环形分布。

根据本发明的一个实施例，还提供了一种射频测试系统，用于对待检测元件的射频屏蔽性能进行检测，所述测试系统包括：

所述射频测试探头；

测试单元，用于通过所述射频触发端口向所述待检测元件发送射频触发信号，以及通过所述信号接收装置接收所述屏蔽腔室内部的辐射信号，并将接收到的辐射信号发送至所述屏蔽腔室外部。

可选地，所述测试单元包括矢量网络分析仪。

根据本发明的一个实施例，还提供了一种射频测试方法，用于对待检测元件的射频屏蔽性能进行检测，包括：

在至少部分的待检测元件位于具有屏蔽功能的密闭空间内部时，向所述待检测元件发送射频触发信号；

接收所述密闭空间内部的辐射信号。

可选地，所述射频测试方法用于对射频连接头与滤波器之间进行连接的法兰盘的射频屏蔽性能进行检测。

通过本发明，由于待检测元件位于壳体内的屏蔽腔室中时，射频触发端口可向待检测元件发送射频触发信号，当待检测元件的射频接口射频屏蔽不良时，射频触发信号可通过待检测元件存在的等效缝隙天线耦合至屏蔽腔室之中，信号接收装置将屏蔽腔室内部的辐射信号接收并发送至屏蔽腔室外部，通过检测接收信号强度即可完成对于待检测元件的屏蔽性能的检测。因此，本发明中的技术方案可以解决相关技术中无法对于待检测元件的射频屏蔽性能进行测试的问题，以达到针对待检测元件的射频屏蔽性能进行精确测试的效果。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1是相关技术中滤波器的结构示意图；

图2是根据本发明实施例提供的射频测试探头的结构示意图；

图3是根据本发明实施例提供的射频测试探头的剖面示意图；

图4是根据本发明实施例提供的射频测试系统的结构示意图；

图5是根据本发明实施例提供的射频测试方法的流程图。

具体实施方式

下文中将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。

实施例1

根据本发明的一个实施例，提供了一种射频测试探头，用于对待检测元件的射频屏蔽性能进行检测，具体而言，本发明实施例中的射频测试探头是用于对滤波器100与射频连接器102之间进行连接的法兰盘104的射频屏蔽性能进行测试的。图2是根据本发明实施例提供的射频测试探头的结构示意图，图3是根据本发明实施例提供的射频测试探头的剖面示意图，如图2与图3所示，射频测试探头包括：

壳体106，壳体106内设置有屏蔽腔室108，屏蔽腔室108可容纳射频连接器102与法兰盘104；

射频触发端口110，用于在射频连接器102与法兰盘104位于屏蔽腔室108内部时，向射频连接器102发送射频触发信号；

耦合天线112，设置在屏蔽腔室108底部，用于接收屏蔽腔室108内部的辐射信号，并通过天线馈电装置114将接收到的辐射信号发送至屏蔽腔室108外部。

通过本发明，由于待检测元件位于壳体内的屏蔽腔室中时，射频单元可通过射频触发端口向待检测元件发送射频触发信号，当待检测元件的射频端口射频屏蔽屏蔽不良时，射频触发信号可通过待检测元件存在的等效缝隙天线耦合至屏蔽腔室之中，信号接收装置将屏蔽腔室内部的辐射信号接收并发送至屏蔽腔室外部的射频单元中，通过检测接收信号的强度即可完成对于待检测元件的屏蔽性能的检测。因此，本发明中的技术方案可以解决相关技术中无法对于待检测元件的屏蔽性能进行测试的问题，以达到针对待检测元件的屏蔽性能进行精确测试的效果。

此外，本发明实施例中的射频测试探头可在滤波器完成生产与安装后即进行法兰盘射频屏蔽性能的测试，进而可及时发现法兰盘安装过程中可能存在的问题，进而滤波器中射频连接器对应的法兰盘安装进行修正。并且，本发明实施例中的射频测试探头便于携带，操作便捷，可使得测试人员在任意环境或工况下对于法兰盘的射频屏蔽性能进行测试。

需要进一步说明的是，上述射频连接器与法兰盘共同构成了待检测元件；本发明实施例具体实施过程中，需将射频连接器与法兰盘均置于屏蔽腔室内部，其中，法兰盘可贴合在屏蔽腔室的对应开口位置，以与屏蔽腔室构成密闭空间，射频连接器可在屏蔽腔室内延伸至射频触发端口之中，进而接收相关设备发送的射频触发信号。

同时，本发明实施例中的耦合天线构成了信号接收装置，耦合天线接收屏蔽腔室内的辐射信号过程中，需通过配套的天线馈电装置以将辐射信号传输至屏蔽腔室外部，天线馈电装置由屏蔽腔室内部延伸至外部。由于屏蔽腔室内部空间较小，故耦合天线应采用近场耦合天线，优选采用微带天线。

此外，为使得屏蔽腔室具有良好的射频屏蔽性能，屏蔽腔室优选采用金属材质制成。

可选地，射频测试探头还包括测试端口116，用于将射频连接器102与法兰盘104容纳至屏蔽腔室108内部。

需要进一步说明的是，测试端口由屏蔽腔室之中延伸至壳体外部，以使得屏蔽腔室形成开口式结构；本发明实施例在实施过程中，可将测试端口对准射频连接器与法兰盘，并将壳体贴紧在滤波器的对应位置，进而使得射频连接器与法兰盘位于屏蔽腔室内部；上述情况下，射频连接器在屏蔽腔室内部延伸至射频触发端口之中，滤波器的端面与射频连接器共同使得屏蔽腔室形成具有屏蔽功能的密闭腔室。

可选地，射频触发端口110之中设置有射频插件118，用于插入射频连接器102内部并向射频连接器102发送射频触发信号。

具体而言，射频插件与待测的射频连接器通过插接形成电连接，射频插件与射频连接器一方面可在射频触发端口内部使得射频触发端口形成封闭结构，另一方面，射频插件可直接将射频触发信号传输至射频连接器之中。

可选地，射频插件118可在射频触发端口110内部沿射频触发端口的轴向进行位移。

通过上述技术方案，射频插件相对射频触发端口的可轴向位移设置可使得射频插件可适用于不同长度的射频连接器的连接，以使得本发明实施例中的射频测试探头具有更为良好的适用性。

可选地，射频触发端口110包括有第一端口1101与第二端口1102，射频触发端口110的第一端口1101延伸至屏蔽腔室108之中，射频触发端口110的第二端口1102延伸至壳体1外部，第一端口1101的内壁用于与射频连接器102的侧端面相贴合，第二端口1102的内壁用于与射频插件118的侧端面相贴合；

第一端口1101的内径小于第二端口1102的内径。

具体而言，射频插件可在射频触发端口的第二端口内可形成沿第二端口的内壁进行轴向位移，射频触发端口的第二端口与射频插件之间形成相互套接的关系，射频插件相对于射频触发端口的第二端口进行位移时应具有一定的阻尼感，以确保射频插件在射频触发端口内部形成封闭结构。此外，射频触发端口中第一端口与第二端口的相对内径既可满足射频插件与射频连接器的顺利插合，又可使得射频插件在朝向射频连接器所在方向进行运动时具有一定的限位功能。

可选地，射频测试探头还包括：

紧固装置，用于使得壳体贴合在滤波器100中法兰盘104对应的端面之上。

可选地，紧固装置包括有支撑端体120，支撑端体120固定设置在射频插件118之上，支撑端体120位于壳体106的外部；

支撑端体120与壳体106之间设置有支撑弹簧122，支撑弹簧122的两端分别连接在支撑端体120与壳体106之上。

需要进一步说明的是，支撑端体优选采用沿射频插件径向延伸的板状结构。本发明实施例在实际实施过程中，可将射频插件插入射频连接器之上以进行射频触发信号的传输，由于支撑端体与射频连接器之间采用固定连接，当射频插件与射频连接器相互连接时，支撑端体亦可相对于法兰盘以及滤波器固定；此时，支撑端体为支撑弹簧提供了支点，壳体即可在支撑弹簧的反作用力的作用下背离支撑端体而朝向滤波器进行运动，以使得壳体在支撑弹簧的支撑作用下贴合在滤波器之上，以使得射频连接器与支撑弹簧置于屏蔽腔室内，而屏蔽腔室与滤波器的紧密贴合以使得腔室形成密闭空间。

通过上述技术方案，可使得本发明实施例中的射频测试探头贴合在滤波器上进行测试时，确保射频测试探头与滤波器之间保持紧密的贴合度，进而使得屏蔽腔室的密闭性得以保障以确保对于法兰盘射频屏蔽性能的检测精度。

可选地，支撑端体120与壳体106之间设置有多个支撑弹簧122。

通过上述技术方案，可使得壳体所受支撑效果得以进一步的保障。本发明实施例中优选采用四个支撑弹簧。

可选地，支撑端体120与壳体106之间设置有多个紧固螺栓124，紧固螺栓124用于支撑端体120与壳体106之间进行螺栓连接。

通过上述技术方案，可在壳体受支撑弹簧支撑作用而贴合在滤波器之上时，通过紧固螺栓进一步固定壳体的位置，以壳体与滤波器之间连接的紧密性得以进一步的改善。

可选地，射频测试探头还包括：

紧固装置，用于使得壳体贴合在至少部分的待检测元件之上。

需要进一步说明的是，紧固装置不仅限于上述支撑端体以及弹性弹簧的设置，亦可在壳体上设置用于将壳体贴合在滤波器之上，以起到紧固作用的装置，具体可包括：磁吸装置、螺栓连接装置、卡扣装置等等。任何可使得本发明实施例中的壳体可紧固在滤波器之上的装置均属于本发明紧固装置的范围。

可选地，耦合天线112设置在屏蔽腔室108的内壁之上，耦合天线112沿射频触发端口110与屏蔽腔室108的连接位置呈环形分布。

实施例2

根据本发明的一个实施例，还提供了一种射频测试系统，用于对待检测元件的射频屏蔽性能进行检测，具体而言，本发明实施例中的测试系统可用于对滤波器100与射频连接器102之间进行连接的法兰盘104的射频屏蔽性能进行测试，图4是根据本发明实施例提供的射频测试系统的结构示意图，如图4所示，射频测试系统包括：

射频测试探头；

测试单元126，用于通过射频触发端口110向射频连接器发送射频触发信号，以及通过信号接收装置接收屏蔽腔室108内部的辐射信号，并将接收到的辐射信号发送至所述屏蔽腔室108外部。

通过本发明实施例中的测试系统，由于待检测元件位于壳体内的屏蔽腔室中时，射频单元可通过射频触发端口向待检测元件发送射频触发信号，当待检测元件的射频端口射频屏蔽屏蔽不良时，射频触发信号可通过待检测元件存在的等效缝隙天线耦合至屏蔽腔室之中，信号接收装置将屏蔽腔室内部的辐射信号接收并发送至屏蔽腔室外部的射频单元中，通过检测接收信号的强度即可完成对于待检测元件的屏蔽性能的检测。因此，本发明中的技术方案可以解决相关技术中无法对于待检测元件的屏蔽性能进行测试的问题，以达到针对待检测元件的屏蔽性能进行精确测试的效果。

可选地，测试单元126包括矢量网络分析仪。

以下通过具体实例进行说明本发明实施例中的测量系统对于滤波器100与射频连接器102之间进行连接的法兰盘104的射频屏蔽性能进行测试的过程：

将本发明实施例中的射频测试探头内的射频插件调节至合适位置，以使得射频插件通过与射频连接头之间的插合以完成连接。当射频插件与射频连接头完成插合后，固定在射频插件之上的支撑端体亦可相对于法兰盘以及滤波器固定。此时，调节射频测试探头中壳体的位置，以使得壳体在支撑端体之上的支撑弹簧作用下朝向滤波器运动，直至壳体中的屏蔽腔室覆盖在待检测的射频连接器与法兰盘之上，此时，射频连接器与法兰盘通过测试端口位于屏蔽腔室内部，射频连接器与射频插件在射频触发端口内部插合，进而使得屏蔽腔室形成具有屏蔽功能的密闭空间。

采用矢量网络分析仪作为检测单元，包括有port1接口与port2接口，其中，port1接口用于发送射频触发信号，port2接口用于接收辐射信号，将port1接口与射频插件相连接，将port2接口与壳体中的天线馈电装置连接，天线馈电装置用于接收屏蔽腔室内部耦合天线的信号。

此时，矢量网络分析仪的port1接口发送射频触发信号，射频触发信号经由射频线缆发送至射频插件后进而向射频连接器与滤波器传输，滤波器的输出端则接有匹配负载。如若法兰盘由于连接不良而存在一定的缝隙，则经由上述缝隙天线产生的辐射信号会传输至屏蔽腔室内，并进一步被屏蔽腔室内的耦合天线接收，并通过天线馈电装置的SMA接口发送至壳体外部，直至矢量网络分析仪的port2接口。

矢量网络分析仪根据接收到的辐射信号以得到S21参数，通过S21参数即可精确判断法兰盘是否具有良好的射频屏蔽性能。

上述具体应用实例对于N型射频连接器法兰以及DIN型连接器标准均可实现良好的测试效果。

实施例3

根据本发明的一个实施例，还提供了一种射频测试方法，用于对待检测元件的射频屏蔽性能进行检测，具体而言，本发明实施例中的测试方法具体用于对滤波器与射频连接器之间进行连接的法兰盘的射频屏蔽性能进行测试；图5是根据本发明实施例提供的射频测试方法的流程图，如图5所示，该测试方法包括以下步骤：

S100，在射频连接器与法兰盘位于具有屏蔽功能的密闭空间内部时，向射频连接器发送射频触发信号；

S102，接收密闭空间内部的辐射信号。

通过本发明实施例中的测试方法，由于待检测元件位于具有屏蔽功能的密闭空间内部时，待检测元件可接收到射频触发信号，当待检测元件的射频端口射频屏蔽屏蔽不良时，射频触发信号可通过待检测元件存在的等效缝隙天线耦合至密闭空间之中，信号接收装置将密闭空间内部的辐射信号接收并发送至密闭空间外部的射频单元中，通过检测接收信号的强度即可完成对于待检测元件的屏蔽性能的检测。因此，本发明中的技术方案可以解决相关技术中无法对于待检测元件的屏蔽性能进行测试的问题，以达到针对待检测元件的屏蔽性能进行精确测试的效果。

显然，本领域的技术人员应该明白，上述的本发明的各模块或各步骤可以用通用的计算装置来实现，它们可以集中在单个的计算装置上，或者分布在多个计算装置所组成的网络上，可选地，它们可以用计算装置可执行的程序代码来实现，从而，可以将它们存储在存储装置中由计算装置来执行，并且在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤，或者将它们分别制作成各个集成电路模块，或者将它们中的多个模块或步骤制作成单个集成电路模块来实现。这样，本发明不限制于任何特定的硬件和软件结合。

以上仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (14)

1.一种射频测试探头，用于对待检测元件的射频屏蔽性能进行检测，其特征在于，包括：

壳体，所述壳体内设置有屏蔽腔室，所述屏蔽腔室可容纳至少部分的所述待检测元件；

射频触发端口，用于在至少部分的所述待检测元件位于所述屏蔽腔室内部时，向所述待检测元件发送射频触发信号；

信号接收装置，设置在所述屏蔽腔室内部，用于接收所述屏蔽腔室内部的辐射信号，并将接收到的辐射信号发送至所述屏蔽腔室外部。

2.根据权利要求1所述的射频测试探头，其特征在于，所述射频测试探头还包括测试端口，用于将至少部分的所述待检测元件容纳至所述屏蔽腔室内部。

3.根据权利要求1所述的射频测试探头，其特征在于，所述射频触发端口之中设置有射频插件，用于插入至少部分的所述待检测元件内部并向所述待检测元件发送射频触发信号。

4.根据权利要求3所述的射频测试探头，其特征在于，所述射频插件可在所述射频触发端口内部沿所述射频触发端口的轴向进行位移。

5.根据权利要求4所述的射频测试探头，其特征在于，所述射频触发端口包括有第一端口与第二端口，所述射频触发端口的第一端口延伸至所述屏蔽腔室之中，所述射频触发端口的第二端口延伸至所述壳体外部，所述第一端口的内壁用于与至少部分的所述待检测元件的侧端面相贴合，所述第二端口的内壁用于与所述射频插件的侧端面相贴合；

所述第一端口的内径小于所述第二端口的内径。

6.根据权利要求4所述的射频测试探头，其特征在于，所述射频测试探头还包括：

紧固装置，用于使得所述壳体贴合在至少部分的所述待检测元件之上。

7.根据权利要求6所述的射频测试探头，其特征在于，所述紧固装置包括有支撑端体，所述支撑端体固定设置在所述射频插件之上，所述支撑端体位于所述壳体的外部；

所述支撑端体与所述壳体之间设置有支撑弹簧，所述支撑弹簧的两端分别连接在所述支撑端体与所述壳体之上。

8.根据权利要求7所述的射频测试探头，其特征在于，所述支撑端体与所述壳体之间设置有多个支撑弹簧。

9.根据权利要求1所述的射频测试探头，其特征在于，所述射频测试探头还包括：

紧固装置，用于使得所述壳体贴合在至少部分的所述待检测元件之上。

10.根据权利要求1至9中任一项所述的射频测试探头，其特征在于，所述信号接收装置包括耦合天线，所述耦合天线设置在所述屏蔽腔室的内壁之上，所述耦合天线沿所述射频触发端口与所述屏蔽腔室的连接位置呈环形分布。

11.一种射频测试系统，其特征在于，包括权利要求1-10任一项所述的射频测试探头，用于对待检测元件的射频屏蔽性能进行检测，所述射频测试系统包括：

所述射频测试探头；

测试单元，用于通过所述射频触发端口向所述待检测元件发送射频触发信号，以及通过所述信号接收装置接收所述屏蔽腔室内部的辐射信号，并将接收到的辐射信号发送至所述屏蔽腔室外部。

12.根据权利要求11所述的射频测试系统，其特征在于，所述测试单元包括矢量网络分析仪。

13.一种射频测试方法，用于对待检测元件的射频屏蔽性能进行检测，其特征在于，包括：

在至少部分的待检测元件位于具有屏蔽功能的密闭空间内部时，向所述待检测元件发送射频触发信号；

接收所述密闭空间内部的辐射信号。

14.根据权利要求13所采用的射频测试方法，其特征在于，所述测试方法用于对射频连接头与滤波器之间进行连接的法兰盘的射频屏蔽性能进行检测。